JPH0744111B2 - 薄膜磁気ヘッド用基板材料 - Google Patents
薄膜磁気ヘッド用基板材料Info
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- JPH0744111B2 JPH0744111B2 JP1018910A JP1891089A JPH0744111B2 JP H0744111 B2 JPH0744111 B2 JP H0744111B2 JP 1018910 A JP1018910 A JP 1018910A JP 1891089 A JP1891089 A JP 1891089A JP H0744111 B2 JPH0744111 B2 JP H0744111B2
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- Japan
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- substrate material
- thin film
- magnetic head
- aln
- film magnetic
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Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明はコンピューターの周辺装置であるフロッピーデ
ィスク装置やハードディスク装置に組み込まれる磁気ヘ
ッドの基板材料に関し、特に薄膜磁気ヘッド用非磁性基
板材料に関するものである。
ィスク装置やハードディスク装置に組み込まれる磁気ヘ
ッドの基板材料に関し、特に薄膜磁気ヘッド用非磁性基
板材料に関するものである。
<従来の技術> 高密度記録用磁気ヘッドとして従来のフェライトを使用
したヘッドに変り、最近では薄膜ヘッドが注目されて来
ている。
したヘッドに変り、最近では薄膜ヘッドが注目されて来
ている。
ここで薄膜ヘッド用基板材料としてはAl2O3−TiCが用い
られている。その理由としては、他材料に比較し高硬度
かつ高強度なため高密度磁気記録用として使われる金属
系の記録媒体との接触起動停止に対し高い耐久性を示す
事があげられる。
られている。その理由としては、他材料に比較し高硬度
かつ高強度なため高密度磁気記録用として使われる金属
系の記録媒体との接触起動停止に対し高い耐久性を示す
事があげられる。
<発明が解決しようとする課題> しかしながらAl2O3−TiCセラミックスよりなる薄膜磁気
ヘッド用基板材料は燃結性が悪いために、基板材料と
して必要な緻密なものを得るためには焼結温度を1850〜
1900℃の高温としなければならない事、機械加工性が
悪いために小型化の要求に対応できない事等の欠点があ
げられる。
ヘッド用基板材料は燃結性が悪いために、基板材料と
して必要な緻密なものを得るためには焼結温度を1850〜
1900℃の高温としなければならない事、機械加工性が
悪いために小型化の要求に対応できない事等の欠点があ
げられる。
本発明に斯る欠点を除去するため行われたもので、その
技術的課題は焼結性及び機械加工性に優れた薄膜磁気ヘ
ッド用基板材料を提供する事にある。
技術的課題は焼結性及び機械加工性に優れた薄膜磁気ヘ
ッド用基板材料を提供する事にある。
<課題を解決するための手段> 本発明は前述の欠点を改善する様構成したもので薄膜磁
気ヘッド用基板材料であるAl2O3−15〜60wt%TiCセラミ
ックスにおいて周期律表IV a,V a,VI a族金属Ti,Zr,Nb,
Ta,Cr,Mo,W等の珪化物を0.1〜1wt%、AlNとCaOとをそれ
ぞれ0.1〜1wt%添加してなり、その焼結性、及び加工性
を改良したものである。
気ヘッド用基板材料であるAl2O3−15〜60wt%TiCセラミ
ックスにおいて周期律表IV a,V a,VI a族金属Ti,Zr,Nb,
Ta,Cr,Mo,W等の珪化物を0.1〜1wt%、AlNとCaOとをそれ
ぞれ0.1〜1wt%添加してなり、その焼結性、及び加工性
を改良したものである。
即ち,本発明によれば,主成分と,添加物とからなるセ
ラミックスであって,前記主成分は,15〜60wt%のTiCと
残部が実質的にAl2O3からなり,前記添加物は,前記セ
ラミックスの総重量に対して,0.1〜1wt%含有されたAlN
と,0.1〜1wt%含有されたCaOと,総量で0.1〜1wt%含有
されたTi,Zr,Nb,Ta,Cr,Mo,Wの夫々の珪化物からなる群
から選択された少なくとも一種の金属珪化物とからなる
ことを特徴とする薄膜磁気ヘッド用基板材料が得られ
る。
ラミックスであって,前記主成分は,15〜60wt%のTiCと
残部が実質的にAl2O3からなり,前記添加物は,前記セ
ラミックスの総重量に対して,0.1〜1wt%含有されたAlN
と,0.1〜1wt%含有されたCaOと,総量で0.1〜1wt%含有
されたTi,Zr,Nb,Ta,Cr,Mo,Wの夫々の珪化物からなる群
から選択された少なくとも一種の金属珪化物とからなる
ことを特徴とする薄膜磁気ヘッド用基板材料が得られ
る。
つまり本発明において金属珪化物の添加量を制御するこ
とにより焼結性を改善したもので、特に0.1〜1wt%の添
加量の時、焼結体の密度最大となる。この時金属珪化物
は主成分の粒成長を抑えながら緻密化を進行させるため
相対密度が高いにもかかわらず得られた焼結体は機械加
工性に優れたものとなる。この様な効果は添加量が0.1w
t%未満では得られず、また1wt%を超えると焼結時に粒
界層における液相の生成が著しくなり焼結性は向上する
ものの粒径は大きくなりまた同時に粒界強度も低下し材
料の機械強度は劣化する。
とにより焼結性を改善したもので、特に0.1〜1wt%の添
加量の時、焼結体の密度最大となる。この時金属珪化物
は主成分の粒成長を抑えながら緻密化を進行させるため
相対密度が高いにもかかわらず得られた焼結体は機械加
工性に優れたものとなる。この様な効果は添加量が0.1w
t%未満では得られず、また1wt%を超えると焼結時に粒
界層における液相の生成が著しくなり焼結性は向上する
ものの粒径は大きくなりまた同時に粒界強度も低下し材
料の機械強度は劣化する。
一方AlNとCaOの添加についても焼結性の改善と、これと
同時に機械加工性の向上が観察されAlN,CaOそれぞれの
添加量が0.1〜1wt%の時最大となる。AlNとCaOは液相を
生成する事が知られておりAlNとCaOとの同時添加により
液相焼結が進行するものと考えられる。またAlNは高硬
度、高強度であるにもかかわらず比較的機械加工性に優
れているため得られた焼結体は高強度でかつ機械加工性
に優れたものとなる。この様な効果はAlNとCaOとを同時
に添加した場合しか得られずまたそれぞれの添加量が0.
1wt%未満では効果が不十分であり一方1wt%を超えると
AlNの難焼結性がが顕著になり焼結性の低下を引起す。
同時に機械加工性の向上が観察されAlN,CaOそれぞれの
添加量が0.1〜1wt%の時最大となる。AlNとCaOは液相を
生成する事が知られておりAlNとCaOとの同時添加により
液相焼結が進行するものと考えられる。またAlNは高硬
度、高強度であるにもかかわらず比較的機械加工性に優
れているため得られた焼結体は高強度でかつ機械加工性
に優れたものとなる。この様な効果はAlNとCaOとを同時
に添加した場合しか得られずまたそれぞれの添加量が0.
1wt%未満では効果が不十分であり一方1wt%を超えると
AlNの難焼結性がが顕著になり焼結性の低下を引起す。
さらに主成分に関してはTiCとAl2O3の合計に対するTiC
量が15wt%未満ではHvが2000kg/mm2以下となり、また60
wt%を超えると焼結性が著しく低下するため主成分のTi
C量は15〜60wt%が望ましい。
量が15wt%未満ではHvが2000kg/mm2以下となり、また60
wt%を超えると焼結性が著しく低下するため主成分のTi
C量は15〜60wt%が望ましい。
以下本発明を実施例に従い詳細に説明する。
<実施例> 平均粒径0.1〜0.5μm、純度99%以上のAl2O3,TiC,TiSi
2,ZrSi2,NbSi2,TaSi2,CrSi2,MoSi2,WSi2,AlN,CaCO3の各
粉末原料を第1表に示す組成比となる様に秤量しNo.1〜
10の各試料とした。表中の主成分TiC及びAl2O3は主成分
の組成比(wt%)を示し、添加物の量は主成分の総量に
対する重量比(wt%)で示している。なおCaCO3につい
てはCaOに換算した値である。
2,ZrSi2,NbSi2,TaSi2,CrSi2,MoSi2,WSi2,AlN,CaCO3の各
粉末原料を第1表に示す組成比となる様に秤量しNo.1〜
10の各試料とした。表中の主成分TiC及びAl2O3は主成分
の組成比(wt%)を示し、添加物の量は主成分の総量に
対する重量比(wt%)で示している。なおCaCO3につい
てはCaOに換算した値である。
試料No.1〜5が本発明の適用例であり、No.6〜10は比較
のためのものである。
のためのものである。
No.1〜10の各試料をそれぞれ前述の様に秤量後エタノー
ルを溶媒としボールミルにて20〜40時間混合した。次に
濾過、乾燥後、有機系バインダーを添加し30×30×10mm
のブロックに加圧成型した。次にこのブロックを1750
℃、Ar気流中にて2時間焼結した後Arガスを圧力媒体と
して用い、圧力1000kg/cm2温度1650℃2時間保持の条件
で熱間静水圧プレス(HIP)処理を施した。
ルを溶媒としボールミルにて20〜40時間混合した。次に
濾過、乾燥後、有機系バインダーを添加し30×30×10mm
のブロックに加圧成型した。次にこのブロックを1750
℃、Ar気流中にて2時間焼結した後Arガスを圧力媒体と
して用い、圧力1000kg/cm2温度1650℃2時間保持の条件
で熱間静水圧プレス(HIP)処理を施した。
以上の工程より得られた試料の材料特性の評価として相
対密度ビッカース硬度Hv、抗折強度F、の測定を行っ
た。また各試料より5×5×20mmの角柱を切り出した後
この角柱の隣接する5×20mmの2面を鏡面加工し陵部に
生じた2×2μm以上のチッピング数を1000倍の倍率を
有する光学顕微鏡を用いてカウントして1cm当りの発生
率に換算し加工性の評価とした。さらに組織観察を行い
平均粒径を求めた。
対密度ビッカース硬度Hv、抗折強度F、の測定を行っ
た。また各試料より5×5×20mmの角柱を切り出した後
この角柱の隣接する5×20mmの2面を鏡面加工し陵部に
生じた2×2μm以上のチッピング数を1000倍の倍率を
有する光学顕微鏡を用いてカウントして1cm当りの発生
率に換算し加工性の評価とした。さらに組織観察を行い
平均粒径を求めた。
以上の結果を第1表に組成の値とともに記載した。
この表から、試料No.6の無添加例に比較し、No.1〜5の
TiSi2,ZrSi2,NbSi2,TaSi2,CrSi2,MoSi2,WSi2の少なくと
も一種を0.1〜1wt%、AlNとCaOのそれぞれを0.1〜1wt%
添加した試料では平均粒径1.1〜1.2μmの小粒径組織で
あるにもかかわらず相対密度は99.96〜99.98%と高く、
かつHv,F,チッピング発生率ともに向上している。
TiSi2,ZrSi2,NbSi2,TaSi2,CrSi2,MoSi2,WSi2の少なくと
も一種を0.1〜1wt%、AlNとCaOのそれぞれを0.1〜1wt%
添加した試料では平均粒径1.1〜1.2μmの小粒径組織で
あるにもかかわらず相対密度は99.96〜99.98%と高く、
