JPH0765323A - 磁気抵抗効果型磁気ヘッド - Google Patents
磁気抵抗効果型磁気ヘッドInfo
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- JPH0765323A JPH0765323A JP20734793A JP20734793A JPH0765323A JP H0765323 A JPH0765323 A JP H0765323A JP 20734793 A JP20734793 A JP 20734793A JP 20734793 A JP20734793 A JP 20734793A JP H0765323 A JPH0765323 A JP H0765323A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 MR素子に印加するバイアス磁界の分布を良
好なものとすることにより、バイアス導体に通電する電
流をより少なくして発熱を低減せしめ、ヘッドの内部温
度上昇による性能,信頼性の低下を抑える。 【構成】 先端電極4と後端電極が積層されたMR素子
6を一対の下部シールド磁性体2と上部シールド磁性体
3とで挟み込んでなるMRヘッドにおいて、上部シール
ド磁性体3の傾斜部13に段差を設ける。
好なものとすることにより、バイアス導体に通電する電
流をより少なくして発熱を低減せしめ、ヘッドの内部温
度上昇による性能,信頼性の低下を抑える。 【構成】 先端電極4と後端電極が積層されたMR素子
6を一対の下部シールド磁性体2と上部シールド磁性体
3とで挟み込んでなるMRヘッドにおいて、上部シール
ド磁性体3の傾斜部13に段差を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば磁気ディスクや
磁気テープ等の如き磁気記録媒体に記録された情報を読
み出すのに好適な磁気抵抗効果型磁気ヘッドに関する。
磁気テープ等の如き磁気記録媒体に記録された情報を読
み出すのに好適な磁気抵抗効果型磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気抵抗効果を有するパーマロイ
等の薄膜素子を用いた磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)の開発が盛んに進められて
いる。
等の薄膜素子を用いた磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)の開発が盛んに進められて
いる。
【0003】かかるMRヘッドは、例えば磁気ディスク
や磁気テープ等の如き磁気記録媒体から洩れ出る信号磁
界によりパーマロイよりなる薄膜素子の抵抗が変化し、
その抵抗変化を検出することによって上記磁気記録媒体
に記録された情報を読み取ることができるように構成さ
れている。
や磁気テープ等の如き磁気記録媒体から洩れ出る信号磁
界によりパーマロイよりなる薄膜素子の抵抗が変化し、
その抵抗変化を検出することによって上記磁気記録媒体
に記録された情報を読み取ることができるように構成さ
れている。
【0004】このようなMRヘッドは、通常の電磁誘導
型磁気ヘッドに比べて、短波長感度に優れることから、
狭トラック再生、短波長再生、超低速再生において高い
感度が得られるとされている。
型磁気ヘッドに比べて、短波長感度に優れることから、
狭トラック再生、短波長再生、超低速再生において高い
感度が得られるとされている。
【0005】ここで、簡単にMRヘッドの動作原理につ
いて説明する。MRヘッドは、一軸異方性を付与したパ
ーマロイ等の磁気抵抗効果素子(以下、MR素子と称す
る。)の両端に非磁性且つ導電性を有する材料からなる
一対の電極が設けられ、このMR素子にセンス電流が通
電されるようになされている。このMR素子内を磁気記
録媒体からの磁界が通過することによりその抵抗値が変
化することを考えると、その抵抗値は前記電極間で検知
でき、その変化も検知できる。
いて説明する。MRヘッドは、一軸異方性を付与したパ
ーマロイ等の磁気抵抗効果素子(以下、MR素子と称す
る。)の両端に非磁性且つ導電性を有する材料からなる
一対の電極が設けられ、このMR素子にセンス電流が通
電されるようになされている。このMR素子内を磁気記
録媒体からの磁界が通過することによりその抵抗値が変
化することを考えると、その抵抗値は前記電極間で検知
でき、その変化も検知できる。
【0006】通常の読み出しヘッドの目的は、磁気→電
圧変換であるから、一般にはこの変化を前記電極間に定
電流(センス電流)を流すことにより、電圧の変化とし
て取り出している。
圧変換であるから、一般にはこの変化を前記電極間に定
電流(センス電流)を流すことにより、電圧の変化とし
て取り出している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、MR素子に
磁界を印加したときの印加磁界Hと比抵抗変化率Δρ/
ρとの関係は、例えば図8に示すような変化を呈するた
め、印加磁界と比抵抗変化率との関係の直線性を良くす
るためにバイアス磁界HBを印加して動作点をP点に設
定する必要がある。
磁界を印加したときの印加磁界Hと比抵抗変化率Δρ/
ρとの関係は、例えば図8に示すような変化を呈するた
め、印加磁界と比抵抗変化率との関係の直線性を良くす
るためにバイアス磁界HBを印加して動作点をP点に設
定する必要がある。
【0008】MR素子にバイアス磁界を印加する方法と
しては、例えば導電体層(バイアス導体)に電流を通電
する電流磁界方式、高坑磁力磁性材料(磁石等)をMR
素子に近接又は波接触させるハード膜バイアス方式等が
挙げられる。
しては、例えば導電体層(バイアス導体)に電流を通電
する電流磁界方式、高坑磁力磁性材料(磁石等)をMR
素子に近接又は波接触させるハード膜バイアス方式等が
挙げられる。
【0009】しかし、高坑磁力磁性材料を用いるハード
膜バイアス方式では、バイアス磁界を精密に制御し難い
欠点がある。一方、電流磁界方式は、導電体層への電流
の大きさを変えることによりバイアス磁界の強度を制御
することはできるものの、MR素子に印加されるバイア
ス磁界の分布が悪いためにバイアスの効率が低く、導電
体層に大きな電流を流すことが必要となり、これによる
発熱のためのヘッド特性並びに信頼性の低下が起こる。
膜バイアス方式では、バイアス磁界を精密に制御し難い
欠点がある。一方、電流磁界方式は、導電体層への電流
の大きさを変えることによりバイアス磁界の強度を制御
することはできるものの、MR素子に印加されるバイア
ス磁界の分布が悪いためにバイアスの効率が低く、導電
体層に大きな電流を流すことが必要となり、これによる
発熱のためのヘッド特性並びに信頼性の低下が起こる。
【0010】そこで本発明は、かかる従来の技術的な課
題に鑑みて提案されたものであって、MR素子に印加す
るバイアス磁界の分布を良好なものとして、バイアス導
体に通電する電流をより少なくして発熱を低減せしめ、
ヘッドの内部温度上昇による性能,信頼性の低下を抑え
ることのできるMRヘッドを提供することを目的とす
る。
題に鑑みて提案されたものであって、MR素子に印加す
るバイアス磁界の分布を良好なものとして、バイアス導
体に通電する電流をより少なくして発熱を低減せしめ、
ヘッドの内部温度上昇による性能,信頼性の低下を抑え
ることのできるMRヘッドを提供することを目的とす
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、磁気記録媒体との対接面に対してその
長手方向が垂直となるように配される磁気抵抗効果素子
と、上記磁気抵抗効果素子の前後にそれぞれ積層される
電極と、上記磁気抵抗効果素子上に絶縁層を介してこの
磁気抵抗効果素子にバイアス磁界を印加するバイアス導
体と、上記前後の電極が積層された磁気抵抗効果素子及
びバイアス導体を挟み込む上部シールド磁性体と下部シ
ールド磁性体とを備えてなり、上部シールド磁性体の対
接面側に設けられる傾斜部に段差が形成されていること
を特徴とする。
めに、本発明は、磁気記録媒体との対接面に対してその
長手方向が垂直となるように配される磁気抵抗効果素子
と、上記磁気抵抗効果素子の前後にそれぞれ積層される
電極と、上記磁気抵抗効果素子上に絶縁層を介してこの
磁気抵抗効果素子にバイアス磁界を印加するバイアス導
体と、上記前後の電極が積層された磁気抵抗効果素子及
びバイアス導体を挟み込む上部シールド磁性体と下部シ
ールド磁性体とを備えてなり、上部シールド磁性体の対
接面側に設けられる傾斜部に段差が形成されていること
を特徴とする。
【0012】請求項1記載の磁気抵抗効果型磁気ヘッド
において、対接面と垂直な方向の段差の幅が0.5μm
〜2μmであり、対接面と平行な方向の高さが0.2μ
m〜1μmであることを特徴とする。
において、対接面と垂直な方向の段差の幅が0.5μm
〜2μmであり、対接面と平行な方向の高さが0.2μ
m〜1μmであることを特徴とする。
【0013】
【作用】本発明に係るMRヘッドにおいては、上部シー
ルド磁性体の対接面側に設けられる傾斜部に段差が形成
されているので、この段差部分ではMR素子と上部シー
ルド磁性体との間隔が狭くなり、その結果、かかる段差
部分からもMR素子にバイアス磁界が印加されることに
なる。したがって、磁気ギャップ部よりバイアス導体直
下に至るまでMR素子に略均一なバイアス磁界が印加さ
れる。
ルド磁性体の対接面側に設けられる傾斜部に段差が形成
されているので、この段差部分ではMR素子と上部シー
ルド磁性体との間隔が狭くなり、その結果、かかる段差
部分からもMR素子にバイアス磁界が印加されることに
なる。したがって、磁気ギャップ部よりバイアス導体直
下に至るまでMR素子に略均一なバイアス磁界が印加さ
れる。
【0014】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例のM
Rヘッドにおいては、図1に示すように、例えばセラミ
ックスやガラス等の非磁性材料からなる基板1上に所定
間隔を持って積層されてなる一対のシールド磁性体2,
3を有し、このシールド磁性体2,3間に先端電極4と
後端電極5が積層されてなるMR素子6と、このMR素
子6にバイアス磁界を印加するバイアス導体7が設けら
れて構成されている。
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例のM
Rヘッドにおいては、図1に示すように、例えばセラミ
ックスやガラス等の非磁性材料からなる基板1上に所定
間隔を持って積層されてなる一対のシールド磁性体2,
3を有し、このシールド磁性体2,3間に先端電極4と
後端電極5が積層されてなるMR素子6と、このMR素
子6にバイアス磁界を印加するバイアス導体7が設けら
れて構成されている。
【0015】なお以下、下層に形成されるシールド磁性
体2を下部シールド磁性体2と、上層に形成されるシー
ルド磁性体3を上部シールド磁性体3と称する。
体2を下部シールド磁性体2と、上層に形成されるシー
ルド磁性体3を上部シールド磁性体3と称する。
【0016】MR素子6は、例えば平面形状が略長方形
パターンとして形成され、その長手方向が磁気記録媒体
8との対接面9(以下、ABS面9と称する。)に対し
て垂直となるように設けられている。また、このMR素
子6の先端側の一側縁は、上記ABS面9に臨むように
なされている。
パターンとして形成され、その長手方向が磁気記録媒体
8との対接面9(以下、ABS面9と称する。)に対し
て垂直となるように設けられている。また、このMR素
子6の先端側の一側縁は、上記ABS面9に臨むように
なされている。
【0017】かかるMR素子6は、例えばパーマロイ等
の強磁性体薄膜からなり、下部シールド磁性体2上に設
けられた第1の絶縁層10上に蒸着やスパッタ等の真空
薄膜形成手段によって形成されている。このMR素子6
と下部シールド磁性体2間に挟まされた第1の絶縁層1
0は、ABS面9側において再生ギャップとして機能す
る第1の磁気ギャップg1 のギャップ膜として機能する
ようになっている。したがって、この第1の絶縁層10
としては、例えばSiO2 やAl2 O3 等の非磁性且つ
非導電性を有する絶縁材料から形成されている。
の強磁性体薄膜からなり、下部シールド磁性体2上に設
けられた第1の絶縁層10上に蒸着やスパッタ等の真空
薄膜形成手段によって形成されている。このMR素子6
と下部シールド磁性体2間に挟まされた第1の絶縁層1
0は、ABS面9側において再生ギャップとして機能す
る第1の磁気ギャップg1 のギャップ膜として機能する
ようになっている。したがって、この第1の絶縁層10
としては、例えばSiO2 やAl2 O3 等の非磁性且つ
非導電性を有する絶縁材料から形成されている。
【0018】また、上記MR素子6は、パーマロイより
なるMR薄膜の単層膜であってもよいが、例えばSiO
2 等よりなる非磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する
一対のMR薄膜を積層するようにしてもよい。積層膜構
造とすることによって、バルクハウゼンノイズの発生が
回避できる。
なるMR薄膜の単層膜であってもよいが、例えばSiO
2 等よりなる非磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する
一対のMR薄膜を積層するようにしてもよい。積層膜構
造とすることによって、バルクハウゼンノイズの発生が
回避できる。
【0019】先端電極4は、一側縁がABS面9に臨む
ようにしてMR素子6の先端部に直接積層され、このM
R素子6と電気的に接続されるようになっている。かか
る先端電極4は、MR素子6にセンス電流を通電させ、
また再生ギャップとしての第2の磁気ギャップg2 のギ
ャップ膜としても機能することから、例えばTiやCr
等の非磁性且つ導電性を有する材料から形成されてい
る。
ようにしてMR素子6の先端部に直接積層され、このM
R素子6と電気的に接続されるようになっている。かか
る先端電極4は、MR素子6にセンス電流を通電させ、
また再生ギャップとしての第2の磁気ギャップg2 のギ
ャップ膜としても機能することから、例えばTiやCr
等の非磁性且つ導電性を有する材料から形成されてい
る。
【0020】一方、後端電極5は、MR素子6の後端側
にこのMR素子6に対して直接積層されると共に、該M
R素子6上に設けられる第2の絶縁層11上にその一部
が積層されるようになっている。かかる後端電極5は、
非磁性且つ導電性を有する材料によって形成されてい
る。
にこのMR素子6に対して直接積層されると共に、該M
R素子6上に設けられる第2の絶縁層11上にその一部
が積層されるようになっている。かかる後端電極5は、
非磁性且つ導電性を有する材料によって形成されてい
る。
【0021】上記バイアス導体7は、非磁性且つ導電性
を有する材料からなり、先端電極4と後端電極5の間で
あって、上記MR素子6上に設けられた第2の絶縁層1
1上に形成されている。このバイアス導体7は、上記M
R素子6の長手方向に対し略直交する方向(紙面と垂直
な方向)に設けられ、その両端子部に直流電源からのバ
イアス電流が通電されるようになされている。このた
め、直流電流は配線パターンの長手方向であるトラック
幅方向に流れることになり、上記ABS面9と垂直な方
向であるMR素子6の長手方向に亘ってバイアス磁界が
印加されるようになっている。
を有する材料からなり、先端電極4と後端電極5の間で
あって、上記MR素子6上に設けられた第2の絶縁層1
1上に形成されている。このバイアス導体7は、上記M
R素子6の長手方向に対し略直交する方向(紙面と垂直
な方向)に設けられ、その両端子部に直流電源からのバ
イアス電流が通電されるようになされている。このた
め、直流電流は配線パターンの長手方向であるトラック
幅方向に流れることになり、上記ABS面9と垂直な方
向であるMR素子6の長手方向に亘ってバイアス磁界が
印加されるようになっている。
【0022】上記下部シールド磁性体2は、上部シール
ド磁性体3とによってMR素子6から離れた位置の磁気
記録媒体8からの磁界の影響を受けないようにするため
のものである。かかる下部シールド磁性体2は、例えば
パーマロイ等の強磁性材料からなり、上記基板1上に蒸
着やスパッタリング或いはメッキ等の手法によって形成
されている。そして、この下部シールド磁性体2は、上
記ABS面9にその一側縁を臨ませるようにして、この
ABS面9に対して垂直方向に延在して設けられてい
る。
ド磁性体3とによってMR素子6から離れた位置の磁気
記録媒体8からの磁界の影響を受けないようにするため
のものである。かかる下部シールド磁性体2は、例えば
パーマロイ等の強磁性材料からなり、上記基板1上に蒸
着やスパッタリング或いはメッキ等の手法によって形成
されている。そして、この下部シールド磁性体2は、上
記ABS面9にその一側縁を臨ませるようにして、この
ABS面9に対して垂直方向に延在して設けられてい
る。
【0023】一方、上部シールド磁性体3は、下部シー
ルド磁性体2と同様にABS面9にその一端縁を臨ませ
るようにしてこのABS面9に対して垂直方向に延在し
て設けられている。また、この上部シールド磁性体3
は、ABS面9側で先端電極4に対して直接積層される
と共に、中央部でバイアス導体7を覆って設けられる第
3の絶縁層12を介して積層され、且つバック側で下部
シールド磁性体2と直接接触するようになっている。
ルド磁性体2と同様にABS面9にその一端縁を臨ませ
るようにしてこのABS面9に対して垂直方向に延在し
て設けられている。また、この上部シールド磁性体3
は、ABS面9側で先端電極4に対して直接積層される
と共に、中央部でバイアス導体7を覆って設けられる第
3の絶縁層12を介して積層され、且つバック側で下部
シールド磁性体2と直接接触するようになっている。
【0024】また、この上部シールド磁性体3は、AB
S面9側においてバイアス導体7との接触を防止する等
の目的で傾斜部13を有している。かかる傾斜部13
は、第1及び第2の磁気ギャップg1 ,g2 のデプスD
pにおけるデプス零位置X1 からバイアス導体7を覆っ
て設けられる第3の絶縁層12の先端位置X2 に亘る領
域Lに設けられいている。
S面9側においてバイアス導体7との接触を防止する等
の目的で傾斜部13を有している。かかる傾斜部13
は、第1及び第2の磁気ギャップg1 ,g2 のデプスD
pにおけるデプス零位置X1 からバイアス導体7を覆っ
て設けられる第3の絶縁層12の先端位置X2 に亘る領
域Lに設けられいている。
【0025】そして特に、本実施例のMRヘッドにおい
ては、磁気ギャップ部とバイアス導体7間のMR素子6
部分にバイアス磁界を均一に印加するために、上記傾斜
部13に段差を形成している。かかる段差は、図2に示
すように、デプス零位置X1より後方の斜め上方に向か
って傾斜する傾斜面14と、この傾斜面14の後端縁に
連続して設けられMR素子6と平行な平坦面15とを有
している。
ては、磁気ギャップ部とバイアス導体7間のMR素子6
部分にバイアス磁界を均一に印加するために、上記傾斜
部13に段差を形成している。かかる段差は、図2に示
すように、デプス零位置X1より後方の斜め上方に向か
って傾斜する傾斜面14と、この傾斜面14の後端縁に
連続して設けられMR素子6と平行な平坦面15とを有
している。
【0026】これら傾斜面14と平坦面15とからなる
段差は、通常バイアス磁界が劣化する磁気ギャップ部と
バイアス導体7間の傾斜部13に積極的にバイアス磁界
を印加させることにより、これら磁気ギャップ部からバ
イアス導体直下に亘り均一なバイアス磁界を印加するた
めに、そのABS面9と垂直な方向における幅Wが0.
5μm〜2μmとされ、またABS面9と平行な方向の
高さHが0.2μm〜1μmとされている。
段差は、通常バイアス磁界が劣化する磁気ギャップ部と
バイアス導体7間の傾斜部13に積極的にバイアス磁界
を印加させることにより、これら磁気ギャップ部からバ
イアス導体直下に亘り均一なバイアス磁界を印加するた
めに、そのABS面9と垂直な方向における幅Wが0.
5μm〜2μmとされ、またABS面9と平行な方向の
高さHが0.2μm〜1μmとされている。
【0027】なお、上部シールド磁性体3の上には、M
Rヘッドを保護するための保護層16が形成されてい
る。かかる保護層16は、例えばSiO2 やAl2 O3
等の非磁性且つ非導電性を有する材料から形成されてい
る。
Rヘッドを保護するための保護層16が形成されてい
る。かかる保護層16は、例えばSiO2 やAl2 O3
等の非磁性且つ非導電性を有する材料から形成されてい
る。
【0028】上記のように上部シールド磁性体3の傾斜
部13に段差を設ければ、磁気ギャップ部からバイアス
導体直下までバイアス磁界を均一なものとなすことがで
き、その結果としてバイアス導体7に通電する電流を少
なくすることができることにより、ヘッドの内部温度上
昇による性能、信頼性の低下を抑えることができる。ま
た、バイアス磁界が適度に印加された部分の範囲が広が
ることにより、再生時の出力が向上する。
部13に段差を設ければ、磁気ギャップ部からバイアス
導体直下までバイアス磁界を均一なものとなすことがで
き、その結果としてバイアス導体7に通電する電流を少
なくすることができることにより、ヘッドの内部温度上
昇による性能、信頼性の低下を抑えることができる。ま
た、バイアス磁界が適度に印加された部分の範囲が広が
ることにより、再生時の出力が向上する。
【0029】傾斜部13に段差を設けることによって、
上記した効果が得られる理由については、以下の通りで
ある。磁気記録媒体8からの信号磁界は、MR素子6の
先端から素子内に入るが、その全てが素子の後端部まで
達するわけではなく、徐々にシールド磁性体2,3へと
漏洩して行く。このため、MR素子6のうち再生出力に
関与する割合は先端部(ABS面9の近傍部分)に近い
程大きく、後端部付近ではその影響はそれ程大きくな
い。したがって、MR素子6にバイアス磁界を印加する
場合、再生出力への影響が大きい素子先端部に適度なバ
イアス磁界を印加することが重要である。
上記した効果が得られる理由については、以下の通りで
ある。磁気記録媒体8からの信号磁界は、MR素子6の
先端から素子内に入るが、その全てが素子の後端部まで
達するわけではなく、徐々にシールド磁性体2,3へと
漏洩して行く。このため、MR素子6のうち再生出力に
関与する割合は先端部(ABS面9の近傍部分)に近い
程大きく、後端部付近ではその影響はそれ程大きくな
い。したがって、MR素子6にバイアス磁界を印加する
場合、再生出力への影響が大きい素子先端部に適度なバ
イアス磁界を印加することが重要である。
【0030】ここで例えば、図5に示すような上部シー
ルド磁性体3の傾斜部13に段差を設けなかった従来ヘ
ッドを考えると、このヘッドではバイアス磁界がバイア
ス導体直下のMR素子6に直接印加される他、上部シー
ルド磁性体3を通ってその先端部からもMR素子6に印
加される。これは、先端部分ではMR素子6と上部シー
ルド磁性体3の間隔がかなり狭くなっているためであ
る。したがって、MR素子内におけるバイアス磁界は、
図6に示すような分布を示す。
ルド磁性体3の傾斜部13に段差を設けなかった従来ヘ
ッドを考えると、このヘッドではバイアス磁界がバイア
ス導体直下のMR素子6に直接印加される他、上部シー
ルド磁性体3を通ってその先端部からもMR素子6に印
加される。これは、先端部分ではMR素子6と上部シー
ルド磁性体3の間隔がかなり狭くなっているためであ
る。したがって、MR素子内におけるバイアス磁界は、
図6に示すような分布を示す。
【0031】ところで、前述したようにMR素子6に望
まれる動作点はP点付近であるが、バイアス磁界が図6
のような分布をしているため、バイアス磁界が強い部分
をP点に合わせるとバイアス磁界が弱い部分がバイアス
不足になってしまい、反対にバイアス磁界が弱い部分に
P点を合わせると強い部分が飽和してしまい、どちらに
しても感度の低い部分が生じてしまう。
まれる動作点はP点付近であるが、バイアス磁界が図6
のような分布をしているため、バイアス磁界が強い部分
をP点に合わせるとバイアス磁界が弱い部分がバイアス
不足になってしまい、反対にバイアス磁界が弱い部分に
P点を合わせると強い部分が飽和してしまい、どちらに
しても感度の低い部分が生じてしまう。
【0032】これに対して、図2に示すように傾斜部1
3に段差を設けた本実施例の磁気ヘッドにおいては、上
部シールド磁性体3を通って印加されるバイアス磁界
は、磁気ギャップ部のみならず上記段差部分でMR素子
6とシールド磁性体3の間隔が比較的狭くなっているこ
とから、この段差部分からもMR素子6に印加される。
このため、MR素子内のバイアス磁界の分布は、図3に
示すように、先端からバイアス導体直下まで略均一なも
のとなる。したがって、磁気ギャップ部からバイアス導
体直下までの均一なバイアス強度を、MR素子6の動作
点Pに合わせれば、容易に感度が高く効率の良いMRヘ
ッドを実現できる。
3に段差を設けた本実施例の磁気ヘッドにおいては、上
部シールド磁性体3を通って印加されるバイアス磁界
は、磁気ギャップ部のみならず上記段差部分でMR素子
6とシールド磁性体3の間隔が比較的狭くなっているこ
とから、この段差部分からもMR素子6に印加される。
このため、MR素子内のバイアス磁界の分布は、図3に
示すように、先端からバイアス導体直下まで略均一なも
のとなる。したがって、磁気ギャップ部からバイアス導
体直下までの均一なバイアス強度を、MR素子6の動作
点Pに合わせれば、容易に感度が高く効率の良いMRヘ
ッドを実現できる。
【0033】次に、上記のような効果が得られる段差形
状については、以下のことに基づく。図4に、段差の幅
Wを変化させた場合のヘッドの効率及び出力の変化を示
す。ここでは、ヘッドの効率は、1/必要なバイアス電
流値で示す。この図からわかるように、段差の幅Wが
0.5μm〜2μmの間でヘッドの効率及び出力の向上
がみられる。
状については、以下のことに基づく。図4に、段差の幅
Wを変化させた場合のヘッドの効率及び出力の変化を示
す。ここでは、ヘッドの効率は、1/必要なバイアス電
流値で示す。この図からわかるように、段差の幅Wが
0.5μm〜2μmの間でヘッドの効率及び出力の向上
がみられる。
【0034】このような結果が得られるのは、段差の幅
Wが0.5μm以下では、MR素子6に印加されるバイ
アス磁界のうち、段差部から印加される磁界の範囲が狭
いため、バイアス磁界の分布は段差がない場合とほとん
どかわらないためである。一方、段差の幅Wが2μm以
上では、段差部から印加されるバイアス磁界の割合が多
くなり過ぎてしまい、MR素子6の先端部にバイアス磁
界が印加されなくなってしまうためであると考えられ
る。
Wが0.5μm以下では、MR素子6に印加されるバイ
アス磁界のうち、段差部から印加される磁界の範囲が狭
いため、バイアス磁界の分布は段差がない場合とほとん
どかわらないためである。一方、段差の幅Wが2μm以
上では、段差部から印加されるバイアス磁界の割合が多
くなり過ぎてしまい、MR素子6の先端部にバイアス磁
界が印加されなくなってしまうためであると考えられ
る。
【0035】図7に、段差の高さHを変化させた場合の
ヘッドの効率及び出力の変化を示す。この図からわかる
ように、段差の高さHが0.2μm〜1μmの範囲でヘ
ッドの効率及び出力の向上がみられる。このような結果
が得られるのは、段差の高さHが0.2μmより低い場
合、段差部のみでバイアス磁界が漏洩してしまい、MR
素子先端でバイアス磁界が印加されなくなってしまうこ
とと、高さHが1μm以上となると、段差部とMR素子
6の間隔が広くなりすぎるために、段差部から印加され
るバイアス磁界が不足してしまうためであると考えられ
る。
ヘッドの効率及び出力の変化を示す。この図からわかる
ように、段差の高さHが0.2μm〜1μmの範囲でヘ
ッドの効率及び出力の向上がみられる。このような結果
が得られるのは、段差の高さHが0.2μmより低い場
合、段差部のみでバイアス磁界が漏洩してしまい、MR
素子先端でバイアス磁界が印加されなくなってしまうこ
とと、高さHが1μm以上となると、段差部とMR素子
6の間隔が広くなりすぎるために、段差部から印加され
るバイアス磁界が不足してしまうためであると考えられ
る。
【0036】以上のことから、上部シールド磁性体3の
傾斜部13に幅W0.5μm〜2μm、高さH0.2μ
m〜1μmの段差部を設けることにより、MR素子6に
印加されるバイアス磁界の分布を向上させることがで
き、その結果としてヘッドの効率及び出力の向上を達成
することができる。
傾斜部13に幅W0.5μm〜2μm、高さH0.2μ
m〜1μmの段差部を設けることにより、MR素子6に
印加されるバイアス磁界の分布を向上させることがで
き、その結果としてヘッドの効率及び出力の向上を達成
することができる。
【0037】以上のように構成されたMRヘッドにおい
ては、MR素子6がトラック幅方向(図1において紙面
と垂直な方向)に磁化容易となる一軸異方性を示すよう
に設定されており、また、このMR素子6にセンス電流
が通電されると共に、バイアス導体7への通電によって
生じるバイアス磁界をMR素子6の長手方向に印加する
ように構成されている。
ては、MR素子6がトラック幅方向(図1において紙面
と垂直な方向)に磁化容易となる一軸異方性を示すよう
に設定されており、また、このMR素子6にセンス電流
が通電されると共に、バイアス導体7への通電によって
生じるバイアス磁界をMR素子6の長手方向に印加する
ように構成されている。
【0038】したがって、磁気記録媒体8から磁界を受
けると、MR素子6と電気的に接続されている後端電極
5と上部シールド磁性体3間で信号を取り出すことがで
きる。このとき、磁気ギャップ部からバイアス導体直下
までの領域においては、均一なバイアス磁界がMR素子
6に印加されており、しかもこの部分でのバイアス磁界
強度をMR素子6の動作点Pに合わせているので、効率
良く磁気記録媒体8に記録されている情報信号を再生す
ることができる。
けると、MR素子6と電気的に接続されている後端電極
5と上部シールド磁性体3間で信号を取り出すことがで
きる。このとき、磁気ギャップ部からバイアス導体直下
までの領域においては、均一なバイアス磁界がMR素子
6に印加されており、しかもこの部分でのバイアス磁界
強度をMR素子6の動作点Pに合わせているので、効率
良く磁気記録媒体8に記録されている情報信号を再生す
ることができる。
【0039】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明のMRヘッドにおいては、上部シールド磁性体の傾斜
部に段差を設けているので、MR素子に印加するバイア
ス磁界を均一なものとすることができ、その結果、より
少ないバイアス電流で十分なバイアス効果が得られ、消
費電力の大幅な低減を図ることができる。したがって、
バイアス導体への通電により発生する発熱を低減でき、
ヘッドの内部温度上昇による性能、信頼性の低下を抑え
ることができる。また、バイアス磁界が適度に印加され
た部分の範囲が広がることによって、再生時の出力が向
上する。
明のMRヘッドにおいては、上部シールド磁性体の傾斜
部に段差を設けているので、MR素子に印加するバイア
ス磁界を均一なものとすることができ、その結果、より
少ないバイアス電流で十分なバイアス効果が得られ、消
費電力の大幅な低減を図ることができる。したがって、
バイアス導体への通電により発生する発熱を低減でき、
ヘッドの内部温度上昇による性能、信頼性の低下を抑え
ることができる。また、バイアス磁界が適度に印加され
た部分の範囲が広がることによって、再生時の出力が向
上する。
【図1】本発明を適用したMRヘッドの一例を示す拡大
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明を適用したMRヘッドの先端部分を拡大
して示す要部拡大断面図である。
して示す要部拡大断面図である。
【図3】本発明を適用したMRヘッドにおけるMR素子
内のバイアス磁界強度を示す特性図である。
内のバイアス磁界強度を示す特性図である。
【図4】上部シールド磁性体の傾斜部に形成した段差部
の幅を変化させたときのヘッド出力及び効率を示す特性
図である。
の幅を変化させたときのヘッド出力及び効率を示す特性
図である。
【図5】従来のMRヘッドの先端部分を拡大して示す要
部拡大断面図である。
部拡大断面図である。
【図6】従来のMRヘッドにおけるMR素子内のバイア
ス磁界強度を示す特性図である。
ス磁界強度を示す特性図である。
【図7】上部シールド磁性体の傾斜部に形成した段差部
の高さを変化させたときのヘッド出力及び効率を示す特
性図である。
の高さを変化させたときのヘッド出力及び効率を示す特
性図である。
【図8】バイアス磁界と比抵抗変化率の関係を示す特性
図である。
図である。
1・・・基板 2・・・下部シールド磁性体 3・・・上部シールド磁性体 4・・・先端電極 5・・・後端電極 6・・・MR素子 7・・・バイアス導体 8・・・磁気記録媒体 9・・・ABS面 10・・・第1の絶縁層 11・・・第2の絶縁層 12・・・第3の絶縁層 13・・・傾斜部 14・・・傾斜面 15・・・平坦面 16・・・保護層
Claims (2)
- 【請求項1】 磁気記録媒体との対接面に対してその長
手方向が垂直となるように配される磁気抵抗効果素子
と、 上記磁気抵抗効果素子の前後にそれぞれ積層される電極
と、 上記磁気抵抗効果素子上に絶縁層を介してこの磁気抵抗
効果素子にバイアス磁界を印加するバイアス導体と、 上記前後の電極が積層された磁気抵抗効果素子及びバイ
アス導体を挟み込む上部シールド磁性体と下部シールド
磁性体とを備えてなり、 上部シールド磁性体の対接面側に設けられる傾斜部に段
差が形成されていることを特徴とする磁気抵抗効果型磁
気ヘッド。 - 【請求項2】 対接面と垂直な方向の段差の幅が0.5
μm〜2μmであり、対接面と平行な方向の高さが0.
2μm〜1μmであることを特徴とする請求項1記載の
磁気抵抗効果型磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20734793A JPH0765323A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20734793A JPH0765323A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0765323A true JPH0765323A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16538236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20734793A Withdrawn JPH0765323A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0765323A (ja) |
-
1993
- 1993-08-23 JP JP20734793A patent/JPH0765323A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001031 |