JPH09320503A - 走査電子顕微鏡の試料位置制御装置 - Google Patents

走査電子顕微鏡の試料位置制御装置

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JPH09320503A
JPH09320503A JP8133097A JP13309796A JPH09320503A JP H09320503 A JPH09320503 A JP H09320503A JP 8133097 A JP8133097 A JP 8133097A JP 13309796 A JP13309796 A JP 13309796A JP H09320503 A JPH09320503 A JP H09320503A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron microscope
scanning electron
sample
optical image
image
Prior art date
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Pending
Application number
JP8133097A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Komuro
浩之 小室
Junichiro Tomizawa
淳一郎 富澤
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Hitachi Ltd
Hitachi Science Systems Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Science Systems Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Science Systems Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP8133097A priority Critical patent/JPH09320503A/ja
Publication of JPH09320503A publication Critical patent/JPH09320503A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】 【課題】走査電子顕微鏡の観察画面に、コンピュータ等
により光学的画像と電顕画像を切換えて表示することを
目的とする。 【解決手段】走査電子顕微鏡の操作により光学的画像取
込み装置9,電顕画像取込み装置6および試料ステージ
12を制御して、目的の視野を簡易に探せるよう構成し
た走査電子顕微鏡の試料位置制御装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は走査電子顕微鏡の試
料位置制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】走査電子顕微鏡等では、光学的顕微鏡に
比べ高倍率、いわゆる高い分解能の顕微鏡として使用さ
れているため、低倍率での観察は不得手である。走査電
子顕微鏡における最低倍率は20〜30倍であるから大
形の試料台の視野を探す時には、例えば20倍だとして
も試料台の5mm四方しか見えず視野を探すために時間を
要していた。
【0003】また、走査電子顕微鏡のほかにコンピュー
タシステムを置き、これに光学的画像取込み装置等から
の画像を記憶し、この画像に試料ステージの座標を重ね
コンピュータシステム上で画像の一点を選ぶと試料ステ
ージが連動して動くようになっているが、画像を記憶し
た後試料を走査電子顕微鏡の試料ステージに装着しシス
テムの座標に合うよう試料を回転させX方向Y方向の位
置を合わせていた。また、目的の視野を探すのに走査電
子顕微鏡とシステムの操作を別々に行っていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような従来装置で
は、コンピュータ等に試料の光学的画像を記憶させ、そ
の試料を走査電子顕微鏡の試料ステージに移動,装着し
X方向Y方向の位置を合わせる手間や電子顕微鏡とシス
テムの操作を別々に行う煩わしさがあり、本発明はこれ
を半減するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の装置は、光学的
画像取込み装置を走査電子顕微鏡に組み込むことにより
試料を脱着する手間が省くことができ、また、コンピュ
ータ等を用いて走査電子顕微鏡の操作等により自動的に
光学的画像と電顕画像の切換えができ、操作が簡易にで
きることにより課題を解決できる。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づき詳述する。
【0007】図1は本発明の実施例装置のブロック図で
ある。図中、1は電子ビーム、2は電子ビーム1を面走
査させるための偏向コイルで、倍率はこのコイルに流す
電流により変えられる。3は偏向コイル2を駆動するた
めの駆動装置、4は偏向コイル及び各動作の制御を行う
制御用コンピュータ装置、5は走査電子顕微鏡の操作を
行うためのマウス、6は電顕画像取込み装置、7は電顕
画像取込み装置6の電顕画像処理装置、8は走査電子顕
微鏡の観察画面、9は光学的画像取込み装置、10は光
学的画像取込み装置9の光学的画像処理装置、11は試
料ホルダ、12は試料ホルダ11を装着するための試料
ステージ、13は試料ステージのX軸,Y軸および回転
軸を動かすためのモータ装置、14はモータ装置13を
駆動するための駆動装置、15は試料ホルダ11を入れ
るための試料室である。また、図2は実施例であり、観
察画面8に表示した画像例を示す。図中16はマウス5
を観察画面8に表示させたマウスカーソルであり、走査
電子顕微鏡の操作はマウス5の操作によりマウスカーソ
ル16が観察画面上で動き画面上のメニューを選択する
ことができる。17は観察画面8に光学的画像を表示し
た状態を示す画面表示、18は観察画面8に光学的画像
を表示した状態を示す画面表示、19は観察画面8に電
顕画像を表示した状態を示す画面表示である。
【0008】走査電子顕微鏡の画像は、電子ビーム1を
偏向コイル2により試料表面を面走査させその試料から
出る信号を電顕画像取込み装置6で検出し、電顕画像処
理装置7を介して観察画面8に表示させる。一方、光学
的画像は、試料ホルダ11を試料ステージ12に装着し
試料室15に入れる前に計学的画像取込み装置9により
取込み、光学的画像処理装置10に記憶させることがで
き、試料の脱着を省け、煩わしさが半減できる。なお光
学的画像を光学的画像処理装置10に取込み、記憶させ
るための操作は、制御用コンピュータ装置4を用いるこ
とで走査電子顕微鏡の操作に使用するマウス5により観
察画面上のメニューで操作を行い、操作を簡易にでき
る。この時、観察画面8は図2の光学的画像を表示した
画面表示17になっている。次に試料ステージ12を試
料室15に入れて真空状態にする。この観察画面上でマ
ウス5により目的の視野を一点選択することにより、観
察画面上で選択されたマウスカーソルの座標位置を観察
画面中央となるよう画像全体が観察画面上で移動し、図
2の表示画面18のように選択した目的の視野が観察画
面の中央に表示される。また同時に試料ステージ12の
X軸およびY軸等のモータ装置13により画面の座標に
リンクした位置に試料ホルダ11を移動させる。マウス
5で電子ビーム1を出して倍率を上げると電顕画像の表
示画面19のように、目的の視野が電顕画像の表示に変
わり拡大されてゆく。また、別の視野を観察する時には
マウス5で倍率を下げ、倍率レンジを最低倍より低く設
定することにより、走査電子顕微鏡の観察画面8が再び
光学的画像の表示画面18に切換わり、真空内でマウス
5の操作一つで光学的画像と電顕画像の観察ができるた
め視野探しを簡易に行えることができる。
【0009】
【発明の効果】本発明によれば、走査電子顕微鏡等にお
ける煩わしい操作の一つである試料の視野探しが容易と
なり、操作性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】走査電子顕微鏡の試料位置制御装置のブロック
図。
【図2】観察画面の表示の実施例を示す説明図。
【符号の説明】 1…電子ビーム、2…偏向コイル、3…偏向コイル駆動
装置、4…制御用コンピュータ装置、5…マウス、6…
電顕画像取込み装置、7…画像処理装置、8…観察画
面、9…光学的画像取込み装置、10…画像処理装置、
11…試料ホルダ、12…試料ステージ、13…モータ
装置、14…モータ駆動装置、15…試料室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】走査電子顕微鏡において、光学的画像取込
    み装置を走査電子顕微鏡の試料ステージに組み込むこと
    により試料の画像を低倍率で記憶し、前記走査電子顕微
    鏡像の低倍率限界から光学的画像に倍率連動してコンピ
    ュータを用い自動的に画像の切換え表示をすることを特
    徴とする走査電子顕微鏡の試料位置制御装置。
JP8133097A 1996-05-28 1996-05-28 走査電子顕微鏡の試料位置制御装置 Pending JPH09320503A (ja)

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JP8133097A JPH09320503A (ja) 1996-05-28 1996-05-28 走査電子顕微鏡の試料位置制御装置

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JP (1) JPH09320503A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006173021A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2007026885A (ja) * 2005-07-15 2007-02-01 Keyence Corp 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
CN105225909A (zh) * 2015-09-17 2016-01-06 北京大学 一种扫描电镜样品台定位装置及其定位方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006173021A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
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