JPH0750726B2 - 半導体チップの実装体 - Google Patents

半導体チップの実装体

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JPH0750726B2
JPH0750726B2 JP62111022A JP11102287A JPH0750726B2 JP H0750726 B2 JPH0750726 B2 JP H0750726B2 JP 62111022 A JP62111022 A JP 62111022A JP 11102287 A JP11102287 A JP 11102287A JP H0750726 B2 JPH0750726 B2 JP H0750726B2
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JP
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electrical connection
contact
semiconductor chip
connection contact
protrusion
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俊雄 津田
泰彦 堀尾
芳宏 別所
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/321—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by conductive adhesives
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はICチップに代表される、電気マイクロ回路を基
板上の端子電極群と接続するために用いる電気的接続接
点に関するものである。
従来の技術 従来、電気マイクロ回路の接点領域と回路基板上の導体
端子部との接続には、半田付けがよく利用されていた。
近年、たとえばICフラットパッケージ等の小型化と、接
続端子の増加により、接続端子間、いわゆるピッチ間隔
が次第に狭くなり従来の半田付け技術で対処することが
困難になってきた。また、最近では電卓,電子時計ある
いは液晶ディスプレイ等にあっては、裸のICチップをガ
ラス基板上の電極に直付けして実装面積の効率的使用を
図ろうとする動きがある。裸の半導体チップを半田付け
に代わり有効かつ微細な電気的接続を得る手段として、
たとえば半導体チップの入出力電極パッド上に公知のメ
ッキ技術により電気的接続接点を構成したり、特願昭61
-128653号公報に示されているように、金属ワイヤを用
い前記の入出力電極上に平坦な電気的接続接点を構成し
電気的接続接点と回路基板上の導体端子部との間に導電
性接着剤を設けて、接合することにより電気的接続を得
ようとする方法が提案されている。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では半導体チップの入出
力電極パッド上に形成された電気的接続接点の上部が平
坦な台形上に構成されており電気的接続接点と回路基板
上の導体端子部との間に形成した導電性接着剤は、押圧
接着した時界面で支え押し広げられるので導電性接着剤
が前記導体端子部の外へにじみ出し、広がり易いという
問題を有していた。
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とする所は、微細かつ密に形成されている電気マ
イクロ回路上の入出力電極パッドと回路基板上の導体端
子部を信頼性よく接続しようとするものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の電気的接続接点
は、基板上に設けた電極パッドの上に形成する突起状接
点であって、電極パッドに接触している第1の突起部
と、第1の突起部の上に形成され、かつ第1の突起部の
電極パッドと平行な断面積より小さな前記電極パッドと
平行な断面積を有する第2の突起部とを備えていること
を特徴とするものである。
作用 しかして本発明の上記した接点構造によれば、先端部が
小径でかつ突出した段差構成の接点領域を備えているの
で接続接点に設けた接点頂部と導体端子部とが当接し接
点底部の段差によって導電性接着剤層の厚みが規制さ
れ、導電性接着剤のにじみ,広がりがなく微細かつ密に
形成された電極間の接続を信頼性良く形成することがで
きる。
実施例 以下本発明の一実施例の電気的接続接点について図面を
参照しながら説明する。
第1図は本発明の第1の実施例における電気的接続接点
の構成を示す断面図、第2図は電気的接続接点を回路基
板上の導体端子部に接合した時の構成を示す断面図であ
る。
第1図および第2図において、1は半導体チップ、2は
入出力端子パッド、3は電気的接続接点、3aは接点底
部、3bは接点頂部、4は導電性接着剤層、5は回路基
板、6は導体端子部である。
以上のように構成された電気的接続接点について以下第
1図および第2図を用いて詳細に説明する。
本発明の実施例では半導体チップ1上の入出力端子パッ
ド2に公知のホトエッチング法やメッキ技術を用いて、
材質が金からなる電気的接続接点3を構成する。この電
気的接続接点3は入出力端子パッド2に相当する接点底
部3a,および接点頂部3bからなり、接点頂部3bは接点底
部3aの外径から見て小径でかつ接点底部3aから階段状に
突出しており、その接点底部3aと接点頂部3bの高さは、
数10ミクロンに構成してある。なお前記突出部の高さに
ついては、階段状の構造を有するものであれば、その高
さは特に制限を加えるものではなく、さらに前記電気的
接続接点3の外径形状としては、円,角状など任意の形
状による構成が可能である。
上記のように構成された電気的接続接点3は第2図に示
すように導電性接着剤層4を介して回路基板5上の導体
端子部6と接着し電気的接続をする。接続方法として
は、まず導電性接着剤層4を電気的接続接点3上にスタ
ンピング法などにより転写して構成する。次いで電気的
接続接点3に導電性接着剤層4を構成した半導体チップ
1と回路基板5とを第2図に示すように導電性接着剤層
4を回路基板5の導体端子部6と対向させ位置合せした
後フリップチップボンタニ等を用いて押圧接着する。こ
の時前記導電性接着剤の硬化はホットプレートやオーブ
ンにより加熱し実施する。
以上のようにして入出力端子パッド2に電気的接続接点
3を形成した半導体チップ1と回路基板5上の導体端子
部6とを電気的に接続できる。
なお、実施例では電気的接続接点3の材質を金とした
が、その材質は金に限定されるものでなくニッケル,銅
を使用しても差支えない。
発明の効果 以上説明したように、本発明の電気的接続接点の構成に
よれば基板上に設けた電極パッドの上に第1の突起部
と、その第1の突起部の上に形成され、かつ第1の突起
部の電極パッドと平行な断面積より小さな断面積を有す
る第2の突起部とを備えた2段構造の接点領域からなる
ので回路基板との接続に際して接続接点の先端部に設け
た接点頂部と接点底部の段差によって導電性接着剤の厚
みが規制されるため導電性接着剤のにじみ,広がりがな
く微細接続が可能となり実用上極めて価値が高い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における電気的接続接点の断
面図、第2図は第1図の電気的接続接点を構成した半導
体チップを回路基板上の導体端子部と接続した時の断面
図である。 1……半導体チップ、2……入出力端子部、3……電気
的接続接点、3a……接点頂部、3b……接点底部、4……
導電性接着剤、5……回路基板、6……導体端子電極。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体チップを基板上の端子電極部へ実装
    した構成であって、前記半導体チップの入出力端子部上
    に第1の突起部と、前記第1の突起部の上に形成されか
    つ前記第1の突起部の前記入出力端子部と平行な断面積
    より小さな前記入出力端子部と平行な断面積を有する第
    2の突起部とを備えた電気的接続接点を形成し、前記電
    気的接続接点と前記基板上の前記端子電極部とが導電性
    接着剤を介して電気的に接続されていることを特徴とす
    る半導体チップの実装体。
  2. 【請求項2】電気的接続接点が金またはニッケルまたは
    銅で構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の半導体チップの実装体。
JP62111022A 1987-05-07 1987-05-07 半導体チップの実装体 Expired - Lifetime JPH0750726B2 (ja)

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JPS63275127A JPS63275127A (ja) 1988-11-11
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