JP2000295298A - アイ開口率自動測定方法及びその装置 - Google Patents
アイ開口率自動測定方法及びその装置Info
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- JP2000295298A JP2000295298A JP11099957A JP9995799A JP2000295298A JP 2000295298 A JP2000295298 A JP 2000295298A JP 11099957 A JP11099957 A JP 11099957A JP 9995799 A JP9995799 A JP 9995799A JP 2000295298 A JP2000295298 A JP 2000295298A
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、アイパターンのアイ開口率の自動
測定方法及びその装置を提供する。 【解決手段】 入力信号に同期したトリガ信号を受け
て、サンプル・クロックの出力をスタートするタイミン
グ・ジェネレータと、該サンプル・クロックで入力信号
波形をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、該デ
ジタル信号化した入力信号波形の振幅レベル値と、その
レベル値の時間とを記憶する記憶装置と、該記憶装置に
記憶した波形データを演算処理する処理部とを具備し
て、アイ開口率を自動測定する解決手段。
測定方法及びその装置を提供する。 【解決手段】 入力信号に同期したトリガ信号を受け
て、サンプル・クロックの出力をスタートするタイミン
グ・ジェネレータと、該サンプル・クロックで入力信号
波形をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、該デ
ジタル信号化した入力信号波形の振幅レベル値と、その
レベル値の時間とを記憶する記憶装置と、該記憶装置に
記憶した波形データを演算処理する処理部とを具備し
て、アイ開口率を自動測定する解決手段。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル信号波形
の波形品質を評価する一つであるアイパターンのアイ開
口率の自動測定方法及びその装置に関する。
の波形品質を評価する一つであるアイパターンのアイ開
口率の自動測定方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】デジタル信号波形の波形品質を評価する
一つであるアイパターンのアイ開口率の自動測定方法及
びその装置は、従来なかった。そこで、従来技術の目測
による測定例について、図３を参照して説明する。
一つであるアイパターンのアイ開口率の自動測定方法及
びその装置は、従来なかった。そこで、従来技術の目測
による測定例について、図３を参照して説明する。
【０００３】最初に、アイパターンのアイ開口率につい
て説明する。デジタル信号波形に同期をかけて、Ｘ軸を
時間、Ｙ軸を振幅としてアイパターンを表示させると、
アイの歪みとして観測できる。そして、アイ開口率は、
アイ開口率（振幅）と、アイ開口率（時間）とで表現で
きる。
て説明する。デジタル信号波形に同期をかけて、Ｘ軸を
時間、Ｙ軸を振幅としてアイパターンを表示させると、
アイの歪みとして観測できる。そして、アイ開口率は、
アイ開口率（振幅）と、アイ開口率（時間）とで表現で
きる。
【０００４】アイ開口率（振幅）は、最大振幅をＡ、最
小振幅をＢとしたとき、下記式（１）で表される。 アイ開口率（振幅）＝２Ｂ／（Ａ＋Ｂ） ・・・・・（１）
小振幅をＢとしたとき、下記式（１）で表される。 アイ開口率（振幅）＝２Ｂ／（Ａ＋Ｂ） ・・・・・（１）
【０００５】アイ開口率（時間）は、ゼロクロス時間幅
の広がりの最大をＣ、最小をＤとしたとき、下記式
（２）で表される。ここに、ゼロクロスとは、観測波形
の振幅平均における時間軸（Ｘ軸）と波形とのクロスを
いう。 アイ開口率（時間）＝２Ｄ／（Ｃ＋Ｄ） ・・・・・（２）
の広がりの最大をＣ、最小をＤとしたとき、下記式
（２）で表される。ここに、ゼロクロスとは、観測波形
の振幅平均における時間軸（Ｘ軸）と波形とのクロスを
いう。 アイ開口率（時間）＝２Ｄ／（Ｃ＋Ｄ） ・・・・・（２）