かつHv,F,チッピング発生率ともに向上している。
また金属珪化物のみの添加(No.7)の場合、無添加剤
(No.6)に比較し密度、組成、機械強度及び加工性いず
れも改善されているが、金属珪化物の添加に加えさらに
AlNとCaOとを同時に添加した本発明例(No.1〜5)より
はF,チッピング発生率ともに多少劣っている。
(No.6)に比較し密度、組成、機械強度及び加工性いず
れも改善されているが、金属珪化物の添加に加えさらに
AlNとCaOとを同時に添加した本発明例(No.1〜5)より
はF,チッピング発生率ともに多少劣っている。
試料No.8についてはAlN,CaOのみの添加であり、無添加
例に比較し焼結性は向上しているものの相対密度は95%
程度と低い。
例に比較し焼結性は向上しているものの相対密度は95%
程度と低い。
金属珪化物の添加量が1wt%を超えると(No.9)焼結性
は向上するものの粒成長が顕著になり、かつHv,Fの低
下、チッピング発生率の増加が観察される。
は向上するものの粒成長が顕著になり、かつHv,Fの低
下、チッピング発生率の増加が観察される。
一方AlNの添加量が1wt%を超えると(No.10)、AlNの持
つ難焼結性が現れ焼結性の低下をきたす。
つ難焼結性が現れ焼結性の低下をきたす。
<発明の効果> 以上述べた如く本発明によれば、焼結性に優れ小粒径組
織かつ緻密で機械加工性に優れた薄膜磁気ヘッド用高密
度Al2O3−TiCセラミックス基板材料の提供が可能となっ
た。
織かつ緻密で機械加工性に優れた薄膜磁気ヘッド用高密
度Al2O3−TiCセラミックス基板材料の提供が可能となっ
た。
Claims (1)
- 【請求項1】主成分と,添加物とからなるセラミックス
であって,前記主成分は,15〜60wt%のTiCと残部が実質
的にAl2O3からなり, 前記添加物は,前記セラミックスの総重量に対して, 0.1〜1wt%含有されたAlNと,0.1〜1wt%含有されたCaO
と, 総量で0.1〜1wt%含有されたTi,Zr,Nb,Ta,Cr,Mo,Wの夫
々の珪化物からなる群から選択された少なくとも一種の
金属珪化物とからなることを特徴とする薄膜磁気ヘッド
用基板材料。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1018910A JPH0744111B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | 薄膜磁気ヘッド用基板材料 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1018910A JPH0744111B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | 薄膜磁気ヘッド用基板材料 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02199808A JPH02199808A (ja) | 1990-08-08 |
| JPH0744111B2 true JPH0744111B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=11984761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1018910A Expired - Fee Related JPH0744111B2 (ja) | 1989-01-28 | 1989-01-28 | 薄膜磁気ヘッド用基板材料 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744111B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007153653A (ja) | 2005-12-02 | 2007-06-21 | Tdk Corp | 磁気ヘッドスライダ用焼結体、磁気ヘッドスライダ、及び磁気ヘッドスライダ用焼結体の製造方法 |
| JP2009026405A (ja) * | 2007-07-20 | 2009-02-05 | Tdk Corp | 磁気ヘッドスライダ用材料、磁気ヘッドスライダ、ハードディスク装置、及び磁気ヘッドスライダ用材料の製造方法 |
-
1989
- 1989-01-28 JP JP1018910A patent/JPH0744111B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02199808A (ja) | 1990-08-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |