JPH0797085B2 - 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 - Google Patents
光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置Info
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- JPH0797085B2 JPH0797085B2 JP3344763A JP34476391A JPH0797085B2 JP H0797085 B2 JPH0797085 B2 JP H0797085B2 JP 3344763 A JP3344763 A JP 3344763A JP 34476391 A JP34476391 A JP 34476391A JP H0797085 B2 JPH0797085 B2 JP H0797085B2
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 49
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイの画素
の欠陥を光学的に検査するような光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関する。
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイの画素
の欠陥を光学的に検査するような光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近では、各種電子機器に液晶ディスプ
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示部の間の配線パターンを細く
する必要がある。ところが、パターンの密度を高める
と、パターンのエッチング工程などで、隣接するパター
ン同士が電気的に接続されてしまうことがある。このよ
うな液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パ
ネルになった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを
光学的に読取って標準のデータと比較し、一致していな
ければ欠陥であると判別する方法が考えられる。
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示部の間の配線パターンを細く
する必要がある。ところが、パターンの密度を高める
と、パターンのエッチング工程などで、隣接するパター
ン同士が電気的に接続されてしまうことがある。このよ
うな液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パ
ネルになった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを
光学的に読取って標準のデータと比較し、一致していな
ければ欠陥であると判別する方法が考えられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、液晶ディス
プレイの画面全面に検査パターンを表示してしまうと、
画面に光を当てた場合、画面端部付近では画面周辺の非
表示部からの光の回り込みの影響により、センサ読取値
が他の部分に比べ大きくなる。このように、液晶ディス
プレイの端部で明るさが大きく変化する場合、標準デー
タと比較すると、液晶ディスプレイの端部はすべて欠陥
と判定されてしまう。
プレイの画面全面に検査パターンを表示してしまうと、
画面に光を当てた場合、画面端部付近では画面周辺の非
表示部からの光の回り込みの影響により、センサ読取値
が他の部分に比べ大きくなる。このように、液晶ディス
プレイの端部で明るさが大きく変化する場合、標準デー
タと比較すると、液晶ディスプレイの端部はすべて欠陥
と判定されてしまう。
【０００４】それゆえに、この発明の主たる目的は、液
晶ディスプレイの画面端部付近での明るさの変化が起こ
らない検査方法を有する液晶ディスプレイ欠陥検査装置
を提供することである。
晶ディスプレイの画面端部付近での明るさの変化が起こ
らない検査方法を有する液晶ディスプレイ欠陥検査装置
を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は液晶ディスプ
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表示パターンを
読取るリニアイメージセンサと、リニアイメージセンサ
の読取値よりディスプレイの欠陥を判別する判別手段を
備え、表示制御手段による検査のためのパターンの表示
をリニアイメージセンサの読取位置の移動に合わせて表
示パターンの読取る方向の前後のパターンと明暗とが同
じになるようにされる。
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表示パターンを
読取るリニアイメージセンサと、リニアイメージセンサ
の読取値よりディスプレイの欠陥を判別する判別手段を
備え、表示制御手段による検査のためのパターンの表示
をリニアイメージセンサの読取位置の移動に合わせて表
示パターンの読取る方向の前後のパターンと明暗とが同
じになるようにされる。
