JPH0820430B2 - 陰イオン分析装置 - Google Patents
陰イオン分析装置Info
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- JPH0820430B2 JPH0820430B2 JP62271559A JP27155987A JPH0820430B2 JP H0820430 B2 JPH0820430 B2 JP H0820430B2 JP 62271559 A JP62271559 A JP 62271559A JP 27155987 A JP27155987 A JP 27155987A JP H0820430 B2 JPH0820430 B2 JP H0820430B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陰イオンを分離し、分離した陰イオンを測定
する陰イオン分析装置に関し、さらに詳しくは、分離カ
ラムと濃縮カラムの校正を１種類の標準試薬によって容
易に且つ正確に行うことのできる陰イオン分析装置に関
する。
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陰イオンを分離し、分離した陰イオンを測定
する陰イオン分析装置に関し、さらに詳しくは、分離カ
ラムと濃縮カラムの校正を１種類の標準試薬によって容
易に且つ正確に行うことのできる陰イオン分析装置に関
する。
＜従来の技術＞ 第４図は従来の陰イオン分析装置の構成説明図であ
る。この図において、送液ポンプ2aが駆動すると、溶離
液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第１切換弁３の第
１及び第２の接続口3a,3b→第２切換弁４の第１及び第
２の接続口4a,4b→分離カラム５→サプレッサ６の内室6
c→検出器７を経由し、廃液槽1dへと流れる。送液ポン
プ2cが駆動すると、試料槽1c内の被測定液が、送液ポン
プ2c→第２切換弁４の第４及び第３の接続口4d,4c→濃
縮カラム4g→第２切換弁４の第６及び第５の接続口4f,4
eを経由し、廃液槽1fへと流れる。また、送液ポンプ2b
が駆動すると、除去液槽1b内の除去液が、送液ポンプ2b
→サプレッサ６の外室6bを経由し、廃液槽1eへと流れ
る。このため、サプレッサ６の内室6cに存在する陽イオ
ンが陽イオン交換膜6aを介してサプレッサ６の外室6bと
イオン交換するようになり、結果的にサプレッサ６の内
室6cに存在する流体の導電率バックグランドが除去され
る。尚、分離カラム5,サプレッサ6,および検出器７は、
恒温槽８内に収納されて一定温度（例えば40℃）に保た
れることが多い。このような構成からなる従来の装置に
おいて、シリンジ3hを用いて一定量の被測定液が第１切
換弁３の第５接続口3eに注入されると、該被測定液によ
って計量管3g内が満たされるようになる。この状態で、
第１切替弁３がオンにされ内部流路が第４図の実線接続
状態から破線接続状態に切換えられると、上記計量管3g
内の被測定液が溶離液で搬送されて分離カラム５に至
り、ここで該被測定液に含まれている陰イオンが分離さ
れ、その後、サプレッサ６で上述のようにして導電率の
バックグランドが除去されてのち検出器７で検出され
る。このようにして検出器７で検出された信号は、図示
しない表示装置（例えば記録計）に導かれクロマトグラ
ムを描くようになる。
る。この図において、送液ポンプ2aが駆動すると、溶離
液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第１切換弁３の第
１及び第２の接続口3a,3b→第２切換弁４の第１及び第
２の接続口4a,4b→分離カラム５→サプレッサ６の内室6
c→検出器７を経由し、廃液槽1dへと流れる。送液ポン
プ2cが駆動すると、試料槽1c内の被測定液が、送液ポン
プ2c→第２切換弁４の第４及び第３の接続口4d,4c→濃
縮カラム4g→第２切換弁４の第６及び第５の接続口4f,4
eを経由し、廃液槽1fへと流れる。また、送液ポンプ2b
が駆動すると、除去液槽1b内の除去液が、送液ポンプ2b
→サプレッサ６の外室6bを経由し、廃液槽1eへと流れ
る。このため、サプレッサ６の内室6cに存在する陽イオ
ンが陽イオン交換膜6aを介してサプレッサ６の外室6bと
イオン交換するようになり、結果的にサプレッサ６の内
室6cに存在する流体の導電率バックグランドが除去され
る。尚、分離カラム5,サプレッサ6,および検出器７は、
恒温槽８内に収納されて一定温度（例えば40℃）に保た
れることが多い。このような構成からなる従来の装置に
おいて、シリンジ3hを用いて一定量の被測定液が第１切
換弁３の第５接続口3eに注入されると、該被測定液によ
って計量管3g内が満たされるようになる。この状態で、
第１切替弁３がオンにされ内部流路が第４図の実線接続
状態から破線接続状態に切換えられると、上記計量管3g
内の被測定液が溶離液で搬送されて分離カラム５に至
り、ここで該被測定液に含まれている陰イオンが分離さ
れ、その後、サプレッサ６で上述のようにして導電率の
バックグランドが除去されてのち検出器７で検出され
る。このようにして検出器７で検出された信号は、図示
しない表示装置（例えば記録計）に導かれクロマトグラ
ムを描くようになる。
一方、上記分離カラム５は次のようにしてチェックさ
れていた。即ち、シリンジ3hを用い、1ppmのCl-イオン,
1ppmのBr-イオン,2ppmのNO3 -イオン，及び2ppmのSO4 2-
イオンを含む試料（以下、「第１試料」という）を一定
量だけ第１切換弁３の第５接続口3eに注入し、上述のよ
うにして表示装置に描かれたクロマトグラムから分離カ
ラム５の分離性能をチェックするようにしていた。ま
た、上記濃縮カラム4gは次のようにしてチェックされて
いた。即ち、8ppbのCl-イオン,8ppbのBr-イオン,8ppbの
SO4 2-イオン,2ppmのN2H4,200ppbのNH4 +イオン，及びＢ
としての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試料（以下、
「第２試料」という）を上記試料槽1c内に貯溜し、該試
料中のCl-イオンを上述のようにして分析し上記クロマ
トグラムにおけるCl-イオンの面積から濃縮カラム4gの
劣化状態をチェックするようにしていた。
れていた。即ち、シリンジ3hを用い、1ppmのCl-イオン,
1ppmのBr-イオン,2ppmのNO3 -イオン，及び2ppmのSO4 2-
イオンを含む試料（以下、「第１試料」という）を一定
量だけ第１切換弁３の第５接続口3eに注入し、上述のよ
うにして表示装置に描かれたクロマトグラムから分離カ
ラム５の分離性能をチェックするようにしていた。ま
た、上記濃縮カラム4gは次のようにしてチェックされて
いた。即ち、8ppbのCl-イオン,8ppbのBr-イオン,8ppbの
SO4 2-イオン,2ppmのN2H4,200ppbのNH4 +イオン，及びＢ
としての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試料（以下、
「第２試料」という）を上記試料槽1c内に貯溜し、該試
料中のCl-イオンを上述のようにして分析し上記クロマ
トグラムにおけるCl-イオンの面積から濃縮カラム4gの
劣化状態をチェックするようにしていた。
更に、上述のような装置の校正は、次のようにして行
われていた。即ち、4ppbのCl-イオン,4ppbのBr-イオン,
4ppbのSO4 2-イオン,200ppbのNH4 +イオン,2ppmのN2H4,及
びＢとしての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試料（以
下、「第３試料」という）と上記第２試料を上記試料槽
1c内に交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを上述の
ようにして分析し上記クロマトグラムから各成分の検量
線を作成し、該検量線に基いて上記装置の２点校正を行
なうようにしていた。
われていた。即ち、4ppbのCl-イオン,4ppbのBr-イオン,
4ppbのSO4 2-イオン,200ppbのNH4 +イオン,2ppmのN2H4,及
びＢとしての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試料（以
下、「第３試料」という）と上記第２試料を上記試料槽
1c内に交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを上述の
ようにして分析し上記クロマトグラムから各成分の検量
線を作成し、該検量線に基いて上記装置の２点校正を行
なうようにしていた。
＜発明が解決しようとする問題点＞ 然しながら、上記第２試料や第３試料は非常に低濃度
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第２試料や第３試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に調整しなければなら
ず且つ１つの試料を調整するのに約１時間もかかるとい
う欠点があった。更に、上述の従来例においては試料が
３種類も必要である（即ち、第１〜第３の試料）という
欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックにおい
て、上記装置の校正などで使用された試料と上記第２試
料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カラム
4gを正確にチェックできないという欠点があった。
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第２試料や第３試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に調整しなければなら
ず且つ１つの試料を調整するのに約１時間もかかるとい
う欠点があった。更に、上述の従来例においては試料が
３種類も必要である（即ち、第１〜第３の試料）という
欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックにおい
て、上記装置の校正などで使用された試料と上記第２試
料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カラム
4gを正確にチェックできないという欠点があった。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされたものであり、
その目的は、１種類の試料で分離カラム5,濃縮カラム4
g,及び上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような
陰イオン分析装置を提供することにある。
その目的は、１種類の試料で分離カラム5,濃縮カラム4
g,及び上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような
陰イオン分析装置を提供することにある。
＜問題点を解決するための手段＞ このような目的を達成するために、本発明は、 被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮した被測定
液を溶離液によって分離カラムに導いて被測定溶液中の
陰イオンを分離し、分離した陰イオンを検出器によって
検出して陰イオンの濃度を測定する陰イオン分析装置に
おいて、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知
濃度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時にお
いては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離
カラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によ
って前記分離カラム側に切り替えて送出する第１切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラ
ム側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カ
ラムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮
カラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された前
記標準液を前記分離カラムに送出する第２切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴としている。
液を溶離液によって分離カラムに導いて被測定溶液中の
陰イオンを分離し、分離した陰イオンを検出器によって
検出して陰イオンの濃度を測定する陰イオン分析装置に
おいて、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知
濃度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時にお
いては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離
カラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によ
って前記分離カラム側に切り替えて送出する第１切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラ
ム側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カ
ラムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮
カラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された前
記標準液を前記分離カラムに送出する第２切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴としている。
＜実施例＞ 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第
１図は本発明実施例を説明するための陰イオン分析装置
の構成説明図であり、図中、第４図と同一記号は同一意
味を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。ま
た、９は純水を貯溜してなる純水槽、10は三方電磁弁で
ある。更に、第２図及び第３図は上記陰イオン分析装置
の動作を説明するためのタイムチャートであり、以下、
この図を使用しながら本発明実施例について説明してゆ
く。
１図は本発明実施例を説明するための陰イオン分析装置
の構成説明図であり、図中、第４図と同一記号は同一意
味を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。ま
た、９は純水を貯溜してなる純水槽、10は三方電磁弁で
ある。更に、第２図及び第３図は上記陰イオン分析装置
の動作を説明するためのタイムチャートであり、以下、
この図を使用しながら本発明実施例について説明してゆ
く。
まず、分離カラム５のチェック方法について説明す
る。第１図及び第２図において、最初、第１ポンプ2a,
第２ポンプ2b,第３ポンプ2c,第２切換弁4,及び三方電磁
弁10がオンとされ、第１切換弁３がオフにされる。この
ため、第１ポンプ2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液
が、送液ポンプ2a→第２切換弁４の第１及び第６の接続
口4a,4f→濃縮カラム4g→第１切換弁３の第１及び第２
の接続口3a,3b→第２切換弁４の第３及び第２の接続口4
c,4b→分離カラム５→サプレッサ６の内室6c→検出器７
を経由し、廃液槽1dへと流れる。送液ポンプ2cが駆動し
て、試料槽1c内の被測定液が、三方電磁弁10→送液ポン
プ2c→第２切換弁４の第４及び第５の接続口4d,4eを経
由し廃液槽1fへ流れると共に、送液ポンプ2bが駆動し
て、除去液槽1b内の除去液が、送液ポンプ2b→サブレッ
サ６の外室6bを経由し廃液槽1eへと流れる。このため、
サプレッサ６の内室6cに存在する陽イオンが陽イオン交
換膜6aを介してサプレッサ６の外室6bとイオン交換する
ようになり、結果的にサプレッサ６の内室6cに存在する
流体の導電率バックグランドが除去される。このような
状態において時間T1のとき、1.6ppmのCl-イオン,1.6ppm
のＢγ−イオン,1.6ppmのSO4 2-イオン,40ppmのNH4 +イオ
ン,400ppmのN2H4,及びＢとしての濃度が1000ppmのBO3 3-
イオンを含む試料（以下、「第４試料」という）を、シ
リンジ3hを用いて一定量（例えば1ml）だけ第１切換弁
３の第４接続口3dに注入すると、該試料によって計量管
3g（例えば内容積が100μ）内が満たされるようにな
る。この状態で時間T2のとき、第１切換弁３がオンにさ
れると、その内部流路が第４図の実線接続状態から破線
接続状態に切換えられ上記計量管3g内の試料が溶離液で
搬送されて分離カラム５に至り、ここで該試料に含まれ
ている陰イオンが分離され、その後、サプレッサ６で上
述のようにして導電率のバックグランドが除去されての
ち検出器７で検出される。このようにして検出器７で検
出された信号は、図示しない表示装置（例えば記録計）
に導かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムか
ら分離カラム５の良否（性能）がチェックされるように
なる。次に、濃縮カラム4gのチェック方法と陰イオン分
析装置の校正方法について説明する。第１図及び第３図
において、最初、第１ポンプ2a,第２ポンプ2b,及び第３
ポンプ2cがオンとされ、三方電磁弁10,第１切換弁3,及
び第２切換弁４がオフにされる。このため、第１ポンプ
2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a
→第２切換弁４の第１及び第２の接続口4a,4b→分離カ
ラム５→サプレッサ６の内室6c→検出器７を経由して廃
液槽1dへ流れる。送液ポンプ2cが駆動して、純水槽９内
の純水が、三方電磁弁10→送液ポンプ2c→第２切換弁４
の第４及び第３の接続口4d,4c→第１切換弁３の第２及
び第１の接続口3b,3a→濃縮カラム4g→第２切換弁４の
第６及び第５の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1fへと流
れると共に、送液ポンプ2bが駆動して、除去液槽1b内の
除去液が、送液ポンプ2b→サプレッサ６の外室6bを経由
し、廃液槽1eへと流れる。このような状態において時間
T1のとき、上記第４試料をシリンジ3hを用いて一定量
（例えば1ml）だけ第１切換弁３の第４接続口3dに注入
すると、該試料によって計量管3g（例えば内容積が100
μ）内が満たされるようになる。この状態で時間T2の
とき、第１切換弁３がオンにされると、その内部流路が
第４図の実線接続状態から破線接続状態に切換えられ上
記計量管3g内の試料が上記純水で搬送されて濃縮カラム
4gに至り、ここで該試料に含まれている陰イオンが濃縮
・保持される。この状態で時間T3のとき、第２切換弁４
がオンにされると、その内部流路が第１図の実線接続状
態から破線接続状態に切換えられ、上記濃縮カラム4g内
に濃縮・保持されていた陰イオンは溶離液に搬送されて
分離カラム５に至ってクロマトグラフィックに分離さ
れ、その後、サプレッサ６で導電率のバックグランドが
除去されてのち検出器７で検出される。このようにして
検出器７で検出された信号は、図示しない表示装置（例
えば記録計）に導かれクロマトグラムを描き、このクロ
マトグラムにおける各成分のピーク面積と前記分離カラ
ム５の良否チェックのときに作成されたクロマトグラム
における各成分のピーク面積とを比較して濃縮カラム4g
の劣化状態がチェックされる。また、このような濃縮カ
ラム4gのチェックや前記分離カラム５のチェックで異常
がないことが確認されたら、陰イオン分析装置の校正が
行われる。即ち、上試料中の各成分イオンを上述のよう
にして分析し上記クロマトグラムから各成分の１点校正
が行なわれる。
る。第１図及び第２図において、最初、第１ポンプ2a,
第２ポンプ2b,第３ポンプ2c,第２切換弁4,及び三方電磁
弁10がオンとされ、第１切換弁３がオフにされる。この
ため、第１ポンプ2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液
が、送液ポンプ2a→第２切換弁４の第１及び第６の接続
口4a,4f→濃縮カラム4g→第１切換弁３の第１及び第２
の接続口3a,3b→第２切換弁４の第３及び第２の接続口4
c,4b→分離カラム５→サプレッサ６の内室6c→検出器７
を経由し、廃液槽1dへと流れる。送液ポンプ2cが駆動し
て、試料槽1c内の被測定液が、三方電磁弁10→送液ポン
プ2c→第２切換弁４の第４及び第５の接続口4d,4eを経
由し廃液槽1fへ流れると共に、送液ポンプ2bが駆動し
て、除去液槽1b内の除去液が、送液ポンプ2b→サブレッ
サ６の外室6bを経由し廃液槽1eへと流れる。このため、
サプレッサ６の内室6cに存在する陽イオンが陽イオン交
換膜6aを介してサプレッサ６の外室6bとイオン交換する
ようになり、結果的にサプレッサ６の内室6cに存在する
流体の導電率バックグランドが除去される。このような
状態において時間T1のとき、1.6ppmのCl-イオン,1.6ppm
のＢγ−イオン,1.6ppmのSO4 2-イオン,40ppmのNH4 +イオ
ン,400ppmのN2H4,及びＢとしての濃度が1000ppmのBO3 3-
イオンを含む試料（以下、「第４試料」という）を、シ
リンジ3hを用いて一定量（例えば1ml）だけ第１切換弁
３の第４接続口3dに注入すると、該試料によって計量管
3g（例えば内容積が100μ）内が満たされるようにな
る。この状態で時間T2のとき、第１切換弁３がオンにさ
れると、その内部流路が第４図の実線接続状態から破線
接続状態に切換えられ上記計量管3g内の試料が溶離液で
搬送されて分離カラム５に至り、ここで該試料に含まれ
ている陰イオンが分離され、その後、サプレッサ６で上
述のようにして導電率のバックグランドが除去されての
ち検出器７で検出される。このようにして検出器７で検
出された信号は、図示しない表示装置（例えば記録計）
に導かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムか
ら分離カラム５の良否（性能）がチェックされるように
なる。次に、濃縮カラム4gのチェック方法と陰イオン分
析装置の校正方法について説明する。第１図及び第３図
において、最初、第１ポンプ2a,第２ポンプ2b,及び第３
ポンプ2cがオンとされ、三方電磁弁10,第１切換弁3,及
び第２切換弁４がオフにされる。このため、第１ポンプ
2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a
→第２切換弁４の第１及び第２の接続口4a,4b→分離カ
ラム５→サプレッサ６の内室6c→検出器７を経由して廃
液槽1dへ流れる。送液ポンプ2cが駆動して、純水槽９内
の純水が、三方電磁弁10→送液ポンプ2c→第２切換弁４
の第４及び第３の接続口4d,4c→第１切換弁３の第２及
び第１の接続口3b,3a→濃縮カラム4g→第２切換弁４の
第６及び第５の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1fへと流
れると共に、送液ポンプ2bが駆動して、除去液槽1b内の
除去液が、送液ポンプ2b→サプレッサ６の外室6bを経由
し、廃液槽1eへと流れる。このような状態において時間
T1のとき、上記第４試料をシリンジ3hを用いて一定量
（例えば1ml）だけ第１切換弁３の第４接続口3dに注入
すると、該試料によって計量管3g（例えば内容積が100
μ）内が満たされるようになる。この状態で時間T2の
とき、第１切換弁３がオンにされると、その内部流路が
第４図の実線接続状態から破線接続状態に切換えられ上
記計量管3g内の試料が上記純水で搬送されて濃縮カラム
4gに至り、ここで該試料に含まれている陰イオンが濃縮
・保持される。この状態で時間T3のとき、第２切換弁４
がオンにされると、その内部流路が第１図の実線接続状
態から破線接続状態に切換えられ、上記濃縮カラム4g内
に濃縮・保持されていた陰イオンは溶離液に搬送されて
分離カラム５に至ってクロマトグラフィックに分離さ
れ、その後、サプレッサ６で導電率のバックグランドが
除去されてのち検出器７で検出される。このようにして
検出器７で検出された信号は、図示しない表示装置（例
えば記録計）に導かれクロマトグラムを描き、このクロ
マトグラムにおける各成分のピーク面積と前記分離カラ
ム５の良否チェックのときに作成されたクロマトグラム
における各成分のピーク面積とを比較して濃縮カラム4g
の劣化状態がチェックされる。また、このような濃縮カ
ラム4gのチェックや前記分離カラム５のチェックで異常
がないことが確認されたら、陰イオン分析装置の校正が
行われる。即ち、上試料中の各成分イオンを上述のよう
にして分析し上記クロマトグラムから各成分の１点校正
が行なわれる。
＜発明の効果＞ 以上、詳細に説明したように本発明の陰イオン分析装
置は、計量管に既知濃度の標準液を採取し、この採取し
た標準液を分離カラムの分離性能チェック時においては
分離カラムに切り替えて送出し、濃縮カラムの劣化チェ
ック時においては濃縮カラム側に切り替えて送出するよ
うにしてカラムの校正を行うようにしたもので、１種類
の試料で分離カラム、濃縮カラムの校正を容易に且つ正
確に行うことができる。
置は、計量管に既知濃度の標準液を採取し、この採取し
た標準液を分離カラムの分離性能チェック時においては
分離カラムに切り替えて送出し、濃縮カラムの劣化チェ
ック時においては濃縮カラム側に切り替えて送出するよ
うにしてカラムの校正を行うようにしたもので、１種類
の試料で分離カラム、濃縮カラムの校正を容易に且つ正
確に行うことができる。
この構成は、分離カラムを校正する場合、従来の標準
液の濃度の200倍濃いものを使用できる上、コンタミネ
ーションを生じ難く、従来の測定誤差を極度に小さなも
のにでき、校正するための試料も１種類あれば十分で、
一点校正ができるという利点もある。
液の濃度の200倍濃いものを使用できる上、コンタミネ
ーションを生じ難く、従来の測定誤差を極度に小さなも
のにでき、校正するための試料も１種類あれば十分で、
一点校正ができるという利点もある。
第１図は本発明の実施例を説明するための陰イオン分析
装置の構成説明図、第２図及び第３図はタイムチャー
