JPH09213769A - 半導体ウェハの搬送装置 - Google Patents
半導体ウェハの搬送装置Info
- Publication number
- JPH09213769A JPH09213769A JP8050710A JP5071096A JPH09213769A JP H09213769 A JPH09213769 A JP H09213769A JP 8050710 A JP8050710 A JP 8050710A JP 5071096 A JP5071096 A JP 5071096A JP H09213769 A JPH09213769 A JP H09213769A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- semiconductor wafer
- carrier
- semiconductor
- wafer stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/76—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches
- H10P72/7604—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H10P72/7611—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by edge profile or support profile
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/50—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/70—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping
- H10P72/76—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches
- H10P72/7604—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H10P72/7626—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for supporting or gripping using mechanical means, e.g. clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by the construction of the shaft
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/136—Associated with semiconductor wafer handling including wafer orienting means
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/141—Associated with semiconductor wafer handling includes means for gripping wafer
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構造のウェハステージにより、半導体
ウェハの載置における位置決めを確実にすると共に、回
転中の半導体ウェハを確実に保持し、さらに、口径の異
なる半導体ウェハに対しても一種類のウェハステージで
柔軟に対応できる半導体ウェハの搬送装置を提供する。 【解決手段】 搬送装置をウェハキャリア30を載置す
るキャリアステーション3と、半導体ウェハ5を搬送す
る搬送アーム2と、半導体ウェハ5を載置するウェハス
テージ1により構成する。ウェハステージ1を支持軸1
1と4本の保持腕12により構成する。支持軸11を水
平方向に回転すると共に昇降可能に設ける。それぞれの
保持腕12を斜め上方に向けて湾曲して設ける。
ウェハの載置における位置決めを確実にすると共に、回
転中の半導体ウェハを確実に保持し、さらに、口径の異
なる半導体ウェハに対しても一種類のウェハステージで
柔軟に対応できる半導体ウェハの搬送装置を提供する。 【解決手段】 搬送装置をウェハキャリア30を載置す
るキャリアステーション3と、半導体ウェハ5を搬送す
る搬送アーム2と、半導体ウェハ5を載置するウェハス
テージ1により構成する。ウェハステージ1を支持軸1
1と4本の保持腕12により構成する。支持軸11を水
平方向に回転すると共に昇降可能に設ける。それぞれの
保持腕12を斜め上方に向けて湾曲して設ける。
Description
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、加工が終了した半導体
ウェハの検査において、ウェハキャリアから半導体ウェ
ハを抜き取り検査装置に搬送する、または検査を終了し
た半導体ウェハをウェハキャリアに装填する半導体ウェ
ハの搬送装置に関するものである。
ウェハの検査において、ウェハキャリアから半導体ウェ
ハを抜き取り検査装置に搬送する、または検査を終了し
た半導体ウェハをウェハキャリアに装填する半導体ウェ
ハの搬送装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】加工が終了した半導体ウェハの表面検査
において、近年、人件費の削減、スループットの向上な
どを目的として自動化が進み、ウェハキャリアから半導
体ウェハを抜き取り検査装置に搬送する、または検査を
終了した半導体ウェハをウェハキャリアに装填する搬送
装置が多く開発されている。これらは例えば図7に示す
ように、昇降可能に設けられウェハキャリア30を載置
するキャリアステーション3aと、半導体ウェハ5を搬
送する搬送アーム2aと、水平方向に回転可能に設けら
れ半導体ウェハ5を載置するウェハステージ8と、ウェ
ハステージ8の周辺に設けられ半導体ウェハ5の位置決
めをするガイド9とから構成されている。このウェハス
テージ8へ半導体ウェハ5を載置する際は、その位置決
めをガイド9により行い、ウェハステージ8の外周部に
複数設けられた突起81の上に載置される。
において、近年、人件費の削減、スループットの向上な
どを目的として自動化が進み、ウェハキャリアから半導
体ウェハを抜き取り検査装置に搬送する、または検査を
終了した半導体ウェハをウェハキャリアに装填する搬送
装置が多く開発されている。これらは例えば図7に示す
ように、昇降可能に設けられウェハキャリア30を載置
するキャリアステーション3aと、半導体ウェハ5を搬
送する搬送アーム2aと、水平方向に回転可能に設けら
れ半導体ウェハ5を載置するウェハステージ8と、ウェ
ハステージ8の周辺に設けられ半導体ウェハ5の位置決
めをするガイド9とから構成されている。このウェハス
テージ8へ半導体ウェハ5を載置する際は、その位置決
めをガイド9により行い、ウェハステージ8の外周部に
複数設けられた突起81の上に載置される。
【0003】ところが、キャリア30に装填されている
半導体ウェハ5、または他の搬送装置(図示せず)から
ウェハステージ8に載置された半導体ウェハ5には僅か
な位置ずれが生じることがあり、この位置ずれによりウ
ェハステージ8から落下する不具合が発生する。
半導体ウェハ5、または他の搬送装置(図示せず)から
ウェハステージ8に載置された半導体ウェハ5には僅か
な位置ずれが生じることがあり、この位置ずれによりウ
ェハステージ8から落下する不具合が発生する。
【0004】特に、半導体ウェハの大口径化に伴う回転
運動の慣性よるこの位置ずれへの影響が大きくなるた
め、これを改善するものとして、特開平7−27317
1号公報に示された「円盤状物体の取扱装置」が提案さ
れている。これは、回転するウェハステージに、載置す
る半導体ウェハの位置決めをするセンタリングガイドの
シューと、半導体ウェハの底面を吸着する吸着台を設け
ることにより、半導体ウェハをステージに吸着し、回転
中の半導体ウェハが動かないように確実に保持するよう
にしたものである。
運動の慣性よるこの位置ずれへの影響が大きくなるた
め、これを改善するものとして、特開平7−27317
1号公報に示された「円盤状物体の取扱装置」が提案さ
れている。これは、回転するウェハステージに、載置す
る半導体ウェハの位置決めをするセンタリングガイドの
シューと、半導体ウェハの底面を吸着する吸着台を設け
ることにより、半導体ウェハをステージに吸着し、回転
中の半導体ウェハが動かないように確実に保持するよう
にしたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
「円盤状物体の取扱装置」では、回転中の半導体ウェハ
が動かないように確実にステージ上に保持されるもの
の、そのステージの構造は複雑なものとならざるを得な
く、装置が大型化し且つ高価になるという問題点があっ
た。また、口径の異なる半導体ウェハを搬送する際は、
その半導体ウェハの口径に応じたステージに交換する
か、または半導体ウェハの口径に応じた台数の搬送装置
を装備する必要があるという問題点があった。本発明
は、上記問題に鑑みてなされたもので、簡単な構造のウ
ェハステージにより、半導体ウェハの載置における位置
決めを確実にすると共に、回転中の半導体ウェハを確実
に保持し、さらに、口径の異なる半導体ウェハに対して
も一種類のウェハステージで柔軟に対応できる半導体ウ
ェハの搬送装置を提供することを目的とするものであ
る。
「円盤状物体の取扱装置」では、回転中の半導体ウェハ
が動かないように確実にステージ上に保持されるもの
の、そのステージの構造は複雑なものとならざるを得な
く、装置が大型化し且つ高価になるという問題点があっ
た。また、口径の異なる半導体ウェハを搬送する際は、
その半導体ウェハの口径に応じたステージに交換する
か、または半導体ウェハの口径に応じた台数の搬送装置
を装備する必要があるという問題点があった。本発明
は、上記問題に鑑みてなされたもので、簡単な構造のウ
ェハステージにより、半導体ウェハの載置における位置
決めを確実にすると共に、回転中の半導体ウェハを確実
に保持し、さらに、口径の異なる半導体ウェハに対して
も一種類のウェハステージで柔軟に対応できる半導体ウ
ェハの搬送装置を提供することを目的とするものであ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】このため本発明では、昇
降可能に設けられウェハキャリアを載置するキャリアス
テーションと、半導体ウェハを搬送する搬送アームと、
水平方向に回転可能に設けられ半導体ウェハを載置する
ウェハステージとからなる半導体ウェハの搬送装置にお
いて、前記ウェハステージを、水平方向に回転すると共
に昇降可能に設けられた支持軸と、該支持軸の頂部にこ
の支持軸を中心として放射状に斜め上方に向けて形成さ
れた少なくとも3本の保持腕とで構成し、前記ウェハス
テージが前記搬送アームと同調して昇降及び回転をする
ことにより、前記搬送アームによる半導体ウェハの載置
及び取り上げを行うようにしたものである。
降可能に設けられウェハキャリアを載置するキャリアス
テーションと、半導体ウェハを搬送する搬送アームと、
水平方向に回転可能に設けられ半導体ウェハを載置する
ウェハステージとからなる半導体ウェハの搬送装置にお
いて、前記ウェハステージを、水平方向に回転すると共
に昇降可能に設けられた支持軸と、該支持軸の頂部にこ
の支持軸を中心として放射状に斜め上方に向けて形成さ
れた少なくとも3本の保持腕とで構成し、前記ウェハス
テージが前記搬送アームと同調して昇降及び回転をする
ことにより、前記搬送アームによる半導体ウェハの載置
及び取り上げを行うようにしたものである。
【0007】また、昇降可能に設けられウェハキャリア
を載置するキャリアステーションと、半導体ウェハを搬
送する搬送アームと、水平方向に回転可能に設けられ半
導体ウェハを載置するウェハステージと、該ウェハステ
ージに載置された半導体ウェハのオリフラの位置を感知
するセンサーとからなる半導体ウェハの搬送装置におい
て、前記ウェハステージを、水平方向に回転すると共に
昇降可能に設けられた支持軸と、該支持軸の頂部にこの
支持軸を中心として放射状に斜め上方に向けて形成され
た少なくとも4本の保持腕とで構成し、前記ウェハステ
ージが前記搬送アームと同調して昇降及び回転をするこ
とにより、半導体ウェハのオリフラ位置を一定にして前
記キャリアウェハ内に装填できるようにしたものであ
る。
を載置するキャリアステーションと、半導体ウェハを搬
送する搬送アームと、水平方向に回転可能に設けられ半
導体ウェハを載置するウェハステージと、該ウェハステ
ージに載置された半導体ウェハのオリフラの位置を感知
するセンサーとからなる半導体ウェハの搬送装置におい
て、前記ウェハステージを、水平方向に回転すると共に
昇降可能に設けられた支持軸と、該支持軸の頂部にこの
支持軸を中心として放射状に斜め上方に向けて形成され
た少なくとも4本の保持腕とで構成し、前記ウェハステ
ージが前記搬送アームと同調して昇降及び回転をするこ
とにより、半導体ウェハのオリフラ位置を一定にして前
記キャリアウェハ内に装填できるようにしたものであ
る。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は本発明に係る半導体ウェハ
の搬送装置の斜視図、図2は搬送装置のウェハステージ
の部分斜視図、図3は搬送装置のウェハステージと搬送
アームの作動を示す部分側面図である。
に基づいて説明する。図1は本発明に係る半導体ウェハ
の搬送装置の斜視図、図2は搬送装置のウェハステージ
の部分斜視図、図3は搬送装置のウェハステージと搬送
アームの作動を示す部分側面図である。
【0009】図1に示すように、本実施の形態の搬送装
置は、昇降可能に設けられウェハキャリア30を載置す
るキャリアステーション3と、伸縮可能に設けられ半導
体ウェハ5を搬送する搬送アーム2と、水平方向に回転
可能に設けられ半導体ウェハ5を載置するウェハステー
ジ1と、ウェハステージ1に載置された半導体ウェハ5
のオリフラの位置を感知するセンサー4により構成され
ている。また、搬送アム2の先端には真空チャック21
が設けられ、半導体ウェハ5の底面を吸着する。
置は、昇降可能に設けられウェハキャリア30を載置す
るキャリアステーション3と、伸縮可能に設けられ半導
体ウェハ5を搬送する搬送アーム2と、水平方向に回転
可能に設けられ半導体ウェハ5を載置するウェハステー
ジ1と、ウェハステージ1に載置された半導体ウェハ5
のオリフラの位置を感知するセンサー4により構成され
ている。また、搬送アム2の先端には真空チャック21
が設けられ、半導体ウェハ5の底面を吸着する。
【0010】図2に示すように、ウェハステージ1は、
水平方向に回転すると共に昇降可能に設けられた支持軸
11と、この支持軸11を中心としてその頂部に放射状
に設けられた4本の保持腕12からなり、それぞれの保
持腕12は斜め上方に向けて湾曲して設けられている。
水平方向に回転すると共に昇降可能に設けられた支持軸
11と、この支持軸11を中心としてその頂部に放射状
に設けられた4本の保持腕12からなり、それぞれの保
持腕12は斜め上方に向けて湾曲して設けられている。
【0011】図1に示すように、ウェハステージ1の回
転面の外側にはセンサー4が設けられ、回転する半導体
ウェハ5のオリフラ51の位置を感知し、オリフラ51
の位置が常に一定になるようにウェハステージ1の回転
を停止させた後に、搬送アーム2が半導体ウェハ5を取
り上げてキャリアウェハ30に装填することにより、そ
れぞれの半導体ウェハ5のオリフラ51の方向がキャリ
アウェハ30内で一定になるように収納される。
転面の外側にはセンサー4が設けられ、回転する半導体
ウェハ5のオリフラ51の位置を感知し、オリフラ51
の位置が常に一定になるようにウェハステージ1の回転
を停止させた後に、搬送アーム2が半導体ウェハ5を取
り上げてキャリアウェハ30に装填することにより、そ
れぞれの半導体ウェハ5のオリフラ51の方向がキャリ
アウェハ30内で一定になるように収納される。
【0012】ここで、ウェハステージ1と搬送アーム2
の作動について説明する。ウェハステージ1は搬送アー
ム2の伸縮と同調して昇降及び回転をするように制御さ
れる。すなわち、図3(a)に示すように半導体ウェハ
5をウェハステージ1に載置する際は、搬送アーム2が
延びてウェハステージ1の上に移動した後に、図3
(b)に示すようにウェハステージ1が上昇することに
より、半導体ウェハ5の周縁部がそれぞれの保持腕12
の中間上面に当接すると同時に、真空チャック21(図
1参照)による半導体ウェハ5の吸着を停止すことよ
り、半導体ウェハ5はウェハステージ1の上に載置され
る。また、反対に半導体ウェハ5をウェハステージ1か
ら取り上げる際は、図3(b)に示すようにウェハステ
ージ1が上昇した後に搬送アーム2が延びて半導体ウェ
ハ5の下に入り込み、その後図3(a)に示すようにウ
ェハステージ1が降下し半導体ウェハ5の底面が搬送ア
ーム2に当接すると同時に、真空チャック21(図1参
照)が半導体ウェハ5を吸着することによりウェハステ
ージ1から取り上げる。
の作動について説明する。ウェハステージ1は搬送アー
ム2の伸縮と同調して昇降及び回転をするように制御さ
れる。すなわち、図3(a)に示すように半導体ウェハ
5をウェハステージ1に載置する際は、搬送アーム2が
延びてウェハステージ1の上に移動した後に、図3
(b)に示すようにウェハステージ1が上昇することに
より、半導体ウェハ5の周縁部がそれぞれの保持腕12
の中間上面に当接すると同時に、真空チャック21(図
1参照)による半導体ウェハ5の吸着を停止すことよ
り、半導体ウェハ5はウェハステージ1の上に載置され
る。また、反対に半導体ウェハ5をウェハステージ1か
ら取り上げる際は、図3(b)に示すようにウェハステ
ージ1が上昇した後に搬送アーム2が延びて半導体ウェ
ハ5の下に入り込み、その後図3(a)に示すようにウ
ェハステージ1が降下し半導体ウェハ5の底面が搬送ア
ーム2に当接すると同時に、真空チャック21(図1参
照)が半導体ウェハ5を吸着することによりウェハステ
ージ1から取り上げる。
【0013】したがって、図2に示すように、ウェハス
テージ1に載置された半導体ウェハ5は、その周縁部が
それぞれの保持腕12の中間部上面に当接することによ
り、ウェハステージ1に4点で確実に保持される。ま
た、半導体ウェハ5を回転する場合においても、半導体
ウェハ5はそれぞれの保持腕12により四方から保持さ
れており、その回転運動の慣性により水平方向に動くこ
とはない。さらに、オリフラ51の位置が1つの保持腕
12に面した場合でも、他の3本の保持腕12により保
持される。
テージ1に載置された半導体ウェハ5は、その周縁部が
それぞれの保持腕12の中間部上面に当接することによ
り、ウェハステージ1に4点で確実に保持される。ま
た、半導体ウェハ5を回転する場合においても、半導体
ウェハ5はそれぞれの保持腕12により四方から保持さ
れており、その回転運動の慣性により水平方向に動くこ
とはない。さらに、オリフラ51の位置が1つの保持腕
12に面した場合でも、他の3本の保持腕12により保
持される。
【0014】
【実施例】次に各実施例を図面に基づき説明する。 実施例1 図4は実施例1の搬送装置のウェハステージの部分斜視
図、図5はA−A線における部分拡大断面図である。
図、図5はA−A線における部分拡大断面図である。
【0015】図4に示すように、実施例1の搬送装置の
ウェハステージ6は、支持軸61と4本の保持腕62と
からなり、異なる口径の半導体ウェハ5a、5bを載置
できるように設けられている。それぞれの保持腕62と
半導体ウェハ5a、5bとのそれぞれの当接部分には、
凹部63、64が設けられている。
ウェハステージ6は、支持軸61と4本の保持腕62と
からなり、異なる口径の半導体ウェハ5a、5bを載置
できるように設けられている。それぞれの保持腕62と
半導体ウェハ5a、5bとのそれぞれの当接部分には、
凹部63、64が設けられている。
【0016】図5に示すように、凹部63、64は、そ
れぞれ僅かに外側に傾斜した外周面63a、64aと、
略水平な載置面63b、64bとからなり、半導体ウェ
ハ5a、5bの外縁部がこれらの凹部63、64に収ま
りやすいようにされている。したがって、半導体ウェハ
5a、5bを載置する際に、僅かな位置ずれがあって
も、これらの凹部63、64により確実な位置決めがで
きる。
れぞれ僅かに外側に傾斜した外周面63a、64aと、
略水平な載置面63b、64bとからなり、半導体ウェ
ハ5a、5bの外縁部がこれらの凹部63、64に収ま
りやすいようにされている。したがって、半導体ウェハ
5a、5bを載置する際に、僅かな位置ずれがあって
も、これらの凹部63、64により確実な位置決めがで
きる。
【0017】実施例2 図6は実施例2の搬送装置のウェハステージの部分側断
面図である。図6に示すように、実施例2の搬送装置の
ウェハステージ7の保持軸72には、その表面に弾力性
を有する樹脂製のカバー73が設けられている。このカ
バー73により、半導体ウェハ5cをウェハステージ7
に載置した際、その当接面における衝撃を和らげること
ができる。
面図である。図6に示すように、実施例2の搬送装置の
ウェハステージ7の保持軸72には、その表面に弾力性
を有する樹脂製のカバー73が設けられている。このカ
バー73により、半導体ウェハ5cをウェハステージ7
に載置した際、その当接面における衝撃を和らげること
ができる。
【0018】実施例3 図7は実施例3の搬送装置のウェハステージの部分側断
面図である。図7に示すように、実施例3のウェハステ
ージ65には、実施例1のウェハステージ6と同様に凹
部66、67が設けられ、その周辺部が樹脂でコーティ
ングされている。半導体ウェハ5aを載置する際に僅か
な位置ずれがあっても、このコーティング表面68が滑
り易いため、より確実に位置決めをできる。
面図である。図7に示すように、実施例3のウェハステ
ージ65には、実施例1のウェハステージ6と同様に凹
部66、67が設けられ、その周辺部が樹脂でコーティ
ングされている。半導体ウェハ5aを載置する際に僅か
な位置ずれがあっても、このコーティング表面68が滑
り易いため、より確実に位置決めをできる。
【0019】尚、上記のカバー73やコーティング表面
68の材質としては、その弾力性と半導体ウェハへの汚
染を考慮しポリ四フッ化エチレンやポリ三フッ化塩化エ
チレン等の樹脂が好適である。
68の材質としては、その弾力性と半導体ウェハへの汚
染を考慮しポリ四フッ化エチレンやポリ三フッ化塩化エ
チレン等の樹脂が好適である。
【0020】
【発明の効果】本発明では以上のように構成したので、
簡単な構造のウェハステージにより下記の優れた効果が
ある。 (1)半導体ウェハがウェハステージに載置される前に
位置ずれがあった場合でも、落下事故が発生することは
ない。 (2)半導体ウェハの載置における位置決めを確実にす
る。 (3)回転中の半導体ウェハを確実に保持し、位置ずれ
や落下を防止できる。 (4)口径の異なる半導体ウェハに対しても一種類のウ
ェハステージで柔軟に対応できるできる。
簡単な構造のウェハステージにより下記の優れた効果が
ある。 (1)半導体ウェハがウェハステージに載置される前に
位置ずれがあった場合でも、落下事故が発生することは
ない。 (2)半導体ウェハの載置における位置決めを確実にす
る。 (3)回転中の半導体ウェハを確実に保持し、位置ずれ
や落下を防止できる。 (4)口径の異なる半導体ウェハに対しても一種類のウ
ェハステージで柔軟に対応できるできる。
【図1】本発明に係る半導体ウェハの搬送装置の斜視図
ある。
ある。
【図2】搬送装置のウェハステージの部分斜視図であ
る。
る。
【図3】搬送装置のウェハステージと搬送アームの作動
を示す部分側面図である。
を示す部分側面図である。
【図4】実施例1の搬送装置のウェハステージの部分斜
視図である。
視図である。
【図5】A−A線における部分拡大断面図である。
【図6】実施例2の搬送装置のウェハステージの部分側
断面図である。
断面図である。
【図7】実施例3の搬送装置のウェハステージの部分側
断面図である。
断面図である。
【図8】従来技術の搬送装置の斜視図である。
1・・・・・・ウェハステージ 11・・・・支持軸 12・・・・保持腕 2・・・・・・搬送アーム 3・・・・・・キャリアステーション 30・・・・ウェハキャリア 4・・・・・・センサー 5・・・・・・半導体ウェハ 51・・・・オリフラ
Claims (6)
- 【請求項1】 昇降可能に設けられウェハキャリアを載
置するキャリアステーションと、半導体ウェハを搬送す
る搬送アームと、、水平方向に回転可能に設けられ半導
体ウェハを載置するウェハステージとからなる半導体ウ
ェハの搬送装置において、前記ウェハステージを、水平
方向に回転すると共に昇降可能に設けられた支持軸と、
該支持軸の頂部にこの支持軸を中心として放射状に斜め
上方に向けて形成された少なくとも3本の保持腕とで構
成し、前記ウェハステージが前記搬送アームと同調して
昇降及び回転をすることにより、前記搬送アームによる
半導体ウェハの載置及び取り上げを行うようにしたこと
を特徴とする半導体ウェハの搬送装置。 - 【請求項2】 昇降可能に設けられウェハキャリアを載
置するキャリアステーションと、半導体ウェハを搬送す
る搬送アームと、水平方向に回転可能に設けられ半導体
ウェハを載置するウェハステージと、該ウェハステージ
に載置された半導体ウェハのオリフラの位置を感知する
センサーとからなる半導体ウェハの搬送装置において、
前記ウェハステージを、水平方向に回転すると共に昇降
可能に設けられた支持軸と、該支持軸の頂部にこの支持
軸を中心として放射状に斜め上方に向けて形成された少
なくとも4本の保持腕とで構成し、前記ウェハステージ
が前記搬送アームと同調して昇降及び回転をすることに
より、半導体ウェハのオリフラ位置を一定にして前記キ
ャリアウェハ内に装填できるようにしたことを特徴とす
る半導体ウェハの搬送装置。 - 【請求項3】 それぞれの保持腕の上面上の支持軸の中
心から等距離にある位置に、半導体ウェハの周縁部が当
接する凹部を設け、該凹部がそれぞれ外側に傾斜した外
周面と、略水平な載置面からなるように設けたことを特
徴とする請求項1または請求項2記載の半導体ウェハの
搬送装置。 - 【請求項4】 それぞれの保持腕に口径が異なる半導体
ウェハに対応した複数の凹部を設けたことを特徴とする
請求項3記載の半導体ウェハの搬送装置。 - 【請求項5】 それぞれの保持腕の表面が弾力性を有す
る樹脂性カバーにより覆われていることを特徴とする請
求項1または請求項2記載の半導体ウェハの搬送装置。 - 【請求項6】 それぞれの保持腕の少なくとも凹部が樹
脂コーティングされていることを特徴とする請求項3ま
たは請求項4記載の半導体ウェハの搬送装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8050710A JPH09213769A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 半導体ウェハの搬送装置 |
| TW085115129A TW306904B (en) | 1996-01-31 | 1996-12-06 | The transportation apparatus of semiconductor wafer |
| US08/791,579 US5885054A (en) | 1996-01-31 | 1997-01-31 | Carrying device for semiconductor wafers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8050710A JPH09213769A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 半導体ウェハの搬送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09213769A true JPH09213769A (ja) | 1997-08-15 |
Family
ID=12866460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8050710A Pending JPH09213769A (ja) | 1996-01-31 | 1996-01-31 | 半導体ウェハの搬送装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5885054A (ja) |
| JP (1) | JPH09213769A (ja) |
| TW (1) | TW306904B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002175973A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法 |
| DE60026476D1 (de) * | 2000-12-21 | 2006-05-04 | Oxford Instr Plasma Technology | Substrateneinschleusenvorrichtung |
| US6530157B1 (en) | 2001-09-04 | 2003-03-11 | Process Integration | Precise positioning device for workpieces |
| US9082801B2 (en) * | 2012-09-05 | 2015-07-14 | Industrial Technology Research Institute | Rotatable locating apparatus with dome carrier and operating method thereof |
| US9373534B2 (en) | 2012-09-05 | 2016-06-21 | Industrial Technology Research Institute | Rotary positioning apparatus with dome carrier, automatic pick-and-place system, and operating method thereof |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4682928A (en) * | 1982-05-24 | 1987-07-28 | Proconics International, Inc. | Wafer transfer apparatus |
| JPS6372138A (ja) * | 1986-09-12 | 1988-04-01 | Metsukusu:Kk | シリコンウエハ−の位置決め装置 |
| KR900006017B1 (ko) * | 1987-12-18 | 1990-08-20 | 한국전기통신공사 | 가변직경형 웨이퍼운송장치 |
| JPH0210753A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-16 | Tatsumo Kk | 基板取扱に於ける搬送装置 |
| JPH0671042B2 (ja) * | 1989-06-29 | 1994-09-07 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 位置修正型基板支持装置 |
| JPH0736417B2 (ja) * | 1989-10-24 | 1995-04-19 | 株式会社メツクス | ウエハーの位置決め装置 |
| JPH04749A (ja) * | 1990-04-18 | 1992-01-06 | Oki Electric Ind Co Ltd | フラットパッケージicの構造とその搭載方法 |
| JPH0410529A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-14 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | サセプタ及びウエーハ自動脱着装置 |
| JP2884522B2 (ja) * | 1990-06-29 | 1999-04-19 | 沖電気工業株式会社 | ウエハ移し換え装置 |
| JPH04167541A (ja) * | 1990-10-31 | 1992-06-15 | Fujitsu Ltd | 基板の位置決め方法とその装置 |
| US5566466A (en) * | 1994-07-01 | 1996-10-22 | Ontrak Systems, Inc. | Spindle assembly with improved wafer holder |
| US5669644A (en) * | 1995-11-13 | 1997-09-23 | Kokusai Electric Co., Ltd. | Wafer transfer plate |
| KR0165350B1 (ko) * | 1995-12-13 | 1999-02-18 | 김광호 | 반도체웨이퍼 공급장치 |
-
1996
- 1996-01-31 JP JP8050710A patent/JPH09213769A/ja active Pending
- 1996-12-06 TW TW085115129A patent/TW306904B/zh active
-
1997
- 1997-01-31 US US08/791,579 patent/US5885054A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5885054A (en) | 1999-03-23 |
| TW306904B (en) | 1997-06-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5332352A (en) | Robot prealigner | |
| JP5259907B2 (ja) | 加工ツール、加工物を位置合わせする方法、及び加工物を次々に加工する方法 | |
| US6361648B1 (en) | Wafer transfer station for a chemical mechanical polisher | |
| US8403619B2 (en) | High speed substrate aligner apparatus | |
| US9601362B2 (en) | High speed substrate aligner apparatus | |
| EP1098830B1 (en) | Wafer carrier and method for handling of wafers with minimal contact | |
| JP2004515073A5 (ja) | ||
| JPWO2007088927A1 (ja) | 基板交換装置及び基板処理装置並びに基板検査装置 | |
| WO2023163251A1 (ko) | Cmp 공정용 다중 웨이퍼 이송 장치 | |
| US6114705A (en) | System for correcting eccentricity and rotational error of a workpiece | |
| JPH11354614A (ja) | 基板姿勢制御装置及び基板姿勢制御方法 | |
| US6682295B2 (en) | Flatted object passive aligner | |
| US20030017042A1 (en) | Apparatus for clamping and transporting a semiconductor wafer | |
| US5885054A (en) | Carrying device for semiconductor wafers | |
| JP2657466B2 (ja) | 円盤状物体の取り扱い装置 | |
| JPH0685408B2 (ja) | ウエハ−ロ−ディング装置 | |
| JP3624590B2 (ja) | ウェハー処理装置 | |
| CN210837694U (zh) | 基板交接机构及基板处理装置 | |
| JPH10154740A (ja) | ウェハとトレーのセッティングシステムとそのためのトレーへのウェハセッティング装置 | |
| EP0508748A2 (en) | Wafer centering system | |
| CN223378154U (zh) | 一种晶圆搬送装置 | |
| JP2628342B2 (ja) | 縦型熱処理装置 | |
| CN119447016A (zh) | 一种晶圆搬送装置 | |
| JPH05206251A (ja) | オリエンテイションフラット位置合わせ装置 | |
| JPH02139947A (ja) | 熱処理炉への基板装填搬送装置 |