JPH085576A - 写真支持体上の欠陥を計数し特性を表示する方法及び装置 - Google Patents
写真支持体上の欠陥を計数し特性を表示する方法及び装置Info
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- JPH085576A JPH085576A JP7144494A JP14449495A JPH085576A JP H085576 A JPH085576 A JP H085576A JP 7144494 A JP7144494 A JP 7144494A JP 14449495 A JP14449495 A JP 14449495A JP H085576 A JPH085576 A JP H085576A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 写真支持体上の欠陥を計数しその特性を表示
する方法と装置を提供する。 【構成】 本発明によれば、支持体１が光学密度測定装
置２の前方を通過させられ、前記装置によって与えられ
た光学密度の値が欠陥を検知し、計数し、特性を表示す
るため分析され、前記欠陥が、支持体１が通過する第１
の速度Ｖ1 の間に検知され、検知された欠陥の計数と特
性表示に必要なデータが、速度Ｖ1 より低い支持体の通
過する第２の速度Ｖ2 の間に捕捉され蓄積されることを
特徴としている。この方法は写真フイルムの処理に適用
される。
する方法と装置を提供する。 【構成】 本発明によれば、支持体１が光学密度測定装
置２の前方を通過させられ、前記装置によって与えられ
た光学密度の値が欠陥を検知し、計数し、特性を表示す
るため分析され、前記欠陥が、支持体１が通過する第１
の速度Ｖ1 の間に検知され、検知された欠陥の計数と特
性表示に必要なデータが、速度Ｖ1 より低い支持体の通
過する第２の速度Ｖ2 の間に捕捉され蓄積されることを
特徴としている。この方法は写真フイルムの処理に適用
される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は写真支持体上の欠陥を数
えまた欠陥の特性を表わすための方法と装置とに関す
る。本発明の方法は好ましくはストリップ形式の写真フ
イルムの形式の支持体に関するものである。
えまた欠陥の特性を表わすための方法と装置とに関す
る。本発明の方法は好ましくはストリップ形式の写真フ
イルムの形式の支持体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】写真産業において、フイルムの品質に影
響を与える特徴要素の１つは、使用者がフイルムを利用
する用途の品質に実質的に影響を与えるようなフイルム
上の物理的な欠陥が存在するということに関係してい
る。
響を与える特徴要素の１つは、使用者がフイルムを利用
する用途の品質に実質的に影響を与えるようなフイルム
上の物理的な欠陥が存在するということに関係してい
る。
【０００３】本発明の範囲内で、欠陥なる用語は一方に
おいて写真フイルムの表面上に存在する全ての物体又は
粒子を表現する。この一例は、フイルムの切断から生じ
るような全てのごみ、又は静電気の吸引によりもしくは
フイルムがローラもしくは適当な輸送装置を通過する時
にフイルム上に堆積される大気中のごみである。これは
また、フイルムの表面から引き裂かれフイルムの表面上
に残っているフイルム（又はフイルムの構成要素）の粒
子もしくは破片、又はフイルムの切断から生じるフイル
ムの粒子又は破片の場合でもある。さらに、欠陥なる用
語はまた例えば摩耗による又は一般に“露光阻止”とし
て知られる作用による表面の構造上の欠陥を表わすもの
である。事実、これらの欠陥は、フイルムの局部的な不
均一性による、又は均一のつや消し用光源とフイルムと
の間にフイルムの露光中に置かれた障害物による、現像
後の光学密度の欠陥である。
おいて写真フイルムの表面上に存在する全ての物体又は
粒子を表現する。この一例は、フイルムの切断から生じ
るような全てのごみ、又は静電気の吸引によりもしくは
フイルムがローラもしくは適当な輸送装置を通過する時
にフイルム上に堆積される大気中のごみである。これは
また、フイルムの表面から引き裂かれフイルムの表面上
に残っているフイルム（又はフイルムの構成要素）の粒
子もしくは破片、又はフイルムの切断から生じるフイル
ムの粒子又は破片の場合でもある。さらに、欠陥なる用
語はまた例えば摩耗による又は一般に“露光阻止”とし
て知られる作用による表面の構造上の欠陥を表わすもの
である。事実、これらの欠陥は、フイルムの局部的な不
均一性による、又は均一のつや消し用光源とフイルムと
の間にフイルムの露光中に置かれた障害物による、現像
後の光学密度の欠陥である。
【０００４】このような欠陥の数と性質はフイルム製造
工程の品質の代表的なものであるから、このような写真
支持体上に存在する欠陥を簡単かつ信頼性のある方法で
数えることができる方法と装置を開発することが望まれ
ている。また検知された欠陥の特性を表示しこの写真支
持体を製造するのに用いられる方法のいかなる欠点をも
確認することが重要である。
工程の品質の代表的なものであるから、このような写真
支持体上に存在する欠陥を簡単かつ信頼性のある方法で
数えることができる方法と装置を開発することが望まれ
ている。また検知された欠陥の特性を表示しこの写真支
持体を製造するのに用いられる方法のいかなる欠点をも
確認することが重要である。
