JPH084131B2 - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH084131B2 JPH084131B2 JP62017150A JP1715087A JPH084131B2 JP H084131 B2 JPH084131 B2 JP H084131B2 JP 62017150 A JP62017150 A JP 62017150A JP 1715087 A JP1715087 A JP 1715087A JP H084131 B2 JPH084131 B2 JP H084131B2
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/10—Integrated devices
- H10F39/12—Image sensors
- H10F39/197—Bipolar transistor image sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光励起により発生したキャリアを蓄積する
方式の光電変換装置に関する。
方式の光電変換装置に関する。
[従来技術] 第6図(A)は、特開昭60−12759号公報〜特開昭60
−12765号公報に記載されている光電変換装置の概略的
断面図、第6図(B)は、その1個の光電変換セルの等
価回路図である。
−12765号公報に記載されている光電変換装置の概略的
断面図、第6図(B)は、その1個の光電変換セルの等
価回路図である。
両図において、nシリコン基板1上に光電変換セルが
形成され配列されており、各光電変換セルはSiO2、Si3N
4、又はポリシリコン等より成る素子分離領域2によっ
て隣接する光電変換セルから電気的に絶縁されている。
形成され配列されており、各光電変換セルはSiO2、Si3N
4、又はポリシリコン等より成る素子分離領域2によっ
て隣接する光電変換セルから電気的に絶縁されている。
各光電変換セルは次のような構成を有する。
エピタキシャル技術等で形成される不純物濃度の低い
n-領域3上にはpタイプの不純物をドーピングすること
でp領域4が形成され、p領域4には不純物拡散技術又
はイオン注入技術等によってn+領域5が形成されてい
る。p領域4およびn+領域5は、各々バイポーラトラン
ジスタのベースおよびエミッタである。
n-領域3上にはpタイプの不純物をドーピングすること
でp領域4が形成され、p領域4には不純物拡散技術又
はイオン注入技術等によってn+領域5が形成されてい
る。p領域4およびn+領域5は、各々バイポーラトラン
ジスタのベースおよびエミッタである。
このように各領域が形成されたn-領域3上には酸化膜
6が形成され、酸化膜6上に所定の面積を有するキャパ
シタ電極7が形成されている。キャパシタ電極7は酸化
膜6を挟んでpベース領域4と対向し、キャパシタ電極
7にパルス電圧を印加することで浮遊状態にされたpベ
ース領域4の電位を制御する。
6が形成され、酸化膜6上に所定の面積を有するキャパ
シタ電極7が形成されている。キャパシタ電極7は酸化
膜6を挟んでpベース領域4と対向し、キャパシタ電極
7にパルス電圧を印加することで浮遊状態にされたpベ
ース領域4の電位を制御する。
その他に、n+エミッタ領域5に接続されたエミッタ電
極8、基板1の裏面に不純物濃度の高いn+領域11、およ
びバイポーラトランジスタのコレクタに電位を与えるた
めのコレクタ電極12がそれぞれ形成されている。
極8、基板1の裏面に不純物濃度の高いn+領域11、およ
びバイポーラトランジスタのコレクタに電位を与えるた
めのコレクタ電極12がそれぞれ形成されている。
次に、基本的な動作を説明する。まず、バイポーラト
ランジスタのpベース領域4は負電位の初期状態にある
とする。このpベース領域4側から光13が入射し、入射
光によって発生した電子・正孔対のうちの正孔がpベー
ス領域4に蓄積され、蓄積された正孔によってpベース
領域4の電位が正方向に上昇する(蓄積動作)。
ランジスタのpベース領域4は負電位の初期状態にある
とする。このpベース領域4側から光13が入射し、入射
光によって発生した電子・正孔対のうちの正孔がpベー
ス領域4に蓄積され、蓄積された正孔によってpベース
領域4の電位が正方向に上昇する(蓄積動作)。
続いて、キャパシタ電極7に読出し用の正電圧パルス
が印加され、蓄積動作時のベース電位変化分に対応した
読出し信号が浮遊状態にしたエミッタ電極8から出力さ
れる(読出し動作)。ただし、pベース領域4の蓄積電
荷量はほとんど減少しないために、読出し動作の繰返し
が可能である。
が印加され、蓄積動作時のベース電位変化分に対応した
読出し信号が浮遊状態にしたエミッタ電極8から出力さ
れる(読出し動作)。ただし、pベース領域4の蓄積電
荷量はほとんど減少しないために、読出し動作の繰返し
が可能である。
また、pベース領域4に蓄積された正孔を除去するに
は、エミッタ電極8を接地し、キャパシタ電極7に正電
圧のリフレッシュパルスを印加する。このパルスを印加
することでp領域4はn+エミッタ領域5に対して順方向
にバイアスされ、蓄積された正孔が除去される。そし
て、リフレッシュパルスが立下がった時点でpベース領
域4は初期状態に復帰する(リフレッシュ動作)。以
後、同様に蓄積、読出し、リフレッシュという各動作が
繰り返される。
は、エミッタ電極8を接地し、キャパシタ電極7に正電
圧のリフレッシュパルスを印加する。このパルスを印加
することでp領域4はn+エミッタ領域5に対して順方向
にバイアスされ、蓄積された正孔が除去される。そし
て、リフレッシュパルスが立下がった時点でpベース領
域4は初期状態に復帰する(リフレッシュ動作)。以
後、同様に蓄積、読出し、リフレッシュという各動作が
繰り返される。
要するに、ここで提案されている方式は、光入射によ
り発生したキャリアを、pベース領域4に蓄積し、その
蓄積電荷量によってエミッタ電極8とコレクタ電極12と
の間に流れる電流をコントロールするものである。した
がって、蓄積されたキャリアを、各セルの増幅機能によ
り増幅してから読出すわけであり、高出力、高感度、さ
らに低雑音を達成できる。
り発生したキャリアを、pベース領域4に蓄積し、その
蓄積電荷量によってエミッタ電極8とコレクタ電極12と
の間に流れる電流をコントロールするものである。した
がって、蓄積されたキャリアを、各セルの増幅機能によ
り増幅してから読出すわけであり、高出力、高感度、さ
らに低雑音を達成できる。
また、光励起によってベースに蓄積されたキャリア
(ここではホール)によりベースに発生する電位Vpは、
Q/Cで与えられる。ここでQはベースに蓄積されたホー
ルの電荷量、Cはベースに接続されている容量である。
この式により明白な様に、高集積化された場合、セル・
サイズの縮小と共にQもCも小さくなることになり、光
励起により発生する電位Vpは、ほぼ一定に保たれること
がわかる。したがって、ここで提案されている方式は、
将来の高解像度化に対しても有利なものであると言え
る。
(ここではホール)によりベースに発生する電位Vpは、
Q/Cで与えられる。ここでQはベースに蓄積されたホー
ルの電荷量、Cはベースに接続されている容量である。
この式により明白な様に、高集積化された場合、セル・
サイズの縮小と共にQもCも小さくなることになり、光
励起により発生する電位Vpは、ほぼ一定に保たれること
がわかる。したがって、ここで提案されている方式は、
将来の高解像度化に対しても有利なものであると言え
る。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来の光電変換装置では、ベース
に蓄積されたキャリアを消滅させるリフレッシュ動作が
エミッタ・ベース間の順方向電流に頼っているために、
短時間のリフレッシュパルスでは、リフレッシュ後のベ
ース電位がリフレッシュ前のベース電位に依存し、この
ことが残像の問題および光電変換特性の非直線性の原因
となっていた。
に蓄積されたキャリアを消滅させるリフレッシュ動作が
エミッタ・ベース間の順方向電流に頼っているために、
短時間のリフレッシュパルスでは、リフレッシュ後のベ
ース電位がリフレッシュ前のベース電位に依存し、この
ことが残像の問題および光電変換特性の非直線性の原因
となっていた。
[問題点を解決するための手段] 本発明による光電変換装置は、 光励起により発生したキャリアを蓄積する半導体領域
を有する光電変換セルが複数個配列され、かつ、隣接す
る光電変換セルの前記半導体領域を各々主電極領域とし
て絶縁ゲート型トランジスタが構成されており、該絶縁
ゲート型トランジスタのゲートに第1の電位を印加する
ことにより該絶縁ゲート型トランジスタをオンさせて前
記複数の光電変換セルの半導体領域の信号をリセット
し、前記絶縁ゲート型トランジスタのゲート第2の電位
を印加することにより該絶縁ゲート型トランジスタをオ
フさせて前記複数の光電変換セルの半導体領域を分離す