【０００６】次に、従来のアイパターンのアイ開口率の
目視による測定法について説明する。従来、オシロスコ
ープ等により、デジタル信号波形に同期をかけて、Ｘ軸
を時間、Ｙ軸を振幅として図３に示すようなアイパター
ンを観測する。そして、最大振幅のＡ、最小振幅のＢ
と、ゼロクロス時間幅の広がりの最大のＣ、最小のＤと
をそれぞれ目視により求める。さらに、開口率（振幅）
は上記式（１）により、開口率（時間）は上記式（２）
により、それぞれ計算して求める。
目視による測定法について説明する。従来、オシロスコ
ープ等により、デジタル信号波形に同期をかけて、Ｘ軸
を時間、Ｙ軸を振幅として図３に示すようなアイパター
ンを観測する。そして、最大振幅のＡ、最小振幅のＢ
と、ゼロクロス時間幅の広がりの最大のＣ、最小のＤと
をそれぞれ目視により求める。さらに、開口率（振幅）
は上記式（１）により、開口率（時間）は上記式（２）
により、それぞれ計算して求める。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来のアイパターンのアイ開口率の測定方法は、目視によ
りおこない、計算により求めているが、時間がかかり、
測定結果に個人差がでやすい。そこで、本発明は、こう
した問題に鑑みなされたもので、その目的は、アイパタ
ーンのアイ開口率の自動測定方法及びその装置を提供す
ることにある。
来のアイパターンのアイ開口率の測定方法は、目視によ
りおこない、計算により求めているが、時間がかかり、
測定結果に個人差がでやすい。そこで、本発明は、こう
した問題に鑑みなされたもので、その目的は、アイパタ
ーンのアイ開口率の自動測定方法及びその装置を提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた本発明の第１は、アイパターンのアイ
開口率を自動測定する方法において、すべての波形デー
タの振幅レベル値から最大値ａと、最小値ｂとを求め、
最大値ａと最小値ｂとの範囲内で、所望の比較レベル値
をＹ１とし、すべての波形データの振幅レベル値を検索
して、比較レベル値Ｙ１と同じの振幅レベル値となると
きの時間データを全て求め、該全時間データの中から最
小値Ｔ１と、最大値Ｔ４とを求め、最小値Ｔ１と最大値
Ｔ４の範囲内で所望の比較時間をＴとし、全時間データ
のなかで、比較時間Ｔより小さくかつ最大の時間をＴ２
とし、比較時間Ｔより大きくかつ最小の時間をＴ３と
し、アイ開口率（時間）を下記式から求め、 アイ開口率（時間）＝２×(Ｔ３−Ｔ２)／((Ｔ４−Ｔ
１)＋(Ｔ３−Ｔ２)) すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さ
い時間範囲において、振幅レベル値を検索して、振幅レ
ベル値の最大値をＬ４とし、最小値をＬ１とし、最大値
Ｌ４と最小値Ｌ１との範囲内で、所望の比較レベル値を
Ｙ２とし、すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ
３より小さい所望の時間範囲において、振幅レベル値を
検索して、比較レベル値Ｙ２より小さくかつ最大のレベ
ル値をＬ２とし、比較レベル値Ｙ２より大きくかつ最小
の振幅レベル値をＬ３とし、アイ開口率（振幅）を下記
式から求め、 アイ開口率（振幅）＝２×(Ｌ３−Ｌ２)／((Ｌ４−Ｌ
１)＋(Ｌ３−Ｌ２)) 以上の方法によりアイ開口率を求めるアイ開口率自動測
定方法要旨としている。
るためになされた本発明の第１は、アイパターンのアイ
開口率を自動測定する方法において、すべての波形デー
タの振幅レベル値から最大値ａと、最小値ｂとを求め、
最大値ａと最小値ｂとの範囲内で、所望の比較レベル値
をＹ１とし、すべての波形データの振幅レベル値を検索
して、比較レベル値Ｙ１と同じの振幅レベル値となると
きの時間データを全て求め、該全時間データの中から最
小値Ｔ１と、最大値Ｔ４とを求め、最小値Ｔ１と最大値
Ｔ４の範囲内で所望の比較時間をＴとし、全時間データ
のなかで、比較時間Ｔより小さくかつ最大の時間をＴ２
とし、比較時間Ｔより大きくかつ最小の時間をＴ３と
し、アイ開口率（時間）を下記式から求め、 アイ開口率（時間）＝２×(Ｔ３−Ｔ２)／((Ｔ４−Ｔ
１)＋(Ｔ３−Ｔ２)) すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さ
