JPH0736507B2 - 半導体論理回路 - Google Patents
半導体論理回路Info
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- JPH0736507B2 JPH0736507B2 JP1024543A JP2454389A JPH0736507B2 JP H0736507 B2 JPH0736507 B2 JP H0736507B2 JP 1024543 A JP1024543 A JP 1024543A JP 2454389 A JP2454389 A JP 2454389A JP H0736507 B2 JPH0736507 B2 JP H0736507B2
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- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、バイポーラ(Bi)素子と絶縁ゲート型(MO
S)素子とを混載したBi−MOS型半導体集積回路に形成さ
れるBi−MOS型の半導体論理回路に係り、特にD型マス
タースレーブフリップフロップ回路やD型ラッチ回路等
に使用される半導体論理回路に関する。
S)素子とを混載したBi−MOS型半導体集積回路に形成さ
れるBi−MOS型の半導体論理回路に係り、特にD型マス
タースレーブフリップフロップ回路やD型ラッチ回路等
に使用される半導体論理回路に関する。
(従来の技術) Bi−CMOS型の半導体論理回路は、出力段に設けられたバ
イポーラトランジスタをMOSトランジスタを用いて導通
制御するものであり、特にCMOS素子を用いて導通制御す
ることにより消費電流の低減化が可能になると共に、バ
イポーラトランジスタによる動作の高速化および高負荷
駆動能力が可能になる。
イポーラトランジスタをMOSトランジスタを用いて導通
制御するものであり、特にCMOS素子を用いて導通制御す
ることにより消費電流の低減化が可能になると共に、バ
イポーラトランジスタによる動作の高速化および高負荷
駆動能力が可能になる。
このようなBi−CMOS型の半導体論理回路の一例として、
本願出願人の出願に係る特願昭62−246751号の論理回路
を第3図に示している。この論理回路は、第1のクロッ
ク信号φにより導通制御される第1のNチャネルMOSト
ランジスタN1と入力信号Dにより導通制御される第2の
NチャネルMOSトランジスタN2とを直列に接続し、第1
のクロック信号φとは逆相レベルの第2のクロック信号
により導通制御される第3のNチャネルMOSトランジ
スタN3とゲートに第1のNチャネルMOSトランジスタN1
の一端の電位が反転されて与えられる第4のNチャネル
MOSトランジスタN4とを直列に接続し、この直列に接続
された第1のNチャネルMOSトランジスタN1および第2
のNチャネルMOSトランジスタN2と上記直列に接続され
た第3のNチャネルMOSトランジスタN3および第4のN
チャネルMOSトランジスタN4を並列に接続し、一方の並
列接続点(a点)を抵抗Rを介して高電位側のVcc電源
に接続してなる入力部Iと、上記一方の並列接続点(a
点)にベースが接続される第1のバイポーラトランジス
タQ1と他方の並列接続点(b点)にベースが接続される
例えばショットキーバリヤ型の第2のバイポーラトラン
ジスタQ2とをVcc電源と低電位(接地電位GND)側の電源
との間にトーテムポール接続してなり、第1のバイポー
ラトランジスタQ1と第2のバイポーラトランジスタQ2と
の接続点(出力端)から出力信号OUTが取出される出力
部IIを具備してなることを特徴とするものである。
本願出願人の出願に係る特願昭62−246751号の論理回路
を第3図に示している。この論理回路は、第1のクロッ
ク信号φにより導通制御される第1のNチャネルMOSト
ランジスタN1と入力信号Dにより導通制御される第2の
NチャネルMOSトランジスタN2とを直列に接続し、第1
のクロック信号φとは逆相レベルの第2のクロック信号
により導通制御される第3のNチャネルMOSトランジ
スタN3とゲートに第1のNチャネルMOSトランジスタN1
の一端の電位が反転されて与えられる第4のNチャネル
MOSトランジスタN4とを直列に接続し、この直列に接続
された第1のNチャネルMOSトランジスタN1および第2
のNチャネルMOSトランジスタN2と上記直列に接続され
た第3のNチャネルMOSトランジスタN3および第4のN
チャネルMOSトランジスタN4を並列に接続し、一方の並
列接続点(a点)を抵抗Rを介して高電位側のVcc電源
に接続してなる入力部Iと、上記一方の並列接続点(a
点)にベースが接続される第1のバイポーラトランジス
タQ1と他方の並列接続点(b点)にベースが接続される
例えばショットキーバリヤ型の第2のバイポーラトラン
ジスタQ2とをVcc電源と低電位(接地電位GND)側の電源
との間にトーテムポール接続してなり、第1のバイポー
ラトランジスタQ1と第2のバイポーラトランジスタQ2と
の接続点(出力端)から出力信号OUTが取出される出力
部IIを具備してなることを特徴とするものである。
なお、通常、上記出力端には負荷(図示せず)の容量が
存在する。また、PDは第2のバイポーラトランジスタQ2
と接地電位GNDとの間に接続されたプルダウン回路であ
り、この第2のバイポーラトランジスタQ2が導通状態か
ら非導通状態になる時にそのベース電荷を引抜いて動作
を高速化するために設けられている。また、第1のバイ
ポーラトランジスタQ1は、必要に応じて、ダーリントン
接続されたバイポーラトランジスタが用いられることも
ある。
存在する。また、PDは第2のバイポーラトランジスタQ2
と接地電位GNDとの間に接続されたプルダウン回路であ
り、この第2のバイポーラトランジスタQ2が導通状態か
ら非導通状態になる時にそのベース電荷を引抜いて動作
を高速化するために設けられている。また、第1のバイ
