JPH09101314A5 - - Google Patents

Description

【発明の名称】移送装置およびそれを用いた分析装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】（ａ） 第１と第２の端部を有する供給列、
（ｂ） 該供給列の第２の端部に近接して配置された給送装置、
（ｃ） 前記供給列に近接して配置された処理列、および
（ｄ） 該処理列に近接して配置された排出列、
を有してなる移送装置であって、
前記供給列、処理列および排出列のうちの第１の列が、
第１と第２の対向端部および第１と第２の対向面を有するトレイ、
該トレイに近接して配置された磁石、および
前記トレイの第１と第２の対向端部の間で第１と第２の方向で前記磁石を搬送させるための、該磁石に接続された駆動装置、
を備えていることを特徴とする移送装置。
【請求項２】前記供給列に近接して配置されたバーコード読取器を備えていることを特徴とする請求項１記載の移送装置。
【請求項３】前記供給列、処理列および排出列のうちの第２の列が、
第１と第２の対向端部および第１と第２の対向面を有するトレイ、
該トレイの近接して配置された駆動装置、
前記トレイに近接して配置された磁石、および
前記トレイの第１と第２の対向端部の間で第１と第２の方向で前記磁石を搬送させるための、該磁石に接続された駆動装置、
を備えていることを特徴とする請求項２記載の移送装置。
【請求項４】前記処理列が排出プッシャを備え、
該排出プッシャが、
少なくともその一部から突出した複数の歯を有するロッド、
ラックと噛み合うように適用された小歯車、および
モータの動きに応答して前記小歯車が直線方向に搬送するように該小歯車に接続されたモータ、
を含むことを特徴とする請求項３記載の移送装置。
【請求項５】前記給送装置が、
第１の滑車、
第２の滑車、
該第１と第２の滑車の周りに配置されたベルト、
該ベルトの第１の表面から突出した複数の形材、および
前記滑車の周りに前記ベルトを駆動するための、前記第１と第２の滑車のうちの最初の滑車に接続されたモータ、
からなることを特徴とする請求項４記載の移送装置。
【請求項６】試料ラックにより保持される試料容器内に配置される試料を分析する分析装置であって、
少なくとも１つの入口地点および移送地点を有し、該入口地点から該移送地点まで前記試料ラックを磁気的に搬送させる手段を備えた供給列、
該供給列の移送地点に位置合せされた入口地点および移送地点を有する処理列、
前記供給列の移送地点から前記処理列の入口地点まで前記試料ラックを搬送させる給送装置、および
前記処理列の移送地点に位置合せされた入口地点を有する排出列、
を有してなることを特徴とする分析装置。
【請求項７】前記供給列および排出列に近接して配置されたバーコード読取器を備えていることを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【請求項８】前記処理列から前記排出列まで前記試料ラックを搬送させるための、前記処理列に近接して配置された第２の手段を備えていることを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【請求項９】前記第２の手段が、
モータ、および
該モータに接続され、該モータの回転に応答して前記試料ラックの表面と接触して該試料ラックを搬送させるプッシュロッド、
を含むことを特徴とする請求項８記載の分析装置。
【請求項１０】前記処理列内に配置された前記試料ラックへのアクセスを妨げるための、該処理列の周りに配置されたカバーを備えていることを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【請求項１１】前記供給列が、前記試料ラックの一部と噛み合うように適用されたガイドを有することを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【請求項１２】前記ガイドが、前記供給列の第１の表面上に設けられたボスであり、該ボスが前記試料ラック内に設けられた凹部領域と噛み合うように適用されていることを特徴とする請求項１１記載の分析装置。
【請求項１３】前記試料ラックの中心部分に設けられた凹部領域と噛み合う、前記供給列の第１の中心部分に沿って該供給列の第１の表面から突出した第１のガイド、
前記試料ラックの第１の端部と噛み合う、前記供給列の第１の縁に沿って該供給列の第１の表面から突出した第２のガイド、および
前記試料ラックの第２の端部と噛み合う、前記供給列の第２の縁に沿って該供給列の第１の表面から突出した第３のガイド、
を備えていることを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【請求項１４】前記供給列および排出列のうちの第１の列が、
スタット入口地点および前記処理列の入口地点と位置合せされたスタット装填地点、並びに
前記供給列および前記排出列のうちの第１の列上に配置され、前記スタット入口地点内の前記試料ラックの配置に応答する信号を送るセンサ、
を備えていることを特徴とする請求項６記載の分析装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、分析装置、さらに詳しくは、分析装置内に検査試料を出入れする搬送装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この業界で知られているように、病院、診療所、研究所、並びに、血液、脊髄液、尿、血清、血漿等の患者の検体試料を検査（アッセイ）する他の場所においては自動分析装置を用いる傾向がある。このような試料は、一般的に、試料カップ、試験管、キュベットまたは他の適した容器等の容器内に入れられている。このような容器１つ以上は、いわゆる試料ラック内に配列されていてもよい。
【０００３】
この試料ラックは、分析装置の装填区域内または供給列内に配置され、試料の少なくとも一部が分析装置内での検査のために採集される位置まで動かされる。分析装置内での検査のために試料が採集された後、試料ラックは、使用者が分析装置からこの試料ラックを取り出せる排出列または出口列まで動かされる。このように、使用者は、装填区域内で検査すべき１つ以上の試料を保持する試料ラックを物理的に配置でき、試料が採集された後に、使用者が試料ラックを排出列から取り出すことができる。したがって、分析装置の供給列および排出列は一般的に使用者に露出されている。
【０００４】
典型的な分析装置において、機械的プッシャまたはコンベヤ機構を用いて、供給列および排出列に沿って試料ラックを動かしている。機械的プッシャ手法において、プッシャ装置が、試料ラックがその上に配置されているトレイ上に位置している。モータにより駆動される親ねじまたはスプリング駆動プッシュブロックがトレイの表面に沿って試料ラックを押す。
【０００５】
使用者の相互作用の影響が大きい供給および排出列内にそのような機械的プッシャを用いる場合には、一般的に特別な注意を払って操作を確実に安全にしなければならない。例えば、安全シールドおよび安全ガイドを一般的に用いて機械的プッシャを覆うことにより、そうしなければ使用者に露出される搬送部品により使用者が傷付くのを防いでいる。このような保護措置により、機械的プッシャには追加の部品が必要となり、このためにこのプッシャの設計が比較的複雑になってしまう。
【０００６】
さらに、供給および排出列では一般的に流体試料がこぼれやすいので、これらの列を容易に洗浄できることが重要である。しかしながら、上述した安全保護措置により、使用者がトレイにアクセスしずらくなってしまう。さらに、搬送した機械により使用者が傷付けられる可能性のために、プッシャ装置の稼働中に使用者がトレイを洗浄することは望ましくない。したがって、好ましくはプッシャ装置を停止させて、プッシャ機構に近接した領域にある供給および排出列を使用者が洗浄する。このことは通常、装置の稼働を遅くするかまたは停止させてしまう。
【０００７】
さらに、試料ラックがその上に配置される供給および排出トレイの表面に開口部があると、移送装置または分析装置の内部に流体がこぼれてしまうかもしれない。そのような内部区域は一般的に容易にアクセスできず、そのような区域が流体により汚された場合、洗浄工程に複雑な操作が必要となる。
【０００８】
コンベヤ型の機構にも同様の問題がある。コンベヤの手法において、試料ラックが、２つ以上のホイールまたは滑車の周りに連続的に動くベルト上に配置されている。搬送しているベルト上に流体試料がこぼれた場合、このベルトが流体をコンベヤ装置の内部区域に運搬し、それによっておそらく、コンベヤ装置または分析装置の内部が汚れてしまう。
【０００９】
このコンベヤ手法におけるさらなる問題は、試料ラックが、供給列または排出列のいずれかの端部まで搬送して、ラックの停止地点に停止するようになることである。しかしながら、コンベヤベルトは、列の端部にある所定の位置に集まり停止するラックの下で滑り続けなければならない。このために、ベルト、並びに列の端部に静止している試料ラックの底面が著しく摩耗してしまうかもしれない。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、使用者が傷付く可能性を最小にする一方で、移送トレイに沿って試料ラックを動かし、供給および排出列において使用者が検査試料に容易にアクセスできるようにし、供給および排出列を容易に洗浄できるようにした試料移送装置を提供することが望まれている。本発明の目的はそのような装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、磁気的吸引性領域を有する試料ラックを搬送させる移送装置であって、駆動装置と、駆動装置に接続されこの駆動装置に応答して搬送可能な磁石と、試料ラックを受け入れるように適用された第１の表面を有するトレイとを有してなり、トレイの第１の表面が、磁石により加えられる磁力がトレイの第１の表面に存在するように、磁石の第１の表面の上に配置されてそこから所定の距離だけ離れている移送装置を提供する。この特定の配列に関して、本発明は磁気コンベヤ装置を提供する。駆動装置上にトレイを配置することにより、駆動機構が完全に使用者から隔離され、したがって、安全上の問題が最小になる。さらに、試料ラックが駆動装置に磁気的に接続されているので、トレイの表面には、スロットまたは特定のインデキシング領域を搬送させたり備えたりする必要がない。流体がこぼれた場合でも、流体により移送装置および分析装置の内部領域が汚されるのを防ぐことができる。さらに、洗浄が容易な材料からトレイを作成してもよく、それにより、トレイを洗浄しやすくすることができる。例えば、トレイを、表面にテフロンコーティングを有するアルミニウムから製造してもよい。また、駆動装置を完全に囲み、さらに駆動装置をこぼれた試料や他の汚れから保護するカバーにこのトレイを接続しても差支えない。さらに、ラックがその上に配置されるトレイ表面は静止しており、したがって、静止した試料ラックの底面にある搬送ベルトの一定の摩擦による試料ラックの過剰な摩耗を生じることがない。その上、使用者にさらされる搬送部品がなく、したがって、この移送装置により、分析装置の供給列のようなアクセスがたやすい区域における使用者の安全上の問題が最小となる。
【００１２】
所定の数の試料ラックを保持するように選択された長さを有する長方形のトレイを提供する。ある実施の形態において、各々の試料ラックは１つ以上の試験管を保持する。試料ラックは、分析装置の供給列として機能するトレイのいかなる部分上に装填してもよい。トレイの第１の表面の下に位置する駆動装置には、トレイの第１の端部の下に配置される第１の軸、およびトレイの第２の異なる端部の下に配置される第２の軸がある。これらの軸はベース内に回転可能に取り付けられている。各々の軸には、その対向端に配置される１組の滑車がある。ウレタンベルトが、２つの軸の対向する滑車の周りに配置されている。複数の棒磁石アッセンブリがウレタンベルトの間に延びている。これらの滑車の組が、２つのウレタンベルト、したがって、磁石アッセンブリを同時に駆動する。磁石アッセンブリには、各々の磁石の反対の極が、トレイの第１の表面上の磁界を含む磁石回路を形成する同一のトレイ表面に面するように向けられた１組の磁石がある。磁石アッセンブリおよびトレイの第１の表面は、トレイの表面の下にあるウレタンベルトにより磁石が自由に動くように近い間隔で置かれている。
【００１３】
ある実施の形態において、各々の試料ラックには、その底面に２つのキャビティが設けられている。これらのキャビティは、試料ラックの中心線の反対側の周りに左右対象に形成されている。試料ラックの底面に位置する磁化可能なプレートが、試料ラックがトレイ上に配置されたときに、このプレートがトレイの表面の下を通る磁石アッセンブリの磁石と位置合せされるように、各々のキャビティ内に配置されている。磁石アッセンブリにより形成される磁界が、試料ラックの底面に配置されたプレートを引き付け、ベルトが動くときに試料ラックが磁石アッセンブリと一緒に動くような十分な力でこのプレートと噛み合う。磁石アッセンブリが最初に試料ラックに近付くときに、ベルトがラックの後方への加速度を低下させるように動くので、磁石アッセンブリにより形成される磁界が徐々に生じるように磁石アッセンブリに関して所定の角度でこのプレートの第１の表面の少なくとも一部を配置してもよい。その結果、試料ラックは滑らかに静止状態から搬送状態に移行する。
【００１４】
底面から１組のレールが突出した試料ラックを提供する。これらのレールが、トレイと接触し、それゆえ、試料ラックとトレイとの間の摩擦力を減少させる試料ラックの表面積を減少させる。試料ラックの底面に、トレイの第１の表面から突出したガイドを受け入れる凹部を設ける。このガイドがトレイに沿って試料ラックを配置する。試料ラックには、試料ラックがトレイ上にある間に試料ラックが傾かないようにする前後の縁ガイドがあり、ラックがトレイに正確に位置合せされていることを確実にする。前縁ガイドは、試料ラックがトレイの装填位置内に配置されたときに、試料ラックが傾かないようにする。
【００１５】
試料ラックには、試験管のような試料含有容器を収容する開口部がある。各々の開口部には、試料含有容器がこの開口部に配置されたときに圧縮状態におかれるフィンガースプリングが配置されており、このように試料ラック内に試料容器を固定している。このスプリングは、異なるサイズの試験管が配置され試料ラック内に適切に固定されるようなサイズである。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、図面に示す実施の形態を参照して本発明を詳細に説明する。
【００１７】
ここで図１を参照する。検査試料について診断検査を行なうために使用する自動分析装置１０は、計測器１２および移送装置１４を備えている。計測器１２は、一般的に、１９９４年１１月１０日に出願された米国特許出願第０８／３３８，０２２号に記載された種類のものと同様の保温室および処理ステーション、１９９３年 ３月１９日に出願された米国特許出願第０８／０３５，３４１号等に記載された種類のものと同様の発光計測器（ｌｕｍｉｎｏｍｅｔｅｒ ）、並びにロボット式アームにより制御されたピペットから一般的に構成された流体搬送装置を備えている。上述した出願の各々をここに引用する。移送装置１４により、無中断検査のために試料を連続的に供給できる。
【００１８】
移送装置１４は、供給列１６、処理列１８および排出列２０を備えている。この供給列１６は、試験管のような試料含有容器を、例えば、供給列１６の一方の端部に位置する装填位置２２に向かって搬送させる。この試験管は、分析装置１０により分析すべき患者の体液検体等の試料を保有している。一度試験管が装填位置２２に到達すると、給送（ｉｎｆｅｅｄ）装置２４が試料含有試験管を供給列１６から処理列１８の所定の位置まで搬送させる。
【００１９】
試験管が供給列１６から処理列１８まで動くときに、この試験管が、供給列１６の装填位置２２に近接して配置されたバーコード読取器２６を通過する。このバーコード読取器２６は、ラベルにより各々の試験管および各々のラックに一般的に取り付けられたバーコードを解読し、その情報を、処理列１８に供給された試料の追跡および試料を検査する順番の計画を含む様々な機能を果たすシステム制御器２８に伝達する。
【００２０】
一度試験管が試料ラック内で処理列１８まで動かされると、計測器１２が試験管から試料の一部を吸引し、続いて、この試料の一部を、計測器１２内に配置されたキュベットのような反応容器中に計量分配する。ここで、上記出願第０８／３３８，０２２号により試料の一部が処理される。
【００２１】
試料が試験管から吸引され、反応容器中に計量分配された後、検査結果が得られるまで、試料ラックは一般的に処理列内に保持される。したがって、検査結果がうまく得られなかった場合には、試験管から試料の一部を吸引し、これを別の反応容器中に計量分配することにより、検査を再度行なうことができる。一度試料ラック内の各々の試料がうまく検査されると、処理列１８が試料ラックを排出装置３０の前に配置する。この排出装置３０が試料ラックを処理列１８から排出列２０まで搬送させる。一度試験管が排出列２０まで搬送させられると、試料含有試験管に再度使用者がアクセスでき、一般的に、これらの試験管は周期的に移送装置１４から取り出される。
【００２２】
処理列１８は保護ハウジング３２内に包囲されており、試験管が供給列１６から処理列１８まで動かされた後には、使用者が試料含有試験管にアクセスできないようにしている。このように、試験管が供給列１６上にある間には試験管に容易にアクセスでき、任意に順番付けて配列したり、再配列したりできるが、一度試料が処理列１８まで動かされると、試料の配置および順番を使用者が変えることはできない。この処理列１８で、制御器が試験管の位置の記録を有している。
【００２３】
ここで図２、３、３Ａおよび４を参照する。移送装置１４´は、供給列１６、処理列１８および排出列２０を備えている。複数の試料ラック３３が、概して長方形の供給列１６上に配置されている。各々の試料ラック３３は複数の試料含有試験管３４を保持するように適用されており、したがって、試料ラック３３は多数の試験管３４を、供給列１６から処理列１８まで、並びに、処理列１８から排出列２０まで同時に動かすことができる。
【００２４】
作動中において、使用者は１つ以上の試料ラック３３を供給列１６上のどの位置に配置してもよい。試料ラック３３が供給列１６に沿って動かされている間に、使用者は試料ラック３３を取り出したり、または任意の順番または所定の順番に配列しても差支えない。このように、供給列１６は一般的に、自動分析装置１０（図１）の、使用者に容易にアクセスされる区域である。
【００２５】
供給列１６は、長方形、例えば、約１３．２ｃｍ（約５．２ インチ）の幅Ｗおよび約４４．５ｃｍ（約１７．５インチ）の長さＬを有するトレイ３８から構成されている。トレイ３８の幅Ｗは、試料ラック３３の長さを収容するように選択しなければならず、また、トレイ３８の長さＬは多数の試料ラック３３を収容するように選択しなければならない。
【００２６】
試料ラック３３は、各々の試料ラック３３のハンドル３９が使用者に近接するトレイ３８の側に位置するように、トレイの第１の表面３８ａ 上に装填されている。ハンドル３９により、使用者がトレイ３８上の試料ラック３３を容易に保持し、したがって、動かしたり配列させたりすることができる。
【００２７】
各々の試料ラック３３には、試験管３４をその中に配置する複数の開口部を有する上面３３ａ 、前端、後端および中に凹部４０が形成された低面がある。
【００２８】
トレイ３８には、その長さに亘り隆起中央部分（以下ガイドと称する）４２がある。ガイド４２は、試料ラック３３が供給トレイ３８の第１の端部から第２の端部まで搬送するときに試料ラック３３が沿って動くガイドとして機能する（図２の左から右）。
【００２９】
このガイド４２は、トレイ３８とは別の片として設けてもよく、あるいは好ましくは、ガイド４２は、アルミニウム内のプラスチックの型打ちまたはプラスチックの射出成形によりトレイ３８の一体部品として設けてもよい。このガイド４２は、試料ラック３３がガイド４２に引っ掛かったりもつれたりしないような高さを有さなければならない。
【００３０】
トレイ３８には、試料ラック３３の後端にあるスロット４６と噛み合い、試料ラック３３がトレイ３８から外れてしまったり、傾くのを防ぐ後端ガイド４４が設けられている。
【００３１】
トレイ３８は、試料ラック３３の駆動装置を囲むハウジング５０上に配置されている。この駆動装置は、トレイ３８の下側で生じる磁力により、供給トレイ３８の上面に沿って試料ラック３３を搬送させる。トレイ３８およびハウジング５０は、駆動装置を覆い、したがって、この駆動装置を使用者の環境から隔てている。
【００３２】
トレイ３８およびハウジング５０は駆動装置を完全に囲んでいるので、駆動装置の搬送部品に使用者をさらすことによる安全上の問題が最小になる。さらに、トレイ３８およびハウジング５０は、流体がこぼれたり、他の望ましくない要因（例えば、埃および泥）が駆動装置、または移送装置１４´が接続されて作動する分析装置の他の区域を汚すのを防ぐ。また、使用者はいかなる搬送部品にもさらされないので、使用者が怪我したり、駆動装置の作動が妨害されたりするのを防ぐために、トレイ３８の洗浄前または洗浄の最中に駆動装置を停止させる必要がない。
【００３３】
さらに、トレイ３８の表面には開口部がないので、トレイ３８は比較的洗浄しやすい。トレイ３８の洗浄は、試料ラックの位置合せ構造の妨害を受けない。このことにより、移送装置１４´の操作を中断せずに、試料ラック３３を任意にトレイ３８に装填したり、トレイ３８から取り出したり、並べ変えたりすることができる。
【００３４】
処理列１８は、試料ラック３３が供給列１６から処理列１８まで都合よくそして容易に搬送できるように、供給列１６に隣接して配置されている。この実施の形態において、処理列１８は搬送可能な運搬部材５２上に取り付けられている。
【００３５】
この運搬部材５２上には、正方形の断面を有し、厚さが一般的に約２．５４ｃｍ（約１インチ）のアルミニウム部材として設けてもよい支持ブロック５４が配置されている。支持ブロック５４は、スライド５８を運搬部材５２上から所定の距離に支持し、運搬部材５２を構造的にさらに支持している。駆動装置５３は、制御器２８からの信号に応答して処理列１８を搬送させるように接続されている。
【００３６】
処理トレイ６０はスライド５８上に取り付けられて、処理トレイ６０の底面に取り付けられたリニアベアリング上で動く。
【００３７】
処理トレイ６０には、そのベース表面から突出した等しい間隔で配置された複数の仕切壁６１が設けられている。この仕切壁６１は、試料ラック３３が保持される複数のスロット６４を形成する。
【００３８】
給送装置５１が供給列１６上の所定の位置に取り付けられている。図示した実施の形態において、給送装置５１がトレイ３８の端部に取り付けられている。給送装置５１は試料ラックを供給列１６の遠い端部の装填位置から処理列１８の空のスロット６４まで搬送させる。この給送装置５１について、図３および４を参照して詳細に記載する。処理トレイ６０は、制御器２８により、空のスロット６４が給送装置５１により供給される試料ラック３３を受け入れるのに利用できることを確認にする位置に向けられている。
【００３９】
処理トレイ６０は一般的に、一方の端部または他方の端部に運搬器６８内にあるプローブチップトレイ６２を搭載している。このプローブチップトレイ６２には、複数の使い捨てプローブチップ７０が配列されている複数の孔６６がある。
【００４０】
移送装置１４´はさらに、モータ駆動装置７６により駆動されるプッシュロッド７４を有する排出プッシャ７２を備えている。このモータ駆動装置７６は、スロット６４を通してプッシュロッド７４を駆動し、それによって、試料ラック３３が、制御器２８の制御下で処理列１８から排出列２０の排出トレイ７８の表面７８ａ 上に動かされる。
【００４１】
排出トレイ７８には、供給トレイ３８上のガイド４２と同様のガイド８０がある。試料ラックが処理列へと処理列から動かされる場所には、ガイド４２，４４，８０および９９はない。一度試料ラック３３が処理列１８から排出列２０まで動かされると、インデスク機構が排出トレイ７８の上面に沿って試料ラックを搬送させる。このインデクス機構については図３Ａを参照して詳細に説明する。
【００４２】
この特定の実施の形態において、２０の試料ラック３３を保持するのに十分に長いトレイを有する供給列１６を選択する。ここでは、各々の試料ラック３３は５つの試験管３４を保持している。
【００４３】
試験管３４の各々には、バーコードラベルが貼り付けられている。試験管３４は、貼り付けられたバーコードラベルが供給列１６のの装填位置２２に近接して配置されたバーコード読取器にさらされるように、試料ラック３３内で向けられている。ここで、試料ラックは処理列の外に動かされる。
【００４４】
給送機構５１を、１組の滑車８６ａ，８６ｂ の周りを無限に回転するベルト６４を含むものとして図示する。より明らかに図４に見られるように、第１の滑車８６ａ がステッパモータのような二方向性モータ１０４ に接続されている。
【００４５】
ここで再度図３を参照する。ベルト８４には、複数の外側に延びたパドルまたは形材８８，８８ａ−８８ｂが接続されている。形材８８はベルト８４の一部のみに配置されている。端にある形材８８ａ，８８ｈ の位置は、試料ラック３３がそれらの間の装填位置２２内に置かれ、一方で、形材８８ｂ−８８ｈ が、試料ラックが形材８８ａ と８８ｈ の間から動かされるときに、装填位置２２に隣接した試料ラック３３ａ が装填位置に進入するのを妨げるように選択する。
【００４６】
ある実施の形態において、ベルト８４および形材８８はウレタンであり、射出成形技術を用いて一体片として製造してもよい。あるいは、形材８８をベルト８４とは別々の片として製造してもよい。この場合、形材を、超音波溶接または当業者によく知られた他の固定技術によりベルト８４に取り付けることができる。
【００４７】
装填位置２２に近接した供給列１６には装填位置ガイド８９が接続されている。装填位置ガイド８９は装填位置２２内の試料ラックが傾くのを防いでいる。
【００４８】
ベルト８４が反時計方向に回転し、形材８８を供給トレイ３８上に配置された試料ラック３３と反対の位置に搬送させる場合、装填位置が試料ラック３３を受け入れるのに利用できる。形材８８に隣接した試料ラック３３が、その存在が以下に記載するセンサにより知覚される装填位置２２の空間中に搬送させられる。
【００４９】
モータ１０４ （図４）はベルト８４および形材８８を時計方向に駆動する。形材８８ａ には、現在供給列１６の装填位置２２内に配置されている試料ラック３３の第１の端部と接触するアルミニウムブロック９０が接続されている。ベルト８４が時計方向に動くときに、試料ラック３３ａ が、供給トレイ３８の装填位置２２から、処理列１８内のスロット６４まで制御器２８の制御下で押される。
【００５０】
ブロック９０は、試料ラック３３の端部と接触する表面が搬送して、試料ラック３３が供給列１６から処理列１８上まで完全に押されることを確実にする距離だけ延びる。
【００５１】
処理列１８は給送機構５１によりそこに供給される試料ラック３３を受け入れる。上述したように、処理列１８は、供給列１６からの試料ラック３３が処理列１８の異なる空間６４中に供給されるように、トラックに沿って線形に動く。また、処理列１８は、制御器２８の制御下でトラックに沿って動き、特定の試料ラック３３を排出プッシャ７２と位置合せする。
【００５２】
処理列１８は、その試料が排出プッシャ７２の前で処理列１８内でうまく検査された試料ラック３３を配置する。排出プッシャ７２は二方向性モータ７６により駆動されるプッシュロッド７４を備えている。位置９７で、プッシャアッセンブリ１００ 内のプッシャ１０８ （図３Ａ）が試料ラックを排出列上に押し出す。
【００５３】
排出列２０の端部にあるセンサ９８が、排出列２０が試料ラック３３で満たされると、信号を制御器２８に知らせ、使用者に、試料ラック３３の出口列２０からの取出しのような作業を行なうことを知らせる、および／またはさらに追加の試料ラック３３が、出口列２０上の空間が利用できるようになるまで、処理列１８から出口列２０に搬送するのを防ぐ。このようなセンサは、トレイ７８の上面または底面に配置してもよい。
【００５４】
移送装置１４´には、緊急試料ラック供給列１０５ が設けられている。供給列１０５ には、スタット供給位置１０１ 、スタットセンサ１０２ およびスタット装填位置１０３ がある。スタット供給位列１０５ の目的は、使用者に、分析装置１０にスタット供給列１０５ 内に装填された試料について、できるだけ早く、順番を飛ばして検査を行なわせることにある。
【００５５】
使用者が試料ラック３３をスタット供給位置１０１ 中に配置すると、スタットセンサ１０２ が、ベルト８４の適切な側に固定された形材８８により試料ラックをスタット供給位置１０１ からスタット装填位置１０３ に押し出すプッシャブロック１０８ （図３Ａ）を始動させる。スタット装填位置ガイド１１３ がスタット装填位置１０３ に近接して配置され、スタット装填位置１０３ 内の試料ラックが傾くのを防いでいる。次いで、給送装置５１が試料ラックをベルト８４の逆回転によりスタット装填位置１０３ から処理列１８まで動かす。
【００５６】
移送装置１４´はさらに、スタット供給位置１０１ に近接して配置されたバーコード読取器を備えている。ここでは、バーコード読取器８３の大部分は取り除かれて、プッシャバー１０６ およびプッシャブロック１０８ をよく見えるようにしている。このバーコード読取器８３は、例えば、取付ブラケットとして設けられている取付部材１０９ によりプッシャブロック１０８ の上の固定位置に保持されている。バーコード読取器８３は好ましくは、供給列１６上の装填位置２２（図３）またはスタット装填位置１０３ のいずれかから処理列１８に動かされる試験管に貼り付けられたラベルのバーコードを読み取れるように配置されている。
【００５７】
試料ラック３３および試験管が供給トレイ３８から処理列１８まで動かされるときに、バーコードラベルがバーコード読取器８３を通過して、このバーコード読取器８３がバーコードラベルからの情報の暗号を解いて、そのような情報をシステム制御器２８に送る（図１）。この情報には、患者、試料、および他の直接的な流体のデータを含めてもよい。各々の試料について行なうべき検査は、制御器２８に別々に供給する。いくつかの試料は、バッチ内の全ての検体に関する特定の群の検査を意味する「バッチラン」と確認してもよい。
【００５８】
ここで、図５、５Ａ、６、７および８を参照する。磁気コンベヤ１１０ に供給列１８が設けられている。トレイ３８の下には、駆動装置１１６ がある。この特定の実施の形態において、駆動装置１１６ は、駆動モータ１１９ により駆動される、１組の滑車１１８ａ，１１８ｂ の周りに配置された第１および第２の駆動ベルト１１７ を備えている。ベルト１１７ は、トレイ３８の前部分および後部分の近くに配置されている。
【００５９】
再度、図５、５Ａおよび５Ｂを参照する。ここでは、駆動モータ１１９ が、滑車キヤ１１８ｂ（図５Ｂ）として設けられている滑車１１８ｂに接続された駆動ギヤ１２３ を有するステッパモータ１１９ として設けられている。接続は、２：１のギヤ減速比で行なわれている。
【００６０】
点線で示す駆動装置１１６ の別の実施の形態において、駆動モータ１１９ をトレイ３８の下に配置し、駆動ベルト１２０ を介して滑車１１８ａに接続してもよい。
【００６１】
複数の磁石アッセンブリ１２１ａ−１２１ｅ が各々駆動ベルト１１７ に接続されている。磁石アッセンブリ１２１ａ−１２１ｅ が所定の距離だけ等間隔で離れている。トレイ３８は、図５に示す磁石アッセンブリ１２１ａ，１２１ｃ および１２１ｅがトレイ３８の下を所定の距離だけ通過するように、ベルト１１７ の上で所定の距離だけ離れて配置されている。各々の磁石アッセンブリ１２１ａ−１２１ｅ は、磁力が少なくともトレイ３８の表面１１４ａで、この実施の形態においては好ましくはその上に発生するように、十分なおおきさの磁力を有する磁石を備えている。
【００６２】
試料ラック３３には、磁石アッセンブリ１２１ の磁力により噛み合うことのできる磁気的吸引性領域がある。この磁石アッセンブリ１２１ は、駆動装置が試料ラック１１２ をトレイ３８の表面に沿って搬送させるように、試料ラック３３を駆動装置に磁気的に接続している。
【００６３】
この実施の形態においては、５つの磁石アッセンブリ１２１ａ−１２１ｅ が、ベルト１１７ を介して１組の滑車１１８ の周りに駆動され、試料ラック１１２ を転写トレイ１１４ に沿って搬送させている。磁石アッセンブリ１２１ が互いに離れている距離は、限定されるものではないが、各々個々の磁石アッセンブリ１２１ が動かせる試料ラック３３の数を含む様々な要因により選択する。この特定の実施の形態において、各々の磁石アッセンブリ１２１ は、いくつかの試料ラック３３を動かすのに十分な磁力のものである。もちろん、より多くのまたより少ない磁石アッセンブリ１２１ を用いても差支えない。コンベヤ装置１１０ はさらに、ベースプレート１２６ に接続され、ベルト１１７ の表面の下に配置されたセンサ１２４ を備えている。センサ１２４ は、例えば、ホール効果センサとして設けてもよく、磁石アッセンブリ１２１ がその上を通過するときはいつも信号を生じるように配置されている。センサ１２４ は、磁石アッセンブリ１２１ の位置を示す。ベルト１１７ 上の磁石アッセンブリ１２１ａ−１２１ｅ の各々の他のものに関する位置は分かっているので、磁石アッセンブリ１２１ のうちの１つの位置が分かれば、磁石アッセンブリ１２１ の各々の位置も分かる。
【００６４】
移送装置１１０ はさらに、例えば、隣接する試料ラック３３の表面から反射する光を検出する光学センサとして設けてもよい、装填位置センサ１２８ を備えている。稼働中に、試料ラック３３が形材８８ａ の前の装填位置中に入るときに、試料ラック３３の表面２０１ （図１０）を光が反射して、装填位置センサ１２８ を始動させる。
【００６５】
装填位置センサ１２８ により発せられた信号に応答して、滑車１２９ に接続された駆動モータ１１９ が、一般的に、３つの磁石アッセンブリ１２１ がセンサ１２４ を通過するまで、時計方向にベルト１１７ を回転させる。この工程により、トレイ３８の左側に位置する試料ラック３３がトレイ１１４ の全長だけ搬送することを確認する。
【００６６】
次いで駆動モータ１１９ が所定の短い距離だけ離れて（一般的に０．０６インチ）反時計方向にベルト１１７ を回転させて、隣接した試料ラックにより、装填位置内の試料ラックに加えられた圧力を解放する。装填位置にある試料ラックへの力を減少させることにより、給送装置５１は試料ラックを供給列１６（図３）から処理列１８（図３）までいっそう容易に駆動できる。
【００６７】
ここではベルト１１７ 、滑車１１８ およびモータ１１９ から構成した駆動システムは完全にトレイ３８および磁石アッセンブリ１２１ からは独立している。したがって、駆動システム１１６ は、電磁手段または他の手段のような磁石アッセンブリ１２１ を搬送させる手段により、構成してもよい。
【００６８】
例えば、磁石アッセンブリは、スイッチを入れたり切ったりして、試料ラックの磁気的吸引性領域を引き付ける電磁石を有するものとして設けてもよい。このように電磁石は、ベルト１１７ と同様のゴンベヤ型ベルトによるか、またはトレイの下で線形方向に前後に搬送するプッシャロッドにより搬送させてもよい。プッシャロッドの手法に関して、プッシャロッドが磁石および試料ラックを装填位置の端の位置から装填位置に近接した位置まで搬送させるときに、電磁石が活性化される。次いで、プッシャロッドが装填位置から電磁石を引っ込めた後に、電磁石が不活性化される。さらに、完全に満たされた供給トレイに関して、ベルト１１７ 上で電磁石を用いた場合には、電磁石を切って、磁力を連続的に試料ラックに対して押し付けるのを防ぐ必要はないが、むしろ、電磁石を切ってもよい。
【００６９】
図６を参照する。図５に関して上述した磁石コンベヤ１１０ の一部の３つの試料ラック３３がその上に配置された様子が示されている。各々の試料ラック３３の上部分が省かれて、各々の試料ラック内に配置された試験管１３０ を暴露している。試料ラック３３の底部分は、切り去られて、断面で、試料ラック３３の底部分内に配置された板１３４ を露出している。この板１３４ は、磁気的吸引性の材料から構成してもよい。
【００７０】
この特定の実施の形態において、板１３４ は、一般的に約３．２ ｍｍ（約０．１２５ インチ）の厚さを有する磁気ステンレス鋼から形成してもよい。しかしながら、別の実施の形態においては、鉄、非ステンレス鋼または磁石材料のような他の材料を用いてもよい。板１３４ を磁石材料から形成する場合には、板１３４ の磁極が磁石アッセンブリ１２１ の磁極とは反対ではないことを確認しなければならない。
【００７１】
磁石アッセンブリ１２１ は、断面で示すように、受け板１３８ 、棒磁石１４０ および磁石カバー１４２ がその上に配置されている、典型的に約２．２ ｍｍ（約０．０９０ インチ）の厚さを有するアルミニウムハウジング１３６ を備えている。受け板１３８ は磁気ステンレス鋼から形成され、一般的に約１．５ ｍｍ（約０．０６０ インチ）の厚さを有している。磁石１４０ は、典型的に約６．４ ｍｍ（約０．２５０ インチ）の厚さを有するネオジム−鉄−ホウ素磁石として用意してもよく、磁石カバー１４２ はアセタールのようなプラスチック材料または典型的に約１．０ ｍｍ（約０．０４０ インチ）の厚さを有する同様の材料から形成してもよい。
【００７２】
磁石アッセンブリ１２１ はベルト１１７ の表面から突出している形材１４４ に接続されている。形材１４４ は図３および４に関して上述した形材８８と同様であってもよい。
【００７３】
磁石アッセンブリ１２１ は、形材１４４ 内に設けられたクリアランスホールを通り、アルミニウムハウジング１３６ 内に設けられたねじ孔と合わさるねじにより形材１４４ に接続されていても差支えなく、もしくは、エポキシまたは当業者に知られた溶接技術により形材１４４ に固定されていてもよい。
【００７４】
受け板１３８ は、各々のベルト１１７ に関して復路接続アッセンブリ１２１ を設けることにより磁石１４０ により設けられた磁界の強さを増大させるように設けられている。受け板１３８ はまた磁石１４０ により形成された磁界の形状を改良する。磁石１４０ は、磁界が、試料ラック３３がその上に配置されたトレイ３８の表面のまたはその上の領域で集束するようなトレイ表面の下の距離だけ離れて配置されている。板１３４ の第１の縁はトレイ表面に対して直角であり、磁石アッセンブリ１２１ が試料ラック３３を引き付けられるような比較的強い磁石対を形成している。板１３４ の第２の後方縁は、以下に記載するように、傾斜した表面を有するように設けられている。
【００７５】
この実施の形態においては、トレイ３８は、典型的に約１．６ ｍｍ（約０．０６２５インチ）の厚さを有するアルミニウムシートから形成されている。試料ラック３３がその上に配置されているアルミニウムシートの表面には、テフロン（商標）のようなポリテトラフルオロエチレン型のコーティングがその上に形成されて、トレイ３８の表面と試料ラック３３の接触表面との間の摩擦力を減少させている。ベルト１１７ は、カバー１４２ の上面がトレイ表面３８と接触しているかまたはその下にわずかに間隔をおいて配置されるようなトレイ表面３８の下の距離だけ間隔がおかれて配置されている。
【００７６】
ここで図７を参照する。ここには、供給列の装填位置に試料ラック３３が配置されたコンベヤ装置１１０ が示されている。図７から分かるように、装填位置は、トレイ３８の肩部３８ｃ により一方の側で定義されたチャンネルに対応している。装填位置ガイド１５０ は装填位置の近接して配置されている。作動中において、試料ラック３３が供給列の装填位置中に動かされるときに、装填位置ガイド１５０ が試料ラック３３の前端部に形成されたスロット１５２ と噛み合う。このガイド１５０ は、試料ラック３３が装填位置内に適切に位置合わせされていることを確実にする。
【００７７】
試料ラック３３が装填位置に到達すると、センサ１２８ が、制御器２８の制御下で給送装置５１を始動し、ベルト８４により形材８８ａ および部材９０（図３）を回転させて、試料ラック３３を処理列上に駆動する信号を送る。形材８８ａ を形材８８の代表とすると、典型的に約２．５４ｃｍ（約１インチ）の高さＨ、典型的に約１．９ ｃｍ（約０．７５０ インチ）の幅Ｗおよび典型的に約３．２ ｍｍ（約０．１２５ インチ）の厚さＴを有する形材８８ａ を用意する。形材８８ａ の底縁８９は、トレイ３８の上面から所定の距離、典型的に約６．４ ｍｍ（約０．２５インチ）だけ間隔が置かれて配置されている。
【００７８】
上述したように、磁石アッセンブリ１２１ はベルト１１７ から突出した形材１４４ と接続されている。磁石アッセンブリ１２１ が形材８８および滑車１１８ａに近接したトレイ３８の端部に近付くときに、磁石アッセンブリ１２１ は滑車１１８ａの端部を越えて延ばされて、試料ラック３３がトレイ３８の装填位置に完全に動かされていることを確認する。このように、上述したように磁石１４０ を形材１４４ に接続することにより、磁石アッセンブリ１２１ が、滑車１１８ａを回るときに、ベルト１１７ の端部を越えて試料ラック３３を搬送させる。
【００７９】
図７から分かるように、滑車１１８ａまたは１１８ｂには、ベルト１１７ 内の対応する凹部と噛み合い、インデキシングを保つ一連の歯がある。
【００８０】
図６に関して上述したように、一度試料ラック３３が装填位置の配置されると、滑車１１８ が回転して、ベルト１１７ をさらに搬送させて、トレイ１１４ 上の他の試料ラック３３を装填位置に向かって搬送させる。ベルト１１７ が装填位置から後ろに離れて短く動いたときに、装填位置まで搬送すべきラインにある次の試料ラックの下に制御器２８により置かれた磁石アッセンブリ１２１ のうちの１つによりベルト１１７ が搬送を停止し、装填位置にある試料ラック３３が装填位置内に止まっている一方で、他の試料ラック３３がわずかに搬送して離れ、装填位置で滞るのを防いでいる。
【００８１】
ここで図８および９を参照する。底面図において、間隔が離れておかれ、トレイ１１４ の対向する端部に配置された１組の同じステンレス鋼の軸１６２，１６４ を備えた駆動アッセンブリ１１６ が示されている。軸１６４ を代表とすると、軸１６４ の各々の端部が、トレイ１１４ の下に延びる取付板１６７ａ，１６７ｂ のそれぞれの端部に示したように取り付けられたボールベアリングアッセンブリ１６６ に接続されている。このボールベアリングアッセンブリ１６６ により、軸１６２，１６４ が取付板１６７ に対して回転できる。各々の軸１６２，１６４ には、組になった駆動滑車１１８ａ，１１８ｂ がその上に取付けられている。１つのベルト滑車１１８ｂの近くには、駆動ギヤ１２３ が配置されている。図９において、別の駆動滑車１７６ が、軸１６４ に接続され、軸１８２ 、滑車１８１ およびベルト１８０ を介して駆動モータ１７７ により駆動されている。
【００８２】
図９から明らかに分かるように、駆動軸１６２ はここでは、肩領域１９６ およびロッキングカラー１９８ の組合せにより互いに保持された１組の軸１９２，１９４ から形成されている。軸１６２，１６４ を多くの別々の片から形成することにより、軸１６２，１６４ を容易に組み立て、修理と交換のために容易にアクセスできるように容易に分解できる。
【００８３】
図９から明らかに分かるように、供給列後縁ガイド４４、装填ガイド８９、および排出列後縁ガイド９９がトレイ１１４ 上に配置されている。
【００８４】
ここで図１０−１７を参照する。ラック３３に相当する試料ラック２００ には、第１と第２の対向端２００ａ，２００ｂ 、上面２００ｃ、底面２００ｄ（図１４）および１組の対向側面２００ｅ，２００ｆ （図１６）がある。必要に応じて、反射部材２０１ が表面２００ｅ上に配置されている。反射部材２０１ は、光を反射して、光学センサ１２８ （図５）を始動させる。このように、反射部材を、センサ１２８ を始動させるように位置合わせされた表面２００ｅのどの部分に沿っても配置しても差支えない。あるいは、好ましくは、部材２０１ を省いて（図１１）、表面２００ｅが反射性材料から作成されているか、または、そこに入射した光を反射してセンサ１２８ を始動させるように研磨されている。
【００８５】
複数の開口部２０２ａ−２０２ｅ がラック２００ の上面２００ｅに形成されている。典型的な場合には、５つの開口部がある。開口部２０２ａ−２０２ｅ は、試料含有容器を受け入れるように選択された形状を有するように設けられている。この特定の実施の形態において、開口部２０２ は、所定のサイズの試験管を収容するように選択された円形を有するように設けられている。各々の開口部２０２ａ−２０２ｅ には、試料ラック２００ の側面２００ｅに対応するスロット２０４ａ−２０４ｅ が形成されている。
【００８６】
スロット２０４ａ−２０４ｅ は、それぞれの開口部２００ａ−２００ｅ の上部から試料ラック２００ の底面２００ｄに向かって延びている。開口部２０２ａ−２０２ｅ 各々の内部にはフィンガースプリング２０６ａ−２０６ｅ が配置されている。ここでは、開口部２０２ は、典型的に約４．３ ｃｍ（約１．７ インチ）の長さおよび典型的に約１．７ ｃｍ（約０．６７５ インチ）の直径を有するように形成されている。スプリング２０６ は、典型的に約３．８ ｃｍ（約１．５ インチ）の長さおよび典型的に約８．０ ｍｍ（約０．３１３ インチ）の幅を有するように形成され、スロットは典型的に約８．８ ｍｍ（約０．３４５ インチ）の幅を有するように形成されている。スロット壁２０５ （図１１）は、典型的に約２．０ ｍｍ（約０．０８インチ）の厚さを有するように形成され、スプリング２０６ とともに、３点で接触して（スプリング２０６ の中央部とスロット２０４ の縁の間の２つの線および点）、様々なサイズの試験管を試料ラック２００ の開口部２０２ 内に固定する。
【００８７】
図１８Ａ−Ｃは、スプリング２０６ の、検査試料容器３４を保持するときの取付けおよび使用中の圧縮を示す試料ラック３３のスロット２０４ の中間から下の断面図である。各々のスロット２０４ の後方には、それぞれ、上部と底部に縁がついたスプリング保持溝２０３ および２０５ がある。これらの溝は、２つの溝２０３ および２０５ を構成するスロット２０４ の各々の側に形成されたリッジ２０７ により形成されている。スプリング２０６ には、溝２０３ および２０５ の先端を越えて滑らせることによりラック内にスプリングを維持するのに役立つ巻かれた端部２０８ がある。スプリング２０６ の圧力が加えられていない通常の位置が図１８Ａに示されている。このスプリングが取付け中に延ばされて、下側の巻かれた端部２０８ が溝２０５ に入るまで、底側端部２０８ が溝２０５ に達することができない。図１８Ｃに示したように試験管を挿入する際には、力２１１ の下でスプリング２０６ にさらに圧力が加えられて、底側端部２０８ を溝２０５ のスラック収容延長部２１３ に下方に延ばす。試験管を取り出した際には、スプリング２０６ が図１８Ｂの状態に戻る。
【００８８】
試験管２１４ にはバーコードラベル２１６ が貼り付けられている。バーコードラベルが貼り付けられている試験管の一部が、スロット２０４ａを通して露出され、したがって、読取器８３に見えるようになっている。
【００８９】
試料ラックは所定の範囲の直径を有する試験管を保持できるが、この範囲内において、同一の試料ラック内には同様の直径を有する試験管を配置することが好ましい。このように、以下に記載するように、各々の試料ラックは１０．２５ ｍｍ−１６．５ｍｍの範囲の直径を有する試験管を保持できるが、特定の範囲内の直径を有する試験管を保持する特定のラックを選定することが望ましい。
【００９０】
この特定の実施の形態においては、開口部２０２ａ−２０２ｅ が円形の断面形状を有するように形成されているが、他の断面形状を用いてもよい。例えば、開口部を、長方形、正方形、三角形または他の断面形状を有するように形成してもよい。また、開口部をテーパー状の壁を有するように形成して、より容易に円錐型容器を保持するようにしてもよい。中に配置する試料含有容器を容易に試料ラック２００ 内に配置したりそこから取り出したりできるように開口部の特定の形状を選択すべきである。さらに、開口部２０２ａ−２０２ｅ 全てが同一の形状を有する必要はない。開口部の大きさおよび形状にかかわらず、上述したスプリングの形状を用いて、その中に試料含有容器を固定し、しっかりと保持することができる。
【００９１】
再度図１０−１７を参照する。試料ラックの前端にはその中に装填スロット１５２ が形成されている。装填スロット１５２ が装填ガイド１５０ を受け入れて、供給列の装填位置内に試料ラック２００ を適切に位置合わせする（図７および９）。
【００９２】
同様に、試料ラック２００ の後端には、供給列縁ガイド４８と合わさり（図２、３）、列縁ガイド９９から出る（図２、３）開口部がある。開口部４６には、供給列上に試料ラック２００ を配置するのに役立ち、ラック２００ が供給列の上で傾いたり、滑るのを防ぐ供給列ガイド４８上の対応する形状と噛み合う凸部２２２ がある。
【００９３】
しかしながら、図９に関して上述したように、後縁ガイド９９はＬ型部材として設けられている。したがって、このガイド９９は、ラックを排出列から容易に取り出せるように開口部４６の前部分４６ａ のみと合わさる。
【００９４】
試料ラック２００ には、使用者が試料ラック２００ を運ぶのに使用するハンドル２２４ もある。ハンドルの上部の角度のついた部分には、凹部２２６ が形成されて、使用者にとって掴みやすい人間工学デザインとなっている。
【００９５】
ハンドル２２４ にも、垂直なバーコードラベル２２９ を取り付けてもよい側面２２８ がある。垂直バーコードラベル２２９ には複数のバーコードが配置されている。バーコードにより、試料ラック２００ 内に収容されている試験管のサイズ（例えば、直径範囲）を認識する。スライディングクリップ２３３ が試料ラック２００ のハンドル２２４ の周りに配置されており、使用者がこのクリップ２３３ を適切に搬送して、試料ラック２００ 内に実際に配置された試験管のサイズを認識する。さらなるバーコード領域２３０ により試料ラックの連続番号を認識する。このように、各々個々の試料ラックには、特有の認識番号が付けられている。
【００９６】
作動中に、試料ラック２００ が供給列から処理列に動かされた場合にはバーコード読取器が、スライディングクリップ２３３ により遮断されていないかまたは強調されているラベル２２９ 上のバーコードを読み取る。このように、バーコード読取器により、試料ラック２００ 内に配置された試験管の種類（すなわち、サイズ）を認識できる。上述したように、試料ラック２００ は異なる直径および形状を有する試験管を保持することができる。しかしながら、試料プローブでの試験管の開口部との位置合せを改良するために、システム制御器が好ましくは試験管の種類を認識している。
【００９７】
ハンドル２２４ を含む試料ラック２００ 全体を、射出成形技術により１つの部品として設けてもよい。あるいは、試料ラック２００ の試験管保持部分およびハンドル２２４ を別々の部品として用意し、ねじ、エポキシ、または当業者によく知られた他の固定技術により互いに合わせてもよい。図１１に示したように、孔２３１ａ，２３１ｂ 内の１組のねじ、例えば、ねじ２３１ｃ（図示せず）によりハンドル２２４ を試料ラック２００ のベース部分に固定してもよい。
【００９８】
図１２から明らかに分かるように、孔２０２ の各々には、必要に応じて、その底部にスロット２２５ を形成してもよく、孔２０２ 内に試験管を安定化してもよい。
【００９９】
試料ラック２００ の底面には、供給および排出列のガイド４２，８０ （図２）と合わさり、これらを収容する溝２３４ が形成されている。
【０１００】
試料ラック２００ の底面には、１組の長方形のキャビティ２４０ （図１３）も形成されている。磁気的吸引性部材２４４ （図１５）がキャビティ２４０ の各々の内部に配置されている。この磁気的吸引性部材は、試料ラックの底面に成形してもよい。同様に、カバー２４６ を部材２４４ の上の試料ラックに固定してもよい。この部材は、試料ラック２００ の緯度の中心線２４５ の周りに対称的に配置されている。
【０１０１】
この特定の実施の形態において、磁気的吸引性部材２４４ の各々は、略長方形の磁気的吸引性ステンレス鋼板として設けてもよい。図１５から明らかに分かるように、底面の第１の部分２４４ｃが試料ラック２００ の底面からわずかに窪んでいる （または実質的に位置合せされている）。板２４４ の第２の部分２４４ｂは上述したようにラック２００ の本体中に傾いている。
【０１０２】
図６に関して記載したように、作動中に、磁石アッセンブリ１２１ が、磁石が最初に部材２４４ の傾いた第２の部分２４４ｂを引き付けるような方向から試料ラックに近付く。このように、磁石アッセンブリ１２１ （図６）により生じた磁界の力が徐々に部材２４４ に導入される。
【０１０３】
１組のカバー２４６ が開口部２４０ の上に配置されている。これらカバー２４６ は、開口部２４０ に近接して形成された溝２４７ （図１５）中にはまる。カバー２４６ は、開口部２４０ 中のスナップフィットを形成してラック２００ 内の板２４４ を固定する一方で、部材２４４ の少なくとも一部を露出したままにする（図１４）ようなサイズおよび形状を有するように選択される。
【０１０４】
この特定の実施の形態において、試料ラック部材２４４ は、試料ラック２００ が図８のコンベヤ装置のようなコンベヤ装置のトレイ上に配置されたときに、ベルト１７０ａ，１７０ｂ （図８）に接続された磁石アッセンブリ１７３ （図８）が部材２４４ の下を直接通過するように、試料ラック２００ の底面に間隔がおかれて配置されている。
【０１０５】
試料ラック２００ の底面からは、１組の凸部またはレール２５０，２５２ が突出している。レール２５０，２５２ は、列表面から部材２４４ とともに試料ラックの底面を、そして試料ラックが配置されている表面から部材２４４ を離している。このように、レール２５０，２５２ は、ラック２００ が配置されているトレイ１１４ （図５、６）の表面と接触する試料ラック２００ の表面積を減少させている。その結果、試料ラック２００ とトレイ３８との間の摩擦力が減少している。これにより、試料ラック２００ をトレイ３８に沿って動かすのに必要とされる磁力が小さてすむ。
【０１０６】
本発明の好ましい実施の形態を記載してきたが、本発明の概念を伴う他の実施の形態を用いてもよい。
【０１０７】
例えば、駆動装置に、１つのベルトおよびそれに結合した磁石を設けても差支えない。ベルトおよび磁石は好ましくは、移送トレイの中央縦軸に沿って配置される。そのような場合、試料ラックには、試料ラックの中心に配置され、試料ラックが移送トレイ上に配置されたときに１つのベルトおよび磁石と位置合せされている１つの磁気的吸引性領域がある。この場合には、試料ラックが、１つの磁石が結合される地点の周りに旋回しないように間隔の置かれたガイドによりそこから突出した１組のガイドを有するトレイを提供することが好ましい場合もある。
【０１０８】
さらに、試料ラックの底面に曲部を有する部材２４４ 用の板を設けずに、各々の端部に異なる厚さを有する板を設けても差支えない。例えば、板の第１の端部が比較的薄く、板の第２の端部が比較的厚くても差支えない。駆動装置に接続された磁石は最初に、板の薄い端部と出会う。この結果、比較的弱く磁気的に接続される。次いで、磁石が比較的強い力で板の厚い端部と噛み合う。この配列により、試料ラックは静止状態から搬送状態に滑らかに移行する。
【０１０９】
これらの実施の形態は、開示された実施の形態に限定されるものではなく、請求項の精神および範囲のみに限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】自動分析装置のブロック図
【図２】供給列、処理列および排出列を有する本発明による試料移送装置の１つの実施の形態を示す斜視図
【図３】試料移送装置の上面図
【図３Ａ】試料移送装置の一部の斜視図
【図４】試料移送装置の斜視図
【図５】試料移送装置の一部の側面図
【図５Ａ】試料移送装置の一部の詳細を示す斜視図
【図５Ｂ】試料移送装置の一部の詳細を示す上面図
【図６】試料ラックおよび磁石アッセンブリの断面図
【図７】試料移送装置の一部の側面図
【図８】駆動装置の底面図
【図９】別の駆動装置の端面図
【図１０】試料ラックの斜視図
【図１１】別の試料ラックの斜視図
【図１２】試料ラックの上面図
【図１３】試料ラックの側面図
【図１４】試料ラックの底面図
【図１５】磁気試料ラックの一部の断面図
【図１６】試料ラックの側面図
【図１７】試料ラック端面図
【図１８Ａ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料ラックスロットの断面図
【図１８Ｂ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料ラックスロットの断面図
【図１８Ｃ】スプリングの取付けおよび圧縮を示す試料ラックスロットの断面図
【符号の説明】
１０ 自動分析装置
１２ 計測器
１４、１１０ 移送装置
１６ 供給列
１８ 処理列
２０ 排出列
２２ 装填位置
２４、５１ 給送装置
２６ バーコード読取器
２８ システム制御器
３０ 排出装置
３２、５０、１３６ ハウジング
３３、２００ 試料ラック
３４、１３０ 試験管
３８、７８、１１４ トレイ
３９、２２４ ハンドル
４２、４４、８０、１５０ ガイド
４６、６４、２０４ スロット
５２ 運搬部材
５３、１１６ 駆動装置
５４ 支持ブロック
５８ スライド
６０ 処理トレイ
６２ プローブチップトレイ
７２ プッシャ
７４ プッシュロッド
８３ バーコード読取器
８４、１１７ ベルト
８６、１１８ 、１２９ 、１７６ 滑車
８８、１４４ 形材
９８、１２４ 、１２８ センサ
１１９ 駆動モータ
１２１ 磁石アッセンブリ
１４４ 磁石
１７７ モータ
２０６ スプリング
２２９ ラベル
２３３ クリップ
２５０ 、２５２ レール