JPH09107273A - パルス発振器 - Google Patents
パルス発振器Info
- Publication number
- JPH09107273A JPH09107273A JP7265125A JP26512595A JPH09107273A JP H09107273 A JPH09107273 A JP H09107273A JP 7265125 A JP7265125 A JP 7265125A JP 26512595 A JP26512595 A JP 26512595A JP H09107273 A JPH09107273 A JP H09107273A
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- Japan
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- constant current
- comparator
- pulse
- discharging
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 集積回路化するパルス発振器の比較器と基準
電源を、それぞれ1個のみで構成する。 【解決手段】 電流源1とP−MOS FET2を通じ
て容量4を充電するのと、N−MOS FET3を通じ
て放電するのとを交互に動作させ、容量4の電位が基準
電源10の電圧VH に達すると、比較器5がR−Sフリ
ップフロップ7をセットするとともに、遅延回路8を経
てリセットし、R−Sフリップフロップ7の出力をP−
MOS FET2とN−MOS FET3のゲートへフ
ィードバックすることにより、パルス発振器を構成す
る。
電源を、それぞれ1個のみで構成する。 【解決手段】 電流源1とP−MOS FET2を通じ
て容量4を充電するのと、N−MOS FET3を通じ
て放電するのとを交互に動作させ、容量4の電位が基準
電源10の電圧VH に達すると、比較器5がR−Sフリ
ップフロップ7をセットするとともに、遅延回路8を経
てリセットし、R−Sフリップフロップ7の出力をP−
MOS FET2とN−MOS FET3のゲートへフ
ィードバックすることにより、パルス発振器を構成す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はパルス発振器に関
し、特に集積回路で構成されるパルス発振器に関する。
し、特に集積回路で構成されるパルス発振器に関する。
【0002】
【従来の技術】パルス発振回路の一構成方法として、定
電流を容量に充放電する回路がある。従来のパルス発振
回路の例としては、図4に示すようなものがある。図4
において、定電流源1、P−MOS FET2、及びN
−MOS FET3を電源(VDD)11とGND(接
地)間に直列に接続し、P−MOS FET2とN−M
OS FET3の接続点とGND間に容量4を接続す
る。
電流を容量に充放電する回路がある。従来のパルス発振
回路の例としては、図4に示すようなものがある。図4
において、定電流源1、P−MOS FET2、及びN
−MOS FET3を電源(VDD)11とGND(接
地)間に直列に接続し、P−MOS FET2とN−M
OS FET3の接続点とGND間に容量4を接続す
る。
【0003】比較器5の(−)入力を容量4に、(+)
入力を基準電源(VH )10に接続し、さらに比較器6
の(+)入力を容量4に、(−)入力を基準電源(VL
)17に接続する。比較器5の出力をR−Sフリップ
フロップ7のS端子に、比較器6の出力をR端子に接続
する。R−Sフリップフロップ7の出力(Q)は、発振
器の出力9とするほか、P−MOS FET2とN−M
OS FET3のゲートへフィードバックする。
入力を基準電源(VH )10に接続し、さらに比較器6
の(+)入力を容量4に、(−)入力を基準電源(VL
)17に接続する。比較器5の出力をR−Sフリップ
フロップ7のS端子に、比較器6の出力をR端子に接続
する。R−Sフリップフロップ7の出力(Q)は、発振
器の出力9とするほか、P−MOS FET2とN−M
OS FET3のゲートへフィードバックする。
【0004】図5はこの従来のパルス発振回路の動作を
説明する波形図で、R−Sフリップフロップ7の出力
(Q)が図5(チ)のL(低電位)の時、P−MOS
FET2がONとなり(N−MOS FET3はOFF
となって)、電流源1は容量4を充電し、図5(ホ)に
示すように電位が上昇する。
説明する波形図で、R−Sフリップフロップ7の出力
(Q)が図5(チ)のL(低電位)の時、P−MOS
FET2がONとなり(N−MOS FET3はOFF
となって)、電流源1は容量4を充電し、図5(ホ)に
示すように電位が上昇する。
【0005】この電位がVH まで上昇すると、比較器5
は出力(図5( ヘ) )を出し、R−Sフリップフロップ
7をセットして、出力(Q)(図5( チ) )をH(高電
位)に反転し、P−MOS FET2をOFFにする。
と同時に、N−MOS FET3をONにして、容量4
の電荷を放電する。容量4の電位(図5( ホ) )がVL
まで低下すると、比較器6が出力(図5( ト) )を出
し、R−Sフリップフロップ7をリセットして、初めの
状態に戻る。このようにして発振が維持されることにな
る。
は出力(図5( ヘ) )を出し、R−Sフリップフロップ
7をセットして、出力(Q)(図5( チ) )をH(高電
位)に反転し、P−MOS FET2をOFFにする。
と同時に、N−MOS FET3をONにして、容量4
の電荷を放電する。容量4の電位(図5( ホ) )がVL
まで低下すると、比較器6が出力(図5( ト) )を出
し、R−Sフリップフロップ7をリセットして、初めの
状態に戻る。このようにして発振が維持されることにな
る。
【0006】図4に示す従来のパルス発振回路の場合、
2個の比較器5及び6と2個の基準電源VH 10及びV
L 17を必要とし、回路の消費電流が大きくなり、回路
規模も大きくなって、集積回路化する際に欠点となる。
2個の比較器5及び6と2個の基準電源VH 10及びV
L 17を必要とし、回路の消費電流が大きくなり、回路
規模も大きくなって、集積回路化する際に欠点となる。
【0007】この問題を解決する手段として、特開昭5
8−34617号公報に記載されるような方法がある。
図6に特開昭58−34617号公報に記載されたパル
ス発振器の例を示す。
8−34617号公報に記載されるような方法がある。
図6に特開昭58−34617号公報に記載されたパル
ス発振器の例を示す。
【0008】図6において、トランジスタ25及び35
と抵抗器36が構成する定電流源37は容量4を常時充
電する。トランジスタ38及び39と抵抗器20が構成
する定電流源21は容量4の電荷を放電する。定電流源
21の電流の方が定電流源37の電流より大きいので、
双方の電流源21及び37がONになったときは、容量
4は放電される。
と抵抗器36が構成する定電流源37は容量4を常時充
電する。トランジスタ38及び39と抵抗器20が構成
する定電流源21は容量4の電荷を放電する。定電流源
21の電流の方が定電流源37の電流より大きいので、
双方の電流源21及び37がONになったときは、容量
4は放電される。
【0009】比較器5の出力(発振器の出力)9がHの
時は、ゲート32を経てトランジスタ30がONとな
り、抵抗器28を短絡するとともに、ゲート33を経て
スイッチ回路23を構成するトランジスタ22をOFF
にする。トランジスタ22がOFFになると、定電流源
21が容量4の電荷を放電する。
時は、ゲート32を経てトランジスタ30がONとな
り、抵抗器28を短絡するとともに、ゲート33を経て
スイッチ回路23を構成するトランジスタ22をOFF
にする。トランジスタ22がOFFになると、定電流源
21が容量4の電荷を放電する。
【0010】電源電圧(VDD)11を抵抗器26と抵抗
器27及び28(ただし、今は抵抗器28は短絡されて
いる)で分割した電圧(基準電圧)まで、容量4の電位
が低下すると、比較器5の出力9はLとなって、トラン
ジスタ30はOFFとなり、抵抗器28の短絡が解け、
基準電圧は上昇する。
器27及び28(ただし、今は抵抗器28は短絡されて
いる)で分割した電圧(基準電圧)まで、容量4の電位
が低下すると、比較器5の出力9はLとなって、トラン
ジスタ30はOFFとなり、抵抗器28の短絡が解け、
基準電圧は上昇する。
【0011】さらに、トランジスタ22はONとなり、
定電流源21はOFFとなって、容量4の電位は上昇す
る。この容量4の電位が上昇した基準電圧に達すると、
比較器5の出力9はHに戻る。これによって発振が維持
される。
定電流源21はOFFとなって、容量4の電位は上昇す
る。この容量4の電位が上昇した基準電圧に達すると、
比較器5の出力9はHに戻る。これによって発振が維持
される。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】図6に示される特開昭
58−34617号公報記載のパルス発振器の場合、比
較器は1個ですむが、電源電圧VDDが変化すると比較器
の基準電圧がそれに応じて変化するので、発振周波数が
変化してしまう問題が残る。
58−34617号公報記載のパルス発振器の場合、比
較器は1個ですむが、電源電圧VDDが変化すると比較器
の基準電圧がそれに応じて変化するので、発振周波数が
変化してしまう問題が残る。
【0013】本発明の目的は、電源電圧等の変化にも安
定な、比較器及び基準電源が1個づつですむ、集積回路
化されたパルス発振器を提供することである。
定な、比較器及び基準電源が1個づつですむ、集積回路
化されたパルス発振器を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明によるパルス発振
器は、容量素子と、この容量素子に対して定電流充電を
なす充電手段と、前記容量素子の放電をなす放電手段
と、前記容量素子の端子電圧と基準電圧とを比較する比
較手段と、この比較出力を一定時間遅延する遅延手段
と、前記比較出力に応答してセットされ前記遅延手段の
出力によりリセットされる双安定手段とを含み、前記双
安定手段の出力に従って前記充電手段及び放電手段を相
補的に活性制御するようにし、前記双安定手段の出力を
発振出力としたことを特徴としている。
器は、容量素子と、この容量素子に対して定電流充電を
なす充電手段と、前記容量素子の放電をなす放電手段
と、前記容量素子の端子電圧と基準電圧とを比較する比
較手段と、この比較出力を一定時間遅延する遅延手段
と、前記比較出力に応答してセットされ前記遅延手段の
出力によりリセットされる双安定手段とを含み、前記双
安定手段の出力に従って前記充電手段及び放電手段を相
補的に活性制御するようにし、前記双安定手段の出力を
発振出力としたことを特徴としている。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の作用は次の通りである。
比較器と発振器出力との間にR−Sフリップフロップ等
の双安定回路と遅延回路を挿入することにより、比較器
出力が発生してからある一定時間、容量の電荷を放電し
て、発振を継続するようにする。
比較器と発振器出力との間にR−Sフリップフロップ等
の双安定回路と遅延回路を挿入することにより、比較器
出力が発生してからある一定時間、容量の電荷を放電し
て、発振を継続するようにする。
【0016】以下に、本発明の実施例について図面を参
照して説明する。
照して説明する。
【0017】図1は本発明によるパルス発振器の実施例
の構成を示すブロック図であり、図2はその動作を説明
する波形図、図3は遅延回路の構成を説明する図で、図
4及び図6と同等部分は同一符号にて示している。
の構成を示すブロック図であり、図2はその動作を説明
する波形図、図3は遅延回路の構成を説明する図で、図
4及び図6と同等部分は同一符号にて示している。
【0018】図1において、定電流源1、P−MOS
FET2、及びN−MOS FET3を電源(VDD)1
1とGND(接地)間に直列に接続し、P−MOS F
ET2とN−MOS FET3の接合点とGND間に容
量4を接続する。比較器5の(−)入力を容量4に、
(+)入力を基準電源(VH )10に接続する。比較器
5の出力をR−Sフリップフロップ7のS端子に、また
遅延回路8を経てR端子に接続する。R−Sフリップフ
ロップ7の出力(Q)は、発振器の出力9とするほか、
P−MOS FET2とN−MOS FET3のゲート
へフィードバックする。
FET2、及びN−MOS FET3を電源(VDD)1
1とGND(接地)間に直列に接続し、P−MOS F
ET2とN−MOS FET3の接合点とGND間に容
量4を接続する。比較器5の(−)入力を容量4に、
(+)入力を基準電源(VH )10に接続する。比較器
5の出力をR−Sフリップフロップ7のS端子に、また
遅延回路8を経てR端子に接続する。R−Sフリップフ
ロップ7の出力(Q)は、発振器の出力9とするほか、
P−MOS FET2とN−MOS FET3のゲート
へフィードバックする。
【0019】図2は、図1に示す本発明の実施例のパル
ス発振回路の動作を説明する波形図で、R−Sフリップ
フロップ7の出力(Q)が図2(ニ)のL(低電位)の
時、P−MOS FET2がONとなり(N−MOS
FET3はOFFとなって)、電流源1は容量4を充電
し、図2(イ)に示すように電位が上昇する。
ス発振回路の動作を説明する波形図で、R−Sフリップ
フロップ7の出力(Q)が図2(ニ)のL(低電位)の
時、P−MOS FET2がONとなり(N−MOS
FET3はOFFとなって)、電流源1は容量4を充電
し、図2(イ)に示すように電位が上昇する。
【0020】この電位がVH まで上昇すると、比較器5
は出力(図2( ロ) )を出し、R−Sフリップフロップ
7をセットして、出力(Q)(図2( ニ) )をH(高電
位)に反転し、P−MOS FET2をOFFにすると
ともに、N−MOS FET3をONにして容量4の電
荷を放電する。遅延回路8で遅れたパルス(図2( ハ)
)はR−Sフリップフロップ7をリセットして、初め
の状態に戻る。このようにして発振が維持されるのであ
る。
は出力(図2( ロ) )を出し、R−Sフリップフロップ
7をセットして、出力(Q)(図2( ニ) )をH(高電
位)に反転し、P−MOS FET2をOFFにすると
ともに、N−MOS FET3をONにして容量4の電
荷を放電する。遅延回路8で遅れたパルス(図2( ハ)
)はR−Sフリップフロップ7をリセットして、初め
の状態に戻る。このようにして発振が維持されるのであ
る。
【0021】図3は遅延回路の構成例で、遅延用ゲート
13と、その出力とGND間に挿入された容量14とで
構成される単位遅延素子を、入力15と出力16との間
に、偶数個タンデムに接続して構成されるが、この例に
限定されるものではない。
13と、その出力とGND間に挿入された容量14とで
構成される単位遅延素子を、入力15と出力16との間
に、偶数個タンデムに接続して構成されるが、この例に
限定されるものではない。
【0022】尚、上記実施例は単なる一例の回路構成を
示すに止まるもので、種々の改変が可能であり、例えば
P−MOS,N−MOS素子を他のスイッチング素子に
代えることができることは明らかである。
示すに止まるもので、種々の改変が可能であり、例えば
P−MOS,N−MOS素子を他のスイッチング素子に
代えることができることは明らかである。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、1個の比
較器と1個の基準電源を持つのみで、電源電圧等の変化
に対しても安定なパルス発振器を構成でき、回路の消費
電流が少なく、回路規模も小さくて、集積回路化しやす
い効果がある。
較器と1個の基準電源を持つのみで、電源電圧等の変化
に対しても安定なパルス発振器を構成でき、回路の消費
電流が少なく、回路規模も小さくて、集積回路化しやす
い効果がある。
【図1】本発明の実施例のブロック図である。
【図2】図1の本発明の実施例の動作を説明する波形図
である。
である。
【図3】遅延回路の構成を示す図である。
【図4】従来のパルス発振器の一例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図5】図4に示す従来のパルス発振器の動作を説明す
る波形図である。
る波形図である。
【図6】従来のパルス発振器の他の一例を示すブロック
図である。
図である。
1 定電流源 2 P−MOS FET 3 N−MOS FET 4 容量素子 5 比較器 7 フリップフロップ 8 遅延回路
Claims (5)
- 【請求項1】 容量素子と、この容量素子に対して定電
流充電をなす充電手段と、前記容量素子の放電をなす放
電手段と、前記容量素子の端子電圧と基準電圧とを比較
する比較手段と、この比較出力を一定時間遅延する遅延
手段と、前記比較出力に応答してセットされ前記遅延手
段の出力によりリセットされる双安定手段とを含み、前
記双安定手段の出力に従って前記充電手段及び放電手段
を相補的に活性制御するようにし、前記双安定手段の出
力を発振出力としたことを特徴とするパルス発振回路。 - 【請求項2】 前記定電流充電手段は、定電流源と、前
記双安定手段の出力でオンオフ制御される第1のスイッ
チング素子とを有し、この第1のスイッチング素子のオ
ン時に前記定電流源の電流を前記容量素子へ供給するよ
うにしたことを特徴とする請求項1記載のパルス発振回
路。 - 【請求項3】 前記放電手段は、前記第1のスイッチン
グ素子のオンオフとは相補的なオンオフ動作をなす第2
のスイッチング素子を有し、この第2のスイッチング素
子のオン時前記容量素子の放電をなすようにしたことを
特徴とする請求項2記載のパルス発振回路。 - 【請求項4】 前記第1及び第2のスイッチング素子は
互いに逆導電型のトランジスタであることを特徴とする
請求項3記載のパルス発振回路。 - 【請求項5】 前記双安定手段はセットリセットフリッ
プフロップであることを特徴とする請求項1〜4いずれ
か記載のパルス発振回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7265125A JPH09107273A (ja) | 1995-10-13 | 1995-10-13 | パルス発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7265125A JPH09107273A (ja) | 1995-10-13 | 1995-10-13 | パルス発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09107273A true JPH09107273A (ja) | 1997-04-22 |
Family
ID=17412974
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7265125A Withdrawn JPH09107273A (ja) | 1995-10-13 | 1995-10-13 | パルス発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09107273A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006352384A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 集積回路内蔵発振器 |
| US8212624B2 (en) | 2008-08-07 | 2012-07-03 | Panasonic Corporation | Reference frequency generation circuit, semiconductor integrated circuit, and electronic device |
| JP2013165422A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | 回路装置、集積回路および検出装置 |
| US9310240B2 (en) | 2011-03-22 | 2016-04-12 | Seiko Epson Corporation | Circuit device, integrated circuit and detection device |
-
1995
- 1995-10-13 JP JP7265125A patent/JPH09107273A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006352384A (ja) * | 2005-06-15 | 2006-12-28 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 集積回路内蔵発振器 |
| US8212624B2 (en) | 2008-08-07 | 2012-07-03 | Panasonic Corporation | Reference frequency generation circuit, semiconductor integrated circuit, and electronic device |
| US9310240B2 (en) | 2011-03-22 | 2016-04-12 | Seiko Epson Corporation | Circuit device, integrated circuit and detection device |
| JP2013165422A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Seiko Epson Corp | 回路装置、集積回路および検出装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20030107 |