【０００６】
【作用】この発明に係る光学式液晶ディスプレイ欠陥検
査装置は、液晶ディスプレイの表示パターンを、イメー
ジセンサのデータの読取位置に合わせ変化させ、画面の
端部においても、明るさの変化が少なくなるようなパタ
ーンにすることによって、液晶ディスプレイ端部での測
定値の変化をなくすようにしたものである。
査装置は、液晶ディスプレイの表示パターンを、イメー
ジセンサのデータの読取位置に合わせ変化させ、画面の
端部においても、明るさの変化が少なくなるようなパタ
ーンにすることによって、液晶ディスプレイ端部での測
定値の変化をなくすようにしたものである。
【０００７】
【実施例】図１はこの発明の一実施例の概略図である。
図１を参照して、テーブル１の上に可動ステージ２が設
けられる。可動ステージ２は液晶ディスプレイ３を一方
方向に移動させるものであって、たとえばリニアモータ
によって駆動される。可動ステージ２の上方にはＣＣＤ
ユニット４が設けられる。ＣＣＤユニット４は可動ステ
ージ２によって一方方向に移動する液晶ディスプレイ３
の表示パターンを上方より読取るものであって、たとえ
ばＣＣＤイメージセンサが用いられる。
図１を参照して、テーブル１の上に可動ステージ２が設
けられる。可動ステージ２は液晶ディスプレイ３を一方
方向に移動させるものであって、たとえばリニアモータ
によって駆動される。可動ステージ２の上方にはＣＣＤ
ユニット４が設けられる。ＣＣＤユニット４は可動ステ
ージ２によって一方方向に移動する液晶ディスプレイ３
の表示パターンを上方より読取るものであって、たとえ
ばＣＣＤイメージセンサが用いられる。
【０００８】全体の制御を行なうために、パーソナルコ
ンピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５
はＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路
６からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力させ、ＣＣＤ
駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を
駆動する。ＣＣＤユニット４の読取出力はパーソナルコ
ンピュータ５に与えられる。さらに、パーソナルコンピ
ュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生させ、
このパルス信号はテーブル位置決めユニット９に与えら
れ、テーブル位置決めユニット９はそのパルス信号に応
じて可動ステージ２を一方方向に順次移動させ、可動ス
テージ２の位置決めを行なう。パーソナルコンピュータ
５はさらにパターンジェネレータ１０から検査のための
表示パターンデータを発生させる。このパターンデータ
は液晶ディスプレイ駆動回路１１に与えられる。液晶デ
ィスプレイ駆動回路１１は液晶ディスプレイ３を駆動
し、与えられたパターンデータに応じてそのパターンを
表示させる。
ンピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５
はＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路
６からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力させ、ＣＣＤ
駆動回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を
駆動する。ＣＣＤユニット４の読取出力はパーソナルコ
ンピュータ５に与えられる。さらに、パーソナルコンピ
ュータ５はパルス発生器８からパルス信号を発生させ、
このパルス信号はテーブル位置決めユニット９に与えら
れ、テーブル位置決めユニット９はそのパルス信号に応
じて可動ステージ２を一方方向に順次移動させ、可動ス
テージ２の位置決めを行なう。パーソナルコンピュータ
５はさらにパターンジェネレータ１０から検査のための
表示パターンデータを発生させる。このパターンデータ
は液晶ディスプレイ駆動回路１１に与えられる。液晶デ
ィスプレイ駆動回路１１は液晶ディスプレイ３を駆動
し、与えられたパターンデータに応じてそのパターンを
表示させる。
【０００９】図２はこの発明の一実施例の具体的な動作
を説明するためのフロー図であり、図３は光の回り込み
の影響しない表示パターンの一例を示す図であり、図４
は光の回り込みの影響しない表示パターンの他の例を示
す図である。
を説明するためのフロー図であり、図３は光の回り込み
の影響しない表示パターンの一例を示す図であり、図４
は光の回り込みの影響しない表示パターンの他の例を示
す図である。
【００１０】次に、図１，図２，図３および図４を参照
して、この発明の一実施例の具体的な動作について説明
する。まず、液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上
にローディングする。パーソナルコンピュータ５はパタ
ーンジェネレータ１０からパターンデータを発生させ
る。このパターンデータは、読取位置が移動しても光の
回り込みの影響を受けにくいパターンであり、液晶ディ
スプレイ駆動回路１１はそのパターンデータに応じて液
晶ディスプレイ３に表示パターンを表示させる。この表
示パターンはＣＣＤユニット４の読取部分に表示し、読