【０００５】普通には、写真支持体上の欠陥の計数と特
性表示とは検査されたフイルムのつや消しと現像の後に
操作員によって手で行われていた。このような方法は退
屈で、低い再生産性であり、また不正確であるという欠
点を有している。
性表示とは検査されたフイルムのつや消しと現像の後に
操作員によって手で行われていた。このような方法は退
屈で、低い再生産性であり、また不正確であるという欠
点を有している。
【０００６】他の公知の方法によれば、走査器型の装置
が用いられ、この走査器の前方を一定速度で通過するフ
イルムの表面を走査する光のビームを利用している。こ
の方法は、アナログ様式に作動するという事実とはかけ
離れ、光の照点の大きさのため十分な解像度が得られな
いという欠点がある。典型的にはこの照点の大きさは約
１mm2 である。さらに、この照点は小さな寸法のフイル
ム標本のためには正しく用いることができない。
が用いられ、この走査器の前方を一定速度で通過するフ
イルムの表面を走査する光のビームを利用している。こ
の方法は、アナログ様式に作動するという事実とはかけ
離れ、光の照点の大きさのため十分な解像度が得られな
いという欠点がある。典型的にはこの照点の大きさは約
１mm2 である。さらに、この照点は小さな寸法のフイル
ム標本のためには正しく用いることができない。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的の１つは
したがって上記の欠点を有しない方法と装置を提供する
ことである。
したがって上記の欠点を有しない方法と装置を提供する
ことである。
【０００８】本発明の他の目的は以下の記載から明らか
となるであろう。
となるであろう。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的は写真支持体
上の欠陥を計数しその特性を表示する方法を提供するこ
とによって達成され、この方法は、写真支持体を光学密
度測定装置の前方を通過させ、該測定装置によって得ら
れた密度の値が検知の目的で分析され、欠陥を計数し欠
陥の特性を表示する方法において、欠陥が支持体の通過
する第１の速度Ｖ1 の間に検知され、この検知された欠
陥を計数しその特性を表示するのに必要なデータが支持
体の通過する第１の速度Ｖ1 より低い第２の速度Ｖ2 の
間に捕捉されかつ蓄積されることを特徴とするものであ
る。
上の欠陥を計数しその特性を表示する方法を提供するこ
とによって達成され、この方法は、写真支持体を光学密
度測定装置の前方を通過させ、該測定装置によって得ら
れた密度の値が検知の目的で分析され、欠陥を計数し欠
陥の特性を表示する方法において、欠陥が支持体の通過
する第１の速度Ｖ1 の間に検知され、この検知された欠
陥を計数しその特性を表示するのに必要なデータが支持
体の通過する第１の速度Ｖ1 より低い第２の速度Ｖ2 の
間に捕捉されかつ蓄積されることを特徴とするものであ
る。
【００１０】第１の実施態様によれば、本発明の方法は
次の工程を含んでいる。 （ａ）支持体を該支持体の光学密度を測定する装置の前
方を第１の速度Ｖ1 で通過させること、（ｂ）前記装置
によって発生された支持体の光学密度に関する情報をデ
ジタル化（計数化）すること、（ｃ）その大きさが少な
くとも１つの欠陥の存在を表示する光学密度の変化を検
知すること、（ｄ）上記変化が検知された時、支持体の
運動を停止すること、（ｅ）支持体を測定手段に対して
動かしそれにより前記測定手段が第１の検知された欠陥
の上流側に位置する支持体の１つの領域に対面するよう
にすること、（ｆ）支持体を、最後の検知された欠陥の
下流側に位置する支持体の１つの領域に前記測定手段が
対面するまで、第１の速度Ｖ1 より低い第２の速度Ｖ2
で前記測定手段の前方を通過させること、（ｇ）支持体
が前記第２の速度Ｖ2 で通過している間前記支持体の光
学密度に関する情報を蓄積すること、（ｈ）前記（ａ）
から（ｇ）の工程を支持体の残部に対して繰返すこと
（ｉ）速度Ｖ2 で通過する時間の間に蓄積された情報を
処理し検知された欠陥を計数し欠陥の特性を表示するこ
と。
次の工程を含んでいる。 （ａ）支持体を該支持体の光学密度を測定する装置の前
方を第１の速度Ｖ1 で通過させること、（ｂ）前記装置
によって発生された支持体の光学密度に関する情報をデ
ジタル化（計数化）すること、（ｃ）その大きさが少な
くとも１つの欠陥の存在を表示する光学密度の変化を検
知すること、（ｄ）上記変化が検知された時、支持体の
運動を停止すること、（ｅ）支持体を測定手段に対して
動かしそれにより前記測定手段が第１の検知された欠陥
の上流側に位置する支持体の１つの領域に対面するよう
にすること、（ｆ）支持体を、最後の検知された欠陥の
下流側に位置する支持体の１つの領域に前記測定手段が
対面するまで、第１の速度Ｖ1 より低い第２の速度Ｖ2
で前記測定手段の前方を通過させること、（ｇ）支持体
が前記第２の速度Ｖ2 で通過している間前記支持体の光
学密度に関する情報を蓄積すること、（ｈ）前記（ａ）
から（ｇ）の工程を支持体の残部に対して繰返すこと
（ｉ）速度Ｖ2 で通過する時間の間に蓄積された情報を
処理し検知された欠陥を計数し欠陥の特性を表示するこ
と。
【００１１】本発明によれば、写真支持体上の欠陥を計
数し欠陥の特性を表示する装置が提供されるが、この装
置は、（ａ）支持体が前方を通過する光学密度測定装置
と、（ｂ）欠陥を検知し、計数しその特性を表示する目
