JPH0758218B2 - 電子計数はかり - Google Patents
電子計数はかりInfo
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- JPH0758218B2 JPH0758218B2 JP930388A JP930388A JPH0758218B2 JP H0758218 B2 JPH0758218 B2 JP H0758218B2 JP 930388 A JP930388 A JP 930388A JP 930388 A JP930388 A JP 930388A JP H0758218 B2 JPH0758218 B2 JP H0758218B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、被測定試料の単重で、未知個数の試料の重量
を除すことによってその個数を算出して表示する、電子
計数はかりに関する。
を除すことによってその個数を算出して表示する、電子
計数はかりに関する。
〈従来の技術〉 電子計数はかりでは、一般に、試料の単重（１個当たり
の重量）の推定値が計数結果の正確さに大きな影響を及
ぼす。そこで、従来の電子計数はかりでは、この単重の
推定手法に種々の工夫がなされているが、基本的には次
の２つの手法に分類することができる。
の重量）の推定値が計数結果の正確さに大きな影響を及
ぼす。そこで、従来の電子計数はかりでは、この単重の
推定手法に種々の工夫がなされているが、基本的には次
の２つの手法に分類することができる。
１つは、10個、40個、100個等、試料の個数をあらかじ
め限定しておき、その個数を皿上に載せたときの荷重値
をその既知個数で除す方法である。
め限定しておき、その個数を皿上に載せたときの荷重値
をその既知個数で除す方法である。
他の１つは、最初に５個等の少数の既知個数の試料を皿
上に載せて同様に単重を算出した後、試料を適宜に追加
してゆき、その追加の都度、先に算出した単重で追加重
量を除して追加個数を求めて順次加算することで皿上の
全個数を推定し、その推定個数で皿上の全重量を除し、
単重を更新してゆく方法である。
上に載せて同様に単重を算出した後、試料を適宜に追加
してゆき、その追加の都度、先に算出した単重で追加重
量を除して追加個数を求めて順次加算することで皿上の
全個数を推定し、その推定個数で皿上の全重量を除し、
単重を更新してゆく方法である。
〈発明が解決しようとする問題点〉 前者の従来方法によれば、単重推定のためのサンプリン
グ個数が大きくなると、その数を数えるのが煩わしく、
更に、数えまちがいも生じる虞れがある等の欠点があ
る。
グ個数が大きくなると、その数を数えるのが煩わしく、
更に、数えまちがいも生じる虞れがある等の欠点があ
る。
後者の方法では、試料の追加ごとの推定が全て正しいと
いう保証がなく、結局、最終的に得られた単重の推定知
についても正しいということが保証されないという問題
がある。
いう保証がなく、結局、最終的に得られた単重の推定知
についても正しいということが保証されないという問題
がある。
ここで、単重の推定に当たっては、計数すべき試料の重
量の変動係数を用いなければ定量的に明確な取扱いは不
可能であることは云うまでもなく、この点に鑑み、従
来、後者の方法において、試料重量を正規分布としてそ
の３σの範囲をベースにして、追加個数を制限すべき許
容追加個数を求め、単重の推定値を保証する手法が提案
されている（特開昭60−31023号）。
量の変動係数を用いなければ定量的に明確な取扱いは不
可能であることは云うまでもなく、この点に鑑み、従
来、後者の方法において、試料重量を正規分布としてそ
の３σの範囲をベースにして、追加個数を制限すべき許
容追加個数を求め、単重の推定値を保証する手法が提案
されている（特開昭60−31023号）。
ところで、正規分布の３σの範囲に基づく許容追加個数
は、試料の変動係数が例えば２〜３％以上ともなると、
あまり大きな数とすることができず、単重推定のための
サンプリング作業の効率が低下するという問題がある。
は、試料の変動係数が例えば２〜３％以上ともなると、
あまり大きな数とすることができず、単重推定のための
サンプリング作業の効率が低下するという問題がある。
本発明はこの点に鑑みてなされたもので、前述した後者
の方法において、計数誤差の確率論的な取扱いに基づい
て、定量的に明確な計数誤差の保証を与えることがで
き、しかも、同程度の保証を与えるに当って従来の３σ
の範囲に基づく手法よりも許容追加個数を大きくするこ
とのできる電子計数はかりの提供を目的としている。
の方法において、計数誤差の確率論的な取扱いに基づい
て、定量的に明確な計数誤差の保証を与えることがで
き、しかも、同程度の保証を与えるに当って従来の３σ
