JPH08208367A - 液相結晶成長方法および液相結晶成長装置 - Google Patents
液相結晶成長方法および液相結晶成長装置Info
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- JPH08208367A JPH08208367A JP7025793A JP7025793A JPH08208367A JP H08208367 A JPH08208367 A JP H08208367A JP 7025793 A JP7025793 A JP 7025793A JP 7025793 A JP7025793 A JP 7025793A JP H08208367 A JPH08208367 A JP H08208367A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 液相結晶成長に関し、ほぼ平面状の上面を有
する円柱状の成長結晶を得ることができる結晶成長技術
を提供することを目的とする。 【構成】 溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高温部
にソース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を行な
う液相結晶成長方法において、ソース結晶から溶質を供
給し、ほぼ一定成長速度で結晶成長を行う工程と、ソー
ス結晶からの溶媒の供給を停止し、成長結晶を飽和溶液
中で熱処理する工程とを有することを特徴とする。
する円柱状の成長結晶を得ることができる結晶成長技術
を提供することを目的とする。 【構成】 溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高温部
にソース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を行な
う液相結晶成長方法において、ソース結晶から溶質を供
給し、ほぼ一定成長速度で結晶成長を行う工程と、ソー
ス結晶からの溶媒の供給を停止し、成長結晶を飽和溶液
中で熱処理する工程とを有することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液相結晶成長に関する。
蒸気圧の高い化合物半導体、特にII−VI族化合物半
導体のバルク結晶成長技術として、成長温度を低下でき
る溶液結晶成長が期待されている。
蒸気圧の高い化合物半導体、特にII−VI族化合物半
導体のバルク結晶成長技術として、成長温度を低下でき
る溶液結晶成長が期待されている。
【0002】
【従来の技術】II−VI族化合物半導体は高い融点を
有し、さらに構成元素の蒸気圧が高い。従って融液成長
では結晶成長容器に高い耐圧性が必要となるばかりでな
く、成長した結晶には高密度の結晶欠陥が生じ易い。
有し、さらに構成元素の蒸気圧が高い。従って融液成長
では結晶成長容器に高い耐圧性が必要となるばかりでな
く、成長した結晶には高密度の結晶欠陥が生じ易い。
【0003】溶液成長を利用すると、II−VI族化合
物半導体の結晶成長温度を低下することが可能となり、
良質の結晶を得られる可能性がある。溶媒としてはII
−VI族化合物半導体の構成元素であるII族元素やV
I族元素を用いる方法が提案されている。
物半導体の結晶成長温度を低下することが可能となり、
良質の結晶を得られる可能性がある。溶媒としてはII
−VI族化合物半導体の構成元素であるII族元素やV
I族元素を用いる方法が提案されている。
【0004】図3を使用して、従来の技術によるII−
VI族化合物半導体の溶液成長による結晶成長方法を説
明する。図中左側に結晶成長装置を断面で示し、右側に
結晶成長装置内に設定される温度分布をグラフで示す。
VI族化合物半導体の溶液成長による結晶成長方法を説
明する。図中左側に結晶成長装置を断面で示し、右側に
結晶成長装置内に設定される温度分布をグラフで示す。
【0005】2種類の適当な径を有する石英管を接続し
て結晶成長容器1が形成されている。なお、初めは上端
を開放しておく。結晶成長容器1内の下部にはカーボン
等の熱伝導率のよい材料で作成したヒートシンク6が配
置されている。
て結晶成長容器1が形成されている。なお、初めは上端
を開放しておく。結晶成長容器1内の下部にはカーボン
等の熱伝導率のよい材料で作成したヒートシンク6が配
置されている。
【0006】ヒートシンク6は、その上面にシード結晶
5を載置するための凹みを有し、結晶成長容器1に固定
されている。ヒートシンク6上面の凹みにシード結晶5
が載置され、その上から適当な長さの円筒状のシード止
め4が挿入され、結晶成長容器1に固定されている。な
お、原料充填前の状態においては、結晶成長容器1のた
とえば上部が開放されている。
5を載置するための凹みを有し、結晶成長容器1に固定
されている。ヒートシンク6上面の凹みにシード結晶5
が載置され、その上から適当な長さの円筒状のシード止
め4が挿入され、結晶成長容器1に固定されている。な
お、原料充填前の状態においては、結晶成長容器1のた
とえば上部が開放されている。
【0007】結晶成長容器1に溶媒3としてSe−Te
(所定混合比のSeとTe)、ソース結晶2として所望
の成長結晶量に対して、途中でソースの供給が止まらな
いだけの充分な量のZnSe多結晶を挿入する。なお、
ZnSe結晶成長の溶媒としてSeのみを用いるとZn
Seの溶解度が低い。Se−Teを用いるのは、Teを
添加して溶解度を増大させるためである。ソース結晶
2、溶媒3を投入した後、結晶成長容器1内を真空排気
し、開放部を封止する。
(所定混合比のSeとTe)、ソース結晶2として所望
の成長結晶量に対して、途中でソースの供給が止まらな
いだけの充分な量のZnSe多結晶を挿入する。なお、
ZnSe結晶成長の溶媒としてSeのみを用いるとZn
Seの溶解度が低い。Se−Teを用いるのは、Teを
添加して溶解度を増大させるためである。ソース結晶
2、溶媒3を投入した後、結晶成長容器1内を真空排気
し、開放部を封止する。
【0008】このように準備した結晶成長アンプルを、
図3右側に示すような温度勾配を設定した外熱型の電気
炉中に配置する。外熱型電気炉は炉心管7の周囲にヒー
タ線8を巻回したもので構成され、炉心管7内部に結晶
成長容器1を収容するための縦型空間が形成されてい
る。
図3右側に示すような温度勾配を設定した外熱型の電気
炉中に配置する。外熱型電気炉は炉心管7の周囲にヒー
タ線8を巻回したもので構成され、炉心管7内部に結晶
成長容器1を収容するための縦型空間が形成されてい
る。
【0009】炉心管7内部には、図中右側で示すよう
に、上部で高く、下部で低くなる縦方向の温度分布が設
定される。ソース結晶2が配置される位置の温度をT
s、結晶成長が生じるシード結晶5表面の位置の温度が
Tgで示されている。Ts>Tgである。
に、上部で高く、下部で低くなる縦方向の温度分布が設
定される。ソース結晶2が配置される位置の温度をT
s、結晶成長が生じるシード結晶5表面の位置の温度が
Tgで示されている。Ts>Tgである。
【0010】このような温度分布内に結晶成長容器1が
配置されると、高温部のソース結晶2は、高温部での飽
和溶解度まで溶媒3に溶解する。高温部の飽和溶解度は
低温部の飽和溶解度より高い。溶媒3中に溶解したソー
ス結晶成分は、拡散によって低温部にも移動し、低温部
の溶液を過飽和状態にする。
配置されると、高温部のソース結晶2は、高温部での飽
和溶解度まで溶媒3に溶解する。高温部の飽和溶解度は
低温部の飽和溶解度より高い。溶媒3中に溶解したソー
ス結晶成分は、拡散によって低温部にも移動し、低温部
の溶液を過飽和状態にする。
【0011】シード結晶5が低温部に配置され、過飽和
溶液と接触することにより、シード結晶5上に結晶成長
が生じる。このようにして、シード結晶5上にバルク状
の単結晶を成長させる。
溶液と接触することにより、シード結晶5上に結晶成長
が生じる。このようにして、シード結晶5上にバルク状
の単結晶を成長させる。
【0012】この成長は、一定温度で、ソース結晶がな
くなるまで行われ、一定の成長速度が得られる。
くなるまで行われ、一定の成長速度が得られる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術によって作
成された成長結晶の形状は、中心部が周辺部より盛り上
がった凸状である。
成された成長結晶の形状は、中心部が周辺部より盛り上
がった凸状である。
【0014】凸状部分での結晶の水平面における直径
は、小さくなっているため、一定の均一な直径のウエハ
を切り出すことができない。そのため、凸状部分は切り
落とすか、削り取る必要があり、成長させた結晶を10
0%利用して効率良くウエハを切り出すことができな
い。
は、小さくなっているため、一定の均一な直径のウエハ
を切り出すことができない。そのため、凸状部分は切り
落とすか、削り取る必要があり、成長させた結晶を10
0%利用して効率良くウエハを切り出すことができな
い。
【0015】本発明の目的は、ほぼ平面状の上面を有す
る円柱状の成長結晶を得ることができる結晶成長技術を
提供することである。
る円柱状の成長結晶を得ることができる結晶成長技術を
提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の液相結晶成長方
法は、溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高温部にソ
ース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を行なう液
相結晶成長方法において、ソース結晶から溶質を供給
し、ほぼ一定成長速度で結晶成長を行う工程と、ソース
結晶からの溶質の供給を停止し、成長結晶を飽和溶液中
で熱処理する工程とを有することを特徴とする。
法は、溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高温部にソ
ース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を行なう液
相結晶成長方法において、ソース結晶から溶質を供給
し、ほぼ一定成長速度で結晶成長を行う工程と、ソース
結晶からの溶質の供給を停止し、成長結晶を飽和溶液中
で熱処理する工程とを有することを特徴とする。
【0017】
【作用】液相結晶成長方法によって結晶を成長させ、ソ
ース結晶からの溶質の供給を停止した後、成長結晶を飽
和溶液中で熱処理することにより、中心部が周辺部より
盛り上がった凸状をなす上面を有する円柱状であった成
長結晶の上面がほぼ平面状になることが認められた。
ース結晶からの溶質の供給を停止した後、成長結晶を飽
和溶液中で熱処理することにより、中心部が周辺部より
盛り上がった凸状をなす上面を有する円柱状であった成
長結晶の上面がほぼ平面状になることが認められた。
【0018】ソース結晶から溶質が供給されており、溶
液が過飽和の状態にある場合には、溶解速度よりも析出
速度の方が支配的であり、中心部の結晶成長速度の方が
周辺部の結晶成長速度よりも大きいため、中心部の盛り
上がった凸状をなす上面を有する円柱状の単結晶が成長
するものと考えられる。
液が過飽和の状態にある場合には、溶解速度よりも析出
速度の方が支配的であり、中心部の結晶成長速度の方が
周辺部の結晶成長速度よりも大きいため、中心部の盛り
上がった凸状をなす上面を有する円柱状の単結晶が成長
するものと考えられる。
【0019】ところが、溶質の供給が停止すると、表面
での溶質分子の再分布が支配的となり、成長結晶の中心
部が再溶解し、周辺部に再析出を起こしてほぼ温度分布
に従った成長面が得られるのであろうと考えられる。
での溶質分子の再分布が支配的となり、成長結晶の中心
部が再溶解し、周辺部に再析出を起こしてほぼ温度分布
に従った成長面が得られるのであろうと考えられる。
【0020】
【実施例】以下、II−VI族化合物半導体のZnSe
をSe−Te溶媒を用いて成長する場合を例にとって説
明する。ZnSeは、青色発光半導体素子として期待さ
れる材料である。
をSe−Te溶媒を用いて成長する場合を例にとって説
明する。ZnSeは、青色発光半導体素子として期待さ
れる材料である。
【0021】図3に本発明の実施例に用いる結晶成長装
置を示す。図中左側に結晶成長装置の断面図を示し、図
中右側に炉内に設定される温度分布を示す。適当な径を
有する小口径の石英管1aと大口径の石英管1bを接続
し、結晶成長容器1を準備する。なお、この段階では大
口径の石英管1b上部は開放された状態である。
置を示す。図中左側に結晶成長装置の断面図を示し、図
中右側に炉内に設定される温度分布を示す。適当な径を
有する小口径の石英管1aと大口径の石英管1bを接続
し、結晶成長容器1を準備する。なお、この段階では大
口径の石英管1b上部は開放された状態である。
【0022】この成長結晶容器1を弗酸でエッチングし
て表面を清浄化する。表面を清浄化した結晶成長容器1
の底部にカーボン等の熱伝導率のよい材料で作成したヒ
ートシンク6を収納し、真空ベーキングを施す。ヒート
シンク6の一部には、予め刻みが入れられており、成長
容器1をそれに応じて変形させることによってヒートシ
ンク6を固定する。
て表面を清浄化する。表面を清浄化した結晶成長容器1
の底部にカーボン等の熱伝導率のよい材料で作成したヒ
ートシンク6を収納し、真空ベーキングを施す。ヒート
シンク6の一部には、予め刻みが入れられており、成長
容器1をそれに応じて変形させることによってヒートシ
ンク6を固定する。
【0023】シード結晶5として、面方位(111)面
を有するZnSe単結晶を準備する。なお、(111)
面以外のZnSe単結晶を用いることも可能である。シ
ード結晶5を鏡面研磨した後洗浄し、鏡面エッチングを
施す。このように準備したシード結晶5をヒートシンク
6の上面に形成された凹み内に載置し、その上に石英等
の材質で形成された円筒状のシード止め4を挿入する。
を有するZnSe単結晶を準備する。なお、(111)
面以外のZnSe単結晶を用いることも可能である。シ
ード結晶5を鏡面研磨した後洗浄し、鏡面エッチングを
施す。このように準備したシード結晶5をヒートシンク
6の上面に形成された凹み内に載置し、その上に石英等
の材質で形成された円筒状のシード止め4を挿入する。
【0024】シード結晶5の上面はヒートシンク6の上
面とほぼ面一とする。シード止め4の上端は、結晶成長
容器1の小径上端よりもわずかに下に配置されるように
する。シード止め4を配置した後、結晶成長容器1を凹
ますことにより、シード止め4を固定する。
面とほぼ面一とする。シード止め4の上端は、結晶成長
容器1の小径上端よりもわずかに下に配置されるように
する。シード止め4を配置した後、結晶成長容器1を凹
ますことにより、シード止め4を固定する。
【0025】その後、溶媒3として所定組成のSe−T
e混合物、ソース結晶2として溶媒の量および溶解度を
勘案した、所望の成長結晶量に必要な量のZnSeの多
結晶を結晶成長容器1内に投入する。ソース結晶2は、
少なくともシード止め4の内径よりも大きな塊状のもの
を用い、結晶成長容器1の段差を利用して保持される。
e混合物、ソース結晶2として溶媒の量および溶解度を
勘案した、所望の成長結晶量に必要な量のZnSeの多
結晶を結晶成長容器1内に投入する。ソース結晶2は、
少なくともシード止め4の内径よりも大きな塊状のもの
を用い、結晶成長容器1の段差を利用して保持される。
【0026】このようにソース結晶2、溶媒3を充填し
た結晶成長容器1を真空排気装置に接続し、その内部を
2×10-6Torrよりも高い真空度に真空排気し、開
放端を封止する。
た結晶成長容器1を真空排気装置に接続し、その内部を
2×10-6Torrよりも高い真空度に真空排気し、開
放端を封止する。
【0027】このように準備した結晶成長容器1を、図
3右側に示すような所定の温度分布を形成した電気炉内
に配置する。電気炉は内部に結晶成長容器1を収容する
ことのできる縦型空間を形成する炉心管7の周囲にヒー
タ線8を巻回した構成を有する。
3右側に示すような所定の温度分布を形成した電気炉内
に配置する。電気炉は内部に結晶成長容器1を収容する
ことのできる縦型空間を形成する炉心管7の周囲にヒー
タ線8を巻回した構成を有する。
【0028】なお、電気炉内においてはソース結晶2が
配置される位置の温度をTs、シード結晶5表面の結晶
成長が生じる部分の温度をTgで表す。ソース結晶2
は、ソース温度Tsで溶媒3中に飽和溶解度まで溶解す
る。ソース結晶成分は溶媒中を拡散し、低温部にまで移
動する。低温部においては飽和溶解度が低いため、溶液
は過飽和溶液となる。適当な過飽和度を有する過飽和溶
液がシード結晶5に接触することにより、シード結晶5
上に結晶成長が生じる。
配置される位置の温度をTs、シード結晶5表面の結晶
成長が生じる部分の温度をTgで表す。ソース結晶2
は、ソース温度Tsで溶媒3中に飽和溶解度まで溶解す
る。ソース結晶成分は溶媒中を拡散し、低温部にまで移
動する。低温部においては飽和溶解度が低いため、溶液
は過飽和溶液となる。適当な過飽和度を有する過飽和溶
液がシード結晶5に接触することにより、シード結晶5
上に結晶成長が生じる。
【0029】結晶成長開始前と結晶成長終了直後の結晶
成長容器1内の状態を、それぞれ図1(A)、(B)に
示す。結晶成長終了直後は、図1(B)に示すように、
ソース結晶2は完全に溶媒3中に溶解しており、成長結
晶9の上面は、中心部が周辺部よりも盛り上がった凸状
をしている。
成長容器1内の状態を、それぞれ図1(A)、(B)に
示す。結晶成長終了直後は、図1(B)に示すように、
ソース結晶2は完全に溶媒3中に溶解しており、成長結
晶9の上面は、中心部が周辺部よりも盛り上がった凸状
をしている。
【0030】ソース結晶2が完全に溶解した後、そのま
ま飽和溶液中で所定の時間熱処理を行う。十分な熱処理
を行った後の結晶成長容器内部の状態を、図1(C)に
示す。成長結晶9の上面は熱処理を行ったことにより、
平面状になっている。
ま飽和溶液中で所定の時間熱処理を行う。十分な熱処理
を行った後の結晶成長容器内部の状態を、図1(C)に
示す。成長結晶9の上面は熱処理を行ったことにより、
平面状になっている。
【0031】たとえば、シード結晶5の表面の温度(成
長温度)Tgが950℃、温度勾配が15℃/cmの成
長条件において、成長時間550時間でソース結晶がな
くなるような量のソース結晶2を仕込んだ時、成長時間
が510時間では凸状に盛り上がった上面を有し、中心
部の高さが約10mm、周辺部の高さが約7mmの円柱
状の成長結晶が得られた。
長温度)Tgが950℃、温度勾配が15℃/cmの成
長条件において、成長時間550時間でソース結晶がな
くなるような量のソース結晶2を仕込んだ時、成長時間
が510時間では凸状に盛り上がった上面を有し、中心
部の高さが約10mm、周辺部の高さが約7mmの円柱
状の成長結晶が得られた。
【0032】同一の条件の下で、結晶成長を開始してソ
ース結晶消滅後も同一温度条件で熱処理を継続し、60
0時間後に取り出した場合には、中心部も周辺部も約1
0.5mmの円柱状の成長結晶が得られた。
ース結晶消滅後も同一温度条件で熱処理を継続し、60
0時間後に取り出した場合には、中心部も周辺部も約1
0.5mmの円柱状の成長結晶が得られた。
【0033】なお、ソース結晶がなくならない条件にお
いて、600時間結晶成長を行った場合には、凸状に盛
り上がった上面を有し、中心部の高さが約12mm、周
辺部の高さが約8mmの円柱状成長結晶しか得られなか
った。
いて、600時間結晶成長を行った場合には、凸状に盛
り上がった上面を有し、中心部の高さが約12mm、周
辺部の高さが約8mmの円柱状成長結晶しか得られなか
った。
【0034】この成長結晶から均一な径のウエハが切り
出せるのは、中心部の高さの2/3しかなく、残りの部
分は切り落とすか削り取る必要がある。このように、円
柱状成長結晶の水平面の直径が均一な部分の長さも、結
晶成長後、ソース結晶がない状態で熱処理を行って60
0時間後に取り出して得られた円柱状成長結晶の長さに
比べて短かった。
出せるのは、中心部の高さの2/3しかなく、残りの部
分は切り落とすか削り取る必要がある。このように、円
柱状成長結晶の水平面の直径が均一な部分の長さも、結
晶成長後、ソース結晶がない状態で熱処理を行って60
0時間後に取り出して得られた円柱状成長結晶の長さに
比べて短かった。
【0035】上記のように、本実施例によると、均一な
ウエハを切り出すことができる結晶の長さが従来方法で
作成した結晶のものに比べて長くなり、かつ成長した結
晶をほぼ100%使用してウエハを切り出すことが可能
となる。
ウエハを切り出すことができる結晶の長さが従来方法で
作成した結晶のものに比べて長くなり、かつ成長した結
晶をほぼ100%使用してウエハを切り出すことが可能
となる。
【0036】次に、結晶成長容器1の上部の側面に、結
晶成長工程後に残ったソース結晶を溶液と分離するため
の側室部を設けた場合の実施例について説明する。図2
に、本発明の実施例による結晶成長を示す。図2(A)
は成長開始前、図2(B)は結晶成長終了後、図2
(C)は熱処理工程後の結晶成長容器内の状態を示す。
晶成長工程後に残ったソース結晶を溶液と分離するため
の側室部を設けた場合の実施例について説明する。図2
に、本発明の実施例による結晶成長を示す。図2(A)
は成長開始前、図2(B)は結晶成長終了後、図2
(C)は熱処理工程後の結晶成長容器内の状態を示す。
【0037】図2(A)に示すように、結晶成長容器1
0の上部側面に、結晶成長工程後の残ったソース結晶を
溶液から分離するための側室部11を設けてある。側室
部11の底部しきり11aは、溶媒上面より高くするこ
とが望ましい。
0の上部側面に、結晶成長工程後の残ったソース結晶を
溶液から分離するための側室部11を設けてある。側室
部11の底部しきり11aは、溶媒上面より高くするこ
とが望ましい。
【0038】前記実施例と同様の方法を用いて、結晶成
長容器10内にヒートシンク6、シード結晶5、シード
止め4、溶媒3およびソース結晶2を配置し、真空排気
後封止する。この結晶成長容器10を電気炉内に配置す
ることにより、シード結晶5上に結晶成長が生じる。
長容器10内にヒートシンク6、シード結晶5、シード
止め4、溶媒3およびソース結晶2を配置し、真空排気
後封止する。この結晶成長容器10を電気炉内に配置す
ることにより、シード結晶5上に結晶成長が生じる。
【0039】所望の成長結晶9が得られた状態を、図2
(B)に示す。この状態では、成長した結晶の上面は、
中心部が周辺部に比べて盛り上がった凸状になってい
る。その後、この結晶成長容器10を傾けて残ったソー
ス結晶2aを結晶成長容器上部の側室部11に移し、溶
液3aから分離する。この動作は結晶成長容器10のみ
を傾けて行っても、電気炉ごと傾けて行ってもよい。
(B)に示す。この状態では、成長した結晶の上面は、
中心部が周辺部に比べて盛り上がった凸状になってい
る。その後、この結晶成長容器10を傾けて残ったソー
ス結晶2aを結晶成長容器上部の側室部11に移し、溶
液3aから分離する。この動作は結晶成長容器10のみ
を傾けて行っても、電気炉ごと傾けて行ってもよい。
【0040】図2(C)に示すように、再び結晶成長容
器10を縦にし、成長結晶9を飽和溶液3a中で熱処理
を行うことにより、成長結晶9の上面が平坦になる。こ
の際の熱処理時間としては、成長結晶の厚さ等にも依存
するが、10〜100時間程度が望ましい。
器10を縦にし、成長結晶9を飽和溶液3a中で熱処理
を行うことにより、成長結晶9の上面が平坦になる。こ
の際の熱処理時間としては、成長結晶の厚さ等にも依存
するが、10〜100時間程度が望ましい。
【0041】このようにして、均一なウエハを切り出す
ことのできる結晶の長さが、従来方法で作製したものよ
り長く、かつ成長結晶をほぼ100%使用してウエハを
切り出すことができる結晶を作製することができる。
ことのできる結晶の長さが、従来方法で作製したものよ
り長く、かつ成長結晶をほぼ100%使用してウエハを
切り出すことができる結晶を作製することができる。
【0042】以上、Se−Te溶媒を用い、ZnSeを
結晶成長する場合を例にとって説明したが、上述の液相
結晶成長は、ソース結晶からの溶質の供給を停止した
後、成長結晶を飽和溶液中で熱処理することが特徴であ
り、Se−Te溶媒を用いたZnSeの溶液結晶成長に
限らず、広く溶液結晶成長に適用することが可能であ
る。
結晶成長する場合を例にとって説明したが、上述の液相
結晶成長は、ソース結晶からの溶質の供給を停止した
後、成長結晶を飽和溶液中で熱処理することが特徴であ
り、Se−Te溶媒を用いたZnSeの溶液結晶成長に
限らず、広く溶液結晶成長に適用することが可能であ
る。
【0043】また、本発明は、上記実施例に制限される
ものではない。たとえば、種々の変更、改良、組み合わ
せ等が可能なことは当業者に自明であろう。
ものではない。たとえば、種々の変更、改良、組み合わ
せ等が可能なことは当業者に自明であろう。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
成長結晶を成長後も飽和溶液中にそのまま保持する簡単
な工程により、平坦な上面を有する円柱状の成長結晶を
得ることができる。上面が平坦なため、均一な直径のウ
エハを切り出すことができる結晶の長さが長くなり、結
晶の利用効率を向上させることができる。
成長結晶を成長後も飽和溶液中にそのまま保持する簡単
な工程により、平坦な上面を有する円柱状の成長結晶を
得ることができる。上面が平坦なため、均一な直径のウ
エハを切り出すことができる結晶の長さが長くなり、結
晶の利用効率を向上させることができる。
【図1】本発明の実施例による溶液結晶成長を説明する
ための断面図である。
ための断面図である。
【図2】本発明の他の実施例による溶液結晶成長を説明
するための断面図である。
するための断面図である。
【図3】溶液結晶成長を説明するための断面図およびグ
ラフである。
ラフである。
1 結晶成長容器 2 ソース結晶 3 溶媒 4 シード止め 5 シード結晶 6 ヒートシンク 7 炉心管 8 ヒータ線 9 成長結晶 10 結晶成長容器 11 側室部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加藤 裕幸 神奈川県横浜市緑区鉄町1743 203号 (72)発明者 富田 尚太郎 神奈川県横浜市緑区荏田南2−17−8 205号 (72)発明者 奥野 保男 神奈川県横浜市緑区藤が丘2−37−2 A 302
Claims (3)
- 【請求項1】 溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高
温部にソース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を
行なう液相結晶成長方法において、 ソース結晶から溶質を供給し、ほぼ一定成長速度で結晶
成長を行う工程と、 ソース結晶からの溶質の供給を停止し、成長結晶を飽和
溶液中で熱処理する工程とを有することを特徴とする液
相結晶成長方法。 - 【請求項2】 前記溶質の供給を停止し、熱処理する工
程は、成長結晶と接する溶液からソース結晶を隔離する
ことを含む請求項1記載の液相結晶成長方法。 - 【請求項3】 溶媒の上下に温度差を形成し、溶媒の高
温部にソース結晶を配置し、溶媒の低温部で結晶成長を
行なう液相結晶成長装置において、 溶媒、ソース結晶およびシード結晶を収容し、上部の側
面に結晶成長工程後、残ったソース結晶を成長結晶と接
する溶液から分離するための側室部を設けた結晶成長容
器を有する液相結晶成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7025793A JP2706210B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 液相結晶成長方法および液相結晶成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7025793A JP2706210B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 液相結晶成長方法および液相結晶成長装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08208367A true JPH08208367A (ja) | 1996-08-13 |
| JP2706210B2 JP2706210B2 (ja) | 1998-01-28 |
Family
ID=13426321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7025793A Expired - Lifetime JP2706210B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | 液相結晶成長方法および液相結晶成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2706210B2 (ja) |
-
1993
- 1993-03-29 JP JP7025793A patent/JP2706210B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2706210B2 (ja) | 1998-01-28 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970909 |