的で、前記測定装置によって得られた光学密度の値を分
析する手段、とを具備している欠陥の計数及び特性表示
装置において、支持体を、欠陥を検知するため第１の速
度Ｖ1 で、また検知された欠陥を計数しその特性を表示
するのに必要な光学密度の値を捕捉し蓄積するため第１
の速度Ｖ1 より低い第２の速度で、選択的に通過させる
手段を具備していることを特徴としている。
数し欠陥の特性を表示する装置が提供されるが、この装
置は、（ａ）支持体が前方を通過する光学密度測定装置
と、（ｂ）欠陥を検知し、計数しその特性を表示する目
的で、前記測定装置によって得られた光学密度の値を分
析する手段、とを具備している欠陥の計数及び特性表示
装置において、支持体を、欠陥を検知するため第１の速
度Ｖ1 で、また検知された欠陥を計数しその特性を表示
するのに必要な光学密度の値を捕捉し蓄積するため第１
の速度Ｖ1 より低い第２の速度で、選択的に通過させる
手段を具備していることを特徴としている。
【００１２】有利には、上記装置は、（ａ）支持体を該
支持体の光学密度を測定する装置の前方に第１の速度で
通過させる手段、（ｂ）前記測定装置によって発せられ
た支持体の光学密度に関する情報をデジタル化する手
段、（ｃ）その大きさが少なくとも１つの欠陥の存在を
表示する密度のいかなる変化をも検知する手段、（ｄ）
上記変化が検知された時、支持体の通過を停止し支持体
を測定装置に対して動かしそれにより前記測定装置が検
知された第１の欠陥の上流側に位置する支持体の１つの
領域に対面するようにする手段、（ｅ）支持体を、前記
測定装置が検知された最後の欠陥の下流側に位置する支
持体の１つの領域に対面するまで、第１の速度Ｖ1 より
低い第２の速度Ｖ2 で前記測定装置の前方を通過させる
手段、（ｆ）支持体の前記第２の速度Ｖ2 での通過中前
記支持体の光学密度に関する情報を蓄積する手段、
（ｇ）前記蓄積された情報を処理して検知された欠陥を
計数しその特性を表示する手段、を具備している。
支持体の光学密度を測定する装置の前方に第１の速度で
通過させる手段、（ｂ）前記測定装置によって発せられ
た支持体の光学密度に関する情報をデジタル化する手
段、（ｃ）その大きさが少なくとも１つの欠陥の存在を
表示する密度のいかなる変化をも検知する手段、（ｄ）
上記変化が検知された時、支持体の通過を停止し支持体
を測定装置に対して動かしそれにより前記測定装置が検
知された第１の欠陥の上流側に位置する支持体の１つの
領域に対面するようにする手段、（ｅ）支持体を、前記
測定装置が検知された最後の欠陥の下流側に位置する支
持体の１つの領域に対面するまで、第１の速度Ｖ1 より
低い第２の速度Ｖ2 で前記測定装置の前方を通過させる
手段、（ｆ）支持体の前記第２の速度Ｖ2 での通過中前
記支持体の光学密度に関する情報を蓄積する手段、
（ｇ）前記蓄積された情報を処理して検知された欠陥を
計数しその特性を表示する手段、を具備している。
【００１３】
【実施例】本発明の詳細は図面を参照する以下の記載に
よって与えられる。
よって与えられる。
【００１４】図１に示される実施態様によれば、フイル
ム１は光学密度測定装置の前方を通過する。好ましく
は、１０μｍのような小さい寸法の欠陥を検知するため
１つの位置にあるよう、１１．２３μｍの解像度を有す
るカメラが用いられる。これより小さい欠陥もカメラと
フイルムとの間に適当な光学装置を用いることにより検
知される。このような光学装置はカメラによって観察さ
れる像の拡大度を変える。これらの光学装置は専門家に
とっては周知でありまたそのためこれ以上の記載は必要
でない。
ム１は光学密度測定装置の前方を通過する。好ましく
は、１０μｍのような小さい寸法の欠陥を検知するため
１つの位置にあるよう、１１．２３μｍの解像度を有す
るカメラが用いられる。これより小さい欠陥もカメラと
フイルムとの間に適当な光学装置を用いることにより検
知される。このような光学装置はカメラによって観察さ
れる像の拡大度を変える。これらの光学装置は専門家に
とっては周知でありまたそのためこれ以上の記載は必要
でない。
【００１５】カメラ２は光源３によって照射されたフイ
ルム１の像を観察する。一例として、ハロゲンランプが
用いられ、適当な光学装置（図示しない）に連結され均
一な光学密度がカメラによって観察される領域につくり
出されるようにする。図示の実施態様においては、カメ
ラはフイルム１を通して送られた光画像を観察する。こ
の方法は露光阻止又はフイルムの表面上の大きな密度の
物体を検知することが必要とされる場合に特に有利であ
る。写真支持体の密度に実質的に等しい密度のために、
反射による検知が用いられるのが好ましい。
ルム１の像を観察する。一例として、ハロゲンランプが
用いられ、適当な光学装置（図示しない）に連結され均
一な光学密度がカメラによって観察される領域につくり
出されるようにする。図示の実施態様においては、カメ
ラはフイルム１を通して送られた光画像を観察する。こ
の方法は露光阻止又はフイルムの表面上の大きな密度の
物体を検知することが必要とされる場合に特に有利であ
る。写真支持体の密度に実質的に等しい密度のために、
反射による検知が用いられるのが好ましい。
【００１６】カメラによって測定された光学密度の数値
はデジタル化されマイクロプロセッサーを用いる処理手
段４に送られ、ここで密度の数値が基準型と比較され
る。この比較の結果は検査された支持体上に欠陥が存在
するか又は存在しないかを表示する。目的が欠陥を検知
することであるこの段階の間、フイルム１は第１の速度
Ｖ1 で通過する。典型的にはこの速度Ｖ1 はほぼ２から
４mm／秒である。この速度は明らかに検知することが必
要とされる物によって決まる。処理手段４はフイルムを
駆動するのに用いられる装置５を制御しその速度を変え
るようにする。これは以下のさらに詳細な記載の主要事
項である。
はデジタル化されマイクロプロセッサーを用いる処理手
段４に送られ、ここで密度の数値が基準型と比較され
る。この比較の結果は検査された支持体上に欠陥が存在
するか又は存在しないかを表示する。目的が欠陥を検知
することであるこの段階の間、フイルム１は第１の速度
Ｖ1 で通過する。典型的にはこの速度Ｖ1 はほぼ２から
４mm／秒である。この速度は明らかに検知することが必
要とされる物によって決まる。処理手段４はフイルムを
駆動するのに用いられる装置５を制御しその速度を変え
るようにする。これは以下のさらに詳細な記載の主要事
項である。
【００１７】図示の実施態様によれば、駆動装置５はパ
ルスモーター８の角速度を減少させる減速器７が連結さ
れた、フイルムを駆動するローラ６を具備している。パ
ルスモーター８はそれ自体がマイクロプロセッサー４か
らその作動指令を受け取る電子制御ユニット９によって
制御される。フイルムはフイルム１が巻かれる巻き戻し
スプール１１を具備する巻戻し装置１０からやって来
る。このスプールの主軸は歯車箱１３を介してモーター
１２により駆動される。モーター１２は、それ自体が処
理装置４とその作用がフイルムの張力を連続して測定す
ることである張力測定装置１５とに連結された振動器１
４によって制御される。この張力は振動器１４によって
装置４により与えられた設定値と比較される。この比較
に応動して、張力測定装置１５の位置が変えられフイル
ムの張力を与えられた範囲の値に保持するようにする。
フイルム１はカメラ２の前方を通過後に好ましくは巻戻
し装置１０と同じの巻取り装置１６に巻かれる。この方
法はこの装置を両方向に作動させまたその保守を容易に
する利点を有している。
ルスモーター８の角速度を減少させる減速器７が連結さ
れた、フイルムを駆動するローラ６を具備している。パ
ルスモーター８はそれ自体がマイクロプロセッサー４か
らその作動指令を受け取る電子制御ユニット９によって
制御される。フイルムはフイルム１が巻かれる巻き戻し
スプール１１を具備する巻戻し装置１０からやって来
る。このスプールの主軸は歯車箱１３を介してモーター
１２により駆動される。モーター１２は、それ自体が処
理装置４とその作用がフイルムの張力を連続して測定す
ることである張力測定装置１５とに連結された振動器１
４によって制御される。この張力は振動器１４によって
装置４により与えられた設定値と比較される。この比較
に応動して、張力測定装置１５の位置が変えられフイル
ムの張力を与えられた範囲の値に保持するようにする。
フイルム１はカメラ２の前方を通過後に好ましくは巻戻
し装置１０と同じの巻取り装置１６に巻かれる。この方
法はこの装置を両方向に作動させまたその保守を容易に
する利点を有している。
【００１８】カメラ２により測定された光学密度の値が
支持体上の一点で欠陥の存在（すなわち基準値に対する
正の又は負の差違）を表示した時、制御装置４はフイル
ムの通過を停止しカメラ２に対しフイルムを逆戻りさせ
るようパルスモーターを制御する。フイルムは検知され
た欠陥の上流側のカメラによって観察された領域を位置
決めするのに十分な距離だけ逆戻りする。カメラは好ま
しくは第１の検知された欠陥の上流側３０から４０μｍ
に位置決めされそれにより駆動装置における機械的な遊
びをなくする。装置４はパルスモーターを制御しフイル
ムを（最初の方向に）速度Ｖ1 より低い速度Ｖ2 で駆動
する。この速度は例えば１ｍ／秒のオーダーである。こ
の速度Ｖ2 での通過中、カメラにより測定されかつデジ
タル化された密度の値は任意の大容量記憶装置（例えば
ハードディスク）によりラインごとに蓄積される。この
工程は通過速度Ｖ2 で、カメラ２により観察された領域
が検知された最後の欠陥の下流側に位置するまで続けら
れる。この瞬間、処理装置４が電子ユニット９を制御し
フイルム１を次の欠陥が検知されるまで速度Ｖ1 で駆動
する。これらの作用は検査される支持体の端部又は検査
される支持体の領域の端部が到着するまで繰返される。
支持体上の一点で欠陥の存在（すなわち基準値に対する
正の又は負の差違）を表示した時、制御装置４はフイル
ムの通過を停止しカメラ２に対しフイルムを逆戻りさせ
るようパルスモーターを制御する。フイルムは検知され
た欠陥の上流側のカメラによって観察された領域を位置
決めするのに十分な距離だけ逆戻りする。カメラは好ま
しくは第１の検知された欠陥の上流側３０から４０μｍ
に位置決めされそれにより駆動装置における機械的な遊
びをなくする。装置４はパルスモーターを制御しフイル
ムを（最初の方向に）速度Ｖ1 より低い速度Ｖ2 で駆動
する。この速度は例えば１ｍ／秒のオーダーである。こ
の速度Ｖ2 での通過中、カメラにより測定されかつデジ
タル化された密度の値は任意の大容量記憶装置（例えば
ハードディスク）によりラインごとに蓄積される。この
工程は通過速度Ｖ2 で、カメラ２により観察された領域
が検知された最後の欠陥の下流側に位置するまで続けら
れる。この瞬間、処理装置４が電子ユニット９を制御し
フイルム１を次の欠陥が検知されるまで速度Ｖ1 で駆動
する。これらの作用は検査される支持体の端部又は検査