の範囲に基づく手法よりも許容追加個数を大きくするこ
とのできる電子計数はかりの提供を目的としている。
〈問題点を解決するための手段〉 上記の目的を達成するための構成を、第１図に示す基本
概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、皿上に載せ
られた荷重を検出する荷重検出部a;計数すべき試料の２
種の単重推定値μＡ，μＢを記憶する第１、第２の単重
メモリb,c;荷重検出部ａによる検出値に基づく追加重量
Wiを第１および第２の単重メモリｂおよびｃの内容μＡ
およびμＢで除して皿上に追加された試料個数kAおよび
kBを推定する追加個数算出手段d;試料の変動係数CVを設
定する変動係数設定手段e;その設定内容CVと追加個数算
出手段ｄによる前回（（ｉ−１）回目）の追加時におけ
る算出結果Ni-1を用いて、あらかじめ設定された確率Ｐ
以上で所定個以内の計数誤差のもとに次の追加個数を推
定し得る最大の許容個数Ｋを算出する許容追加個数算出
手段f;その算出された許容個数Ｋと追加個数算出手段に
よる今回（ｉ回目）の推定結果kAとkBを比較する第２の
比較手段h;追加個数算出手段ｄによる前回（ｉ−１）回
目までの各推定結果とそれぞれに対応する追加重量Wiに
係るデータ記憶するサンプリングデータメモリq;およ
び、そのサンプリングデータメモリｑ内の異なるデータ
に基づいて２種の単重μＡおよびμＢを推定して第１お
よび第２の単重メモリｂおよびｃの内容を更新する単重
算出手段r;を備える。
概念図を参照しつつ説明すると、本発明は、皿上に載せ
られた荷重を検出する荷重検出部a;計数すべき試料の２
種の単重推定値μＡ，μＢを記憶する第１、第２の単重
メモリb,c;荷重検出部ａによる検出値に基づく追加重量
Wiを第１および第２の単重メモリｂおよびｃの内容μＡ
およびμＢで除して皿上に追加された試料個数kAおよび
kBを推定する追加個数算出手段d;試料の変動係数CVを設
定する変動係数設定手段e;その設定内容CVと追加個数算
出手段ｄによる前回（（ｉ−１）回目）の追加時におけ
る算出結果Ni-1を用いて、あらかじめ設定された確率Ｐ
以上で所定個以内の計数誤差のもとに次の追加個数を推
定し得る最大の許容個数Ｋを算出する許容追加個数算出
手段f;その算出された許容個数Ｋと追加個数算出手段に
よる今回（ｉ回目）の推定結果kAとkBを比較する第２の
比較手段h;追加個数算出手段ｄによる前回（ｉ−１）回
目までの各推定結果とそれぞれに対応する追加重量Wiに
係るデータ記憶するサンプリングデータメモリq;およ
び、そのサンプリングデータメモリｑ内の異なるデータ
に基づいて２種の単重μＡおよびμＢを推定して第１お
よび第２の単重メモリｂおよびｃの内容を更新する単重
算出手段r;を備える。
そして、第１および第２の比較手段ｇおよびｈの比較結
果に基づいて、今回（ｉ回目）の推定結果kAもしくはkB
が許容個数Ｋ以下で、かつ、そのkAとkBが互いに等しい
場合に限り、今回の推定結果kA（もしくはkB）と追加重
量Wiをサンプリングデータメモリｑの内容に加え（kA→
Ni）、ｉ＋１回目の追加に供すべく、単重算出手段ｒに
よる単重μＡおよびμＢの推定・更新を実行するよう構
成している。
果に基づいて、今回（ｉ回目）の推定結果kAもしくはkB
が許容個数Ｋ以下で、かつ、そのkAとkBが互いに等しい
場合に限り、今回の推定結果kA（もしくはkB）と追加重
量Wiをサンプリングデータメモリｑの内容に加え（kA→
Ni）、ｉ＋１回目の追加に供すべく、単重算出手段ｒに
よる単重μＡおよびμＢの推定・更新を実行するよう構
成している。
〈発明の原理並びに作用〉 一般に、平均重量μ、標準偏差σの正規分布している母
集団Ｎ（μ，σ２）から、ｎ個の試料を取り出したとき
の重量ｗは、 となる。ここでξ１は確率変数で、その密度関数は、 である。
集団Ｎ（μ，σ２）から、ｎ個の試料を取り出したとき
の重量ｗは、 となる。ここでξ１は確率変数で、その密度関数は、 である。
一方、重量ｗから試料の単重を推定すると、(1)式か
ら、 となる。
ら、 となる。
次に、ｋ個の試料を取り出し、その重量がＷであったと
すると、 となる。ここで、ξ２はξ１と独立な確率変数である。
すると、 となる。ここで、ξ２はξ１と独立な確率変数である。
とＷを用いて個数を推定すると、 となる。従って、このときの計数誤差ξは、 となる。ξはξ１，ξ２の一次結合として表されるの
で、公知の定理より、 となる。すなわち、ξは正規確率変数であり、そのξの
平均値は０、ξの標準偏差は、 である。
で、公知の定理より、 となる。すなわち、ξは正規確率変数であり、そのξの
平均値は０、ξの標準偏差は、 である。
従って、４捨５入によって整数として個数を推定する
場合に、が正しく求まる確率Ｐ、つまり計数誤差０で