ポーラトランジスタQ1は、必要に応じて、ダーリントン
接続されたバイポーラトランジスタが用いられることも
ある。
いま、第3図の論理回路を、第4図に示すようにD型マ
スタースレーブフリップフロップ回路の出力回路部に応
用する場合を考える。ここで、マスター回路MSは、デー
タ信号Dが入力し、第1のクロック信号▲▼により
導通制御される第1のクロックドインバータ31と、この
第1のクロックインバータ31の出力が入力する第1のCM
OSインバータ32と、この第1のCMOSインバータ32の出力
端と入力端との間に接続され、第1のクロック信号▲
▼とは逆相レベルの第2のクロック信号CKにより導通
制御される第2のクロックドインバータ33とからなる。
スタースレーブフリップフロップ回路の出力回路部に応
用する場合を考える。ここで、マスター回路MSは、デー
タ信号Dが入力し、第1のクロック信号▲▼により
導通制御される第1のクロックドインバータ31と、この
第1のクロックインバータ31の出力が入力する第1のCM
OSインバータ32と、この第1のCMOSインバータ32の出力
端と入力端との間に接続され、第1のクロック信号▲
▼とは逆相レベルの第2のクロック信号CKにより導通
制御される第2のクロックドインバータ33とからなる。
また、スレーブ回路SLは、マスター回路MSの出力Xが入
力し、第2のクロック信号▲▼により導通制御され
る第3のクロックドインバータ34と、この第3のクロッ
クドインバータ34の出力が入力する第2のCMOSインバー
タ35と、この第2のCMOSインバータ35の出力端と入力端
との間に接続され、第1のクロック信号▲▼により
導通制御される第4のクロックドインバータ36とからな
る。
力し、第2のクロック信号▲▼により導通制御され
る第3のクロックドインバータ34と、この第3のクロッ
クドインバータ34の出力が入力する第2のCMOSインバー
タ35と、この第2のCMOSインバータ35の出力端と入力端
との間に接続され、第1のクロック信号▲▼により
導通制御される第4のクロックドインバータ36とからな
る。
そして、論理回路部LGは、第1のNチャネルMOSトラン
ジスタN1のゲート入力としてスレーブ回路SLの出力Yが
入力し、第2のNチャネルMOSトランジスタN2のゲート
入力として第1のクロック信号▲▼が入力し、第3
のNチャネルMOSトランジスタN3のゲート入力として第
2のクロック信号CKが入力し、第4のNチャネルMOSト
ランジスタN4のゲート入力としてマスター回路MSの出力
Xが入力するように接続されている。
ジスタN1のゲート入力としてスレーブ回路SLの出力Yが
入力し、第2のNチャネルMOSトランジスタN2のゲート
入力として第1のクロック信号▲▼が入力し、第3
のNチャネルMOSトランジスタN3のゲート入力として第
2のクロック信号CKが入力し、第4のNチャネルMOSト
ランジスタN4のゲート入力としてマスター回路MSの出力
Xが入力するように接続されている。
なお、第1のクロック信号▲▼および第2のクロッ
ク信号CKは、クロック信号発生回路CGから供給される。
このクロック信号発生回路CGは、クロック信号CKを三段
のCMOSインバータ(第3のCMOSインバータ37〜第5のイ
ンバータ39)を介して反転してクロック信号CKとは逆相
の第1のクロック信号▲▼として供給し、第3のCM
OSインバータ37の出力を第6のCMOSインバータ40で反転
してクロック信号CKとは同相の第2のクロック信号CKと
して供給している。
ク信号CKは、クロック信号発生回路CGから供給される。
このクロック信号発生回路CGは、クロック信号CKを三段
のCMOSインバータ(第3のCMOSインバータ37〜第5のイ
ンバータ39)を介して反転してクロック信号CKとは逆相
の第1のクロック信号▲▼として供給し、第3のCM
OSインバータ37の出力を第6のCMOSインバータ40で反転
してクロック信号CKとは同相の第2のクロック信号CKと
して供給している。
第5図は、上記D型フリップフロップ回路の動作波形の
一例を示しており、第1のクロック信号▲▼の立上
がりによりデータ信号Dのレベルをマスター回路MSに取
込むと共にスレーブ回路SLの出力Yのレベルをラッチ
し、第2のクロック信号CKの立上がりによりマスター回
路MSの出力Xのレベルをラッチすると共にスレーブ回路
SLに取込むので、マスター回路MSが読込むモード時には
スレーブ回路SLがラッチモードになり、マスター回路MS
がラッチモードの時にはスレーブ回路SLが読込みモード
になる。
一例を示しており、第1のクロック信号▲▼の立上
がりによりデータ信号Dのレベルをマスター回路MSに取
込むと共にスレーブ回路SLの出力Yのレベルをラッチ
し、第2のクロック信号CKの立上がりによりマスター回
路MSの出力Xのレベルをラッチすると共にスレーブ回路
SLに取込むので、マスター回路MSが読込むモード時には
スレーブ回路SLがラッチモードになり、マスター回路MS
がラッチモードの時にはスレーブ回路SLが読込みモード
になる。
この場合、論理回路部LGにおいては、出力信号OUTが
“1"状態の場合に、第2のクロック信号CKが“1"レベル
になった時(読込みモードになった時)にマスター回路
MSの出力Xが“1"レベルになっていると、この“1"レベ
ルを読込んでその反転レベル“0"を出力する。即ち、こ
の時、第3のNチャネルMOSトランジスタN3および第4
のNチャネルMOSトランジスタN4がそれぞれ導通し、a
点およびb点の電位は第2のバイポーラトランジスタQ2
のベース・エミッタ間電圧程度まで低下すると共に、Vc
c電位からこれらの2個のMOSトランジスタN3およびN4を
通して第2のバイポーラトランジスタQ2にベース電流が
供給され、同時に第1のバイポーラトランジスタQ1のベ
ース電荷が引抜かれる。これにより、第1のバイポーラ
トランジスタQ1は非導通状態になり、第2のバイポーラ
トランジスタQ2は導通状態になり、出力信号OUTは“0"
