JPH086301Y2 - Ｉｃカードの検査装置 - Google Patents
Ｉｃカードの検査装置Info
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- JPH086301Y2 JPH086301Y2 JP1989071092U JP7109289U JPH086301Y2 JP H086301 Y2 JPH086301 Y2 JP H086301Y2 JP 1989071092 U JP1989071092 U JP 1989071092U JP 7109289 U JP7109289 U JP 7109289U JP H086301 Y2 JPH086301 Y2 JP H086301Y2
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- inspection
- cards
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- rails
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はICカードの検査装置、特に大量のICカードを
搬送路上に流しながら順次検査を行うことのできるICカ
ードの検査装置に関する。
搬送路上に流しながら順次検査を行うことのできるICカ
ードの検査装置に関する。
磁気カードに代わる新たな媒体として、ICカードが注
目を集めつつある。このICカードは、CPUやメモリとい
った複雑な半導体素子を内蔵しているため、製品として
出荷する前に、１枚ずつ検査を行う必要がある。従来、
この種の検査装置では、検査ヘッドに被検査物を１枚ず
つセットし、被検査物の良否判定を行っていた。
目を集めつつある。このICカードは、CPUやメモリとい
った複雑な半導体素子を内蔵しているため、製品として
出荷する前に、１枚ずつ検査を行う必要がある。従来、
この種の検査装置では、検査ヘッドに被検査物を１枚ず
つセットし、被検査物の良否判定を行っていた。
ICカードを大量生産する場合、その検査工程も大量処
理に適したものにする必要がある。ところが、従来の装
置では、前述のようにICカードを１枚ずつ検査ヘッドに
セットしなければならず、大量のICカードを連続して検
査することが非常に困難である。
理に適したものにする必要がある。ところが、従来の装
置では、前述のようにICカードを１枚ずつ検査ヘッドに
セットしなければならず、大量のICカードを連続して検
査することが非常に困難である。
そこで本考案は、大量のICカードの検査を連続的に行
うことができるICカードの検査装置を提供することを目
的とする。
うことができるICカードの検査装置を提供することを目
的とする。
本考案は、ICカードの検査装置において、 所定の搬送方向に伸び、ICカードの両側辺を支持する
ことにより、ICカードを搬送方向に摺動自在に保持する
機能を有し、搬送方向へ向かって順に、前段部、中段
部、後段部、の３つの部分に分割された一対のレール
と、 この一対のレールに沿って、複数のICカードを連続的
に搬送する搬送手段と、 中段部のレールの上方に設けられた検査ヘッド本体
と、 中段部のレールを、検査ヘッド本体に向かって移動さ
せる上下動手段と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、最も前方に位置するICカードの
前端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体の下面
から下方に突出するように設けられ、少なくとも先端部
後方側にテーパー加工が施されている前方ガイド柱と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、最も後方に位置するICカードの
後端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体の下面
から下方に突出するように設けられ、少なくとも先端部
前方側にテーパー加工が施されている後方ガイド柱と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、隣接する２つのICカードのそれ
ぞれ隣接端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体
の下面から下方に突出するように設けられ、先端部前方
側および先端部後方側の双方にテーパー加工が施されて
いる中間ガイド柱と、 位置決めされた複数のICカードの外部接続端子に対し
て接触しうるように、検査ヘッド本体に設けられた検査
用電極と、 検査用電極を介してICカードとデータの交換を行うこ
とにより、ICカードの良否を判定する判定手段と、 を設けたものである。
ことにより、ICカードを搬送方向に摺動自在に保持する
機能を有し、搬送方向へ向かって順に、前段部、中段
部、後段部、の３つの部分に分割された一対のレール
と、 この一対のレールに沿って、複数のICカードを連続的
に搬送する搬送手段と、 中段部のレールの上方に設けられた検査ヘッド本体
と、 中段部のレールを、検査ヘッド本体に向かって移動さ
せる上下動手段と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、最も前方に位置するICカードの
前端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体の下面
から下方に突出するように設けられ、少なくとも先端部
後方側にテーパー加工が施されている前方ガイド柱と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、最も後方に位置するICカードの
後端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体の下面
から下方に突出するように設けられ、少なくとも先端部
前方側にテーパー加工が施されている後方ガイド柱と、 上方に移動してきた中段部のレールに保持されている
複数のICカードのうち、隣接する２つのICカードのそれ
ぞれ隣接端部の位置決めをするために、検査ヘッド本体
の下面から下方に突出するように設けられ、先端部前方
側および先端部後方側の双方にテーパー加工が施されて
いる中間ガイド柱と、 位置決めされた複数のICカードの外部接続端子に対し
て接触しうるように、検査ヘッド本体に設けられた検査
用電極と、 検査用電極を介してICカードとデータの交換を行うこ
とにより、ICカードの良否を判定する判定手段と、 を設けたものである。
本考案によるICカードの検査装置では、検査対象とな
るICカードは、一対のレール内に保持される。このレー
ルを所定の搬送系の途中に挿入しておけば、この搬送系
を流れるICカードは、順次このレールを通過することに
なり、この通過時に検査を受けることができる。検査対
象となるICカードがレール内に入ると、レール全体が上
方に移動する。上方には検査ヘッドが設けられており、
ICカードの外部接続端子はこの検査ヘッドに設けられた
検査用電極と接触し、良否判定のためのデータ交換が行
われる。検査ヘッドには、位置決め用のガイド柱が設け
られているため、ICカードは確実な位置決めがなされ
る。検査完了後、レールは再び元の位置に戻り、検査済
みのICカードはレールから搬送系へと排出され、次のIC
カードがレール内に入り、このICカードに対する検査が
続行される。このように、搬送系を流れてくる大量のIC
カードに対して、連続的に検査を行うことができる。
るICカードは、一対のレール内に保持される。このレー
ルを所定の搬送系の途中に挿入しておけば、この搬送系
を流れるICカードは、順次このレールを通過することに
なり、この通過時に検査を受けることができる。検査対
象となるICカードがレール内に入ると、レール全体が上
方に移動する。上方には検査ヘッドが設けられており、
ICカードの外部接続端子はこの検査ヘッドに設けられた
検査用電極と接触し、良否判定のためのデータ交換が行
われる。検査ヘッドには、位置決め用のガイド柱が設け
られているため、ICカードは確実な位置決めがなされ
る。検査完了後、レールは再び元の位置に戻り、検査済
みのICカードはレールから搬送系へと排出され、次のIC
カードがレール内に入り、このICカードに対する検査が
続行される。このように、搬送系を流れてくる大量のIC
カードに対して、連続的に検査を行うことができる。
以下本考案を図示する実施例に基づいて説明する。第
１図（ａ）は、本考案の一実施例に係るICカードの検査
装置の検査ヘッド10の下面図、同図（ｂ）はその側面図
である。この検査ヘッド10は、一度に６枚のICカードに
対して同時に検査を行うことができ、第１図（ａ）の破
線は検査時のICカードの位置を示している。検査ヘッド
本体11の下面には、３本の中央ガイド柱12と、12本の周
囲ガイド柱13と、が設けられている。これらのガイド柱
は、第１図（ｂ）に示すように、検査ヘッド本体11の下
面から下方に突出するように設けられており、先端部は
テーパー加工されている。１枚のICカードは、１本の中
央ガイド柱12と、２本の周囲ガイド柱13と、によって位
置決めされる。すなわち、第１図（ａ）の左側の３枚の
ICカードは、いずれも前端部（図の右方端：後述するよ
うにICカードは図の左方から右方へと搬送される）が中
央ガイド柱12により、後端分（図の左方端）がそれぞれ
２本の周囲ガイド柱13により、位置決めされる。右側の
３枚のICカードは、これと前後端の関係が逆になる。
１図（ａ）は、本考案の一実施例に係るICカードの検査
装置の検査ヘッド10の下面図、同図（ｂ）はその側面図
である。この検査ヘッド10は、一度に６枚のICカードに
対して同時に検査を行うことができ、第１図（ａ）の破
線は検査時のICカードの位置を示している。検査ヘッド
本体11の下面には、３本の中央ガイド柱12と、12本の周
囲ガイド柱13と、が設けられている。これらのガイド柱
は、第１図（ｂ）に示すように、検査ヘッド本体11の下
面から下方に突出するように設けられており、先端部は
テーパー加工されている。１枚のICカードは、１本の中
央ガイド柱12と、２本の周囲ガイド柱13と、によって位
置決めされる。すなわち、第１図（ａ）の左側の３枚の
ICカードは、いずれも前端部（図の右方端：後述するよ
うにICカードは図の左方から右方へと搬送される）が中
央ガイド柱12により、後端分（図の左方端）がそれぞれ
２本の周囲ガイド柱13により、位置決めされる。右側の
３枚のICカードは、これと前後端の関係が逆になる。
各ICカードが位置決めされる領域内には、検査用電極
14と接触センサ15とが設けられている。検査用電極14
は、針状の金属からなり、この実施例では各ICカードご
とに６本設けられている。ICカードのこれに対応する位
置には、６つの外部接続端子が形成されており、ICカー
ドが定位置に位置決めされると、６本の検査用電極は６
つの外部接続端子に接触するようになる。接触センサ15
は、ICカードが定位置にきたことを検出するセンサであ
る。検査用電極14および接触センサ15は、ケーブル16に
よって判定装置20に接続されている。判定装置20は、接
触センサ15からの信号によって、ICカードが定位置にき
たことを確認すると、検査用電極14を介してICカードの
外部接続端子からICカード内部に検査データを入力す
る。やがて、この検査データに対する応答データが外部
接続端子から出力され、この応答データは検査用電極14
を介して判定装置20に与えられる。判定装置20は、この
応答データが期待どおりのものであるかを照合し、この
ICカードの良否を判定する。
14と接触センサ15とが設けられている。検査用電極14
は、針状の金属からなり、この実施例では各ICカードご
とに６本設けられている。ICカードのこれに対応する位
置には、６つの外部接続端子が形成されており、ICカー
ドが定位置に位置決めされると、６本の検査用電極は６
つの外部接続端子に接触するようになる。接触センサ15
は、ICカードが定位置にきたことを検出するセンサであ
る。検査用電極14および接触センサ15は、ケーブル16に
よって判定装置20に接続されている。判定装置20は、接
触センサ15からの信号によって、ICカードが定位置にき
たことを確認すると、検査用電極14を介してICカードの
外部接続端子からICカード内部に検査データを入力す
る。やがて、この検査データに対する応答データが外部
接続端子から出力され、この応答データは検査用電極14
を介して判定装置20に与えられる。判定装置20は、この
応答データが期待どおりのものであるかを照合し、この
ICカードの良否を判定する。
以上が、検査ヘッド10の構造であるが、続いて搬送
系、すなわちレールの構造を説明する。第２図はこのレ
ールの上面図である。この実施例では、３つの搬送路A,
B,Cが設けられており、図の左から右への方向が搬送方
向である。各搬送路は、搬送方向に伸びた４本のレール
31〜34によって区切られている。搬送路を移動するICカ
ード41〜46は、両側辺をこのレールによって保持され
る。この実施例では、各レールに搬送方向に伸びた細長
い溝を形成し、この溝にICカードの両側辺を嵌入させる
ことにより、ICカードを搬送方向に関して摺動自在に保
持している。第３図は第２図に示すレールを切断線Ｘ−
Ｘに沿って切った断面図であるが、４本のレールによっ
てICカード41,43,45の両側辺が支持されている状態が明
瞭に示されている。このレールに沿って、ICカードを移
動させるために、駆動体51〜56が用意されている。第３
図において、駆動体51,53,55は、それぞれICカード41,4
3,45の後端部に当接し、ICカードを前方へと押し出す機
能を有する。第２図に示すレールの特徴は、それぞれの
レールが３つの部分に分割されている点である。すなわ
ち、レール31〜34は、それぞれレール31a〜34aの前段部
と、レール31b〜34bの中段部と、レール31c〜34cの後段
部と、の３つの部分に分割されている。このように分割
されているのは、中段部のレール31b〜34bが上下方向
（第２図の紙面に垂直な方向）に移動するためである。
この中段部のレール31b〜34bの上方に、前述した検査ヘ
ッド10が位置しており、レール31b〜34bの上方への移動
により、ICカード41〜46が検査ヘッド10下面の所定位置
にセットされる。前段部のレール31a〜34aおよび後段部
のレール31c〜34cは、それぞれICカードの搬入口および
搬出口に連結されている。あるいは、他の処理装置の搬
送系にそのまま連結させておいてもかまわない。
系、すなわちレールの構造を説明する。第２図はこのレ
ールの上面図である。この実施例では、３つの搬送路A,
B,Cが設けられており、図の左から右への方向が搬送方
向である。各搬送路は、搬送方向に伸びた４本のレール
31〜34によって区切られている。搬送路を移動するICカ
ード41〜46は、両側辺をこのレールによって保持され
る。この実施例では、各レールに搬送方向に伸びた細長
い溝を形成し、この溝にICカードの両側辺を嵌入させる
ことにより、ICカードを搬送方向に関して摺動自在に保
持している。第３図は第２図に示すレールを切断線Ｘ−
Ｘに沿って切った断面図であるが、４本のレールによっ
てICカード41,43,45の両側辺が支持されている状態が明
瞭に示されている。このレールに沿って、ICカードを移
動させるために、駆動体51〜56が用意されている。第３
図において、駆動体51,53,55は、それぞれICカード41,4
3,45の後端部に当接し、ICカードを前方へと押し出す機
能を有する。第２図に示すレールの特徴は、それぞれの
レールが３つの部分に分割されている点である。すなわ
ち、レール31〜34は、それぞれレール31a〜34aの前段部
と、レール31b〜34bの中段部と、レール31c〜34cの後段
部と、の３つの部分に分割されている。このように分割
されているのは、中段部のレール31b〜34bが上下方向
（第２図の紙面に垂直な方向）に移動するためである。
この中段部のレール31b〜34bの上方に、前述した検査ヘ
ッド10が位置しており、レール31b〜34bの上方への移動
により、ICカード41〜46が検査ヘッド10下面の所定位置
にセットされる。前段部のレール31a〜34aおよび後段部
のレール31c〜34cは、それぞれICカードの搬入口および
搬出口に連結されている。あるいは、他の処理装置の搬
送系にそのまま連結させておいてもかまわない。
最後にこの装置の動作の説明をする。前述のように、
前段部のレール31a〜34aは、ICカードの搬入口あるいは
他の処理装置の搬送系に連結されているため、ICカード
は所定の周期で前段部のレール31a〜34aから中段部のレ
ール31b〜34bへと導入される。この実施例では、１つの
搬送路について２枚のICカードが一緒に搬送されるた
め、第２図に示すように、一度に６枚のICカード41〜46
が中段部のレール31b〜34bへと導入されることになる。
ICカードはその両側辺をレール内の溝によって支持され
ているため、上下方向（第２図の紙面に垂直な方向）に
レールから外れて移動することはなく、横方向（第２図
の図の上下方向）にずれることもない。ICカードは、そ
の搬送方向（第２図の図の左右方向）に移動することが
できるだけである。したがって、ICカードの位置決め
は、この搬送方向についてだけ行えば十分である。
前段部のレール31a〜34aは、ICカードの搬入口あるいは
他の処理装置の搬送系に連結されているため、ICカード
は所定の周期で前段部のレール31a〜34aから中段部のレ
ール31b〜34bへと導入される。この実施例では、１つの
搬送路について２枚のICカードが一緒に搬送されるた
め、第２図に示すように、一度に６枚のICカード41〜46
が中段部のレール31b〜34bへと導入されることになる。
ICカードはその両側辺をレール内の溝によって支持され
ているため、上下方向（第２図の紙面に垂直な方向）に
レールから外れて移動することはなく、横方向（第２図
の図の上下方向）にずれることもない。ICカードは、そ
の搬送方向（第２図の図の左右方向）に移動することが
できるだけである。したがって、ICカードの位置決め
は、この搬送方向についてだけ行えば十分である。
さて、いま第２図に示すように、６枚のICカード41〜
46が中段部のレール31b〜34bに導入されたとし、この６
枚のICカードについてどのようにして検査が行われるか
を述べることにしよう。第４図は、ICカード41および42
が、中段部のレール31bおよび32bの間に導入された直後
の状態を示す側面図である。図を見易くするために、レ
ールはその位置を破線で示すだけにとどめる。レール上
方には、前述の検査ヘッド10が設けられている。この状
態で、中段部のレール31b,32bがそのまま上方に移動す
ると、第５図のような状態にもってゆくことができる。
すなわち、ICカードはレールに保持されているので、レ
ールと共に上方に移動し、第１図（ａ）に破線で示す定
位置に到達することになる。検査ヘッド10の下面には、
ガイド柱などの部材が突出しているが、これらの部材は
すべてレールの間隙に位置するため、レールに衝突する
ことはない。ICカードは、その搬送方向について多少定
位置からずれていると、レールの上昇とともに前端部あ
るいは後端部がガイド柱12あるいは13の先端に接触する
ことになる。ところが、このガイド柱12,13の先端はテ
ーパー面となっているため、このようなICカードの搬送
方向に関する位置ずれは、レールの上昇とともに自然に
矯正されることになる。こうして、ICカードは定位置に
位置決めされながら上昇し、検査用電極14がICカードの
外部接触端子に接触するに至る。接触センサ15は、ICカ
ードによる押圧を受けると、検査ヘッド本体11内に押し
戻される構造になっており、ICカードの接近の程度を検
出する。すなわち、検査用電極14とICカードの外部接触
端子との間に、良好な電気的な接触が得られるまでICカ
ードが十分に接近したことを検知する。６つのICカード
についての接触センサがすべて良好な接触を検知する
と、レールは上昇をやめ、その位置で停止する。ここ
で、前述した判定装置20による良否判定を求める検査が
実施される。検査が終了すると、レールは再び元の位置
へと下降し、第４図に示す状態に戻る。なお、第４図お
よび第５図は、説明の便宜上、ICカード41,42について
のみ示しているが、中段部のレール31b〜34bは一体とな
って上下移動をするので、他のICカード43〜46について
も全く同様に検査が行われる。こうして、検査の終了し
た６枚のICカード41〜46は、駆動体51〜56によって後段
部のレール31c〜34cへと移される。続いて、次の６枚の
ICカードが、前段部のレール31a〜34aから中段部のレー
ル31b〜34bへと導入され、全く同じことが繰り返され
る。
46が中段部のレール31b〜34bに導入されたとし、この６
枚のICカードについてどのようにして検査が行われるか
を述べることにしよう。第４図は、ICカード41および42
が、中段部のレール31bおよび32bの間に導入された直後
の状態を示す側面図である。図を見易くするために、レ
ールはその位置を破線で示すだけにとどめる。レール上
方には、前述の検査ヘッド10が設けられている。この状
態で、中段部のレール31b,32bがそのまま上方に移動す
ると、第５図のような状態にもってゆくことができる。
すなわち、ICカードはレールに保持されているので、レ
ールと共に上方に移動し、第１図（ａ）に破線で示す定
位置に到達することになる。検査ヘッド10の下面には、
ガイド柱などの部材が突出しているが、これらの部材は
すべてレールの間隙に位置するため、レールに衝突する
ことはない。ICカードは、その搬送方向について多少定
位置からずれていると、レールの上昇とともに前端部あ
るいは後端部がガイド柱12あるいは13の先端に接触する
ことになる。ところが、このガイド柱12,13の先端はテ
ーパー面となっているため、このようなICカードの搬送
方向に関する位置ずれは、レールの上昇とともに自然に
矯正されることになる。こうして、ICカードは定位置に
位置決めされながら上昇し、検査用電極14がICカードの
外部接触端子に接触するに至る。接触センサ15は、ICカ
ードによる押圧を受けると、検査ヘッド本体11内に押し
戻される構造になっており、ICカードの接近の程度を検
出する。すなわち、検査用電極14とICカードの外部接触
端子との間に、良好な電気的な接触が得られるまでICカ
ードが十分に接近したことを検知する。６つのICカード
についての接触センサがすべて良好な接触を検知する
と、レールは上昇をやめ、その位置で停止する。ここ
で、前述した判定装置20による良否判定を求める検査が
実施される。検査が終了すると、レールは再び元の位置
へと下降し、第４図に示す状態に戻る。なお、第４図お
よび第５図は、説明の便宜上、ICカード41,42について
のみ示しているが、中段部のレール31b〜34bは一体とな
って上下移動をするので、他のICカード43〜46について
も全く同様に検査が行われる。こうして、検査の終了し
た６枚のICカード41〜46は、駆動体51〜56によって後段
部のレール31c〜34cへと移される。続いて、次の６枚の
ICカードが、前段部のレール31a〜34aから中段部のレー
ル31b〜34bへと導入され、全く同じことが繰り返され
る。
このように、この検査装置は、搬送系の中に組み込む
ことができ、大量のICカードを搬送系に流しながら、順
に検査を行ってゆくことが可能である。特にここで述べ
た装置では、６枚のICカードを一度に検査することがで
きるため、非常に効率が良い。しかも６枚のICカードの
それぞれを検査用電極に均一に接触させることができる
ため、確実な検査が可能である。
ことができ、大量のICカードを搬送系に流しながら、順
に検査を行ってゆくことが可能である。特にここで述べ
た装置では、６枚のICカードを一度に検査することがで
きるため、非常に効率が良い。しかも６枚のICカードの
それぞれを検査用電極に均一に接触させることができる
ため、確実な検査が可能である。
以上、本考案を図示する一実施例に基づいて説明した
が、本考案はこの実施例に限定されるものではなく、種
々の態様での実施が可能である。特に、上述の実施例で
は、３本の搬送路にそれぞれ２枚ずつICカードを導入
し、一度に６枚のICカードの検査を行っているが、搬送
路の数およびICカードを一度に導入する枚数は、適宜変
えて実施することができる。また、ICカードの両側辺を
支持する手段として、溝以外の手段を用いてもかまわな
い。更に、ガイド柱の形状や本数も、設計上自由に変更
することが可能である。要するにガイド柱は、ICカード
の搬送方向の位置ずれを修正する構造となっていればよ
い。
が、本考案はこの実施例に限定されるものではなく、種
々の態様での実施が可能である。特に、上述の実施例で
は、３本の搬送路にそれぞれ２枚ずつICカードを導入
し、一度に６枚のICカードの検査を行っているが、搬送
路の数およびICカードを一度に導入する枚数は、適宜変
えて実施することができる。また、ICカードの両側辺を
支持する手段として、溝以外の手段を用いてもかまわな
い。更に、ガイド柱の形状や本数も、設計上自由に変更
することが可能である。要するにガイド柱は、ICカード
の搬送方向の位置ずれを修正する構造となっていればよ
い。
以上のとおり本考案に係るICカードの検査装置では、
搬送系に組み込まれたレールでICカードの両側辺を保持
し、このICカードをガイド柱によって検査ヘッドの所定
位置に誘導するようにしたため、大量のICカードの検査
を連続的に行うことができるようになる。
搬送系に組み込まれたレールでICカードの両側辺を保持
し、このICカードをガイド柱によって検査ヘッドの所定
位置に誘導するようにしたため、大量のICカードの検査
を連続的に行うことができるようになる。
第１図（ａ）および（ｂ）は本考案の一実施例に係るIC
カードの検査装置の検査ヘッドの下面図および側面図、
第２図は本考案の一実施例に係るICカードの検査装置の
レールの上面図、第３図は第２図に示すレールを切断線
Ｘ−Ｘで切った断面図、第４図および第５図は第１図に
示す検査ヘッドおよび第２図に示すレールを備えたICカ
ードの検査装置の動作を説明する図である。 10……検査ヘッド、11……検査ヘッド本体、12……中央
ガイド柱、13……周囲ガイド柱、14……検査用電極、15
……接触センサ、16……ケーブル、20……判定装置、31
〜34……レール、41〜46……ICカード、51〜56……駆動
体、A,B,C……搬送路
カードの検査装置の検査ヘッドの下面図および側面図、
第２図は本考案の一実施例に係るICカードの検査装置の
レールの上面図、第３図は第２図に示すレールを切断線
Ｘ−Ｘで切った断面図、第４図および第５図は第１図に
示す検査ヘッドおよび第２図に示すレールを備えたICカ
ードの検査装置の動作を説明する図である。 10……検査ヘッド、11……検査ヘッド本体、12……中央
ガイド柱、13……周囲ガイド柱、14……検査用電極、15
……接触センサ、16……ケーブル、20……判定装置、31
〜34……レール、41〜46……ICカード、51〜56……駆動
体、A,B,C……搬送路
Claims (1)
- 【請求項１】所定の搬送方向に伸び、ICカードの両側辺
を支持することにより、ICカードを前記搬送方向に摺動
自在に保持する機能を有し、搬送方向へ向かって順に、
前段部、中段部、後段部、の３つの部分に分割された一
対のレールと、 前記一対のレールに沿って、複数のICカードを連続的に
搬送する搬送手段と、 前記中段部のレールの上方に設けられた検査ヘッド本体
と、 前記中段部のレールを、前記検査ヘッド本体に向かって
移動させる上下動手段と、 上方に移動してきた前記中段部のレールに保持されてい
る複数のICカードのうち、最も前方に位置するICカード
の前端部の位置決めをするために、前記検査ヘッド本体
の下面から下方に突出するように設けられ、少なくとも
先端部後方側にテーパー加工が施されている前方ガイド
柱と、 上方に移動してきた前記中段部のレールに保持されてい
る複数のICカードのうち、最も後方に位置するICカード
の後端部の位置決めをするために、前記検査ヘッド本体
の下面から下方に突出するように設けられ、少なくとも
先端部前方側にテーパー加工が施されている後方ガイド
柱と、 上方に移動してきた前記中段部のレールに保持されてい
る複数のICカードのうち、隣接する２つのICカードのそ
れぞれ隣接端部の位置決めをするために、前記検査ヘッ
ド本体の下面から下方に突出するように設けられ、先端
部前方側および先端部後方側の双方にテーパー加工が施
されている中間ガイド柱と、 位置決めされた複数のICカードの外部接続端子に対して
接触しうるように、前記検査ヘッド本体に設けられた検
査用電極と、 前記検査用電極を介してICカードとデータの交換を行う
ことにより、ICカードの良否を判定する判定手段と、 を備えることを特徴とするICカードの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989071092U JPH086301Y2 (ja) | 1989-06-17 | 1989-06-17 | Ｉｃカードの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989071092U JPH086301Y2 (ja) | 1989-06-17 | 1989-06-17 | Ｉｃカードの検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0310268U JPH0310268U (ja) | 1991-01-31 |
| JPH086301Y2 true JPH086301Y2 (ja) | 1996-02-21 |
Family
ID=31607817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989071092U Expired - Lifetime JPH086301Y2 (ja) | 1989-06-17 | 1989-06-17 | Ｉｃカードの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH086301Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61155971U (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-27 | ||
| JPS642172U (ja) * | 1987-06-24 | 1989-01-09 |
-
1989
- 1989-06-17 JP JP1989071092U patent/JPH086301Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0310268U (ja) | 1991-01-31 |
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