ｋを推定できる確率Ｐは、 となる。ここで、 と置くと、 と表すことができる。
場合に、が正しく求まる確率Ｐ、つまり計数誤差０で
ｋを推定できる確率Ｐは、 となる。ここで、 と置くと、 と表すことができる。
また、が＋１または−１個の計数誤差を持つ確率P
1は、 であり、更に±２個以上の計数誤差を持つ確率P2は、 である。
1は、 であり、更に±２個以上の計数誤差を持つ確率P2は、 である。
ここで、従来の正規分布の３σの範囲に基づく許容追加
個数は、β＝３として、(12)式のｋを求めたものに相当
する。なお、(12)式において、変動係をCVとすると、μ
／σ＝1/CVである。
個数は、β＝３として、(12)式のｋを求めたものに相当
する。なお、(12)式において、変動係をCVとすると、μ
／σ＝1/CVである。
ところで、±１個の計数誤差を許容するとすれば、βの
代わりに３βが確率論的な議論をする上でのメインパラ
メータということになる。極言すれば、従来、 β≧３ としていたところを、 ３β≧３ つまり β≧１ とするわけであり、許容追加個数をより大きくすること
ができることになる。しかし、これをそのまま採用した
のでは、±１個の計数誤差が常に含まれることを容認し
た保証としかなり得ず、従って、他の何らかの方策によ
ってこの±１個の計数誤差発生を防止することが必要と
なる。
代わりに３βが確率論的な議論をする上でのメインパラ
メータということになる。極言すれば、従来、 β≧３ としていたところを、 ３β≧３ つまり β≧１ とするわけであり、許容追加個数をより大きくすること
ができることになる。しかし、これをそのまま採用した
のでは、±１個の計数誤差が常に含まれることを容認し
た保証としかなり得ず、従って、他の何らかの方策によ
ってこの±１個の計数誤差発生を防止することが必要と
なる。
本発明はそのために、ｎ回目の試料追加に際して、ｎ−
１回目までのサンプリングデータ、つまり追加重量Wiと
その個数推定値Niから、２種の単重μＡ，μＢを推定す
るわけである。
１回目までのサンプリングデータ、つまり追加重量Wiと
その個数推定値Niから、２種の単重μＡ，μＢを推定す
るわけである。
すなわち、単重推定値μＡ，μＢの双方でｎ回目の追加
個数を推定し、その結果であるkAとkBが一致するという
条件を付すことにより、上述の±１個の計数誤差発生の
防止策とするわけである。以下、その説明をする。
個数を推定し、その結果であるkAとkBが一致するという
条件を付すことにより、上述の±１個の計数誤差発生の
防止策とするわけである。以下、その説明をする。
今、±１個の計数誤差まで認めた許容追加個数Ｋを求め
たとき、その個数以下の追加に際してその個数が計数誤
差０で推定される確率Ｐは、 である。
たとき、その個数以下の追加に際してその個数が計数誤
差０で推定される確率Ｐは、 である。
ここで、p0；μＡにより計数誤差０で追加 個数が推定される確率 p1；μＡにより計数誤差＋１で追加 個数が推定される確率 p-1；μＡにより計数誤差−１で追加 個数が推定される確率 q0；μＢにより計数誤差０で追加 個数が推定される確率 q1；μＢにより計数誤差＋１で追加 個数が推定される確率 q-1；μＢにより計数誤差−１で追加 個数が推定される確率 である。
μＡおよびμＢそれぞれで推定した結果kAおよびkBが互
いに等しいという条件を付すると、 となる。p1,p-1,q1,q-1はp0,q0に比して充分に小さく、
従って、±１個の計数誤差を許容した許容個数Ｋを求
め、その個数以下の試料を追加したときにkAとkBが等し
ければ、実質的に計数誤差は０であると見なすことがで
きる。
いに等しいという条件を付すると、 となる。p1,p-1,q1,q-1はp0,q0に比して充分に小さく、
従って、±１個の計数誤差を許容した許容個数Ｋを求
め、その個数以下の試料を追加したときにkAとkBが等し
ければ、実質的に計数誤差は０であると見なすことがで
きる。
ところで(17)式は、 となるから、Ｐはp0,q0に関して単調増加であり、 p0≦q0 となるようμＡ，μＢを求めておくと、 となる。
正規分布の３σ（β＝３）に相当するp0とβを求める
と、 から、 p0≧0.9315 ……（21） となり、そのためには、 β≧1.83 ……（22） であれば十分である。逆に、３β≧5.49であるから、±
２個以上の計数誤差の発生する確率は事実上０（正規分
布表より10-5より大きくなることはあり得ない。）であ
る。すなわち、（22）式を満足するｋを（12）式から求
めて、その端数を切捨てる等で許容追加個数Ｋを算出す
ることで、μＡ，μＢによる追加個数推定結果に±２個
以上の計数誤差の含まれる確率は無く、この許容追加個
数Ｋ以下の試料追加時にμＡ，μＢによる追加個数推定
値kA,kBが互いに等しければ、±１個の計数誤差も発生