ト、第４図は従来例を説明するための陰イオン分析装置
の構成説明図である。 1a〜1f,9……槽、2a〜2c……送液ポンプ、3,4……切換
弁、５……分離カラム、６……サプレッサ、７……検出
器、８……恒温槽、10……三方電磁弁
装置の構成説明図、第２図及び第３図はタイムチャー
ト、第４図は従来例を説明するための陰イオン分析装置
の構成説明図である。 1a〜1f,9……槽、2a〜2c……送液ポンプ、3,4……切換
弁、５……分離カラム、６……サプレッサ、７……検出
器、８……恒温槽、10……三方電磁弁
Claims (1)
- 【請求項１】被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陰イオンを分離し、分離した陰イオンを検出
器によって検出して陰イオンの濃度を測定する陰イオン
分析装置において、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知濃
度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時におい
ては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離カ
ラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によっ
て前記分離カラム側に切り替えて送出する第１切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラム
側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カラ
ムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮カ
ラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された標準
液を前記分離カラムに送出する第２切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴とした陰イオン分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271559A JPH0820430B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陰イオン分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271559A JPH0820430B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陰イオン分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01113656A JPH01113656A (ja) | 1989-05-02 |
| JPH0820430B2 true JPH0820430B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17501763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62271559A Expired - Fee Related JPH0820430B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陰イオン分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820430B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11281635A (ja) * | 1998-03-31 | 1999-10-15 | Yokogawa Electric Corp | イオン分析装置 |
| JP3839641B2 (ja) * | 2000-06-20 | 2006-11-01 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 水酸化物イオンの分離方法と分析方法並びにイオンクロマトグラフィー装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58169058A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 陰イオンの分析方法およびその装置 |
| JPS6076664A (ja) * | 1983-10-01 | 1985-05-01 | Toyo Soda Mfg Co Ltd | 陰イオンの分析法 |
| JPS6083957U (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-10 | 電気化学計器株式会社 | 試料濃縮装置 |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP62271559A patent/JPH0820430B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01113656A (ja) | 1989-05-02 |
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