JPH0735781A - 信号取込み装置及び方法 - Google Patents
信号取込み装置及び方法Info
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- JPH0735781A JPH0735781A JP6174764A JP17476494A JPH0735781A JP H0735781 A JPH0735781 A JP H0735781A JP 6174764 A JP6174764 A JP 6174764A JP 17476494 A JP17476494 A JP 17476494A JP H0735781 A JPH0735781 A JP H0735781A
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- Japan
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- acquisition
- signal
- trigger
- sampling interval
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 取込みサイクルと取込みサイクルの間に信号
処理時間を設けることなく信号の取込みを可能にする。 【構成】 各サンプリング・インターバルの開始より
前、通常は、その前のサンプリング・インターバルのと
きに基準データ・サンプルが取込みメモリから入力バッ
ファ12、13にロードされ保持される。各サンプリン
グ・インターバルの開始時点で、基準データ・サンプル
はアキュムレータ18、19にロードされる。比較器1
6及び17は、基準データ・サンプルとアナログ入力信
号を表すデジタル・データ・サンプルと比較し、基準デ
ータ・サンプルで定まるリミットから外れるとアキュム
レータ18、19を書込みイネーブルする。これによっ
て、基準データ・サンプルとリミットから外れたデジタ
ル・データ・サンプルが交換される。
処理時間を設けることなく信号の取込みを可能にする。 【構成】 各サンプリング・インターバルの開始より
前、通常は、その前のサンプリング・インターバルのと
きに基準データ・サンプルが取込みメモリから入力バッ
ファ12、13にロードされ保持される。各サンプリン
グ・インターバルの開始時点で、基準データ・サンプル
はアキュムレータ18、19にロードされる。比較器1
6及び17は、基準データ・サンプルとアナログ入力信
号を表すデジタル・データ・サンプルと比較し、基準デ
ータ・サンプルで定まるリミットから外れるとアキュム
レータ18、19を書込みイネーブルする。これによっ
て、基準データ・サンプルとリミットから外れたデジタ
ル・データ・サンプルが交換される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電気信号の取込み装置
及び方法に関し、特に、デジタル・ストレージ・オシロ
スコープ(DSO)に適用するのに最適で、取り込んだ
データの処理時間の無駄をなくし、DSOでアナログ・
オシロスコープでだけで通常可能だった機能を実現でき
るようにするデッド・タイムのない信号取込み装置及び
方法に関する。
及び方法に関し、特に、デジタル・ストレージ・オシロ
スコープ(DSO)に適用するのに最適で、取り込んだ
データの処理時間の無駄をなくし、DSOでアナログ・
オシロスコープでだけで通常可能だった機能を実現でき
るようにするデッド・タイムのない信号取込み装置及び
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】アナログ・オシロスコープは、アナログ
信号を時間に対する振幅の関数としてリアルタイムに
(実時間で)表示する。アナログ信号が零電位と交差す
るといったトリガ事象(イベント)に応じてトリガ信号
が発生した時点から、アナログ信号の表示は始まる。電
子ビームは陰極線管(CRT)の表示領域の一端からそ
のフェースプレートを横切ってトレースするが、このト
リガ信号はトレースを開始させるために利用される。ア
ナログ信号は垂直方向に変調され、通常、時間対振幅の
形式で表示される。アナログ信号のトリガより前の部分
を表示したい場合には、アナログ信号を遅延させるよう
にする。トレース(電子ビームの軌跡)が表示領域の反
対端部に達したときには、電子ビームが再度トレースを
開始するまで電子ビームを遮断するために、ホールド・
オフ時間が設けられる。このとき、電子ビームが表示領
域を横切って掃引するのにかかる時間を表示時間とい
う。オシロスコープの次の掃引は、ホールド・オフ時間
の後の次に来たトリガ信号で開始され、次の表示時間が
始まる。
信号を時間に対する振幅の関数としてリアルタイムに
(実時間で)表示する。アナログ信号が零電位と交差す
るといったトリガ事象(イベント)に応じてトリガ信号
が発生した時点から、アナログ信号の表示は始まる。電
子ビームは陰極線管(CRT)の表示領域の一端からそ
のフェースプレートを横切ってトレースするが、このト
リガ信号はトレースを開始させるために利用される。ア
ナログ信号は垂直方向に変調され、通常、時間対振幅の
形式で表示される。アナログ信号のトリガより前の部分
を表示したい場合には、アナログ信号を遅延させるよう
にする。トレース(電子ビームの軌跡)が表示領域の反
対端部に達したときには、電子ビームが再度トレースを
開始するまで電子ビームを遮断するために、ホールド・
オフ時間が設けられる。このとき、電子ビームが表示領
域を横切って掃引するのにかかる時間を表示時間とい
う。オシロスコープの次の掃引は、ホールド・オフ時間
の後の次に来たトリガ信号で開始され、次の表示時間が
始まる。
【0003】デジタル・ストレージ・オシロスコープ
(DSO)は、アナログ信号をリアルタイムには表示し
ない。DSOは、所定のサンプリング速度でアナログ信
号をサンプリングしてデジタル化(デジダイズ)し、ア
ナログ信号を表すデジタル・データ・サンプル列を生成
する。デジタル・データ・サンプルは、処理された後、
メイン・メモリに蓄積される。これらデジタル・データ
・サンプルはメイン・メモリから呼び出され、例えばア
ナログ信号を再生成して表示される。アナログ信号をデ
ジタル形式で取り込むについては、2つのモードがあ
る。1つはポストトリガ・モードであり、もう1つはプ
リトリガ・モードである。
(DSO)は、アナログ信号をリアルタイムには表示し
ない。DSOは、所定のサンプリング速度でアナログ信
号をサンプリングしてデジタル化(デジダイズ)し、ア
ナログ信号を表すデジタル・データ・サンプル列を生成
する。デジタル・データ・サンプルは、処理された後、
メイン・メモリに蓄積される。これらデジタル・データ
・サンプルはメイン・メモリから呼び出され、例えばア
ナログ信号を再生成して表示される。アナログ信号をデ
ジタル形式で取り込むについては、2つのモードがあ
る。1つはポストトリガ・モードであり、もう1つはプ
リトリガ・モードである。
【0004】ポストトリガ・モードは、トリガ信号が生
じるトリガ事象があるまでデータをサンプリングしない
点に関しては、アナログの場合と同じである。トリガ事
象が生じた後は、アナログ信号をサンプリングしてデジ