るように制御することを特徴とする。
を有する光電変換セルが複数個配列され、かつ、隣接す
る光電変換セルの前記半導体領域を各々主電極領域とし
て絶縁ゲート型トランジスタが構成されており、該絶縁
ゲート型トランジスタのゲートに第1の電位を印加する
ことにより該絶縁ゲート型トランジスタをオンさせて前
記複数の光電変換セルの半導体領域の信号をリセット
し、前記絶縁ゲート型トランジスタのゲート第2の電位
を印加することにより該絶縁ゲート型トランジスタをオ
フさせて前記複数の光電変換セルの半導体領域を分離す
るように制御することを特徴とする。
[作用] 上記絶縁ゲート型トランジスタをON状態とすれば、各
セルの半導体領域の電位を蓄積キャリア量に関係なく一
定電位に設定することができる。また、絶縁ゲート型ト
ランジスタをOFF状態とすれば、上記光電変換セルを各
々電気的に分離することができる。
セルの半導体領域の電位を蓄積キャリア量に関係なく一
定電位に設定することができる。また、絶縁ゲート型ト
ランジスタをOFF状態とすれば、上記光電変換セルを各
々電気的に分離することができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に説明す
る。
る。
第1図は、本発明による光電変換装置の一実施例の概
略的断面図である。ただし、第6図と同一機能を有する
部分には同一番号を付してある。
略的断面図である。ただし、第6図と同一機能を有する
部分には同一番号を付してある。
同図において、コレクタ領域であるn-領域3には光電
変換セルのpベース領域4が一定の間隔で形成されてい
る。各pベース領域4にはn+エミッタ領域5が形成され
ている。
変換セルのpベース領域4が一定の間隔で形成されてい
る。各pベース領域4にはn+エミッタ領域5が形成され
ている。
さらに、酸化膜6を挟んで、各pベース領域4および
それぞれ隣接するpベース領域4間にまたがって電極10
1が形成されている。pベース領域4上の電極101は、p
ベース領域4と対向してベース電位を制御するためのキ
ャパシタCoxを構成し、隣接するベース間の電極101は、
その隣接するpベース領域4を各々ソース・ドレイン領
域とするMOSトランジスタTrのゲート電極となってい
る。本実施例では、キャパシタ電極とMOSトランジスタT
rのゲート電極とが接続された構成となっている。
それぞれ隣接するpベース領域4間にまたがって電極10
1が形成されている。pベース領域4上の電極101は、p
ベース領域4と対向してベース電位を制御するためのキ
ャパシタCoxを構成し、隣接するベース間の電極101は、
その隣接するpベース領域4を各々ソース・ドレイン領
域とするMOSトランジスタTrのゲート電極となってい
る。本実施例では、キャパシタ電極とMOSトランジスタT
rのゲート電極とが接続された構成となっている。
MOSトランジスタTrは本実施例ではpチャネル型かつ
ノーマリオフ型であり、電極101の電位が接地電位又は
正電位であればOFF状態である。したがって、隣接セル
間のpベース領域4は電気的に分離された状態となり、
従来のような素子分離領域を形成する必要がない。それ
だけ素子の微細化に有利となる。
ノーマリオフ型であり、電極101の電位が接地電位又は
正電位であればOFF状態である。したがって、隣接セル
間のpベース領域4は電気的に分離された状態となり、
従来のような素子分離領域を形成する必要がない。それ
だけ素子の微細化に有利となる。
逆に、電極101がしきい値電位Vthを超える負電位であ
ると、MOSトランジスタTrはON状態となり、各セルのp
ベース領域4が相互に導通した状態となる。
ると、MOSトランジスタTrはON状態となり、各セルのp
ベース領域4が相互に導通した状態となる。
第2図は、本実施例の部分的な等価回路図である。図
中の破線で囲まれた部分が1個の光電変換セルの等価回
路に相当する。
中の破線で囲まれた部分が1個の光電変換セルの等価回
路に相当する。
同図において、上記光電変換セルS1〜Snがライン状に
配列され結線されている。
配列され結線されている。
各セルの電極101は端子102に共通接続され、端子102
にはパルスφdが入力する。
にはパルスφdが入力する。
また、各セルのMOSトランジスタTrは直列接続された
状態となり、末端セルS1およびSnのpベース領域4には
更に一定距離をおいて各々p領域(図示せず。)が形成
され、セルSnの側にはpチャネル型かつノーマリオフ型
のMOSトランジスタQxが形成されている。
