JPH08259384A - 閉管式エピタキシャル成長装置 - Google Patents
閉管式エピタキシャル成長装置Info
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- JPH08259384A JPH08259384A JP5733395A JP5733395A JPH08259384A JP H08259384 A JPH08259384 A JP H08259384A JP 5733395 A JP5733395 A JP 5733395A JP 5733395 A JP5733395 A JP 5733395A JP H08259384 A JPH08259384 A JP H08259384A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 封管の回転により,溶液を封管内の複数室の
間で移送する。 【構成】 水平な回転軸1を有する封管2と,封管2内
を回転軸1方向に分割する隔壁3により隔てられた第一
の室4及び第二の室5と,第一の室4に入口7aを有
し,第一の室4と第二の室5とを連結する溶液導入路7
とを備え,溶液導入路7の入口7aは第二の室5に流入
した溶液8面より高い位置に設けられる。
間で移送する。 【構成】 水平な回転軸1を有する封管2と,封管2内
を回転軸1方向に分割する隔壁3により隔てられた第一
の室4及び第二の室5と,第一の室4に入口7aを有
し,第一の室4と第二の室5とを連結する溶液導入路7
とを備え,溶液導入路7の入口7aは第二の室5に流入
した溶液8面より高い位置に設けられる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は回転式傾斜法による閉管
式液相エピタキシャル成長装置に関する。赤外線検知器
に使用されるHgCdTeの如く蒸気圧が高く分解し易
い化合物半導体の液相エピタキシャル成長(LPE成
長)には,傾斜法を用いた閉管式液相エピタキシャル成
長装置が広く使用されている。傾斜法は,封管中にソー
ス材料,エピタキシャル基板,及び溶液を封入し,ソー
ス材料に接触している溶液を封管を傾斜することにより
ソース材料から引き離し,エピタキシャル基板に接触さ
せてLEP成長を行う液相エピタキシャル成長法であ
る。
式液相エピタキシャル成長装置に関する。赤外線検知器
に使用されるHgCdTeの如く蒸気圧が高く分解し易
い化合物半導体の液相エピタキシャル成長(LPE成
長)には,傾斜法を用いた閉管式液相エピタキシャル成
長装置が広く使用されている。傾斜法は,封管中にソー
ス材料,エピタキシャル基板,及び溶液を封入し,ソー
ス材料に接触している溶液を封管を傾斜することにより
ソース材料から引き離し,エピタキシャル基板に接触さ
せてLEP成長を行う液相エピタキシャル成長法であ
る。
【0002】かかるLPE法では,溶液組成を一定にす
るために,所定温度下で溶液をソース材料に接触させて
飽和溶液とし,その後溶液を成長温度に降温しエピタキ
シャル成長することが望ましい。
るために,所定温度下で溶液をソース材料に接触させて
飽和溶液とし,その後溶液を成長温度に降温しエピタキ
シャル成長することが望ましい。
【0003】このため,所定温度下で融液とソースとを
接触させ飽和させた後,溶液のみを成長室に移送できる
閉管式液相エピタキシャル成長装置が必要とされてい
る。
接触させ飽和させた後,溶液のみを成長室に移送できる
閉管式液相エピタキシャル成長装置が必要とされてい
る。
【0004】
【従来の技術】半導体の液相エピタキシャル成長には,
浸漬法,ボートスライド法又は傾斜法(チッピング法)
が主に用いられる。図8は従来例断面図であり,液相エ
ピタキシャル成長装置の断面を表している。
浸漬法,ボートスライド法又は傾斜法(チッピング法)
が主に用いられる。図8は従来例断面図であり,液相エ
ピタキシャル成長装置の断面を表している。
【0005】浸漬法は,図8(a)を参照して,ヒータ
44で加熱されたルツボ内の溶液41に,基板ホルダ4
3に水平に保持されたエピタキシャル基板42を浸漬し
て,基板42表面に半導体を析出させ堆積する。また,
ボートスライド法は,図8(b)を参照して,上面が水
平に設置された基板ホルダ43上面の窪みに基板42を
埋込み,その基板ホルダ43上面上を,溶液41を保持
するための貫通口を有するスライダ45を摺動させて,
溶液41を基板42上に移動する。
44で加熱されたルツボ内の溶液41に,基板ホルダ4
3に水平に保持されたエピタキシャル基板42を浸漬し
て,基板42表面に半導体を析出させ堆積する。また,
ボートスライド法は,図8(b)を参照して,上面が水
平に設置された基板ホルダ43上面の窪みに基板42を
埋込み,その基板ホルダ43上面上を,溶液41を保持
するための貫通口を有するスライダ45を摺動させて,
溶液41を基板42上に移動する。
【0006】かかる浸漬法及びボートスライド法では,
基板ホルダ43又はスライダ45の移動機構を必要とす
るがこれらの機構を閉管内に配置することは難しく,通
常は開管式液相エピタキシャル成長装置として構成され
る。
基板ホルダ43又はスライダ45の移動機構を必要とす
るがこれらの機構を閉管内に配置することは難しく,通
常は開管式液相エピタキシャル成長装置として構成され
る。
【0007】傾斜法は,図8(c)を参照して,傾斜し
て置かれた管状炉の高い位置の一端に基板42を置き,
低い位置にある他端に溶液41を保持して所定温度に昇
温した後,傾斜を逆に傾けることで,図8(c)に示す
ように基板42に溶液41を接触させ半導体を堆積す
る。
て置かれた管状炉の高い位置の一端に基板42を置き,
低い位置にある他端に溶液41を保持して所定温度に昇
温した後,傾斜を逆に傾けることで,図8(c)に示す
ように基板42に溶液41を接触させ半導体を堆積す
る。
【0008】傾斜法の他の方式に回転式傾斜法がある。
図8(d)及び(e)は回転式傾斜法を適用した管状炉
の断面を表している。図8(d)を参照して,管の両端
を封じて製作された封管32を水平に設け,その封管3
2の上部に設けられた基板ホルダ30の下面に基板38
を保持し,底部に融液35を基板38と接触しないよう
に保持し,加熱する。昇温後,封管32をその中心軸廻
りに180度回転させて,融液35中に基板38を浸漬
し,半導体を堆積する。
図8(d)及び(e)は回転式傾斜法を適用した管状炉
の断面を表している。図8(d)を参照して,管の両端
を封じて製作された封管32を水平に設け,その封管3
2の上部に設けられた基板ホルダ30の下面に基板38
を保持し,底部に融液35を基板38と接触しないよう
に保持し,加熱する。昇温後,封管32をその中心軸廻
りに180度回転させて,融液35中に基板38を浸漬
し,半導体を堆積する。
【0009】上述した傾斜法は,融液の移動を炉体の傾
斜又は回転のみで行い,炉内に機械的移動手段を設ける
必要がないから,閉管式液相エピタキシャル成長装置へ
の適用が容易である。また,とくに回転式傾斜法では装
置構造が簡単という利点がある。このため,蒸気圧が高
く分解し易い半導体の堆積には,傾斜法,とくに回転式
傾斜法を用いた閉管式液相エピタキシャル成長装置が多
用される。
斜又は回転のみで行い,炉内に機械的移動手段を設ける
必要がないから,閉管式液相エピタキシャル成長装置へ
の適用が容易である。また,とくに回転式傾斜法では装
置構造が簡単という利点がある。このため,蒸気圧が高
く分解し易い半導体の堆積には,傾斜法,とくに回転式
傾斜法を用いた閉管式液相エピタキシャル成長装置が多
用される。
【0010】しかし,閉管式の成長装置では,浸漬法の
ように多量の溶液を用いて,同一溶液から多数の基板に
順次半導体を堆積するという方法を採ることができな
い。このため,一回の成長毎に少量の溶液を計量しなけ
ればならず,微量成分の精密測定の困難性から,成長ご
との組成を一定にすることが難しい。
ように多量の溶液を用いて,同一溶液から多数の基板に
順次半導体を堆積するという方法を採ることができな
い。このため,一回の成長毎に少量の溶液を計量しなけ
ればならず,微量成分の精密測定の困難性から,成長ご
との組成を一定にすることが難しい。
【0011】また,ボートスライド法のように,一つの
基板に堆積する毎に溶液とソース基板とを接触させ平衡
状態とすることで溶液組成を一定に保持するという方法
を採用することも困難である。このため,閉管式の成長
装置では,基板毎の半導体組成の変動が大きいという問
題を生ずる。
基板に堆積する毎に溶液とソース基板とを接触させ平衡
状態とすることで溶液組成を一定に保持するという方法
を採用することも困難である。このため,閉管式の成長
装置では,基板毎の半導体組成の変動が大きいという問
題を生ずる。
【0012】この問題を解決するため,回転式傾斜法に
おいてソース板を使用できる液相エピタキシャル成長装
置が考案され,特開昭59─79534号公報に開示さ
れている。
おいてソース板を使用できる液相エピタキシャル成長装
置が考案され,特開昭59─79534号公報に開示さ
れている。
【0013】この成長装置では,図8(e)を参照し
て,水平回転軸を有する円筒封管32の中に,断面L字
型の基板ホルダ30が,封管32の内壁にL字の上端が
密着するように設けられる。また,L字の垂直部分の両
側に基板38及びソース板40が保持される。初め,基
板38及びソース板40を水平に保持する回転位置に封
管32を固定し,原料を溶融して溶液35を形成する。
次いで,所定温度に達した後,封管32を反時計廻りに
180°回転し,ソース板40上に溶液35を移動させ
そのまま飽和溶液になるまで保持する。次いで,封管3
2を時計廻りに360°回転させ,円筒封管32下部の
溶液35に基板38を接触させてエピタキシャル成長を
行う。
て,水平回転軸を有する円筒封管32の中に,断面L字
型の基板ホルダ30が,封管32の内壁にL字の上端が
密着するように設けられる。また,L字の垂直部分の両
側に基板38及びソース板40が保持される。初め,基
板38及びソース板40を水平に保持する回転位置に封
管32を固定し,原料を溶融して溶液35を形成する。
次いで,所定温度に達した後,封管32を反時計廻りに
180°回転し,ソース板40上に溶液35を移動させ
そのまま飽和溶液になるまで保持する。次いで,封管3
2を時計廻りに360°回転させ,円筒封管32下部の
溶液35に基板38を接触させてエピタキシャル成長を
行う。
【0014】この成長装置によれば,溶液をソース板に
接触させて飽和させることができるので,組成変動を小
さくすることができる。しかし,基板を浸漬できるだけ
の多量の溶液を必要とする。また,原材料及びソース板
は極めて酸化し易いため,それらの表面に生じた酸化物
が溶液表面に浮き,結晶成長の障害になるという問題が
ある。さらに,基板をソース材及び溶液原料と同室内に
保持して昇降温するため,基板表面を汚染するおそれが
ある。とくに,基板よりも溶融温度が低い材料をソース
材として使用できない。さらにまた,異なる組成の半導
体を積層して成長することはできない。
接触させて飽和させることができるので,組成変動を小
さくすることができる。しかし,基板を浸漬できるだけ
の多量の溶液を必要とする。また,原材料及びソース板
は極めて酸化し易いため,それらの表面に生じた酸化物
が溶液表面に浮き,結晶成長の障害になるという問題が
ある。さらに,基板をソース材及び溶液原料と同室内に
保持して昇降温するため,基板表面を汚染するおそれが
ある。とくに,基板よりも溶融温度が低い材料をソース
材として使用できない。さらにまた,異なる組成の半導
体を積層して成長することはできない。
【0015】この問題のうち,溶液表面に浮遊する酸化
物を除去できる回転式傾斜法を用いた閉管式液相エピタ
キシャル成長装置が,特開昭62−163334に開示
されている。
物を除去できる回転式傾斜法を用いた閉管式液相エピタ
キシャル成長装置が,特開昭62−163334に開示
されている。
【0016】図8(f)はその成長装置の縦断面図であ
る。封管32の中心を通る回転軸31は水平に設置され
る。封管32の両端に設けられた側板39により仕切ら
れた封管32内は,その中央に設けられた隔壁33によ
り2分割される。分割された一方の室には封管32の回
転軸31より上方に水平に基板38が設けられる。ま
た,他方の室には原材料36が封入される。この両室
は,隔壁33の下端に設けられた細い連通管34により
連結される。
る。封管32の中心を通る回転軸31は水平に設置され
る。封管32の両端に設けられた側板39により仕切ら
れた封管32内は,その中央に設けられた隔壁33によ
り2分割される。分割された一方の室には封管32の回
転軸31より上方に水平に基板38が設けられる。ま
た,他方の室には原材料36が封入される。この両室
は,隔壁33の下端に設けられた細い連通管34により
連結される。
【0017】この封管32を,管状炉に挿入して昇温し
原材料36を溶融する。溶液35は隔壁33下端の連通
管34を通り,基板38を保持する室に流入する。次い
で,成長温度まで降温したのち,封管32を回転軸31
廻りに回転して,基板38を溶液に浸漬することにより
エピタキシャル成長がなされる。
原材料36を溶融する。溶液35は隔壁33下端の連通
管34を通り,基板38を保持する室に流入する。次い
で,成長温度まで降温したのち,封管32を回転軸31
廻りに回転して,基板38を溶液に浸漬することにより
エピタキシャル成長がなされる。
【0018】この装置では,原材料36の酸化物37は
溶液の表面に浮上し,細い連通管34を通過できない。
従って,基板38を保持する室に酸化物は入り込まない
ので欠陥の少ない半導体を堆積できる。
溶液の表面に浮上し,細い連通管34を通過できない。
従って,基板38を保持する室に酸化物は入り込まない
ので欠陥の少ない半導体を堆積できる。
【0019】しかし,この装置には,ソース材を保持し
飽和溶液とするための装置が設けられていない。これを
先に述べたソース材を保持する回転式の装置と組み合わ
せても,同一室内に基板,ソース材及び溶液を保持した
まま温度の昇降をなさねばならず,基板の汚染を回避で
きず,また汚染原とならずかつ固形物にのみソース材料
が制限されるという問題は避けられない。さらに,エピ
タキシャル成長できる組成はソース材と溶液組成及び接
触時の温度により定まるから,組成の異なる半導体を,
特にドーパントの異なる半導体を積層して成長すること
ができない。
飽和溶液とするための装置が設けられていない。これを
先に述べたソース材を保持する回転式の装置と組み合わ
せても,同一室内に基板,ソース材及び溶液を保持した
まま温度の昇降をなさねばならず,基板の汚染を回避で
きず,また汚染原とならずかつ固形物にのみソース材料
が制限されるという問題は避けられない。さらに,エピ
タキシャル成長できる組成はソース材と溶液組成及び接
触時の温度により定まるから,組成の異なる半導体を,
特にドーパントの異なる半導体を積層して成長すること
ができない。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】上述したように,従来
の封管式液相エピタキシャル結晶成長装置では,一室内
に基板とソース板を保持するため,ソース材料が制限さ
れ又基板の汚染を生ずるという問題がある。また,溶液
組成を変えることができないため,組成の異なるエピタ
キシャル成長層を積層して成長することができないとい
う欠点がある。
の封管式液相エピタキシャル結晶成長装置では,一室内
に基板とソース板を保持するため,ソース材料が制限さ
れ又基板の汚染を生ずるという問題がある。また,溶液
組成を変えることができないため,組成の異なるエピタ
キシャル成長層を積層して成長することができないとい
う欠点がある。
【0021】本発明は,回転式傾斜法を用いた封管式液
相エピタキシャル成長装置において,基板を保持する室
と,ソース板とを保持する室とを分離して設け,その間
を一方にのみ溶液の移動が可能な溶液導入路により連結
することにより,原材料を溶融して溶液とする昇温過程
及びソース板に接触して過飽和とする過程と,エピタキ
シャル成長過程とを,各別に分離された室で行うことを
可能とし,ソース材の制限が少なく,かつ汚染が少ない
閉管式液相エピタキシャル成長装置を提供することを目
的とする。
相エピタキシャル成長装置において,基板を保持する室
と,ソース板とを保持する室とを分離して設け,その間
を一方にのみ溶液の移動が可能な溶液導入路により連結
することにより,原材料を溶融して溶液とする昇温過程
及びソース板に接触して過飽和とする過程と,エピタキ
シャル成長過程とを,各別に分離された室で行うことを
可能とし,ソース材の制限が少なく,かつ汚染が少ない
閉管式液相エピタキシャル成長装置を提供することを目
的とする。
【0022】また,組成の異なるエピタキシャル成長層
を連続して堆積することができる閉管式液相エピタキシ
ャル成長装置を提供することを目的とする。
を連続して堆積することができる閉管式液相エピタキシ
ャル成長装置を提供することを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
断面図,図5は本発明の第二実施例断面図,図6は本発
明の第三実施例断面図であり,図1(a),図5
(a),図6(a)は液相エピタキシャル成長装置の回
転軸に平行な縦断面を,図1,図5及び図6の(b)〜
(e)はその回転軸に垂直な断面を表している。
断面図,図5は本発明の第二実施例断面図,図6は本発
明の第三実施例断面図であり,図1(a),図5
(a),図6(a)は液相エピタキシャル成長装置の回
転軸に平行な縦断面を,図1,図5及び図6の(b)〜
(e)はその回転軸に垂直な断面を表している。
【0024】上記課題を解決するための本発明の第一の
構成は,図1を参照して,水平な回転軸1を有する封管
2と,該封管2内を該回転軸1方向に分割する隔壁3に
より隔てられた第一の室4及び第二の室5と,該第一の
室4に入口7aを有し,該第一の室4と該第二の室5と
を連結する溶液導入路7とを備え,該入口7aは,該第
二の室5内の溶液面の最高位置より高い位置に設けられ
ることを特徴として構成し,及び,第二の構成は,図1
を参照して,第一の構成の閉管式エピタキシャル成長装
置において,該第二の室5の床面5aは,該第一の室5
の床面4aより該封管2の外周側に設けられていること
を特徴として構成し,及び,第三の構成は,図5を参照
して,水平な回転軸1を有する封管2と,該封管2内を
該回転軸1方向に分割する隔壁3により隔てられた第一
及び第二の室4,5と,該隔壁3を貫通して第一及び第
二の室4,5を接続する第一及び第二の溶液導入路7,
9とを有し,該第一の室4の床面4a,4bは,該封管
2の第一の回転位置R4で該第二の室5に流入した溶液
面より高い位置に設けられ,かつ該封管の第二の回転位
置R3で該第二の室の床面5bより低い位置に設けら
れ,該第一の溶液導入路7は,該第一の回転位置R4に
おける該第一の室4の床面4a近傍より低い位置に設け
られ,該第二の溶液導入路9は,該第二の回転位置R3
における該第二の室5の床面5b近傍より低い位置に設
けられたことを特徴として構成し,及び第四の構成は,
図1,図5を参照して,水平な回転軸1廻りに回転自在
に設けられた封管2と,該回転軸1方向に隣接して該封
管2内に設けられた溶液保持室4及び成長室5と,該成
長室5内壁面に設けられ,該回転軸1と平行に基板11
表面を保持する基板ホルダ11aと,該溶液保持室4内
壁面に設けられ,該基板11表面と平行にソース板12
表面を保持するソースホルダ12aと,該溶液保持室4
と該成長室5とを連結し,該溶液保持室4から該成長室
5へ向かい該回転軸1から離れる向きに設けられた管状
の溶液導入路7とを有し,該封管1を回転させて該溶液
保持室内4に保持された溶液8−1を該ソース板12に
接触させた後,再度該封管1を回転させて該溶液8−1
を該溶液導入路7を通して該成長室5へ流出させる封管
回転手段とを有することを特徴として構成し,及び,第
五の構成は,図6を参照して,水平な回転軸1を有する
封管2内に,溶液及びソース板12を室内に保持する溶
液保持室4,エピタキシャル基板11を室内に保持する
成長室5及びドーパント材13を室内に保持するドーパ
ント保持室6が,該封管2の内部を該回転軸1方向に3
分割する第一及び第二の隔壁3a,3bにより隔てられ
てこの順序で設けられ,該溶液保持室4と該成長室5と
を連結し,該封管2の第一の回転位置R4で該溶液保持
室4内に保持された溶液を該成長室5へ流出させる該第
一の隔壁3aに設けられた第一の溶液導入路7−1と,
該封管2の第二の回転位置R3で,該成長室5内の溶液
を該ドーパント保持室6へ移送するために該第二の隔壁
3bに設けられた第二の溶液導入路7−2と,該封管2
の第三の回転位置R4で,該ドーパント保持室6内の溶
液を該成長室5内へ移送するために該第二の隔壁3bに
設けられた第三の溶液導入路9とを有することを特徴と
して構成する。
構成は,図1を参照して,水平な回転軸1を有する封管
2と,該封管2内を該回転軸1方向に分割する隔壁3に
より隔てられた第一の室4及び第二の室5と,該第一の
室4に入口7aを有し,該第一の室4と該第二の室5と
を連結する溶液導入路7とを備え,該入口7aは,該第
二の室5内の溶液面の最高位置より高い位置に設けられ
ることを特徴として構成し,及び,第二の構成は,図1
を参照して,第一の構成の閉管式エピタキシャル成長装
置において,該第二の室5の床面5aは,該第一の室5
の床面4aより該封管2の外周側に設けられていること
を特徴として構成し,及び,第三の構成は,図5を参照
して,水平な回転軸1を有する封管2と,該封管2内を
該回転軸1方向に分割する隔壁3により隔てられた第一
及び第二の室4,5と,該隔壁3を貫通して第一及び第
二の室4,5を接続する第一及び第二の溶液導入路7,
9とを有し,該第一の室4の床面4a,4bは,該封管
2の第一の回転位置R4で該第二の室5に流入した溶液
面より高い位置に設けられ,かつ該封管の第二の回転位
置R3で該第二の室の床面5bより低い位置に設けら
れ,該第一の溶液導入路7は,該第一の回転位置R4に
おける該第一の室4の床面4a近傍より低い位置に設け
られ,該第二の溶液導入路9は,該第二の回転位置R3
における該第二の室5の床面5b近傍より低い位置に設
けられたことを特徴として構成し,及び第四の構成は,
図1,図5を参照して,水平な回転軸1廻りに回転自在
に設けられた封管2と,該回転軸1方向に隣接して該封
管2内に設けられた溶液保持室4及び成長室5と,該成
長室5内壁面に設けられ,該回転軸1と平行に基板11
表面を保持する基板ホルダ11aと,該溶液保持室4内
壁面に設けられ,該基板11表面と平行にソース板12
表面を保持するソースホルダ12aと,該溶液保持室4
と該成長室5とを連結し,該溶液保持室4から該成長室
5へ向かい該回転軸1から離れる向きに設けられた管状
の溶液導入路7とを有し,該封管1を回転させて該溶液
保持室内4に保持された溶液8−1を該ソース板12に
接触させた後,再度該封管1を回転させて該溶液8−1
を該溶液導入路7を通して該成長室5へ流出させる封管
回転手段とを有することを特徴として構成し,及び,第
五の構成は,図6を参照して,水平な回転軸1を有する
封管2内に,溶液及びソース板12を室内に保持する溶
液保持室4,エピタキシャル基板11を室内に保持する
成長室5及びドーパント材13を室内に保持するドーパ
ント保持室6が,該封管2の内部を該回転軸1方向に3
分割する第一及び第二の隔壁3a,3bにより隔てられ
てこの順序で設けられ,該溶液保持室4と該成長室5と
を連結し,該封管2の第一の回転位置R4で該溶液保持
室4内に保持された溶液を該成長室5へ流出させる該第
一の隔壁3aに設けられた第一の溶液導入路7−1と,
該封管2の第二の回転位置R3で,該成長室5内の溶液
を該ドーパント保持室6へ移送するために該第二の隔壁
3bに設けられた第二の溶液導入路7−2と,該封管2
の第三の回転位置R4で,該ドーパント保持室6内の溶
液を該成長室5内へ移送するために該第二の隔壁3bに
設けられた第三の溶液導入路9とを有することを特徴と
して構成する。
【0025】
【作用】本発明の第一の構成では,図1を参照して,封
管の回転軸1と交叉する隔壁3により2室4,5に仕切
られた封管2が,回転軸1廻りに回転自在(一方向であ
っても,又必要により正逆回転であってもよい。)に水
平に保持される。この2室は,溶液導入路7により連結
される。なお,隔壁3は回転軸1と交叉すれば,平面又
は曲面であってもよく,また回転軸1と直交する必要も
ない。
管の回転軸1と交叉する隔壁3により2室4,5に仕切
られた封管2が,回転軸1廻りに回転自在(一方向であ
っても,又必要により正逆回転であってもよい。)に水
平に保持される。この2室は,溶液導入路7により連結
される。なお,隔壁3は回転軸1と交叉すれば,平面又
は曲面であってもよく,また回転軸1と直交する必要も
ない。
【0026】図中,R1〜R4は封管2の回転位置を表
し,図1(a)〜(c)において,4つの回転位置に対
応して鉛直下方となる向きを表している。なお,図1
(a)〜(c)は,R4の回転位置に於ける鉛直断面を
表している。
し,図1(a)〜(c)において,4つの回転位置に対
応して鉛直下方となる向きを表している。なお,図1
(a)〜(c)は,R4の回転位置に於ける鉛直断面を
表している。
【0027】封管2の回転位置R4において,第一の室
4に保持されていた溶液8−4は,溶液導入路7を通り
第二の室5に流入する。この第一の室4に開口する溶液
導入路7の入口7aは,回転位置R4において第二の室
5に流入した溶液8の最高液面より高い位置に設けられ
る。従って,一旦第二の室5に流入した溶液8は,その
後の封管2の回転位置が変わっても,同一の溶液導入路
7を通って再度第一の室4へ逆戻りすることはない。即
ち,本発明に係る溶液導入路は,溶液を一方向にのみ移
送する。
4に保持されていた溶液8−4は,溶液導入路7を通り
第二の室5に流入する。この第一の室4に開口する溶液
導入路7の入口7aは,回転位置R4において第二の室
5に流入した溶液8の最高液面より高い位置に設けられ
る。従って,一旦第二の室5に流入した溶液8は,その
後の封管2の回転位置が変わっても,同一の溶液導入路
7を通って再度第一の室4へ逆戻りすることはない。即
ち,本発明に係る溶液導入路は,溶液を一方向にのみ移
送する。
【0028】なお,かかる第二の室5の溶液8面の位置
は,第二の室5の床面5aの位置,第二の室の形状,例
えば横断面形状,縦断面形状,寸法を適切に設計するこ
とにより,所要の位置にすることができる。
は,第二の室5の床面5aの位置,第二の室の形状,例
えば横断面形状,縦断面形状,寸法を適切に設計するこ
とにより,所要の位置にすることができる。
【0029】次に,本構成の液相エピタキシャル装置の
使用法を説明する。初めに回転位置を例えばR1とし,
原材料を第一の室4に保持し加熱溶融して溶液8−1と
する。次に,封管2を回転して回転位置をR4とする。
この回転により,溶液8─1は,封管2内を例えば90
°移動して溶液8−4の位置に移動する。従って,この
溶液8−4は,溶液導入路7の入口7aから溶液導入路
7に流入し第二の室4に移送される。
使用法を説明する。初めに回転位置を例えばR1とし,
原材料を第一の室4に保持し加熱溶融して溶液8−1と
する。次に,封管2を回転して回転位置をR4とする。
この回転により,溶液8─1は,封管2内を例えば90
°移動して溶液8−4の位置に移動する。従って,この
溶液8−4は,溶液導入路7の入口7aから溶液導入路
7に流入し第二の室4に移送される。
【0030】第二の室4には,この回転位置R4では溶
液8に触れない位置に基板11が保持されている。次い
で,第二の室5に移送された溶液8の温度が成長温度に
到達した後,封管2を回転して溶液8を基板11に接触
させ,エピタキシャル成長を行う。
液8に触れない位置に基板11が保持されている。次い
で,第二の室5に移送された溶液8の温度が成長温度に
到達した後,封管2を回転して溶液8を基板11に接触
させ,エピタキシャル成長を行う。
【0031】本構成の液相エピタキシャル装置では,原
材料の溶解から,溶解した溶液の保持,さらに必要なら
ばソース板の保持と溶液を過飽和にするまでの過程と,
基板上へのエピタキシャル成長の過程とを異なる室で行
うことができる。このため,溶液の形成又は飽和溶液を
形成する間に生ずる基板の汚染を,極めて小さくするこ
とができる。さらに,本構成は,原材料が室温で液体で
あっても適用することができる。
材料の溶解から,溶解した溶液の保持,さらに必要なら
ばソース板の保持と溶液を過飽和にするまでの過程と,
基板上へのエピタキシャル成長の過程とを異なる室で行
うことができる。このため,溶液の形成又は飽和溶液を
形成する間に生ずる基板の汚染を,極めて小さくするこ
とができる。さらに,本構成は,原材料が室温で液体で
あっても適用することができる。
【0032】本発明の第二の構成では,この回転位置R
4において,第一の室4の床面4aが,第二の室5に流
入した溶液8の最高液面よりも高い位置に作られる。な
お,本明細書において,室の「床面」とは,封管2の特
定された回転位置において封管内に設けられた室の底と
なる面,即ち,室の鉛直下方の内壁面を意味する。ま
た,第一及び第二の室4,5を接続する溶液導入路7
が,これらの室4,5のうち高い位置にある第一の室の
床面4aより下に設けられる。従って,この溶液導入路
7は,溶液を第一の室から第二の室に移送することがで
きる。
4において,第一の室4の床面4aが,第二の室5に流
入した溶液8の最高液面よりも高い位置に作られる。な
お,本明細書において,室の「床面」とは,封管2の特
定された回転位置において封管内に設けられた室の底と
なる面,即ち,室の鉛直下方の内壁面を意味する。ま
た,第一及び第二の室4,5を接続する溶液導入路7
が,これらの室4,5のうち高い位置にある第一の室の
床面4aより下に設けられる。従って,この溶液導入路
7は,溶液を第一の室から第二の室に移送することがで
きる。
【0033】さらに,本構成では,第二の室に流入した
溶液の液面は第一の室の床面よりも低く構成されるか
ら,第一の室内の溶液の全部を第二の室に移動すること
ができる。その一方,溶液が逆に第二の室から第一の室
に戻ることを完全に阻止することができる。
溶液の液面は第一の室の床面よりも低く構成されるか
ら,第一の室内の溶液の全部を第二の室に移動すること
ができる。その一方,溶液が逆に第二の室から第一の室
に戻ることを完全に阻止することができる。
【0034】本発明の第三の構成では,図5を参照し
て,2室4,5間に2つの溶液導入路が設けられる。第
一の溶液導入路7は,封管の第一の回転位置R4におい
て溶液を第一の室4から第二の室5に移送するもので,
上述した本発明の第二の構成と同様である。従って,封
管2をこの回転位置R4におくと,全ての溶液が第二の
室5に移送される。
て,2室4,5間に2つの溶液導入路が設けられる。第
一の溶液導入路7は,封管の第一の回転位置R4におい
て溶液を第一の室4から第二の室5に移送するもので,
上述した本発明の第二の構成と同様である。従って,封
管2をこの回転位置R4におくと,全ての溶液が第二の
室5に移送される。
【0035】第二の溶液導入路9は,封管の第二の回転
位置R3において溶液を第二の室5から第一の室4に移
送するもので,上述した本発明の第一の構成と同様であ
る。従って,この構成では,溶液の一部を第二の室5に
残すこともできる。なお,この第二の溶液導入路9を第
二の構成と同様にして溶液の全部を第一の室に移送させ
ることもできる。
位置R3において溶液を第二の室5から第一の室4に移
送するもので,上述した本発明の第一の構成と同様であ
る。従って,この構成では,溶液の一部を第二の室5に
残すこともできる。なお,この第二の溶液導入路9を第
二の構成と同様にして溶液の全部を第一の室に移送させ
ることもできる。
【0036】本構成では,封管2を,2つの回転位置R
4,R3に持ち来すように交互に回転することにより,
溶液を2つの室4,5の間で交互に移送することができ
る。従って,一旦成長に用いた溶液を,別室に導入して
ソース材又はドープ材に接触させた後,再度成長に用い
ることができる。このため,組成の異なるエピタキシャ
ル成長を続けて行うことができる。また,ソース材を一
つの室内の2ヶ所に設け,回転位置により何れか一方を
選択して溶液と接触させることもができる。従って,組
成が異なる2種又は3種のエピタキシャル成長層を積層
することができる。
4,R3に持ち来すように交互に回転することにより,
溶液を2つの室4,5の間で交互に移送することができ
る。従って,一旦成長に用いた溶液を,別室に導入して
ソース材又はドープ材に接触させた後,再度成長に用い
ることができる。このため,組成の異なるエピタキシャ
ル成長を続けて行うことができる。また,ソース材を一
つの室内の2ヶ所に設け,回転位置により何れか一方を
選択して溶液と接触させることもができる。従って,組
成が異なる2種又は3種のエピタキシャル成長層を積層
することができる。
【0037】本発明の第四の構成では,図1を参照し
て,水平な回転軸1方向に並べて,溶液保持室4及び成
長室5とが封管2内に隣接して設けられる。溶液保持室
4及び成長室5内には,エピタキシャル基板11及びソ
ース板12が回転軸1に平行に保持される。この基板1
1及びソース板12は,封管2を基板11及びソース板
12が下にくる回転位置R2にまで回転することで,溶
液と接触させることができる。 溶液保持室4と成長室
5とは,溶液保持室4から成長室5へ向けて回転軸1か
ら離れる方向に設けられた管状の溶液導入路7により接
続される。この溶液導入路7は,封管2の回転位置R4
において,下方に向かい傾斜するため,溶液保持室4内
の溶液8−4を成長室5内に確実に移送する。なお,こ
の傾斜する溶液導入路7は,第一又は第二の構成にも適
用できる。
て,水平な回転軸1方向に並べて,溶液保持室4及び成
長室5とが封管2内に隣接して設けられる。溶液保持室
4及び成長室5内には,エピタキシャル基板11及びソ
ース板12が回転軸1に平行に保持される。この基板1
1及びソース板12は,封管2を基板11及びソース板
12が下にくる回転位置R2にまで回転することで,溶
液と接触させることができる。 溶液保持室4と成長室
5とは,溶液保持室4から成長室5へ向けて回転軸1か
ら離れる方向に設けられた管状の溶液導入路7により接
続される。この溶液導入路7は,封管2の回転位置R4
において,下方に向かい傾斜するため,溶液保持室4内
の溶液8−4を成長室5内に確実に移送する。なお,こ
の傾斜する溶液導入路7は,第一又は第二の構成にも適
用できる。
【0038】本構成の装置では,溶液保持室内4の溶液
8−1を封管2を回転してソース板12に接触させた
後,再度封管2を回転させて溶液8−1を溶液導入路7
を通して成長室5へ流出させ,成長温度に到達後封管2
を回転させて溶液8と基板11とを接触させ,エピタキ
シャル成長をおこなう。この装置では,原材料の溶融,
溶液温度の昇降,溶液の移送を全てソース板又は基板に
溶液を接触することなく行うことができる。また,ソー
ス板及び原材料と,基板とは別の室に分離して置かれ
る。このため,基板の汚染を考慮せずにこれらの処理温
度を自由に定めることができるから,広範な組成の制御
が可能となる。
8−1を封管2を回転してソース板12に接触させた
後,再度封管2を回転させて溶液8−1を溶液導入路7
を通して成長室5へ流出させ,成長温度に到達後封管2
を回転させて溶液8と基板11とを接触させ,エピタキ
シャル成長をおこなう。この装置では,原材料の溶融,
溶液温度の昇降,溶液の移送を全てソース板又は基板に
溶液を接触することなく行うことができる。また,ソー
ス板及び原材料と,基板とは別の室に分離して置かれ
る。このため,基板の汚染を考慮せずにこれらの処理温
度を自由に定めることができるから,広範な組成の制御
が可能となる。
【0039】本発明の第五の構成は,図6を参照して,
第四の構成で述べた溶液保持室4及び成長室5を有する
液相エピタキシャル成長装置に,ドーパント保持室6を
付加したものである。
第四の構成で述べた溶液保持室4及び成長室5を有する
液相エピタキシャル成長装置に,ドーパント保持室6を
付加したものである。
【0040】成長室5内で保持され,封管2の回転によ
りソース板に接触して飽和した溶液は,封管2の第一の
回転位置R4で第一の溶液導入路7−1を通して溶液保
持室4から結晶成長室5に移送される。なお,本構成の
溶液導入路は,すべて一方向に溶液を流し,逆流をゆる
さない。かかる溶液導入路は,上述の第一〜第四の構成
に係る溶液導入路と同様にして構成できる。
りソース板に接触して飽和した溶液は,封管2の第一の
回転位置R4で第一の溶液導入路7−1を通して溶液保
持室4から結晶成長室5に移送される。なお,本構成の
溶液導入路は,すべて一方向に溶液を流し,逆流をゆる
さない。かかる溶液導入路は,上述の第一〜第四の構成
に係る溶液導入路と同様にして構成できる。
【0041】移送された溶液は,成長室内で保持され成
長温度に達した後基板に接触されエピタキシャル成長が
なされる。その後,結晶室5内の溶液は,封管2を第二
の回転位置R3まで回転することで,ドーパント保持室
6に移送される。
長温度に達した後基板に接触されエピタキシャル成長が
なされる。その後,結晶室5内の溶液は,封管2を第二
の回転位置R3まで回転することで,ドーパント保持室
6に移送される。
【0042】ドーパント保持室6内にはドーパント材1
3が保持されており,移送された溶液が所定温度に達し
た後,封管2を回転して溶液をドーパント材13に接触
して飽和溶液とする。次いで,封管2を第三の回転位置
R4まで回転し,第三の溶液導入路7−2を通してドー
パント保持室6内の溶液を再度成長室5に移送する。こ
の時第三の回転位置と第二の回転位置とが同一であって
も,本発明の溶液導入路を用いると,成長室5から溶液
保持室に逆流することはない。なお,第三の回転位置と
第二の回転位置とは異なっていてもよい。また,液体の
ドーパント材にも本構成の発明を適用することができ
る。
3が保持されており,移送された溶液が所定温度に達し
た後,封管2を回転して溶液をドーパント材13に接触
して飽和溶液とする。次いで,封管2を第三の回転位置
R4まで回転し,第三の溶液導入路7−2を通してドー
パント保持室6内の溶液を再度成長室5に移送する。こ
の時第三の回転位置と第二の回転位置とが同一であって
も,本発明の溶液導入路を用いると,成長室5から溶液
保持室に逆流することはない。なお,第三の回転位置と
第二の回転位置とは異なっていてもよい。また,液体の
ドーパント材にも本構成の発明を適用することができ
る。
【0043】本構成では,ソース材に接触させて飽和さ
せた溶液によるエピタキシャル成長と,その溶液をドー
パント材に接触させた溶液によるエピタキシャル成長と
を続けて行うことができる。
せた溶液によるエピタキシャル成長と,その溶液をドー
パント材に接触させた溶液によるエピタキシャル成長と
を続けて行うことができる。
【0044】本構成において,封管2の第四の回転位置
において,成長室5から溶液保持室4へ溶液を移送する
溶液導入路を増設することができる。このとき,第一〜
第四の回転一は全て異なるものにする。この構成では,
成長室5と溶液保持室4間の溶液の移送と,成長室5と
ドーパント材保持室6間の溶液の移送とを独立して行う
ことができる。
において,成長室5から溶液保持室4へ溶液を移送する
溶液導入路を増設することができる。このとき,第一〜
第四の回転一は全て異なるものにする。この構成では,
成長室5と溶液保持室4間の溶液の移送と,成長室5と
ドーパント材保持室6間の溶液の移送とを独立して行う
ことができる。
【0045】従って,ソース板に接触させて飽和した第
一の溶液によるエピタキシャル成長と,ドーパント材に
接触させて飽和させた第二の溶液によるエピタキシャル
成長とを交互に重畳して行うことができる。これによ
り,2種の層が交互に積層した堆積層を製造することが
できる。
一の溶液によるエピタキシャル成長と,ドーパント材に
接触させて飽和させた第二の溶液によるエピタキシャル
成長とを交互に重畳して行うことができる。これによ
り,2種の層が交互に積層した堆積層を製造することが
できる。
【0046】
【実施例】本発明の詳細を実施例を参照して説明する。
図2は,本発明の第一実施例斜視図であり,封管の部分
破断図を表している。なお,図2は図1の回転位置R4
の状態を表し,垂直軸をY軸に,水平軸をX,Z軸とし
ている。
図2は,本発明の第一実施例斜視図であり,封管の部分
破断図を表している。なお,図2は図1の回転位置R4
の状態を表し,垂直軸をY軸に,水平軸をX,Z軸とし
ている。
【0047】図2を参照して,水平軸Z軸を回転軸1
(円筒軸でもある。)とする石英円筒からなる封管2
が,その両端で,石英又はカーボン製の側板14により
溶液を封入するように仕切られる。
(円筒軸でもある。)とする石英円筒からなる封管2
が,その両端で,石英又はカーボン製の側板14により
溶液を封入するように仕切られる。
【0048】側板14で仕切られた封管2内部は,さら
に石英又カーボン製の隔壁3により溶液保持室4と成長
室5とに2分される。溶液保持室4及び成長室5は,そ
れぞれ石英又はカーボン板からなるソースホルダ12a
及び基板ホルダ11aにより上下に仕切られる。ソース
ホルダ12aの下面には板状のHgCdTeからなるソ
ース板12が,基板ホルダ11aの下面にはエピタキシ
ャル基板としてCdTe基板11が保持される。
に石英又カーボン製の隔壁3により溶液保持室4と成長
室5とに2分される。溶液保持室4及び成長室5は,そ
れぞれ石英又はカーボン板からなるソースホルダ12a
及び基板ホルダ11aにより上下に仕切られる。ソース
ホルダ12aの下面には板状のHgCdTeからなるソ
ース板12が,基板ホルダ11aの下面にはエピタキシ
ャル基板としてCdTe基板11が保持される。
【0049】図3は,本発明の第一実施例動作説明図で
あり,封管の各種回転位置に於ける溶液保持室4及び成
長室5のXY断面を表している。図3(a)は,図2と
同一の回転位置での溶液保持室4の断面を表し,図3
(A)は,図2と同一の回転位置での成長室5の断面を
表している。
あり,封管の各種回転位置に於ける溶液保持室4及び成
長室5のXY断面を表している。図3(a)は,図2と
同一の回転位置での溶液保持室4の断面を表し,図3
(A)は,図2と同一の回転位置での成長室5の断面を
表している。
【0050】図2及び図3(a)を参照して, 溶液保
持室4には,弓型の上部を水平に切断した断面形状の石
英又はカーボン製の部材であって,上面がソースホルダ
12aの下面に密接し,側面が封管2のX軸方向の内壁
面に密接する,床材15が設けられる。この床材15
は,ソースホルダ12aにより仕切られた溶液保持室4
の下部分のX軸方向の床面を高くするために設けられ
る。
持室4には,弓型の上部を水平に切断した断面形状の石
英又はカーボン製の部材であって,上面がソースホルダ
12aの下面に密接し,側面が封管2のX軸方向の内壁
面に密接する,床材15が設けられる。この床材15
は,ソースホルダ12aにより仕切られた溶液保持室4
の下部分のX軸方向の床面を高くするために設けられ
る。
【0051】隔壁3には1つの溶液導入路7が設けられ
る。溶液導入路7は,入口7aが溶液保持室4の下部分
の床材15の面の近くに開口し,水平に延びて封管2壁
面に近い位置の成長室5内に開口する出口7bを有す
る。この溶液導入路7の入口7aは,図3(a)及び
(A)の回転位置で,溶液8面より高い位置に設けら
れ,他方,この回転位置から180反転した回転位置
(図3(c)及び(C)を参照。)において,溶液8面
より高い位置に設けられる。
る。溶液導入路7は,入口7aが溶液保持室4の下部分
の床材15の面の近くに開口し,水平に延びて封管2壁
面に近い位置の成長室5内に開口する出口7bを有す
る。この溶液導入路7の入口7aは,図3(a)及び
(A)の回転位置で,溶液8面より高い位置に設けら
れ,他方,この回転位置から180反転した回転位置
(図3(c)及び(C)を参照。)において,溶液8面
より高い位置に設けられる。
【0052】本実施例では,先ず,封管2を図2,図3
(a)及び(A)に示す回転位置に固定し,秤量した溶
液原材料を溶液保持室4の床上に置き,封管2の両端を
真空封止する。次いで,昇温して原材料を溶融して溶液
8とする。溶液8は,図3(a)を参照して,溶液保持
室4の下部に溜まる。このとき,溶液8面は入口7aよ
り下にあるので,溶液8は基板11を保持する成長室5
に流入しない。原材料が溶融した後,降温し,所定の温
度に安定するまでこの状態を維持する。
(a)及び(A)に示す回転位置に固定し,秤量した溶
液原材料を溶液保持室4の床上に置き,封管2の両端を
真空封止する。次いで,昇温して原材料を溶融して溶液
8とする。溶液8は,図3(a)を参照して,溶液保持
室4の下部に溜まる。このとき,溶液8面は入口7aよ
り下にあるので,溶液8は基板11を保持する成長室5
に流入しない。原材料が溶融した後,降温し,所定の温
度に安定するまでこの状態を維持する。
【0053】次いで,封管2を,紙面に向かい反時計方
向に180°回転する。図3(b),(B)はその途中
の90°回転位置を,図3(c)及び(C)は180°
回転した位置を表す。この回転の間,溶液8面は常に入
口7aより低い位置にあるから,溶液は成長室5に流入
しない。この回転により,図3(c)及び(C)を参照
して,溶液8はソース板12表面に接触され,このまま
飽和するまで維持される。
向に180°回転する。図3(b),(B)はその途中
の90°回転位置を,図3(c)及び(C)は180°
回転した位置を表す。この回転の間,溶液8面は常に入
口7aより低い位置にあるから,溶液は成長室5に流入
しない。この回転により,図3(c)及び(C)を参照
して,溶液8はソース板12表面に接触され,このまま
飽和するまで維持される。
【0054】次いで,封管2を反時計廻りにさらに略9
0°回転して,図(d)及び(D)に示す回転位置にも
ちきたす。この回転位置では,床材15が,図(d)を
参照して溶液保持室4内の下方に位置するため,床材1
5の上面が溶液保持室4の床面となる。溶液導入路7の
入口7aは,この床面と同じ高さに開設されているの
で,この床面が略水平になった時点では,溶液保持室4
内の溶液8は酸化物等の固形物を除いて全て溶液導入路
7を通り成長室5に流入する。成長室15内に流入した
溶液は,その表面が溶液保持室内の床材15の上面より
低く,かつ成長室内の基板11に接触しないように,基
板11の保持位置,溶液量及び成長室の容積が設計され
る。
0°回転して,図(d)及び(D)に示す回転位置にも
ちきたす。この回転位置では,床材15が,図(d)を
参照して溶液保持室4内の下方に位置するため,床材1
5の上面が溶液保持室4の床面となる。溶液導入路7の
入口7aは,この床面と同じ高さに開設されているの
で,この床面が略水平になった時点では,溶液保持室4
内の溶液8は酸化物等の固形物を除いて全て溶液導入路
7を通り成長室5に流入する。成長室15内に流入した
溶液は,その表面が溶液保持室内の床材15の上面より
低く,かつ成長室内の基板11に接触しないように,基
板11の保持位置,溶液量及び成長室の容積が設計され
る。
【0055】さらに,封管2を反時計廻りに90°回転
して,図4(e)及び(E)を参照して,最初の回転位
置にする。この回転位置で,降温し,溶液温度が成長温
度になるまで維持する。
して,図4(e)及び(E)を参照して,最初の回転位
置にする。この回転位置で,降温し,溶液温度が成長温
度になるまで維持する。
【0056】次いで,封管2を反時計廻りに180°回
転する。90°回転した位置を表している図(f)及び
(F)を経過して,180°回転した位置で図(g)及
び(G)を参照して,溶液8は基板11表面に接触しエ
ピタキシャル成長がなされる。
転する。90°回転した位置を表している図(f)及び
(F)を経過して,180°回転した位置で図(g)及
び(G)を参照して,溶液8は基板11表面に接触しエ
ピタキシャル成長がなされる。
【0057】エピタキシャル成長後,図(h)及び
(H)を参照して,さらに封管2を180°回転して,
溶液8と基板11とを分離する。この回転方向は反時計
又は時計廻りのいずれでもよい。最後に,封管全体を冷
却してエピタキシャル成長を終了する。
(H)を参照して,さらに封管2を180°回転して,
溶液8と基板11とを分離する。この回転方向は反時計
又は時計廻りのいずれでもよい。最後に,封管全体を冷
却してエピタキシャル成長を終了する。
【0058】本実施例では,原材料を溶融する際に昇温
のオーバシュートを生じても,溶液がソース板と接触し
ていないため過剰のソース組成を含むことがないから,
溶液組成が安定する。
のオーバシュートを生じても,溶液がソース板と接触し
ていないため過剰のソース組成を含むことがないから,
溶液組成が安定する。
【0059】上記工程において,図3(c)及び(C)
の位置から,時計方向に180°逆回転して図3(a)
及び(A)と同様の状態に溶液をもちきたし,この状態
で成長温度近くに溶液温度を降下することもできる。そ
の後,再び時計方向に90°回転して図(d)及び
(D)の回転位置とし,溶液8を成長室に移送する。こ
の方法では,溶液8と基板11とを同一室内において高
温に晒す事態を避けることができるので,基板の汚染が
少なくなる。
の位置から,時計方向に180°逆回転して図3(a)
及び(A)と同様の状態に溶液をもちきたし,この状態
で成長温度近くに溶液温度を降下することもできる。そ
の後,再び時計方向に90°回転して図(d)及び
(D)の回転位置とし,溶液8を成長室に移送する。こ
の方法では,溶液8と基板11とを同一室内において高
温に晒す事態を避けることができるので,基板の汚染が
少なくなる。
【0060】本発明の第二の実施例は,図5を参照し
て,成長室5内に基板11を下面に水平に保持する基板
ホルダ11aが,溶液保持室4内にソース板12を下面
に水平に保持するソースホルダ12aが,第一実施例と
同様に,それぞれ成長室5及び溶液保持室4を上下に2
分して設けられる。なお,図5は回転位置R4(R4方
向が垂直下方になる回転位置。)における封管2の断面
を表し,図5(a)は縦断面,図5(b)及び(c)は
それぞれ成長室5及び溶液保持室4の横断面を表してい
る。
て,成長室5内に基板11を下面に水平に保持する基板
ホルダ11aが,溶液保持室4内にソース板12を下面
に水平に保持するソースホルダ12aが,第一実施例と
同様に,それぞれ成長室5及び溶液保持室4を上下に2
分して設けられる。なお,図5は回転位置R4(R4方
向が垂直下方になる回転位置。)における封管2の断面
を表し,図5(a)は縦断面,図5(b)及び(c)は
それぞれ成長室5及び溶液保持室4の横断面を表してい
る。
【0061】溶液保持室4には,ソースホルダ12aの
ソース板12保持面と平行な床面4aを形成するために
床材16が設けられる。成長室5には,基板ホルダ11
aの保持面に垂直な床面5bを形成するための床材17
が設けられる。
ソース板12保持面と平行な床面4aを形成するために
床材16が設けられる。成長室5には,基板ホルダ11
aの保持面に垂直な床面5bを形成するための床材17
が設けられる。
【0062】溶液を溶液保持室4から成長室5へ移送す
るための溶液導入路7の入口7aは床材16の床面近く
に設けられる。他方,溶液を成長室5から溶液保持室4
へ移送するための溶液導入路9の入口9aは床材17の
床面近くに設けられる。
るための溶液導入路7の入口7aは床材16の床面近く
に設けられる。他方,溶液を成長室5から溶液保持室4
へ移送するための溶液導入路9の入口9aは床材17の
床面近くに設けられる。
【0063】初めに,図5(b)及び(c)を参照し
て,封管2の回転位置をR1におく。即ちR1方向が垂
直下方になるように封管2を回転して固定する。次に溶
液の原材料を溶液保持室4内に入れ,昇温して加熱溶融
し,溶液とする。次いで,封管2を反時計方向に90°
回転して回転位置R2とし,溶液をソース板12に接触
させ飽和溶液とする。
て,封管2の回転位置をR1におく。即ちR1方向が垂
直下方になるように封管2を回転して固定する。次に溶
液の原材料を溶液保持室4内に入れ,昇温して加熱溶融
し,溶液とする。次いで,封管2を反時計方向に90°
回転して回転位置R2とし,溶液をソース板12に接触
させ飽和溶液とする。
【0064】次いで,封管を回転位置R4まで180°
回転する。この結果,溶液保持室4の床面4aは,床材
16の上面となる。他方,成長室5の床面5aは,封管
2の内壁面となる。従って,床材16の上面に溜まった
溶液は,より低い成長室5の床面5aに移送される。
回転する。この結果,溶液保持室4の床面4aは,床材
16の上面となる。他方,成長室5の床面5aは,封管
2の内壁面となる。従って,床材16の上面に溜まった
溶液は,より低い成長室5の床面5aに移送される。
【0065】次いで,成長温度に到達するまで維持した
のち,封管2を反時計方向に180°回転して,即ち回
転位置R1を経て回転位置R2にもちきたし,基板11
に溶液を接触させエピタキシャル成長を行う。
のち,封管2を反時計方向に180°回転して,即ち回
転位置R1を経て回転位置R2にもちきたし,基板11
に溶液を接触させエピタキシャル成長を行う。
【0066】次いで,封管2を回転位置R3にもちきた
す。このとき,成長室の床面5bは床材17の上面とな
り,他方,溶液保持室4の床面4bは封管2の内壁面と
なる。従って,溶液は全て,溶液保持室4内へ流出す
る。この状態で封管2を冷却してエピタキシャル成長を
終了する。
す。このとき,成長室の床面5bは床材17の上面とな
り,他方,溶液保持室4の床面4bは封管2の内壁面と
なる。従って,溶液は全て,溶液保持室4内へ流出す
る。この状態で封管2を冷却してエピタキシャル成長を
終了する。
【0067】本構成では,エピタキシャル成長後に成長
室内に溶液を残さないから,エピタキシャル層表面の汚
染を防止することができる。本発明の第三実施例は,図
6を参照して,成長室5の左右に隔壁3a,3bにより
隔離された溶液保持室4とドーパント保持室6とを備え
た装置に関する。
室内に溶液を残さないから,エピタキシャル層表面の汚
染を防止することができる。本発明の第三実施例は,図
6を参照して,成長室5の左右に隔壁3a,3bにより
隔離された溶液保持室4とドーパント保持室6とを備え
た装置に関する。
【0068】図6(a)は,回転位置R4における封管
2全体の縦断面,図6(b)はドーパント保持室の横断
面を,図6(c),(d)はそれぞれ隔壁3b及び3a
に近い位置での成長室の横断面を,図6(e)は溶液保
持室4の横断面を表している。
2全体の縦断面,図6(b)はドーパント保持室の横断
面を,図6(c),(d)はそれぞれ隔壁3b及び3a
に近い位置での成長室の横断面を,図6(e)は溶液保
持室4の横断面を表している。
【0069】溶液保持室4内に,図6(e)を参照し
て,円筒状封管2の上下をそれぞれ水平に仕切るソース
ホルダ12a及び床材16が設けられる。板状のソース
材12はソースホルダ12aの下面に水平に保持され
る。
て,円筒状封管2の上下をそれぞれ水平に仕切るソース
ホルダ12a及び床材16が設けられる。板状のソース
材12はソースホルダ12aの下面に水平に保持され
る。
【0070】成長室5内に,図6(c),(d)を参照
して,円筒状封管2を水平に仕切る基板ホルダ11a,
及び,基板ホルダ11a下面に密着して円筒状封管2を
垂直に仕切る床材17が設けられる。エピタキシャル基
板11は基板ホルダの下面に保持される。
して,円筒状封管2を水平に仕切る基板ホルダ11a,
及び,基板ホルダ11a下面に密着して円筒状封管2を
垂直に仕切る床材17が設けられる。エピタキシャル基
板11は基板ホルダの下面に保持される。
【0071】ドーパント保持室6内に,図6(b)を参
照して,上述した溶液保持室4と同様に,円筒状封管2
の上下をそれぞれ水平に仕切るドーパントホルダ13a
及び床材18が設けられる。板状のドーパント材13が
ドーパントホルダ13a下面に水平に保持される。
照して,上述した溶液保持室4と同様に,円筒状封管2
の上下をそれぞれ水平に仕切るドーパントホルダ13a
及び床材18が設けられる。板状のドーパント材13が
ドーパントホルダ13a下面に水平に保持される。
【0072】溶液保持室4と成長室5とを隔てる隔壁3
aには,溶液保持室4の床面(床材16の上面)近くに
入口7−1aを有する溶液導入路7−1が設けられる。
成長室5とドーパント保持室6とを隔てる隔壁3bに
は,ドーパント保持室6から成長室5に溶液を移送する
ための溶液導入路7−2と,成長室5からドーパント保
持室6に溶液を移送するための溶液導入路9とが設けら
れる。溶液導入路7−2は,ドーパント保持室の床面
(床材18の上面)近くに入口7−2aを有し,溶液導
入路9は,回転位置R3の位置における成長室5の床面
(成長室5に表出する床材17の面)の近くに入口9a
を有する。
aには,溶液保持室4の床面(床材16の上面)近くに
入口7−1aを有する溶液導入路7−1が設けられる。
成長室5とドーパント保持室6とを隔てる隔壁3bに
は,ドーパント保持室6から成長室5に溶液を移送する
ための溶液導入路7−2と,成長室5からドーパント保
持室6に溶液を移送するための溶液導入路9とが設けら
れる。溶液導入路7−2は,ドーパント保持室の床面
(床材18の上面)近くに入口7−2aを有し,溶液導
入路9は,回転位置R3の位置における成長室5の床面
(成長室5に表出する床材17の面)の近くに入口9a
を有する。
【0073】次に,本実施例の動作を説明する。図7は
本発明の第三実施例動作説明図であり,封管2の回転位
置と溶液の移動との関係を表している。なお,図中の矢
印は,溶液導入路の位置を表している。
本発明の第三実施例動作説明図であり,封管2の回転位
置と溶液の移動との関係を表している。なお,図中の矢
印は,溶液導入路の位置を表している。
【0074】先ず,図6を参照して,封管2を回転位置
R1におき,溶液保持室4内の原材料を溶融し溶液とす
る。このとき,図7(a)を参照して,溶液8は,溶液
保持室4内に,ソース板12に触れずに保持される。な
お,この回転位置では,3つの溶液導入路7−1,7−
2,9は溶液面より上方に位置する。この状態で所定温
度まで降温し一定温度になるまで待つ。
R1におき,溶液保持室4内の原材料を溶融し溶液とす
る。このとき,図7(a)を参照して,溶液8は,溶液
保持室4内に,ソース板12に触れずに保持される。な
お,この回転位置では,3つの溶液導入路7−1,7−
2,9は溶液面より上方に位置する。この状態で所定温
度まで降温し一定温度になるまで待つ。
【0075】次いで,封管2を反時計方向に90°回転
し回転位置R2とする。図7(b)を参照して,溶液8
はソースホルダ12a上に溜りソース板12と接触す
る。このまま溶液が飽和するまで放置する。
し回転位置R2とする。図7(b)を参照して,溶液8
はソースホルダ12a上に溜りソース板12と接触す
る。このまま溶液が飽和するまで放置する。
【0076】次いで,封管2を回転位置R4まで回転す
る。図7(c)を参照して,このとき溶液保持室内の溶
液8は,溶液導入路7−1を通り成長室5に流入する。
同時に降温して溶液が成長温度に達するまで放置する。
る。図7(c)を参照して,このとき溶液保持室内の溶
液8は,溶液導入路7−1を通り成長室5に流入する。
同時に降温して溶液が成長温度に達するまで放置する。
【0077】次いで,封管2を反時計廻りに,即ち回転
位置R1を経由して回転位置R2まで180°回転す
る。その結果,図7(d)を参照して,溶液8は基板ホ
ルダ11a上に溜り,溶液8と接触し,エピタキシャル
成長がなされる。
位置R1を経由して回転位置R2まで180°回転す
る。その結果,図7(d)を参照して,溶液8は基板ホ
ルダ11a上に溜り,溶液8と接触し,エピタキシャル
成長がなされる。
【0078】エピタキシャル成長後,封管2を反時計方
向に90°回転し回転位置R3とする。図7(e)を参
照して,溶液8は,基板11から引き離され,床材17
上面に落ちたのち,溶液導入路9を通りドーパント保持
室6内に流入する。
向に90°回転し回転位置R3とする。図7(e)を参
照して,溶液8は,基板11から引き離され,床材17
上面に落ちたのち,溶液導入路9を通りドーパント保持
室6内に流入する。
【0079】次いで,再び一定の温度に昇温した後,封
管2を時計方向に90°回転し,回転位置R2におく。
図7(f)を参照して,溶液8はドーパントホルダ13
a上に溜りドーパント材13と接触する。このまま飽和
するまで放置する。
管2を時計方向に90°回転し,回転位置R2におく。
図7(f)を参照して,溶液8はドーパントホルダ13
a上に溜りドーパント材13と接触する。このまま飽和
するまで放置する。
【0080】次いで,封管2を180°回転して回転位
置R4におく。図7(g)を参照して,溶液8はドーパ
ント保持室6内の床材18上面に落下し,溶液導入路7
−2を通り成長室5に流入する。この状態で溶液8が成
長温度に達するまで放置する。
置R4におく。図7(g)を参照して,溶液8はドーパ
ント保持室6内の床材18上面に落下し,溶液導入路7
−2を通り成長室5に流入する。この状態で溶液8が成
長温度に達するまで放置する。
【0081】溶液が成長温度に達し温度が安定した後,
封管2を反時計廻りに,即ち回転位置R1を経由して回
転位置R2まで180°回転する。図7(h)を参照し
て,溶液8は,基板11と接触してエピタキシャル成長
がなされる。
封管2を反時計廻りに,即ち回転位置R1を経由して回
転位置R2まで180°回転する。図7(h)を参照し
て,溶液8は,基板11と接触してエピタキシャル成長
がなされる。
【0082】成長後は,封管2を回転位置R3とし,溶
液8をドーパント保持室に流入させ,冷却してエピタキ
シャル成長を終了する。本実施例では,非常に簡単な装
置によって,2種類の半導体層を順次エピタキシャル成
長することができる。
液8をドーパント保持室に流入させ,冷却してエピタキ
シャル成長を終了する。本実施例では,非常に簡単な装
置によって,2種類の半導体層を順次エピタキシャル成
長することができる。
【0083】
【発明の効果】本発明によれば,ソース板と溶液とを接
触させて飽和するまでの工程と,エピタキシャル成長工
程とが別個の室でなされるため,基板の汚染が少なく,
良質のエピタキシャル層を製造することができる。ま
た,本発明の他の構成によれば,異なる組成のエピタキ
シャル層を順次堆積することができる。従って,本発明
は,半導体装置の特性向上に寄与するところが大きい。
触させて飽和するまでの工程と,エピタキシャル成長工
程とが別個の室でなされるため,基板の汚染が少なく,
良質のエピタキシャル層を製造することができる。ま
た,本発明の他の構成によれば,異なる組成のエピタキ
シャル層を順次堆積することができる。従って,本発明
は,半導体装置の特性向上に寄与するところが大きい。
【図1】 本発明の原理説明断面図
【図2】 本発明の第一実施例斜視図
【図3】 本発明の第一実施例動作説明図(その1)
【図4】 本発明の第一実施例動作説明図(その2)
【図5】 本発明の第二実施例断面図
【図6】 本発明の第三実施例断面図
【図7】 本発明の第三実施例動作説明図
【図8】 従来例断面図
1 回転軸 2 封管 3 隔壁 4 室(溶液保持室) 4a,4b,5a,5b 床面 5 室(成長室) 6 ドーパント保持室 7,9 溶液導入路 7a,9a 入口 7b,9b 出口 8 溶液 11 基板 11a 基板ホルダ 12 ソース板 12a ソースホルダ 13 ドーパント材 14 側板 15,16,17,18 床材 30,43 ホルダ 31 回転軸 32 封管 33 隔壁 34 連通管 35,41 溶液 36 原材料 37 酸化物 38,42 基板 39 側板 40 ソース板 44 ヒータ 45 スライダ
Claims (5)
- 【請求項1】 水平な回転軸を有する封管と,該封管内
を該回転軸方向に分割する隔壁により隔てられた第一の
室及び第二の室と,該第一の室に入口を有し,該第一の
室と該第二の室とを連結する溶液導入路とを備え,該入
口は,該第二の室内の溶液面の最高位置より高い位置に
設けられることを特徴とする閉管式エピタキシャル成長
装置。 - 【請求項2】 請求項1記載の閉管式エピタキシャル成
長装置において,該第二の室の床面は,該第一の室の床
面より該封管の外周側に設けられていることを特徴とす
る閉管式エピタキシャル成長装置。 - 【請求項3】 水平な回転軸を有する封管と,該封管内
を該回転軸方向に分割する隔壁により隔てられた第一及
び第二の室と,該隔壁を貫通して第一及び第二の室を接
続する第一及び第二の溶液導入路とを有し,該第一の室
の床面は,該封管の第一の回転位置で該第二の室に流入
した溶液面より高い位置に設けられ,かつ該封管の第二
の回転位置で該第二の室の床面より低い位置に設けら
れ,該第一の溶液導入路は,該第一の回転位置における
該第一の室の床面近傍より低い位置に設けられ,該第二
の溶液導入路は,該第二の回転位置における該第二の室
の床面近傍より低い位置に設けられたことを特徴とする
閉管式エピタキシャル成長装置。 - 【請求項4】 水平な回転軸廻りに回転自在に設けられ
た封管と,該回転軸方向に隣接して該封管内に設けられ
た溶液保持室及び成長室と,該成長室内壁面に設けら
れ,該回転軸と平行に基板表面を保持する基板ホルダ
と,該溶液保持室内壁面に設けられ,該基板表面と平行
にソース板表面を保持するソースホルダと,該溶液保持
室と該成長室とを連結し,該溶液保持室から該成長室へ
向かい該回転軸から離れる向きに設けられた管状の溶液
導入路とを有し,該封管を回転させて該溶液保持室内に
保持された溶液を該ソース板に接触させた後,再度該封
管を回転させて該溶液を該溶液導入路を通して該成長室
へ流出させる封管回転手段とを有することを特徴とする
閉管式液相エピタキシャル成長装置。 - 【請求項5】 水平な回転軸を有する封管内に,溶液及
びソース板を室内に保持する溶液保持室,エピタキシャ
ル基板を室内に保持する成長室及びドーパント材を室内
に保持するドーパント保持室が,該封管の内部を該回転
軸方向に3分割する第一及び第二の隔壁により隔てられ
てこの順序で設けられ,該溶液保持室と該成長室とを連
結し,該封管の第一の回転位置で該溶液保持室内に保持
された溶液を該成長室へ流出させる該第一の隔壁に設け
られた第一の溶液導入路と,該封管の第二の回転位置
で,該成長室内の溶液を該ドーパント保持室へ移送する
ために該第二の隔壁に設けられた第二の溶液導入路と,
該封管の第三の回転位置で,該ドーパント保持室内の溶
液を該成長室内へ移送するために該第二の隔壁に設けら
れた第三の溶液導入路とを有することを特徴とする閉管
式液相エピタキシャル成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5733395A JPH08259384A (ja) | 1995-03-16 | 1995-03-16 | 閉管式エピタキシャル成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5733395A JPH08259384A (ja) | 1995-03-16 | 1995-03-16 | 閉管式エピタキシャル成長装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08259384A true JPH08259384A (ja) | 1996-10-08 |
Family
ID=13052651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5733395A Withdrawn JPH08259384A (ja) | 1995-03-16 | 1995-03-16 | 閉管式エピタキシャル成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08259384A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015189875A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 富士電機株式会社 | 不純物添加装置、不純物添加方法及び半導体素子の製造方法 |
| US9716008B2 (en) | 2015-04-13 | 2017-07-25 | Fuji Electric Co., Ltd. | Apparatus for doping impurities, method for doping impurities, and method for manufacturing semiconductor device |
| CN114197049A (zh) * | 2020-09-18 | 2022-03-18 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 助熔剂法生长均匀的氮化物单晶的系统及方法 |
-
1995
- 1995-03-16 JP JP5733395A patent/JPH08259384A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015189875A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2015-12-17 | 富士電機株式会社 | 不純物添加装置、不純物添加方法及び半導体素子の製造方法 |
| CN105793960A (zh) * | 2014-06-12 | 2016-07-20 | 富士电机株式会社 | 杂质添加装置、杂质添加方法以及半导体元件的制造方法 |
| JPWO2015189875A1 (ja) * | 2014-06-12 | 2017-04-20 | 富士電機株式会社 | 不純物添加装置、不純物添加方法及び半導体素子の製造方法 |
| US10658183B2 (en) | 2014-06-12 | 2020-05-19 | Fuji Electric Co., Ltd. | Impurity adding apparatus, impurity adding method, and semiconductor element manufacturing method |
| US9716008B2 (en) | 2015-04-13 | 2017-07-25 | Fuji Electric Co., Ltd. | Apparatus for doping impurities, method for doping impurities, and method for manufacturing semiconductor device |
| CN114197049A (zh) * | 2020-09-18 | 2022-03-18 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 助熔剂法生长均匀的氮化物单晶的系统及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020604 |