JPH083477B2 - 穀物水分測定装置における電極ロール - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、穀物水分測定装置における電極ロールに
関する。

〔従来技術及び発明が解決しようとする問題点〕

例えば微小間隔離れた一対の電極ロール間に供試粒を
１粒毎誘導して圧砕しながらこの摺りつぶされた穀粒の
電気抵抗値を電圧変換して水分値に換算する等の水分測
定装置において、当該電極ロール周面には凹凸を形成し
て供試穀粒の噛み込みを円滑に行わせようとするが、供
試穀粒の大小によっては上記間隔が固定のままでは圧砕
処理が不適当な場合がある。即ち、標準大の籾を対象に
間隔を設定すると、粒径の大きな大麦等では左右の電極
ロールで形成されるＶ状の空間部に停滞して噛み込み性
が悪く、これに対応するため、例えば、電極ロール径を
拡大し（第10図（イ））、あるいは電極ロール間隔は広
くする（同図（ロ））等の形態があるが、前者では出力
電圧特性は安定するものの機器の大型化を免れず、後者
では標準の粒径穀粒に対応し難く然も出力電圧特性が劣
る。又、実開昭58−136768号公報に記載されているよう
に、一対の円筒状電極の外周面に周方向適当間隔おきに
突起を設けて、ギアのように噛み合わせ、穀粒を隣接す
る突起間に嵌入すべく構成する形態があるが、この形態
では破砕状態における穀粒と電極との接触面積の拡大を
はかるものであるから、この突起間に形成される凹部は
穀粒を嵌入しうる程度に深く形成されている。左右電極
の外周速度は両者同じに形成され、供試粒を異なる周速
度で摺りつぶす構成ではなく、元々前記Ｖ状の空間部に
停滞する供試粒の噛み込みに配慮されていない。

〔問題点を解決するための手段〕

このためこの発明は、左右一対の電極ロール21、21を
異なる周速差で互いに逆転しながら供試粒の一粒を圧砕
しつつその電気抵抗を測定して水分値に換算する水分測
定装置において、上記電極ロール21、21周面を凹凸面に
形成すると共に、当該周面にはロール回転軸方向に略沿
う深溝27、27を、上記供試粒の厚さ以下の深さに形成し
てなる穀物水分測定装置における電極ロールの構成とす
る。

〔発明の作用及び効果］ 乾燥途中、測定信号が出力されると水分計の電極ロー
ルや単位粒繰出装置は起動し、この繰出装置で誘導案内
される単位供試粒毎に電極ロールは水分換算用の電気信
号を出力し、該信号を処理して水分値を算出する。この
水分値は乾燥速度の制御乃至乾燥終了制御等に用いられ
る。

この水分測定動作中、一粒繰出装置20からの供試粒
は、一対の電極ロール21,21にて形成される上部空間に
至る。これら電極ロール21,21の表面には凹凸を有して
供試粒の噛み込みを良好となし、電極ロール21,21は異
なる周速度で回転しつつ当該供試粒を圧砕し、電気的抵
抗値を得ることができるものであるが、長くて径の大き
な供試粒が電極ロール21,21上に供給されると、このよ
うな凹凸だけでは噛み込まれず両ロール21,21で形成さ
れるＶ空間に停滞しようとする。ところが、この表面に
は深溝27,27が形成されて、横倒れ姿勢の当該供試粒は
この深溝27,27のロール21周面側先鋭部分に係合され易
く、電極ロール21の回転に付き回りして他の電極ロール
21との間で圧砕処理されることとなり、供試粒の圧砕処
理が正確に行える。

〔実施例〕

この発明の一実施例を図面に基づき説明する。

１は穀物乾燥機の機枠で、上部の貯留タンク２、中間
部の乾燥室３、及び下部の集穀室４を縦設してなり、該
機枠１側部には集穀室４の一側に集めた穀粒を貯留タン
ク２に揚上還元する昇降機５を立設する。尚、乾燥室３
は、火炉６に通じる熱風室７と排気ファン８に通じる排
風室９との間に流下通路10,10を形成してなり、該流下
通路10,10を通過する際穀粒に熱風を浴びせて乾燥する
公知の構成である。

上記昇降機５内には、上下の駆動プーリ乃至被動プー
リ間に掛け廻すベルト11を有し、該ベルト11には一定間
隔毎にバケット12,12…を配設している。このバケット1
2,12…は、上記集穀室４の下部に横設する移送螺旋13で
一側に移送された穀粒を掬い上げ、上方に向けて移送
し、往行程の移送終端部から投げ口部14に跳ね出す構成
である。15は、この跳ね出し穀粒を受けて水平移送する
上部移送螺旋、16は、貯留タンク２の上部中央に縦軸芯
廻りに回転すべく配設する拡散盤である。

前記昇降機５には、水分計17を設けている。この水分
計17は、昇降機５の側壁開口部18に連通する漏斗状の穀
粒取り込み部19、一粒繰出装置20や対の電極ロール21,2
1等を有する本体部22、及び供試粒を昇降機５内に還元
する還元部23とからなる。このうち、一粒繰出装置20
は、周面に穀粒の一粒を嵌合しうる螺旋凹条24を有して
一定方向に回転する繰出ロール25とこの繰出ロール25の
接線方向に接近する固定状の搬送板26とからなり、上記
螺旋凹条24と搬送板26とで穀粒の一粒を受けて繰出ロー
ル25の軸方向に移送する構成である。尚、該繰出ロール
25の上記穀粒取り込み部18にのぞむ移送始端部は大径に
形成し供試穀粒を堆積可能となし、中間部から移送終端
部に亘って小径に形成して余分の穀粒を下方に排出すべ
く構成している。

電極ロール21,21は一粒繰出装置20の移送終端部下方
にあって、異なる周速差で逆方向に回転連動する。

上記電極ロール21,21の各周面は、下層が無電解ニッ
ケルで上層が硬質クロムで各々メッキ処理され、このう
ち上層部はモジュール約0.5,ピッチ約1.5mmの綾目ロー
レット処理され、中央部の高い菱型部が多数千鳥状に配
設されるよう形成される。更に、各ロール21,21表面に
は断面Ｖ溝角度α≒90゜，深さｓ≒0.8mm程度の深溝27,
27を、軸芯方向に沿わせて形成している。

28,28、一粒繰出装置20の終端部から電極ロール21,21
上部空間イに落下案内すべき供試穀粒の前後を仕切る案
内壁29,29に内向きに形成する凸条で、上記空間イにお
いて起立姿勢で電極ロール21,21間に入ろうとする穀粒
（第９図（イ））を電極ロール21,21の両端側に移行す
る際に転倒させて（同図（ロ））電極ロール21,21への
噛み込み性を良好ならしめている。

30は前記繰出ロール25や電極ロール21,21を回転駆動
するモータである。

第８図はブロック回路図を示し、上記電極ロール21,2
1間で圧砕される供試粒の電気抵抗値は抵抗−電圧変換
器31により電圧値に変換され、この出力電圧ErがA/D変
換器32を介してCPU33に入力される。CPU33は主に次の機
能を有する。即ち、予め決められた所定間隔毎に水分
測定信号を出力し、モータ30を正転出力する。予め設
定した粒数（例えば128粒）についての出力電圧を取り
込む。各出力電圧Er値について、次の計算式 Ｍ＝κEr＋M₀−Ａ（ＴG−20℃） ％ （κ・Ａ・M₀は定数、ＴGは供試穀粒温度） に基づいて水分値を算出し、128粒の平均水分値Ｍを算
出する。水分測定終了信号を出力し、モータ30を一定
時間逆転連動出力する。前記平均水分値Ｍをデジタル
表示部34に表示出力する。一方、該平均水分値Ｍと前回
の平均水分値Ｍとの差から乾減率を演算し、予め設定し
た乾減率と比較して火炉への燃料供給の増減信号を出力
する。該平均水分値Ｍと予め設定した仕上水分値ＭL
とを比較し、これを下回れば乾燥終了信号を出力する。
等である。

上例の作用について説明する。

図外の張込ホッパから昇降機５を利用して貯留タンク
２内に所定量の穀粒を張り込む。次いで穀物種類、仕上
水分ＭS等を設定して乾燥作業を開始する。貯留タンク
２内の穀粒は乾燥室３を流下しながら熱風を浴び、集穀
室４に至る。下側の移送螺旋13で一側に移送され昇降機
５のバケット12,12…で揚穀されて再び貯留タンク２内
に至り、暫くの間調質作用を受ける。

このような乾燥作業中、予め設定した測定間隔毎に水
分計17のモータ30を作動させ、水分測定を行ない、乾減
率を監視しながら熱風温度を制御する。そして、仕上水
分値に達すると乾燥作業を終了する。

水分計17に測定信号が入力されると、モータ30が起動
し、繰出ロール25及び電極ロール21,21を正転する。昇
降機５の開口部18から連続的に水分計17かに取り込まれ
る穀粒は、繰出ロール25と搬送板26との間に案内されこ
の繰出ロール25の移送始端側に複数粒堆積しつつ、螺旋
凹条24に嵌合する一粒が供試粒として搬送板26に受けら
れた状態で終端側に向け移送される。３〜４秒間隔で順
次繰り出される供試粒を電極ロール21,21で圧砕しなが
ら夫々出力電圧Erを水分値に換算し所定粒、例えば128
粒の平均水分値を算出するものである。

上記水分測定動作中、一粒繰出装置20からの供試粒
は、繰出ロール25の終端部から外れて案内壁29,29で形
成される空間部を落下し一対の電極ロール21,21間に至
る。これら電極ロール21,21の表面には綾目ローレット
処理が施されているため供試粒の噛み込みは良好であ
る。電極ロール21,21は異なる周速度で回転しつつ当該
供試粒を圧砕し、電気的抵抗値を得ることができる。と
ころで、長くて径の大きな供試粒が電極ロール21,21上
に供給されると、上記綾目ローレットにによる凹凸だけ
では噛み込まれず両ロール21,21で形成されるＶ空間に
停滞しようとする。ところが、この表面には深溝27,27
が形成されて、横倒れ姿勢の当該供試粒はこの深溝27,2
7のロール21周面側先鋭部分に係合され易く、電極ロー
ル21の回転に付き回りして他の電極ロール21との間で圧
砕処理されることとなる。

尚、供試粒が起立姿勢で上記Ｖ空間に停滞すると、直
接深溝27,27による上記係合は行われ難いが、起立姿勢
で電極ロール21,21表面の凹凸に作用されてロール軸方
向には移動し易く、このため上部側が凸条28,28に接当
して倒伏し、上記の深溝27,27の作用を受け易い状態と
なる。

尚、本実施例では、深溝27,27をＶ型断面に形成した
が、これに限定されず前記作用を有する範囲で種々の変
形例による実施が可能である。

【図面の簡単な説明】

図はこの発明の一実施例を示すもので、第１図は全体正
面図、第２図はその断面図、第３図は要部の正面図、第
４図は電極ロールの斜視図、第５図はその側面図、第６
図はその正面図、第７図はその一部拡大図、第８図はブ
ロック回路図、第９図（イ）（ロ）は要部の側面図、第
10図（イ）（ロ）は従来例を示す図である。 図中、17は水分計、18は開口部、20は単位粒（一粒）繰
出装置、21,21は電極ロール、24は螺旋凹条、25は繰出
ロール、26は搬送板、27,27は深溝、33はCPUを示す。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森 泰一 愛媛県伊予郡砥部町八倉１番地 井関農機 株式会社技術部内 審査官 鈴木 俊光 (56)参考文献 実開 昭58−136768（ＪＰ，Ｕ)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】左右一対の電極ロール21,21を異なる周速
   差で互いに逆転しながら供試粒の一粒を圧砕しつつその
   電気抵抗を測定して水分値に換算する水分測定装置にお
   いて、上記電極ロール21,21周面を凹凸面に形成すると
   共に、当該周面にはロール回転軸方向に略沿う深溝27,2
   7を、上記供試粒の厚さ以下の深さに形成してなる穀物
   水分測定装置における電極ロール。