状態となり、末端セルS1およびSnのpベース領域4には
更に一定距離をおいて各々p領域(図示せず。)が形成
され、セルSnの側にはpチャネル型かつノーマリオフ型
のMOSトランジスタQxが形成されている。
MOSトランジスタQxのゲート電極には電極101と同様の
パルスφdが入力し、その図示されていないp領域は一
定電位Vcに固定されている。また、セルS1のMOSトラン
ジスタTrの図示されていないp領域も一定電位Vcに固定
されている。
パルスφdが入力し、その図示されていないp領域は一
定電位Vcに固定されている。また、セルS1のMOSトラン
ジスタTrの図示されていないp領域も一定電位Vcに固定
されている。
したがって、すべてのMOSトランジスタTrおよびQxがO
N状態になることで、各セルのpベース領域4の電位を
一定電位Vcに設定することができる。また、OFF状態で
あれば、各セルは電気的に分離された状態となる。
N状態になることで、各セルのpベース領域4の電位を
一定電位Vcに設定することができる。また、OFF状態で
あれば、各セルは電気的に分離された状態となる。
各セルのエミッタ電極8はリセット用トランジスタQb
1〜Qbnを介して接地され、トランジスタQb1〜Qbnのゲー
ト電極には共通にパルスφrが入力する。
1〜Qbnを介して接地され、トランジスタQb1〜Qbnのゲー
ト電極には共通にパルスφrが入力する。
なお、コレクタ電極12には正電圧Vccが印加されてい
る。
る。
次に、本実施例の動作を説明する。
第3図(A)〜(C)は、各々本実施例の駆動例を示
すタイミングチャートである。
すタイミングチャートである。
第3図(A)に示す駆動例について説明する。
同図において、一定電位Vcを接地電位とし、各セルの
pベース領域4には蓄積動作によってキャリアが蓄積さ
れているものとする。
pベース領域4には蓄積動作によってキャリアが蓄積さ
れているものとする。
まず、パルスφdが立上がり、各セルの電極101に正
電圧を印加する(期間T1)。この時、パルスφrはロー
レベルであるからトランジスタQb1〜QbnはOFFであり各
セルのエミッタ電極8は浮遊状態にある。また電極101
が正電位であるからMOSトランジスタTrはOFFである。し
たがって、キャパシタCoxを介してpベース領域4の電
位が上昇し、既に述べた読出し動作が行われる。
電圧を印加する(期間T1)。この時、パルスφrはロー
レベルであるからトランジスタQb1〜QbnはOFFであり各
セルのエミッタ電極8は浮遊状態にある。また電極101
が正電位であるからMOSトランジスタTrはOFFである。し
たがって、キャパシタCoxを介してpベース領域4の電
位が上昇し、既に述べた読出し動作が行われる。
次に、パルスφrをハイレベルにしてトランジスタQb
1〜QbnをON状態とし、各セルのエミッタ電極8を接地す
る。
1〜QbnをON状態とし、各セルのエミッタ電極8を接地す
る。
続いて、パルスφdが負電位へ立下がることによっ
て、各セルのMOSトランジスタTrおよびQxがON状態とな
り、すべてのpベース領域4にわたって導通状態とな
る。これによって、期間T2においてベース電位は蓄積電
位に関係なく均一に接地電位Vcに設定される。
て、各セルのMOSトランジスタTrおよびQxがON状態とな
り、すべてのpベース領域4にわたって導通状態とな
る。これによって、期間T2においてベース電位は蓄積電
位に関係なく均一に接地電位Vcに設定される。
期間T2が経過してパルスφdが接地電位へ立上がる
と、ベース電位は容量分割された電位だけ上昇し正電位
となる。
と、ベース電位は容量分割された電位だけ上昇し正電位
となる。
このために、期間T3においてpベース領域4に蓄積さ
れたキャリアが消滅していくが、このリフレッシュ動作
ではベース電位が負電位の初期状態(ベース・エミッタ
間の逆バイアス状態)とはならない。続いて、パルスφ
dが正電位に立上がることによってリフレッシュ動作が
行われる。そして期間T4が経過してパルスφdが立下が
った時に、ベース電位は負電位の初期状態に復帰する。
以下、蓄積動作が開始され、上記各動作が繰り返され
る。
れたキャリアが消滅していくが、このリフレッシュ動作
ではベース電位が負電位の初期状態(ベース・エミッタ
間の逆バイアス状態)とはならない。続いて、パルスφ
dが正電位に立上がることによってリフレッシュ動作が
行われる。そして期間T4が経過してパルスφdが立下が