していないということを保証できる。
と、 から、 p0≧0.9315 ……（21） となり、そのためには、 β≧1.83 ……（22） であれば十分である。逆に、３β≧5.49であるから、±
２個以上の計数誤差の発生する確率は事実上０（正規分
布表より10-5より大きくなることはあり得ない。）であ
る。すなわち、（22）式を満足するｋを（12）式から求
めて、その端数を切捨てる等で許容追加個数Ｋを算出す
ることで、μＡ，μＢによる追加個数推定結果に±２個
以上の計数誤差の含まれる確率は無く、この許容追加個
数Ｋ以下の試料追加時にμＡ，μＢによる追加個数推定
値kA,kBが互いに等しければ、±１個の計数誤差も発生
していないということを保証できる。
〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
荷重検出部１は皿1aに係合する荷重センサおよびＡ−Ｄ
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
荷重検出部１からのデータは、CPU21、ROM22およびRAM2
3等を備えたマイクロコンピュータ２に刻々と採り込ま
れる。このマイクロコンピュータ２には、変動係数CV等
を入力するためのテンキーを主体とするキーボード３
と、試料個数をデジタル表示するための表示器４、およ
び後述する追加個数kBが許容個数Ｋ以下の所定範囲内に
収まっているか否かを報知するための表示灯５が接続さ
れている。
3等を備えたマイクロコンピュータ２に刻々と採り込ま
れる。このマイクロコンピュータ２には、変動係数CV等
を入力するためのテンキーを主体とするキーボード３
と、試料個数をデジタル表示するための表示器４、およ
び後述する追加個数kBが許容個数Ｋ以下の所定範囲内に
収まっているか否かを報知するための表示灯５が接続さ
れている。
RAM23には、ワークエリアのほかに、２種の単重μＡ，
μＢをそれぞれ記憶する単重メモリA,Bとしてのエリ
ア、追加個数の算出値を指令により順次加算格納する総
個数メモリとしてのエリア、皿上の全試料重量を記憶す
るエリア、および前回の追加重量およびその追加個数の
推定値を記憶するサンプリングデータ記憶メモリとして
のエリア等が設定されている。
μＢをそれぞれ記憶する単重メモリA,Bとしてのエリ
ア、追加個数の算出値を指令により順次加算格納する総
個数メモリとしてのエリア、皿上の全試料重量を記憶す
るエリア、および前回の追加重量およびその追加個数の
推定値を記憶するサンプリングデータ記憶メモリとして
のエリア等が設定されている。
第３図はROM22に書き込まれたプログラムのうち、単重
推定ルーチンの内容を示すフローチャートで、この図を
参照しつつ以下に作用を述べる。
推定ルーチンの内容を示すフローチャートで、この図を
参照しつつ以下に作用を述べる。
測定に先立って、測定すべき試料の個々の重量の変動係
数CVをキーボード３から入力する（ST1）。この変動係
数CVは、試料を適当なｍ個だけ抜き取り、その個々の重
量wiの標準偏差σと平均重量から、 によって算出することができ、その結果をキーボード３
から入力すればよい。
数CVをキーボード３から入力する（ST1）。この変動係
数CVは、試料を適当なｍ個だけ抜き取り、その個々の重
量wiの標準偏差σと平均重量から、 によって算出することができ、その結果をキーボード３
から入力すればよい。
次に、試料をあらかじめ設定されたK0個、例えば５個、
だけ皿1a上に載せる（ST2）。このときの荷重データか
ら、皿1a上の試料重量Ｗが公知の手法によって決定さ
れ、RAM23内に記憶される（ST3）。次いで、この重量Ｗ
をK0で除すことによって、最初の単重μＢが算出され
（ST4）、RAM23内の単重メモリＢに格納されると同時
に、総個数メモリにはK0が格納される（ST5）。なお、
総個数メモリの内容は表示器４に表示される。
だけ皿1a上に載せる（ST2）。このときの荷重データか
ら、皿1a上の試料重量Ｗが公知の手法によって決定さ
れ、RAM23内に記憶される（ST3）。次いで、この重量Ｗ
をK0で除すことによって、最初の単重μＢが算出され
（ST4）、RAM23内の単重メモリＢに格納されると同時
に、総個数メモリにはK0が格納される（ST5）。なお、
総個数メモリの内容は表示器４に表示される。
次いで、総個数メモリの内容Ｔと先に入力されている変
動係数CVを用いて、あらかじめ設定されている１に十分
近い確率P0以上で計数誤差の生じない１回目の最大の追
加個数、即ち許容個数K1が算出され、更にそのK1よりも
所定個数、例えば５個だけ少ないＫ′１が求められ、こ
れらはRAM23内に記憶される（ST6）。この１回目の追加
時における許容個数K1については、単重推定値が１個し
か存在しないので、従来と同様の例えば正規分布の３σ
の範囲に基づいて、（12）式のβを３とし、同式のｎを
Ｔ（＝K0）と置くことによって求め、端数を切捨てる等
でK1とすることが望ましい。
動係数CVを用いて、あらかじめ設定されている１に十分
近い確率P0以上で計数誤差の生じない１回目の最大の追
加個数、即ち許容個数K1が算出され、更にそのK1よりも
所定個数、例えば５個だけ少ないＫ′１が求められ、こ
れらはRAM23内に記憶される（ST6）。この１回目の追加
時における許容個数K1については、単重推定値が１個し
か存在しないので、従来と同様の例えば正規分布の３σ
の範囲に基づいて、（12）式のβを３とし、同式のｎを
Ｔ（＝K0）と置くことによって求め、端数を切捨てる等
でK1とすることが望ましい。
次いで作業者が試料を皿1a上に追加すると（ST7）、そ
のときの荷重データから皿1a上の全試料重量が決定され
て記憶され、先に記憶している重量との差W1、つまり第
１回目の追加重量W1が算出される（ST8）。この追加重
量W1を単重メモリＢの内容μＢで除して丸めることによ
り、１回目の追加個数kBが算出される（ST9）。そし
て、このkBがST6で求めたＫ′１以上K1以下であるか否
かが判別され（ST10）、kBがＫ′１未満であればその旨
を、K1を越えていればその旨を、それぞれ表示灯５によ
って報知する（ST11,ST12）。作業者がこの報知に基づ
いて試料の適当個数を追加もしくは除去すると（ST13,S
T14）、ST8へと戻って追加個数の再算出を行なう。
のときの荷重データから皿1a上の全試料重量が決定され
て記憶され、先に記憶している重量との差W1、つまり第
１回目の追加重量W1が算出される（ST8）。この追加重
量W1を単重メモリＢの内容μＢで除して丸めることによ
り、１回目の追加個数kBが算出される（ST9）。そし
て、このkBがST6で求めたＫ′１以上K1以下であるか否
かが判別され（ST10）、kBがＫ′１未満であればその旨
を、K1を越えていればその旨を、それぞれ表示灯５によ
って報知する（ST11,ST12）。作業者がこの報知に基づ
いて試料の適当個数を追加もしくは除去すると（ST13,S
T14）、ST8へと戻って追加個数の再算出を行なう。
kBがＫ′１〜K1の範囲内に収まると、この推定個数k
Bを、総個数メモリに加算格納するとともに（ST15）、
サンプリングデータメモリ内に追加重量W1とともに格納
する（ST16）。そして、２種の単重μＡ，μＢを算出
し、それぞれ単重メモリA,Bに記憶する（ST17）。
Bを、総個数メモリに加算格納するとともに（ST15）、
サンプリングデータメモリ内に追加重量W1とともに格納
する（ST16）。そして、２種の単重μＡ，μＢを算出
し、それぞれ単重メモリA,Bに記憶する（ST17）。
ここで、μＡはサンプリングメモリの内容NsとWsから、 μＡ＝Ws/Ns＝W1/kB ……（24） とし、μＢは総個数メモリの内容とその時点の皿1a上の
全試料重量Ｗから、 μＢ＝W/T＝W/（K0＋kB） ……（25） とする。
全試料重量Ｗから、 μＢ＝W/T＝W/（K0＋kB） ……（25） とする。
次に２回目の許容個数K2を、変動係数CVと、サンプリン
グデータメモリの内容Nsつまり直前の推定個数kBを用い
て算出する（ST18,ST19）。この２回目以降の許容個数K
i（ｉ≧２）は、±１個の計数誤差まで許容する最大の
追加個数であって、前記したように（12）式のβを例え
ば1.83とし、同式のｎをNsと置くことによって算出され
る。このとき、同様にKiより所定の５個だけ少ないKiが
算出され、RAM23内に記憶される。
グデータメモリの内容Nsつまり直前の推定個数kBを用い
て算出する（ST18,ST19）。この２回目以降の許容個数K
i（ｉ≧２）は、±１個の計数誤差まで許容する最大の
追加個数であって、前記したように（12）式のβを例え
ば1.83とし、同式のｎをNsと置くことによって算出され
る。このとき、同様にKiより所定の５個だけ少ないKiが
算出され、RAM23内に記憶される。
この状態で作業者が試料を追加すると（ST20）、同様に
して皿1a上の全試料重量Ｗが決定・記憶され、先の重量
との差Wiが算出される（ST21）。そしてこの追加重量Wi
を、２種の単重推定値μＡ，μＢでそれぞれ除して丸め
ることによって、２種の追加個数kA,kBが求められる（S
T22）。
して皿1a上の全試料重量Ｗが決定・記憶され、先の重量
との差Wiが算出される（ST21）。そしてこの追加重量Wi
を、２種の単重推定値μＡ，μＢでそれぞれ除して丸め
ることによって、２種の追加個数kA,kBが求められる（S
T22）。
次に、この追加個数推定値の一方、例えばkBが、Ｋ′ｉ
〜Kiの範囲に収まっているか否かが判別され（ST23）、
収まっていなければ表示灯５により追加もしくは除去を
指令すべくその旨を表示する（ST24,ST25）。この表示
に基づいて作業者が適当個数の試料の追加もしくは除去
を行なうと（ST26,ST27）、ST21以下へ戻ってkA,kBが再
算出される。
〜Kiの範囲に収まっているか否かが判別され（ST23）、
収まっていなければ表示灯５により追加もしくは除去を
指令すべくその旨を表示する（ST24,ST25）。この表示
に基づいて作業者が適当個数の試料の追加もしくは除去
を行なうと（ST26,ST27）、ST21以下へ戻ってkA,kBが再
算出される。
kBがＫ′ｉ〜Kiの範囲に収まっていれば、次いでkAとkB
が等しいか否かが判別される（ST28）。kAとkBが等しけ
れば、前述したようにその追加個数推定値kB（＝kA）に
計数誤差が無いということであって、正規のサンプリン
グが行えたとしてその値kBを総個数メモリに加算格納す
るとともに（ST29）、サンプリングデータメモリにkB,W
iを格納する（ST30）。
が等しいか否かが判別される（ST28）。kAとkBが等しけ
れば、前述したようにその追加個数推定値kB（＝kA）に
計数誤差が無いということであって、正規のサンプリン
グが行えたとしてその値kBを総個数メモリに加算格納す
るとともに（ST29）、サンプリングデータメモリにkB,W
iを格納する（ST30）。
そして次に、２種の単重μＡ，μＢの更新を行なう（ST
31）。μＡ，μＢは、ｎ回目のサンプリングが終わった
時点で、１〜ｎ回目の追加推定個数をkB1,kB2，……kBi
……kBnとしたとき、 と一般に表すことができる。
31）。μＡ，μＢは、ｎ回目のサンプリングが終わった
時点で、１〜ｎ回目の追加推定個数をkB1,kB2，……kBi
……kBnとしたとき、 と一般に表すことができる。
以上の動作が、単重推定のためのサンプリングが終了す
るまで繰り返される（ST32,ST33）。
るまで繰り返される（ST32,ST33）。
なお、以上の実施例では、Kiより所定個数少ないＫ′ｉ
を算出し、追加個数推定値kBがこのＫ′ｉ〜Kiの範囲内
に収まるまでは次の動作に進まない例を示したが、Ｋ′
ｉを算出せず、kBがKi以下であればよいとすることもで
きる。ただし、次回の追加時における許容個数は、kBが
大きい程、大きくなる。この点に鑑みて、追加個数推定
値がKiと等しくなるよう、試料の追加もしくは除去を報
知するよう構成してもよい。すなわち、表示灯５に代え
て、kBのKiに対する過不足数をデジタル表示する表示器
を設け、kB＝Kiとなるまでは次の動作に進まないように
構成するわけである。このようにすると、次回追加時の
許容個数は最大に採れる。
を算出し、追加個数推定値kBがこのＫ′ｉ〜Kiの範囲内
に収まるまでは次の動作に進まない例を示したが、Ｋ′
ｉを算出せず、kBがKi以下であればよいとすることもで
きる。ただし、次回の追加時における許容個数は、kBが
大きい程、大きくなる。この点に鑑みて、追加個数推定
値がKiと等しくなるよう、試料の追加もしくは除去を報
知するよう構成してもよい。すなわち、表示灯５に代え
て、kBのKiに対する過不足数をデジタル表示する表示器
を設け、kB＝Kiとなるまでは次の動作に進まないように
構成するわけである。このようにすると、次回追加時の
許容個数は最大に採れる。
また、２種の単重μＡ，μＢの推定手法は上述の例に限
られず、例えば、それまでにサンプリングしたデータを
｛k0,W0｝，｛kB1,W1｝，｛kB2,W2｝…｛kBn,Wn｝とし
て、Ｊを｛0,1,……ｎ｝の真部分集合としたとき一方の
μＡを、 として求めることもできる。この場合、サンプリングデ
ータメモリには直前のデータのほか、過去複数回のサン
プリングデータを記憶しておけばよい。
られず、例えば、それまでにサンプリングしたデータを
｛k0,W0｝，｛kB1,W1｝，｛kB2,W2｝…｛kBn,Wn｝とし
て、Ｊを｛0,1,……ｎ｝の真部分集合としたとき一方の
μＡを、 として求めることもできる。この場合、サンプリングデ
ータメモリには直前のデータのほか、過去複数回のサン
プリングデータを記憶しておけばよい。
更に、以上の例ではβ＝1.83として許容個数を求めた
が、この値1.83は従来における正規分布の３σの範囲に
基づく確率Ｐ＝0.9973に対応させたもので、本発明はこ
れに限定されることなく、保証のための確率Ｐを変更す
る場合にはそのＰの値に応じたβを選定すればよいこと
は勿論である。
が、この値1.83は従来における正規分布の３σの範囲に
基づく確率Ｐ＝0.9973に対応させたもので、本発明はこ
れに限定されることなく、保証のための確率Ｐを変更す
る場合にはそのＰの値に応じたβを選定すればよいこと
は勿論である。
更にまた、本発明は、上述したような単重の推定のため
のサンプリング動作を終了した後の、個数の推定ルーチ
ンにおいて、試料重量とその推定個数をも選択的にサン
プリングデータとして採用し、μＡ，μＢあるいは許容
個数の更新を行なうよう構成することができる。
のサンプリング動作を終了した後の、個数の推定ルーチ
ンにおいて、試料重量とその推定個数をも選択的にサン
プリングデータとして採用し、μＡ，μＢあるいは許容
個数の更新を行なうよう構成することができる。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、許容追加個数と
して、従来のように所定確率以上で計数誤差０の保証を
する個数ではなく、例えば±１個の計数誤差までを認め
た個数を算出するとともに、その個数以下の試料追加時
に２種の単重μＡ，μＢを用いて２種の追加個数推定を
行い、双方の推定値が一致したときに限って次の動作へ
と進むよう構成することにより、許容追加個数で許容し
た±１個等の計数誤差の発生が無いことを保証するよう
構成したから、従来の手法に比して許容追加個数を大き
くすることができ、作業能率を向上できる。しかも、計
数誤差の発生は従来手法と同等の確率のもとに保証でき
る。例えば初期載置個数K0を５とし、許容追加個数Kiと
等しい個数の試料が追加されるものとすると、本発明に
おいてβ＝1.83とおいて各回の推定個数に確率0.9973以
上で保証を与えたとき、｛K1,K2,K3,K4｝は、 変動係数0.01では・・・｛34,143,262,330｝ 同じく0.02では・・・・｛16,47,73,85｝ 同じく0.03では・・・・｛10,24,34,38｝ となる。ちなみに、従来の３σの範囲で計数誤差０の保
証を与える考え方では、βを３より小さい2.8程度に採
っても、 変動係数0.02では・・・｛17,31,42,50｝ 同じく0.03では・・・・｛11,17,22,25｝ となる。K2以後の許容追加個数が本発明の考え方で大き
くなっていることが明らかである。
して、従来のように所定確率以上で計数誤差０の保証を
する個数ではなく、例えば±１個の計数誤差までを認め
た個数を算出するとともに、その個数以下の試料追加時
に２種の単重μＡ，μＢを用いて２種の追加個数推定を
行い、双方の推定値が一致したときに限って次の動作へ
と進むよう構成することにより、許容追加個数で許容し
た±１個等の計数誤差の発生が無いことを保証するよう
構成したから、従来の手法に比して許容追加個数を大き
くすることができ、作業能率を向上できる。しかも、計
数誤差の発生は従来手法と同等の確率のもとに保証でき
る。例えば初期載置個数K0を５とし、許容追加個数Kiと
等しい個数の試料が追加されるものとすると、本発明に
おいてβ＝1.83とおいて各回の推定個数に確率0.9973以
上で保証を与えたとき、｛K1,K2,K3,K4｝は、 変動係数0.01では・・・｛34,143,262,330｝ 同じく0.02では・・・・｛16,47,73,85｝ 同じく0.03では・・・・｛10,24,34,38｝ となる。ちなみに、従来の３σの範囲で計数誤差０の保
証を与える考え方では、βを３より小さい2.8程度に採
っても、 変動係数0.02では・・・｛17,31,42,50｝ 同じく0.03では・・・・｛11,17,22,25｝ となる。K2以後の許容追加個数が本発明の考え方で大き
くなっていることが明らかである。
なお、kA,kBが不一致となった場合は本発明において試
料の追加個数を減ずるべく適当個数を除去する必要があ
るが、このkAとkBが一致しない確率はシュミレーション
によると1/11程度でさほど作業能率を低下させるもので
はない。
料の追加個数を減ずるべく適当個数を除去する必要があ
るが、このkAとkBが一致しない確率はシュミレーション
によると1/11程度でさほど作業能率を低下させるもので
はない。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、 第２図は本発明実施例の構成を示すブロック図、 第３図はそのROM22に書き込まれたプログラムを示すフ
ローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 ２……マイクロコンピュータ 21……CPU 22……ROM ３……キーボード ４……表示器 ５……表示灯
ローチャートである。 １……荷重検出部 1a……皿 ２……マイクロコンピュータ 21……CPU 22……ROM ３……キーボード ４……表示器 ５……表示灯
Claims (3)
- 【請求項１】皿上に載せられた荷重を検出する荷重検出
部と、計数すべき試料の２種の単重推定値を記憶する第
１および第２の単重メモリと、上記荷重検出部による検
出値に基づく追加重量を上記第１および第２の単重メモ
リの内容μＡおよびμＢで除して皿上に追加された試料
個数kAおよびkBを推定する追加個数算出手段と、試料の
変動係数を設定する変動係数設定手段と、その設定内容
と上記追加個数算出手段による前回の追加時における算
出結果を用いて、あらかじめ設定された確率以上で所定
個数以内の計数誤差のもとに次の最大の追加個数を推定
し得る許容追加個数算出手段と、その算出された許容個
数と上記追加個数算出手段による今回の推定結果kAもし
くはkBとを比較する第１の比較手段と、上記今回の推定
結果kAとkBを比較する第２の比較手段と、上記追加個数
算出手段とによる前回までの各推定結果とそれぞれに対
応する追加重量に係るデータを記憶するサンプリングデ
ータメモリと、そのサンプリングデータメモリ内の異な
るデータに基づいて２種の単重μＡおよびμＢを推定し
て上記第１および第２の単重メモリの内容を更新する単
重算出手段を備え、上記第１および第２の比較手段によ
る比較結果に基づいて、上記今回の推定結果kAもしくは
kBが上記許容個数以下で、かつ、そのkAとkBが互いに等
しい場合に限り、その今回の推定結果kA（またはkB）と
追加重量を上記サンプリングデータメモリの内容に加え
て上記単重算出手段による単重μＡおよびμＢの推定・
更新を実行するよう構成された電子計数はかり。 - 【請求項２】上記単重μＡおよびμＢが、皿上の全試料
重量を全試料推定個数で除したもの、および、前回の追
加時の追加重量をその推定個数で除したものであること
を特徴とする、特許請求の範囲第１項記載の電子計数は
かり。 - 【請求項３】上記許容追加個数算出手段は、上記確率以
上で計数誤差が±１個以内のもとに次の追加個数を推定
し得る最大の許容個数を算出するよう構成されているこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第１項または第２項記
載の電子計数はかり。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP930388A JPH0758218B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
| EP89300471A EP0325439B1 (en) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Electronic counting balance |
| CN89101833A CN1019998C (zh) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | 电子计数秤 |
| US07/298,567 US4958693A (en) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Electronic counting balance |
| DE68914478T DE68914478T2 (de) | 1988-01-18 | 1989-01-18 | Elektronische Waage zum Zählen. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP930388A JPH0758218B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01184420A JPH01184420A (ja) | 1989-07-24 |
| JPH0758218B2 true JPH0758218B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=11716701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP930388A Expired - Fee Related JPH0758218B2 (ja) | 1988-01-18 | 1988-01-18 | 電子計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0758218B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5794832B2 (ja) * | 2011-06-07 | 2015-10-14 | 大和製衡株式会社 | 電子秤 |
-
1988
- 1988-01-18 JP JP930388A patent/JPH0758218B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01184420A (ja) | 1989-07-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |