JPH082821B2 - 1,4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体およびその製造方法 - Google Patents
1,4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体およびその製造方法Info
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Landscapes
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は新規化合物である1, 4,
5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレン誘
導体ならびにその製造方法に関する。
5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレン誘
導体ならびにその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】ナフタレン環の二つのペリ位、1,8位お
よび4,5位にヒドロキシメチル基が置換したビスペリ置
換体の1, 4, 5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル)
ナフタレン誘導体は、応用面での幅広い用途が期待され
ているにもかかわらず、合成化学上の困難さから、現在
に至るまで未知化合物である。
よび4,5位にヒドロキシメチル基が置換したビスペリ置
換体の1, 4, 5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル)
ナフタレン誘導体は、応用面での幅広い用途が期待され
ているにもかかわらず、合成化学上の困難さから、現在
に至るまで未知化合物である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、新規化合物の1, 4, 5, 8 −テトラキス
(ヒドロキシメチル) ナフタレン誘導体と、その製造方
法が未知である点である。
する課題は、新規化合物の1, 4, 5, 8 −テトラキス
(ヒドロキシメチル) ナフタレン誘導体と、その製造方
法が未知である点である。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の1, 4, 5, 8 −
テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレン誘導体は、
下記一般式 (I) で示される。
テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレン誘導体は、
下記一般式 (I) で示される。
【化3】
【0005】ただし(I)式中、OR2はメトキシ基又
はアセトキシ基である。このナフタレン誘導体(I)
は、下記構造式(II)で示される1,4,5,8−テ
トラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレンをエーテル化
剤またはエステル化剤で処理することにより製造するこ
とができる。
はアセトキシ基である。このナフタレン誘導体(I)
は、下記構造式(II)で示される1,4,5,8−テ
トラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレンをエーテル化
剤またはエステル化剤で処理することにより製造するこ
とができる。
【化4】
【0006】以下、本発明について説明する。まず、
1, 4, 5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタ
レン (II) をエーテル化剤で処理すると、 (I) 式中、
OR2 がアルコール残基である1, 4, 5,8 −テトラキス
(ヒドロキシメチル) ナフタレンのテトラエーテル誘導
体を得ることができる。
1, 4, 5, 8 −テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタ
レン (II) をエーテル化剤で処理すると、 (I) 式中、
OR2 がアルコール残基である1, 4, 5,8 −テトラキス
(ヒドロキシメチル) ナフタレンのテトラエーテル誘導
体を得ることができる。
【化5】
【0007】エーテル化剤としては、ヨウ化メチル、臭
化エチルなどのハロゲン化低級アルキル等を用いること
ができる。反応は、1,4,5,8−テトラキス(ヒド
ロキシメチル)ナフタレン(II)をまず塩基、たとえ
ば水素化ナトリウムで処理して、1,4,5,8−テト
ラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレンのテトラアルコ
キシド塩に変えた後、次いでこれにハロゲン化アルキル
を作用させて、活性アルコキシドアニオンとアルキル基
との間でエーテル結合を形成させることにより、1,
4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレ
ンのテトラエーテル誘導体(II)が得られる。
化エチルなどのハロゲン化低級アルキル等を用いること
ができる。反応は、1,4,5,8−テトラキス(ヒド
ロキシメチル)ナフタレン(II)をまず塩基、たとえ
ば水素化ナトリウムで処理して、1,4,5,8−テト
ラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレンのテトラアルコ
キシド塩に変えた後、次いでこれにハロゲン化アルキル
を作用させて、活性アルコキシドアニオンとアルキル基
との間でエーテル結合を形成させることにより、1,
4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレ
ンのテトラエーテル誘導体(II)が得られる。
【0008】また、1, 4, 5, 8 −テトラキス (ヒドロ
キシメチル) ナフタレン (II) にアシル化剤などのエス
テル化剤を作用させてエステル化反応を行うと、 (I)
式中、OR2 がカルボン酸残基である1, 4, 5, 8 −テト
ラキス (ヒドロキシメチル)ナフタレンのテトラエステ
ル誘導体 (I) 、すなわち1, 4, 5, 8 −テトラキス
(アシルオキシメチル) ナフタレンが得られる。
キシメチル) ナフタレン (II) にアシル化剤などのエス
テル化剤を作用させてエステル化反応を行うと、 (I)
式中、OR2 がカルボン酸残基である1, 4, 5, 8 −テト
ラキス (ヒドロキシメチル)ナフタレンのテトラエステ
ル誘導体 (I) 、すなわち1, 4, 5, 8 −テトラキス
(アシルオキシメチル) ナフタレンが得られる。
【化6】
【0009】アシル化剤としては、無水酢酸、無水安息
香酸等のカルボン酸無水物や、塩化アセチル、塩化ベン
ゾイル等のハロゲン化アシルなどが用いられる。反応
は、ピリジンなどの溶媒中で行なわれ、その反応温度は
アシル化剤の種類により変化するが、一般にはアシル化
剤添加直後が室温ないし80℃、その後の放置温度が0℃
〜室温の範囲である。得られた1, 4, 5, 8−テトラキ
ス (ヒドロキシメチル) ナフタレンのテトラエーテル誘
導体およびテトラエステル誘導体は、いずれも新規化合
物である。
香酸等のカルボン酸無水物や、塩化アセチル、塩化ベン
ゾイル等のハロゲン化アシルなどが用いられる。反応
は、ピリジンなどの溶媒中で行なわれ、その反応温度は
アシル化剤の種類により変化するが、一般にはアシル化
剤添加直後が室温ないし80℃、その後の放置温度が0℃
〜室温の範囲である。得られた1, 4, 5, 8−テトラキ
ス (ヒドロキシメチル) ナフタレンのテトラエーテル誘
導体およびテトラエステル誘導体は、いずれも新規化合
物である。
【0010】なお原料化合物の1, 4, 5, 8 −テトラキ
ス (ヒドロキシメチル) ナフタレン(II) は、下記反応
式に示すように、ナフタレン−1, 4, 5, 8 −テトラカ
ルボン酸 (III)とアルカリ金属塩の反応によって得られ
るナフタレン−1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸テトラ
アルカリ金属塩 (IV) の水溶液に硫酸ジアルキル(R1 2SO
4 、ただし R1 は C1 〜C2 のアルキル基である) を滴
下してエステル化することによりナフタレン−1, 4,
5, 8 −テトラカルボン酸テトラアルキルエステル (V)
を製造し、この化合物 (V) を水素化ジアルキルアル
ミニウムで還元することにより製造することができる。
ス (ヒドロキシメチル) ナフタレン(II) は、下記反応
式に示すように、ナフタレン−1, 4, 5, 8 −テトラカ
ルボン酸 (III)とアルカリ金属塩の反応によって得られ
るナフタレン−1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸テトラ
アルカリ金属塩 (IV) の水溶液に硫酸ジアルキル(R1 2SO
4 、ただし R1 は C1 〜C2 のアルキル基である) を滴
下してエステル化することによりナフタレン−1, 4,
5, 8 −テトラカルボン酸テトラアルキルエステル (V)
を製造し、この化合物 (V) を水素化ジアルキルアル
ミニウムで還元することにより製造することができる。
【化7】 以下、本発明を実施例により、さらに詳述する。
【0011】
参考例1〔ナフタレン−1, 4, 5, 8 −テトラカルボン
酸テトラアルキルエステル (V) の製造〕 炭酸ナトリウム16gを水200ml に溶かした溶液にナフタ
レン−1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸15.2gを少しず
つ添加した。カルボン酸が反応するにつれ炭酸ガスの気
泡が激しく発生した。1.5時間かけてカルボン酸を添加
した後、反応液を約40℃の水浴で30分加熱してカルボン
酸の結晶を完全に溶かした。この溶液に硫酸ジメチル19
mlを5分で滴下し、混合物を50℃で40分反応させた。
酸テトラアルキルエステル (V) の製造〕 炭酸ナトリウム16gを水200ml に溶かした溶液にナフタ
レン−1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸15.2gを少しず
つ添加した。カルボン酸が反応するにつれ炭酸ガスの気
泡が激しく発生した。1.5時間かけてカルボン酸を添加
した後、反応液を約40℃の水浴で30分加熱してカルボン
酸の結晶を完全に溶かした。この溶液に硫酸ジメチル19
mlを5分で滴下し、混合物を50℃で40分反応させた。
【0012】次に、炭酸ナトリウム11g、続いて硫酸ジ
メチル19mlを添加して40分同温度で反応させた後、更
に、炭酸ナトリウム5.5g と硫酸ジメチル10mlを順次加
え、1時間撹拌して反応を終了させた。反応混合物を室
温に下げ、析出した白色沈澱物を吸引濾過し水洗して乾
燥した。このようにして得たものを、ジオキサンより再
結晶して精製すると、ナフタレン−1, 4, 5, 8−テト
ラカルボン酸テトラメチルエステルが無色結晶として得
られた (15.0g、収率84%) 。 m.p.198−199℃。 元素分析:測定値 C;60.21, H;4.50 計算値 C;60.00, H;4.48(C18H16O8) 高分解能質量分析:測定値360.078(計算値360.085) 参考例2〔ナフタレン−1, 4, 5, 8−テトラキス (ヒ
ドロキシメチル) ナフタレン (II) の製造〕
メチル19mlを添加して40分同温度で反応させた後、更
に、炭酸ナトリウム5.5g と硫酸ジメチル10mlを順次加
え、1時間撹拌して反応を終了させた。反応混合物を室
温に下げ、析出した白色沈澱物を吸引濾過し水洗して乾
燥した。このようにして得たものを、ジオキサンより再
結晶して精製すると、ナフタレン−1, 4, 5, 8−テト
ラカルボン酸テトラメチルエステルが無色結晶として得
られた (15.0g、収率84%) 。 m.p.198−199℃。 元素分析:測定値 C;60.21, H;4.50 計算値 C;60.00, H;4.48(C18H16O8) 高分解能質量分析:測定値360.078(計算値360.085) 参考例2〔ナフタレン−1, 4, 5, 8−テトラキス (ヒ
ドロキシメチル) ナフタレン (II) の製造〕
【0013】水素化ジイソブチルアルミニウム1モルを
含むヘキサン1000mlの撹拌溶液に、ナフタレン−1, 4,
5, 8−テトラカルボン酸テトラメチルエステル25gの
結晶を少しずつ添加した。発熱により反応液が室温を越
えないように、時々反応フラスコを氷水浴で冷却した。
エステルは添加と共にすみやかに溶解し透明な反応液が
得られた。添加終了後、反応液を更に8日間室温で撹拌
した。反応混合物に、冷却下、メタノール、水、希塩酸
の順で添加して過剰の水素化物を分解し、更に水を加え
て室温で撹拌した。生じた白色固体を吸引濾過して集
め、充分水洗して乾燥後、ジメチルスルホキシド−クロ
ロホルムの混合溶媒から再結晶すると、1, 4, 5, 8−
テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレンが無色微結
晶として得られた (16.2g、収率94%) 。 m.p.229−231℃。 元素分析:測定値 C;67.85, H;6.38 計算値 C;67.73, H;6.50(C14H16O4) 高分解能質量分析:測定値248.096(計算値248.105) 実施例1
含むヘキサン1000mlの撹拌溶液に、ナフタレン−1, 4,
5, 8−テトラカルボン酸テトラメチルエステル25gの
結晶を少しずつ添加した。発熱により反応液が室温を越
えないように、時々反応フラスコを氷水浴で冷却した。
エステルは添加と共にすみやかに溶解し透明な反応液が
得られた。添加終了後、反応液を更に8日間室温で撹拌
した。反応混合物に、冷却下、メタノール、水、希塩酸
の順で添加して過剰の水素化物を分解し、更に水を加え
て室温で撹拌した。生じた白色固体を吸引濾過して集
め、充分水洗して乾燥後、ジメチルスルホキシド−クロ
ロホルムの混合溶媒から再結晶すると、1, 4, 5, 8−
テトラキス (ヒドロキシメチル) ナフタレンが無色微結
晶として得られた (16.2g、収率94%) 。 m.p.229−231℃。 元素分析:測定値 C;67.85, H;6.38 計算値 C;67.73, H;6.50(C14H16O4) 高分解能質量分析:測定値248.096(計算値248.105) 実施例1
【0014】1, 4, 5, 8−テトラキス (ヒドロキシメ
チル) ナフタレン0.1g 、無水酢酸4mlおよびピリジン
4mlの混合物を撹拌しながら60〜70℃の水浴で加熱し
た。20分後、原料のテトラオールの結晶が完全に消失し
た時点で水浴を除き、反応混合物を室温に放置した。8
日後、生じた薄茶色溶液を氷−希塩酸中にあけ、水を加
えて室温で撹拌した。析出した固体を吸引濾過して集め
水洗して乾燥した。このようにして得たものをエタノー
ルから再結晶して精製すると、1, 4, 5, 8−テトラキ
ス (アセトキシメチル) ナフタレンが無色微結晶として
得られた (0.13g、収率76%) 。 m.p.172−173℃。 元素分析:測定値 C;63.61, H;5.95 計算値 C;63.45, H;5.81(C22H24O8) 実施例2
チル) ナフタレン0.1g 、無水酢酸4mlおよびピリジン
4mlの混合物を撹拌しながら60〜70℃の水浴で加熱し
た。20分後、原料のテトラオールの結晶が完全に消失し
た時点で水浴を除き、反応混合物を室温に放置した。8
日後、生じた薄茶色溶液を氷−希塩酸中にあけ、水を加
えて室温で撹拌した。析出した固体を吸引濾過して集め
水洗して乾燥した。このようにして得たものをエタノー
ルから再結晶して精製すると、1, 4, 5, 8−テトラキ
ス (アセトキシメチル) ナフタレンが無色微結晶として
得られた (0.13g、収率76%) 。 m.p.172−173℃。 元素分析:測定値 C;63.61, H;5.95 計算値 C;63.45, H;5.81(C22H24O8) 実施例2
【0015】純度約60%の水素化ナトリウム−オイル
混合物0.3gをペンタンでよく洗い充分オイルを除い
た後、テトラヒドロフラン80mlを加えた。この水素
化ナトリウム−テトラヒドロフラン懸濁液に1,4,
5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン
0.25gを加え、混合物をよく攪拌しながら6時間加
熱還流した。次に、45℃で15時間攪拌後、反応温度
を35℃に下げ、ヨウ化メチル2mlを添加した。2時
間後、更にヨウ化メチル2mlを加え、35℃で2時間
反応させた後、更に5時間還流した。反応温度を再び3
5℃に下げ、更にヨウ化メチル4mlを加え、16時間
攪拌して反応を終了させた。反応混合物を約3分の1に
濃縮して水を加え、生じた白色沈澱物を吸引濾過して集
めた。このようにして得たものをヘキサンから再結晶し
て精製すると、1,4,5,8−テトラキス(メトキシ
メチル)ナフタレンが無色微結晶として得られた(0.
20g、収率66%)。 m.p.119−120℃。 元素分析:測定値C:71.00,H:7.80 計算値C:71.02,H:7.95(C18H24O
4) 高分解能質量分析:測定値304(計算値304)
混合物0.3gをペンタンでよく洗い充分オイルを除い
た後、テトラヒドロフラン80mlを加えた。この水素
化ナトリウム−テトラヒドロフラン懸濁液に1,4,
5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン
0.25gを加え、混合物をよく攪拌しながら6時間加
熱還流した。次に、45℃で15時間攪拌後、反応温度
を35℃に下げ、ヨウ化メチル2mlを添加した。2時
間後、更にヨウ化メチル2mlを加え、35℃で2時間
反応させた後、更に5時間還流した。反応温度を再び3
5℃に下げ、更にヨウ化メチル4mlを加え、16時間
攪拌して反応を終了させた。反応混合物を約3分の1に
濃縮して水を加え、生じた白色沈澱物を吸引濾過して集
めた。このようにして得たものをヘキサンから再結晶し
て精製すると、1,4,5,8−テトラキス(メトキシ
メチル)ナフタレンが無色微結晶として得られた(0.
20g、収率66%)。 m.p.119−120℃。 元素分析:測定値C:71.00,H:7.80 計算値C:71.02,H:7.95(C18H24O
4) 高分解能質量分析:測定値304(計算値304)
【0016】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、新規
化合物として、1, 4, 5, 8−テトラキス (ヒドロキシ
メチル) ナフタレンテトラエーテルおよび1, 4, 5, 8
−テトラキス (アシルオキシメチル) ナフタレンが得ら
れる。かかる化合物は、ポリエステルやポリエーテル用
モノマーとして有用であり、また界面活性剤製造原料と
しても有用である。かつ、かかる化合物は、ナフタレン
1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸テトラアルキルエステ
ルから容易に製造することができる。
化合物として、1, 4, 5, 8−テトラキス (ヒドロキシ
メチル) ナフタレンテトラエーテルおよび1, 4, 5, 8
−テトラキス (アシルオキシメチル) ナフタレンが得ら
れる。かかる化合物は、ポリエステルやポリエーテル用
モノマーとして有用であり、また界面活性剤製造原料と
しても有用である。かつ、かかる化合物は、ナフタレン
1, 4, 5, 8−テトラカルボン酸テトラアルキルエステ
ルから容易に製造することができる。
Claims (2)
- 【請求項1】 下記一般式(I)で示される1,4,
5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘
導体。 【化1】 ただし(I)式中、(OR2はメトキシ基又はアセトキ
シ基である。 - 【請求項2】 下記一般式(II)で示される1,4,
5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレンを
エーテル化剤またはエステル化剤で処理することを特徴
とする下記一般式(I)で示される1,4,5,8−テ
トラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体の製造
方法。 【化2】 ただし(I)式中、OR2はメトキシ基又はアセトキシ
基である。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4238990A JPH082821B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 1,4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4238990A JPH082821B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 1,4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体およびその製造方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6687688A Division JPH01238548A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | ナフタレン―1,4,5,8―テトラカルボン酸テトラアルキルエステルの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05238990A JPH05238990A (ja) | 1993-09-17 |
| JPH082821B2 true JPH082821B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=17038284
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4238990A Expired - Lifetime JPH082821B2 (ja) | 1992-08-14 | 1992-08-14 | 1,4,5,8−テトラキス(ヒドロキシメチル)ナフタレン誘導体およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH082821B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6160068B2 (ja) | 2011-12-16 | 2017-07-12 | Jsr株式会社 | レジスト下層膜形成用樹脂組成物、レジスト下層膜、その形成方法及びパターン形成方法 |
| JP6311703B2 (ja) | 2013-03-29 | 2018-04-18 | Jsr株式会社 | 組成物、パターンが形成された基板の製造方法、並びに膜及びその形成方法 |
| US9958781B2 (en) | 2015-04-24 | 2018-05-01 | Jsr Corporation | Method for film formation, and pattern-forming method |
| US10053539B2 (en) | 2015-12-01 | 2018-08-21 | Jsr Corporation | Composition for film formation, film, production method of patterned substrate, and compound |
| US9620378B1 (en) | 2015-12-24 | 2017-04-11 | Jsr Corporation | Composition for film formation, film, production method of patterned substrate, and compound |
| KR102697916B1 (ko) | 2016-02-15 | 2024-08-23 | 제이에스알 가부시끼가이샤 | 레지스트 하층막 형성용 조성물, 레지스트 하층막 및 패터닝된 기판의 제조 방법 |
| JP7041358B2 (ja) | 2016-06-03 | 2022-03-24 | Jsr株式会社 | 膜形成用組成物、膜、レジスト下層膜の形成方法、パターニングされた基板の製造方法及び化合物 |
| JP7029070B2 (ja) | 2016-10-20 | 2022-03-03 | Jsr株式会社 | レジスト下層膜形成用組成物、レジスト下層膜及びその形成方法並びにパターニングされた基板の製造方法 |
-
1992
- 1992-08-14 JP JP4238990A patent/JPH082821B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05238990A (ja) | 1993-09-17 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |