JPH0746386Y2 - チップ状ワークの自動供給装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、チップ状電子部品（例
えば、チップ状抵抗器、チップ状コンデンサ）等のチッ
プ状ワークを円盤の収納溝等の被供給部へ供給するため
のチップ状ワークの自動供給装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種のチップ状ワークの供給装
置としては、例えば、特開昭６４−３８３２０号公報、
実開平１−１０９０１６号公報に記載されているような
構成が知られている。

【０００３】この従来のチップ状ワークの供給装置の概
略について説明すると、チップ状ワークが直線状の供給
路に連続的に供給されると、第１および第２のストッパ
の働きにより先頭のチップ状ワークを円盤の収納溝に対
向させて解放する。この解放したチップ状ワークをエア
の噴出、若しくは真空装置による吸引により収納溝に供
給する。このようにして、チップ状ワークを円盤の収納
溝に順次供給することができる。そして、例えば、前工
程で割れたチップ状ワークが供給路内に供給されると、
この分割片とその次のチップ状ワークの前側部が共に円
盤の収納溝に挿入され、チップ状ワークの後側部は供給
路内に残される。すなわち、分割片の次のチップ状ワー
クは円盤の収納溝と供給路に跨った状態となる。この状
態で円盤を回転させると、収納溝と供給路に跨っている
チップ状ワークが破壊されることは勿論のこと、円盤や
供給路等を損傷するおそれがある。このような供給トラ
ブルはチップ状ワークの割れの場合に限らず、寸法、形
状の不良の場合にも生ずる。そこで、このような供給ト
ラブルを回避するため、センサによりチップ状ワークの
供給状態を検出し、円盤の回転を停止している。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】上記従来のチップ状ワ
ーク供給装置では、供給路と円盤の収納溝の接続部で発
生した供給トラブルをセンサにより検出するようにして
いるので、円盤の回転を停止することにより円盤、供給
路等の損傷を未然に防止することはできる。しかしなが
ら、供給トラブルの原因となった不良のチップ状ワーク
は装置を停止させ、供給路等を分解してピンセット等の
手作業で排出しなければならず、その作業は面倒である
ばかりでなく、非能率的である。

【０００５】本考案は、上記のような従来例の問題を解
決するものであり、供給路と被供給部との接続部で発生
する供給トラブルの原因となっている割れや欠けの生じ
たチップ状ワーク、形状等が不良で不完全に供給された
チップ状ワーク等を自動的に排出するようにして作業能
率の向上を図ることができ、また、構成を簡素化してコ
ストアップにならないようにしたチップ状ワークの自動
供給装置を提供することを目的とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本考案の技術的解決手段は、チップ状ワークを被供給
部に対して直線状で連続的に供給するための供給路と、
この供給路における上記被供給部側寄り位置の側壁の一
部を構成し、開閉可能に設けられた排出ゲートと、チッ
プ状ワークの上記被供給部に対する供給状態の良、不良
および上記被供給部に供給されたチップ状ワークの欠け
の有無を検出し得る検出手段と、上記供給路内を移送さ
れるチップ状ワークの割れの有無を検出し得る検出手段
と、上記検出手段による検出結果をもとに駆動され、上
記排出ゲートを開放する駆動装置と、上記排出ゲートの
開放に伴い、開放された排出ゲート位置のチップ状ワー
ク、若しくは排出ゲート位置および上記被供給部のチッ
プ状ワークをエアの噴出により排出する排出手段とを備
えたものである。

【０００７】

【作用】したがって、本考案によれば、供給路を直線状
で連続的に移送されたチップ状ワークは、被供給部に順
次供給される。そして、検出手段によりチップ状ワーク
の被供給部に対する供給状態の不良、若しくは被供給部
に供給されたチップ状ワークの欠け、若しくは供給路内
を移送されるチップ状ワークの割れが検出されると、駆
動装置により排出ゲートを開放して供給トラブルの原因
となるチップ状ワークを排出手段によるエアの噴出によ
り強制的に排出することができる。このように、供給ト
ラブルの原因となる割れや欠けの生じたチップ状ワー
ク、形状等が不良で不完全に供給されたチップ状ワーク
等を自動的に排出することができる。また、供給路の側
壁の一部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出により
供給トラブルの原因となるチップ状ワークを排出するよ
うにしているので、構成を簡素化することができる。

【０００８】

【実施例】以下、本考案の一実施例について図面を参照
しながら説明する。まず、本考案実施例で自動供給する
チップ状ワークであるチップ状抵抗器について説明す
る。図６（ａ）はチップ状抵抗器の平面図である。図６
（ａ）に示すように、チップ状抵抗器Ｒはセラミック等
からなる基板の外面に抵抗体となる炭素皮膜が形成さ
れ、この炭素皮膜に所望の溝が形成されて抵抗値が調整
されている。炭素皮膜がガラス等からなるコート層Ｒ１
により保護され、両端部に電極Ｒ２がめっき等により形
成され、コート層Ｒ１の表面側に抵抗値が印刷等により
表示されている。このチップ状抵抗器Ｒは製造に際し、
形状不良となったり、製造、移送等の工程で図６（ｂ）
に示すように割れたり、図６（ｃ）に示すように一部が
欠けたりすることがあり、このようなチップ状抵抗器Ｒ
が良好なチップ状抵抗器Ｒに混入していると供給トラブ
ルを生じるため、供給に際し、自動的に排出する必要が
ある。

【０００９】次に、本考案の自動供給装置について説明
する。図１ないし図５は本考案の一実施例におけるチッ
プ状ワークの自動供給装置を示し、図１は要部の一部切
欠き平面図、図２は要部の一部切欠き側面図、図３は図
１のＡ−Ａ矢視図、図４（ａ）、（ｂ）はそれぞれ欠け
たチップ状ワークの排出動作説明用の一部切欠き平面
図、図５（ａ）、（ｂ）はそれぞれ割れたチップ状ワー
クの排出動作説明用の一部切欠き平面図である。

【００１０】図１ないし図３に示すように、円盤１が垂
直方向の回転軸（図示省略）を中心として回転可能に支
持されている。円盤１は外周上部に環状の突出部２が形
成され、この突出部２に等間隔で被供給部である多数の
収納溝３が形成され、各収納溝３の底部中央部に垂直方
向の吸引穴４が形成されている。円盤１は駆動装置（図
示省略）により矢印Ｘ方向に間歇回転される。

【００１１】円盤１の各収納溝３にチップ状抵抗器Ｒを
順次供給するためにチップ状抵抗器Ｒを直線状に移送す
る供給路５が設けられている。すなわち、一対の案内部
材６、７および上面板８により囲まれた供給路５が形成
されている。この供給路５には直進フィーダ（図示省
略）によりチップ状抵抗器Ｒが連続的に供給される。供
給路５における円盤１側寄り位置の側壁の一部が排出ゲ
ート９により構成され、この排出ゲート９はソレノイド
（図示省略）の駆動により伝達機構（図示省略）を介し
て図１の実線位置に閉じ、図１の鎖線位置に開くように
なっている。排出ゲート９はチップ状抵抗器Ｒの長さよ
りやや幅広になるように設定されている。

【００１２】円盤１側において、ストッパ１０が設けら
れ、このストッパ１０により供給路５から収納溝３に供
給されたチップ状抵抗器Ｒを所定の位置に位置決めする
ことができる。収納溝３に収納されたチップ状抵抗器Ｒ
は円盤１の回転に伴い、供給路５に対してやや回転方向
下流側に移送されると、吸引穴４を介して吸引装置（図
示省略）により吸引されて収納溝３内に保持される。

【００１３】ストッパ１０の先端部上方にはこのストッ
パ１０と、供給溝３に良好に供給されたチップ状抵抗器
Ｒとの両方に跨がるように位置するファイバセンサ１１
が設けられ、ファイバセンサ１１の後端は投、受光器
（図示省略）に対向されている。そして、投光器からフ
ァイバセンサ１１を介して投光し、反射光を光ファイバ
センサ１１を介して受光器で受光する。このとき、スト
ッパ１０とチップ状抵抗器Ｒの両方から反射すると、収
納溝３に対するチップ状抵抗器Ｒの供給状態が良好であ
り、ストッパ１０のみから反射すると、収納溝３に対す
るチップ抵抗器Ｒの供給状態が不良であり、若しくは収
納溝３に供給されたチップ状抵抗器Ｒが欠けていること
を検出することができる。上面板７には供給路５に対応
して穴１２が形成され、穴１２の上方にはファイバセン
サ１３が設けられ、ファイバセンサ１３の後端は投、受
光器（図示省略）に対向されている。これら穴１２とフ
ァイバセンサ１３はチップ状抵抗器Ｒの移送方向におい
て、排出ゲート９に対して直前に位置するチップ状抵抗
器Ｒとその手前のチップ状抵抗器Ｒが正常である場合に
それらに跨がるような位置に設定されている。そして、
投光器からファイバセンサ１３を介して投光し、反射光
をファイバセンサ１３を介して受光器で受光する。この
とき、前後に続くチップ状抵抗器Ｒの両方から反射する
と、排出ゲートの直前に位置するチップ状抵抗器Ｒに割
れがなく、１つのチップ状抵抗器Ｒのみから反射する
と、排出ゲート９の直前に位置するチップ状抵抗器Ｒに
割れがあることを検出することができる。

【００１４】円盤１上には収納溝３に対して供給される
チップ状抵抗器Ｒに向かってエアを噴出するためのエア
噴出管１４が設けられ、案内部材６上には排出ゲート９
に位置するチップ状抵抗器Ｒに対し、側方より排出ゲー
ト９側へ向かってエアを噴出するためのエア噴出管１５
が設けられている。各エア噴出管１４、１５の他端はコ
ンプレッサ（図示省略）に連通されている。上記排出ゲ
ート９を開閉するソレノイドとコンプレッサはファイバ
センサ１１、１３等を用いた検出手段の検出結果をもと
に駆動されるようになっている。

【００１５】以上の構成において、以下、その動作につ
いて説明する。図１、図２に示すように、直進フィーダ
によりチップ状抵抗器Ｒを供給路５内に連続的に供給
し、供給路５内で直線状に移送する。一方、円盤１を間
歇回転させてその任意の収納溝３を供給路５に対向させ
て停止させる。これにより、先頭のチップ状抵抗器Ｒが
後方のチップ状抵抗器Ｒにより押されて収納溝３に収納
され、ストッパ１０に当接して位置規制される。位置規
制後、円盤１を間歇回転させ、次の収納溝３を供給路５
に対向させると、この収納溝３に上記と同様にチップ状
抵抗器Ｒが収納され、先の収納溝３内のチップ状抵抗器
Ｒは吸引穴４を介して吸引装置により収納溝３内に保持
される。この間、ファイバセンサ１１等を用いた検出手
段によりチップ状抵抗器Ｒの収納溝３に対する供給状態
が良好であり、チップ状抵抗器Ｒに欠けがないことを検
出し、また、ファイバセンサ１３等を用いた検出手段に
よりチップ状抵抗器Ｒに割れがないことを検出すると、
上記動作を繰返してチップ状抵抗器Ｒを順次、円盤１の
収納溝３に供給し、加工、検査等のために移送すること
ができる。

【００１６】今、図４（ａ）に示すように、収納溝３に
供給されたチップ状抵抗器Ｒが欠けているとすると、こ
れをファイバセンサ１１等を用いた検出手段により検出
し、直進フィーダの駆動を停止させ（エアによるチップ
状抵抗器Ｒの供給補助手段を用いている場合には、この
供給補助手段の駆動をも停止させる。）、ソレノイドの
駆動により図４（ｂ）に示すように、排出ゲート９を開
く。これと共に、コンプレッサを駆動させ、エア噴出管
１４、１５からそれぞれエアを噴出させる。これに伴
い、まず、排出ゲート９に位置するチップ状抵抗器Ｒを
供給路５における側壁の開放部から外部へ排出し、続い
て欠けているチップ状抵抗器Ｒを収納溝３から供給路５
へ後退させ、供給路５における側壁の開放部から外部へ
強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因に
なるのを未然に防止することができる。

【００１７】また、図５（ａ）に示すように、供給路５
に供給されたチップ状抵抗器Ｒが割れているとすると、
これをファイバセンサ１３等を用いた検出手段により検
出し、割れたチップ状抵抗器Ｒが排出ゲート９の位置に
移送されると、直進フィーダの駆動を停止させ（エアに
よるチップ状抵抗器Ｒの供給補助手段を用いている場合
には、この供給補助手段の駆動をも停止させる。）、ソ
レノイドの駆動により図５（ｂ）に示すように、排出ゲ
ート９を開く。これと共に、コンプレッサを駆動させ、
エア噴出管１５からエアを噴出させる。これに伴い、排
出ゲート９に位置する割れているチップ状抵抗器Ｒを供
給路５における側壁の開放部から外部へ強制的に排出す
る。したがって、供給トラブルの原因になるのを未然に
防止することができる。なお、エア噴出管１４と１５を
一つのバルブで開閉制御している場合には、エア噴出管
１４、１５からのエアの噴出により収納溝３内のチップ
状抵抗器Ｒを斜め方向に後退させて側壁の開放部から外
部へ排出することができる。

【００１８】また、形状等の不良なチップ状抵抗器Ｒが
混入して円盤１の収納溝３に入り切らず、一部が供給路
５側に残った場合にも、図４（ａ）、（ｂ）の場合と同
様にこのチップ状抵抗器Ｒをファイバセンサ１１等を用
いた検出手段により検出すると、直進フィーダ等の駆動
を停止し、排出ゲート１１等を開き、エア噴出管１４、
１５からエアを噴出させ、排出ゲート９の位置のチップ
状抵抗器Ｒおよび供給トラブルの原因となっているチッ
プ状抵抗器Ｒを供給路５における側壁の開放部から外部
へ強制的に排出する。したがって、供給トラブルの原因
になるのを未然に防止することができる。

【００１９】なお、上記実施例では、被供給部として円
盤１の外周に等間隔に形成した収納溝３が奥壁を有しな
い場合について説明したが、奥壁を有する場合にも実施
することができ、この場合にはストッパ１０は不要とな
る。また、円盤１に収納溝３を形成した場合に限らず、
直線状に移送する場合にも適用することができる。本考
案は、この他、その基本的技術思想を逸脱しない範囲で
種々設計変更することができる。

【００２０】

【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、供
給路を直線状で連続的に移送されたチップ状ワークは、
被供給部に順次供給される。そして、検出手段によりチ
ップ状ワークの被供給部に対する供給状態の不良、若し
くは被供給部に供給されたチップ状ワークの欠け、若し
くは供給路内を移送されるチップ状ワークの割れが検出
されると、駆動装置により排出ゲートを開放して供給ト
ラブルの原因となるチップ状ワークを排出手段によるエ
アの噴出により強制的に排出することができる。このよ
うに、供給トラブルの原因となる割れや欠けの生じたチ
ップ状ワーク、形状等が不良で不完全に供給されたチッ
プ状ワーク等を自動的に排出することができ、したがっ
て、作業能率の向上を図ることができる。また、供給路
の側壁の一部を排出ゲートにより開放し、エアの噴出に
より供給トラブルの原因となるチップ状ワークを排出す
るようにしているので、構成を簡素化することができ、
したがって、コストアップにならないようにすることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例におけるチップ状ワークの自
動供給装置を示す要部の一部切欠き平面図

【図２】同自動供給装置を示す要部の一部切欠き側面図

【図３】同自動供給装置を示し、図１のＡ−Ａ矢視図

【図４】（ａ）同自動供給装置の動作説明用で、欠けた
チップ状ワークが供給された状態の一部切欠き平面図 （ｂ）同自動供給装置の動作説明用で、欠けたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図

【図５】（ａ）同自動供給装置の動作説明用で、割れた
チップ状ワークが移送された状態の一部切欠き平面図 （ｂ）同自動供給装置の動作説明用で、割れたチップ状
ワークを排出する状態の一部切欠き平面図

【図６】（ａ）チップ状ワークであるチップ状抵抗器を
示す平面図（ｂ）割れたチップ状抵抗器を示す平面図 （ｃ）欠けたチップ状抵抗器を示す平面図

【符号の説明】

１ 円盤 ３ 収納溝 ４ 吸引穴 ５ 供給路 ９ 排出ゲート １０ ストッパ １１ ファイバセンサ １３ ファイバセンサ １４ エア噴出管 １５ エア噴出管 Ｒ チップ状抵抗器（チップ状ワーク）

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 チップ状ワークを被供給部に対して直線
   状で連続的に供給するための供給路と、この供給路にお
   ける上記被供給部側寄り位置の側壁の一部を構成し、開
   閉可能に設けられた排出ゲートと、チップ状ワークの上
   記被供給部に対する供給状態の良、不良および上記被供
   給部に供給されたチップ状ワークの欠けの有無を検出し
   得る検出手段と、上記供給路内を移送されるチップ状ワ
   ークの割れの有無を検出し得る検出手段と、上記検出手
   段による検出結果をもとに駆動され、上記排出ゲートを
   開放する駆動装置と、上記排出ゲートの開放に伴い、開
   放された排出ゲート位置のチップ状ワーク、若しくは排
   出ゲート位置および上記被供給部のチップ状ワークをエ
   アの噴出により排出する排出手段とを備えたチップ状ワ
   ークの自動供給装置。