タル化し、得られたデジタル・データ・サンプルは、取
込みメモリの連続する記憶位置に満杯になるまで蓄積さ
れる。ただし、ここでは、非常に高い周波数の繰り返し
信号に対して用いられる等価時間サンプリング及びラン
ダム・サンプリングの技術に関しては、簡単のため考え
ないことにする。
じるトリガ事象があるまでデータをサンプリングしない
点に関しては、アナログの場合と同じである。トリガ事
象が生じた後は、アナログ信号をサンプリングしてデジ
タル化し、得られたデジタル・データ・サンプルは、取
込みメモリの連続する記憶位置に満杯になるまで蓄積さ
れる。ただし、ここでは、非常に高い周波数の繰り返し
信号に対して用いられる等価時間サンプリング及びラン
ダム・サンプリングの技術に関しては、簡単のため考え
ないことにする。
【0005】DSOに表示するデータを正確にする1つ
の方法としては、アナログ信号を重複してサンプリング
する方法がある。例えば、取込みメモリに500個の記
憶位置があるときに、アナログ信号から4000サンプ
ルを得て、これらから500サンプルを抽出して蓄積す
る(この場合のサンプル抽出率は1/8)というように
する。取込みメモリの各記憶位置は、各サンプリング・
インターバルに対応しており、この例で言えば、1つの
サンプリング・インターバルには8つのサブ・サンプル
がある。複数のサブ・サンプルはリアルタイムで処理さ
れ、そのサンプリング・インターバルを代表する1つの
値(サンプル)を得る。また、エンベロープ・モードの
場合には、そのサンプリング・インターバルでの最大及
び最小値を得る。
の方法としては、アナログ信号を重複してサンプリング
する方法がある。例えば、取込みメモリに500個の記
憶位置があるときに、アナログ信号から4000サンプ
ルを得て、これらから500サンプルを抽出して蓄積す
る(この場合のサンプル抽出率は1/8)というように
する。取込みメモリの各記憶位置は、各サンプリング・
インターバルに対応しており、この例で言えば、1つの
サンプリング・インターバルには8つのサブ・サンプル
がある。複数のサブ・サンプルはリアルタイムで処理さ
れ、そのサンプリング・インターバルを代表する1つの
値(サンプル)を得る。また、エンベロープ・モードの
場合には、そのサンプリング・インターバルでの最大及
び最小値を得る。
【0006】取込みメモリ中のデータをメイン・メモリ
に転送する前に行うデジタル的な処理には、ある程度の
時間が必要である。このデジタル処理とは、例えば、前
回の取込みサイクルでメイン・メモリ中に蓄積したデー
タ・サンプルと取込みメモリから今得たばかりのデータ
・サンプルの内から最小及び最大値を決定するといった
処理である。そのためデジタル処理時間は、アナログの
場合のホールド・オフ時間よりも大幅に長くなる。
に転送する前に行うデジタル的な処理には、ある程度の
時間が必要である。このデジタル処理とは、例えば、前
回の取込みサイクルでメイン・メモリ中に蓄積したデー
タ・サンプルと取込みメモリから今得たばかりのデータ
・サンプルの内から最小及び最大値を決定するといった
処理である。そのためデジタル処理時間は、アナログの
場合のホールド・オフ時間よりも大幅に長くなる。
【0007】スプリアス・インパルスがアナログ信号中
に散発的に発生するような場合には、従来はDSOより
もアナログ・オシロスコープ、特にマイクロチャンネル
・プレート(MCP)を用いた高輝度タイプのアナログ
・オシロスコープで観測した方が良いというのが通説に
なっている。これには、2つの理由がある。1つはアナ
ログ・オシロスコープの方がホールド・オフ時間が短い
ということ、もう1つはデジタル・オシロスコープでは
データ・サンプル間に時間間隔があるということであ
る。アナログ・オシロスコープのアナログ信号の無表示
時間とDSOのアナログ信号取込み時間は、デッド・タ
イムと呼ばれる。
に散発的に発生するような場合には、従来はDSOより
もアナログ・オシロスコープ、特にマイクロチャンネル
・プレート(MCP)を用いた高輝度タイプのアナログ
・オシロスコープで観測した方が良いというのが通説に
なっている。これには、2つの理由がある。1つはアナ
ログ・オシロスコープの方がホールド・オフ時間が短い
ということ、もう1つはデジタル・オシロスコープでは
データ・サンプル間に時間間隔があるということであ
る。アナログ・オシロスコープのアナログ信号の無表示
時間とDSOのアナログ信号取込み時間は、デッド・タ
イムと呼ばれる。
【0008】例えばDSOの通常の最小/最大値抽出シ
ステム(8ビットの場合)は、所望のサンプリング・イ
ンターバルにおける最小値を”ff”に、最大値を”0
0”に初期設定してから開始される。サンプリング・イ
ンターバル内の全てのサブ・サンプルは、蓄積した最小
及び最大値と比較され、比較結果に応じて蓄積する値を
交換する。これによってサンプリング・インターバルの
最終的な最小及び最大値の組が取込みメモリに蓄積さ
れ、その記憶位置はそのサンプリング・インターバルに
対応する。取込みサイクルが完了すると、取込みメモリ
の内容及びメイン・メモリ中にある以前の内容のコピー
から処理装置が最小及び最大値を抽出し、その結果から
メイン・メモリの内容を交換する。
ステム(8ビットの場合)は、所望のサンプリング・イ
ンターバルにおける最小値を”ff”に、最大値を”0
0”に初期設定してから開始される。サンプリング・イ
ンターバル内の全てのサブ・サンプルは、蓄積した最小
及び最大値と比較され、比較結果に応じて蓄積する値を
交換する。これによってサンプリング・インターバルの
最終的な最小及び最大値の組が取込みメモリに蓄積さ
れ、その記憶位置はそのサンプリング・インターバルに
対応する。取込みサイクルが完了すると、取込みメモリ
の内容及びメイン・メモリ中にある以前の内容のコピー
から処理装置が最小及び最大値を抽出し、その結果から
メイン・メモリの内容を交換する。
【0009】取込みメモリとメイン・メモリの間で処理
装置が行う上述したような処理動作は、アナログ・オシ
ロスコープのホールド・オフ時間と比較すると大幅に長
い時間がかかり、デッド・タイムの一因となっている。
仮に取込みメモリを余分に用意したとしても処理時間が
長過ぎるので、余分な取込みメモリは処理が完了する前
に満杯になってしまう。デッド・タイムは多少短くはな
るが、なくすことはできない。
装置が行う上述したような処理動作は、アナログ・オシ
ロスコープのホールド・オフ時間と比較すると大幅に長
い時間がかかり、デッド・タイムの一因となっている。
仮に取込みメモリを余分に用意したとしても処理時間が
長過ぎるので、余分な取込みメモリは処理が完了する前
に満杯になってしまう。デッド・タイムは多少短くはな
るが、なくすことはできない。
【0010】DSOは、プリトリガ・モードにおいてト
リガ信号前のデータを表示することができる。これは、
アナログ・オシロスコープによるアナログ信号の表示と
比較して、トリガより前のアナログ信号をより多く表示
できる点で優位である。実際、極端な例を上げれば、表
示するデータをすべてトリガより前のデータとすること
もできる。ただし、プリトリガ時間は、トリガ信号が生
じてDSOが次の取込みサイクルを開始する前に終了し
なければならない。
リガ信号前のデータを表示することができる。これは、
アナログ・オシロスコープによるアナログ信号の表示と
比較して、トリガより前のアナログ信号をより多く表示
できる点で優位である。実際、極端な例を上げれば、表
示するデータをすべてトリガより前のデータとすること
もできる。ただし、プリトリガ時間は、トリガ信号が生
じてDSOが次の取込みサイクルを開始する前に終了し
なければならない。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、取込
みメモリとメイン・メモリの間で処理装置が行うデジタ
ル的な処理動作は、アナログ・オシロスコープのホール
ド・オフ時間と比較すると大幅に長い時間がかかり、デ
ッド・タイムの一因となっている。
みメモリとメイン・メモリの間で処理装置が行うデジタ
ル的な処理動作は、アナログ・オシロスコープのホール
ド・オフ時間と比較すると大幅に長い時間がかかり、デ
ッド・タイムの一因となっている。
【0012】そこで本発明の目的は、信号の取込みサイ
クルと取込みサイクルの間に従来必要だった信号処理時
間を必要としない信号取込み装置及び方法を提供するこ
とである。本発明の他の目的は、デジタル・ストレージ
・オシロスコープ(DSO)で従来から使用されている
信号取込み装置にわずかな変更を加えるだけで実施可能
なDSO用の信号取込み装置及び方法を提供することで
ある。
クルと取込みサイクルの間に従来必要だった信号処理時
間を必要としない信号取込み装置及び方法を提供するこ
とである。本発明の他の目的は、デジタル・ストレージ
・オシロスコープ(DSO)で従来から使用されている
信号取込み装置にわずかな変更を加えるだけで実施可能
なDSO用の信号取込み装置及び方法を提供することで
ある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、デジタル・ス
トレージ・オシロスコープ(DSO)に適用するのに最
適なデッド・タイムが零の信号取込み装置及び方法を提
供する。本発明によれば、取込みサイクルと取込みサイ
クルの間に信号のデータ・サンプルの累積的な蓄積及び
その他の信号処理のために処理装置を割り込ませる必要
がない。また本発明は、DSO等で従来から用いられて
いる信号取込み装置に入力バッファ及び出力バッファを
付加すれば実現できる。アキュムレータには、各サンプ
リング・インターバルの最初の時点で取込みメモリから
初期値がロードされ、各サンプリング・インターバル内
において入力信号のデジタル・データ・サンプルの列と
比較される。
トレージ・オシロスコープ(DSO)に適用するのに最
適なデッド・タイムが零の信号取込み装置及び方法を提
供する。本発明によれば、取込みサイクルと取込みサイ
クルの間に信号のデータ・サンプルの累積的な蓄積及び
その他の信号処理のために処理装置を割り込ませる必要
がない。また本発明は、DSO等で従来から用いられて
いる信号取込み装置に入力バッファ及び出力バッファを
付加すれば実現できる。アキュムレータには、各サンプ
リング・インターバルの最初の時点で取込みメモリから
初期値がロードされ、各サンプリング・インターバル内
において入力信号のデジタル・データ・サンプルの列と
比較される。
【0014】エンベロープ・モードにおいては、アキュ
ムレータ中の値が各サンプリング・インターバルの最小
及び最大値を表す。セーブ・オン・デルタ・モードにお
いては、アキュムレータ中の値は波形特定データ又はテ
ンプレートの値を表す。入力信号のデジタル・データ・
サンプルがテンプレートの値から外れると、比較器の出
力信号によりラッチがトリガされエラー信号を出力す
る。
ムレータ中の値が各サンプリング・インターバルの最小
及び最大値を表す。セーブ・オン・デルタ・モードにお
いては、アキュムレータ中の値は波形特定データ又はテ
ンプレートの値を表す。入力信号のデジタル・データ・
サンプルがテンプレートの値から外れると、比較器の出
力信号によりラッチがトリガされエラー信号を出力す
る。
【0015】
【実施例】図1は、本発明の信号取込み装置の1実施例
のブロック図である。第1及び第2入力バッファ12及
び13は、データ・バス10からデータを受ける。第1
及び第2入力バッファ12及び13には、例えば、レジ
スタを使用する。データ・バス10は、取込みメモリ及
び波形特定メモリの一方に又は両方に順次接続される。
信号線11上のデジタル化されたデータ・サンプルのデ
ータ列(電気入力信号を表す)は、1対の入力マルチプ
レクサ(MUX)14及び15、並びに1対の比較器1
6及び17に入力される。入力マルチプレクサ14及び
15の他方の入力端子には、入力バッファ12及び13
の出力信号が夫々入力される。入力マルチプレクサ14
及び15の出力信号は、比較器16及び17の出力信号
と共にアキュムレータ・レジスタ18及び19に入力さ
れる。
のブロック図である。第1及び第2入力バッファ12及
び13は、データ・バス10からデータを受ける。第1
及び第2入力バッファ12及び13には、例えば、レジ
スタを使用する。データ・バス10は、取込みメモリ及
び波形特定メモリの一方に又は両方に順次接続される。
信号線11上のデジタル化されたデータ・サンプルのデ
ータ列(電気入力信号を表す)は、1対の入力マルチプ
レクサ(MUX)14及び15、並びに1対の比較器1
6及び17に入力される。入力マルチプレクサ14及び
15の他方の入力端子には、入力バッファ12及び13
の出力信号が夫々入力される。入力マルチプレクサ14
及び15の出力信号は、比較器16及び17の出力信号
と共にアキュムレータ・レジスタ18及び19に入力さ
れる。
【0016】比較器16及び17の出力信号は、アキュ
ムレータ18及び19の書込みイネーブル信号として機
能する。アキュムレータ18及び19の出力は、夫々比
較器16及び17の第2入力信号となる。また、アキュ
ムレータ18及び19の出力信号は、出力バッファ(例
えばレジスタ)20及び21にも夫々供給される。ま
た、比較器16及び17の出力信号は、ラッチ24のセ
ット入力端子にも入力される。ラッチ24の出力信号
は、セーブ・オン・デルタ・モードにおいて、波形特定
(基準波形)メモリに蓄積された特定波形又はテンプレ
ートで示される設定したパラメータの範囲外に電気信号
があるときにエラー信号として出力される。セーブ・オ
ン・デルタ・モードについては、例えば、特公昭63−
30580号「波形蓄積表示装置」を参照されたい。
ムレータ18及び19の書込みイネーブル信号として機
能する。アキュムレータ18及び19の出力は、夫々比
較器16及び17の第2入力信号となる。また、アキュ
ムレータ18及び19の出力信号は、出力バッファ(例
えばレジスタ)20及び21にも夫々供給される。ま
た、比較器16及び17の出力信号は、ラッチ24のセ
ット入力端子にも入力される。ラッチ24の出力信号
は、セーブ・オン・デルタ・モードにおいて、波形特定
(基準波形)メモリに蓄積された特定波形又はテンプレ
ートで示される設定したパラメータの範囲外に電気信号
があるときにエラー信号として出力される。セーブ・オ
ン・デルタ・モードについては、例えば、特公昭63−
30580号「波形蓄積表示装置」を参照されたい。
【0017】図2は、本発明によるポストトリガでの取
込みメモリの記憶内容の一例を示す図である。図2が示
すように、エンベロープ・モードにおけるポストトリガ
での取込みメモリ26には、トリガ事象後に生じたデジ
タル・データ・サンプル中から取り出したサンプルが順
次蓄積される。蓄積したデータ・サンプルは、トリガ事
象の後の最初のサンプリング・インターバル(MIN/
MAX0)からメモリの最後のサンプリング・インター
バル(MIN/MAXn)までの以前の取込みサイクル
における最小及び最大値データの対を表している。な
お、蓄積したデータ・サンプルは、信号取込み装置から
出力されたものなので、出力データ・サンプルを呼ぶこ
とにする。エンベロープ・モードにおいて操作者が取込
んだ信号データを初期化すると、取込みメモリ26はそ
の全てのMAX(最大値)記憶位置が”00”に、全て
のMIN(最小値)記憶位置が”ff”に初期設定され
る。以降の説明において、以前の取込みサイクルで取り
込んだデータ・サンプルという場合、新規に取り込みサ
イクルを開始する場合では、この初期化された状態のこ
とを指すものとする。
込みメモリの記憶内容の一例を示す図である。図2が示
すように、エンベロープ・モードにおけるポストトリガ
での取込みメモリ26には、トリガ事象後に生じたデジ
タル・データ・サンプル中から取り出したサンプルが順
次蓄積される。蓄積したデータ・サンプルは、トリガ事
象の後の最初のサンプリング・インターバル(MIN/
MAX0)からメモリの最後のサンプリング・インター
バル(MIN/MAXn)までの以前の取込みサイクル
における最小及び最大値データの対を表している。な
お、蓄積したデータ・サンプルは、信号取込み装置から
出力されたものなので、出力データ・サンプルを呼ぶこ
とにする。エンベロープ・モードにおいて操作者が取込
んだ信号データを初期化すると、取込みメモリ26はそ
の全てのMAX(最大値)記憶位置が”00”に、全て
のMIN(最小値)記憶位置が”ff”に初期設定され
る。以降の説明において、以前の取込みサイクルで取り
込んだデータ・サンプルという場合、新規に取り込みサ
イクルを開始する場合では、この初期化された状態のこ
とを指すものとする。
【0018】図3は、本発明によるポストトリガにおけ
るデータ・サンプルの取込みタイミング・チャートであ
る。最初の取込みサイクルが開始する最初のトリガ信号
より前の時点において、取込みメモリ26からデータ・
バス10を介してMIN/MAX0が入力バッファ12
及び13に夫々ロードされる。最初のトリガ信号の後の
最初のサンプリング・クロックの来た時点がサンプリン
グ・インターバルの開始時点となり、MIN/MAX0
の値が夫々マルチプレクサ14及び15を介して夫々ア
キュムレータ18及び19に初期基準データ・サンプル
として転送される。次のサンプリング・クロックが来た
時点において、信号線11上のデジタル・データ・サン
プル中のそのサンプリング・インターバルに対応するデ
ータの値がアキュムレータ18及び19中の基準データ
・サンプルの値を越えていれば、比較器16及び17は
出力信号(書込みイネーブル信号)をアキュムレータに
夫々供給してイネーブルし、最初のデータ・サンプルの
保持が行われる。また、入力バッファ12及び13の一
方には、取込みメモリ26から次の初期基準データ・サ
ンプルの1つ(ここではMIN1)がロードされ、さら
に次のサンプリング・クロックにおいて、入力バッファ
12及び13の他方に取込みメモリ26からその次のも
う1つの初期基準データ・サンプル(ここではMAX
1)がロードされる。このようにして、入力バッファに
は次の最小及び最大値の対(MIN/MAX1)がロー
ドされ、次のサンプリング・インターバルの開始まで一
時的に保持される。
るデータ・サンプルの取込みタイミング・チャートであ
る。最初の取込みサイクルが開始する最初のトリガ信号
より前の時点において、取込みメモリ26からデータ・
バス10を介してMIN/MAX0が入力バッファ12
及び13に夫々ロードされる。最初のトリガ信号の後の
最初のサンプリング・クロックの来た時点がサンプリン
グ・インターバルの開始時点となり、MIN/MAX0
の値が夫々マルチプレクサ14及び15を介して夫々ア
キュムレータ18及び19に初期基準データ・サンプル
として転送される。次のサンプリング・クロックが来た
時点において、信号線11上のデジタル・データ・サン
プル中のそのサンプリング・インターバルに対応するデ
ータの値がアキュムレータ18及び19中の基準データ
・サンプルの値を越えていれば、比較器16及び17は
出力信号(書込みイネーブル信号)をアキュムレータに
夫々供給してイネーブルし、最初のデータ・サンプルの
保持が行われる。また、入力バッファ12及び13の一
方には、取込みメモリ26から次の初期基準データ・サ
ンプルの1つ(ここではMIN1)がロードされ、さら
に次のサンプリング・クロックにおいて、入力バッファ
12及び13の他方に取込みメモリ26からその次のも
う1つの初期基準データ・サンプル(ここではMAX
1)がロードされる。このようにして、入力バッファに
は次の最小及び最大値の対(MIN/MAX1)がロー
ドされ、次のサンプリング・インターバルの開始まで一
時的に保持される。
【0019】比較器16又は17は、サンプリング・イ
ンターバル中の連続するサンプリング・クロックの各時
点において、アキュムレータ18及び19からの基準デ
ータ・サンプルとこれとサンプリング・インターバルが
対応するデジタル・データ・サンプルを比較する。もし
デジタル・データ・サンプルのいずれかが基準データ・
サンプルで定まるリミット値からはずれた場合には、夫
々に対応する比較器16又は17の出力信号を受けてア
キュムレータ18又は19が適切に選択されイネーブル
される。選択されたアキュムレータ18又は19中の入
力信号を表すデジタル・データ・サンプルに越えられて
しまった基準データ・サンプルは、適当な入力マルチプ
レクサ14又は15を介してリミット値からはずれたそ
のデータ・サンプルと交換される。
ンターバル中の連続するサンプリング・クロックの各時
点において、アキュムレータ18及び19からの基準デ
ータ・サンプルとこれとサンプリング・インターバルが
対応するデジタル・データ・サンプルを比較する。もし
デジタル・データ・サンプルのいずれかが基準データ・
サンプルで定まるリミット値からはずれた場合には、夫
々に対応する比較器16又は17の出力信号を受けてア
キュムレータ18又は19が適切に選択されイネーブル
される。選択されたアキュムレータ18又は19中の入
力信号を表すデジタル・データ・サンプルに越えられて
しまった基準データ・サンプルは、適当な入力マルチプ
レクサ14又は15を介してリミット値からはずれたそ
のデータ・サンプルと交換される。
【0020】サンプリング・インターバルの最後の時点
(次のサイクルの開始時点)において、基準データ・サ
ンプルはアキュムレータ18及び19から出力データ・
サンプルとして出力バッファ20及び21に転送され
る。これと同時に、次の基準データ・サンプルである最
小及び最大値(この例ではMIN/MAX1)が、入力
バッファからアキュムレータにロードされる。この最小
及び最大サンプルは、前回のサンプリング・インターバ
ルの間に取込みメモリ26から入力バッファ12及び1
3に予めロードされたものである。次のサンプリング・
インターバルの最初の2つのサンプリング・クロックの
間に、最小及び最大値(この例ではMIN/MAX0)
は出力バッファから取込みメモリ26の適切な記憶位置
にデータ・バス10を介して転送され、以前の最小及び
最大値と交換される。そして、さらに次のサンプリング
・インターバルにおける最小及び最大値(この例ではM
IN/MAX2)は、上述と同様に入力バッファ12及
び13にロードされる。なお、入力及び出力バッファが
あるので、例えば、MIN0の蓄積及びMIN2のロー
ド、並びにMAX0の蓄積及びMAX2のロードを夫々
同じサンプリング・クロックで同時に行うということも
できる。
(次のサイクルの開始時点)において、基準データ・サ
ンプルはアキュムレータ18及び19から出力データ・
サンプルとして出力バッファ20及び21に転送され
る。これと同時に、次の基準データ・サンプルである最
小及び最大値(この例ではMIN/MAX1)が、入力
バッファからアキュムレータにロードされる。この最小
及び最大サンプルは、前回のサンプリング・インターバ
ルの間に取込みメモリ26から入力バッファ12及び1
3に予めロードされたものである。次のサンプリング・
インターバルの最初の2つのサンプリング・クロックの
間に、最小及び最大値(この例ではMIN/MAX0)
は出力バッファから取込みメモリ26の適切な記憶位置
にデータ・バス10を介して転送され、以前の最小及び
最大値と交換される。そして、さらに次のサンプリング
・インターバルにおける最小及び最大値(この例ではM
IN/MAX2)は、上述と同様に入力バッファ12及
び13にロードされる。なお、入力及び出力バッファが
あるので、例えば、MIN0の蓄積及びMIN2のロー
ド、並びにMAX0の蓄積及びMAX2のロードを夫々
同じサンプリング・クロックで同時に行うということも
できる。
【0021】この処理は、取込みサイクルの各サンプリ
ング・インターバルにおいて続けられ、最初の取込みサ
イクルの最後の時点では、取込みメモリ26中の全て
の”00”及び”ff”の値がデジタル化したアナログ
波形信号の各サンプリング・インターバルにおける最小
及び最大値と交換される。よって引き続くデータ処理を
本質的に必要としないのでホールド・オフ時間は零にで
きるが、ホールド・オフ時間を設けるようにしても良
い。この処理は、取込みを止めるまで連続する取込みサ
イクルで繰り返される。連続する各取込みサイクルは、
その前の取込みサイクルの最後の後に来る次の有効トリ
ガ信号で開始できる。つまり、ホールド・オフ時間を零
にでき、よってデッド・タイムを零にできる。
ング・インターバルにおいて続けられ、最初の取込みサ
イクルの最後の時点では、取込みメモリ26中の全て
の”00”及び”ff”の値がデジタル化したアナログ
波形信号の各サンプリング・インターバルにおける最小
及び最大値と交換される。よって引き続くデータ処理を
本質的に必要としないのでホールド・オフ時間は零にで
きるが、ホールド・オフ時間を設けるようにしても良
い。この処理は、取込みを止めるまで連続する取込みサ
イクルで繰り返される。連続する各取込みサイクルは、
その前の取込みサイクルの最後の後に来る次の有効トリ
ガ信号で開始できる。つまり、ホールド・オフ時間を零
にでき、よってデッド・タイムを零にできる。
【0022】上述してきたポストトリガ・モードは、蓄
積したデータ・サンプル(出力データ・サンプル)とト
リガ信号の時間関係がわかっているので、比較的単純で
ある。しかし、プリトリガ・モードでは、データ・サン
プルが取り込まれ続ける一方で、トリガ事象がまだ発生
していないためにデータ・サンプルとトリガ信号の時間
関係はわからない。そのため、どのデータ・サンプルを
メモリのどの記憶位置に蓄積するかが前もってわからな
いことになる。この問題は、次の取込みサイクルにおい
てプリトリガによるデータ・サンプルを取込んでいる間
に、このプリトリガによるデータ・サンプルを前回のプ
リトリガによって蓄積したデータ・サンプルと比較する
ことによって解決する。
積したデータ・サンプル(出力データ・サンプル)とト
リガ信号の時間関係がわかっているので、比較的単純で
ある。しかし、プリトリガ・モードでは、データ・サン
プルが取り込まれ続ける一方で、トリガ事象がまだ発生
していないためにデータ・サンプルとトリガ信号の時間
関係はわからない。そのため、どのデータ・サンプルを
メモリのどの記憶位置に蓄積するかが前もってわからな
いことになる。この問題は、次の取込みサイクルにおい
てプリトリガによるデータ・サンプルを取込んでいる間
に、このプリトリガによるデータ・サンプルを前回のプ
リトリガによって蓄積したデータ・サンプルと比較する
ことによって解決する。
【0023】図4は、本発明によるプリトリガでの取込
みメモリのメモリ空間の一例を示す図である。取込みメ
モリ26’は、第1プリトリガ領域27、第2プリトリ
ガ領域28、プリトリガ処理/テンプレート領域29及
びポストトリガ領域30の4つの領域に分割される。取
込みメモリ26’の最初の2つの領域27及び28は、
プリトリガ・サンプリング・インターバル中にデータ・
サンプルを取込む巡回型メモリである。プリトリガ処理
/テンプレート領域29は、取込みサイクルの開始より
前の時点で、ポストトリガに関して上述したように初期
化され、現在より前の取込みサイクルで取り込んだデジ
タル・データ・サンプル又は予め設定可能なテンプレー
ト・サンプルを記憶する。
みメモリのメモリ空間の一例を示す図である。取込みメ
モリ26’は、第1プリトリガ領域27、第2プリトリ
ガ領域28、プリトリガ処理/テンプレート領域29及
びポストトリガ領域30の4つの領域に分割される。取
込みメモリ26’の最初の2つの領域27及び28は、
プリトリガ・サンプリング・インターバル中にデータ・
サンプルを取込む巡回型メモリである。プリトリガ処理
/テンプレート領域29は、取込みサイクルの開始より
前の時点で、ポストトリガに関して上述したように初期
化され、現在より前の取込みサイクルで取り込んだデジ
タル・データ・サンプル又は予め設定可能なテンプレー
ト・サンプルを記憶する。
【0024】図5は、本発明によるエンベロープ・モー
ドでのプリトリガ・データ・サンプル取込み処理の手順
を示すタイミング・チャートである。プリトリガ領域2
7及び28は、交互に使用される。つまり、ある取込み
サイクルで一方のプリトリガ領域を使用したら、次の取
込みサイクルでは他方のプリトリガ領域が使用される。
取込みサイクルがプリトリガ・モードのときには、デジ
タル・データ・サンプルは入力マルチプレクサ14及び
15を介して直接アキュムレータ18及び19に供給さ
れ、入力バッファ12及び13は使用しない。
ドでのプリトリガ・データ・サンプル取込み処理の手順
を示すタイミング・チャートである。プリトリガ領域2
7及び28は、交互に使用される。つまり、ある取込み
サイクルで一方のプリトリガ領域を使用したら、次の取
込みサイクルでは他方のプリトリガ領域が使用される。
取込みサイクルがプリトリガ・モードのときには、デジ
タル・データ・サンプルは入力マルチプレクサ14及び
15を介して直接アキュムレータ18及び19に供給さ
れ、入力バッファ12及び13は使用しない。
【0025】サンプリング・インターバル中には、はじ
めに最初のデジタル・データ・サンプルをアキュムレー
タ18及び19にロードし、次にその後に続くそのサン
プリング・インターバル内のデジタル・データ・サンプ
ルと比較する。これによって、各サンプリング・インタ
ーバルの最後の時点において、アキュムレータはサンプ
リング・インターバル内の最小及び最大値のデータ・サ
ンプルを示す。この最小及び最大値のデータ・サンプル
は、出力バッファ20及び21に転送され、取込みメモ
リ26’のアクセスしているプリトリガ領域27又は2
8の次の記憶位置に蓄積される。
めに最初のデジタル・データ・サンプルをアキュムレー
タ18及び19にロードし、次にその後に続くそのサン
プリング・インターバル内のデジタル・データ・サンプ
ルと比較する。これによって、各サンプリング・インタ
ーバルの最後の時点において、アキュムレータはサンプ
リング・インターバル内の最小及び最大値のデータ・サ
ンプルを示す。この最小及び最大値のデータ・サンプル
は、出力バッファ20及び21に転送され、取込みメモ
リ26’のアクセスしているプリトリガ領域27又は2
8の次の記憶位置に蓄積される。
【0026】一旦、トリガ信号が発生すると、ポストト
リガによるデータ・サンプルは、既に上述したようにし
て取込みメモリ26’のポストトリガ領域30に蓄積さ
れる。取込みサイクルの最後において、選択されたプリ
トリガ領域27又は28のプリトリガ・データ・サンプ
ルの記憶位置は明確に定まる。よって、他方のプリトリ
ガ領域27又は28がアクセスされて蓄積されていると
きに、前回のプリトリガ領域27又は28からのデータ
・サンプルは、プリトリガ処理領域29からの基準デー
タ・サンプルである対応するデータ・サンプルと比較さ
れ、その値がプリトリガ処理領域29中の処理済みデー
タ・サンプル(基準データ・サンプル)で示される最小
又は最大値を越えている場合には、その処理済みデータ
・サンプルと交換される。このようにしてプリトリガ・
データ・サンプルに対する最小及び最大値が、取込みサ
イクルの後、次の取込みサイクルのプリトリガ・サイク
ル中に最終的に決定される。取込みメモリ26’のプリ
トリガ処理領域29及びポストトリガ領域30の部分
は、アナログ波形の表示に使用される。
リガによるデータ・サンプルは、既に上述したようにし
て取込みメモリ26’のポストトリガ領域30に蓄積さ
れる。取込みサイクルの最後において、選択されたプリ
トリガ領域27又は28のプリトリガ・データ・サンプ
ルの記憶位置は明確に定まる。よって、他方のプリトリ
ガ領域27又は28がアクセスされて蓄積されていると
きに、前回のプリトリガ領域27又は28からのデータ
・サンプルは、プリトリガ処理領域29からの基準デー
タ・サンプルである対応するデータ・サンプルと比較さ
れ、その値がプリトリガ処理領域29中の処理済みデー
タ・サンプル(基準データ・サンプル)で示される最小
又は最大値を越えている場合には、その処理済みデータ
・サンプルと交換される。このようにしてプリトリガ・
データ・サンプルに対する最小及び最大値が、取込みサ
イクルの後、次の取込みサイクルのプリトリガ・サイク
ル中に最終的に決定される。取込みメモリ26’のプリ
トリガ処理領域29及びポストトリガ領域30の部分
は、アナログ波形の表示に使用される。
【0027】要約すると、通常の最小及び最大値(MI
N/MAX)の抽出処理は、巡回型であり、第1プリト
リガ領域27から始まる。第1プリトリガ領域27は、
各サンプリング・インターバルの値を累積的に蓄積す
る。プリトリガ時間が満了した後、つまり、操作者が決
定する第1プリトリガ領域27を満杯にするのに必要な
最小時間が満了した後には、上述したようにトリガ信号
が発生し、ポストトリガ領域30でポストトリガによる
データの累積的な蓄積が行われる。ホールド・オフ時間
を設ける場合には、ポストトリガによるデータ蓄積が完
了した後に設ける。ホールド・オフ時間に続いては、2
つの処理が重複して行われる。その1つは、プリトリガ
による最小及び最大値対の第2プリトリガ領域28への
取込みであり、もう1つは、第1プリトリガ領域27と
プリトリガ処理領域29の間における最小及び最大値の
累積的な蓄積である。この処理は、この時点において
は、第1プリトリガ領域27中にトリガの位置を示すデ
ータがあるために実行可能になる。このような処理を続
けることで、一方のプリトリガ領域のデータが前回のプ
リトリガ領域のデータと一緒に(選択的に)蓄積される
と同時に、他方のプリトリガ領域では次の取込みサイク
ルにおけるデータが蓄積される。
N/MAX)の抽出処理は、巡回型であり、第1プリト
リガ領域27から始まる。第1プリトリガ領域27は、
各サンプリング・インターバルの値を累積的に蓄積す
る。プリトリガ時間が満了した後、つまり、操作者が決
定する第1プリトリガ領域27を満杯にするのに必要な
最小時間が満了した後には、上述したようにトリガ信号
が発生し、ポストトリガ領域30でポストトリガによる
データの累積的な蓄積が行われる。ホールド・オフ時間
を設ける場合には、ポストトリガによるデータ蓄積が完
了した後に設ける。ホールド・オフ時間に続いては、2
つの処理が重複して行われる。その1つは、プリトリガ
による最小及び最大値対の第2プリトリガ領域28への
取込みであり、もう1つは、第1プリトリガ領域27と
プリトリガ処理領域29の間における最小及び最大値の
累積的な蓄積である。この処理は、この時点において
は、第1プリトリガ領域27中にトリガの位置を示すデ
ータがあるために実行可能になる。このような処理を続
けることで、一方のプリトリガ領域のデータが前回のプ
リトリガ領域のデータと一緒に(選択的に)蓄積される
と同時に、他方のプリトリガ領域では次の取込みサイク
ルにおけるデータが蓄積される。
【0028】操作者がセーブ・オン・デルタ・モードで
取込みデータを初期化したときには、取込みメモリ26
と同等な波形特定メモリにテンプレート(枠)を定める
最小及び最大リミット値がロードされる。ここで”同等
な”というのは、取込みメモリを波形特定メモリとして
も使用できるということを意味している。このテンプレ
ートから外れたデジタル・データ・サンプル点はいずれ
もエラー状態として示され、後に続く取込みサイクルは
中止され、現在の取込みサイクルがその後の検査に取り
込まれる。このとき、一旦取込みメモリ26からデータ
を転送し、取込み処理を続けるようにしても良い。
取込みデータを初期化したときには、取込みメモリ26
と同等な波形特定メモリにテンプレート(枠)を定める
最小及び最大リミット値がロードされる。ここで”同等
な”というのは、取込みメモリを波形特定メモリとして
も使用できるということを意味している。このテンプレ
ートから外れたデジタル・データ・サンプル点はいずれ
もエラー状態として示され、後に続く取込みサイクルは
中止され、現在の取込みサイクルがその後の検査に取り
込まれる。このとき、一旦取込みメモリ26からデータ
を転送し、取込み処理を続けるようにしても良い。
【0029】セーブ・オン・デルタ・モード回路は、入
力マルチプレクサ14及び15がなくても良いことを除
けばエンベロープ・モード回路と同様である。これは、
各サンプリング・インターバルの開始時点において、入
力バッファ12及び13を介してテンプレート・サンプ
ル(基準データ・サンプル)をアキュムレータ18及び
19にロードするだけで良いからである。また、出力バ
ッファ20及び21並びに出力マルチプレクサ(MU
X)22は、テンプレートを変更しないので必要なく、
よってメモリ26中のデータも変更する必要がない。さ
らに比較器16及び17の出力信号は、アキュムレータ
18及び19ではなくてエラー・ラッチ24に印加され
る。比較結果がリミットから外れる状態の場合には、ラ
ッチ24は比較器16及び17の出力信号に応じてその
状態を検出するように設定され、エラー信号を出力す
る。ラッチ24は、各取込みサイクルの最初でリセット
される。
力マルチプレクサ14及び15がなくても良いことを除
けばエンベロープ・モード回路と同様である。これは、
各サンプリング・インターバルの開始時点において、入
力バッファ12及び13を介してテンプレート・サンプ
ル(基準データ・サンプル)をアキュムレータ18及び
19にロードするだけで良いからである。また、出力バ
ッファ20及び21並びに出力マルチプレクサ(MU
X)22は、テンプレートを変更しないので必要なく、
よってメモリ26中のデータも変更する必要がない。さ
らに比較器16及び17の出力信号は、アキュムレータ
18及び19ではなくてエラー・ラッチ24に印加され
る。比較結果がリミットから外れる状態の場合には、ラ
ッチ24は比較器16及び17の出力信号に応じてその
状態を検出するように設定され、エラー信号を出力す
る。ラッチ24は、各取込みサイクルの最初でリセット
される。
【0030】セーブ・オン・デルタ・モードにおける動
作は、上述したエンベロープ・モードの場合と同様であ
る。ポストトリガでのデータに対しては、対応するテン
プレートの値がメモリ26から入力バッファ12及び1
3を介してアキュムレータ18及び19にロードされ、
デジタル・データ・サンプルと比較される。比較器16
及び17がリミットから外れる状態を検出すると、ラッ
チ24がエラー信号を出力するように設定される。プリ
トリガでのデータに対しては、次の取込みサイクルでプ
リトリガのデータ・サンプルが取込まれるのと並行し
て、取り込まれたプリトリガのデータをメモリ26’の
プリトリガ処理/テンプレート領域29に記憶されたプ
リトリガ・テンプレート値と比較する。プリトリガによ
る処理の間にエラーが示されたら、その次の取込みサイ
クルはポストトリガによるデータの取込みを開始する前
のトリガ信号が発生した時点で中止され、プリトリガ及
びポストトリガの両方のデータ・サンプルを含む得られ
た蓄積波形がメイン・メモリに転送され、これによって
アナログ信号のエラー状態を有する部分が保持(セー
ブ)される。データの転送が完了すれば、取込み処理は
再度初期状態になり、ラッチ24は再度波形を取込むた
めにリセットされる。
作は、上述したエンベロープ・モードの場合と同様であ
る。ポストトリガでのデータに対しては、対応するテン
プレートの値がメモリ26から入力バッファ12及び1
3を介してアキュムレータ18及び19にロードされ、
デジタル・データ・サンプルと比較される。比較器16
及び17がリミットから外れる状態を検出すると、ラッ
チ24がエラー信号を出力するように設定される。プリ
トリガでのデータに対しては、次の取込みサイクルでプ
リトリガのデータ・サンプルが取込まれるのと並行し
て、取り込まれたプリトリガのデータをメモリ26’の
プリトリガ処理/テンプレート領域29に記憶されたプ
リトリガ・テンプレート値と比較する。プリトリガによ
る処理の間にエラーが示されたら、その次の取込みサイ
クルはポストトリガによるデータの取込みを開始する前
のトリガ信号が発生した時点で中止され、プリトリガ及
びポストトリガの両方のデータ・サンプルを含む得られ
た蓄積波形がメイン・メモリに転送され、これによって
アナログ信号のエラー状態を有する部分が保持(セー
ブ)される。データの転送が完了すれば、取込み処理は
再度初期状態になり、ラッチ24は再度波形を取込むた
めにリセットされる。
【0031】上述の説明、例えばエンベロープ・モード
の説明では、各サンプリング・インターバル毎に最小及
び最大値のサンプルを抽出したが、従来と同様に各サン
プリング・インターバル毎に夫々を代表する1つのサン
プルを抽出するようにしても良いことはいうまでもな
い。
の説明では、各サンプリング・インターバル毎に最小及
び最大値のサンプルを抽出したが、従来と同様に各サン
プリング・インターバル毎に夫々を代表する1つのサン
プルを抽出するようにしても良いことはいうまでもな
い。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、以前の取込みサイクル
中に蓄積したデータ・サンプル、又は波形を特定するテ
ンプレート・サンプルを基準データ・サンプルとして使
用し、ポストトリガ・モードにおいてはこの基準データ
・サンプルを前のサンプリング・インターバル中に保持
手段(バッファ)に保持しておくので、前のサンプリン
グ・インターバルの終了と同時に次のサンプリング・イ
ンターバル開始できる。また、プリトリガ・モードにお
いては、少なくとも2つのプリトリガ領域を設け、一方
のプリトリガ領域でデータ・サンプルを取込むのと並行
して、以前の取込みサンプル中に蓄積したデータ・サン
プル、又は波形と特定するテンプレート・サンプルを基
準データ・サンプルとして、他方のプリトリガ領域で前
回取込んだデータ・サンプルを処理する。これらによっ
て、取込みサイクルと取込みサイクルの間の信号処理時
間が必要なくなり、これによるデッド・タイムをなくす
ことができる。さらに、従来のデジタル・ストレージ・
オシロスコープで使用されていた信号取込み装置にわず
かな変更を加えるだけで実施できる。
中に蓄積したデータ・サンプル、又は波形を特定するテ
ンプレート・サンプルを基準データ・サンプルとして使
用し、ポストトリガ・モードにおいてはこの基準データ
・サンプルを前のサンプリング・インターバル中に保持
手段(バッファ)に保持しておくので、前のサンプリン
グ・インターバルの終了と同時に次のサンプリング・イ
ンターバル開始できる。また、プリトリガ・モードにお
いては、少なくとも2つのプリトリガ領域を設け、一方
のプリトリガ領域でデータ・サンプルを取込むのと並行
して、以前の取込みサンプル中に蓄積したデータ・サン
プル、又は波形と特定するテンプレート・サンプルを基
準データ・サンプルとして、他方のプリトリガ領域で前
回取込んだデータ・サンプルを処理する。これらによっ
て、取込みサイクルと取込みサイクルの間の信号処理時
間が必要なくなり、これによるデッド・タイムをなくす
ことができる。さらに、従来のデジタル・ストレージ・
オシロスコープで使用されていた信号取込み装置にわず
かな変更を加えるだけで実施できる。
【図1】本発明の信号取込み装置の1実施例のブロック
図である。
図である。
【図2】本発明によるポストトリガでの取込みメモリの
記憶内容の一例を示す図である。
