JPH08327683A - 導通検査装置および導通検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電気配線システムＷＨに形成される電気回路
を検査するに当たり、最終的に形成される基準回路と等
価な回路を許容する。 【構成】 等価回路情報Ｄｓと被検査情報Ｄｄとを比較
する。等価回路情報Ｄｓは、製造されるべき電気配線シ
ステムＷＨに形成される接点Ｔ１〜Ｔ１６の導通情報で
ある。また、被検査情報Ｄｄは、製造された電気配線シ
ステムＷＨに形成された電気回路の接点Ｔ１〜Ｔ１６の
導通情報である。各情報Ｄｓ、Ｄｄは、導通検査後に短
絡される接点同士を互いに入れ換えることのできる任意
接点としている。 【効果】 等価回路を許容することができるので、検査
が容易になる。また、多品番生産での効率を向上させる
ことも可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は導通検査装置および導通
検査方法に関し、特に、ワイヤーハーネスの導通検査に
最適な導通検査装置および導通検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、多数の電気回路を形成する電気
配線システムを製造する際には、各部品の外観検査の
他、電気的な導通を検査し、構成されるべき電気回路が
正規に接続されているか否かをチェックする。特に、ワ
イヤーハーネスのように、複数の製造工程を経て多数の
電線をコネクタハウジングに接続することにより電気回
路を形成するものにおいては、最終工程に至るまでに導
通検査を複数回行ない、コネクタハウジングに対する電
線の誤り接続を防止するようにしている。

【０００３】上述のような導通検査は、導通チェッカを
用いて行われる（例えば、実開昭５９−３４３６８号参
照）。図６は、ワイヤーハーネスの導通を検査する場合
の導通チェッカの概略図であり、図７は、図６の導通チ
ェッカに採用されている導通ユニットの回路構成図であ
る。

【０００４】図６を参照して、一般的な導通チェッカ
は、ワイヤーハーネスＷＨのコネクタＷＨ１〜ＷＨ４と
接続される検査ユニット１と、検査ユニット１に対し、
配線２を通して微弱電流を送って導通状態を検出する導
通ユニット３とを備えている。図７に示すように、導通
ユニット３は、コントローラ３１、デマルチプレクサ３
２、マルチプレクサ３３、複数のインバータ３４、およ
び複数のプルアップ抵抗３５を有している。上記デマル
チプレクサ３２の各出力は、複数のインバータ３４を介
し、該インバータ３４に対応して設けられたプローブピ
ンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈからなる上記検査ユニット
１にそれぞれ接続される。この検査ユニット１の各プロ
ーブピンａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ、…ｈには、当該ワイヤー
ハーネスＷＨに形成されている電気回路を構成する端子
（接点）が、導通されるグループＧ１０〜Ｇ１３に対応
した組み合わせで接続される。

【０００５】上記コントローラ３１には、検査されるワ
イヤーハーネスＷＨのグループＧ１０〜Ｇ１３に対応す
る基準情報がそれぞれメモリ３１Ａに記憶されていると
ともに、マルチプレクサ３３を経て送られる各グループ
Ｇ１０〜Ｇ１３の読取情報を記録するメモリ３１Ｂを備
えている。基準情報は、ワイヤーハーネスＷＨのグルー
プＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ１３を構
成する接点の導通状態が記憶されている。例えば、図７
の例では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する基準情報を
それぞれｇ１０〜ｇ１３とすると、 ｇ１０＝（、） （１） ｇ１１＝（、） （２） ｇ１２＝（、） （３） ｇ１３＝（、） （４） と記憶されている。

【０００６】他方、読取情報は、ワイヤーハーネスＷＨ
のグループＧ１０〜Ｇ１３毎にそのグループＧ１０〜Ｇ
１３を構成する接点の導通状態が検出される。図７の例
では、グループＧ１０〜Ｇ１３に関する読取情報をそれ
ぞれＧ１０〜Ｇ１３とすると、ワイヤーハーネスＷＨが
正常な場合には Ｇ１０＝（、） （５） Ｇ１１＝（、） （６） Ｇ１２＝（、） （７） Ｇ１３＝（、） （８） が検出される。

