JPH11143624A

JPH11143624A - 光走査型タッチパネル

Info

Publication number: JPH11143624A
Application number: JP22086898A
Authority: JP
Inventors: Nobuyasu Yamaguchi; 伸康山口; Satoshi Sano; 聡佐野; Fumihiko Nakazawa; 文彦中沢; Atsuo Iida; 安津夫飯田; Fumitaka Abe; 文隆安部
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1997-09-02
Filing date: 1998-08-04
Publication date: 1999-05-28
Anticipated expiration: 2018-08-04
Also published as: JP3847005B2

Abstract

(57)【要約】【課題】直接的に得られるデータから演算によって指
またはペン等の指示物の位置及び大きさを求める際にそ
の算出結果の精度を高くできる光走査型タッチパネルを
提供する。【解決手段】表示画面１０に位置する指示物Ｓを光学
的に走査する光送受ユニット１ａ，１ｂと、これらによ
る走査の結果に基づいて指示物Ｓの位置及び大きさを算
出する算出手段５１とを備え、算出手段５１が、指示物
Ｓの位置及び大きさを算出するための所定数の一連の数
値列を平滑化するようにし、その平滑化処理の結果を使
用して指示物Ｓの位置及び大きさを算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータシス
テム等により情報が表示される表示装置の表示画面上で
の指示物の位置及び大きさを光学的に検出する光走査型
タッチパネルに関する。

【０００２】

【従来の技術】主としてパーソナルコンピュータ等のコ
ンピュータシステムの普及に伴って、コンピュータシス
テムにより情報が表示される表示装置の表示画面上を人
の指または特定の指示物により指示することにより、新
たな情報を入力したり、コンピュータシステムに対して
種々の指示を与えたりする装置が利用されている。

【０００３】このようなパーソナルコンピュータ等の表
示装置の表示画面に表示された情報に対してタッチ方式
にて入力操作を行う場合には、その表示画面上での接触
位置（指示位置）を高精度に検出する必要がある。この
ような座標面となる表示画面上の指示位置を検出する方
法として、「キャロル方式」（米国特許４，２６７，４
４３号）が知られている。この方法は、表示画面の前面
の枠に発光素子と受光素子とを対向配置させることによ
って表示画面の前面に光のマトリックスを構成し、指ま
たはペンの接触による光の遮断位置を検出している。こ
の方法では、高いＳ／Ｎが得られて大型の表示装置に適
用を拡張させることも可能であるが、発光素子及び受光
素子の配置間隔に検出の分解能が比例するので、検出の
分解能を高めるためにはその配置間隔を狭くする必要が
ある。従って、大画面に対してペン先等のような細い物
で接触した場合にもその接触位置を精度良く検出するた
めには、配置すべき発光素子及び受光素子の数が増大
し、構成が大嵩になると共に、信号処理も複雑になると
いう問題がある。

【０００４】また、他の光学的な位置検出方法が、特開
昭５７−２１１６３７号公報に開示されている。この方
法は、レーザ光線のような絞った光を表示画面の外側か
ら角的に走査し、反射手段を有する専用ペンからの反射
光の２つのタイミングから専用ペンが存在する角度をそ
れぞれ求め、求めた角度を三角測量の原理にあてはめて
位置座標を計算にて検出する。この方法では、部品点数
を大幅に削減でき、また、高い分解能を有することも可
能である。しかしながら、専用の反射ペンを利用しなけ
ればならない等、操作性に問題があり、また、指，任意
のペン等の位置は検出することができない。

【０００５】更に他の光学的な位置検出方法が、特開昭
６２−５４２８号公報に提案されている。この方法は、
表示画面の両側枠に光再帰性反射体を配置し、角的に走
査した光線のこの光再帰性反射体からの戻り光を検知
し、指またはペンによって光線が遮断されるタイミング
から指またはペンの存在角度を求め、求めた角度から三
角測量の原理にて位置座標を検出する。この方法では、
部品点数が少なくて検出精度を維持でき、指，任意のペ
ン等の位置も検出できる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、いずれ
の手法においても、直接的に得られるデータから演算に
より指またはペン等の指示物の位置及び大きさを求める
のであるが、その演算をより確度が高いものとする必要
がある。また、明らかにエラーと見なされるべき結果が
得られると予想される場合、または、そのような結果が
得られた場合に、そのまま演算を続行すると誤った結果
が出力されてしまう。

【０００７】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、直接的に得られるデータから演算により指また
はペン等の指示物の位置及び大きさを求める場合に、そ
の演算をより確度が高いものとすることが可能である光
走査型タッチパネルを提供することを目的とする。

【０００８】本発明の他の目的は、指示物の位置及び／
または大きさについて明らかにエラーと見なされるべき
演算結果が得られると予想される場合、または、そのよ
うな演算結果が得られた場合には演算処理を中止する
か、または得られた演算結果を廃棄することを可能とし
た光走査型タッチパネルを提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１の光走査型タッ
チパネルは、所定領域に位置する指示物を光学的に走査
する光学的走査手段と、該光学的走査手段による走査の
結果に基づいて前記指示物の位置及び大きさを算出する
算出手段とを備えた光走査型タッチパネルにおいて、前
記算出手段は、前記指示物の位置及び大きさを算出する
処理中の特定の段階において、所定数の一連の数値列を
平滑化する平滑化処理手段を有し、前記平滑化処理手段
による平滑化処理の結果を使用して前記指示物の位置及
び大きさを算出すべくなしてあることを特徴とする。

【００１０】請求項２の光走査型タッチパネルは、請求
項１において、前記光学的走査手段は、前記所定領域の
外側に設けた光再帰性反射手段と、前記所定領域と実質
的に平行である面内で光を角的に走査する光走査手段、
及び、光によって照射された部分の前記光再帰性反射手
段による反射光を受光する受光手段を有する少なくとも
２組の光送受手段と、前記光走査手段での走査角度及び
前記受光手段での受光結果に基づいて、前記指示物にて
形成される前記所定領域での走査光の遮断範囲を計測す
る計測手段とを有することを特徴とする。

【００１１】請求項３の光走査型タッチパネルは、請求
項１または２において、前記平滑化処理手段は、前記光
学的走査手段による直近の過去の一連の所定回数の走査
の結果を平滑化処理し、前記算出手段は、前記平滑化処
理手段による平滑化処理の結果に基づいて前記指示物の
位置及び大きさを算出すべくなしてあることを特徴とす
る。

【００１２】請求項４の光走査型タッチパネルは、請求
項１または２において、前記光学的走査手段は、前記光
学的走査手段による一回の光学的走査の結果に基づいて
前記指示物の位置及び大きさを算出し、前記平滑化処理
手段は、前記光算出手段による直近の過去の一連の所定
回数の算出結果を平滑化処理すべくなしてあることを特
徴とする。

【００１３】請求項５の光走査型タッチパネルは、請求
項３または４において、前記平滑化処理手段は、平滑化
すべき一連の数値列中の所定の条件を満たす数値を選択
して平滑化処理すべくなしてあることを特徴とする。

【００１４】請求項６の光走査型タッチパネルは、請求
項３または４において、前記平滑化処理手段は、平滑化
すべきｍ個（ｍは１以上の自然数）の数値列中の、値が
大なる順からｎ１個及び小なる順からｎ２個を除外した
残りの数値を平滑化処理すべくなしてあることを特徴と
する。

【００１５】請求項７の光走査型タッチパネルは、請求
項３または４において、前記平滑化処理手段は、平滑化
すべき数値列における標準偏差が小なる所定数の数値を
平滑化処理すべくなしてあることを特徴とする。

【００１６】請求項８の光走査型タッチパネルは、請求
項３または４において、前記平滑化処理手段は、平滑化
すべき数値列における標準偏差が小なる所定数の数値の
内の最大の標準偏差の数値が所定値より大なる場合には
所定のエラー処理を行うべくなしてあることを特徴とす
る。

【００１７】請求項９の光走査型タッチパネルは、請求
項１または２において、前記算出手段は、前記光学的走
査手段による走査の結果が、所定の基準範囲外である場
合には、所定のエラー処理を行うべくなしてあることを
特徴とする。

【００１８】請求項１０の光走査型タッチパネルは、請
求項１または２において、前記算出手段は、前記指示物
が前記所定領域外部に位置することを意味する算出結果
が得られた場合には、所定のエラー処理を行うべくなし
てあることを特徴とする。

【００１９】請求項１１の光走査型タッチパネルは、所
定領域に位置する指示物を光学的に走査する光学的走査
手段と、該光学的走査手段による走査の結果に基づいて
前記指示物の特徴量を計測する計測手段と、該計測手段
によって計測された特徴量に基づいて前記指示物の位置
及び大きさを算出する算出手段とを備えた光走査型タッ
チパネルにおいて、前記算出手段は、前記計測手段によ
って計測された特徴量が所定範囲内にあるか否かを判別
する判別部と、所定範囲内にあると判別された所定数の
一連の特徴量の数値列を平滑化する第１平滑化処理部
と、該第１平滑化処理部にて得られる平滑化特徴量を用
いて前記指示物の位置及び大きさを算出する位置・大き
さ算出部と、算出された所定数の一連の位置及び／また
は大きさの数値列を平滑化する第２平滑化処理部と、該
第２平滑化処理部による平滑化処理の結果を使用して前
記指示物の位置及び大きさを算出すべくなしてあること
を特徴とする。

【００２０】請求項１２の光走査型タッチパネルは、請
求項１１において、前記光学的走査手段は、前記所定領
域の外側に設けた光再帰性反射手段と、前記所定領域と
実質的に平行である面内で光を角的に走査する光走査手
段、及び、光によって照射された部分の前記光再帰性反
射手段による反射光を受光する受光手段を有する少なく
とも２組の光送受手段と、前記光走査手段での走査角度
及び前記受光手段での受光結果に基づいて、前記指示物
にて形成される前記所定領域での走査光の遮断範囲を計
測する計測手段とを有することを特徴とする。

【００２１】請求項１３の光走査型タッチパネルは、請
求項１１または１２において、前記第１平滑化処理部及
び／または前記第２平滑化処理部は、所定数の一連の数
値列を記憶する記憶部を有し、該記憶部に記憶された数
値列の中から所定の条件を満たす数値を選択して平滑化
処理を行うべくなしてあることを特徴とする。

【００２２】請求項１４の光走査型タッチパネルは、請
求項１３において、前記第１平滑化処理部及び／または
前記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶されたｍ個
の数値列中から値が大なる順からｎ１個及び小なる順か
らｎ２個を除外した残りのｍ−（ｎ１＋ｎ２）個の数値
を選択してそれらの平均値を求めるべくなしてあること
を特徴とする。

【００２３】請求項１５の光走査型タッチパネルは、請
求項１３において、前記第１平滑化処理部及び／または
前記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶されたｍ個
の数値列中から値が大なる順からｎ１個及び小なる順か
らｎ２個を除外した残りのｍ−（ｎ１＋ｎ２）個の数値
を選択してそれらの中央値を求めるべくなしてあること
を特徴とする。

【００２４】請求項１６の光走査型タッチパネルは、請
求項１３において、前記第１平滑化処理部及び／または
前記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶された数値
列中から標準偏差が小なる所定個の数値を選択してそれ
らの平均値を求めるべくなしてあることを特徴とする。

【００２５】請求項１７の光走査型タッチパネルは、請
求項１３において、前記第１平滑化処理部及び／または
前記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶された数値
列中から標準偏差が小なる所定個の数値を選択してそれ
らの中央値を求めるべくなしてあることを特徴とする。

【００２６】請求項１８の光走査型タッチパネルは、請
求項１１〜１７の何れかにおいて、前記計測手段によっ
て計測された１または複数の特徴量が所定範囲内にない
と前記判別部が判別した場合には、所定のエラー処理を
行うべくなしてあることを特徴とする。

【００２７】請求項１９の光走査型タッチパネルは、請
求項１１または１２において、前記第１平滑化処理部
は、所定数の一連の数値列を記憶する記憶部を有し、該
記憶部に所定数以上の特徴量の数値が記憶されていない
場合には、所定のエラー処理を行うべくなしてあること
を特徴とする。

【００２８】請求項２０の光走査型タッチパネルは、請
求項１１または１２において、前記第２平滑化処理部
は、所定数の一連の数値列を記憶する記憶部を有し、該
記憶部に所定数以上の前記指示物の位置及び／または大
きさの数値が記憶されていない場合には、所定のエラー
処理を行うべくなしてあることを特徴とする。

【００２９】請求項２１の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２０の何れかにおいて、前記算出手段の算出結
果に基づいて、前記指示物が前記所定領域に接触してい
るか否かを判別する接触判別手段を更に備えることを特
徴とする。

【００３０】請求項２２の光走査型タッチパネルは、請
求項２１において、前記接触判別手段は、前記算出手段
での前記指示物の位置及び大きさの算出結果が所定範囲
内である場合に、前記指示物が前記所定領域に接触して
いると判別すべくなしてあることを特徴とする。

【００３１】請求項２３の光走査型タッチパネルは、請
求項２１において、前記算出手段は、所定の時間間隔
で、前記指示物の位置及び大きさの算出結果が所定範囲
内であるか否かを判別し、算出結果が所定範囲内である
場合にはその算出結果を出力し、算出結果が所定範囲内
でない場合にはエラー信号を出力することとし、前記エ
ラー信号が所定の回数以上にわたって出力された場合
に、前記接触判別手段は、前記指示物が前記所定領域か
ら離れていると判別すべくなしてあることを特徴とす
る。

【００３２】請求項２４の光走査型タッチパネルは、請
求項２１において、前記算出手段は、前記指示物の位置
及び大きさの算出結果が所定範囲内であるか否かを判別
し、算出結果が所定範囲内である場合にはその算出結果
を出力し、算出結果が所定範囲内でない場合にはその算
出結果を出力しないこととし、所定時間以上にわたって
算出結果が出力されない場合に、前記接触判別手段は、
前記指示物が前記所定領域から離れていると判別すべく
なしてあることを特徴とする。

【００３３】請求項２５の光走査型タッチパネルは、請
求項２１において、前記接触判別手段により、前記指示
物が前記所定領域に接触している状態から前記指示物が
前記所定領域から離れている状態に変化することを判別
した場合、前記第１平滑化処理部及び第２平滑化処理部
に付随する記憶部に記憶されている一連の数値列を消去
して初期化すべくなしてあることを特徴とする。

【００３４】請求項２６の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２５の何れかにおいて、前記光学的走査手段
は、前記所定領域を光学的に走査して前記指示物による
走査光の遮断範囲を表す数値を測定する少なくとも２組
の光送受手段を有し、前記算出手段は、前記少なくとも
２組の光送受手段により得られる数値それぞれに基づい
て前記指示物の大きさの算出処理を行い、算出結果の内
の最大値または最小値を算出結果とすべくなしてあるこ
とを特徴とする。

【００３５】請求項２７の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２５の何れかにおいて、前記光学的走査手段
は、前記所定領域を光学的に走査して前記指示物による
走査光の遮断範囲を表す数値を測定する少なくとも２組
の光送受手段を有し、前記算出手段は、前記少なくとも
２組の光送受手段により得られる数値それぞれに基づい
て前記指示物の大きさの算出処理を行い、算出結果の平
均値を算出結果とすべくなしてあることを特徴とする。

【００３６】請求項２８の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２５の何れかにおいて、前記光学的走査手段
は、所定領域を光学的に走査して前記指示物による走査
光の遮断範囲を表す数値を測定する少なくとも２組の光
送受手段を有し、前記算出手段は、前記少なくとも２組
の光送受手段により得られる数値それぞれに基づいて前
記指示物の大きさの算出処理を行い、算出結果の少なく
とも前記指示物の位置または大きさとして選択した値が
所定範囲より大なる場合には、所定のエラー処理を行う
べくなしてあることを特徴とする。

【００３７】請求項２９の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２５の何れかにおいて、前記光学的走査手段
は、所定領域を光学的に走査して前記指示物による走査
光の遮断範囲を表す数値を測定する少なくとも２組の光
送受手段を有し、前記算出手段は、前記少なくとも２組
の光送受手段により得られる数値それぞれに基づいて前
記指示物の大きさの算出処理を行い、算出結果の内の最
大値と最小値との差が所定範囲外である場合には、所定
のエラー処理を行うべくなしてあることを特徴とする。

【００３８】請求項３０の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜２５の何れかにおいて、前記平滑化処理手段
は、平滑化すべき一連の数値列中に、所定範囲外の数値
が所定個数以上存在する場合には、所定のエラー処理を
行うべくなしてあることを特徴とする。

【００３９】請求項３１の光走査型タッチパネルは、請
求項１〜３０の何れかにおいて、前記平滑化処理手段
は、前記算出手段により算出された前記指示物の位置に
応じて、爾後の平滑化すべき一連の数値の数を変更すべ
くなしてあることを特徴とする。

【００４０】本発明の光走査型タッチパネルでは、指示
物の位置及び大きさを算出する際に必要な指示物の所定
数の一連の特徴量、及び／または、その特徴量に基づい
て算出した指示物の所定数の一連の位置及び大きさに対
して平滑化処理を施し、その平滑化処理結果に基づいて
指示物の位置及び大きさを算出するようにしている。よ
って、複数のデータを平滑化処理するので、算出される
指示物の位置及び大きさの演算結果の精度は高い。

【００４１】

【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づいて詳述する。

【００４２】図１は、本発明の光走査型タッチパネルの
基本構成を示す模式図である。図１において参照符号１
０は、パーソナルコンピュータ等の電子機器におけるＣ
ＲＴまたはフラットディスプレイパネル（ＰＤＰ，ＬＣ
Ｄ，ＥＬ等），投射型映像表示装置等の表示画面であ
り、本実施の形態では横方向９２．０ｃｍ×縦方向５
１．８ｃｍで対角１０５．６ｃｍの表示寸法を有するＰ
ＤＰ（プラズマディスプレイ）の表示画面として構成さ
れている。後述するように第１の座標面となるこの長方
形の表示画面１０の一つの短辺（本実施の形態では右側
の辺）の両隅の外側には、発光素子，受光素子，ポリゴ
ンミラー等を含む光学系を内部に有する光送受ユニット
１ａ，１ｂがそれぞれ設けられている。また、表示画面
１０の右側の辺を除く３辺、つまり、上下両側の辺及び
左側の辺の外側には再帰性反射シート７が設けられてい
る。

【００４３】両光送受ユニット１ａ，１ｂは、赤外線レ
ーザ光を出射するレーザダイオードからなる発光素子１
１ａ，１１ｂと、再帰性反射シート７からの反射光を受
光する受光素子１３ａ，１３ｂと、発光素子１１ａ，１
１ｂからのレーザ光を角的に走査するための本実施の形
態では４角形のポリゴンミラー１６ａ，１６ｂと等を主
要構成要素としている。なお、受光素子１３ａ，１３ｂ
は受光手段として機能し、発光素子１１ａ，１１ｂ及び
ポリゴンミラー１６ａ，１６ｂは光走査手段として機能
する。そして、この２組の光送受ユニット１ａ，１ｂ及
びそれらの信号処理系と、再帰性反射シート７と等が計
測手段として機能する。

【００４４】このような構成においては、発光素子１１
ａ，１１ｂから出射されたレーザ光が、ポリゴンミラー
１６ａ，１６ｂの回転によって表示画面１０と実質的に
平行である面内を角的に走査されて再帰性反射シート７
に投射される。そして、再帰性反射シート７からの反射
光が、ポリゴンミラー１６ａ，１６ｂにて反射された
後、受光素子１３ａ，１３ｂに入射される。但し、投射
光の光路に指，ペン等の指示物（遮断物）Ｓが存在する
場合には投射光が遮断されるため、反射光が受光素子１
３ａ，１３ｂに入射されることはない。なお、ポリゴン
ミラー１６ａ，１６ｂの回転により、９０度以上のレー
ザ光の角的走査が実現される。

【００４５】また、参照符号５は指示物Ｓの位置，大き
さを計測演算すると共に、装置全体の動作を制御するＭ
ＰＵであり、機能的には、計測手段による計測結果から
指示物Ｓの位置と大きさとを算出する算出手段５１と、
この算出手段５１による算出結果に基づいて表示装置６
に表示すべき情報を制御する画像制御手段５２とで構成
される。なお、表示装置６は、図１では独立して示され
ているが、実際には表示画面１０が兼用される。

【００４６】このような本発明の光走査型タッチパネル
においては、図１に示されているように、例えば光送受
ユニット１ｂに関して説明すると、光送受ユニット１ｂ
からの投射光は、図１上で反時計方向回りに走査され、
まず再帰性反射シート７の先端部分で反射される位置
（Ｐｓ）に至って走査開始位置になる。そして、指示物
Ｓの一端に至る位置（Ｐ１）にいたるまでは再帰性反射
シート７により反射されるが、指示物Ｓの他端に至る位
置（Ｐ２）までの間は指示物Ｓによって遮断され、その
後の走査終了位置（Ｐｅ）に至るまでは再帰性反射シー
ト７により反射される。

【００４７】但し、光送受ユニット１ａでは、図１上で
時計方向回りに光の走査が行われる。ここで、光送受ユ
ニット１ａは図１上で時計回り方向に表示画面１０の下
辺側を走査開始方向とし、逆に光送受ユニット１ｂは図
１上で反時計回り方向に表示画面１０の上辺側を走査開
始方向とする理由について説明する。

【００４８】例えば光送受ユニット１ｂの場合には、表
示画面１０の上辺側または左辺側のいずれを走査開始方
向としてもよいが、光送受ユニット１ｂから見た場合、
表示画面１０の上辺の方が下辺よりも距離的に近いため
に反射光量が大であること、及び再帰性反射シート７の
反射面が表示画面１０の上辺ではほぼ直角であるために
反射光量が大であることにより、表示画面１０の上辺側
を走査開始方向としている。換言すれば、光送受ユニッ
ト１ｂの場合に表示画面１０の下辺側を走査開始方向と
すると、表示画面１０の下辺の方が上辺よりも距離的に
遠いため、走査開始時点の反射光量が小さくなり、また
再帰性反射シート７の反射面が湾曲しているために反射
光量が小さくなる。但し、再帰性反射シート７の湾曲に
関しては本質的な問題ではなく、湾曲させないような構
成を採ることも勿論可能である。

【００４９】ところで、図１に示されているように、再
帰性反射シート７は両光送受ユニット１ａ，１ｂが配置
されている辺を開口部とし、表示画面１０を囲むように
して”Ｕ”字状に配置されている。更に、参照符号７
ａ，７ｂにて示されているように、両光送受ユニット１
ａ，１ｂから再帰性反射シート７への光の投射角度が小
さくなる部分、具体的には両光送受ユニット１ａ，１ｂ
が配置されている辺と直交する２辺（図１上では上側の
辺と下側の辺）の両光送受ユニット１ａ，１ｂから遠い
部分には鋸歯状に再帰性反射シートが設置されている。

【００５０】このような再帰性反射シートの鋸歯状部分
７ａ，７ｂにより、例えば光送受ユニット１ｂからの投
射光は走査開始位置Ｐｓから再帰性反射シートの鋸歯状
部分７ｂの一端の位置Ｐ３まで走査が進むに伴って再帰
性反射シート７への入射角度が次第に小さくなるため反
射光量もそれに伴って低下する。しかし、再帰性反射シ
ートの鋸歯状部分７ｂの一端の位置Ｐ３から他端の位置
Ｐ４までの間は再帰性反射シートの鋸歯状部分７ｂにほ
ぼ直角に入射するので再帰性反射率のそれ以上の低下が
回避される。

【００５１】次に、本発明の光走査型タッチパネルによ
る座標面での位置検出動作について、その原理を示す図
２の模式図を参照して説明する。但し、図２では光送受
ユニット１ａ，１ｂ、表示画面１０以外の構成部材は図
示を省略している。また、以下の説明では光送受ユニッ
ト１ｂ側をチャンネル１（Ｃｈ１）とし、光送受ユニッ
ト１ａ側をチャンネル２（Ｃｈ２）とする。

【００５２】ＭＰＵ５はポリゴン制御回路を制御するこ
とにより、光送受ユニット１ａ，１ｂ内のポリゴンミラ
ー１６ａ，１６ｂを回転させて、発光素子１１ａ，１１
ｂからのレーザ光を角的に走査する。この結果、再帰性
反射シート７からの反射光が受光素子１３ａ，１３ｂに
入射する。このようにして受光素子１３ａ，１３ｂに入
射した光の受光量は図示しない信号処理回路の出力であ
る受光信号として得られる。この受光信号のレベルの変
化を両光走査手段１２ａ，１２ｂでの走査角度として検
出し、以下のような手法により処理する。

【００５３】なお、ＭＰＵ５の算出手段５１に与えられ
る情報は、主として図２に示されている下記の４種類の
情報である。 θ_1-1：Ｃｈ１（光送受ユニット１ｂ）の走査開始から
指示物Ｓ検出までの角度 θ_1-2：Ｃｈ１（光送受ユニット１ｂ）の指示物Ｓの検
出幅角度 θ_2-1：Ｃｈ２（光送受ユニット１ａ）の走査開始から
指示物Ｓ検出までの角度 θ_2-2：Ｃｈ２（光送受ユニット１ａ）の指示物Ｓの検
出幅角度

【００５４】求めるべき指示物Ｓの中心Ｐの座標（ｘ，
ｙ）の算出と、指示物Ｓの半径ｒの算出は以下の式
（１）〜（６）で行われる。但し、両光送受ユニット１
ａ，１ｂが図１上において左側の短辺に沿って設置され
ている場合には、式（４），（５），（６）はそれぞれ
式（４′），（５′），（６′）のようになる。

【００５５】 θ₁= θ_1-1＋θ_1-2／2 ・・・（１） θ₂= θ_2-1＋θ_2-2／2 ・・・（２）ｙ= Ｌ× tanθ₁／(tanθ₁＋ tanθ₂) ・・・（３）ｘ= Ｗ−ｙ× tanθ₂ ・・・（４）ｒ１＝｛（Ｗ−ｘ）²＋ｙ²｝^1/2× sin（θ_2-2／２）・・・（５）またはｒ２＝｛（Ｗ−ｘ）²＋（Ｌ−ｙ）²｝^1/2× sin（θ_1-2／２）・・・（６）ｘ= ｙ× tanθ₂ ・・・（４′）ｒ１＝（ｘ²＋ｙ²）^1/2× sin（θ_2-2／２）・・・・（５′）またはｒ２＝（ｘ²＋（Ｌ−ｙ）²）^1/2× sin（θ_1-2／２）・・・（６′）

【００５６】図３は算出手段５１の一構成例を示す機能
ブロック図である。算出手段５１は前述の如く、ＭＰＵ
５の機能として実現されており、ここに示されている機
能ブロック図もＭＰＵ５で実行されるソフトウェア機能
を示している。但し、同等の機能を実現する専用ハード
ウェアとして実現することも勿論可能であり、その場合
には処理速度の高速化が可能である。

【００５７】算出手段５１は、計測手段からの出力（特
徴量）に平滑化処理を行う平滑化処理部５１１と、計測
手段からの出力（特徴量）を記憶する記憶部５１２と、
平滑化処理部５１１からの出力に基づいて指示物Ｓの位
置を算出する位置算出部５１３と、平滑化処理部５１１
からの出力に基づいて指示物Ｓの大きさを算出する大き
さ算出部５１４とを有する。

【００５８】平滑化処理部５１１は、計測手段、具体的
には光送受ユニット１ａ，１ｂからの出力である
θ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2に対して平滑化処理を
行う。平滑化処理部５１１には、ある時間ｔにおける出
力θ_1-1,ｔ、θ_1-2,ｔ、θ_2-1,ｔ、θ_2-2,ｔが入力され
る。

【００５９】記憶部５１２は、各出力データθ_1-1、θ
_1-2、θ_2-1、θ_2-2それぞれに関する現時点ｔ以前の
時間ｔ−１〜ｔ−（ｍ−１）のｍ−１ステップ分のデー
タを記憶する。平滑化処理部５１１では、この記憶部５
１２からこれらのｍ−１ステップ分のθの値を読み出
し、現時点ｔのθの値をも含めたそれぞれｍ個のデータ
の平均値を算出する。この結果として得られるθ_1-1、
θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2それぞれの平均値θ_a1-1、θ
_a1-2、θ_a2-1、θ_a2-2を使用して位置算出部５１３が指
示物Ｓの位置を、大きさ算出部５１４が指示物Ｓの大き
さをそれぞれ算出する。記憶部５１２ではこの平滑化処
理部５１１による平均化処理が一度実行される都度、最
も古いデータ、即ち時間ｔ−（ｍ−１）のデータを廃棄
し、現時点ｔのデータを時間ｔ−１のデータとし、各時
間のデータを順送りに更新する。

【００６０】なお、上記の例では、平滑化処理部５１１
において、ｍ個のデータの平均値を算出するようにした
が、ｍ個のデータの中央値を求めるようにしても良い。

【００６１】図４は算出手段５１の他の構成例を示す機
能ブロック図である。上述の図３に示されている例で
は、計測手段からの出力データの平滑値を最初に平滑化
処理部５１１により求めた後に指示物Ｓの位置及び大き
さを算出しているが、この図４に示されている例では、
まず指示物Ｓの位置及び大きさを算出した後にそれらの
平滑値を求めるようにしている。

【００６２】図４の算出手段５１は、指示物Ｓの位置を
算出する位置算出部５１３と、位置の複数の算出結果に
平滑化処理を行う平滑化処理部５１１ａと、位置の複数
の算出結果を記憶する記憶部５１２ａと、指示物Ｓの大
きさを算出する大きさ算出部５１４と、大きさの複数の
算出結果に平滑化処理を行う平滑化処理部５１１ｂと、
大きさの複数の算出結果を記憶する記憶部５１２ｂとを
有する。

【００６３】計測手段からの出力データθ_1-1、
θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2はまず位置算出部５１３に入力
される。位置算出部５１３では、入力された計測手段か
らの出力データθ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2に従っ
て指示物Ｓの位置（ｘ，ｙ）を算出し、その結果を大き
さ算出部５１４，平滑化処理部５１１ａ及び記憶部５１
２ａに与える。大きさ算出部５１４では位置算出部５１
３からの出力に従って指示物Ｓの大きさｒを算出し、そ
の結果を平滑化処理部５１１ｂ及び記憶部５１２ｂに与
える。

【００６４】両平滑化処理部５１１ａ，５１１ｂは位置
算出部５１３の算出結果及び大きさ算出部５１４の算出
結果に対して平均化処理を行う。ある時間ｎにおける指
示物Ｓの位置（ｘ_n，ｙ_n），大きさｒ_nが平滑化処理
部５１１ａ，５１１ｂにそれぞれ入力される。

【００６５】記憶部５１２ａは、位置算出部５１３の現
時点ｎの算出結果（ｘ_n，ｙ_n）と現時点ｎ以前の時間
ｎ−１〜ｎ−（ｍ−１）のｍ−１ステップ分のデータと
を記憶する。平滑化処理部５１１ａでは、記憶部５１２
ａに記憶されているｍ−１ステップ分の指示物Ｓの位置
を読み出し、現時点ｎの指示物Ｓの位置（ｘ_n，ｙ_n）
をも含めたｍ個のデータの平均を算出する。この算出結
果である指示物Ｓの平均位置（ｘ_an，ｙ_an）が算出手段
５１の出力となる。

【００６６】一方、記憶部５１２ｂは、大きさ算出部５
１４の現時点ｎの算出結果ｒ_nと現時点ｎ以前の時間ｎ
−１〜ｎ−（ｍ−１）のｍ−１ステップ分のデータとを
記憶する。平滑化処理部５１１ｂでは、記憶部５１２ｂ
に記憶されているｍ−１ステップ分の指示物Ｓの大きさ
を読み出し、現時点ｎの指示物Ｓの大きさｒ_nをも含め
たｍ個のデータの平均を算出する。この算出結果である
指示物Ｓの平均大きさｒ_anが算出手段５１の出力とな
る。

【００６７】両記憶部５１２ａ，５１２ｂでは、上述の
両平滑化処理部５１１ａ，５１１ｂでの平均化処理が実
行される都度、最も古いデータ、即ち時間ｎ−（ｍ−
１）のデータを廃棄し、現時点ｎのデータを時間ｎ−１
のデータとし、各時間のデータを順送りに更新する。

【００６８】なお、上記の例では、両平滑化処理部５１
１ａ，５１１ｂにおいて、ｍ個のデータの平均値を算出
するようにしたが、ｍ個のデータの中央値を求めるよう
にしても良い。

【００６９】平滑化処理部５１１，５１１ａ，５１１ｂ
において、前述したように時間的に連続したｍ個のデー
タの平均値（または中央値）を算出する。しかし、この
ｍ個のデータ中に、ノイズまたはタッチパネルの他のエ
ラー要因によって通常の値とは著しく異なったデータが
含まれてしまった場合、その結果として得られる平均値
（または中央値）も本来の値とは著しく異なってしまう
虞がある。そこで、平滑化処理の対象となるべきｍ個の
データを大きさ順に並べ換え、値が大きい方からのｎ１
個のデータと値が小さい方からのｎ２個のデータとを除
外したｍ−（ｎ１＋ｎ２）個（但し、ｍ＞ｎ１＋ｎ２）
に対してのみ平滑化処理を行うようにする。これによっ
て、平滑化処理の対象となるｍ個の数値中に著しく大き
な値または著しく小さな値が含まれていても、それらが
平均値（または中央値）に与える影響を小さくすること
ができる。

【００７０】以下、図５のフローチャートを参照して具
体的に説明する。なお、この図５に示されているフロー
チャートは前述の図４の構成に適用した例を示している
が、基本的な考え方は図３に示されている構成にも適用
可能であることは言うまでもない。

【００７１】まず、計測手段から一組のデータが出力さ
れると位置算出部５１３及び大きさ算出部５１４におい
て指示物Ｓの位置及び大きさの算出が行われ (ステップ
Ｓ１１）、また両記憶部５１２ａ，５１２ｂの内容が更
新される (ステップＳ１２）。そして、両平滑化処理部
５１１ａ，５１１ｂはそれぞれ記憶部５１２ａ，５１２
ｂからｍ個のデータ列を取得し (ステップＳ１３）、そ
れらのｍ個のデータを値が大きい順に並び替え (ステッ
プＳ１４）、値が大きい方のｎ１個と小さい方のｎ２個
とを破棄し (ステップＳ１５，Ｓ１６）、残りのｍ−
（ｎ１＋ｎ２）個の平均を求め (ステップＳ１７）、こ
の結果を指示物Ｓの位置（ｘ_an，ｙ_an）及び大きさｒ_an
として決定する (ステップＳ１８）。

【００７２】ところで、上述の例では、他と著しく異な
った数値の全てが本来の値よりも例えば著しく小さいよ
うな場合には数値は大きいながらも本来の値により近い
数値が破棄される可能性がある。そこで、平滑化処理の
対象であるｍ個の数値の標準偏差を求め、標準偏差が大
きいｎ個のデータを除いたｍ−ｎ個のデータのみを対象
として平滑化処理を行うことにより上述のような問題の
解決を図る。

【００７３】また、残りのｍ−ｎ個のデータの標準偏差
の内の最大のものが所定値よりも大きいような場合は、
このｍ−ｎ個のデータにも本来の値とは異なるものが含
まれていると判断する。この場合、指示物Ｓの通常の位
置及び大きさの算出処理は行わず、所定のエラー値を出
力する。これにより、ノイズまたはタッチパネルの他の
エラー要因によって正常な位置と大きさとの検出が行え
なかったことを報知する。

【００７４】以下、図６のフローチャートを参照して具
体的に説明する。図６において、ステップＳ２１，Ｓ２
２，Ｓ２３は前述の図５のステップＳ１１，Ｓ１２，Ｓ
１３と同様の処理である。両平滑化処理部５１１ａ，５
１１ｂはステップＳ２３においてｍ個のデータ列を両記
憶部５１２ａ，５１２ｂからそれぞれ取得した後、平均
値を算出する (ステップＳ２４）。また同時に両平滑化
処理部５１１ａ，５１１ｂは、ｍ個のデータの標準偏差
を算出し (ステップＳ２５）、それらのｍ個のデータを
標準偏差が大きい順に並び替え (ステップＳ２６）、偏
差が大きい方のｎ個のデータを破棄し (ステップＳ２
７）、残りのｍ−ｎ個のデータ中の標準偏差の最大値が
所定値よりも大きいか否かを調べる (ステップＳ２
８）。

【００７５】その標準偏差が所定値以下である場合には
（Ｓ２８：ＮＯ）、両平滑化処理部５１１ａ，５１１ｂ
はｍ−ｎ個のデータの平均を求め (ステップＳ２９）、
この結果を指示物Ｓの位置（ｘ_an，ｙ_an）及び大きさｒ
_anとして決定する (ステップＳ３０）。一方、その標準
偏差が所定値より大きい場合には（Ｓ２８：ＹＥＳ）、
両平滑化処理部５１１ａ，５１１ｂは平均化処理は行わ
ずにエラー値が指示物Ｓの位置及び大きさとされ (ステ
ップＳ３１）、指示物Ｓの位置と大きさとが決定される
(ステップＳ３０）。これにより、オペレータは指示物
Ｓの正常な位置及び大きさが検出不可能であったことを
認識することが可能になる。

【００７６】ノイズまたはタッチパネルの他のエラー要
因による異常な値を排除する他の処理について説明す
る。まず計測手段からの入力データであるθ_1-1、θ
_1-2、θ _2-1、θ_2-2が、それぞれ所定範囲内に無い場
合、通常の算出処理は行わずに指示物Ｓの位置と大きさ
とを予め定められているエラー値に設定する。また、算
出された指示物Ｓの位置（ｘ，ｙ）が所定範囲内に無い
場合にも同様に処理される。これらの処理の結果、最終
的な指示物Ｓの位置と大きさとの値にエラー値が設定さ
れると記憶部５１２に記憶されているデータもエラーデ
ータになる。そこで、記憶部５１２に記憶されているエ
ラー値の数を調べ、その数が所定数以上であった場合に
は平均化処理を行わないようにする。

【００７７】図７はそのような平滑化処理部５１１での
処理手順を示すフローチャートである。まず、計測手段
から計測結果が取得され (ステップＳ４１）、それがそ
れぞれ所定値内であるか否かが判断され (ステップＳ４
２）、一つでも所定値外である場合には (Ｓ４２：Ｎ
Ｏ）、指示物Ｓの位置及び大きさがエラー値とされる
(ステップＳ４９）。

【００７８】計測値が全て所定値内である場合には (Ｓ
４２：ＹＥＳ）、指示物Ｓの位置と大きさとが算出され
(ステップＳ４３）、その結果が所定範囲内であるか否
かが判断される (ステップＳ４４）。その結果が所定範
囲内でない場合には (Ｓ４４：ＮＯ）、指示物Ｓの位置
及び大きさがエラー値とされる (Ｓ４９）。その結果が
所定範囲内である場合には (Ｓ４４：ＹＥＳ）、記憶部
５１２の内容が更新されて過去の算出結果のデータ列が
取得される (ステップＳ４５）。

【００７９】そして、この記憶部５１２から取得された
過去の算出結果の内の指示物Ｓの位置のデータのエラー
値の数が所定数より少ないか否かが判断される (ステッ
プＳ４６）。エラー値の数が所定数以上である場合には
(Ｓ４６：ＮＯ）、指示物Ｓの位置及び大きさがエラー
値とされる (Ｓ４９）。エラー値の数が所定数より少な
い場合には (Ｓ４６：ＹＥＳ）、更に過去の算出結果の
内の指示物Ｓの大きさのデータのエラー値の数が所定数
より少ないか否かが判断される (ステップＳ４７）。エ
ラー値の数が所定数以上である場合には (Ｓ４７：Ｎ
Ｏ）、指示物Ｓの位置及び大きさがエラー値とされる
(Ｓ４９）。エラー値の数が所定数より少ない場合には
(Ｓ４７：ＹＥＳ）、平滑化処理部５１１による平均化
処理が実行され (ステップＳ４８）、指示物Ｓの位置及
び大きさが決定され (ステップＳ５０）、記憶部５１２
の内容が更新される (ステップＳ５１）。

【００８０】また、指示物Ｓの位置及び大きさがエラー
値とされると (Ｓ４９）、これが指示物Ｓの位置及び大
きさとして決定され (Ｓ５０）、記憶部５１２の内容が
更新される (Ｓ５１）。

【００８１】図８は、本発明の他の光走査型タッチパネ
ルの基本構成を示す模式図である。図８に示す構成で
は、ＭＰＵ５の内部構成が図１に示すものと異なってお
り、ＭＰＵ５は、指示物Ｓの位置及び大きさを算出する
算出手段５３と、算出手段５３の算出結果に基づいて指
示物Ｓが表示画面１０に接触しているか否かを判別する
接触判別手段５４と、表示装置６を制御する画像制御手
段５２とで構成される。他の構成は、前述の図１の光走
査型タッチパネルと同じであり、同一部分には同一番号
を付してそれらの説明を省略する。

【００８２】また、図９は、この算出手段５３の一構成
例を示す機能ブロック図である。算出手段５３は前述の
如く、ＭＰＵ５の機能として実現されており、ここに示
されている機能ブロック図もＭＰＵ５で実行されるソフ
トウェア機能を示している。但し、同等の機能を実現す
る専用ハードウェアとして実現することも勿論可能であ
り、その場合には処理速度の高速化が可能である。

【００８３】算出手段５３は、計測手段の出力（特徴
量）が所定範囲内であるか否かを判別する特徴量判別部
５３１と、一連の複数の特徴量のデータに平滑化処理を
行う第１平滑化処理部５３２と、一連の複数の特徴量の
データを記憶する第１記憶部５３３と、第１平滑化処理
部５３２の出力に基づいて指示物Ｓの位置及び大きさを
算出する位置・大きさ算出部５３４と、算出した一連の
複数の位置及び大きさのデータに平滑化処理を行う第２
平滑化処理部５３５と、算出した一連の複数の位置及び
大きさのデータを記憶する第２記憶部５３６とを有す
る。

【００８４】計測手段、具体的には光送受ユニット１
ａ，１ｂからの出力である特徴量θ_1- ₁、θ_1-2、θ
_2-1、θ_2-2が特徴量判別部５３１に入力され、それら
の各角度及びそれらから計測されるθ₁，θ₂が所定範
囲内であるかが判別される。そしてこれらのうちの何れ
かが所定範囲内でない場合にはエラーフラグがオンとな
る。なお、この特徴量判別部５３１での処理動作の詳細
については後述する。

【００８５】第１平滑化処理部５３２及び第１記憶部５
３３には、ある時間ｔにおける出力θ_1-1,ｔ、θ_1-2,
ｔ、θ_2-1,ｔ、θ_2-2,ｔが入力される。第１記憶部５３
３には、各出力データθ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2
それぞれに関する現時点ｔ以前の時間ｔ−１〜ｔ−（ｍ
−１）のｍ−１ステップ分のデータが記憶されており、
第１平滑化処理部５３２は、この第１記憶部５３３から
これらのｍ−１ステップ分のθの値を読み出し、現時点
ｔのθの値をも含めたそれぞれｍ個のデータの平均値を
算出し、その算出結果を位置・大きさ算出部５３４へ出
力する。なお、第１記憶部５３３では、この第１平滑化
処理部５３２による平均化処理が一度実行される都度、
最も古いデータ、即ち時間ｔ−（ｍ−１）のデータを廃
棄し、現時点ｔのデータを時間ｔ−１のデータとし、各
時間のデータを順送りに更新する。

【００８６】位置・大きさ算出部５３４は、この平均化
処理の結果として得られるθ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、θ
_2-2それぞれの平均値θ_a1-1、θ_a1-2、θ_a2-1、θ_a2-2
を使用して、指示物Ｓの位置（ｘ，ｙ）及び大きさｒを
それぞれ算出し、その算出結果を第２平滑化処理部５３
５及び第２記憶部５３６へ出力する。即ち、ある時間ｎ
における指示物Ｓの位置（ｘ_n，ｙ_n）と大きさｒ_nと
が第２平滑化処理部５３５及び第２記憶部５３６へ入力
される。

【００８７】第２記憶部５３６には、指示物Ｓの位置及
び大きさに関する現時点ｎ以前の時間ｎ−１〜ｎ−（ｍ
−１）のｍ−１ステップ分のデータが記憶されており、
第２平滑化処理部５３５は、第２記憶部５３６に記憶さ
れているｍ−１ステップ分の指示物Ｓの位置を読み出
し、現時点ｎの指示物Ｓの位置（ｘ_n，ｙ_n）をも含め
たｍ個のデータの平均を算出すると共に、第２記憶部５
３６に記憶されているｍ−１ステップ分の指示物Ｓの大
きさを読み出し、現時点ｎの指示物Ｓの大きさｒ _nをも
含めたｍ個のデータの平均を算出する。このような算出
結果である指示物Ｓの平均位置（ｘ_an，ｙ_an）及び指示
物Ｓの平均大きさｒ_anが算出手段５３の出力となる。な
お、第２記憶部５３６では、この第２平滑化処理部５３
５での平均化処理が実行される都度、最も古いデータ、
即ち時間ｎ−（ｍ−１）のデータを廃棄し、現時点ｎの
データを時間ｎ−１のデータとし、各時間のデータを順
送りに更新する。

【００８８】なお、上述した例では、第１平滑化処理部
５３２及び第２平滑化処理部５３５において、ｍ個のデ
ータの平均値を算出するようにしたが、ｍ個のデータの
中央値を求めるようにしても良い。

【００８９】次に、図９に示す算出手段５３（特徴量判
別部５３１，第１平滑化処理部５３２，第１記憶部５３
３，位置・大きさ算出部５３４，第２平滑化処理部５３
５及び第２記憶部５３６）と接触判別手段５４との処理
動作について説明する。

【００９０】第１平滑化処理部５３２，第２平滑化処理
部５３５では、前述したように時間的に連続したｍ個の
データの平均値（または中央値）を算出するが、このｍ
個のデータ中に、ノイズまたはタッチパネルの他のエラ
ー要因によって通常の値とは著しく異なったデータが含
まれてしまった場合、その結果として得られる平均値
（または中央値）も本来の値とは著しく異なってしまう
虞がある。そこで、平滑化処理の対象となるべきｍ個の
データを大きさ順に並べ換え、値が大きい方からのｎ１
個のデータと、値が小さい方からのｎ２個のデータとを
除外したｍ−（ｎ１＋ｎ２）個（但し、ｍ＞ｎ１＋ｎ
２）に対してのみ平滑化処理を行うようにする。これに
よって、平滑化処理の対象となるｍ個の数値中に著しく
大きな値または著しく小さな値が含まれていても、それ
らが平均値（または中央値）に与える影響を小さくする
ことができる。なお、第１平滑化処理部５３２，第２平
滑化処理部５３５におけるこのような処理手順は、前述
した平滑化処理部５１１，５１１ａ，５１１ｂでの処理
手順（図５のフローチャート）と同様であるので、その
詳細な説明は省略する。

【００９１】上述の処理では、他と著しく異なった数値
の全てが本来の値よりも例えば著しく小さいような場合
には数値は大きいながらも本来の値により近い数値が破
棄される可能性がある。そこで、平滑化処理の対象であ
るｍ個の数値の標準偏差を求め、標準偏差が大きいｎ個
のデータを除いたｍ−ｎ個のデータのみを対象として平
均値（または中央値）を求めることによりこのような問
題の解決を図る。

【００９２】以下、図１０のフローチャートを参照して
具体的に説明する。なお、図１０では、第２平滑化処理
部５３５での処理手順を示しているが、第１平滑化処理
部５３２の処理手順も同様である。位置・大きさ算出部
５３４で算出された指示物Ｓの位置と大きさとが、第２
平滑化理部５３５及び第２記憶部５３６へ入力され（ス
テップＳ６１）、第２記憶部５３６の内容が更新される
（ステップＳ６２）。第２平滑化理部５３５は、第２記
憶部５３６から位置，大きさのそれぞれｍ個のデータ列
を取得し（ステップＳ６３）、それぞれｍ個のデータの
平均値（または中央値）を算出する (ステップＳ６
４）。

【００９３】また、第２平滑化理部５３５は、それぞれ
ｍ個のデータの標準偏差を算出し (ステップＳ６５）、
それぞれのｍ個のデータを標準偏差が大きい順に並び替
え (ステップＳ６６）、偏差が大きい方のそれぞれｎ個
のデータを破棄し (ステップＳ６７）、残りのそれぞれ
（ｍ−ｎ）個のデータの平均値（または中央値）を算出
する (ステップＳ６８）。そして、この算出結果を指示
物Ｓの位置（ｘ_an，ｙ _an）及び大きさｒ_anとして決定す
る (ステップＳ６９）。

【００９４】特徴量として算出手段５３（特徴量判別部
５３１）に入力されるθ_1-1、θ_1- ₂、θ_2-1、θ_2-2
は、光走査手段による走査角度範囲を超えることはな
い。もし、この走査角度範囲を超えるような値が計測さ
れた場合、その値は、ノイズ等の影響を受けた異常な値
か、指示物Ｓが表示画面に接触していない状態における
異常な値と考えられる。また、前述した式（１），
（２）で算出されるθ₁，θ₂もこの走査角度範囲を超
えることはない。よって、これらの角度の値が走査角度
範囲を超えて出力された場合には、エラーフラグをオン
にして、入力された特徴量が異常であることを以後の処
理に反映させるようにする。

【００９５】以下、特徴量判別部５３１での処理手順を
示す図１１のフローチャートを参照して具体的に説明す
る。まず、計測手段から特徴量θ_1-1、θ_1-2、
θ_2-1、θ _2-2を入力する（ステップＳ７１）。そし
て、これらの特徴量θ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、θ_2-2が
所定範囲内（走査角度範囲内）であるか否かを順次判断
する（ステップＳ７２，Ｓ７３，Ｓ７４，Ｓ７５）。何
れかが所定範囲内でない場合には（Ｓ７２，Ｓ７３，Ｓ
７４，Ｓ７５の何れか：ＮＯ）、エラーフラグをオンに
する（ステップＳ８１）。

【００９６】すべてが所定範囲内である場合には（Ｓ７
２，Ｓ７３，Ｓ７４，Ｓ７５の全て：ＹＥＳ）、式
（１），（２）に従ってθ₁，θ₂を算出する（ステッ
プＳ７６）。算出したθ₁，θ₂が所定範囲内（走査角
度範囲内）であるか否かを順次判断する（ステップＳ７
７，Ｓ７８）。何れかが所定範囲内でない場合には（Ｓ
７７，Ｓ７８の何れか：ＮＯ）、エラーフラグをオンに
する（Ｓ８１）。すべてが所定範囲内である場合には
（Ｓ７７，Ｓ７８の全て：ＹＥＳ）、エラーフラグをオ
フとする（ステップＳ７９）。そして、設定したエラー
フラグを送る（ステップＳ８０）。

【００９７】指示物Ｓが表示画面１０の所定領域に接触
し、特徴量判別部５３１から正規の特徴量が算出手段５
３に入力され始めても、第１記憶部５３３または第２記
憶部５３６に所定数のデータ列が記憶されるまでは、第
１平滑化処理部５３２または第２平滑化処理部５３５で
平滑化処理を行えない。そこで、算出手段５３では、第
１記憶部５３３，第２記憶部５３６内のデータ列の数を
常に監視し、所定数のデータ列が記憶されていない状態
では、指示物Ｓの最終的な正規の位置及び大きさの代わ
りに所定のエラーデータを出力して、まだ正規の位置及
び大きさを出力できないことを以後の処理に反映させる
ようにする。また、前記エラーフラグがオンである場合
にも、このエラーデータを出力する。

【００９８】以下、算出手段５３での処理手順を示す図
１２のフローチャートを参照して具体的に説明する。ま
ず、特徴量をエラーフラグと共に特徴量判別部５３１か
ら入力する（ステップＳ９１）。入力されたエラーフラ
グがオフであるか否かを判断する（ステップＳ９２）。
エラーフラグがオンである場合には（Ｓ９２：ＮＯ）、
エラーデータを出力する（ステップＳ１０１）。

【００９９】エラーフラグがオフである場合には（Ｓ９
２：ＹＥＳ）、第１記憶部５３３の内容を更新し（ステ
ップＳ９３）、第１記憶部５３３内に所定数のデータ列
が記憶されているか否かを判断する（ステップＳ９
４）。所定数未満である場合には（Ｓ９４：ＮＯ）、エ
ラーデータを出力する（Ｓ１０１）。所定数に達してい
る場合には（Ｓ９４：ＹＥＳ）、第１平滑化処理部５３
２にて特徴量に対する平滑化処理を行い（ステップＳ９
５）、その平滑化処理結果に基づいて指示物Ｓの位置及
び大きさを位置・大きさ算出部５３４にて算出し（ステ
ップＳ９６）、第２記憶部５３６の内容を更新する（ス
テップＳ９７）。

【０１００】第２記憶部５３６内に所定数のデータ列が
記憶されているか否かを判断する（ステップＳ９８）。
所定数未満である場合には（Ｓ９８：ＮＯ）、エラーデ
ータを出力する（Ｓ１０１）。所定数に達している場合
には（Ｓ９８：ＹＥＳ）、第２平滑化処理部５３５にて
指示物Ｓの位置及び大きさに対する平滑化処理を行い
（ステップＳ９９）、その平滑化処理結果を正規の指示
物Ｓの位置及び大きさとして出力する（ステップＳ１０
０）。

【０１０１】上述したように、この例では、算出手段５
３から所定の時間間隔で常に出力信号が出力されてい
る。つまり、指示物Ｓが正規に検出された場合には、正
規の位置及び大きさが出力され、指示物Ｓが正規に検出
されない場合には、エラーデータが出力される。接触判
別手段５４は、正規の位置及び大きさが入力された場合
に指示物Ｓが表示画面１０の所定領域に接触していると
判別して接触フラグをオンにする。また、指示物Ｓが接
触していてもノイズ等の影響でエラーデータが出力され
る可能性があるので、ある所定の回数以上連続してエラ
ーデータが入力された場合に、接触判別手段５４は、指
示物Ｓが所定領域に接触せずに表示画面１０から離れて
いる状態であると判別して接触フラグをオフにする。そ
して、接触フラグがオンからオフに変化する際に、第１
記憶部５３３及び第２記憶部５３６内のデータ列をすべ
て消去して、それぞれの平滑化処理を初期化する。

【０１０２】以下、接触判別手段５４での処理手順を示
す図１３のフローチャートを参照して具体的に説明す
る。まず、算出手段５３からの出力信号を入力し（ステ
ップＳ１１１）、その出力信号がエラーデータであるか
否かを判断する（ステップＳ１１２）。エラーデータで
ない場合、即ち正規のデータである場合には（Ｓ１１
２：ＮＯ）、接触フラグをオンにして（ステップＳ１１
７）、その入力データを指示物Ｓの位置及び大きさとし
て出力する（ステップＳ１１８）。

【０１０３】一方、エラーデータである場合には（Ｓ１
１２：ＹＥＳ）、接触フラグがオンであるか否かを判断
する（ステップＳ１１３）。オンでなければ（Ｓ１１
３：ＮＯ）、その接触フラグをオフとする（ステップＳ
１１９）。接触フラグがオンである場合には（Ｓ１１
３：ＹＥＳ）、エラーデータが所定数ｋ個以上連続して
入力されたか否かを判断する（ステップＳ１１４）。ｋ
個以上連続入力されていない場合には（Ｓ１１４：Ｎ
Ｏ）、接触フラグをオンとする（ステップＳ１２０）。

【０１０４】一方、エラーデータがｋ個以上連続入力さ
れている場合には（Ｓ１１４：ＹＥＳ）、接触フラグを
オフとし（ステップＳ１１５）、第１記憶部５３３及び
第２記憶部５３６内のデータを消去する（ステップＳ１
１６）。

【０１０５】ところで、本発明の光走査型タッチパネル
では、前述したように、指示物Ｓの大きさとして、Ｃｈ
１の光送受ユニット１ｂから出力される数値θ_1-2から
算出するｒ１と、Ｃｈ２の光送受ユニット１ａから出力
される数値θ_2-2から算出するｒ２との２つの値を得る
ことができる。

【０１０６】しかし、ノイズまたはタッチパネルの他の
エラー要因によってｒ１またはｒ２の何れか一方、或い
は、双方共に正常な数値とは大きく異なっている可能性
がある場合があり得る。そこで、まず、ｒ１とｒ２とが
それぞれ所定の正常な数値範囲内であるか否かを判定
し、更に、ｒ１とｒ２とを比較し、両者の差が所定範囲
内であるか否かを判別する。これらが所定範囲外である
場合には、通常の処理を行わずに予め定められているエ
ラー値を出力する。これにより、ノイズまたはタッチパ
ネルの他のエラー要因によって正常な位置・大きさの検
出が行えなかったことを報知する。一方、それらが所定
範囲内の場合には、ｒ１とｒ２との平均値、または大き
い方か小さい方の何れかを指示物Ｓの大きさとして出力
する。

【０１０７】以下、算出手段５１，５３での指示物Ｓの
大きさの算出方法とエラー値処理手順とを示す図１４の
フローチャートを参照して具体的に説明する。まず、計
測手段から計測結果（θ_1-1、θ_1-2、θ_2-1、
θ_2-2）を取得し (ステップＳ１２１）、指示物Ｓの位
置を算出して (ステップＳ１２２）、指示物Ｓの大きさ
ｒ１，ｒ２をθ_1-2，θ_2-2からそれぞれ算出する (ス
テップＳ１２３，Ｓ１２４）。

【０１０８】そして、θ_1-2から算出された指示物Ｓの
大きさｒ１と、θ_2-2から算出された指示物Ｓの大きさ
ｒ２とがそれぞれ所定範囲内であるか否かを判断する
(ステップＳ１２５，Ｓ１２６）。それぞれが何れも所
定範囲内である場合には (Ｓ１２５，Ｓ１２６の何れ
も：ＹＥＳ）、両者の差が所定範囲内であるか否かを判
断する (ステップＳ１２７）。その差が所定範囲内であ
る場合には (Ｓ１２７：ＹＥＳ）、ｒ１とｒ２との何れ
か大きい方または小さい方を選択するか、或いは、両者
の平均値を求めることにより (ステップＳ１２８）、指
示物Ｓの大きさを決定する (ステップＳ１３０）。

【０１０９】ｒ１，ｒ２の少なくとも一方が所定範囲外
である (Ｓ１２５，Ｓ１２６の何れか：ＮＯ）、また
は、両者の差が所定範囲外である (Ｓ１２７：ＮＯ）場
合には、所定のエラー値を指示物Ｓの大きさとし (ステ
ップＳ１２９）、その大きさを決定する (Ｓ１３０）。
これにより、オペレータは指示物Ｓの正常な位置及び大
きさが検出不可能であったことを認識することが可能に
なる。

【０１１０】また、本発明の光走査型タッチパネルにお
いては、指示物Ｓの位置と大きさとを算出する際に、表
示画面１０上での分解能が両光送受ユニット１ａ，１ｂ
に対する距離によって大きく異なるため、検出精度も表
示画面１０の位置によって大きく変化する。これは、光
の走査角度の測定分解能と三角測量の幾何学的な問題と
に起因する。

【０１１１】そこで、そのような検出精度が低下する領
域では、平滑化処理に使用するデータの数ｍを多くする
ことにより検出結果のばらつきを検出精度が良好な他の
位置より低くしている。一方、データの数ｍが多くなる
と計算量が多くなるため、他の処理に悪影響を及ぼす可
能性があるというトレードオフの関係がある。そこで、
指示物Ｓの表示画面１０上の位置に応じてデータの数ｍ
を適宜に変更することにより、このようなトレードオフ
を解決する。

【０１１２】図１５は、指示物Ｓの表示画面１０の位置
に応じて、平滑化処理に使用するデータの数ｍを変更す
る処理手順を示すフローチャートであり、また図１６
は、表示画面１０上の指示物Ｓの位置と平滑化処理に使
用するデータの設定数ｍとの関係を示す模式図である。
なお、この関係は、算出手段５１，５３内のメモリ（図
示せず）にテーブルデータとして格納されている。

【０１１３】まず、計測手段から出力されたデータに基
づいて指示物Ｓの位置を算出し (ステップＳ１３１）、
前回の平滑化処理時に決定されていたデータ数ｍで平滑
化処理を行う (ステップＳ１３２）。但し、最初はデー
タ数ｍは１でもよい。ステップＳ１３１において算出さ
れた指示物Ｓの位置に基づいてｍをメモリのテーブルか
ら取得する (ステップＳ１３３）。次に、メモリに記憶
されているテーブルから取得したデータ数ｍに次回の平
滑化処理時のデータ数ｍを更新する (ステップＳ１３
４）。

【０１１４】なお、このｍの取得のためのテーブルは、
図１６の模式図に示されているような両光送受ユニット
１ａ，１ｂからの表示画面１０上の距離に対応したほぼ
扇形の複数の領域に分割した各領域についてのデータ数
ｍをそれぞれの位置のデータと対応つけて予めメモリに
格納している。もとより、このテーブルの内容はそれほ
どには厳密である必要は無く、前述した如く、光の走査
角度の測定分解能と三角測量の幾何学的な問題とに概略
的に対応していればよい。

【０１１５】

【発明の効果】以上に詳述したように本発明によれば、
直接的に得られるデータに基づいて演算によって指また
はペン等の指示物の位置及び大きさを求める際に、平滑
化処理を行うようにしたので、その算出結果を確度が高
いものとすることが可能である。

【０１１６】また、明らかにエラーと見なされるべき結
果が得られると予想される場合、または、そのような結
果が得られた場合には、演算処理を中止するか、また
は、得られた結果を廃棄するようにしたので、異常な算
出結果が得られることを防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光走査型タッチパネルの基本構成を示
す模式図である。

【図２】本発明の光走査型タッチパネルによる座標面で
の位置検出動作の原理を示す模式図である。

【図３】算出手段の構成例を示す機能ブロック図であ
る。

【図４】算出手段の構成例を示す機能ブロック図であ
る。

【図５】平滑化処理部での処理手順の一例を示すフロー
チャートである。

【図６】平滑化処理部での処理手順の一例を示すフロー
チャートである。

【図７】平滑化処理部での処理手順の一例を示すフロー
チャートである。

【図８】本発明の光走査型タッチパネルの基本構成を示
す模式図である。

【図９】算出手段の構成例を示す機能ブロック図であ
る。

【図１０】平滑化処理部での処理手順の一例を示すフロ
ーチャートである。

【図１１】特徴量判別部での処理手順の一例を示すフロ
ーチャートである。

【図１２】算出手段での処理手順の一例を示すフローチ
ャートである。

【図１３】接触判別手段での処理手順の一例を示すフロ
ーチャートである。

【図１４】算出手段での指示物の大きさの算出方法とエ
ラー値処理手順の一例を示すフローチャートである。

【図１５】平滑化処理部での処理手順の一例を示すフロ
ーチャートである。

【図１６】表示画面上の指示物の位置と平滑化処理に使
用するデータの設定数との関係を示す模式図である。

【符号の説明】

１ａ，１ｂ光送受ユニット５ＭＰＵ６表示装置７再帰性反射シート１０表示画面１１ａ，１１ｂ発光素子１２ａ，１２ｂ光走査手段１３ａ，１３ｂ受光素子１６ａ，１６ｂポリゴンミラー５１，５３算出手段５４接触判別手段５１１，５１１ａ，５１１ｂ平滑化処理部５１２，５１２ａ，５１２ｂ記憶部５１３位置算出部５１４大きさ算出部５３１特徴量判別部５３２第１平滑化処理部５３３第１記憶部５３４位置・大きさ算出部５３５第２平滑化処理部５３６第２記憶部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者中沢文彦神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内 (72)発明者飯田安津夫神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内 (72)発明者安部文隆神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】所定領域に位置する指示物を光学的に走
査する光学的走査手段と、該光学的走査手段による走査
の結果に基づいて前記指示物の位置及び大きさを算出す
る算出手段とを備えた光走査型タッチパネルにおいて、
前記算出手段は、前記指示物の位置及び大きさを算出す
る処理中の特定の段階において、所定数の一連の数値列
を平滑化する平滑化処理手段を有し、前記平滑化処理手
段による平滑化処理の結果を使用して前記指示物の位置
及び大きさを算出すべくなしてあることを特徴とする光
走査型タッチパネル。
【請求項２】前記光学的走査手段は、前記所定領域の
外側に設けた光再帰性反射手段と、前記所定領域と実質
的に平行である面内で光を角的に走査する光走査手段、
及び、光によって照射された部分の前記光再帰性反射手
段による反射光を受光する受光手段を有する少なくとも
２組の光送受手段と、前記光走査手段での走査角度及び
前記受光手段での受光結果に基づいて、前記指示物にて
形成される前記所定領域での走査光の遮断範囲を計測す
る計測手段とを有する請求項１記載の光走査型タッチパ
ネル。
【請求項３】前記平滑化処理手段は、前記光学的走査
手段による直近の過去の一連の所定回数の走査の結果を
平滑化処理し、前記算出手段は、前記平滑化処理手段に
よる平滑化処理の結果に基づいて前記指示物の位置及び
大きさを算出すべくなしてある請求項１または２記載の
光走査型タッチパネル。
【請求項４】前記光学的走査手段は、前記光学的走査
手段による一回の光学的走査の結果に基づいて前記指示
物の位置及び大きさを算出し、前記平滑化処理手段は、
前記光算出手段による直近の過去の一連の所定回数の算
出結果を平滑化処理すべくなしてある請求項１または２
記載の光走査型タッチパネル。
【請求項５】前記平滑化処理手段は、平滑化すべき一
連の数値列中の所定の条件を満たす数値を選択して平滑
化処理すべくなしてある請求項３または４記載の光走査
型タッチパネル。
【請求項６】前記平滑化処理手段は、平滑化すべきｍ
個（ｍは１以上の自然数）の数値列中の、値が大なる順
からｎ１個及び小なる順からｎ２個を除外した残りの数
値を平滑化処理すべくなしてある請求項３または４記載
の光走査型タッチパネル。
【請求項７】前記平滑化処理手段は、平滑化すべき数
値列における標準偏差が小なる所定数の数値を平滑化処
理すべくなしてある請求項３または４記載の光走査型タ
ッチパネル。
【請求項８】前記平滑化処理手段は、平滑化すべき数
値列における標準偏差が小なる所定数の数値の内の最大
の標準偏差の数値が所定値より大なる場合には所定のエ
ラー処理を行うべくなしてある請求項３または４記載の
光走査型タッチパネル。
【請求項９】前記算出手段は、前記光学的走査手段に
よる走査の結果が、所定の基準範囲外である場合には、
所定のエラー処理を行うべくなしてある請求項１または
２記載の光走査型タッチパネル。
【請求項１０】前記算出手段は、前記指示物が前記所
定領域外部に位置することを意味する算出結果が得られ
た場合には、所定のエラー処理を行うべくなしてある請
求項１または２記載の光走査型タッチパネル。
【請求項１１】所定領域に位置する指示物を光学的に
走査する光学的走査手段と、該光学的走査手段による走
査の結果に基づいて前記指示物の特徴量を計測する計測
手段と、該計測手段によって計測された特徴量に基づい
て前記指示物の位置及び大きさを算出する算出手段とを
備えた光走査型タッチパネルにおいて、前記算出手段
は、前記計測手段によって計測された特徴量が所定範囲
内にあるか否かを判別する判別部と、所定範囲内にある
と判別された所定数の一連の特徴量の数値列を平滑化す
る第１平滑化処理部と、該第１平滑化処理部にて得られ
る平滑化特徴量を用いて前記指示物の位置及び大きさを
算出する位置・大きさ算出部と、算出された所定数の一
連の位置及び／または大きさの数値列を平滑化する第２
平滑化処理部と、該第２平滑化処理部による平滑化処理
の結果を使用して前記指示物の位置及び大きさを算出す
べくなしてあることを特徴とする光走査型タッチパネ
ル。
【請求項１２】前記光学的走査手段は、前記所定領域
の外側に設けた光再帰性反射手段と、前記所定領域と実
質的に平行である面内で光を角的に走査する光走査手
段、及び、光によって照射された部分の前記光再帰性反
射手段による反射光を受光する受光手段を有する少なく
とも２組の光送受手段と、前記光走査手段での走査角度
及び前記受光手段での受光結果に基づいて、前記指示物
にて形成される前記所定領域での走査光の遮断範囲を計
測する計測手段とを有する請求項１１記載の光走査型タ
ッチパネル。
【請求項１３】前記第１平滑化処理部及び／または前
記第２平滑化処理部は、所定数の一連の数値列を記憶す
る記憶部を有し、該記憶部に記憶された数値列の中から
所定の条件を満たす数値を選択して平滑化処理を行うべ
くなしてある請求項１１または１２記載の光走査型タッ
チパネル。
【請求項１４】前記第１平滑化処理部及び／または前
記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶されたｍ個の
数値列中から値が大なる順からｎ１個及び小なる順から
ｎ２個を除外した残りのｍ−（ｎ１＋ｎ２）個の数値を
選択してそれらの平均値を求めるべくなしてある請求項
１３記載の光走査型タッチパネル。
【請求項１５】前記第１平滑化処理部及び／または前
記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶されたｍ個の
数値列中から値が大なる順からｎ１個及び小なる順から
ｎ２個を除外した残りのｍ−（ｎ１＋ｎ２）個の数値を
選択してそれらの中央値を求めるべくなしてある請求項
１３記載の光走査型タッチパネル。
【請求項１６】前記第１平滑化処理部及び／または前
記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶された数値列
中から標準偏差が小なる所定個の数値を選択してそれら
の平均値を求めるべくなしてある請求項１３記載の光走
査型タッチパネル。
【請求項１７】前記第１平滑化処理部及び／または前
記第２平滑化処理部は、前記記憶部に記憶された数値列
中から標準偏差が小なる所定個の数値を選択してそれら
の中央値を求めるべくなしてある請求項１３記載の光走
査型タッチパネル。
【請求項１８】前記計測手段によって計測された１ま
たは複数の特徴量が所定範囲内にないと前記判別部が判
別した場合には、所定のエラー処理を行うべくなしてあ
る請求項１１〜１７の何れかに記載の光走査型タッチパ
ネル。
【請求項１９】前記第１平滑化処理部は、所定数の一
連の数値列を記憶する記憶部を有し、該記憶部に所定数
以上の特徴量の数値が記憶されていない場合には、所定
のエラー処理を行うべくなしてある請求項１１または１
２記載の光走査型タッチパネル。
【請求項２０】前記第２平滑化処理部は、所定数の一
連の数値列を記憶する記憶部を有し、該記憶部に所定数
以上の前記指示物の位置及び／または大きさの数値が記
憶されていない場合には、所定のエラー処理を行うべく
なしてある請求項１１または１２記載の光走査型タッチ
パネル。
【請求項２１】前記算出手段の算出結果に基づいて、
前記指示物が前記所定領域に接触しているか否かを判別
する接触判別手段を更に備える請求項１〜２０の何れか
に記載の光走査型タッチパネル。
【請求項２２】前記接触判別手段は、前記算出手段で
の前記指示物の位置及び大きさの算出結果が所定範囲内
である場合に、前記指示物が前記所定領域に接触してい
ると判別すべくなしてある請求項２１記載の光走査型タ
ッチパネル。
【請求項２３】前記算出手段は、所定の時間間隔で、
前記指示物の位置及び大きさの算出結果が所定範囲内で
あるか否かを判別し、算出結果が所定範囲内である場合
にはその算出結果を出力し、算出結果が所定範囲内でな
い場合にはエラー信号を出力することとし、前記エラー
信号が所定の回数以上にわたって出力された場合に、前
記接触判別手段は、前記指示物が前記所定領域から離れ
ていると判別すべくなしてある請求項２１記載の光走査
型タッチパネル。
【請求項２４】前記算出手段は、前記指示物の位置及
び大きさの算出結果が所定範囲内であるか否かを判別
し、算出結果が所定範囲内である場合にはその算出結果
を出力し、算出結果が所定範囲内でない場合にはその算
出結果を出力しないこととし、所定時間以上にわたって
算出結果が出力されない場合に、前記接触判別手段は、
前記指示物が前記所定領域から離れていると判別すべく
なしてある請求項２１記載の光走査型タッチパネル。
【請求項２５】前記接触判別手段により、前記指示物
が前記所定領域に接触している状態から前記指示物が前
記所定領域から離れている状態に変化することを判別し
た場合、前記第１平滑化処理部及び第２平滑化処理部に
付随する記憶部に記憶されている一連の数値列を消去し
て初期化すべくなしてある請求項２１記載の光走査型タ
ッチパネル。
【請求項２６】前記光学的走査手段は、前記所定領域
を光学的に走査して前記指示物による走査光の遮断範囲
を表す数値を測定する少なくとも２組の光送受手段を有
し、前記算出手段は、前記少なくとも２組の光送受手段
により得られる数値それぞれに基づいて前記指示物の大
きさの算出処理を行い、算出結果の内の最大値または最
小値を算出結果とすべくなしてある請求項１〜２５の何
れかに記載の光走査型タッチパネル。
【請求項２７】前記光学的走査手段は、前記所定領域
を光学的に走査して前記指示物による走査光の遮断範囲
を表す数値を測定する少なくとも２組の光送受手段を有
し、前記算出手段は、前記少なくとも２組の光送受手段
により得られる数値それぞれに基づいて前記指示物の大
きさの算出処理を行い、算出結果の平均値を算出結果と
すべくなしてある請求項１〜２５の何れかに記載の光走
査型タッチパネル。
【請求項２８】前記光学的走査手段は、所定領域を光
学的に走査して前記指示物による走査光の遮断範囲を表
す数値を測定する少なくとも２組の光送受手段を有し、
前記算出手段は、前記少なくとも２組の光送受手段によ
り得られる数値それぞれに基づいて前記指示物の大きさ
の算出処理を行い、算出結果の少なくとも前記指示物の
位置または大きさとして選択した値が所定範囲より大な
る場合には、所定のエラー処理を行うべくなしてある請
求項１〜２５の何れかに記載の光走査型タッチパネル。
【請求項２９】前記光学的走査手段は、所定領域を光
学的に走査して前記指示物による走査光の遮断範囲を表
す数値を測定する少なくとも２組の光送受手段を有し、
前記算出手段は、前記少なくとも２組の光送受手段によ
り得られる数値それぞれに基づいて前記指示物の大きさ
の算出処理を行い、算出結果の内の最大値と最小値との
差が所定範囲外である場合には、所定のエラー処理を行
うべくなしてある請求項１〜２５の何れかに記載の光走
査型タッチパネル。
【請求項３０】前記平滑化処理手段は、平滑化すべき
一連の数値列中に、所定範囲外の数値が所定個数以上存
在する場合には、所定のエラー処理を行うべくなしてあ
る請求項１〜２５の何れかに記載の光走査型タッチパネ
ル。
【請求項３１】前記平滑化処理手段は、前記算出手段
により算出された前記指示物の位置に応じて、爾後の平
滑化すべき一連の数値の数を変更すべくなしてある請求
項１〜３０の何れかに記載の光走査型タッチパネル。