(“L")状態になる。
“1"状態の場合に、第2のクロック信号CKが“1"レベル
になった時(読込みモードになった時)にマスター回路
MSの出力Xが“1"レベルになっていると、この“1"レベ
ルを読込んでその反転レベル“0"を出力する。即ち、こ
の時、第3のNチャネルMOSトランジスタN3および第4
のNチャネルMOSトランジスタN4がそれぞれ導通し、a
点およびb点の電位は第2のバイポーラトランジスタQ2
のベース・エミッタ間電圧程度まで低下すると共に、Vc
c電位からこれらの2個のMOSトランジスタN3およびN4を
通して第2のバイポーラトランジスタQ2にベース電流が
供給され、同時に第1のバイポーラトランジスタQ1のベ
ース電荷が引抜かれる。これにより、第1のバイポーラ
トランジスタQ1は非導通状態になり、第2のバイポーラ
トランジスタQ2は導通状態になり、出力信号OUTは“0"
(“L")状態になる。
なお、この読込みモードになった時、第1のクロック信
号▲▼は“0"レベルであるので、第2のNチャネル
MOSトランジスタN2は非導通状態になっており、第1の
NチャネルMOSトランジスタN1も非導通状態になってい
る。また、この状態では、第2のクロック信号CKが“1"
レベルになった時にマスター回路MSの出力Xの“1"レベ
ルを読込んだスレーブ回路SLの出力Yが“1"レベルにな
っている。
号▲▼は“0"レベルであるので、第2のNチャネル
MOSトランジスタN2は非導通状態になっており、第1の
NチャネルMOSトランジスタN1も非導通状態になってい
る。また、この状態では、第2のクロック信号CKが“1"
レベルになった時にマスター回路MSの出力Xの“1"レベ
ルを読込んだスレーブ回路SLの出力Yが“1"レベルにな
っている。
次に、第1のクロック信号▲▼が“1"レベルになる
(ラッチモードになる)と、第1のNチャネルMOSトラ
ンジスタN1および第2のNチャネルMOSトランジスタN2
がそれぞれ導通し、第1のバイポーラトランジスタQ1の
非導通状態、第2のバイポーラトランジスタQ2の導通状
態、出力信号OUTの“0"(“L")状態を保持する。この
ように出力信号OUTが“0"状態の場合に、再び第2のク
ロック信号CKが“1"レベルになった時(読込みモードに
なった時)にマスター回路MSの出力Xが“1"レベルにな
っていると、再び前記したように“1"レベルを読込んで
出力レベル“0"を保持する。
(ラッチモードになる)と、第1のNチャネルMOSトラ
ンジスタN1および第2のNチャネルMOSトランジスタN2
がそれぞれ導通し、第1のバイポーラトランジスタQ1の
非導通状態、第2のバイポーラトランジスタQ2の導通状
態、出力信号OUTの“0"(“L")状態を保持する。この
ように出力信号OUTが“0"状態の場合に、再び第2のク
ロック信号CKが“1"レベルになった時(読込みモードに
なった時)にマスター回路MSの出力Xが“1"レベルにな
っていると、再び前記したように“1"レベルを読込んで
出力レベル“0"を保持する。
この後、マスター回路MSの出力Xに“0"レベルが現れた
時、第4のNチャネルMOSトランジスタN4が非導通状態
になり、さらに、第2のクロック信号CKが“1"レベルに
なった時(読込みモードになった時)にマスター回路MS
の出力Xの“0"レベルを読込んでスレーブ回路SLの出力
Yが“0"レベルになると、論理回路部LGは“0"レベルを
読込んでその反転レベル“1"を出力するようになる。即
ち、この時、スレーブ回路SLの出力Yの“0"レベルによ
り第1のNチャネルMOSトランジスタN1が非導通状態に
なり、これにより、a点の電位は抵抗Rを介してVcc電
位にプルアップされると共に、b点の電位はプルダウン
回路PDにより接地電位にプルダウンされるので、第1の
バイポーラトランジスタQ1は導通状態になり、第2のバ
イポーラトランジスタQ2は非導通状態になり、出力信号
OUTは“1"(“H")状態になる。
時、第4のNチャネルMOSトランジスタN4が非導通状態
になり、さらに、第2のクロック信号CKが“1"レベルに
なった時(読込みモードになった時)にマスター回路MS
の出力Xの“0"レベルを読込んでスレーブ回路SLの出力
Yが“0"レベルになると、論理回路部LGは“0"レベルを
読込んでその反転レベル“1"を出力するようになる。即
ち、この時、スレーブ回路SLの出力Yの“0"レベルによ
り第1のNチャネルMOSトランジスタN1が非導通状態に
なり、これにより、a点の電位は抵抗Rを介してVcc電
位にプルアップされると共に、b点の電位はプルダウン
回路PDにより接地電位にプルダウンされるので、第1の
バイポーラトランジスタQ1は導通状態になり、第2のバ
イポーラトランジスタQ2は非導通状態になり、出力信号
OUTは“1"(“H")状態になる。
しかし、出力信号OUTが“H"状態になる直前までは第1
のNチャネルMOSトランジスタN1が導通状態になってお
り、この第1のNチャネルMOSトランジスタN1と第2の
NチャネルMOSトランジスタN2との直列接続点の寄生容
量CがVcc電位から抵抗Rを介して流れる電流により充
電されている。そして、この状態で前記したようにスレ
ーブ回路SLの出力Yの“0"レベルにより第1のNチャネ
ルMOSトランジスタN1が非導通状態になって出力信号OUT
が“H"状態になった後に、再び第1のクロック信号▲
▼が“1"レベルになる(ラッチモードになる)ことに
より第2のNチャネルMOSトランジスタN2が導通する
と、この第2のNチャネルMOSトランジスタN2を通して
寄生容量Cの蓄積電荷が放電し、第4図中に点線で示す
ように、この放電電流が第2のバイポーラトランジスタ
Q2にベース電流として供給されるようになる。
のNチャネルMOSトランジスタN1が導通状態になってお
り、この第1のNチャネルMOSトランジスタN1と第2の
NチャネルMOSトランジスタN2との直列接続点の寄生容
量CがVcc電位から抵抗Rを介して流れる電流により充
電されている。そして、この状態で前記したようにスレ
ーブ回路SLの出力Yの“0"レベルにより第1のNチャネ
ルMOSトランジスタN1が非導通状態になって出力信号OUT
が“H"状態になった後に、再び第1のクロック信号▲
▼が“1"レベルになる(ラッチモードになる)ことに
より第2のNチャネルMOSトランジスタN2が導通する
と、この第2のNチャネルMOSトランジスタN2を通して
寄生容量Cの蓄積電荷が放電し、第4図中に点線で示す
ように、この放電電流が第2のバイポーラトランジスタ
Q2にベース電流として供給されるようになる。
これにより、この放電期間だけ第2のバイポーラトラン
ジスタQ2が導通状態になり、この時に導通状態になって
いる第1のバイポーラトランジスタQ1、および第2のバ
イポーラトランジスタQ2を通してVcc電源と接地電位GND
との間に貫通電流が流れてしまい、第5図中に点線で示
すように、出力信号OUTの“H"レベルが0.5V程度低下し
てしまう。
ジスタQ2が導通状態になり、この時に導通状態になって
いる第1のバイポーラトランジスタQ1、および第2のバ
イポーラトランジスタQ2を通してVcc電源と接地電位GND
との間に貫通電流が流れてしまい、第5図中に点線で示
すように、出力信号OUTの“H"レベルが0.5V程度低下し
てしまう。
(発明が解決しようとする課題) 上記したように従来のBi−CMOS型の半導体論理回路は、
出力信号が“H"状態になった直後のラッチモード時に、
第1のクロック信号▲▼により導通する第2のNチ
ャネルMOSトランジスタN2を通して寄生容量Cの蓄積電
荷が放電し、この放電電流が第2のバイポーラトランジ
スタQ2にベース電流として供給されるようになりこの放
電期間だけ第2のバイポーラトランジスタQ2が導通状態
になり、この時に導通状態になっている第1のバイポー
ラトランジスタQ1および第2のバイポーラトランジスタ
Q2を通してVcc電源と接地電位GNDとの間に貫通電流が流
れてしまい、出力信号の“H"レベルが0.5V程度低下して
しまうという問題があった。
出力信号が“H"状態になった直後のラッチモード時に、
第1のクロック信号▲▼により導通する第2のNチ
ャネルMOSトランジスタN2を通して寄生容量Cの蓄積電
荷が放電し、この放電電流が第2のバイポーラトランジ
スタQ2にベース電流として供給されるようになりこの放
電期間だけ第2のバイポーラトランジスタQ2が導通状態
になり、この時に導通状態になっている第1のバイポー
ラトランジスタQ1および第2のバイポーラトランジスタ
Q2を通してVcc電源と接地電位GNDとの間に貫通電流が流
れてしまい、出力信号の“H"レベルが0.5V程度低下して
しまうという問題があった。
本発明は、上記問題点を解決すべくなされたもので、そ
の目的は、出力信号が“H"状態になった直後のラッチモ
ード時に、第1のクロック信号により導通する第2のN
チャネルMOSトランジスタを通して放電する寄生容量の
蓄積電荷が第2のバイポーラトランジスタにベース電流
として供給されることを抑制でき、この放電期間に第1
のバイポーラトランジスタおよび第2のバイポーラトラ
ンジスタを通してVcc電源を接地電位との間に流れる貫
通電流を抑制し得る半導体論理回路を提供することにあ
る。
の目的は、出力信号が“H"状態になった直後のラッチモ
ード時に、第1のクロック信号により導通する第2のN
チャネルMOSトランジスタを通して放電する寄生容量の
蓄積電荷が第2のバイポーラトランジスタにベース電流
として供給されることを抑制でき、この放電期間に第1
のバイポーラトランジスタおよび第2のバイポーラトラ
ンジスタを通してVcc電源を接地電位との間に流れる貫
通電流を抑制し得る半導体論理回路を提供することにあ
る。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、第1のNチャネルMOSトランジスタと第2の
NチャネルMOSトランジスタとを直列に接続すると共に
第3のNチャネルMOSトランジスタと第4のNチャネルM
OSトランジスタとを直列に接続し、この2つの直列回路
を並列に接続し、この並列接続の2つの接続点のうち第
1のNチャネルMOSトランジスタおよび第3のNチャネ
ルMOSトランジスタが接続されている一方の並列接続点
と高電位側の電源との間に抵抗を接続し、前記第1のN
チャネルMOSトランジスタのゲートには第1のデータ信
号を与え、第2のNチャネルMOSトランジスタのゲート
には第1のクロック信号を与え、前記第3のNチャネル
MOSトランジスタのゲートには前記第1のクロック信号
とは逆相の第2のクロック信号を与え、前記第4のNチ
ャネルMOSトランジスタのゲートには前記第1のデータ
信号より前記第1のクロック信号の活性化タイミングと
前記第2のクロック信号の活性化タイミングとの時間差
程度位相が進んでいる第2のデータ信号を与える入力部
と、上記一方の並列接続点にベースが接続される第1の
バイポーラトランジスタと前記他方の並列接続点にベー
スが接続される第2のバイポーラトランジスタとを前記
高電位側の電源と低電位側の電源との間にトーテムポー
ル接続してなり、上記第1のバイポーラトランジスタと
第2のバイポーラトランジスタとの接続点から出力信号
が取り出される出力部とを具備する半導体論理回路にお
いて、前記他方の並列接続点と前記低電位側の電源との
間にスイッチ回路を接続し、このスイッチ回路を上記第
1のデータ信号が非活性状態の期間内で前記第1のクロ
ック信号が活性化する直前から一定時間だけ導通状態に
制御するようにしてなることを特徴とする。
NチャネルMOSトランジスタとを直列に接続すると共に
第3のNチャネルMOSトランジスタと第4のNチャネルM
OSトランジスタとを直列に接続し、この2つの直列回路
を並列に接続し、この並列接続の2つの接続点のうち第
1のNチャネルMOSトランジスタおよび第3のNチャネ
ルMOSトランジスタが接続されている一方の並列接続点
と高電位側の電源との間に抵抗を接続し、前記第1のN
チャネルMOSトランジスタのゲートには第1のデータ信
号を与え、第2のNチャネルMOSトランジスタのゲート
には第1のクロック信号を与え、前記第3のNチャネル
MOSトランジスタのゲートには前記第1のクロック信号
とは逆相の第2のクロック信号を与え、前記第4のNチ
ャネルMOSトランジスタのゲートには前記第1のデータ
信号より前記第1のクロック信号の活性化タイミングと
前記第2のクロック信号の活性化タイミングとの時間差
程度位相が進んでいる第2のデータ信号を与える入力部
と、上記一方の並列接続点にベースが接続される第1の
バイポーラトランジスタと前記他方の並列接続点にベー
スが接続される第2のバイポーラトランジスタとを前記
高電位側の電源と低電位側の電源との間にトーテムポー
ル接続してなり、上記第1のバイポーラトランジスタと
第2のバイポーラトランジスタとの接続点から出力信号
が取り出される出力部とを具備する半導体論理回路にお
いて、前記他方の並列接続点と前記低電位側の電源との
間にスイッチ回路を接続し、このスイッチ回路を上記第
1のデータ信号が非活性状態の期間内で前記第1のクロ
ック信号が活性化する直前から一定時間だけ導通状態に
制御するようにしてなることを特徴とする。
(作用) 出力信号が“H"状態になる直前までは第1のNチャネル
MOSトランジスタが導通状態であり、この第1のNチャ
ネルMOSトランジスタと前記第2のNチャネルMOSトラン
ジスタとの直列接続点の寄生容量がVcc電位から抵抗を
介して流れる電流により充電されている。そして、この
状態で第1のデータ信号の“0"レベルにより第1のNチ
ャネルMOSトランジスタが非導通状態になって出力信号
が“H"状態になった後に、再び第1のクロック信号が
“1"レベルになる(ラッチモードになる)ことにより第
2のNチャネルMOSトランジスタが導通すると、この第
2のNチャネルMOSトランジスタを通して放電する寄生
容量の蓄積電荷は、この直前から導通状態になっている
スイッチ回路を通して低電位側の電源に放電するので、
第2のバイポーラトランジスタにベース電流として供給
されることが抑制され、この放電期間に第1のバイポー
ラトランジスタおよび第2のバイポーラトランジスタを
通してVcc電源と接地電位との間に流れる貫通電流が抑
制されるようになる。
MOSトランジスタが導通状態であり、この第1のNチャ
ネルMOSトランジスタと前記第2のNチャネルMOSトラン
ジスタとの直列接続点の寄生容量がVcc電位から抵抗を
介して流れる電流により充電されている。そして、この
状態で第1のデータ信号の“0"レベルにより第1のNチ
ャネルMOSトランジスタが非導通状態になって出力信号
が“H"状態になった後に、再び第1のクロック信号が
“1"レベルになる(ラッチモードになる)ことにより第
2のNチャネルMOSトランジスタが導通すると、この第
2のNチャネルMOSトランジスタを通して放電する寄生
容量の蓄積電荷は、この直前から導通状態になっている
スイッチ回路を通して低電位側の電源に放電するので、
第2のバイポーラトランジスタにベース電流として供給
されることが抑制され、この放電期間に第1のバイポー
ラトランジスタおよび第2のバイポーラトランジスタを
通してVcc電源と接地電位との間に流れる貫通電流が抑
制されるようになる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図は、Bi−MOS型半導体集積回路において、Bi−MOS
型の半導体論理回路を出力回路部に使用したD型マスタ
ースレーブフリップフロップ回路を示しており、第4図
を参照して前述したD型マスタースレーブフリップフロ
ップ回路と比べて、スイッチ回路SWを付加した点、クロ
ック信号発生回路CG′から第2のクロック信号CK乃至第
3のクロック信号▲▼を供給している点が異な
り、その他は同じであるので第4図中と同一符号を付し
ている。
型の半導体論理回路を出力回路部に使用したD型マスタ
ースレーブフリップフロップ回路を示しており、第4図
を参照して前述したD型マスタースレーブフリップフロ
ップ回路と比べて、スイッチ回路SWを付加した点、クロ
ック信号発生回路CG′から第2のクロック信号CK乃至第
3のクロック信号▲▼を供給している点が異な
り、その他は同じであるので第4図中と同一符号を付し
ている。
クロック信号発生回路CG′は、クロック信号CKを三段の
CMOSインバータ(第3のCMOSインバータ37〜第5のCMOS
インバータ39)に入力し、1段目のインバータ37の出力
を第3のクロック信号▲▼として供給し、2段目
のインバータ38の出力を第2のクロック信号CKとして供
給し、3段目のインバータ39の出力を第1のクロック信
号▲▼として供給している。
CMOSインバータ(第3のCMOSインバータ37〜第5のCMOS
インバータ39)に入力し、1段目のインバータ37の出力
を第3のクロック信号▲▼として供給し、2段目
のインバータ38の出力を第2のクロック信号CKとして供
給し、3段目のインバータ39の出力を第1のクロック信
号▲▼として供給している。
また、スイッチ回路SWは、前記並列接続の2つの接続a,
bのうちの他方の並列接続点bと接地電位GNDとの間に接
続され、スレーブ回路SLの出力Y(第1のデータ信号)
が非活性状態の期間内で第1のクロック信号▲▼が
活性化する直前から一定時間だけ導通状態に制御される
ように構成されている。即ち、このスイッチ回路SWは、
例えば図示するように、2個のNチャネルMOSトランジ
スタN5,N6を直列に接続し、この2個のNチャネルMOSト
ランジスタN5,N6の各ゲートのうちの1つには、スレー
ブ回路SLの出力Y(第1のデータ信号)とは逆相で、こ
れより位相が少し進んでいるデータ信号(スレーブ回路
SLの第3のクロックドインバータ34の出力)を与え、他
の1つのゲートには第1のクロック信号▲▼と同相
で、これより位相が少し進んでいる第3のクロック信号
▲▼を与えるようにしてなる。
bのうちの他方の並列接続点bと接地電位GNDとの間に接
続され、スレーブ回路SLの出力Y(第1のデータ信号)
が非活性状態の期間内で第1のクロック信号▲▼が
活性化する直前から一定時間だけ導通状態に制御される
ように構成されている。即ち、このスイッチ回路SWは、
例えば図示するように、2個のNチャネルMOSトランジ
スタN5,N6を直列に接続し、この2個のNチャネルMOSト
ランジスタN5,N6の各ゲートのうちの1つには、スレー
ブ回路SLの出力Y(第1のデータ信号)とは逆相で、こ
れより位相が少し進んでいるデータ信号(スレーブ回路
SLの第3のクロックドインバータ34の出力)を与え、他
の1つのゲートには第1のクロック信号▲▼と同相
で、これより位相が少し進んでいる第3のクロック信号
▲▼を与えるようにしてなる。
上記D型マスタースレーブフリップフロップ回路の動作
は、基本的には、前述した従来のD型マスタースレーブ
フリップフロップ回路の動作と同様であるので、以下、
主として、上記した付加回路の動作を中心に第2図のタ
イミングチャートを参照しながら説明する。
は、基本的には、前述した従来のD型マスタースレーブ
フリップフロップ回路の動作と同様であるので、以下、
主として、上記した付加回路の動作を中心に第2図のタ
イミングチャートを参照しながら説明する。
出力信号OUTが“H"状態になる直前までは第1のNチャ
ネルMOSトランジスタN1が導通状態であり、この第1の
NチャネルMOSトランジスタN1と第2のNチャネルMOSト
ランジスタN2との直列接続点の寄生容量CがVcc電位か
ら抵抗Rを介して流れる電流により充電されている。そ
して、この状態でスレーブ回路SLの出力Yの“0"レベル
により第1のNチャネルMOSトランジスタN1が非導通状
態になって出力信号OUTが“H"状態になった後に、再び
第1のクロック信号▲▼が“1"レベルになる(ラッ
チモードになる)ことにより第2のNチャネルMOSトラ
ンジスタN2が導通すると、この第2のNチャネルMOSト
ランジスタN2を通して寄生容量Cの蓄積電荷が放電す
る。
ネルMOSトランジスタN1が導通状態であり、この第1の
NチャネルMOSトランジスタN1と第2のNチャネルMOSト
ランジスタN2との直列接続点の寄生容量CがVcc電位か
ら抵抗Rを介して流れる電流により充電されている。そ
して、この状態でスレーブ回路SLの出力Yの“0"レベル
により第1のNチャネルMOSトランジスタN1が非導通状
態になって出力信号OUTが“H"状態になった後に、再び
第1のクロック信号▲▼が“1"レベルになる(ラッ
チモードになる)ことにより第2のNチャネルMOSトラ
ンジスタN2が導通すると、この第2のNチャネルMOSト
ランジスタN2を通して寄生容量Cの蓄積電荷が放電す
る。
この時、スイッチ回路SWに与えられるスレーブ回路SLの
第3のクロックドインバータ34の出力は既に“1"レベル
になっており、また、第3のクロック信号▲▼
も、第1のクロック信号▲▼が“1"レベルになる直
前に“1"レベルになっているので、寄生容量Cの蓄積電
荷が放電する直前からスイッチ回路SWは導通状態になっ
ている。このため、寄生容量Cの蓄積電荷がスイッチ回
路SWを通して接地電位GNDに放電するので、第2のバイ
ポーラトランジスタQ2にベース電流として供給されるこ
とが抑制され、この放電期間に第1のバイポーラトラン
ジスタQ1および第2のバイポーラトランジスタQ2を通し
てVcc電源と接地電位との間に流れる貫通電流が抑制さ
れるようになる。因みに、この貫通電流は、従来は30mA
程度であったが、本実施例では3〜5mA程度であった。
従って、この放電期間に出力信号OUTの“H"レベルは殆
んど低下しない。
第3のクロックドインバータ34の出力は既に“1"レベル
になっており、また、第3のクロック信号▲▼
も、第1のクロック信号▲▼が“1"レベルになる直
前に“1"レベルになっているので、寄生容量Cの蓄積電
荷が放電する直前からスイッチ回路SWは導通状態になっ
ている。このため、寄生容量Cの蓄積電荷がスイッチ回
路SWを通して接地電位GNDに放電するので、第2のバイ
ポーラトランジスタQ2にベース電流として供給されるこ
とが抑制され、この放電期間に第1のバイポーラトラン
ジスタQ1および第2のバイポーラトランジスタQ2を通し
てVcc電源と接地電位との間に流れる貫通電流が抑制さ
れるようになる。因みに、この貫通電流は、従来は30mA
程度であったが、本実施例では3〜5mA程度であった。
従って、この放電期間に出力信号OUTの“H"レベルは殆
んど低下しない。
なお、上記したように導通状態になったスイッチ回路SW
は、第3のクロック信号▲▼が“0"レベルになる
と、非導通状態になる。従って、このスイッチ回路SW
は、第2のクロック信号CKが“1"レベルになった時(読
込みモードになった時)には、第3のクロック信号▲
▼が“0"レベルになって非導通状態になっているの
で、出力回路部(論理回路部LG)の動作に何ら支障は生
じない。
は、第3のクロック信号▲▼が“0"レベルになる
と、非導通状態になる。従って、このスイッチ回路SW
は、第2のクロック信号CKが“1"レベルになった時(読
込みモードになった時)には、第3のクロック信号▲
▼が“0"レベルになって非導通状態になっているの
で、出力回路部(論理回路部LG)の動作に何ら支障は生
じない。
また、このスイッチ回路SWが一時的に導通状態になるの
は、出力信号OUTが“H"状態になった後であるので、こ
のスイッチ回路SWが一時的に導通状態になった時に第2
のバイポーラトランジスタQ2のベース・エミッタ間を短
絡させることになるが、何ら支障は生じない。因みに、
出力信号OUTが“H"状態から“L"状態に変化する時の伝
達遅延時間tpHLは、従来は約4.55ns、本実施例では約4.
4nsであり、また、出力信号OUTが“L"状態から“H"状態
に変化する時の伝達遅延時間tpLHは、従来は約4.6ns、
本実施例では約4.65nsであり、動作速度は従来と同等の
高速性が得られた。
は、出力信号OUTが“H"状態になった後であるので、こ
のスイッチ回路SWが一時的に導通状態になった時に第2
のバイポーラトランジスタQ2のベース・エミッタ間を短
絡させることになるが、何ら支障は生じない。因みに、
出力信号OUTが“H"状態から“L"状態に変化する時の伝
達遅延時間tpHLは、従来は約4.55ns、本実施例では約4.
4nsであり、また、出力信号OUTが“L"状態から“H"状態
に変化する時の伝達遅延時間tpLHは、従来は約4.6ns、
本実施例では約4.65nsであり、動作速度は従来と同等の
高速性が得られた。
また、本発明の半導体論理回路は、上記実施例のD型マ
スタースレーブフリップフロップ回路の出力回路部に限
らず、D型ラッチ回路等にも適用することができる。
スタースレーブフリップフロップ回路の出力回路部に限
らず、D型ラッチ回路等にも適用することができる。
[発明の効果] 上述したように本発明の半導体論理回路によれば、出力
信号が“H"状態になった直後のラッチモード時に、寄生
容量からの放電電流が第2のバイポーラトランジスタに
ベース電流として供給されることを抑制でき、この放電
期間における出力用のバイポーラトランジスタの貫通電
流を抑制できる。
信号が“H"状態になった直後のラッチモード時に、寄生
容量からの放電電流が第2のバイポーラトランジスタに
ベース電流として供給されることを抑制でき、この放電
期間における出力用のバイポーラトランジスタの貫通電
流を抑制できる。
第1図は本発明の半導体論理回路の一実施例に係るD型
マスタースレーブフリップフロップ回路を示す回路図、
第2図は第1図の回路の動作波形の一例を示すタイミン
グ図、第3図は現在提案されている半導体論理回路の一
例を示す回路図、第4図は第3図の半導体論理回路の応
用例に係るD型マスタースレーブフリップフロップ回路
を示す回路図、第5図は第4図の回路の動作波形の一例
を示すタイミング図である。 I……入力部、N1〜N6……NチャネルMOSトランジス
タ、R……抵抗、SW……スイッチ回路、II……出力部、
Q1……第1のバイポーラトランジスタ、Q2……第2のバ
イポーラトランジスタ、D……入力信号、▲▼……
第1のクロック信号、CK……第2のクロック信号、▲
▼……第3のクロック信号、OUT……出力信号。
マスタースレーブフリップフロップ回路を示す回路図、
第2図は第1図の回路の動作波形の一例を示すタイミン
グ図、第3図は現在提案されている半導体論理回路の一
例を示す回路図、第4図は第3図の半導体論理回路の応
用例に係るD型マスタースレーブフリップフロップ回路
を示す回路図、第5図は第4図の回路の動作波形の一例
を示すタイミング図である。 I……入力部、N1〜N6……NチャネルMOSトランジス
タ、R……抵抗、SW……スイッチ回路、II……出力部、
Q1……第1のバイポーラトランジスタ、Q2……第2のバ
イポーラトランジスタ、D……入力信号、▲▼……
第1のクロック信号、CK……第2のクロック信号、▲
▼……第3のクロック信号、OUT……出力信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−254460(JP,A) 特開 昭64−89811(JP,A) 特開 平2−203613(JP,A)
Claims (2)
- 【請求項1】第1のNチャネルMOSトランジスタと第2
のNチャネルMOSトランジスタとを直列に接続すると共
に、第3のNチャネルMOSトランジスタと第4のNチャ
ネルMOSトランジスタとを直列に接続し、この2つの直
列回路を並列に接続し、この並列接続の2つの接続点の
うち第1のNチャネルMOSトランジスタおよび第3のN
チャネルMOSトランジスタが接続されている一方の並列
接続点と高電位側の電源との間に抵抗を接続し、前記第
1のNチャネルMOSトランジスタのゲートには第1のデ
ータ信号を与え、第2のNチャネルMOSトランジスタの
ゲートには第1のクロック信号を与え、前記第3のNチ
ャネルMOSトランジスタのゲートには前記第1のクロッ
ク信号とは逆相の第2のクロック信号を与え、前記第4
のNチャネルMOSトランジスタのゲートには前記第1の
データ信号より前記第1のクロック信号の活性化タイミ
ングと前記第2のクロック信号の活性化タイミングとの
時間差程度位相が進んでいる第2のデータ信号を与える
入力部と、 前記一方の並列接続点にベースが接続される第1のバイ
ポーラトランジスタと前記他方の並列接続点にベースが
接続される第2のバイポーラトランジスタとを前記高電
位側の電源と低電位側の電源との間にトーテムポール接
続してなり、前記第1のバイポーラトランジスタと第2
のバイポーラトランジスタとの接続点から出力信号が取
出される出力部と を具備する半導体論理回路において、 前記他方の並列接続点と前記低電位側の電源との間にス
イッチ回路を接続し、このスイッチ回路を前記第1のデ
ータ信号が非活性状態の期間内で前記第1のクロック信
号が活性化する直前から一定期間だけ導通状態に制御す
るようにしてなることを特徴とする半導体論理回路。 - 【請求項2】請求項1記載の半導体論理回路において、 前記スイッチ回路は、2個のNチャネルMOSトランジス
タを直列に接続し、この2個のNチャネルMOSトランジ
スタの各ゲートのうちの1つには、前記第1のデータ信
号とは逆相でこれより位相が少し進んでいるデータ信号
を与え、他の1つのゲートには前記第1のクロック信号
と同相でこれより位相が少し進んでいるクロック信号を
与えるようにしてなることを特徴とする半導体論理回
路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1024543A JPH0736507B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 半導体論理回路 |
| US07/472,272 US5017808A (en) | 1989-02-02 | 1990-01-30 | BI-MOS logic circuit having a switch circuit for discharging electrical charge accumulated in a parasitic capacitor |
| KR1019900001269A KR930000638B1 (ko) | 1989-02-02 | 1990-02-02 | 반도체논리회로 |
| DE69009072T DE69009072T2 (de) | 1989-02-02 | 1990-02-02 | Bi-MOS logischer Schaltkreis zum Entladen der in einer parasitären Kapazität angesammelten Ladungen. |
| EP90102105A EP0381238B1 (en) | 1989-02-02 | 1990-02-02 | Bi-MOS logic circuit having a switch circuit for discharging electrical charge accumulated in a parasitic capacitor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1024543A JPH0736507B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 半導体論理回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02203614A JPH02203614A (ja) | 1990-08-13 |
| JPH0736507B2 true JPH0736507B2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=12141066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1024543A Expired - Lifetime JPH0736507B2 (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 半導体論理回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5017808A (ja) |
| EP (1) | EP0381238B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0736507B2 (ja) |
| KR (1) | KR930000638B1 (ja) |
| DE (1) | DE69009072T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5248905A (en) * | 1990-12-28 | 1993-09-28 | National Semiconductor Corporation | High speed, master/slave latch transceiver having a directly-driven slave stage |
| US5077490A (en) * | 1991-01-30 | 1991-12-31 | Northern Telecom Limited | Schottky-diode emulator for BiCMOS logic circuit |
| JPH04263510A (ja) * | 1991-02-18 | 1992-09-18 | Nec Corp | フリップフロップ回路 |
| US5132577A (en) * | 1991-04-11 | 1992-07-21 | National Semiconductor Corporation | High speed passgate, latch and flip-flop circuits |
| US5223745A (en) * | 1991-12-06 | 1993-06-29 | National Semiconductor Corporation | Power down miller killer circuit |
| US5278464A (en) * | 1992-06-02 | 1994-01-11 | Motorola, Inc. | Using delay to obtain high speed current driver circuit |
| JPH06326596A (ja) * | 1993-03-17 | 1994-11-25 | Fujitsu Ltd | Bi−CMOS回路 |
| US5774005A (en) * | 1995-09-11 | 1998-06-30 | Advanced Micro Devices, Inc. | Latching methodology |
| US7226886B2 (en) * | 2005-09-15 | 2007-06-05 | Chevron Phillips Chemical Company, L.P. | Polymerization catalysts and process for producing bimodal polymers in a single reactor |
| KR102116722B1 (ko) * | 2013-10-16 | 2020-06-01 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 회로 및 반도체 시스템 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0783252B2 (ja) * | 1982-07-12 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
| JPS5925424A (ja) * | 1982-08-04 | 1984-02-09 | Hitachi Ltd | ゲ−ト回路 |
| JPS6342216A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Hitachi Ltd | バイポ−ラトランジスタと電界効果トランジスタとを含む複合回路 |
| JPS6345916A (ja) * | 1986-08-12 | 1988-02-26 | Fujitsu Ltd | 半導体論理回路 |
| JPS63202126A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-22 | Toshiba Corp | 論理回路 |
| JPH0611111B2 (ja) * | 1987-03-27 | 1994-02-09 | 株式会社東芝 | BiMOS論理回路 |
| JPH0666681B2 (ja) * | 1987-08-05 | 1994-08-24 | 株式会社東芝 | 論理回路 |
| JPS6468021A (en) * | 1987-09-08 | 1989-03-14 | Mitsubishi Electric Corp | Logic circuit |
| EP0318624B1 (en) * | 1987-12-01 | 1993-11-10 | International Business Machines Corporation | Multibase bi-CMOS logic circuit family |
| US4914318A (en) * | 1988-12-30 | 1990-04-03 | Intel Corporation | Latch circuit for a programmable logic device using dual n-type transistors |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP1024543A patent/JPH0736507B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-01-30 US US07/472,272 patent/US5017808A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-02 KR KR1019900001269A patent/KR930000638B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-02 DE DE69009072T patent/DE69009072T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-02 EP EP90102105A patent/EP0381238B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02203614A (ja) | 1990-08-13 |
| EP0381238A3 (en) | 1990-12-12 |
| EP0381238B1 (en) | 1994-05-25 |
| US5017808A (en) | 1991-05-21 |
| DE69009072T2 (de) | 1994-10-13 |
| DE69009072D1 (de) | 1994-06-30 |
| KR900013719A (ko) | 1990-09-06 |
| KR930000638B1 (ko) | 1993-01-28 |
| EP0381238A2 (en) | 1990-08-08 |
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