JPH0827330B2 - 集積回路のテスト方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は集積回路のテスト回路に関するものである。

従来の技術 集積回路の大規模化が進むにつれて、多機能ブロック
のワンチップ化が進んで来ている。

多機能のワンチップ化により、実装面積の縮小、装置
の小型化が可能となり、集積回路の応用分野が拡大して
来ている。

多機能のワンチップ化により、一つの機能ブロックの
出力信号が他の機能ブロックの入力信号となる回路が発
生する。この様な大規模集積回路（LSI）をテストする
場合には、一つの機能ブロックを動作して次のブロック
への信号の論理レベルが、“H"と“L"になる様にしなけ
ればならない。このためには長大なテストパターンとテ
スト時間が必要となる。

発明が解決しようとする問題点 複数個の機能ブロックよりなる集積回路をワンチップ
としてテストすると、テストパターン数の増大と、テス
ト時間の増大が問題となる。なおこの不都合を除くため
のテスト方法として複数個の機能ブロックを各別にテス
トする方法が考えられる。この方法によればテスト時間
の短縮は計れるが、テスト用の端子数が増加する問題が
ある。

問題点を解決するための手段 本発明は、テスト用の端子を増設することなく機能ブ
ロックごとのテストを可能にしてテスト時間の短縮とテ
スタビリティの向上を計ることを目的とするものであ
る。

テストモード時に、テストする被テスト機能ブロック
に外部から直接入力または出力している端子は、そのま
まテスト信号の入力端子または出力端子として使用し、
前記被テスト機能ブロックへの他の機能ブロックからの
入力信号は、通常動作モード時に、前記被テスト機能ブ
ロック以外の前記機能ブロックの出力端子として使用し
ている端子を切り替えて入力端子として使用して外部か
ら直接入力し、前記被テスト機能ブロックから他の機能
ブロックへの出力信号は、通常動作モード時に、前記被
テスト機能ブロック以外の前記機能ブロックの入力端子
として使用している端子を切り替えて出力端子として使
用して外部へ直接出力することにある。

作 用 本発明の集積回路によれば通常使用モードで使用する
端子が、テストモード時には、テスト端子用として使用
され、さらにテスト信号が時分割されて使用されるた
め、テスト用としての端子を特別に増設することなく、
集積回路のテストが出来、テスタビリティの向上とテス
ト時間の短縮がはかられる。

実施例 （実施例１） 第１図に二つの機能ブロックにより構成された集積回
路を示す。端子Ａは通常動作モードではブロック１の入
力端子、端子Ｂは出力端子、端子Ｃはブロック２の入力
端子、端子Ｄは出力端子である。ブロック１と２の間に
は、それぞれ、入力と出力の信号がある場合を示してい
る。第２図および第３図は、二つの機能ブロックに、各
別にテストするためのテスト回路を付加した、本発明の
実施例を示す。

なお、第２図は、ブロック１をテストするモードの例
を示している。

ブロック１をテストするときには、切換スイッチSWの
接点が図示する関係で開閉され、さらにテストタイミン
グ信号T1が“H"となり、テストタイミング信号T2が“L"
となる。ブロック１の入力信号は、端子Ａから直接入力
する信号と、Ｄ端子より入力するテスト信号である。こ
のテスト信号の入力により通常動作モードではブロック
２を動作させ、その出力をブロック１に入力することと
同等の状況が成立する。ブロック１からの出力信号は、
テストタイミング信号T2が“L"であるため端子Ｂから直
接出力される。

すなわち、通常動作モードでは、ブロック１からブロ
ック２へ向けて出力される信号が、テストタイミングで
は、Ｃ端子へテスト信号として出力され、この信号をテ
ストすることができる。

したがって、ブロック１のテストにあたり、ブロック
２を動作させて、その出力をブロック１へ入力し、ブロ
ック１をテストすることなしに、直接ブロック１の出力
をテストできる。

第３図は、ブロック２をテストする場合の例を示して
いる。ブロック２をテストするときには、テストタイミ
ングT2が“H"となり、T1が“L"となる。また、ブロック
１とブロック２の間の切換えスイッチも、SWがブロック
１のテスト時とは逆の開閉関係となるように切換えられ
る。

ブロック２をテストするときには、端子Ｂと端子Ｃか
ら信号を入力し、端子Ａと端子Ｄから信号を出力する。

すなわち、ブロック１を介さずに、直接ブロック２に
テスト信号を入力し、かつ出力させることができる。第
２図および第３図で示すように、通常動作モードでは、
入力端子である端子をテストモードでは出力端子として
使用し、また、通常動作モードでは、出力端子である端
子をテストモードでは入力端子として使用することで、
通常動作モードで使用している端子を、テストモード
で、共用しているため、テスト信号用としての特別な端
子の増加はないし、かつ、入力端子および出力端子をそ
のまま入力端子および出力端子として使用する場合より
スイッチは少なくてよく、スイッチ切り替えのための回
路も簡単である。これにより、チップサイズの増大も極
力抑えることができる。また、ブロック間の信号を直接
端子から入出し、テストするために、テスタビリティの
向上とテスト時間の短縮ができる。

通常動作モードではテストタイミング信号T1,T2が
“L"となりブロック間の切換えスイッチは、通常動作モ
ードの接続（第１図の接続）に切換わる。

（実施例２） 第４図に三つのブロックにより構成された集積回路を
示す。端子E,G,Iはブロック3,4,5のための入力端子、端
子F,H,Jはブロック3,4,5の出力端子である。

第５図，第６図および第７図は、機能ブロックごとに
テストし、テスト信号を時分割で同一信号線に送り、複
数の信号を送受する本発明の実施例を示す。

第５図に、ブロック３をテストするためのテスト回路
を付加した例を示す。

ブロック３をテストする場合には、テストタイミング
信号T3が“H"となり、テストタイミング信号T4,T5は
“L"となる。ブロック３のテスト時には、端子Ｅと端子
Ｈと端子Ｊから、ブロック３に信号が入力され、ブロッ
ク３の出力は端子Ｆと端子Ｇと端子Ｉを通して出力され
る。

第６図に、ブロック４をテストする場合のテスト回路
図を示す。ブロック４をテストするときには、テストタ
イミグ信号T4が“H"となりテストタイミング信号T3,T5
が“L"となる。ブロック４のテストモート時には、端子
Ｇと端子Ｆと端子Ｊが入力端子となり、端子Ｈと端子Ｅ
と端子Ｉが出力端子となる。

第７図に、ブロック５をテストする場合のテスト回路
図を示す。ブロック５をテストするテストモード時には
テストタイミング信号T5が“H"となり、テストタイミン
グ信号T3,T4が“L"となる。ブロック５のテスト時に
は、端子Ｉと端子Ｆと端子Ｈが入力端子となり、端子Ｊ
と端子Ｅと端子Ｇが出力端子となる。通常動作モードで
は、テストタイミング信号T3,T4,T5のすべてを“L"と
し、切換えスイッチSWを各ブロック間で信号の送受が行
われる様に切換えることにより第４図の回路状態を成立
させる。

以上実施例として、２機能ブロックと３機能ブロック
の集積回路を示したが、より多くの機能ブロックになり
また、ブロック間の信号線が増加する場合にはテスト信
号線を時分割で使用することにより、テスト端子数の減
少の効果はより顕著になる。

発明の効果 本発明の集積回路のテスト方法は、通常動作モードで
の信号端子とテストモードでのテスト端子とを共用させ
るとともに、テスト信号を時分割使用することにより、
テスト信号用の端子を特別に増設することなく、複数ブ
ロックにより構成されている集積回路を、機能ブロック
ごとにテストすることを可能とするものであり、テスタ
ビリティの向上と、テスト時間の短縮を計ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は二つの機能ブロックを有する集積回路を示す
図、第２図は二つの機能ブロックからなる集積回路の一
方のブロックをテストするモードのテスト回路例を示す
図、第３図は二つの機能ブロックからなる集積回路の他
方のブロックをテストするモードのテスト回路例を示す
図、第４図は三つの機能ブロックを有する集積回路を示
す図、第５図は、三つの機能ブロックからなる集積回路
の第１のブロックをテストするモードのテスト回路例を
示す図、第６図は、三つの機能ブロックからなる集積回
路の第２のブロックをテストするモードのテスト回路例
を示す図、第７図は三つの機能ブロックからなる集積回
路の第３のブロックをテストするモードのテスト回路例
を示す図である。 Ａ〜Ｊ……端子、SW……切換スィッチ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】２種以上の機能ブロックにより構成され、
   各機能ブロック間にまたがる信号を有する集積回路のテ
   ストにおいて、テストモード時に、テストする被テスト
   機能ブロックに外部から直接入力または出力している端
   子は、そのままテスト信号の入力端子または出力端子と
   して使用し、前記被テスト機能ブロックへの他の機能ブ
   ロックからの入力信号は、通常動作モード時に、前記被
   テスト機能ブロック以外の前記機能ブロックの出力端子
   として使用している端子を切り替えて入力端子として使
   用して外部から直接入力し、前記被テスト機能ブロック
   から他の機能ブロックへの出力信号は、通常動作モード
   時に、前記被テスト機能ブロック以外の前記機能ブロッ
   クの入力端子として使用している端子を切り替えて出力
   端子として使用して外部へ直接出力することを特徴とす
   る集積回路のテスト方法。