される支持体の領域の端部が到着するまで繰返される。
【００１９】その後、例えばフイルムの装填及び取出し
の時間中、フイルムが速度Ｖ2 で通過する間に蓄積され
たデータの処理が行われる。この処理の目的は検知され
た欠陥の特性を表示することである。本発明の目的の範
囲内で、“特性の表示”なる用語は例えば、検知された
欠陥の大きさの決定、欠陥の形状の決定、又は欠陥のコ
ントラストもしくは位置の決定を意味する。例えば、通
常の像処理が行われる。第１の実施態様によれば、情報
記録フイルム内で欠陥が何処に位置するかを検知するた
め傾斜アナゴリズムを用いて行われる。またバックグラ
ウンドノイズ（暗騒音）をなくするためフィルターリン
グ方法を用いることもできる。これらの処理技術は専門
家にとっては公知でありまたそのためこれ以上の記載は
必要でない。一例として、Ｉ２Ｂによって販売されるカ
ラーＰＣ−ＳＣＯＰＥソフトウエアが用いられる。
の時間中、フイルムが速度Ｖ2 で通過する間に蓄積され
たデータの処理が行われる。この処理の目的は検知され
た欠陥の特性を表示することである。本発明の目的の範
囲内で、“特性の表示”なる用語は例えば、検知された
欠陥の大きさの決定、欠陥の形状の決定、又は欠陥のコ
ントラストもしくは位置の決定を意味する。例えば、通
常の像処理が行われる。第１の実施態様によれば、情報
記録フイルム内で欠陥が何処に位置するかを検知するた
め傾斜アナゴリズムを用いて行われる。またバックグラ
ウンドノイズ（暗騒音）をなくするためフィルターリン
グ方法を用いることもできる。これらの処理技術は専門
家にとっては公知でありまたそのためこれ以上の記載は
必要でない。一例として、Ｉ２Ｂによって販売されるカ
ラーＰＣ−ＳＣＯＰＥソフトウエアが用いられる。
【００２０】有利には、支持体のラインごとの分析の場
合にそしてこの方法の速度を高めるため、欠陥の存在を
検知する目的で行われるデータの分析が行われそれによ
り上記の基準プロフィルとのラインｎに関する密度の値
の比較がラインｎ＋１の密度の値の捕捉中に行われる。
この重複する分析が支持体の分析に必要とする時間を約
３分の１だけ減少する。
合にそしてこの方法の速度を高めるため、欠陥の存在を
検知する目的で行われるデータの分析が行われそれによ
り上記の基準プロフィルとのラインｎに関する密度の値
の比較がラインｎ＋１の密度の値の捕捉中に行われる。
この重複する分析が支持体の分析に必要とする時間を約
３分の１だけ減少する。
【００２１】第１の変形例によれば、欠陥の検知のため
に用いられる基準プロフィルがストリップの一方の端部
から他方の端部にかけて変えられフイルムの全長にわた
ってフイルムの密度の変動を補償する。例えば、調整上
の利点がもたらされ、すなわち得られた値に負担がかけ
られそれにより最後の値により大きな加重値が与えられ
るようにする。基準プロフィルは分析されたラインが何
らの欠陥を含まない場合にのみ新しくされる。
に用いられる基準プロフィルがストリップの一方の端部
から他方の端部にかけて変えられフイルムの全長にわた
ってフイルムの密度の変動を補償する。例えば、調整上
の利点がもたらされ、すなわち得られた値に負担がかけ
られそれにより最後の値により大きな加重値が与えられ
るようにする。基準プロフィルは分析されたラインが何
らの欠陥を含まない場合にのみ新しくされる。
【００２２】第２の変形例によれば、カメラに対しフイ
ルムを動かす代わりに、カメラが支持体に対して動かさ
れるが、重要なことは一方の他方に対する相対運動が得
られそれによりカメラを欠陥に対し正しく位置させるよ
うにすることである。この第２の方法はフイルム駆動機
構を簡単にする利点を有している。
ルムを動かす代わりに、カメラが支持体に対して動かさ
れるが、重要なことは一方の他方に対する相対運動が得
られそれによりカメラを欠陥に対し正しく位置させるよ
うにすることである。この第２の方法はフイルム駆動機
構を簡単にする利点を有している。
【００２３】第３の変形例によれば、検知された各欠陥
はフイルムの通過を減少した速度Ｖ 2 で自動的には始動
させない。この方法によれば、欠陥の始端のみを検知す
る代わりに、その末端もまた速度Ｖ1 で検知される。こ
の第１の高速度の通過はしたがって検知された欠陥の寸
法と形状の概念を与える。この概略の情報により欠陥の
完全な分析が必要であるかどうかを決定することがで
き、この場合減少された速度での正常の手順の通過が開
始される。逆の場合、この手順は次の欠陥へとまっすぐ
に続く。これは使用者の要求にしたがってこの方法の有
効性を向上させることができる。
はフイルムの通過を減少した速度Ｖ 2 で自動的には始動
させない。この方法によれば、欠陥の始端のみを検知す
る代わりに、その末端もまた速度Ｖ1 で検知される。こ
の第１の高速度の通過はしたがって検知された欠陥の寸
法と形状の概念を与える。この概略の情報により欠陥の
完全な分析が必要であるかどうかを決定することがで
き、この場合減少された速度での正常の手順の通過が開
始される。逆の場合、この手順は次の欠陥へとまっすぐ
に続く。これは使用者の要求にしたがってこの方法の有
効性を向上させることができる。
【００２４】第４の変形例によれば、追加の処理装置が
用いられ第１の装置４に連結され、そしてその作用は第
１の装置４により速度Ｖ2 で蓄積された情報を受け取り
第１の装置がフイルム上の欠陥を速度Ｖ1 で検知する工
程をなし遂げる間に処理されるようにすることである。
用いられ第１の装置４に連結され、そしてその作用は第
１の装置４により速度Ｖ2 で蓄積された情報を受け取り
第１の装置がフイルム上の欠陥を速度Ｖ1 で検知する工
程をなし遂げる間に処理されるようにすることである。
【００２５】さらに他の変形例によれば、連続して配設
された２つのＣＣＤカメラ（電荷結合素子カメラ）が用
いられ、それによりフイルムがまず最初に、欠陥の始端
と末端を高速度Ｖ1 で検知する第１のカメラの前方を通
過する。欠陥の末端を検知した後で第２のカメラの領域
の欠陥の到着する前に、処理手段４がストリップの通過
の速度の減速を開始し、それにより検査された欠陥が第
２の測定装置の観察領域になくなるまで第２の測定装置
の前方を減少した速度Ｖ2 で通過するようにし、その後
にフイルムの通過速度Ｖ1 が再びもたらされる。この方
法は実行速度に関しその性能を向上させる利点を有して
いる。
された２つのＣＣＤカメラ（電荷結合素子カメラ）が用
いられ、それによりフイルムがまず最初に、欠陥の始端
と末端を高速度Ｖ1 で検知する第１のカメラの前方を通
過する。欠陥の末端を検知した後で第２のカメラの領域
の欠陥の到着する前に、処理手段４がストリップの通過
の速度の減速を開始し、それにより検査された欠陥が第
２の測定装置の観察領域になくなるまで第２の測定装置
の前方を減少した速度Ｖ2 で通過するようにし、その後
にフイルムの通過速度Ｖ1 が再びもたらされる。この方
法は実行速度に関しその性能を向上させる利点を有して
いる。
【００２６】専門家は明らかに上記の実施態様の他の変
形が本発明の概念から逸脱することなく導入されること
を理解するであろう。例えば、検査される幅を増加しし
かも同一の解像度を保つことが望ましい時又は検査され
るべき支持体の同じ幅に対して解像度を増大させること
が望ましい時、支持体の幅にわたって分配された数個の
カメラを用いることができるのがわかるであろう。
形が本発明の概念から逸脱することなく導入されること
を理解するであろう。例えば、検査される幅を増加しし
かも同一の解像度を保つことが望ましい時又は検査され
るべき支持体の同じ幅に対して解像度を増大させること
が望ましい時、支持体の幅にわたって分配された数個の
カメラを用いることができるのがわかるであろう。
【図１】本発明の方法を実施する装置の実施態様の概略
図である。
図である。
１…フイルム ２…カメラ ３…光源 ４…処理手段 ５…フイルム駆動装置 ６…ローラ ７…減速器 ８…パルスモーター ９…電子制御ユニット １０…巻戻し装置 １１…スプール １２…モーター １３…歯車箱 １４…振動器 １５…張力測定装置 １６…巻取り装置
Claims (8)
- 【請求項１】 支持体（１）が光学密度測定装置（２）
の前方を通過させられ光学密度測定装置（２）により与
えられた光学密度の値が欠陥を検知し計数し特性表示す
るため分析される、写真支持体上の欠陥を計数し特性表
示する方法において、前記欠陥が支持体（１）の通過す
る第１の速度Ｖ1 の間に検知され、この検知された欠陥
の計数と特性表示に必要なデータが前記速度Ｖ1 より低
い支持体の通過する第２の速度Ｖ2 の間に捕捉され蓄積
されることを特徴とする写真支持体上の欠陥を計数し特
性表示する方法。 - 【請求項２】 （ａ）支持体（１）を装置（２）の前方
に第１の速度Ｖ1 で通過させ前記支持体の光学密度を測
定する工程、 （ｂ）前記装置により発せられた支持体の光学密度に関
する情報をデジタル化する工程、 （ｃ）その大きさが少なくとも１つの欠陥の存在を表示
する光学密度の変化を検知する工程、 （ｄ）前記変化が検知された時、支持体の運動を停止す
る工程、 （ｅ）支持体を測定手段に対し動かし、前記測定手段が
第１の検知された欠陥の上流側に位置する支持体の１つ
の領域に対面するようにする工程、 （ｆ）前記測定手段が最後の検知された欠陥の下流側に
位置する支持体の１つの領域に対面するまで、支持体を
前記測定手段の前方に第１の速度Ｖ1 より低い第２の速
度Ｖ2 で通過させる工程、 （ｇ）前記第２の速度Ｖ2 で支持体を通過させる間に前
記支持体の光学密度に関する情報を蓄積する工程、 （ｈ）前記工程（ａ）から（ｇ）を支持体の残部に対し
繰返す工程、 （ｉ）前記速度Ｖ2 で通過する間に蓄えられた情報を処
理して検知された欠陥を計数し特性表示する工程を含ん
でいることを特徴とする請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 前記工程（ｃ）が、欠陥の始端と末端を
検知することからなり、欠陥の始端と末端との間に速度
Ｖ1 で前記装置により発せられた支持体の光学密度に関
する情報が、前記工程（ｄ）における支持体の通過を停
止するか否かを決定するのに用いられる請求項２に記載
の方法。 - 【請求項４】 （ａ）支持体を第１の速度Ｖ1 で第１及
び第２の装置の前方を連続して通過させ前記支持体の光
学密度を測定する工程、 （ｂ）前記第１の装置によって発せられた支持体（１）
の光学密度に関する情報をデジタル化する工程、 （ｃ）その大きさが欠陥の存在を表示する光学密度の変
化を検知する工程、 （ｄ）前記欠陥が第２の測定装置の前方に到着する前
に、第１の測定装置により検知された欠陥が第２の測定
装置の観察領域に存在しなくなるまで、フイルムの通過
速度を速度Ｖ1 より低い速度Ｖ2 に変更させる工程、 （ｅ）支持体が前記第２の速度Ｖ2 で通過している間に
前記第２の装置により発せられた支持体の光学密度に関
する情報を蓄積する工程、 （ｆ）前記工程（ａ）から（ｅ）を支持体の残部に対し
繰返す工程、 （ｇ）速度Ｖ2 で通過する間に蓄積された情報を処理し
検知された欠陥を計数し特性表示する工程、 を含んでいることを特徴とする請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】 前記測定手段と前記支持体との間の前記
工程（ｅ）の相対運動が前記測定手段（２）を支持体
（１）に対して動かすことにより実現される請求項２に
記載の方法。 - 【請求項６】 （ａ）前方を写真支持体（１）が通過す
る光学密度測定装置（２）と、 （ｂ）欠陥を検知し、計数し、特性を表示するため、前
記装置（２）によって与えられた光学密度の値を分析す
る手段（４）とを具備する写真支持体（１）上の欠陥を
計数し特性を表示する装置において、 前記支持体を、欠陥を検知するために第１の速度Ｖ
1 で、検知された欠陥を計数し特性表示するのに必要な
光学密度を捕捉し蓄積するために第２の速度で、選択的
に通過させる手段（４，６，７，８，９）を具備してい
ることを特徴とする写真支持体上の欠陥を計数し特性表
示する装置。 - 【請求項７】 第２の光学密度測定装置をさらに具備
し、前記支持体が前記２つの装置の前方を連続して通過
し、支持体の通過の速度が、第１の測定装置により検知
された欠陥が到着する前に、第２の装置の前方で、前記
欠陥が第２の測定装置の観察の領域に存在しなくなるま
で、Ｖ1 からＶ2 に変更されることを特徴とする請求項
６に記載の装置。 - 【請求項８】 （ａ）支持体（１）を第１の速度Ｖ1 で
光学密度測定装置（２）の前方を通過させる手段（６，
７，８，９）と、 （ｂ）前記装置によって発せられた支持体の光学密度に
関する情報をデジタル化する手段（２）と、 （ｃ）その大きさが少なくとも１つの欠陥の存在を表示
する光学密度の変化を検知する手段（４）と、 （ｄ）前記変化が検知された時支持体の通過を停止し支
持体を測定手段（２）に対して動かし前記測定手段が第
１の検知された欠陥の上流側に位置する支持体の１つの
領域に対面するようにする手段（４，６，７，８，９）
と、 （ｅ）前記測定手段が最後の検知された欠陥の下流側に
位置する支持体の１つの領域に対面するまで、支持体を
前記測定手段の前方に、第１の速度Ｖ1 より低い第２の
速度Ｖ2 で通過させる手段（４，６，７，８，９）と、 （ｆ）支持体が前記第２の速度Ｖ2 で通過する間に前記
支持体の光学密度に関する情報を蓄積する手段（４）
と、 （ｇ）蓄積された情報を処理して検知された欠陥を計数
し特性表示する手段（４）とを具備していることを特徴
とする請求項６に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9407601A FR2721418B1 (fr) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Procédé et dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. |
| FR9407601 | 1994-06-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH085576A true JPH085576A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=9464467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7144494A Pending JPH085576A (ja) | 1994-06-15 | 1995-06-12 | 写真支持体上の欠陥を計数し特性を表示する方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5641971A (ja) |
| EP (1) | EP0687902A1 (ja) |
| JP (1) | JPH085576A (ja) |
| FR (1) | FR2721418B1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5966218A (en) * | 1997-07-11 | 1999-10-12 | Philip Morris Incorporated | Bobbin optical inspection system |
| US6020969A (en) * | 1997-07-11 | 2000-02-01 | Philip Morris Incorporated | Cigarette making machine including band inspection |
| US6198537B1 (en) | 1997-07-11 | 2001-03-06 | Philip Morris Incorporated | Optical inspection system for the manufacture of banded cigarette paper |
| US6864973B2 (en) * | 1999-12-30 | 2005-03-08 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus to pre-scan and pre-treat film for improved digital film processing handling |
| US7113627B1 (en) * | 2000-08-09 | 2006-09-26 | Eastman Kodak Company | Location of extended linear defects |
| DE102005062826A1 (de) * | 2005-12-27 | 2007-06-28 | Zimmer Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Produktionsüberwachung von Endlosformkörpern wie Filamenten und Filamentbündeln |
| US20100189880A1 (en) * | 2007-04-10 | 2010-07-29 | Fas Holdings Group, Llc | Method and Apparatus for Extruding a Liquid Onto a Substrate and Inspecting the Same |
| DE102015204554B4 (de) * | 2015-03-13 | 2016-09-22 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zum Prüfen von Zahnrädern |
| AU2018336150B2 (en) | 2017-09-22 | 2021-11-25 | Lantech.Com, Llc | Packaging material quality compensation |
| US12097988B2 (en) * | 2019-03-20 | 2024-09-24 | Lantech.Com, Llc | Packaging material evaluation and apparatus therefor for evaluating simulated flaws |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3599223A (en) * | 1969-11-06 | 1971-08-10 | Automation Ind Inc | Photographic defect recorder |
| JPS5815204Y2 (ja) * | 1978-04-11 | 1983-03-28 | 日産自動車株式会社 | 車両用空気吹出し装置 |
| JPS5757246A (en) * | 1980-09-25 | 1982-04-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | Detecting and measuring apparatus for flaw |
| SE8304117L (sv) * | 1983-07-22 | 1985-01-23 | Tord Wadell | Forfarande och anordning for beroringsfri identifiering och strukturbeskrivning av virke |
| JPS61245007A (ja) * | 1985-04-24 | 1986-10-31 | Hitachi Ltd | 欠陥検査装置 |
| JPS62173731A (ja) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Toshiba Corp | 被検査物の表面検査装置 |
| JPH0240541A (ja) * | 1988-08-01 | 1990-02-09 | Ricoh Co Ltd | 表面検査装置 |
| US5278411A (en) * | 1992-10-01 | 1994-01-11 | Macmillan Bloedel Limited | Residual ink measurement |
| JPH06337479A (ja) * | 1993-05-31 | 1994-12-06 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像プリント条件決定装置 |
-
1994
- 1994-06-15 FR FR9407601A patent/FR2721418B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-06-08 US US08/488,995 patent/US5641971A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-12 EP EP95420150A patent/EP0687902A1/en not_active Withdrawn
- 1995-06-12 JP JP7144494A patent/JPH085576A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2721418B1 (fr) | 1996-08-14 |
| EP0687902A1 (en) | 1995-12-20 |
| US5641971A (en) | 1997-06-24 |
| FR2721418A1 (fr) | 1995-12-22 |
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