【０００７】この構成では、コントローラ３１がデマル
チプレクサ３２に信号を送って、微弱電流を流すことに
より、各プローブピンａ、ｂ、ｃ、…ｈの電位がマルチ
プレクサ３３に検出され、読取情報としてコントローラ
３１に伝送される。コントローラ３１は、伝送された読
取情報をメモリ３１Ｂに記憶するとともに、これをメモ
リ３１Ａに記憶されている基準情報とグループＧ１０〜
Ｇ１３毎に比較し、この基準情報と一致すれば正常と、
一致しなければ断線若しくは短絡の異常があるものと判
定する。

【０００８】例えば、上述の構成の場合、読取情報が
（５）〜（８）式の通りであれば、基準情報の（１）〜
（４）式と同一であるから、正常と判定される。これに
対し、読取情報のうち、例えばグループＧ１０が Ｇ１０＝（、） （９） である場合、（９）式中の接点が基準情報の（１）式
と不一致であるから、異常があるものと判定する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な電気配線システムを製造する際には、最終的に形成さ
れる電気回路が、当該電気配線システムの製品規格や製
品仕様とされている電気回路（以下、「基準回路」とい
う）と等価であれば、具体的な配線形態については差異
があっても許容される場合がある。

【００１０】しかし、従来の導通検査装置では、この等
価回路を含めての検査が行えず、初期設定した一回路パ
ターンに検査が行われるため、この初期設定した回路パ
ターンに含めたワイヤーハーネスＷＨの配線形態を作る
必要があった。上述した図７のワイヤーハーネスＷＨを
例に説明すると、このワイヤーハーネスＷＨは、図８
（Ａ）に示す回路ＣＡを形成しており、コネクタＷＨ
３、ＷＨ４が、それぞれジョイントコネクタＪＣ１、Ｊ
Ｃ２で最終的に短絡されるものである。この場合、グル
ープＧ１０は、接点と接点とが短絡されることか
ら、図８（Ｂ）（Ｄ）に示すように、接点を接点と
接続して形成されるグループＧ１０Ａと最終的に等価と
なる。すなわち Ｇ１０＝（、）＝Ｇ１０Ａ＝（、） （10） 同様に、グループＧ１１は、図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグ
ループＧ１１Ａと、グループＧ１２は、図８（Ｂ）
（Ｄ）に示すグループＧ１２Ａと、グループＧ１３は、
図８（Ｃ）（Ｄ）に示すグループＧ１３Ａと最終的に等
価となる。すなわち Ｇ１１＝（、）＝Ｇ１１Ａ＝（、） （11） Ｇ１２＝（、）＝Ｇ１２Ａ＝（、） （12） Ｇ１３＝（、）＝Ｇ１３Ａ＝（、） （13） 従って、図８（Ａ）に示すワイヤーハーネスＷＨの回路
ＣＡは、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）に示す回路ＣＢ〜ＣＤ
と同じ接続状態になり、図８（Ｂ）〜図８（Ｄ）の回路
ＣＢ〜ＣＤも製品として正規に許容される場合がある。

【００１１】しかるに、上述したように、従来の導通チ
ェッカにおいては、単に接点〜の対応関係を基準情
報に特定されている接点〜の対応関係と照合して、
電気配線システムの合否を判定しているに過ぎなかっ
た。従って、ジョイントコネクタＪＣ１、ＪＣ２が接続
される前のワイヤーハーネスＷＨを検査した場合、ある
接点とそれが基準回路を形成するために接続されるべき
接点との対応関係のみが判別され、上記ある接点が当該
基準回路の等価回路を形成する接点と接続されている場
合でも、その導通を許容するように検査を行うことがで
きなかった。このため、図８の例では、（10）〜（13）
式を合格と認定することができず、図８（Ｂ）〜図８
（Ｄ）に示す等価の配線については、不合格と判別され
る結果、必要以上に配線を修正することを余儀なくされ
ていた。このような修正を繰り返すことは、無駄な工程
を増加させ、生産効率を低下させる原因となっていた。
また、配線の修正に伴い、部品が損傷して、製品の信頼
性を却って損ねる等の不具合も考えられる。

【００１２】上述のような不具合を解決するために、導
通チェッカのコントローラ３１に、予め等価回路を全て
記憶させておくことも考えられる。しかし、その場合に
は、基準回路の回路数が増加するに伴って等価回路も大
幅に増加し、プログラム作業が複雑になる等の不具合が
あったため、実用化されるには至っていなかった。本発
明は上記不具合に鑑みてなされたものであり、電気配線
システムの導通検査を行う際に、当該電気配線システム
の基準回路を形成すべき接点が、当該基準回路の等価回
路を形成することを許容した状態で、電気配線システム
の合否を簡素な構成で判別することのできる導通検査装
置および導通検査方法を提供することを目的としてい
る。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項１記載の構成は、電気配線システム
に形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報
として記憶する基準情報記憶手段と、上記電気配線シス
テムの基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んで
いるものである場合に、基準回路が短絡されるべき接点
の情報を短絡情報として記憶する短絡情報記憶手段と、
短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士
を任意に互換可能な任意接点として、基準情報を等価回
路情報に変換する情報変換手段と、上記電気配線システ
ムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路を形
成する複数の接点の導通情報を読取情報として読み取る
読取手段と、読取情報から、上記短絡情報に基づき、基
準回路が短絡されるべき接点同士を任意に互換可能な任
意接点とする被検査情報を形成する情報形成手段と、上
記被検査情報を等価回路情報と照合して、上記電気回路
の接点が正規に接続されているか否かを判別する判別手
段とを備えていることを特徴とする導通検査装置であ
る。

【００１４】また、請求項２記載の構成は、電気配線シ
ステムに形成された電気回路に通電して、当該電気回路
を形成する複数の接点を、互いに導通されるもの同士の
グループ毎に読取情報として採取するとともに、採取さ
れた読取情報を、当該電気配線システムに形成されるべ
き基準回路の基準情報と照合することにより、上記電気
回路の接点が正規に接続されているか否かを検査する導
通検査方法において、上記基準回路が、導通検査後に短
絡される接点を含んでいるものである場合に、短絡され
るべき接点同士を任意に互換可能な任意接点として照合
することを特徴とする導通検査方法である。

【００１５】

【作用】請求項１または２記載の構成では、製造された
電気配線システムの導通情報である読取情報を基準回路
の導通情報である基準情報と照合するに当たり、基準回
路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるものであ
る場合に、短絡されるべき接点同士が任意に互換可能な
任意接点として照合されるので、電気配線システムに形
成された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる
場合には、これを合格と判定することが可能になる。

【００１６】

【実施例】以下、添付図面を参照しつつ本発明の好まし
い実施例について詳述する。先ず、図２を参照して、本
実施例により検査される電気配線システムの一例として
のワイヤーハーネスＷＨについて説明する。図２は、製
造されるべきワイヤーハーネスＷＨの仕様を例示して示
す配線図である。

【００１７】このワイヤーハーネスＷＨは、複数の電線
Ｗの両端に端子Ｔ１〜Ｔ１６を圧着し、コネクタＷＨ１
〜ＷＨ６の各極に挿入することにより、複数の電気回路
を形成しているものである。図２のワイヤーハーネスＷ
Ｈの場合、各端子Ｔ１〜Ｔ１６は以下のグループＧ１〜
Ｇ５の通りに接続されている。すなわち Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２） （１） Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（２） Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１） （３） Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５） （４） Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６） （５） なお、本実施例では、端子Ｔ４には、端子Ｔ４への電流
の流入を許容し、端子Ｔ４からの電流の流出を阻止する
ためのダイオードＷＨ７が、端子Ｔ１５には、端子Ｔ１
５からの電流の流出を許容し、端子Ｔ１５への電流の流
入を阻止するダイオードＷＨ８が、それぞれ接続されて
いる。

【００１８】ここで、図２に示すワイヤーハーネスＷＨ
のコネクタＷＨ１〜ＷＨ６のうち、端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ
８が挿入されているコネクタＷＨ３は、ジョイントコネ
クタＪＣ１により、端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１が挿入さ
れているコネクタＷＨ４は、ジョイントコネクタＪＣ２
により、端子Ｔ１２、Ｔ１３、Ｔ１４が挿入されている
コネクタＷＨ５は、ジョイントコネクタＪＣ３により、
端子Ｔ１５、Ｔ１６が挿入されているコネクタＷＨ６
は、ジョイントコネクタＪＣ４により、それぞれ最終的
に短絡されるように設計されている。

【００１９】次に、図３を参照して、本実施例に係る導
通ユニット１０の回路構成について説明する。図３は、
本発明の一実施例に係る導通ユニット１０の回路構成図
である。本実施例に係る導通ユニット１０は、基本的に
は、一般的な従来の導通チェッカと同様に周知の検査ユ
ニット１と接続されて用いられる構成であり、コントロ
ーラとしてのＣＰＵ１１、デマルチプレクサ１２、イン
バータ回路１３、比較回路１４、およびマルチプレクサ
１５を備えている。

【００２０】上記デマルチプレクサ１２は、ＣＰＵ１１
からの入力情報が４ビット、インバータ回路１３への出
力情報が１６ビットのデコード回路１２Ａを所定個だけ
含んでいる。各デコード回路１２Ａは、ＣＰＵ１１から
指令を受けるデコーダ１２Ｄに接続されており、このデ
コーダ１２Ｄによって選択可能に構成されている。これ
とともに、各デコード回路１２Ａは、インバータ回路１
３の各インバータ１３Ａに対する出力を選択することに
より、ワイヤーハーネスＷＨの端子（接点）の導通情報
を特定できるようになっている。

【００２１】上記インバータ回路１３は、上記デコード
回路１２Ａと同数のゲート回路１３Ａで構成されてお
り、各ゲート回路１３Ａのインバータ１３Ｂは、それぞ
れ対応するデコード回路１２Ａの出力側と同数だけ設け
られて、接続されている。各インバータ１３Ｂの出力側
は、上記周知の検査ユニット１のプローブピンを介し
て、ワイヤーハーネスＷＨの端子Ｔ１〜Ｔ１６と接続さ
れており、さらに、上記比較回路１４の入力側に接続さ
れている。

【００２２】上記比較回路１４は、上記インバータ回路
１３のゲート回路１３Ａと同数のゲート回路１４Ａで構
成されており、各ゲート回路１４Ａは、上記インバータ
１３Ｂと同数の比較器１４Ｂが設けられている。各比較
器１４Ｂは、対応するインバータ１３Ｂの出力を基準電
圧と比較することにより、各端子が導通しているか否か
を判別するようになっている。

【００２３】上記マルチプレクサ１５は、上記比較回路
１４のゲート回路１４Ａと同数のゲート回路１５Ａで構
成されている。各ゲート回路１５Ａは、ＣＰＵ１１から
指令を受けるデコーダ１５Ｄに接続されており、このデ
コーダ１５Ｄによって選択可能に構成されている。これ
とともに、各ゲート回路１５Ａには、上記比較器１４Ｂ
と同数のインバータ１５Ｂが設けられている。各インバ
ータ１５Ｂは、対応する比較器１４Ｂの出力に基づい
て、ＣＰＵ１１に対し、ワイヤーハーネスＷＨの読取情
報を入力するためのものである。

【００２４】上記ＣＰＵ１１には、通信用インターフェ
イス１６を介して操作ボックス１７と接続されており、
上記ＣＰＵ１１は、この操作ボックス１７によって操作
されるものである。また、ＣＰＵ１１には、バス１８を
介してＲＯＭ１９、ＲＡＭ２０、ＤＲＡＭ２１が接続さ
れているとともに、フロッピーディスクドライブ２２お
よび検査結果を表示する表示装置２３とも接続されてい
る。

【００２５】本実施例において、ＲＯＭ１９は、ＣＰＵ
１１を制御するためのプログラムを記憶するためのもの
であり、ＲＡＭ２０は、ワークメモリおよびバックアッ
プメモリを記憶するためのものであり、ＤＲＡＭ２１
は、フロッピーディスクドライブ２２によって読み出さ
れるフロッピーディスクから、ワイヤーハーネスＷＨに
形成されるべき基準回路の接点の導通情報を基準情報と
して記憶するエリア２１Ａと、ワイヤーハーネスＷＨの
電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読取情報と
して記憶するエリア２１Ｂと、ワイヤーハーネスＷＨの
基準回路が導通検査後に短絡される接点を含んでいるも
のである場合（図２のワイヤーハーネスＷＨにおいて
は、端子Ｔ６〜Ｔ１６）に、基準回路が短絡されるべき
接点の情報を短絡情報として記憶するエリア２１Ｃとを
備えたものである。

【００２６】以上のような構成において、図１、図４、
および図５を参照しつつ本実施例の作用について説明す
る。図１は、本実施例における導通ユニット１０の検査
プロセスを示すフローチャートである。また、図４、図
５は、製造されたワイヤーハーネスＷＨＲ、ＷＨ^* の配
線図である。先ず、ステップＳ１において、ＲＯＭ１９
に記憶されているプログラムが展開され、製造されるべ
きワイヤーハーネスＷＨに関する基準情報が展開され
る。例えば、図２に示すワイヤーハーネスＷＨの場合、
この基準情報は、 ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ６、Ｔ９、Ｔ１２） （６） ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ７、Ｔ１０、Ｔ１３）（７） ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１） （８） ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５） （９） ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６） （10） となる。

【００２７】次に、ステップＳ２において、検査対象と
なっているワイヤーハーネスＷＨＲの導通情報が読取情
報として、デマルチプレクサ１２、インバータ回路１
３、比較回路１４、およびマルチプレクサ１５により、
読み取られる。例えば、図４に示すワイヤーハーネスＷ
ＨＲの場合、コネクタＷＨ３の端子Ｔ６とＴ７が入れ代
わっており、規格のものと相違している。従って、この
ワイヤーハーネスＷＨＲの読取情報は、 Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７^* 、Ｔ９、Ｔ１２） （11） Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６^* 、Ｔ１０、Ｔ１３）（12） Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１） （13） Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ１５） （14） Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６） （15） となる。

【００２８】次に、ステップＳ３において、ジョイント
コネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡されることのない端子だ
けを照合するために、ステップＳ１の基準情報のうち、
最終的にジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４で短絡され
る端子については、ステップＳ２の読取情報の端子と同
一に書き換える。この書換えは、ＤＲＡＭ２１のエリア
２１Ｃに記憶されている短絡情報に基づいて、ＣＰＵ１
１により行われる。図２のワイヤーハーネスＷＨにおい
て、短絡情報は、 Ｊ１＝Ｔ６＝Ｔ７＝Ｔ８ （J1） Ｊ２＝Ｔ９＝Ｔ１０＝Ｔ１１ （J2） Ｊ３＝Ｔ１２＝Ｔ１３＝Ｔ１４ （J3） Ｊ４＝Ｔ１５＝Ｔ１６ （J4） である。（J1）〜（J4）式中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４
は、ジョイントコネクタＪＣ１〜ＪＣ４によって短絡さ
れる互いに互換可能な接点（以下、「任意接点」とい
う）を意味している。この短絡情報に基づき、短絡され
ない端子を特定するために、基準情報のうち（６）式と
（７）式とがそれぞれ ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ７^* 、Ｔ９、Ｔ１２） （16） ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６^* 、Ｔ１０、Ｔ１３） （17） と変換される。

【００２９】そして、ステップＳ４において、図４に示
す上記ワイヤーハーネスＷＨの読取情報が変換後の基準
情報と照合される。ステップＳ５において、照合された
読取情報が変換後の基準情報と同一であるか否かが判別
され、同一でない場合には、ステップＳ６において、不
良判定がなされ、ステップＳ７において、表示装置２３
に不良表示がなされる。他方、照合された読取情報が変
換後の基準情報と同一である場合には、ステップＳ８に
移行する。

【００３０】ステップＳ８においては、短絡される端子
Ｔ６〜Ｔ１６の導通を検査するために、ＤＲＡＭ２１の
エリア２１Ａに、再び（６）〜（10）式に示す基準情報
が展開される。次に、ステップＳ９において展開された
基準情報と、（Ｊ１）〜（Ｊ４）式に示す上記短絡情報
から等価回路情報Ｄｓが形成される。本実施例において
は、 ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、J1、J2、J3） （18） ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、J1、J2、J3） （19） ｇ３＝（J1、J2） （20） ｇ４＝（Ｔ５、J4） （21） ｇ５＝（Ｔ１４、J4） （22） が等価回路情報Ｄｓとして形成されることになる。式
中、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、上述した任意接点を意
味している。すなわち、ジョイントコネクタＪＣ１によ
って最終的に短絡される端子Ｔ６、Ｔ７、Ｔ８について
は、互いに入れ換えを許容することができる接点Ｊ１と
して、ジョイントコネクタＪＣ２によって最終的に短絡
される端子Ｔ９、Ｔ１０、Ｔ１１については、互いに入
れ換えを許容することができる接点Ｊ２として、ジョイ
ントコネクタＪＣ３によって最終的に短絡される端子Ｔ
１２、Ｔ１３、Ｔ１４については、互いに入れ換えを許
容することができる接点Ｊ３として、ジョイントコネク
タＪＣ４によって最終的に短絡される端子Ｔ１５、Ｔ１
６については、互いに入れ換えを許容することができる
接点Ｊ４として、後述する被検査情報Ｄｄと比較される
のである。

【００３１】他方、ステップＳ１０において、ワイヤー
ハーネスＷＨの読取情報および短絡情報から被検査情報
Ｄｄが形成される。この読取情報および短絡情報から被
検査情報Ｄｄを形成する際に、各端子Ｔ１〜Ｔ１６のう
ち、最終的に短絡されるものについては、等価回路情報
Ｄｓを形成する場合と同様に、短絡情報に基づいて任意
接点Ｊ１〜Ｊ４に変換される。従って、上記読取情報が
（11）〜（15）の場合、被検査情報Ｄｄは、 Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、J1、J2、J3） （23） Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、J1、J2、J3） （24） Ｇ３＝（J1、J2） （25） Ｇ４＝（Ｔ５、J4） （26） Ｇ５＝（Ｔ１４、J4） （27） となる。

【００３２】次に、被検査情報Ｄｄを導通されるグルー
プＧ１〜Ｇ５毎に等価回路情報Ｄｓと照合するために、
ステップＳ１１において、被検査情報Ｄｄのうち、一つ
のグループ（例えば（23) 式のＧ１）が選択され、これ
をＧとする。そして、ステップＳ１２において、等価回
路情報Ｄｓのうち、選択されたグループと同じグループ
構成のものの有無が判別され、同じグループ構成のもの
がある場合には、それがステップ１３において、ｇとす
る。例えば、Ｇ＝Ｇ１の場合、ｇ＝ｇ１とされる。仮
に、このステップＳ１２において、同一のグループ構成
のものがなかった場合、フローは、周知の不良解析に移
行し（ステップＳ２４）、不良表示を行って（ステップ
Ｓ２５）終了する。例えば、図５に示すワイヤーハーネ
スＷＨ^* の場合、端子Ｔ５と端子Ｔ１５の配線が誤って
いるために、いわゆるダイオード余剰という誤り接続に
なっている。このワイヤーハーネスＷＨ^* の電気回路に
おける読取情報は、 Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、Ｇ、Ｔ１５^* 、Ｔ１２） （28） Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、Ｔ６、Ｔ１０、Ｔ１３） （29） Ｇ３＝（Ｔ８、Ｔ１１） （30） Ｇ４＝（Ｔ５、Ｔ９^* ） （31） Ｇ５＝（Ｔ１４、Ｔ１６） （32） となり、被検査情報Ｄｓは、 Ｇ１＝（Ｔ１、Ｔ２、J1、J4^* 、J3） （33） Ｇ２＝（Ｔ３、Ｔ４、J1、J2、J3） （34） Ｇ３＝（J1、J2） （35） Ｇ４＝（Ｔ５、J2^* ） （36） Ｇ５＝（J3、J4） （37） となるから、（33）式および（36）式のグループＧ１、
Ｇ４に対応するグループが検出されない結果、ステップ
Ｓ２４に移行し、いわゆるダイオード余剰がステップＳ
２５で表示されて終了する。

【００３３】次に、ステップＳ１４において、Ｇがｇと
照合され、ここで、任意接点を構成する端子の導通検査
が行われる。（23）式と（18）式のように、Ｇがｇと同
一の導通状態である場合、ステップＳ１５において、合
格したＧとｇとがＲＡＭ２０に記憶（マーク）され、次
のグループの判別に移行する。すなわち、ステップＳ１
６において、未検査のグループの有無が判別され、ステ
ップＳ１７において、未検査のグループが選択された
後、ステップＳ１２に戻って上述した照合作業を各グル
ープＧ２〜Ｇ５毎に繰り返す。そして、全てのグループ
Ｇ１〜Ｇ５の照合が終了し、何れも等価回路情報Ｄｓの
グループｇ１〜ｇ５と同一である場合には、ステップＳ
１８において、表示装置２３に合格表示がなされる。

【００３４】ここで、上述したように、本実施例におい
ては、基準回路が導通検査後にジョイントコネクタＪＣ
１〜ＪＣ４によって短絡される接点としての端子Ｔ６〜
Ｔ１６を含んでいるものである場合に、短絡されるべき
端子同士を任意に互換可能な任意接点として、ジョイン
トされるもの毎に変換された被検査情報Ｄｄおよび等価
回路情報Ｄｓを形成し、照合しているので、ワイヤーハ
ーネスＷＨに形成されるべき基準回路と最終的に等価な
電気回路についても、これを合格と判定することが可能
になる。

【００３５】上述した図４のワイヤーハーネスＷＨを検
査する場合には、基準回路を形成する図２のワイヤーハ
ーネスＷＨに対し、コネクタＷＨ３に係る端子Ｔ６と端
子Ｔ７とが入れ変わっているにも拘らず、これらは最終
的に短絡されるものであることから、合格と判定され
る。ステップＳ１４において、Ｇがｇと同一の導通状態
ではなかった場合、ステップＳ１９において、未検査の
グループが検索され、ステップＳ２０において、別のグ
ループとの照合が行われる。また、ステップＳ１９にお
いて、未検査のグループが存在しなかった場合には、ス
テップＳ２１において、ｇのデータをそれに対応するＧ
のポイント位置に移動し、ステップＳ２２において、不
良判定がなされ、ステップＳ２３において、表示装置２
３に不良表示がなされる。

【００３６】以上説明したように、本実施例の構成で
は、ワイヤーハーネスＷＨに形成された電気回路が基準
回路と最終的に等価回路になる場合には、これを合格と
判定することが可能になる結果、そのような等価回路を
形成することが許容されている製品については、その導
通検査を容易に行うことができ、生産効率を向上させる
ことが可能になる等、顕著な効果を奏する。

【００３７】また、等価回路の基準情報を全て記憶する
必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、
容易に実施することができるという利点もある。上述し
た実施例は、本発明の好ましい具体例に過ぎず、本発明
は、上記実施例に限定されない。例えば、図３に例示し
た装置以外の装置を用いて、上記導通検査を行うことも
勿論可能である。その他、本発明の要旨を変更しない範
囲内で種々の設計変更や被検査物の変更を行うことがで
きることは、云うまでもない。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の導通検査
装置および導通検査方法では、電気配線システムに形成
された電気回路が基準回路と最終的に等価回路になる場
合には、これを合格と判定することが可能になる結果、
そのような等価回路を形成することが許容されている製
品については、その導通検査を容易に行うことができ、
生産効率を向上させることが可能になる等、顕著な効果
を奏する。また、これにより、多品番生産での効率を向
上させることも可能になるという利点がある。

【００３９】また、等価回路の基準情報を全て記憶する
必要もなくなるので、プログラミング等が簡単になり、
容易に実施することができるという利点もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施例における導通ユニットの検査プロセス
を示すフローチャートである。

【図２】製造されるべきワイヤーハーネスの仕様を例示
して示す配線図である。

【図３】本発明の一実施例における導通ユニットの回路
構成図である。

【図４】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。

【図５】製造されたワイヤーハーネスの配線図である。

【図６】ワイヤーハーネスの導通を検査する場合の導通
チェッカの概略図である。

【図７】図６の導通チェッカに採用されている導通ユニ
ットの回路構成図である。

【図８】図６の導通チェッカで検査されるワイヤーハー
ネス配線図である。

【符号の説明】

１ 検査ユニット １０ 導通ユニット １１ ＣＰＵ １２ デマルチプレクサ １３ インバータ回路 １４ 判別回路 １５ マルチプレクサ ２１ ＤＲＡＭ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 勉 三重県四日市市西末広町１番14号 住友電 装株式会社内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】電気配線システムに形成されるべき基準回
   路の接点の導通情報を基準情報として記憶する基準情報
   記憶手段と、 上記電気配線システムの基準回路が導通検査後に短絡さ
   れる接点を含んでいるものである場合に、基準回路が短
   絡されるべき接点の情報を短絡情報として記憶する短絡
   情報記憶手段と、 短絡情報に基づき、基準回路が短絡されるべき接点同士
   を任意に互換可能な任意接点として、基準情報を等価回
   路情報に変換する情報変換手段と、 上記電気配線システムに形成された電気回路に通電し
   て、当該電気回路を形成する複数の接点の導通情報を読
   取情報として読み取る読取手段と、 読取情報から、上記短絡情報に基づき、基準回路が短絡
   されるべき接点同士を任意に互換可能な任意接点とする
   被検査情報を形成する情報形成手段と、 上記被検査情報を等価回路情報と照合して、上記電気回
   路の接点が正規に接続されているか否かを判別する判別
   手段とを備えていることを特徴とする導通検査装置。
2. 【請求項２】電気配線システムに形成された電気回路に
   通電して、当該電気回路を形成する複数の接点を、互い
   に導通されるもの同士のグループ毎に読取情報として採
   取するとともに、採取された読取情報を、当該電気配線
   システムに形成されるべき基準回路の基準情報と照合す
   ることにより、上記電気回路の接点が正規に接続されて
   いるか否かを検査する導通検査方法において、 上記基準回路が、導通検査後に短絡される接点を含んで
   いるものである場合に、短絡されるべき接点同士を任意
   に互換可能な任意接点として照合することを特徴とする
   導通検査方法。