JPH0731369Y2 - 位相メータ - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は光ディスクプレーヤのRF信号とサブスポット
信号の位相差を検出する位相メータに係わり、特に、リ
アルタイムで位相差を定量的に表示する位相メータに関
する。

［従来の技術］ 光ディスクプレーヤの３ビーム法によるトラッキング信
号を発生するサブスポット信号と主ビームのRF信号はト
ラッキングサーボオフ時に90°の位相差を生じるように
夫々のビームが配置されている。

従って、光ピックアップの姿勢が正しいか否かの判定が
RF信号とサブスポット信号の位相差を検出することによ
り行われる場合がある。

従来、そのための位相差測定方として第４図に示すよう
にRF信号とサブスポット信号でリサージュ波形を描い
て、リサージュ波形の形状で位相差を検出しいてた。

［考案が解決しようとする問題点］ 上記した従来のものにおいては、定量的な測定ができな
いため、測定精度が悪く、また、測定に手間がかかると
いう欠点があった。

この考案は上記した点に鑑みてなされたものであって、
その目的とするところは、簡易かつ正確に光ディスクプ
レーヤのRF信号とサブスポット信号の位相差を検出する
位相メータを提供することにある。

［課題を解決するための手段］ この考案の位相メータは、光ディスクプレーヤのトラッ
キングサーボオフ時におけるRF信号とサブスポット信号
の中から選ばれた２つの信号を２値化し、２値化された
一方の信号の片側継続時間と２つの２値化された信号の
片側の値が重なる部分の継続時間とを計測し、該計測さ
れた時間から位相差を算出して表示装置に表示するよう
に構成したもにである。

また、前記位相メータにおいて、前記計測された時間か
ら位相差を所定回数算出してその平均値を表示装置に表
示するように構成したものである。

［作用］ 一般に光ディスクが回転するとき、偏心による振回りが
あり、トラッキングサーボオフ時には光ピックアップの
ビームスポットは多数のピット列を横切りビームスポッ
ト反射光の信号は正弦波となる。主ビームからのRF信号
とサブスポット信号は同一周期を有するが、その半径方
向位置の差に基ずく位相差が生じる。

３ビーム法におけるサブスポットとメインスポットとの
位置関係はメインスポットがトラック中心にあるときに
サブスポットはメインスポットが位置するトラックの中
心とその隣のトラックの中心との中間に位置するように
配置されている。従って、光ピックアップが正しい姿勢
に保持されていると、サブスポット信号とメインスポッ
ト信号との位相差は90°となる。また、サブスポット信
号同士の位相差は180°となる。これらの位相差を測定
することにより光ピックアップの姿勢が正しいか否かが
判定できる。

第２図（ａ）および（ｂ）にローパスフイルタ通過後の
RF信号とサブスポット信号の波形を示す。

第２図（ａ）および（ｂ）に示す波形を２値化し、正の
部分をＨとし、負の部分をＬとすると、第２図（ｃ）お
よび（ｄ）に示す波形となる。

第２図（ａ）および（ｂ）に示す波形の時間軸の長さは
位相に比例しており、第２図（ｃ）および（ｄ）に示す
波形の立上りエッジの時間差が位相差に比例する。

従って、第２図（ｅ）に示すように第２図（ｃ）および
（ｄ）に示す波形の重なり部分の波形を取り出すと、第
２図（ｃ）に示す波形のＨ時間と第２図（ｅ）に示す波
形のＨ時間の差が位相差に比例するのでこれらの時間を
計測して計測した時間から位相差を算出することができ
る。

［実施例］ この考案の実施例である位相メータの実施例を第１図乃
至第３図に基づいて説明する。

第１図に示すように、RF入力端子から入力されたRF信号
はバッファおよびローパスフイルタ１とコンパレータ３
を通り位相ずれ量検出回路５とマイクロコンピュータ６
に入力される。

サブスポット入力端子から入力されたサブスポット信号
はバッファおよびローパスフイルタ２とコンパレータ４
を通り位相ずれ量検出回路５に入力される。

ローパスフイルタ１とコンパレータ３の出力波形は夫々
第２図（ａ）および（ｃ）に示す波形となる。

なお、第２図（ｃ）に示す波形を基準信号とする。

ローパスフイルタ２とコンパレータ４の出力波形は夫々
第２図（ｂ）および（ｄ）に示す波形となる。

位相ずれ量検出回路５は入力の論理積をとり位相差信号
としてマイクロコンピュータ６に出力する。その波形を
第２図（ｅ）に示す。

マイクロコンピュータ６は上記基準信号と位相差信号か
ら位相差を算出し表示部７に表示する。

なお、表示部７は７セグメントで位相差（°）を数字で
表示する。

次に、第３図を参照してマイクロコンピュータの動作を
説明する。

ステップS1でRAMの作業域やフラグ等がイニシャライズ
された後ステップS2に移行する。

ステップS2で基準信号が立上ったか否かが判断され、基
準信号が立上っている場合はステップS3に移行し、基準
信号が立上っていない場合はステップS2が繰返される。

ステップS3で時間カウンタRFCをインクリメントし、ス
テップS4に移行する。

ステップS4では位相差信号がＨであるか否かが判断さ
れ、位相差信号がＨである場合はステップS5に移行し、
位相差信号がＨでない場合はステップS6に移行する。

ステップS5では時間カウンタSBCをインクリメントし、
ステップS6に移行する。

ステップS6では基準信号の立下がりが判断され、基準信
号が立下がった場合はステップS7に移行し、基準信号が
立下がってない場合はステップS2に移行する。

ステップS7では位相差＝（1-SBCカウント/RFCカウン
ト）×180°の式より位相差を算出し、毎回検出した位
相差の平均値を更新する。

次に、ステップS8に移行し位相差が180回算出された否
かが判断され、180回位相差が算出されていない場合は
ステップS2に移行し、180回位相差が算出された場合は
ステップS9に移行する。

ステップS9では位相差の平均値を表示装置に表示しステ
ップS2に移行する。なお、そのとき平均値更新回数を記
憶するメモリは０が記憶される。

実施例は以上のように構成されているが考案はこれに限
られず、例えば、サブスポットE-F信号からEF位相差を
算出してもよい。

［考案の効果］ この考案の位相メータによれば、短時間に光ディスクプ
レーヤのRF信号とサブスポット信号の位相差を正確に検
出することができ、光ピックアップの評価検討を行うこ
とが可能となる。

また、位相差は角度の数値として定量的に測定されるの
で、光ピックアップの正しい姿勢からのずれ角度も定量
的に知ることができ、光ピックアップの姿勢の修正が容
易に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の実施例である位相メータを示すブロ
ック図、第２図（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）および（ｅ）
は同位相メータの信号を示す波形図、第３図は同位相メ
ータのマイクロコンピュータの動作を示すフローチャー
ト、第４図は従来の技術を示すブロック図である。 1,2……ローパスフイルタ、3,4……コンパレータ、５…
…位相ずれ量検出回路、６……マイクロコンピュータ、
７……表示部。

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】光ディスクプレーヤのトラッキングサーボ
   オフ時におけるRF信号とサブスポット信号の中から選ば
   れた２つの信号を２値化し、２値化された一方の信号の
   片側継続時間と２つの２値化された信号の片側の値が重
   なる部分の継続時間とを計測し、該計測された時間から
   位相差を算出して表示装置に表示するように構成した位
   相メータ。
2. 【請求項２】前記位相メータにおいて、前記計測された
   時間から位相差を所定回数算出してその平均値を表示装
   置に表示するように構成した位相メータ。