取位置の移動と共にＣＣＤユニット４の読取部分にくる
ように移動させる。上述のパターンデータは、読取位置
に対して、なるべく光の回り込みが対称となるように選
ぶ。たとえば、図３に示すような市松模様の一部分など
の明画素，暗画素が入れ違いになるような表示パターン
を用いる。
して、この発明の一実施例の具体的な動作について説明
する。まず、液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上
にローディングする。パーソナルコンピュータ５はパタ
ーンジェネレータ１０からパターンデータを発生させ
る。このパターンデータは、読取位置が移動しても光の
回り込みの影響を受けにくいパターンであり、液晶ディ
スプレイ駆動回路１１はそのパターンデータに応じて液
晶ディスプレイ３に表示パターンを表示させる。この表
示パターンはＣＣＤユニット４の読取部分に表示し、読
取位置の移動と共にＣＣＤユニット４の読取部分にくる
ように移動させる。上述のパターンデータは、読取位置
に対して、なるべく光の回り込みが対称となるように選
ぶ。たとえば、図３に示すような市松模様の一部分など
の明画素，暗画素が入れ違いになるような表示パターン
を用いる。
【００１１】この場合、光の回り込みは、紙面上方およ
び下方より発生し、読取位置の輝度は明るくなる。ここ
で、読取位置が紙面上方の液晶ディスプレイ表示部の端
部付近にきた場合を考えると、光の回り込みは紙面上方
の液晶ディスプレイ非表示部から発生し、また、紙面下
方の表示部からも発生するので、結局、読取位置が液晶
ディスプレイ表示部のどこにあっても、光の回り込みが
同じように発生し、読取部の輝度の変化は少なくなる。
図３に示した例は、液晶ディスプレイ表示部のどこにお
いても明るさの変化が少なくなるようなパターンといえ
る。その他の例を図４に示している。
び下方より発生し、読取位置の輝度は明るくなる。ここ
で、読取位置が紙面上方の液晶ディスプレイ表示部の端
部付近にきた場合を考えると、光の回り込みは紙面上方
の液晶ディスプレイ非表示部から発生し、また、紙面下
方の表示部からも発生するので、結局、読取位置が液晶
ディスプレイ表示部のどこにあっても、光の回り込みが
同じように発生し、読取部の輝度の変化は少なくなる。
図３に示した例は、液晶ディスプレイ表示部のどこにお
いても明るさの変化が少なくなるようなパターンといえ
る。その他の例を図４に示している。
【００１２】パーソナルコンピュータ５はパルス発生器
８からパルス信号を発生させ、テーブル位置決めユニッ
ト９は、そのパルス信号に応じて可動ステージ２を一方
方向に順次移動させる。パーソナルコンピュータ５はＣ
ＣＤ制御回路６から制御信号を発生させ、ＣＣＤ駆動回
路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を駆動す
る。ＣＣＤユニット４は順次移動する可動ステージ２上
の液晶ディスプレイ３に表示されたパターンを上方より
読取り、その読取出力をパーソナルコンピュータ５に与
える。
８からパルス信号を発生させ、テーブル位置決めユニッ
ト９は、そのパルス信号に応じて可動ステージ２を一方
方向に順次移動させる。パーソナルコンピュータ５はＣ
ＣＤ制御回路６から制御信号を発生させ、ＣＣＤ駆動回
路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を駆動す
る。ＣＣＤユニット４は順次移動する可動ステージ２上
の液晶ディスプレイ３に表示されたパターンを上方より
読取り、その読取出力をパーソナルコンピュータ５に与
える。
【００１３】パーソナルコンピュータ５はＣＣＤユニッ
ト４の読取出力と標準データとの一致を判別する。不一
致であれば、検査した液晶ディスプレイ３が不良品であ
ると判断して処理し、一致していれば良品の処理をし、
その結果をプリンタに印字したり、ＣＲＴディスプレイ
に表示させる。その後、パーソナルコンピュータ５は可
動ステージ２を逆方向に移動させ、元の位置に戻ると液
晶ディスプレイ３をアンローディングする。そして、上
述の動作を繰返し、次の液晶ディスプレイの検査を行な
う。
ト４の読取出力と標準データとの一致を判別する。不一
致であれば、検査した液晶ディスプレイ３が不良品であ
ると判断して処理し、一致していれば良品の処理をし、
その結果をプリンタに印字したり、ＣＲＴディスプレイ
に表示させる。その後、パーソナルコンピュータ５は可
動ステージ２を逆方向に移動させ、元の位置に戻ると液
晶ディスプレイ３をアンローディングする。そして、上
述の動作を繰返し、次の液晶ディスプレイの検査を行な
う。
【００１４】なお、図１に示した実施例では、液晶ディ
スプレイ３として反射式のものをこの発明に適用した
が、これに限ることなく透過式のものであってもよい。
その場合には、テーブル１の下側に光源を設け、光源か
ら液晶ディスプレイ３に光を照射するようにすればよ
い。
スプレイ３として反射式のものをこの発明に適用した
が、これに限ることなく透過式のものであってもよい。
その場合には、テーブル１の下側に光源を設け、光源か
ら液晶ディスプレイ３に光を照射するようにすればよ
い。
【００１５】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、液晶
ディスプレイの表示パターンをリニアイメージセンサの
読取位置の移動に合わせて表示パターンの読取る方向の