い時間範囲において、振幅レベル値を検索して、振幅レ
ベル値の最大値をＬ４とし、最小値をＬ１とし、最大値
Ｌ４と最小値Ｌ１との範囲内で、所望の比較レベル値を
Ｙ２とし、すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ
３より小さい所望の時間範囲において、振幅レベル値を
検索して、比較レベル値Ｙ２より小さくかつ最大のレベ
ル値をＬ２とし、比較レベル値Ｙ２より大きくかつ最小
の振幅レベル値をＬ３とし、アイ開口率（振幅）を下記
式から求め、 アイ開口率（振幅）＝２×(Ｌ３−Ｌ２)／((Ｌ４−Ｌ
１)＋(Ｌ３−Ｌ２)) 以上の方法によりアイ開口率を求めるアイ開口率自動測
定方法要旨としている。
【０００９】また、上記目的を達成するためになされた
本発明の第２は、入力信号に同期したトリガ信号を受け
て、サンプル・クロックの出力をスタートするタイミン
グ・ジェネレータと、該サンプル・クロックで入力信号
波形をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、該デ
ジタル信号化した入力信号波形の振幅レベル値と、その
レベル値の時間とを記憶する記憶装置と、該記憶装置に
記憶した波形データを演算処理する処理部と、を具備し
て、アイ開口率を自動測定するアイ開口率自動測定装置
要旨としている。
本発明の第２は、入力信号に同期したトリガ信号を受け
て、サンプル・クロックの出力をスタートするタイミン
グ・ジェネレータと、該サンプル・クロックで入力信号
波形をデジタル信号に変換するＡＤコンバータと、該デ
ジタル信号化した入力信号波形の振幅レベル値と、その
レベル値の時間とを記憶する記憶装置と、該記憶装置に
記憶した波形データを演算処理する処理部と、を具備し
て、アイ開口率を自動測定するアイ開口率自動測定装置
要旨としている。
【００１０】さらに、上記目的を達成するためになされ
た本発明の第３は、本発明第１に記載の方法で測定する
本発明第２記載のアイ開口率自動測定装置要旨としてい
る。
た本発明の第３は、本発明第１に記載の方法で測定する
本発明第２記載のアイ開口率自動測定装置要旨としてい
る。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実
施例において説明する。
施例において説明する。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例について、図１と図２とを参
照して説明する。最初に、本発明のアイ開口率の自動測
定装置の構成と動作について説明する。図１に示すよう
に、本発明のアイ開口率自動測定装置は、タイミング・
ジェネレータ１０と、ＡＤコンバータ２０と、記憶装置
３０と、処理部４０とで構成している。尚、記憶装置３
０と、処理部４０とは、一体化してＣＰＵ５０として構
成してもよい。
照して説明する。最初に、本発明のアイ開口率の自動測
定装置の構成と動作について説明する。図１に示すよう
に、本発明のアイ開口率自動測定装置は、タイミング・
ジェネレータ１０と、ＡＤコンバータ２０と、記憶装置
３０と、処理部４０とで構成している。尚、記憶装置３
０と、処理部４０とは、一体化してＣＰＵ５０として構
成してもよい。
【００１３】タイミング・ジェネレータ１０は、入力信
号に同期したトリガ信号を受けて、ＡＤコンバータ２０
のサンプル・クロックの出力をスタートする。
号に同期したトリガ信号を受けて、ＡＤコンバータ２０
のサンプル・クロックの出力をスタートする。
【００１４】ＡＤコンバータ２０は、タイミング・ジェ
ネレータ１０のサンプル・クロックで、入力信号波形を
デジタル信号に変換する。また、ＡＤコンバータ２０
は、入力信号波形に対して充分サンプリングできる高速
のＡＤコンバータを使用する。
ネレータ１０のサンプル・クロックで、入力信号波形を
デジタル信号に変換する。また、ＡＤコンバータ２０
は、入力信号波形に対して充分サンプリングできる高速
のＡＤコンバータを使用する。
【００１５】記憶装置３０は、デジタル変換された入力
波形の複数の波形データとして、スタート時間（Ｔ０）
からのサンプル時間と、そのサンプル時間に対する振幅
レベル値を記憶する。また、記憶装置３０は、少なくと
もアイパターンを形成できる複数個の波形データを記憶
できるメモリ容量が必要である。
波形の複数の波形データとして、スタート時間（Ｔ０）
からのサンプル時間と、そのサンプル時間に対する振幅
レベル値を記憶する。また、記憶装置３０は、少なくと
もアイパターンを形成できる複数個の波形データを記憶
できるメモリ容量が必要である。
【００１６】処理部４０は、記憶装置３０に記憶した複
数の波形データの演算処理をおこなう。
数の波形データの演算処理をおこなう。
【００１７】次に、記憶したアイパターンを形成できる
複数の波形データから、アイ開口率を自動測定する方法
について、図２を参照して以下箇条書きで説明する。最
初に、アイパターンの比較時間Ｔを（１）〜（３）のス
テップで求める。
複数の波形データから、アイ開口率を自動測定する方法
について、図２を参照して以下箇条書きで説明する。最
初に、アイパターンの比較時間Ｔを（１）〜（３）のス
テップで求める。
【００１８】（１）記憶装置３０に記憶されたすべての
波形データの振幅レベル値から最大値ａと、最小値ｂと
を求める。最大値ａと最小値ｂとの範囲内で、所望の比
較レベル値をＹ１とする。例えば、比較レベル値Ｙ１
を、最大値ａと最小値ｂとの平均値（アイパターンの振
幅中心点）として、下記式から求める。 Ｙ１＝（ａ＋ｂ）／２
波形データの振幅レベル値から最大値ａと、最小値ｂと
を求める。最大値ａと最小値ｂとの範囲内で、所望の比
較レベル値をＹ１とする。例えば、比較レベル値Ｙ１
を、最大値ａと最小値ｂとの平均値（アイパターンの振
幅中心点）として、下記式から求める。 Ｙ１＝（ａ＋ｂ）／２
【００１９】（２）記憶装置３０に記憶された全ての波
形データの振幅レベル値を検索して、Ｙ１と同じ振幅レ
ベル値となるときの時間データ（ｔ１、ｔ２、ｔ３、・
・・）を全て求める。その全時間データ（ｔ１、ｔ２、
ｔ３、・・・）の中から最小値Ｔ１と、最大値Ｔ４とを
求める。
形データの振幅レベル値を検索して、Ｙ１と同じ振幅レ
ベル値となるときの時間データ（ｔ１、ｔ２、ｔ３、・
・・）を全て求める。その全時間データ（ｔ１、ｔ２、
ｔ３、・・・）の中から最小値Ｔ１と、最大値Ｔ４とを
求める。
【００２０】（３）最小値Ｔ１と最大値Ｔ４の範囲内
で、所望の比較時間をＴとする。例えば、比較時間Ｔ
を、最小値Ｔ１と最大値Ｔ４との平均値（アイパターン
の時間中心点）として、下記式から求める。 Ｔ＝（Ｔ１＋Ｔ４）／２
で、所望の比較時間をＴとする。例えば、比較時間Ｔ
を、最小値Ｔ１と最大値Ｔ４との平均値（アイパターン
の時間中心点）として、下記式から求める。 Ｔ＝（Ｔ１＋Ｔ４）／２
【００２１】（４）全時間データ（ｔ１、ｔ２、ｔ３、
・・・）のなかで、比較時間Ｔより小さくかつ最大の時
間をＴ２とし、比較時間Ｔより大きくかつ最小の時間を
Ｔ３とする。
・・・）のなかで、比較時間Ｔより小さくかつ最大の時
間をＴ２とし、比較時間Ｔより大きくかつ最小の時間を
Ｔ３とする。
【００２２】（５）アイ開口率（時間）を下記式から求
める。 アイ開口率（時間）＝２×(Ｔ３−Ｔ２)／((Ｔ４−Ｔ
１)＋(Ｔ３−Ｔ２))
める。 アイ開口率（時間）＝２×(Ｔ３−Ｔ２)／((Ｔ４−Ｔ
１)＋(Ｔ３−Ｔ２))
【００２３】（６）記憶装置３０に記憶されたすべての
波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さい所望の
時間範囲において、振幅レベル値を検索して、振幅レベ
ル値の最大値をＬ４とし、最小値をＬ１とする。最大値
Ｌ４と最小値Ｌ１との範囲内で、所望の比較レベル値を
Ｙ２とする。例えば、比較レベル値Ｙ２を、平均値（ア
イパターンの振幅中心点）として、下記式から求める。 Ｙ２＝（Ｌ１＋Ｌ４）／２
波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さい所望の
時間範囲において、振幅レベル値を検索して、振幅レベ
ル値の最大値をＬ４とし、最小値をＬ１とする。最大値
Ｌ４と最小値Ｌ１との範囲内で、所望の比較レベル値を
Ｙ２とする。例えば、比較レベル値Ｙ２を、平均値（ア
イパターンの振幅中心点）として、下記式から求める。 Ｙ２＝（Ｌ１＋Ｌ４）／２
【００２４】（７）記憶装置３０に記憶されたすべての
波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さい時間範
囲において、振幅レベル値を検索して、比較レベル値Ｙ
２より小さくかつ最大のレベル値をＬ２とし、比較レベ
ル値Ｙ２より大きくかつ最小の振幅レベル値をＬ３とす
る。
波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さい時間範
囲において、振幅レベル値を検索して、比較レベル値Ｙ
２より小さくかつ最大のレベル値をＬ２とし、比較レベ
ル値Ｙ２より大きくかつ最小の振幅レベル値をＬ３とす
る。
【００２５】（８）アイ開口率（振幅）を下記式から求
める。 アイ開口率（振幅）＝２×(Ｌ３−Ｌ２)／((Ｌ４−Ｌ
１)＋(Ｌ３−Ｌ２))
める。 アイ開口率（振幅）＝２×(Ｌ３−Ｌ２)／((Ｌ４−Ｌ
１)＋(Ｌ３−Ｌ２))
【００２６】以上の演算を自動で行うことにより、アイ
開口率（時間）と、アイ開口率（振幅）とが自動測定で
きる。
開口率（時間）と、アイ開口率（振幅）とが自動測定で
きる。
【００２７】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
アイパターンのアイ開口率の自動測定ができるので、信
号波形の品質を短時間で検査でき、またデータを表示し
たり加工、保存等も容易にできる効果がある。
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
アイパターンのアイ開口率の自動測定ができるので、信
号波形の品質を短時間で検査でき、またデータを表示し
たり加工、保存等も容易にできる効果がある。
【図１】本発明のアイ開口率自動測定装置のブロック図
である。
である。
【図２】本発明のアイ開口率自動測定の方法を説明する
波形図である。
波形図である。
【図３】アイ開口率の説明図である。
１０ タイミング・ジェネレータ ２０ ＡＤコンバータ ３０ 記憶装置 ４０ 処理部 ５０ ＣＰＵ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G036 AA28 BA13 CA01 5K004 AA01 BB04 5K029 KK25
Claims (3)
- 【請求項１】 アイパターンのアイ開口率を自動測定す
る方法において、 すべての波形データの振幅レベル値から最大値ａと、最
小値ｂとを求め、 最大値ａと最小値ｂとの範囲内で、所望の比較レベル値
をＹ１とし、 すべての波形データの振幅レベル値を検索して、比較レ
ベル値Ｙ１と同じの振幅レベル値となるときの時間デー
タを全て求め、 該全時間データの中から最小値Ｔ１と、最大値Ｔ４とを
求め、最小値Ｔ１と最大値Ｔ４の範囲内で所望の比較時
間をＴとし、 全時間データのなかで、比較時間Ｔより小さくかつ最大
の時間をＴ２とし、比較時間Ｔより大きくかつ最小の時
間をＴ３とし、 アイ開口率（時間）を下記式から求め、 アイ開口率（時間）＝２×(Ｔ３−Ｔ２)／((Ｔ４−Ｔ
１)＋(Ｔ３−Ｔ２)) すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さ
い時間範囲において、振幅レベル値を検索して、振幅レ
ベル値の最大値をＬ４とし、最小値をＬ１とし、 最大値Ｌ４と最小値Ｌ１との範囲内で、所望の比較レベ
ル値をＹ２とし、 すべての波形データから、Ｔ２より大きくＴ３より小さ
い所望の時間範囲において、振幅レベル値を検索して、
比較レベル値Ｙ２より小さくかつ最大のレベル値をＬ２
とし、比較レベル値Ｙ２より大きくかつ最小の振幅レベ
ル値をＬ３とし、 アイ開口率（振幅）を下記式から求め、 アイ開口率（振幅）＝２×(Ｌ３−Ｌ２)／((Ｌ４−Ｌ
１)＋(Ｌ３−Ｌ２)) 以上の方法によりアイ開口率を求めるアイ開口率自動測
定方法。 - 【請求項２】 入力信号に同期したトリガ信号を受け
て、サンプル・クロックの出力をスタートするタイミン
グ・ジェネレータと、 該サンプル・クロックで入力信号波形をデジタル信号に
変換するＡＤコンバータと、 該デジタル信号化した入力信号波形の振幅レベル値と、
そのレベル値の時間とを記憶する記憶装置と、 該記憶装置に記憶した波形データを演算処理する処理部
と、を具備して、アイ開口率を自動測定するアイ開口率
自動測定装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載の方法で測定する請求項
２記載のアイ開口率自動測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099957A JP2000295298A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | アイ開口率自動測定方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099957A JP2000295298A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | アイ開口率自動測定方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000295298A true JP2000295298A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14261181
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11099957A Withdrawn JP2000295298A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | アイ開口率自動測定方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000295298A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3309158B2 (ja) | 1999-11-12 | 2002-07-29 | アンリツ株式会社 | ディジタル信号の品質評価装置 |
| US7243033B2 (en) | 2004-07-15 | 2007-07-10 | Yokogawa Electric Corporation | Inspection apparatus |
| JP2010010854A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Nec Electronics Corp | 通信装置 |
| JP2010041283A (ja) * | 2008-08-04 | 2010-02-18 | Nec Electronics Corp | 通信装置 |
| DE112008001172T5 (de) | 2007-04-27 | 2010-06-02 | Advantest Corp. | Prüfgerät und Prüfverfahren |
-
1999
- 1999-04-07 JP JP11099957A patent/JP2000295298A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3309158B2 (ja) | 1999-11-12 | 2002-07-29 | アンリツ株式会社 | ディジタル信号の品質評価装置 |
| US7243033B2 (en) | 2004-07-15 | 2007-07-10 | Yokogawa Electric Corporation | Inspection apparatus |
| DE112008001172T5 (de) | 2007-04-27 | 2010-06-02 | Advantest Corp. | Prüfgerät und Prüfverfahren |
| US8278961B2 (en) | 2007-04-27 | 2012-10-02 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
| JP2010010854A (ja) * | 2008-06-25 | 2010-01-14 | Nec Electronics Corp | 通信装置 |
| JP2010041283A (ja) * | 2008-08-04 | 2010-02-18 | Nec Electronics Corp | 通信装置 |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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