記憶内容の一例を示す図である。
【図3】本発明によるポストトリガにおけるデータ・サ
ンプルの取込みタイミング・チャートである。
ンプルの取込みタイミング・チャートである。
【図4】本発明によるプリトリガにおける取込みメモリ
のメモリ空間の一例を示す図である。
のメモリ空間の一例を示す図である。
【図5】本発明によるエンベロープ・モードでのプリト
リガ・データ・サンプル取込み処理の手順を示すタイミ
ング・チャートである。
リガ・データ・サンプル取込み処理の手順を示すタイミ
ング・チャートである。
10 データ・バス 12、13 入力バッファ 14、15 入力マルチプレクサ 16、17 比較器 18、19 アキュムレータ 20、21 出力バッファ 22 出力マルチプレクサ 26、26’取込みメモリ 27 第1プリトリガ領域 28 第2プリトリガ領域 29 プリトリガ処理/テンプレート領域 30 ポストトリガ領域
Claims (8)
- 【請求項1】 トリガ信号に応答してアナログ信号を所
定のサンプリング速度でデジタル化してデジタル・デー
タ・サンプルを生成し、該デジタル・データ・サンプル
を所定のサンプル抽出率で定まる各サンプリング・イン
ターバル毎に抽出して出力データ・サンプルとして取込
みメモリに蓄積する信号取込み装置において、 上記各サンプリング・インターバルに対応する出力デー
タ・サンプルを上記取込みメモリから基準データ・サン
プルとして受け、該基準データ・サンプル及び上記デジ
タル・データ・サンプルの内からリミット値として使用
するデータ・サンプルを選択的に供給する選択手段と、 上記選択手段からの上記リミット値を保持するアキュム
レータと、 上記アキュムレータからの上記リミット値と上記デジタ
ル・データ・サンプルを比較し、上記リミット値から外
れた上記デジタル・データ・サンプルがあるときに上記
アキュムレータにイネーブル信号を供給する比較器と、 上記各サンプリング・インターバルの最後において上記
アキュムレータの上記リミット値を上記各サンプリング
・インターバルに対応する上記出力データ・サンプルと
して上記取込みメモリに供給する供給手段とを具える信
号取込み装置。 - 【請求項2】 上記選択手段が、上記取込みメモリから
の上記基準データ・サンプルを一時的に保持する第1保
持手段と、上記基準データ・サンプル及び上記デジタル
・データ・サンプルを選択的に供給するマルチプレクサ
とを有し、上記基準データ・サンプルを上記各サンプリ
ング・インターバルの開始時点において供給することを
特徴とする請求項1記載の信号取込み装置。 - 【請求項3】 上記供給手段が、上記各サンプリング・
インターバルの終了時点において上記アキュムレータか
らの上記リミット値を一時的に保持する第2保持手段
と、上記リミット値を上記各サンプリング・インターバ
ルに対応する出力データ・サンプルとして上記第2保持
手段から上記取込みメモリに転送する転送手段とを有す
る請求項1記載の信号取込み装置。 - 【請求項4】 上記比較器からの上記イネーブル信号を
受けてエラー信号を出力するエラー指示手段を更に具え
る請求項1記載の信号取込み装置。 - 【請求項5】 トリガ信号に応答して夫々初期化される
複数の取込みサイクルに渡ってアナログ信号を所定のサ
ンプリング速度でデジタル化してデジタル・データ・サ
ンプルを生成し、該デジタル・データ・サンプルを所定
のサンプル抽出率で定まる各サンプリング・インターバ
ル毎に抽出して取込みメモリに出力データ・サンプルと
して蓄積する信号取込み方法において、 上記トリガ信号の後の上記各サンプリング・インターバ
ルの開始時点で該各サンプリング・インターバルに対応
する上記出力データ・サンプルを基準データ・サンプル
として上記取込みメモリからアキュムレータにロード
し、 上記基準データ・サンプル及び上記デジタル・データ・
サンプルを比較し、 上記基準データ・サンプルで定まるリミットから上記デ
ジタル・データ・サンプルが外れたときに該デジタル・
データ・サンプルを上記基準データ・サンプルと交換
し、 上記各サンプリング・インターバルの最後の時点で上記
アキュムレータからの上記基準データ・サンプルを上記
出力データ・サンプルとして上記取込みメモリに蓄積
し、 上記各サンプリング・インターバルにおいて上記手順を
繰り返すことを特徴とする信号取込み方法。 - 【請求項6】 上記トリガ信号より前のデジタル・デー
タ・サンプルを上記サンプル抽出率で定まる各サンプリ
ング・インターバル毎に抽出して上記取込みメモリの第
1プリトリガ領域に出力データ・サンプルとして取込み
(取込みステップ)、 該取込みステップと並行し、上記取込みメモリのプリト
リガ処理領域の出力データ・サンプルである基準データ
・サンプルと、該基準データ・サンプルとサンプリング
・インターバルが対応し以前の取込みサイクルでトリガ
信号より前に取り込んだ上記取込みメモリの第2プリト
リガ領域の出力データ・サンプルとを比較し(比較ステ
ップ)、 該比較ステップにおいて対応する上記基準データ・サン
プルで定まるリミットから外れるときに上記プリトリガ
処理領域の上記基準データ・サンプルと上記出力データ
・サンプルを交換することを特徴とする請求項5記載の
信号取込み方法。 - 【請求項7】 トリガ信号に応答して夫々初期化される
複数の取込みサイクルに渡ってアナログ信号を所定のサ
ンプリング速度でデジタル化してデジタル・データ・サ
ンプルを生成し、該デジタル・データ・サンプルを所定
のサンプル抽出率で定まる各サンプリング・インターバ
ル毎に抽出して取込みメモリに出力データ・サンプルと
して蓄積する信号取込み方法において、 波形特定メモリから上記各サンプリング・インターバル
に対応するテンプレート・サンプルを上記各サンプリン
グ・インターバルの開始時点で基準データ・サンプルと
してアキュムレータにロードし、 上記基準データ・サンプルと上記デジタル・データ・サ
ンプルを比較し、 上記基準データ・サンプルで定まるリミットから上記デ
ジタル・データ・サンプルが外れたときにエラー信号を
生成し、 上記取込みサイクルの上記各サンプリング・インターバ
ルにおいて上記手順を繰り返し、 上記取込みサイクル中に上記エラー信号が発生したら上
記取込みサイクルの最後で取込みを終えることを特徴と
する信号取込み方法。 - 【請求項8】 上記トリガ信号より前のデジタル・デー
タ・サンプルを上記サンプル抽出率で定まる各サンプリ
ング・インターバル毎に抽出して上記取込みメモリの第
1プリトリガ領域に出力データ・サンプルとして取込み
(取込みステップ)、 該取込みステップと並行し、上記波形特定メモリのプリ
トリガ処理領域からの上記テンプレート・サンプルと、
該テンプレート・サンプルとサンプリング・インターバ
ルが対応し以前の取込みサイクルでのトリガ信号より前
に取り込んだ上記取込みメモリの第2プリトリガ領域中
の出力データ・サンプルとを比較し(比較ステップ)、 該比較ステップにおいて対応する上記テンプレート・サ
ンプルによって定まるリミットから上記出力データ・サ
ンプルが外れるときにエラー信号を生成することを特徴
とする請求項7記載の信号取込み方法。
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