前後のパターンと明暗とが同じになるように変化させ、
画面の端部においても明るさの変化が少なくなるような
パターンにすることによって液晶ディスプレイに表示す
るパターンを光の回込みの影響しないパターンにするこ
とができ、測定値を安定させ、誤判定をなくすことかで
きる。
ディスプレイの表示パターンをリニアイメージセンサの
読取位置の移動に合わせて表示パターンの読取る方向の
前後のパターンと明暗とが同じになるように変化させ、
画面の端部においても明るさの変化が少なくなるような
パターンにすることによって液晶ディスプレイに表示す
るパターンを光の回込みの影響しないパターンにするこ
とができ、測定値を安定させ、誤判定をなくすことかで
きる。
【図１】この発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図２】この発明の一実施例の動作を説明するためのフ
ロー図である。
ロー図である。
【図３】光の回り込みの影響しない表示パターンの一例
を示す図である。
を示す図である。
【図４】光の回り込みの影響しない表示パターンの他の
例を示す図である。
例を示す図である。
１ テーブル ２ 可動ステージ ３ 液晶ディスプレイ ４ ＣＣＤユニット ５ パーソナルコンピュータ ６ ＣＣＤ制御回路 ７ ＣＣＤ駆動回路 ８ パルス発生器 ９ テーブル位置決めユニット １０ パターンジェネレータ １１ 液晶ディスプレイ駆動回路
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶ディスプレイの欠陥を検査するため
の光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、 前記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可
動ステージ、 前記液晶ディスプレイに検査のためのパターンを表示さ
せる表示制御手段、 前記可動ステージの上方から前記液晶ディスプレイの表
示パターンを読取るリニアイメージセンサ、および 前記リニアイメージセンサの読取値よりディスプレイの
欠陥を判別する判別手段を備え、 前記表示制御手段による検査のためのパターンの表示を
前記イメージセンサの読取位置の移動に合わせて表示パ
ターンの読取る方向の前後のパターンと明暗とが同じに
なるようにしたことを特徴とする、光学式液晶ディスプ
レイ欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344763A JPH0797085B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344763A JPH0797085B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138051A JPH06138051A (ja) | 1994-05-20 |
| JPH0797085B2 true JPH0797085B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=18371792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3344763A Expired - Lifetime JPH0797085B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797085B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102591044A (zh) * | 2012-01-12 | 2012-07-18 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | Tft液晶屏的质量检测方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102540515B (zh) * | 2012-01-12 | 2015-07-08 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | 用于tft液晶屏的质量检测系统 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63246795A (ja) * | 1987-04-01 | 1988-10-13 | 日本電信電話株式会社 | 表示試験装置 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP3344763A patent/JPH0797085B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102591044A (zh) * | 2012-01-12 | 2012-07-18 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | Tft液晶屏的质量检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06138051A (ja) | 1994-05-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960402 |