った時に、ベース電位は負電位の初期状態に復帰する。
以下、蓄積動作が開始され、上記各動作が繰り返され
る。
このように、パルスφdによってMOSトランジスタTr
をON状態としベース電位を一定電位Vcに設定し、それか
ら期間T3およびT4でのリフレッシュ動作を行うために、
リフレッシュ後のベース電位は、リフレッシュ前の電位
に関係なく確実に一定レベルすることができる。
をON状態としベース電位を一定電位Vcに設定し、それか
ら期間T3およびT4でのリフレッシュ動作を行うために、
リフレッシュ後のベース電位は、リフレッシュ前の電位
に関係なく確実に一定レベルすることができる。
また、期間T2以外では、各セルのMOSトランジスタTr
はOFF状態であるから、各セルの電気的分離が実現され
ている。すなわち、従来のように素子分離領域を形成す
ることなく、セルの電気的分離を達成でき、セルの微細
化を促進できる。
はOFF状態であるから、各セルの電気的分離が実現され
ている。すなわち、従来のように素子分離領域を形成す
ることなく、セルの電気的分離を達成でき、セルの微細
化を促進できる。
第3図(B)に示す駆動例では、Vcを負電圧に固定
し、リフレッシュパルスを印加しない駆動方式を示す。
すなわち、期間T2においてパルスφdを負電位にするこ
とで、MOSトランジスタTrを導通させ、ベース電位を負
電位Vcの初期状態に設定する。このためにリフレッシュ
パルスを印加することなく、蓄積動作を開始することが
できる。
し、リフレッシュパルスを印加しない駆動方式を示す。
すなわち、期間T2においてパルスφdを負電位にするこ
とで、MOSトランジスタTrを導通させ、ベース電位を負
電位Vcの初期状態に設定する。このためにリフレッシュ
パルスを印加することなく、蓄積動作を開始することが
できる。
第3図(C)に示す駆動例は、フォトトランジスタ動
作によって出力を得る方式であり、ラインセンサに好適
なものである。
作によって出力を得る方式であり、ラインセンサに好適
なものである。
まず、Vcを接地電位に固定しておき、パルスφdを負
電位にすることでMOSトランジスタTrを導通させ、ベー
ス電位を接地電位とする。そしてパルスφdが接地電位
に立上がることで、ベース電位は正電位に上昇する。そ
して、パルスφrによってエミッタ電極8が接地されて
いる間にリフレッシュ動作を行ない、パルスφrの立下
がりによりエミッタ電極8が浮遊状態にされると同時
に、蓄積および読出し動作が開始される。
電位にすることでMOSトランジスタTrを導通させ、ベー
ス電位を接地電位とする。そしてパルスφdが接地電位
に立上がることで、ベース電位は正電位に上昇する。そ
して、パルスφrによってエミッタ電極8が接地されて
いる間にリフレッシュ動作を行ない、パルスφrの立下
がりによりエミッタ電極8が浮遊状態にされると同時
に、蓄積および読出し動作が開始される。
第4図は、本発明の第2実施例の概略的回路図であ
る。
る。
本実施例は、第2図に示すラインセンサをmライン重
ねた構成を有するm×nエリアセンサである。ただし、
各ラインは第1図に示す構造を有するが、ライン間は通
常の素子分離領域を形成して電気的に分離している。
ねた構成を有するm×nエリアセンサである。ただし、
各ラインは第1図に示す構造を有するが、ライン間は通
常の素子分離領域を形成して電気的に分離している。
各ラインにおけるセルの電極101は共通接続され、そ
れぞれスイッチSW1〜SWmを介して端子102に接続されて
いる。端子102にはパルスφdが入力する。
れぞれスイッチSW1〜SWmを介して端子102に接続されて
いる。端子102にはパルスφdが入力する。
スイッチSW1〜SWmはアナログスイッチであり、その制
御端子は垂直走査回路103の出力端子に接続され、その
出力φv1〜φvmによってON/OFFが制御される。
御端子は垂直走査回路103の出力端子に接続され、その
出力φv1〜φvmによってON/OFFが制御される。
各セルのエミッタ電極8は列ごとに垂直ラインL1〜Ln
に接続されている。垂直ラインL1〜Lnはリセット用トラ
ンジスタQb1〜Qbnを介して接地され、トランジスタQb1
〜Qbnのゲート電極にはパルスφrが入力する。
に接続されている。垂直ラインL1〜Lnはリセット用トラ
ンジスタQb1〜Qbnを介して接地され、トランジスタQb1
〜Qbnのゲート電極にはパルスφrが入力する。
また垂直ラインL1〜Lnは、トランジスタQa1〜Qanを介
して各々蓄積用キャパシタC1〜Cnに接続され、更にキャ
パシタC1〜CnはトランジスタQ1〜Qnを介して出力ライン
104に接続されている。
して各々蓄積用キャパシタC1〜Cnに接続され、更にキャ
パシタC1〜CnはトランジスタQ1〜Qnを介して出力ライン
104に接続されている。
トランジスタQa1〜Qanのゲート電極にはパルスφtが
共通に入力し、トランジスタQ1〜Qnのゲート電極には水
平走査回路105からパルスφh1〜φhnが各々入力する。
共通に入力し、トランジスタQ1〜Qnのゲート電極には水
平走査回路105からパルスφh1〜φhnが各々入力する。
出力ライン104はトランジスタQrhを介して接地される
と共に、アンプ106の入力端子に接続されている。トラ
ンジスタQrhのゲート電極にはパルスφrhが入力する。
と共に、アンプ106の入力端子に接続されている。トラ
ンジスタQrhのゲート電極にはパルスφrhが入力する。
なお、上記各パルスφは制御部107から供給される。
また、各セルのベース電位を設定するための一定電位
Vcは、本電位Vcは、本実施例では接地電位である。
Vcは、本電位Vcは、本実施例では接地電位である。
次に、本実施例の動作を簡単に説明する。
第5図は、本実施例の駆動例を示す部分的なタイミン
グチャートである。ただし、ここでは第3図(A)に示
す駆動方式を使用する。
グチャートである。ただし、ここでは第3図(A)に示
す駆動方式を使用する。
まず、垂直走査回路103のパルスφv1のみをハイルベ
ルにしてスイッチSW1をON状態とする。また、パルスφ
tをハイレベルにしてトランジスタQa1〜QanをON状態と
する。
ルにしてスイッチSW1をON状態とする。また、パルスφ
tをハイレベルにしてトランジスタQa1〜QanをON状態と
する。
次に、パルスφdを期間T1だけ正電位にすると、スイ
ッチSW1を通して第1ラインのセルS11〜S1nの電極101に
正電圧が印加する。これにより第1ラインの読出し動作
が行われ、第1ラインの読出し信号が垂直ラインL1〜Ln
およびトランジタQa1〜Qanを通してキャパシタC1〜Cnに
各々蓄積される。
ッチSW1を通して第1ラインのセルS11〜S1nの電極101に
正電圧が印加する。これにより第1ラインの読出し動作
が行われ、第1ラインの読出し信号が垂直ラインL1〜Ln
およびトランジタQa1〜Qanを通してキャパシタC1〜Cnに
各々蓄積される。
次に、パルスφtがローレベルとなりトランジスタQa
1〜QanがOFF状態となる。そして、水平走査回路105から
パルスφh1〜φhnが順次出力され、それに従ってキャパ
シタC1〜Cnに蓄積された読出し信号が順次出力ライン10
4へ取り出され、アンプ106を通して出力信号Voutとして
外部へシリアルに出力される。なお、各読出し信号が出
力されるごとに、パルスφrhが立上がり、トランジスタ
QrhをONとして出力ライン104のキャリアを除去する。
1〜QanがOFF状態となる。そして、水平走査回路105から
パルスφh1〜φhnが順次出力され、それに従ってキャパ
シタC1〜Cnに蓄積された読出し信号が順次出力ライン10
4へ取り出され、アンプ106を通して出力信号Voutとして
外部へシリアルに出力される。なお、各読出し信号が出
力されるごとに、パルスφrhが立上がり、トランジスタ
QrhをONとして出力ライン104のキャリアを除去する。
この信号出力動作と並行して、パルスφrをハイレベ
ルにしてトランジスタQb1〜QbnをONとし、垂直ラインL1
〜Lnを接地する。またパルスφdを期間T2で負電位とし
て、第1ラインのMOSトランジスタTrをON状態とする。
ルにしてトランジスタQb1〜QbnをONとし、垂直ラインL1
〜Lnを接地する。またパルスφdを期間T2で負電位とし
て、第1ラインのMOSトランジスタTrをON状態とする。
これによって、既に述べたようにセルS11〜S1nのpベ
ース領域4の電位は、接地電位Vcに均一に設定され、更
に期間T3およびT4のリフレッシュ動作により初期の負電
位に復帰し、蓄積動作を開始する。
ース領域4の電位は、接地電位Vcに均一に設定され、更
に期間T3およびT4のリフレッシュ動作により初期の負電
位に復帰し、蓄積動作を開始する。
こうして第1ラインの動作が終了すると、パルスφv1
が立下がり、スイッチSW1をOFF状態とする。続いて、パ
ルスφtが立上がりトランジスタQa1〜QanをON状態とす
る。これによって、キャパシタC1〜Cnに残留しているキ
