JPH09257735A - 穀物乾燥機の水分検出装置 - Google Patents
穀物乾燥機の水分検出装置Info
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- JPH09257735A JPH09257735A JP6422496A JP6422496A JPH09257735A JP H09257735 A JPH09257735 A JP H09257735A JP 6422496 A JP6422496 A JP 6422496A JP 6422496 A JP6422496 A JP 6422496A JP H09257735 A JPH09257735 A JP H09257735A
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- 238000001035 drying Methods 0.000 description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】この発明は、穀物乾燥機の水分検出装置に関
し、水分測定範囲の拡大を図らんとする。 【解決手段】左右一対の電極ロ−ラ間に穀物を導いてこ
れを圧砕しながら水分を測定する水分検出装置におい
て、水分電圧波形のピ−ク電圧と時間幅を測定し、ピ−
ク電圧が検出可能な上限値を越えているときには、その
電圧を測定した時間幅により、水分算出時の演算式を補
正すべく構成している。
し、水分測定範囲の拡大を図らんとする。 【解決手段】左右一対の電極ロ−ラ間に穀物を導いてこ
れを圧砕しながら水分を測定する水分検出装置におい
て、水分電圧波形のピ−ク電圧と時間幅を測定し、ピ−
ク電圧が検出可能な上限値を越えているときには、その
電圧を測定した時間幅により、水分算出時の演算式を補
正すべく構成している。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、穀物乾燥機の水
分検出装置に関するものである。
分検出装置に関するものである。
【０００２】
【従来技術】従来、昇降機の側壁に水分計を取り付ける
と共に、水分計内に一対の電極ロ−ルを設け、昇降機の
上方から放出される穀物を取り込みながらこれを一粒ず
つ圧砕し、水分電圧波形を求めて水分値を算出するもの
が知られている。
と共に、水分計内に一対の電極ロ−ルを設け、昇降機の
上方から放出される穀物を取り込みながらこれを一粒ず
つ圧砕し、水分電圧波形を求めて水分値を算出するもの
が知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来装置にあっては、測定下限電圧と測定上限電圧が回
路の構成上、決まってしまい、上限電圧を越えるような
水分値の高いものは測定ができないという問題点があっ
た。
従来装置にあっては、測定下限電圧と測定上限電圧が回
路の構成上、決まってしまい、上限電圧を越えるような
水分値の高いものは測定ができないという問題点があっ
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は前記問題点に
鑑みて提案するものであり、次のような技術的手段を講
じた。即ち、一対の電極ロ−ル間で一粒ずつ穀物を圧砕
して水分測定を行なう穀物乾燥機の水分検出装置におい
て、穀物圧砕時における水分電圧波形のピ−ク電圧と時
間幅を測定し、前記ピ−ク電圧が検出可能な上限値を越
えているときには、その電圧を測定した時間幅により、
水分算出時の演算式を補正する制御部を設けたことを特
徴とする穀物乾燥機の水分検出装置の構成とする。
鑑みて提案するものであり、次のような技術的手段を講
じた。即ち、一対の電極ロ−ル間で一粒ずつ穀物を圧砕
して水分測定を行なう穀物乾燥機の水分検出装置におい
て、穀物圧砕時における水分電圧波形のピ−ク電圧と時
間幅を測定し、前記ピ−ク電圧が検出可能な上限値を越
えているときには、その電圧を測定した時間幅により、
水分算出時の演算式を補正する制御部を設けたことを特
徴とする穀物乾燥機の水分検出装置の構成とする。
【０００５】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいて、この発
明の実施例を説明する。まず、構成から説明すると、１
は穀物乾燥機の機枠で、この機枠内には上部から貯留タ
ンク２、乾燥室３、集穀室４を縦設し、このうち、乾燥
室３はバ−ナ５を有するバ−ナ胴に通じる熱風室６と吸
引ファン７を有するファン胴に通じる排風室８との間に
穀物流下通路９、９を形成してなり、各流下通路９、９
の下部に設ける繰出バルブ１０、１０の間歇回転により
所定量毎に流下する穀物に熱風を浴びせて乾燥する構成
である。
明の実施例を説明する。まず、構成から説明すると、１
は穀物乾燥機の機枠で、この機枠内には上部から貯留タ
ンク２、乾燥室３、集穀室４を縦設し、このうち、乾燥
室３はバ−ナ５を有するバ−ナ胴に通じる熱風室６と吸
引ファン７を有するファン胴に通じる排風室８との間に
穀物流下通路９、９を形成してなり、各流下通路９、９
の下部に設ける繰出バルブ１０、１０の間歇回転により
所定量毎に流下する穀物に熱風を浴びせて乾燥する構成
である。
【０００６】そして、上記機枠１外部には集穀室４の一
側に集めた穀物を貯留タンク２に揚上還元する昇穀機１
１を立設している。この昇穀機１１内における上下には
駆動プ−リと被動プ−リとが設けられ、これらのプ−リ
間にバケットベルト１３が巻き回しされ、集穀室４下部
に横設する下部移送螺旋１４により一側へ移送された乾
燥穀物を掬い上げ上部に移送できる構成としている。
側に集めた穀物を貯留タンク２に揚上還元する昇穀機１
１を立設している。この昇穀機１１内における上下には
駆動プ−リと被動プ−リとが設けられ、これらのプ−リ
間にバケットベルト１３が巻き回しされ、集穀室４下部
に横設する下部移送螺旋１４により一側へ移送された乾
燥穀物を掬い上げ上部に移送できる構成としている。
【０００７】この昇穀機１１で掬われ上部で投てきされ
る穀物は投げ口開口部１５を介して上部移送螺旋１６を
設ける移送樋１７の始端側に案内される。そして、上部
移送螺旋１６で水平移送される穀物は貯留タンク２の中
央上部に配設する回転拡散盤１８に案内され貯留タンク
２内に拡散落下される構成としている。
る穀物は投げ口開口部１５を介して上部移送螺旋１６を
設ける移送樋１７の始端側に案内される。そして、上部
移送螺旋１６で水平移送される穀物は貯留タンク２の中
央上部に配設する回転拡散盤１８に案内され貯留タンク
２内に拡散落下される構成としている。
【０００８】前記昇穀機１１、上部移送螺旋１６及び下
部移送螺旋１４からなる穀物循環系は、昇穀機１１枠の
上部側壁に固定する昇降機モ−タ１９により回転連動す
る。そして上記昇穀機１１の適宜高さの位置における側
壁２４にはサンプル粒を取り込んでこれを圧砕しながら
その電気抵抗値を求め、これから穀粒水分値に換算処理
する公知の水分計２６を取り付けている。
部移送螺旋１４からなる穀物循環系は、昇穀機１１枠の
上部側壁に固定する昇降機モ−タ１９により回転連動す
る。そして上記昇穀機１１の適宜高さの位置における側
壁２４にはサンプル粒を取り込んでこれを圧砕しながら
その電気抵抗値を求め、これから穀粒水分値に換算処理
する公知の水分計２６を取り付けている。
【０００９】この水分計２６の内部の一例を示したもの
が図３であり、昇穀機１１内で落下してきた穀粒は搬送
用ロ−ラ２７の螺旋溝２８に乗り、案内板２９にて一対
の電極ロ−ラ３０、３１間に導かれる。なお、同図にお
いて、符号３２は前記電極ロ−ラ３０、３１を駆動する
モ−タ、３３は電極ロ−ラ３０、３１の間隔を調整する
モ−タ、３４は前記搬送用ロ−ラ２７を駆動するウォ−
ムギヤ機構である。
が図３であり、昇穀機１１内で落下してきた穀粒は搬送
用ロ−ラ２７の螺旋溝２８に乗り、案内板２９にて一対
の電極ロ−ラ３０、３１間に導かれる。なお、同図にお
いて、符号３２は前記電極ロ−ラ３０、３１を駆動する
モ−タ、３３は電極ロ−ラ３０、３１の間隔を調整する
モ−タ、３４は前記搬送用ロ−ラ２７を駆動するウォ−
ムギヤ機構である。
【００１０】次に図４に示すコントロ−ルパネル部分に
ついて構成を説明すると、４７は穀物を張り込むときに
押す張込スイッチ、４８は乾燥スイッチ、４９は穀粒を
排出するときに押す排出スイッチ、５０は停止スイッチ
である。５１は穀物種類を選択する穀物種類設定スイッ
チ、５２は張込量を設定する張込量設定スイッチ、５３
は水分設定スイッチである。５４は熱風温度、乾燥残時
間、水分値を表示する表示画面、５５、５６はタイマ−
スイッチであり、スイッチ５５を押すと乾燥時間が長
く、スイッチ５６を押すと乾燥時間が短くなるように時
間が変更される。
ついて構成を説明すると、４７は穀物を張り込むときに
押す張込スイッチ、４８は乾燥スイッチ、４９は穀粒を
排出するときに押す排出スイッチ、５０は停止スイッチ
である。５１は穀物種類を選択する穀物種類設定スイッ
チ、５２は張込量を設定する張込量設定スイッチ、５３
は水分設定スイッチである。５４は熱風温度、乾燥残時
間、水分値を表示する表示画面、５５、５６はタイマ−
スイッチであり、スイッチ５５を押すと乾燥時間が長
く、スイッチ５６を押すと乾燥時間が短くなるように時
間が変更される。
【００１１】図５は制御ブロック図を示すものであり、
前記張込スイッチ４７、乾燥スイッチ４８、排出スイッ
チ４９、停止スイッチ５０、穀物種類設定スイッチ５
１、張込量設定スイッチ５２、水分設定スイッチ５３等
はデジタル入力回路５８を介して制御用マイクロコンピ
ュ−タ５９に接続されている。この制御用マイクロコン
ピュ−タ５９のメモリ部には、穀粒の水分測定及び水分
換算式の補正等に関する制御プログラムが書き込まれて
おり、以下、図６に基づいて作用を説明する。各モ−タ
を駆動させ、穀粒を乾燥機本体内で循環させると、穀粒
は水分計２６内に取り込まれる。電極ロ−ラ３０、３１
の間に取り込んだ穀粒を圧砕し、水分を測定すると共に
これを電圧値に換算する（ステップＳ１，Ｓ２）。更に
一定電圧変化したかどうかを判別し、一定時間毎にその
水分電圧値を読み込む（ステップＳ３，Ｓ４）。一定時
間が経過した段階で、一粒波形が測定上限内にあるかど
うかが判定され、限度内であれば一粒波形のピ−ク電圧
を判定し、水分換算式により水分値Ｍｓを算出する（ス
テップＳ６，Ｓ７，Ｓ８）。ここで、水分換算式は次の
ように定義付けられる。Ｍｓ＝ａ×Ｖｐ＋ｂ（但し、Ｖ
ｐはピ−ク電圧、ａ，ｂは定数である。） 測定した波形の電圧が測定上限電圧（Ｖｐ1）に達して
いれば、時間幅ｔを判定（電圧を所定時間毎に読み込ん
でいるために、上限電圧の読み込み回数により時間幅を
算出する）し、前記の水分換算式と時間幅とから水分値
を算出する（ステップＳ９，Ｓ１０）。このときの水分
換算式は次のように表わされる。
前記張込スイッチ４７、乾燥スイッチ４８、排出スイッ
チ４９、停止スイッチ５０、穀物種類設定スイッチ５
１、張込量設定スイッチ５２、水分設定スイッチ５３等
はデジタル入力回路５８を介して制御用マイクロコンピ
ュ−タ５９に接続されている。この制御用マイクロコン
ピュ−タ５９のメモリ部には、穀粒の水分測定及び水分
換算式の補正等に関する制御プログラムが書き込まれて
おり、以下、図６に基づいて作用を説明する。各モ−タ
を駆動させ、穀粒を乾燥機本体内で循環させると、穀粒
は水分計２６内に取り込まれる。電極ロ−ラ３０、３１
の間に取り込んだ穀粒を圧砕し、水分を測定すると共に
これを電圧値に換算する（ステップＳ１，Ｓ２）。更に
一定電圧変化したかどうかを判別し、一定時間毎にその
水分電圧値を読み込む（ステップＳ３，Ｓ４）。一定時
間が経過した段階で、一粒波形が測定上限内にあるかど
うかが判定され、限度内であれば一粒波形のピ−ク電圧
を判定し、水分換算式により水分値Ｍｓを算出する（ス
テップＳ６，Ｓ７，Ｓ８）。ここで、水分換算式は次の
ように定義付けられる。Ｍｓ＝ａ×Ｖｐ＋ｂ（但し、Ｖ
ｐはピ−ク電圧、ａ，ｂは定数である。） 測定した波形の電圧が測定上限電圧（Ｖｐ1）に達して
いれば、時間幅ｔを判定（電圧を所定時間毎に読み込ん
でいるために、上限電圧の読み込み回数により時間幅を
算出する）し、前記の水分換算式と時間幅とから水分値
を算出する（ステップＳ９，Ｓ１０）。このときの水分
換算式は次のように表わされる。
【００１２】Ｍｓ＝ａ×Ｖｐｍａｘ＋ｂ＋ｋ×ｔ（但し
ａ，ｂ，ｋは定数） 図７は一粒の水分波形を示すもので、横軸に時間、縦軸
に電圧を採っている。測定上限値に達した波形に対し、
補正後の水分換算式は、これを点線で示した波形のよう
に取り扱うもので、測定電圧が測定上限値となっても、
それより高い水分の検出が補正により行なえるようにし
ている。
ａ，ｂ，ｋは定数） 図７は一粒の水分波形を示すもので、横軸に時間、縦軸
に電圧を採っている。測定上限値に達した波形に対し、
補正後の水分換算式は、これを点線で示した波形のよう
に取り扱うもので、測定電圧が測定上限値となっても、
それより高い水分の検出が補正により行なえるようにし
ている。
【００１３】次に上記発明に関連する装置の部分改良に
ついて構成、作用を説明する。図８は水分値の表示制御
について述べたものである。従来、水分計２６による水
分値の算出及び表示にあたっては、まず、一定粒数の穀
粒を水分計２６内の電極ロ−ル３０、３１間に穀粒を一
粒毎取り込んでこれを圧砕すると共に、所定粒数の水分
値を電圧値に換算し、その平均値を算出して水分値を表
示する構成を採用していたが、このような構成では、表
示するまでに時間が掛かり過ぎるという欠点がある。特
に乾燥開始初期では、乾燥終了間際に比べて大凡の水分
値が表示されていれば足りる。そこで、この改良装置で
は、乾燥開始初期と終了時とで穀粒の取込量を変えて測
定水分値を早くオペレ−タに知らせるようにしている。
同図のフロ−チャ−トを用いて作用を説明すると、ま
ず、第１段階として水分値を測定し（ステップＴ１）、
一粒の水分電圧を読み込んで水分値Ｍｓを算出する（ス
テップＴ２，Ｔ３）。測定粒数が表示に必要な粒数Ｎ1
に達したらその平均値を算出し、表示する（ステップＴ
４，Ｔ５）。
ついて構成、作用を説明する。図８は水分値の表示制御
について述べたものである。従来、水分計２６による水
分値の算出及び表示にあたっては、まず、一定粒数の穀
粒を水分計２６内の電極ロ−ル３０、３１間に穀粒を一
粒毎取り込んでこれを圧砕すると共に、所定粒数の水分
値を電圧値に換算し、その平均値を算出して水分値を表
示する構成を採用していたが、このような構成では、表
示するまでに時間が掛かり過ぎるという欠点がある。特
に乾燥開始初期では、乾燥終了間際に比べて大凡の水分
値が表示されていれば足りる。そこで、この改良装置で
は、乾燥開始初期と終了時とで穀粒の取込量を変えて測
定水分値を早くオペレ−タに知らせるようにしている。
同図のフロ−チャ−トを用いて作用を説明すると、ま
ず、第１段階として水分値を測定し（ステップＴ１）、
一粒の水分電圧を読み込んで水分値Ｍｓを算出する（ス
テップＴ２，Ｔ３）。測定粒数が表示に必要な粒数Ｎ1
に達したらその平均値を算出し、表示する（ステップＴ
４，Ｔ５）。
【００１４】そして、第２段階として、穀粒の数が上記
の粒数Ｎ1よりも多い測定粒数Ｎ2（最初から最後までの
全部の粒数）に達したら、それまでの粒数の平均値を算
出し、水分値のばらつき具合を判定すると共に、表示の
内容を変更する（ステップＴ６，Ｔ７，Ｔ８）。このよ
うに表示方法を改めることにより、乾燥開始時には測定
水分値を早く表示することができるものである。
の粒数Ｎ1よりも多い測定粒数Ｎ2（最初から最後までの
全部の粒数）に達したら、それまでの粒数の平均値を算
出し、水分値のばらつき具合を判定すると共に、表示の
内容を変更する（ステップＴ６，Ｔ７，Ｔ８）。このよ
うに表示方法を改めることにより、乾燥開始時には測定
水分値を早く表示することができるものである。
【００１５】図９乃至図１１は測定した穀粒の水分ばら
つき処理について説明したものであり、図９はばらつき
が大の場合、図１０はばらつきが小の場合の様子を示し
たものである。穀粒の水分値を算出するとき、ばらつき
具合を全く考慮に入れないで、常に所定粒数の穀粒を圧
砕して平均化処理を行なっていたのでは、穀粒の粉砕量
が多くなる欠点が生じる。
つき処理について説明したものであり、図９はばらつき
が大の場合、図１０はばらつきが小の場合の様子を示し
たものである。穀粒の水分値を算出するとき、ばらつき
具合を全く考慮に入れないで、常に所定粒数の穀粒を圧
砕して平均化処理を行なっていたのでは、穀粒の粉砕量
が多くなる欠点が生じる。
【００１６】そこで、この改良装置では、水分デ−タの
ばらつき具合に応じて取り込み粒数を変更できるように
している。ばらつきが少ない場合には、測定粒数を少な
くし、ばらつきが多いときには測定粒数を多くして信頼
性を向上させる。このため、図１１に示すような制御フ
ロ−に沿って水分測定を行なう。まず、乾燥スイッチ４
８を押してモ−タ系、燃焼系を作動させ（ステップ♯
１，♯２，♯３）、乾燥初期水分を測定する（ステップ
♯４）。
ばらつき具合に応じて取り込み粒数を変更できるように
している。ばらつきが少ない場合には、測定粒数を少な
くし、ばらつきが多いときには測定粒数を多くして信頼
性を向上させる。このため、図１１に示すような制御フ
ロ−に沿って水分測定を行なう。まず、乾燥スイッチ４
８を押してモ−タ系、燃焼系を作動させ（ステップ♯
１，♯２，♯３）、乾燥初期水分を測定する（ステップ
♯４）。
【００１７】平均水分を算出すると共に、水分のばらつ
きを判定し（ステップ♯５，♯６）、このとき、ばらつ
きが大であれば測定粒数Ｎ1を多くする（ステップ♯
８）。反対にばらつきが小であれば、測定粒数Ｎ2を少
なめに設定する（ステップ♯１２）。そして、一定時間
経過後に水分測定を行ない、平均水分値を算出する（ス
テップ♯９，♯１０，♯１１）。
きを判定し（ステップ♯５，♯６）、このとき、ばらつ
きが大であれば測定粒数Ｎ1を多くする（ステップ♯
８）。反対にばらつきが小であれば、測定粒数Ｎ2を少
なめに設定する（ステップ♯１２）。そして、一定時間
経過後に水分測定を行ない、平均水分値を算出する（ス
テップ♯９，♯１０，♯１１）。
【００１８】このように、乾燥開始初期の水分デ−タの
ばらつき具合から乾燥初期以降の測定粒数を決めて水分
測定を行なうものであって、特にばらつきが少ないとき
は穀粒の粉砕が少なくて済むので、乾燥仕上製品の損傷
を最小に抑えることができるものである。
ばらつき具合から乾燥初期以降の測定粒数を決めて水分
測定を行なうものであって、特にばらつきが少ないとき
は穀粒の粉砕が少なくて済むので、乾燥仕上製品の損傷
を最小に抑えることができるものである。
【００１９】
【発明の効果】この発明は前記の如く構成したので、以
下のような技術的効果を奏する。即ち、一対の電極ロ−
ル間で一粒ずつ穀物を圧砕して水分測定を行なう穀物乾
燥機の水分検出装置において、穀物圧砕時における水分
電圧波形のピ−ク電圧と時間幅を測定し、前記ピ−ク電
圧が検出可能な上限値を越えているときには、その電圧
を測定した時間幅により、水分算出時の演算式を補正す
る制御部を設けたものであるから、穀物の水分測定時に
測定上限電圧となっても、測定可能水分を高くすること
ができ、このように水分演算式の簡単な補正によって測
定範囲の拡大を図ることができる。
下のような技術的効果を奏する。即ち、一対の電極ロ−
ル間で一粒ずつ穀物を圧砕して水分測定を行なう穀物乾
燥機の水分検出装置において、穀物圧砕時における水分
電圧波形のピ−ク電圧と時間幅を測定し、前記ピ−ク電
圧が検出可能な上限値を越えているときには、その電圧
を測定した時間幅により、水分算出時の演算式を補正す
る制御部を設けたものであるから、穀物の水分測定時に
測定上限電圧となっても、測定可能水分を高くすること
ができ、このように水分演算式の簡単な補正によって測
定範囲の拡大を図ることができる。
【図１】乾燥機本体の正面図である。
【図２】乾燥機の正面断面図である。
【図３】水分計の断面図である。
【図４】コントロ−ルパネルの正面図である。
【図５】制御ブロック図である。
【図６】水分値補正のフロ−チャ−トである。
【図７】一粒水分電圧波形図である。
【図８】水分値表示のフロ−チャ−トである。
【図９】ばらつき具合を表示した図である。
【図１０】ばらつき具合を表示した図である。
【図１１】ばらつきの程度に応じて測定粒数を決めるフ
ロ−チャ−トである。
ロ−チャ−トである。
１ 機枠 ２ 貯溜タンク ３ 乾燥室 ４ 集穀室 ６ 熱風室 ７ 吸引ファン ８ 排風室 ９ 穀物流下通路 １０ 繰出バルブ
Claims (1)
- 【請求項１】一対の電極ロ−ル間で一粒ずつ穀物を圧砕
して水分測定を行なう穀物乾燥機の水分検出装置におい
て、穀物圧砕時における水分電圧波形のピ−ク電圧と時
間幅を測定し、前記ピ−ク電圧が検出可能な上限値を越
えているときには、その電圧を測定した時間幅により、
水分算出時の演算式を補正する制御部を設けたことを特
徴とする穀物乾燥機の水分検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6422496A JPH09257735A (ja) | 1996-03-21 | 1996-03-21 | 穀物乾燥機の水分検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6422496A JPH09257735A (ja) | 1996-03-21 | 1996-03-21 | 穀物乾燥機の水分検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09257735A true JPH09257735A (ja) | 1997-10-03 |
Family
ID=13251928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6422496A Pending JPH09257735A (ja) | 1996-03-21 | 1996-03-21 | 穀物乾燥機の水分検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09257735A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104634828A (zh) * | 2015-01-20 | 2015-05-20 | 农业部南京农业机械化研究所 | 一种在线谷物水分仪输料去杂清理装置 |
| CN113834912A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-12-24 | 安徽科杰粮保仓储设备有限公司 | 一种粮仓粮食籽粒水分自动检测装置 |
-
1996
- 1996-03-21 JP JP6422496A patent/JPH09257735A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104634828A (zh) * | 2015-01-20 | 2015-05-20 | 农业部南京农业机械化研究所 | 一种在线谷物水分仪输料去杂清理装置 |
| CN113834912A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-12-24 | 安徽科杰粮保仓储设备有限公司 | 一种粮仓粮食籽粒水分自动检测装置 |
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