JPH0759302B2 - サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置 - Google Patents
サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置Info
- Publication number
- JPH0759302B2 JPH0759302B2 JP63135264A JP13526488A JPH0759302B2 JP H0759302 B2 JPH0759302 B2 JP H0759302B2 JP 63135264 A JP63135264 A JP 63135264A JP 13526488 A JP13526488 A JP 13526488A JP H0759302 B2 JPH0759302 B2 JP H0759302B2
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- JP
- Japan
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- sample
- drying
- loading
- box
- dry box
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- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (産業状の利用分野) 本発明は、各生産者からの穀物を荷受し、乾燥、精選、
貯蔵の各工程を経て出荷するようにした穀物乾燥調整施
設に適用され、その荷受け穀物の一部採取した自主検定
用サンプルを、乾燥のために専用のサンプル乾燥機に搬
入するとともに、乾燥終了後にそのサンプルを排出する
サンプル搬入出装置に関する。
貯蔵の各工程を経て出荷するようにした穀物乾燥調整施
設に適用され、その荷受け穀物の一部採取した自主検定
用サンプルを、乾燥のために専用のサンプル乾燥機に搬
入するとともに、乾燥終了後にそのサンプルを排出する
サンプル搬入出装置に関する。
(従来の技術) 従来、各生産者からの荷受け穀物の一部を採取した自主
検定用サンプルはサンプル箱に収容され、作業者がその
サンプル箱をサンプル乾燥機までいちいち運搬して収納
していた。そして、乾燥が終了すると、そのサンプル箱
をサンプル乾燥機からいちいち取り出し、そのサンプル
の自主検定を行うようにしていた。
検定用サンプルはサンプル箱に収容され、作業者がその
サンプル箱をサンプル乾燥機までいちいち運搬して収納
していた。そして、乾燥が終了すると、そのサンプル箱
をサンプル乾燥機からいちいち取り出し、そのサンプル
の自主検定を行うようにしていた。
(発明が解決しようとする問題点) そのため従来は、自主検定用サンプルをサンプル乾燥機
に収納、およびサンプル乾燥機から排出するための人手
が必要になるという問題が生じていた。
に収納、およびサンプル乾燥機から排出するための人手
が必要になるという問題が生じていた。
そこで、本発明は、このような収納および排出を自動化
し、もって省力化を図ることを目的とする。
し、もって省力化を図ることを目的とする。
(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本発明は、以下のような
構成とした。
構成とした。
すなわち、請求項1にかかる発明は、乾燥室を縦横方向
に多数配列するとともに、その各乾燥室に自主検定用サ
ンプルを入れた乾燥箱を収容してそのサンプルの乾燥を
行うサンプル乾燥機において、 乾燥前の前記サンプルを前記乾燥箱が受け取るサンプル
受取部と、乾燥終了後のサンプルを乾燥箱から排出する
サンプル排出部とをそれぞれ設け、 前記サンプル受取部でサンプルを受け取った乾燥箱を、
そのサンプル受取部から目標の乾燥室の搬入出位置まで
搬送し、その搬入出位置まできたときにその乾燥箱を目
標の乾燥室に搬入するサンプル搬入手段と、 乾燥が終了したサンプルが入っている目標の乾燥箱を乾
燥室からその搬入出位置まで搬出するとともに、その搬
出した乾燥箱をその搬入出位置から前記サンプル排出部
まで搬送し、そのサンプル排出部にきたときにその乾燥
箱内のサンプルを排出するサンプル排出手段と、 を備えてなるものである。
に多数配列するとともに、その各乾燥室に自主検定用サ
ンプルを入れた乾燥箱を収容してそのサンプルの乾燥を
行うサンプル乾燥機において、 乾燥前の前記サンプルを前記乾燥箱が受け取るサンプル
受取部と、乾燥終了後のサンプルを乾燥箱から排出する
サンプル排出部とをそれぞれ設け、 前記サンプル受取部でサンプルを受け取った乾燥箱を、
そのサンプル受取部から目標の乾燥室の搬入出位置まで
搬送し、その搬入出位置まできたときにその乾燥箱を目
標の乾燥室に搬入するサンプル搬入手段と、 乾燥が終了したサンプルが入っている目標の乾燥箱を乾
燥室からその搬入出位置まで搬出するとともに、その搬
出した乾燥箱をその搬入出位置から前記サンプル排出部
まで搬送し、そのサンプル排出部にきたときにその乾燥
箱内のサンプルを排出するサンプル排出手段と、 を備えてなるものである。
また、請求項2にかかる発明は、前記サンプル受取部、
および前記サンプル排出部の各位置を、前記所定の各乾
燥室の前記搬入出位置と一致させてなるものである。
および前記サンプル排出部の各位置を、前記所定の各乾
燥室の前記搬入出位置と一致させてなるものである。
(作用) 請求項1にかかる発明では、第1図で示すようにサンプ
ル受け入れホッパ17に自主検定用サンプルが収容される
と、このサンプルを受け取った乾燥箱3は、サンプル受
取部から目標の乾燥室2の搬入出位置まで搬送され、こ
こでその乾燥箱3は目標の乾燥室2に搬入される。従っ
て、サンプルは乾燥箱3に入ったまま乾燥室2で乾燥さ
れる。
ル受け入れホッパ17に自主検定用サンプルが収容される
と、このサンプルを受け取った乾燥箱3は、サンプル受
取部から目標の乾燥室2の搬入出位置まで搬送され、こ
こでその乾燥箱3は目標の乾燥室2に搬入される。従っ
て、サンプルは乾燥箱3に入ったまま乾燥室2で乾燥さ
れる。
他方、乾燥が終了したサンプルが入っている乾燥箱3
は、乾燥室2からその搬入出位置まで搬出されるととも
に、その搬入出位置からサンプル排出部であるサンプル
排出ホッパ18の上部まで搬送され、ここで乾燥箱3内の
サンプルはサンプル排出ホッパ18内に排出される。
は、乾燥室2からその搬入出位置まで搬出されるととも
に、その搬入出位置からサンプル排出部であるサンプル
排出ホッパ18の上部まで搬送され、ここで乾燥箱3内の
サンプルはサンプル排出ホッパ18内に排出される。
次に、請求項2にかかる発明では、乾燥箱3が乾燥前の
サンプルを受け取るサンプル受取部、および乾燥終了後
のサンプルが入った乾燥箱3からそのサンプル排出する
サンプル排出部の各位置を、例えば第4図に示すように
所定の各乾燥室2の乾燥箱3を搬入または搬出する位置
に一致させるようにしたので、乾燥箱の制御に要するハ
ードウェアやソフトウェアの軽減を図ることができる。
サンプルを受け取るサンプル受取部、および乾燥終了後
のサンプルが入った乾燥箱3からそのサンプル排出する
サンプル排出部の各位置を、例えば第4図に示すように
所定の各乾燥室2の乾燥箱3を搬入または搬出する位置
に一致させるようにしたので、乾燥箱の制御に要するハ
ードウェアやソフトウェアの軽減を図ることができる。
(実施例) 第1図は、本発明実施例の全体の構成を示す斜視図、第
2図はその右側面図である。
2図はその右側面図である。
図において、1はサンプル乾燥機であり、自主検定用サ
ンプルを乾燥する乾燥室2を縦横に多数個形成するとと
もに、この各乾燥室2に底部が網状の乾燥箱3を収容す
る。また、各乾燥室2に収容される各乾燥箱3は、その
底部から上部に向けて熱風が通過し、乾燥箱3内の自主
検定用サンプルが乾燥されるようにする。
ンプルを乾燥する乾燥室2を縦横に多数個形成するとと
もに、この各乾燥室2に底部が網状の乾燥箱3を収容す
る。また、各乾燥室2に収容される各乾燥箱3は、その
底部から上部に向けて熱風が通過し、乾燥箱3内の自主
検定用サンプルが乾燥されるようにする。
4はサンプル乾燥機1の各乾燥室2に自主検定用サンプ
ルを搬入するとともに、乾燥終了後にはその自主検定用
サンプルを乾燥室2から搬出するサンプル搬入出装置で
あり、後述のように各要素から構成する。
ルを搬入するとともに、乾燥終了後にはその自主検定用
サンプルを乾燥室2から搬出するサンプル搬入出装置で
あり、後述のように各要素から構成する。
5A、5Bは上下一対の走行用レールであり、サンプル乾燥
機1の前方上下に、X方向(左右方向)に向けて互いに
平行に配置する。この走行用レール5A、5B上には、滑動
部材6A、6Bを滑動自在にそれぞれ取り付け、この滑動部
材6A、6Bにラック7を取り付ける。
機1の前方上下に、X方向(左右方向)に向けて互いに
平行に配置する。この走行用レール5A、5B上には、滑動
部材6A、6Bを滑動自在にそれぞれ取り付け、この滑動部
材6A、6Bにラック7を取り付ける。
滑動部材6BにはX方向搬送用モータ8を固定し、そのモ
ータ8の軸にギヤ9を取付け、このギヤ9が走行レール
5Bの側面に沿って設けたラック10にかみ合うようにす
る。このような構成により、X方向搬送用モータ8の正
逆回転によってラック7がX方向に移動できる。
ータ8の軸にギヤ9を取付け、このギヤ9が走行レール
5Bの側面に沿って設けたラック10にかみ合うようにす
る。このような構成により、X方向搬送用モータ8の正
逆回転によってラック7がX方向に移動できる。
11はラック7を貫通する通孔を有し、その通孔をラック
7に貫通するとともに、Y方向搬送用モータ12を搭載し
た搬送台である。そして、このモータ12の軸にギヤ13を
取付け、このギヤ13がラック7にかみ合うようにする。
このような構成より、Y方向搬送用モータ12の正逆回転
によって搬送台11がY方向に移動できる。
7に貫通するとともに、Y方向搬送用モータ12を搭載し
た搬送台である。そして、このモータ12の軸にギヤ13を
取付け、このギヤ13がラック7にかみ合うようにする。
このような構成より、Y方向搬送用モータ12の正逆回転
によって搬送台11がY方向に移動できる。
14は搬送台11に搭載し、Z方向(前後方向)に軸14Aが
移動可能なリニアモータであり、この軸14Aの先端に180
゜回転するロータリアクチュエータ15を固定させるとと
もに、さらにその先端に乾燥箱3を吸着する電磁石16を
固定する。従って、電磁石16は180゜回転可能となる。
移動可能なリニアモータであり、この軸14Aの先端に180
゜回転するロータリアクチュエータ15を固定させるとと
もに、さらにその先端に乾燥箱3を吸着する電磁石16を
固定する。従って、電磁石16は180゜回転可能となる。
リニアモータ14の軸14Aには、その軸14Aが前進して乾燥
箱3を吸着したことを検出するリミットスイッチLS1、
およびその軸14Aが後退して元の位置に戻ったことを検
出するリミットスイッチLS2をそれぞれ取付ける。な
お、リニアモータ14に代えてエアシリンダでもよい。
箱3を吸着したことを検出するリミットスイッチLS1、
およびその軸14Aが後退して元の位置に戻ったことを検
出するリミットスイッチLS2をそれぞれ取付ける。な
お、リニアモータ14に代えてエアシリンダでもよい。
17はサンプル乾燥機1の乾燥室2で乾燥する前の自主検
定用サンプルを、いったん受け入れて収容しておくサン
プル受入ホッパである。18はその乾燥室2で乾燥終了後
の自主検定用サンプルを排出するサンプル排出ホッパで
ある。
定用サンプルを、いったん受け入れて収容しておくサン
プル受入ホッパである。18はその乾燥室2で乾燥終了後
の自主検定用サンプルを排出するサンプル排出ホッパで
ある。
次に、このように構成する実施例の制御系について第3
図を参照して説明する。
図を参照して説明する。
図において、20はあらかじめ定められた手順により各部
を制御する制御回路であり、例えば公知のマイクロコン
ピュータなどで構成する。
を制御する制御回路であり、例えば公知のマイクロコン
ピュータなどで構成する。
制御回路20の入力側には、動作の指令を開始する動作指
令部21、リミットスイッチLS1およびLS2の他に、搬送台
11のX方向およびY方向の位置、換言すればモータ8お
よび12の各回転数をそれぞれ検出するX方向位置検出セ
ンサ22、およびY方向位置検出センサ23を接続する。な
お、動作指令部21を特に設けず、図示しないサンプル採
取装置からのサンプル採取完了信号を入力するようにし
てもよい。
令部21、リミットスイッチLS1およびLS2の他に、搬送台
11のX方向およびY方向の位置、換言すればモータ8お
よび12の各回転数をそれぞれ検出するX方向位置検出セ
ンサ22、およびY方向位置検出センサ23を接続する。な
お、動作指令部21を特に設けず、図示しないサンプル採
取装置からのサンプル採取完了信号を入力するようにし
てもよい。
また、制御回路20の出力側には、各モータ8、12および
14をそれぞれ駆動するモータ駆動回路24〜26を接続する
とともに、電磁石16を接続する。
14をそれぞれ駆動するモータ駆動回路24〜26を接続する
とともに、電磁石16を接続する。
次に、このように構成する実施例の動作例について説明
する。
する。
ここで、搬送台11の定位置を第1図に示す位置とし、こ
の定位置を原点としてサンプル乾燥機1の各乾燥室2に
対応する各位置などをXY座標であらかじめ特定しておく
ものとする。
の定位置を原点としてサンプル乾燥機1の各乾燥室2に
対応する各位置などをXY座標であらかじめ特定しておく
ものとする。
いま、サンプル採取装置で採取された自主検定用サンプ
ルが、サンプル受けホッパ17に収容されると、定位置で
待機する搬送台11は、目標の乾燥室2の搬入出位置まで
X方向搬送モータ8およびY方向搬送モータ12の駆動に
よって移動する。ここで、目標の乾燥室2は座標であら
かじめ特定されているので、これにより、搬送台11のX
方向およびY方向の移動量もわかるので、その移動量に
応じてモータ8およびモータ12は回転する。
ルが、サンプル受けホッパ17に収容されると、定位置で
待機する搬送台11は、目標の乾燥室2の搬入出位置まで
X方向搬送モータ8およびY方向搬送モータ12の駆動に
よって移動する。ここで、目標の乾燥室2は座標であら
かじめ特定されているので、これにより、搬送台11のX
方向およびY方向の移動量もわかるので、その移動量に
応じてモータ8およびモータ12は回転する。
そして、目標の乾燥室2の搬入出位置で搬送台11が停止
すると、次にリニアモータ14が駆動してその軸14Aが前
進を開始し、リミットスイッチLSIが作動すると停止す
る。ここで、軸14Aの先端に設けた電磁石16と空の乾燥
箱3が接触状態となり、電磁石16が通電されると、乾燥
箱3が電磁石16に吸着される。
すると、次にリニアモータ14が駆動してその軸14Aが前
進を開始し、リミットスイッチLSIが作動すると停止す
る。ここで、軸14Aの先端に設けた電磁石16と空の乾燥
箱3が接触状態となり、電磁石16が通電されると、乾燥
箱3が電磁石16に吸着される。
この状態でリニアモータ14が駆動してその軸14Aが後退
を開始し、リミットスイッチLS2が作動すると第2図に
示す状態で停止する。
を開始し、リミットスイッチLS2が作動すると第2図に
示す状態で停止する。
次に、空の乾燥箱3は、搬送台11の移動によってサンプ
ル受入ホッパ17に向けて搬送され、そのホッパ17の真下
の位置で停止する。ここで、ホッパ17の排出弁が開き、
その乾燥箱3内に自主検定用サンプルが投入される。
ル受入ホッパ17に向けて搬送され、そのホッパ17の真下
の位置で停止する。ここで、ホッパ17の排出弁が開き、
その乾燥箱3内に自主検定用サンプルが投入される。
その投入が終了すると、乾燥箱3は再び上述した目標の
乾燥室2まで搬送台11で搬送され、ここでリニアモータ
14の軸14Aが進出して乾燥箱3は乾燥室2に収容される
と、電磁石16の通電が解かれて軸14Aが後退する。その
後、搬送台11は定位置まで移動し、ここで待機状態とな
る。
乾燥室2まで搬送台11で搬送され、ここでリニアモータ
14の軸14Aが進出して乾燥箱3は乾燥室2に収容される
と、電磁石16の通電が解かれて軸14Aが後退する。その
後、搬送台11は定位置まで移動し、ここで待機状態とな
る。
このような一連の動作によって、サンプル受けホッパ17
内に収容された自主検定用サンプルは、乾燥箱3に投入
されたのち目標の乾燥室2内に順次収容されていき、そ
の各サンプルは乾燥される。
内に収容された自主検定用サンプルは、乾燥箱3に投入
されたのち目標の乾燥室2内に順次収容されていき、そ
の各サンプルは乾燥される。
そして、自主検定用サンプルの乾燥が終了すると、搬送
台11は、その目標の乾燥室2の搬入出位置に向けて移動
を開始し、その位置で停止する。ここで、リニアモータ
14を駆動するとともに電磁石16を通電し、乾燥が終了し
たサンプルが入っている乾燥箱3を吸着して乾燥室2か
ら引き出す。
台11は、その目標の乾燥室2の搬入出位置に向けて移動
を開始し、その位置で停止する。ここで、リニアモータ
14を駆動するとともに電磁石16を通電し、乾燥が終了し
たサンプルが入っている乾燥箱3を吸着して乾燥室2か
ら引き出す。
次に、この乾燥箱3を、搬送台11の移動によってサンプ
ル排出ホッパ18に向けて搬送し、そのホッパ18の入口に
のぞむ位置で停止する。ここで、ロータリアクチュエー
タ15が180゜回転すると、これに一体の乾燥箱3は180゜
回転するので乾燥済みのサンプルはサンプル排出ホッパ
18内に投入される。このホッパ18内に投入されたサンプ
ルは、次工程において自主検定に供される。
ル排出ホッパ18に向けて搬送し、そのホッパ18の入口に
のぞむ位置で停止する。ここで、ロータリアクチュエー
タ15が180゜回転すると、これに一体の乾燥箱3は180゜
回転するので乾燥済みのサンプルはサンプル排出ホッパ
18内に投入される。このホッパ18内に投入されたサンプ
ルは、次工程において自主検定に供される。
次に、本発明の他の実施例について第4図を参照して説
明する。
明する。
この実施例は、第1図と同様にサンプル乾燥機1を構成
するとともに、その各乾燥室2の位置をX,Y座標で図示
のように特定するようにしたものである。
するとともに、その各乾燥室2の位置をX,Y座標で図示
のように特定するようにしたものである。
また、この実施例では、乾燥箱3が乾燥前のサンプルを
受け取るサンプル受取部を、例えば座標(X1,Y1)で特
定される所定の乾燥室2の搬入出位置に一致させるよう
にし、さらにこの位置の真上にサンプル受入れホッパ17
を設けてその排出口をその搬入出位置にのぞませる。
受け取るサンプル受取部を、例えば座標(X1,Y1)で特
定される所定の乾燥室2の搬入出位置に一致させるよう
にし、さらにこの位置の真上にサンプル受入れホッパ17
を設けてその排出口をその搬入出位置にのぞませる。
さらに、この実施例では、乾燥終了後のサンプルが入っ
た乾燥箱3からそのサンプルを排出するサンプル排出部
を、例えば座標(X16,Y5)で特定される所定の乾燥室2
の搬入出位置に一致させるようにし、さらにこの位置の
真下にサンプル排出ホッパ18を設けてその受け入れ口を
その搬入出位置にのぞませる。
た乾燥箱3からそのサンプルを排出するサンプル排出部
を、例えば座標(X16,Y5)で特定される所定の乾燥室2
の搬入出位置に一致させるようにし、さらにこの位置の
真下にサンプル排出ホッパ18を設けてその受け入れ口を
その搬入出位置にのぞませる。
このように構成すると、搬送台11の移動範囲が乾燥室2
の配列個数の範囲に限定され、その範囲で移動するよう
に制御すればよいので、第1図の実施例に比べて制御が
容易となるとともに、ソフトウェアやハードウェアに要
するコストも低減できる。
の配列個数の範囲に限定され、その範囲で移動するよう
に制御すればよいので、第1図の実施例に比べて制御が
容易となるとともに、ソフトウェアやハードウェアに要
するコストも低減できる。
(発明の効果) 以上のように請求項1にかかる発明では、自主検定用サ
ンプルをサンプル乾燥機の乾燥室に人手によらずに搬入
するようにするとともに、乾燥終了後には乾燥室から搬
出するようにしたので、自主検定用サンプルを乾燥する
際の省力化を達成することができる。
ンプルをサンプル乾燥機の乾燥室に人手によらずに搬入
するようにするとともに、乾燥終了後には乾燥室から搬
出するようにしたので、自主検定用サンプルを乾燥する
際の省力化を達成することができる。
また、請求項2にかかる発明では、サンプル受取部およ
びサンプル排出部の各位置を、所定の乾燥室の搬入出位
置と一致させるようにしたので、乾燥箱の制御に要する
ハードウェアやソフトウェアが軽減でき、もってそれら
の費用を軽減することができる。
びサンプル排出部の各位置を、所定の乾燥室の搬入出位
置と一致させるようにしたので、乾燥箱の制御に要する
ハードウェアやソフトウェアが軽減でき、もってそれら
の費用を軽減することができる。
第1図は本発明実施例の全体斜視図、第2図はその右側
面図、第3図はその制御系のブロック図、第4図は本発
明の他の実施例を説明する図である。 1はサンプル乾燥機、2は乾燥室、3は乾燥箱、4はサ
ンプル搬入出装置、8はX方向搬送用モータ、11は搬送
台、12はY方向搬送用モータ、14はリニアモータ、15は
ロータリアクチュエータ、16は電磁石、17はサンプル受
け入れホッパ、18はサンプル排出ホッパ、20は制御回
路。
面図、第3図はその制御系のブロック図、第4図は本発
明の他の実施例を説明する図である。 1はサンプル乾燥機、2は乾燥室、3は乾燥箱、4はサ
ンプル搬入出装置、8はX方向搬送用モータ、11は搬送
台、12はY方向搬送用モータ、14はリニアモータ、15は
ロータリアクチュエータ、16は電磁石、17はサンプル受
け入れホッパ、18はサンプル排出ホッパ、20は制御回
路。
Claims (2)
- 【請求項1】乾燥室を縦横方向に多数配列するととも
に、その各乾燥室に自主検定用サンプルを入れた乾燥箱
を収容してそのサンプルの乾燥を行うサンプル乾燥機に
おいて、 乾燥前の前記サンプルを前記乾燥箱が受け取るサンプル
受取部と、乾燥終了後のサンプルを乾燥箱から排出する
サンプル排出部とをそれぞれ設け、 前記サンプル受取部でサンプルを受け取った乾燥箱を、
そのサンプル受取部から目標の乾燥室の搬入出位置まで
搬送し、その搬入出位置まできたときにその乾燥箱を目
標の乾燥室に搬入するサンプル搬入手段と、 乾燥が終了したサンプルが入っている目標の乾燥箱を乾
燥室からその搬入出位置まで搬出するとともに、その搬
出した乾燥箱をその搬入出位置から前記サンプル排出部
まで搬送し、そのサンプル排出部にきたときにその乾燥
箱内のサンプルを排出するサンプル搬出手段と、 を備えてなるサンプル搬入出装置。 - 【請求項2】前記サンプル受取部、および前記サンプル
排出部の各位置を、前記所定の各乾燥室の前記搬入出位
置と一致させてなる請求項1記載のサンプル乾燥機にお
けるサンプル搬入出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135264A JPH0759302B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63135264A JPH0759302B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8124362A Division JP2776371B2 (ja) | 1996-05-20 | 1996-05-20 | サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01304053A JPH01304053A (ja) | 1989-12-07 |
| JPH0759302B2 true JPH0759302B2 (ja) | 1995-06-28 |
Family
ID=15147636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63135264A Expired - Lifetime JPH0759302B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | サンプル乾燥機におけるサンプル搬入出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0759302B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62138195U (ja) * | 1986-02-21 | 1987-08-31 | ||
| JPH06104201B2 (ja) * | 1986-03-31 | 1994-12-21 | ヤンマー農機株式会社 | 穀物用テストドライヤ |
-
1988
- 1988-06-01 JP JP63135264A patent/JPH0759302B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01304053A (ja) | 1989-12-07 |
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