JPH0787228B2 - Icデバイス - Google Patents

Icデバイス

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Publication number
JPH0787228B2
JPH0787228B2 JP63052037A JP5203788A JPH0787228B2 JP H0787228 B2 JPH0787228 B2 JP H0787228B2 JP 63052037 A JP63052037 A JP 63052037A JP 5203788 A JP5203788 A JP 5203788A JP H0787228 B2 JPH0787228 B2 JP H0787228B2
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JP
Japan
Prior art keywords
chip
resin
package
resin thickness
lead frame
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Expired - Lifetime
Application number
JP63052037A
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JPH01225345A (ja
Inventor
裕 小山
澄男 上野
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プラスチックパッケージによってICチップ等
を封止するICデバイスに関する。
〔従来の技術〕 従来、この種のICデバイスは第2図に示すように構成さ
れている。これを同図に基づいて概略説明すると、同図
において、符号1で示すものはリードフレーム2のダイ
スパッド3上に接合されたICチップ、4はこのICチップ
1と前記リードフレーム2のインナーリード5とを接続
するワイヤ、6はこのワイヤ4および前記ICチップ1を
樹脂封止するパッケージ(外装部材)である。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、従来のICデバイスにおいては、通常ICチップ
1上方の樹脂厚a1とダイスパッド3下方の樹脂厚a2およ
びリードフレーム2のインナーリード5上方の樹脂厚b1
とインナーリード5下方の樹脂厚b2が等しい寸法に設定
されておらず、このため樹脂封止後にパッケージ6の上
下方で樹脂厚に比例して増大する収縮量が異なってい
た。この結果、パッケージ6が変更して反りやクラック
が生じ、デバイス品質上の信頼性が低下するという問題
があった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、パッケ
ージの変形による反りやクラックの発生を防止すること
ができ、もってデバイス品質上の信頼性を向上させるこ
とができるICデバイスを提供するものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係るICデバイスは、リードフレームのダイスパ
ッド上に接合されたICチップおよびこのICチップと前記
リードフレームのインナーリードとを接続するワイヤを
樹脂封止するパッケージを備え、このパッケージ内のIC
チップ上方の樹脂厚とダイスパッド下方の樹脂厚を等し
い寸法に設定すると共に、リードフレームのインナーリ
ード上下方の樹脂厚を等しい寸法に設定し、かつICチッ
プの表面とインナーリードの表面とを同一の面上に位置
付けたものである。
〔作 用〕
本発明においては、樹脂封止後にパッケージの上下方で
樹脂の収縮量を同一にすることができると共に、樹脂注
入時におけるワイヤに当たる溶融樹脂の流速が低く抑え
られる。
〔実施例〕
以下、本発明の構成等を図に示す実施例によって詳細に
説明する。第1図は本発明に係るICデバイスを示す断面
図で、同図において第2図と同一の部材については同一
の符号を付し、詳細な説明は省略する。同図において、
符号11で示すものは前記パッケージ6と同一の材質およ
び機能をもつパッケージで、前記ICチップ1上方の樹脂
厚a1と前記ダイスパッド3下方の樹脂厚a2が等しい寸法
に設定され、かつ前記リードフレーム2のインナーリー
ド5上方の樹脂厚b1と前記インナーリード5下方の樹脂
厚b2が等しい寸法に設定されている。そして、このパッ
ケージ11内のICチップ1の上面と前記リードフレーム2
のインナーリード5表面とは同一の面上に位置付けられ
ている。
このように構成されたICデバイスにおいては、ICチップ
1上方の樹脂厚a1とダイスパッド3下方の樹脂厚a2が等
しい寸法に設定され、かつリードフレーム2のインナー
リード5上方の樹脂厚b1とリードフレーム2のインナー
リード5下方の樹脂厚b2が等しい寸法に設定されている
から、樹脂封止後にパッケージ11の上下方で樹脂の収縮
量を同一にすることができ、パッケージ11の変形による
反りやクラックの発生を防止することができる。
また、本実施例においては、パッケージ11内のICチップ
1の上面と前記リードフレーム2のインナーリード5表
面とが同一の面上に位置付けられているから、ワイヤ4
のICチップ1(エッジ)に対する接触を防止することが
できる。
なお、本発明におけるプラスチックパッケージを成形す
る場合に、使用する各リードフレームに応じた金型を使
用すると多数の金型が必要になるが、リードフレーム2
のダイスパッド3のうち最も大きいダイパッドの外形寸
法に適合させた金型を使用することにより少数の金型で
済ませることができる。
また、本発明においては、プラスチックパッケージの成
形時に樹脂がダイスパッド3下方に注入し易いように樹
脂厚を設定する必要があることは勿論である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、リードフレームの
ダイスパッド上に接合されたICチップおよびこのICチッ
プと前記リードフレームのインナーリードとを接続する
ワイヤを樹脂封止するパッケージを備え、このパッケー
ジ内のICチップ上方の樹脂厚とダイスパッド下方の樹脂
厚を等しい寸法に設定すると共に、リードフレームのイ
ンナーリード上下方の樹脂厚を等しい寸法に設定したの
で、樹脂封止後にパッケージの上下方で樹脂の収縮量を
同一にすることができる。したがって、パッケージの変
形による反りやクラックの発生を防止することができる
から、デバイス品質上の信頼性を向上させることができ
る。しかも、ICチップの表面とインナーリードの表面と
を同一の面上に位置付けたことにより、従来と比較して
ICチップの表面をインナーリードの表面に対して相対的
に低くする、いわゆるタブ下げがなされるので、ワイヤ
とICチップ表面との間隔を充分に保つことができて、ワ
イヤのICチップに対する接触が防止でき、このためショ
ートを防止できる。また、ICチップ上方の樹脂厚とイン
ナーリード上方の樹脂厚とを等しくできるので、樹脂注
入時におけるインナーリード上方での溶融樹脂の流速
が、ICチップ上方で増速することがなく、このためワイ
ヤに当たる溶融樹脂の流速を低く抑えることができ、ワ
イヤの断線やショートを防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るICデバイスの全体を示す断面図、
第2図は従来のICデバイスの全体を示す断面図である。 1……ICチップ、2……リードフレーム、3……ダイス
パッド、5……インナーリード、11……パッケージ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】リードフレームのダイスパッド上に接合さ
    れたICチップおよびこのICチップと前記リードフレーム
    のインナーリードとを接続するワイヤを樹脂封止するパ
    ッケージを備え、このパッケージ内のICチップ上方の樹
    脂厚と前記ダイスパッド下方の樹脂厚を等しい寸法に設
    定すると共に、前記リードフレームのインナーリード上
    下方の樹脂厚を等しい寸法に設定し、かつ前記ICチップ
    の表面と前記インナーリードの表面とを同一の面上に位
    置付けたことを特徴とするICデバイス。
JP63052037A 1988-03-04 1988-03-04 Icデバイス Expired - Lifetime JPH0787228B2 (ja)

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JP63052037A JPH0787228B2 (ja) 1988-03-04 1988-03-04 Icデバイス

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JP63052037A JPH0787228B2 (ja) 1988-03-04 1988-03-04 Icデバイス

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JPH01225345A JPH01225345A (ja) 1989-09-08
JPH0787228B2 true JPH0787228B2 (ja) 1995-09-20

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WO2012137620A1 (ja) * 2011-04-05 2012-10-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

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JPH01225345A (ja) 1989-09-08

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