ャリアを垂直ラインL1〜LnおよびトランジスタQa1〜Qan
を通して除去する。
が立下がり、スイッチSW1をOFF状態とする。続いて、パ
ルスφtが立上がりトランジスタQa1〜QanをON状態とす
る。これによって、キャパシタC1〜Cnに残留しているキ
ャリアを垂直ラインL1〜LnおよびトランジスタQa1〜Qan
を通して除去する。
以下同様の動作をラインごとに行い、第2〜第mライ
ンの読出し信号を順次出力する。
ンの読出し信号を順次出力する。
本実施例においても、期間T2において各ラインのセル
のベース電位が一定電位に設定され、その後、期間T3お
よびT4においてリフレッシュ動作が行われるために、残
像特性が良好で、光電変換特性の線形性の良い撮像装置
を得ることができる。しかも、ここではライン方向に素
子分離領域を必要としないために、セルの微細化に適
し、高解像度化に容易に対応することができる。
のベース電位が一定電位に設定され、その後、期間T3お
よびT4においてリフレッシュ動作が行われるために、残
像特性が良好で、光電変換特性の線形性の良い撮像装置
を得ることができる。しかも、ここではライン方向に素
子分離領域を必要としないために、セルの微細化に適
し、高解像度化に容易に対応することができる。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように本発明による光電変換装置
は、隣接する光電変換セルの半導体領域を各々主電極領
域とした絶縁ゲート型トランジスタを有するために、こ
の絶縁ゲート型トランジスタをON状態とすれば、各セル
の半導体領域の電位を蓄積キャリア量に関係なく容易に
一定電位に設定することができる。このために、残像問
題が解消され、また光電変換特性の線形性が改善され
る。
は、隣接する光電変換セルの半導体領域を各々主電極領
域とした絶縁ゲート型トランジスタを有するために、こ
の絶縁ゲート型トランジスタをON状態とすれば、各セル
の半導体領域の電位を蓄積キャリア量に関係なく容易に
一定電位に設定することができる。このために、残像問
題が解消され、また光電変換特性の線形性が改善され
る。
さらに、絶縁ゲート型トランジスタをOFF状態とすれ
ば、上記光電変換セルを各々電気的に分離することがで
き、従来のような素子分離領域を形成する必要がなく、
製造プロセスが簡略化され、また素子の微細化にも適し
たものとなる。
ば、上記光電変換セルを各々電気的に分離することがで
き、従来のような素子分離領域を形成する必要がなく、
製造プロセスが簡略化され、また素子の微細化にも適し
たものとなる。
第1図は、本発明による光電変換装置の一実施例の概略
的断面図、 第2図は、本実施例の部分的な等価回路図、 第3図(A)〜(C)は、各々本実施例の駆動例を示す
タイミングチャート、 第4図は、本発明の第2実施例の概略的回路図、 第5図は、本実施例の駆動例を示す部分的なタイミング
チャート、 第6図(A)は、特開昭60−12759号公報〜特開昭60−1
2765号公報に記載されている光電変換装置の概略的断面
図、第6図(B)は、その1個の光電変換セルの等価回
路図である。 1……n型基板 3……n-エピタキシャル層(コレクタ領域) 4……pベース領域 5……n+エミッタ領域 6……酸化膜 7……キャパシタ電極 8……エミッタ電極 12……コレクタ電極 101……電極
的断面図、 第2図は、本実施例の部分的な等価回路図、 第3図(A)〜(C)は、各々本実施例の駆動例を示す
タイミングチャート、 第4図は、本発明の第2実施例の概略的回路図、 第5図は、本実施例の駆動例を示す部分的なタイミング
チャート、 第6図(A)は、特開昭60−12759号公報〜特開昭60−1
2765号公報に記載されている光電変換装置の概略的断面
図、第6図(B)は、その1個の光電変換セルの等価回
路図である。 1……n型基板 3……n-エピタキシャル層(コレクタ領域) 4……pベース領域 5……n+エミッタ領域 6……酸化膜 7……キャパシタ電極 8……エミッタ電極 12……コレクタ電極 101……電極
Claims (1)
- 【請求項1】光励起により発生したキャリアを蓄積する
半導体領域を有する光電変換セルが複数個配列され、か
つ、隣接する光電変換セルの前記半導体領域を各々主電
極領域として絶縁ゲート型トランジスタが構成されてお
り、該絶縁ゲート型トランジスタのゲートに第1の電位
を印加することにより該絶縁ゲート型トランジスタをオ
ンさせて前記複数の光電変換セルの半導体領域の信号を
リセットし、前記絶縁ゲート型トランジスタのゲートに
第2の電位を印加することにより該絶縁ゲート型トラン
ジスタをオフさせて前記複数の光電変換セルの半導体領
域を分離するように制御することを特徴とする光電変換
装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62017150A JPH084131B2 (ja) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | 光電変換装置 |
| EP88300725A EP0277016B1 (en) | 1987-01-29 | 1988-01-28 | Photoelectric conversion apparatus |
| DE3856165T DE3856165T2 (de) | 1987-01-29 | 1988-01-28 | Photovoltaischer Wandler |
| US07/470,407 US4962412A (en) | 1987-01-29 | 1990-01-29 | Photoelectric conversion apparatus without isolation regions |
| US07/548,508 US5060042A (en) | 1987-01-29 | 1990-07-05 | Photoelectric conversion apparatus with reresh voltage |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62017150A JPH084131B2 (ja) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | 光電変換装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63186466A JPS63186466A (ja) | 1988-08-02 |
| JPH084131B2 true JPH084131B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=11935957
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62017150A Expired - Fee Related JPH084131B2 (ja) | 1987-01-29 | 1987-01-29 | 光電変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH084131B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2810526B2 (ja) * | 1989-11-21 | 1998-10-15 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置及び該装置を搭載した装置 |
| JP2678086B2 (ja) * | 1990-10-15 | 1997-11-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| JP3293699B2 (ja) * | 1993-09-03 | 2002-06-17 | キヤノン株式会社 | 増幅装置 |
| JPH0946600A (ja) | 1995-08-02 | 1997-02-14 | Canon Inc | 撮像装置 |
| JP3432051B2 (ja) * | 1995-08-02 | 2003-07-28 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
| JP5709404B2 (ja) | 2010-05-10 | 2015-04-30 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法 |
-
1987
- 1987-01-29 JP JP62017150A patent/JPH084131B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63186466A (ja) | 1988-08-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |