JPH09283550A - 半導体装置の製造方法及びそれに用いられる樹脂タブレット - Google Patents

半導体装置の製造方法及びそれに用いられる樹脂タブレット

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JPH09283550A
JPH09283550A JP8094169A JP9416996A JPH09283550A JP H09283550 A JPH09283550 A JP H09283550A JP 8094169 A JP8094169 A JP 8094169A JP 9416996 A JP9416996 A JP 9416996A JP H09283550 A JPH09283550 A JP H09283550A
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JP
Japan
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resin
pot
tablet
resin tablet
plunger
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Application number
JP8094169A
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English (en)
Inventor
Yoshiaki Sugizaki
吉昭 杉崎
Tetsuya Miyamoto
哲也 宮本
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPH09283550A publication Critical patent/JPH09283550A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

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  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 減圧状態を生成した後に樹脂封止を行う方法
において、排気時間を長くすると樹脂タブレットが膨張
しポットから飛び出して金型合わせ面に達し、バリを形
成してしまう。排気時間を短くすると、樹脂からの揮発
分が十分に除去されず、ボイド不良が発生することがあ
る。 【解決手段】 樹脂タブレット21を粒径が1mm以上
の顆粒を含む樹脂の粉末で形成したり、あるいはポット
と樹脂タブレット間の隙間を大きくすることで、減圧雰
囲気に接する樹脂の表面積を大きくすることで、樹脂か
らの揮発分の除去効率を向上させ、短期間で排気できる
ようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の樹脂
封止方法及びそれに用いられる樹脂タブレットに関する
もので、特に減圧状態で封止する方法及びそれに用いら
れる樹脂タブレットに係わる。
【0002】
【従来の技術】図8及び図9は、従来の半導体素子の樹
脂封止方法を示す。以下、同一の構成要素には同一の符
号を付し、説明を省略する。まず、半導体素子1、リー
ドフレーム2等を下金型7の上に配置する。次に、金型
内の円筒状のポット5に円柱状の未硬化の樹脂タブレッ
ト4を投入する。図8(a)は、この段階のモールド装
置の断面図を示す。その後、上下の金型7、8を型締め
する。図8(b)は、この段階のモールド装置の断面図
を示す。続いて、プランジャーと呼ばれる円柱状の押し
出し棒9により樹脂タブレット4を押し出し、半導体素
子1やリードフレーム2が配置された成形キャビティ1
0へ樹脂11を移送させ、キャビティ内を樹脂で充填さ
せる。図9(a)、図9(b)は、この段階のモールド
装置の断面図を示す。その後、所定の時間、この樹脂が
充填された状態を保持して樹脂を硬化させる。樹脂が硬
化すると、金型を開けて、樹脂封止された半導体素子を
金型から取り出す。
【0003】この方法において、樹脂タブレット4をプ
ランジャー9によりポット5から押し出し、ランナーを
経てキャビティに注入する際、樹脂タブレット4の周り
の空気の一部はその樹脂の流れに取り込まれ、成形キャ
ビティ10内にまで移送される。その空気により、ボイ
ド不良と呼ばれる気泡上の欠陥が半導体素子を封止する
樹脂内に形成される。したがって、樹脂タブレット4の
周りの空気の量を小さくするため、円筒状ポット5の外
径と樹脂タブレット4の内径はできるだけ近い値に設定
される。具体的には、通常、ポット5の内径とタブレッ
ト4の外径の差を1mm以内とする。
【0004】一方、減圧下で樹脂封止を行う方法もあ
る。図10及び図11は、この方法を示す図である。ま
ず、半導体素子1、リードフレーム2等を下金型7の上
に配置し、金型内の円筒状のポット5に円柱状の未硬化
の樹脂タブレット4を投入する。図10(a)は、この
段階におけるモールド装置の断面図を示す。続いて、上
下の金型7、8を接近させる。その際、完全には型締め
せず、その直前の0.3mmないし20mmのところで
型締めを停止するか、微速型締めの状態に移行する。図
10(b)は、この段階におけるモールド装置の断面図
を示す。上下の金型で挟まれた空間は、金型の周辺部に
配置されたシール材14により外気から遮断され、気密
状態になる。この気密空間17には、少なくともポット
5と金型の成形面が含まれている。この気密空間17を
図示せぬ真空ポンプ等を用いて排気する。上下の金型
7、8の間の隙間は、0.3mmないし20mmの厚み
をもつため、排気抵抗は小さく、短時間排気することに
より減圧状態を形成することができる。その後、完全に
型締めし、プランジャー12により樹脂タブレット4を
注入する。図11(a)及び図11(b)は、この段階
のモールド装置の断面図を示す。その後、所定時間樹脂
を硬化させ、金型7、8の開き、樹脂封止された半導体
素子を取り出す。
【0005】この減圧状態で樹脂封止を行う方法では、
樹脂タブレット4の周りの空気が排気されて減少し、さ
らに樹脂4から揮発した気体も一部が排気されるので、
上述のボイド不良を低減させることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述の減圧下で行う樹
脂封止方法には、次のような問題がある。図12及び図
13は、その問題を説明する図である。まず、図12
(a)に示すように、ポット5内に投入された樹脂タブ
レット4は、あらかじめ加熱されているポット5から熱
を受けて膨張する。そのため、図12(b)に示すよう
に、タブレット4とポット5の間の隙間の空間の殆ど
は、短時間に、膨張した樹脂19により埋められる。よ
って、タブレット4内部の揮発性ガス成分(以下揮発分
という)を排気して除去しようとしても、除去できる面
がタブレット4の頂上部20に限られて、揮発分の除去
の効率が悪い。
【0007】さらに、図13に示すように、樹脂タブレ
ット4とプランジャー9との間に残されたわずかな空間
に樹脂タブレット4内の揮発分が気化し集まると、減圧
状態に晒されているタブレット4の頂上部との間に圧力
差が生じ、ポット5からタブレット4が飛び出してしま
う。さらに、飛び出したタブレット4が膨張し、ポット
5の直上に設置された上金型15のカル6と呼ばれる彫
り込みよりも大きくなると、金型の合わせ面18上にま
で樹脂が達してしまう。その後、金型を完全に締める
と、金型合わせ面18上に樹脂が挟み込まれるため、そ
れが異物となって十分な型締めができず、バリが発生す
る。この問題は、タブレット4をポット5内で減圧状態
に晒す時間を短くすることで回避できるが、そうすると
タブレット中の揮発分の除去効率が悪化する。本発明
は、上記課題に鑑み、減圧状態での樹脂封止において、
タブレット中の揮発分の除去を効率的に行うことを目的
とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため、予め加熱された金型のポット内に樹脂タブ
レットを投入し、上下金型を接近させ、少なくともポッ
トと金型成形面を含む密閉空間を減圧状態にし、上下金
型の型締めを行い、プランジャーにより樹脂タブレット
を成形キャビティ内へ押し出し、樹脂を硬化させる半導
体素子の樹脂封止方法であって、樹脂タブレットは、少
なくとも粒径1mm以上の顆粒を含む粉末よりなる半導
体素子の樹脂封止方法を提供する。あるいは、樹脂タブ
レットのプランジャーの移動方向と直交する断面積が、
ポットのプランジャーの移動方向と直交する断面積の8
5パーセント以下である半導体素子の樹脂封止方法を提
供する。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態を説明する。図1及び図2は、本発明の第
1の実施例を示す。図1(a)に示すように、半導体素
子1やリードフレーム2を下金型7の所定の位置に設置
する。その後、予め加熱されたポット5内に粒径が1m
m以上の顆粒を含む未硬化の樹脂タブレット21を投入
する。この樹脂タブレット21を構成する樹脂の粒径は
1mm以上であるため、樹脂と樹脂の間に隙間が存在す
る。続いて、図1(b)に示すように上金型8と下金型
7との間が0.3mmないし20mmになるように型締
めを行い、シール材14で外気と遮断された気密空間1
7を形成する。図示せぬ排気装置で気密空間17の排気
を行い、例えば50HPa以下の減圧状態を形成する。
その後、図2(a)及び図2(b)に示すように、完全
型締めを行い、プランジャー9により樹脂21を押し出
し、成形キャビティ10へ樹脂を移送させ、キャビティ
10内を樹脂で充填させる。続いて、樹脂を硬化させ、
金型を開け、樹脂封止された半導体素子を金型から取り
出す。
【0010】本実施例では、気密空間17を排気する
際、樹脂タブレット21の樹脂と樹脂の間の隙間の空気
は、瞬時に除去される。また、樹脂タブレット21は顆
粒を含む粉末により形成され、減圧雰囲気に晒されてい
る樹脂の表面積が大きいので、樹脂内部の揮発分も短時
間で掃き出される。
【0011】また、樹脂内の隙間を通して樹脂の揮発分
が十分に排気されるため、樹脂の揮発分が樹脂タブレッ
ト21の底部に溜まって樹脂がポット5から飛び出すこ
ともない。
【0012】また、樹脂タブレット21の樹脂の粒径が
1mm以下であると、樹脂の間の隙間が維持できないた
め、樹脂内部の揮発分を除去する効率が悪くなる。その
ため、本実施例では、1mm以上の粒径の樹脂も用いて
いる。
【0013】顆粒の樹脂には、混練後の粉砕物をそのま
ま使用してもよいし、所定の大きさに打錠したものを用
いてもよい。また、一般に、樹脂タブレット21の膨張
により隙間が完全に埋められることを所定の時間回避す
るためには、少なくともポット5の断面積の15%以上
を隙間であることが望ましい。
【0014】図3は、本発明の第2の実施例を示す。本
実施例のポット23は円筒状であり、樹脂タブレット2
2は円柱状であり、ポット23の内径は、タブレット2
2の外径よりも2mm以上大きい。樹脂タブレット22
は、ポット23に投入された直後より直ちに加熱され膨
張を始めるが、タブレットの表面とポットの内側壁が離
れているため、その間の隙間を埋めるまでにしばらく時
間を要する。この隙間が埋まるまでの時間を利用して上
下金型7、8を接近させて密閉し、ポット23内を含む
成形面周辺の空間を排気し、上下金型7、8間の空気、
成形面の周辺の空間の空気、およびタブレット22内の
揮発分を排気する。
【0015】ここで、タブレット22内部の揮発分は樹
脂の表面から排出されるため、減圧雰囲気に晒された表
面が多いと、揮発分の排気効率が良くなる。本実施例の
場合、減圧雰囲気に晒される表面はタブレットの底面部
を除いたタブレットの全表面であり、従来はタブレット
頂上部のみであったことと比べると非常に広くなってい
る。
【0016】さらに、タブレット22とポット23間の
隙間が塞がっていないため、樹脂タブレットからの揮発
分がタブレット22とプランジャー9の間に溜まること
がなく、タブレット22がポット23から飛び出すこと
はない。
【0017】なお、減圧雰囲気に晒している時間が長い
程、より多くの揮発分を除去できる。ここで減圧雰囲気
に晒すことのできる時間は、タブレット・ポット間の隙
間が塞がるまでの時間であるため、ポット23の内径と
タブレット22の外径の差はより大きい方が好ましい。
これは、タブレットの膨張が速い低粘度材料の場合、よ
り顕著に言えることである。例えば、ビフェニル・エポ
キシ系のモールド樹脂であれば、ポット内径とタブレッ
ト外径の差は3mm以上であることが好ましい。一般
に、タブレット22の膨張により隙間が完全に埋められ
ることを所定の時間回避するためには、少なくともポッ
ト23の断面積の15%以上を隙間としなければならな
い。
【0018】図4は、本発明の第3の実施例を示す。図
5は、本発明の第4の実施例を示す。第3の実施例は、
円筒状のポット25と多角形の断面を有するタブレット
26を組み合わせて用いるものである。第4の実施例
は、多角形の断面を有するポット27と円柱状のタブレ
ット28を組み合わせて用いるものである。
【0019】第3及び第4の実施例の場合、ポット2
5、27の内径とタブレット26、28の外径の差が小
さくても、ポット・タブレット間に隙間を形成すること
ができる。したがって、本実施例においても、底面部を
除いたタブレットの全表面の殆どが減圧雰囲気に晒さ
れ、タブレット内部の揮発分を十分に除去することがで
きる。
【0020】また、タブレット26、28がポット2
5、27から飛び出すこともない。さらに、本実施例で
は、第2の実施例に比べてポット25、27の内径とタ
ブレット26、28の外径との差を小さくすることがで
きるため、ポット内に投入されるタブレットを第2の実
施例に比べてポットの中心部に安定的に設置することが
できる。その結果、樹脂タブレット26、28は、ポッ
ト25、27から対称に近い状態で熱を受けることにな
り、プランジャーにより樹脂を注入する時にポット2
5、27から押し出される樹脂の粘度をランナーの位置
によらず均一にすることができる。
【0021】なお、第3の実施例における多角形のタブ
レットや第4の実施例における多角形のポットは、破損
を避けるため面取りしても構わない。図7及び図8は、
それぞれ本発明の第5、第6の実施例を示す。第5の実
施例は、円筒状のポット29と水平方向の断面が楕円形
であるタブレット30を組み合わせて用いるものであ
り、第6の実施例は、楕円の断面を有するポット31と
円柱状のタブレット32を組み合わせて用いるものであ
る。
【0022】本実施例においても、ポット29、31と
タブレット30、32の断面形状が違うため、ポット・
タブレット間に隙間を形成することができる。したがっ
て、底面部を除いたタブレットの全表面の殆どが減圧雰
囲気に晒され、タブレット内部の揮発分の除去が十分に
行える。また、タブレット30、32がポット29、3
1から飛び出すこともない。また、ポット・タブレット
間に隙間を形成しても、タブレットはポットの中心に投
入されるように導かれるため、樹脂タブレットの受熱状
態は対称に近いものになる。その結果、注入時にポット
から押し出される樹脂の粘度をランナーの位置に係わら
ず均一にすることができる。
【0023】また、楕円断面のポットに多角形断面のタ
ブレットを投入したり、多角形断面のポットに楕円断面
のタブレットを投入しても、同様の効果を得ることがで
きる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明により、減
圧雰囲気に晒される樹脂の表面積が大きくなり、樹脂内
部の揮発分が効率的に除去されるので、樹脂封止物のボ
イド不良を大幅に低減させることができる。
【0025】また、効率的な排気が可能となり、排気時
間が短くすることができるので、樹脂の硬化を進行させ
ずに樹脂をキャビティに注入することができる。また、
ポットと樹脂タブレット間の隙間を広くして、樹脂タブ
レットが膨張してポットとの隙間をすべて埋めてしまう
時間を長くすることができるため、樹脂の揮発分が樹脂
タブレットの底部に溜まり、樹脂タブレットが飛び出し
てバリの原因となることもなくなる。
【0026】さらに、樹脂タブレットとして顆粒を含む
粉末を使用する場合、粉砕物を樹脂粉末としてそのまま
使うことで、打錠に要する費用を省くことができる。ま
た、装置に応じてタブレットを使い分ける必要がなくな
ることから、樹脂封止のコストを低くすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す図。
【図2】本発明の第1の実施例を示す図。
【図3】本発明の第2の実施例を示す図。
【図4】本発明の第3の実施例を示す図。
【図5】本発明の第4の実施例を示す図。
【図6】本発明の第5の実施例を示す図。
【図7】本発明の第6の実施例を示す図。
【図8】従来の樹脂封止方法を示す図。
【図9】従来の樹脂封止方法を示す図。
【図10】従来の減圧状態下での樹脂封止方法を示す
図。
【図11】従来の減圧状態下での樹脂封止方法を示す
図。
【図12】従来の減圧状態下での樹脂封止方法の問題点
を示す図。
【図13】従来の減圧状態下での樹脂封止方法の問題点
を示す図。
【符号の説明】
1…半導体チップ、 2…リードフレーム、 4…樹脂タブレット、 5…ポット、 7…下金型、 8…上金型、 9…プランジャー。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B29L 31:34

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 予め加熱された金型のポット内に樹脂タ
    ブレットを投入し、上下金型を接近させ、少なくとも前
    記ポットと金型成形面を含む空間を減圧状態にし、前記
    上下金型の型締めを行い、プランジャーにより前記樹脂
    タブレットを成形キャビティ内へ押し出し、樹脂を硬化
    させる半導体素子の樹脂封止方法であって、 前記樹脂タブレットの前記プランジャーの移動方向と直
    交する断面積が、前記ポットの前記プランジャーの移動
    方向と直交する断面積の85パーセント以下であること
    を特徴とする半導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記樹脂タブレットは、少なくとも粒径
    1mm以上の顆粒を含む粉末よりなることを特徴とする
    請求項1記載の半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記ポットは、円筒状であり、前記樹脂
    タブレットは、円柱状であり、前記ポットの内径が前記
    樹脂タブレットの外径より2mm以上大きいことを特徴
    とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記ポットと前記樹脂タブレットの少な
    くとも一方の前記プランジャーの移動方向と直交する断
    面形状が多角形であることを特徴とする請求項1記載の
    半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記多角形の断面形状は、面取りされて
    いることを特徴とする請求項4記載の半導体装置の製造
    方法。
  6. 【請求項6】 前記ポットと前記樹脂タブレットの少な
    くとも一方の前記プランジャーの移動方向と直交する断
    面形状が楕円形であることを特徴とする請求項1記載の
    半導体装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 半導体素子を封止するため、金型のポッ
    トに投入され、プランジャーによってポットから成形キ
    ャビティ内に押し出される樹脂タブレットであって、こ
    の樹脂タブレットのプランジャーの移動方向と直交する
    断面は、多角形及び楕円形のうちの一方であることを特
    徴とする樹脂タブレット。
JP8094169A 1996-04-16 1996-04-16 半導体装置の製造方法及びそれに用いられる樹脂タブレット Pending JPH09283550A (ja)

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