JPH0946212A - Cmos回路 - Google Patents
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- JPH0946212A JPH0946212A JP7209297A JP20929795A JPH0946212A JP H0946212 A JPH0946212 A JP H0946212A JP 7209297 A JP7209297 A JP 7209297A JP 20929795 A JP20929795 A JP 20929795A JP H0946212 A JPH0946212 A JP H0946212A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 低電圧駆動が可能で、高速動作特性と低リー
ク電流特性を有し、且つ出力信号の制御方法が簡単で、
動作速度の改善が容易な回路構成をもつCMOS回路を
提供する。 【解決手段】 低しきい値電圧のPMOSトランジスタ
15と高しきい値電圧のNMOSトランジスタ16でC
MOS出力段を構成する。トランジスタ15を駆動する
インバータ11と低電位電源端子2との間に低しきい値
NMOSトランジスタ13を接続する。トランジスタ1
6を駆動するインバータ12と高電位電源端子1との間
に低しきい値PMOSトランジスタ14を接続する。両
インバータ11、13に共通の信号を入力し、両トラン
ジスタ13、14を相補の制御信号CL、*CLで制御
する。
ク電流特性を有し、且つ出力信号の制御方法が簡単で、
動作速度の改善が容易な回路構成をもつCMOS回路を
提供する。 【解決手段】 低しきい値電圧のPMOSトランジスタ
15と高しきい値電圧のNMOSトランジスタ16でC
MOS出力段を構成する。トランジスタ15を駆動する
インバータ11と低電位電源端子2との間に低しきい値
NMOSトランジスタ13を接続する。トランジスタ1
6を駆動するインバータ12と高電位電源端子1との間
に低しきい値PMOSトランジスタ14を接続する。両
インバータ11、13に共通の信号を入力し、両トラン
ジスタ13、14を相補の制御信号CL、*CLで制御
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、バッファ回路、反
転バッファ回路、その他の回路等として利用されるCM
OS回路に係り、特に高しきい値電圧のMOSトランジ
スタと低しきい値電圧のMOSトランジスタを組み合せ
て低電源電圧で高速動作し低消費電力特性を有するCM
OS回路に関するものである。
転バッファ回路、その他の回路等として利用されるCM
OS回路に係り、特に高しきい値電圧のMOSトランジ
スタと低しきい値電圧のMOSトランジスタを組み合せ
て低電源電圧で高速動作し低消費電力特性を有するCM
OS回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】MT(マルチスレッショルド)CMOS
技術(例えば、特開平6−29834号)を用いた従来
のバッファ回路では、制御信号により、スリープ制御
(非動作時のリーク電流を防止する制御)や出力端子を
高インピーダンス状態(フローティング状態)にするた
めの制御が行われる。
技術(例えば、特開平6−29834号)を用いた従来
のバッファ回路では、制御信号により、スリープ制御
(非動作時のリーク電流を防止する制御)や出力端子を
高インピーダンス状態(フローティング状態)にするた
めの制御が行われる。
【0003】図8は従来のバッファ回路を示す回路図で
ある。50は高電位(VDD)電源端子、51は低電位
(GND)電源端子、52は別系統の高電位(VD
D′)電源端子、53は別系統の低電位(GND′)電
源端子である。また、54は信号入力端子、55は信号
出力端子、56、57は互いに位相が逆の相補の制御信
号(PD、*PD)が入力する制御入力端子、58はセ
レクト制御信号(SL)が入力する制御入力端子であ
る。
ある。50は高電位(VDD)電源端子、51は低電位
(GND)電源端子、52は別系統の高電位(VD
D′)電源端子、53は別系統の低電位(GND′)電
源端子である。また、54は信号入力端子、55は信号
出力端子、56、57は互いに位相が逆の相補の制御信
号(PD、*PD)が入力する制御入力端子、58はセ
レクト制御信号(SL)が入力する制御入力端子であ
る。
【0004】59は低しきい値電圧のPMOSトランジ
スタ、60は高しきい値電圧のNMOSトランジスタで
あり、ソースが各々高電位電源端子52、低電位電源端
子53に接続され、ドレインが各々信号出力端子55に
共通接続され、CMOS出力段を構成している。
スタ、60は高しきい値電圧のNMOSトランジスタで
あり、ソースが各々高電位電源端子52、低電位電源端
子53に接続され、ドレインが各々信号出力端子55に
共通接続され、CMOS出力段を構成している。
【0005】61は2入力ナンドゲート、62、63は
インバータであり、各々低しきい値電圧のMOSトラン
ジスタで構成され、順次縦続接続されている。また、ナ
ンドゲート61は2個の入力側が各々信号入力端子54
と制御入力端子58に接続され、インバータ63は出力
側がPMOSトランジスタ59のゲートに接続されてい
る。
インバータであり、各々低しきい値電圧のMOSトラン
ジスタで構成され、順次縦続接続されている。また、ナ
ンドゲート61は2個の入力側が各々信号入力端子54
と制御入力端子58に接続され、インバータ63は出力
側がPMOSトランジスタ59のゲートに接続されてい
る。
【0006】これらナンドゲート61、インバータ6
2、63の高電位電源側は高電位電源端子50に共通接
続され、低電位側電源側は高しきい値電圧のNMOSト
ランジスタ64のドレイン・ソースを介して低電位電源
端子51に共通に接続されている。このNMOSトラン
ジスタ64のゲートには制御入力端子56が接続されて
いる。
2、63の高電位電源側は高電位電源端子50に共通接
続され、低電位側電源側は高しきい値電圧のNMOSト
ランジスタ64のドレイン・ソースを介して低電位電源
端子51に共通に接続されている。このNMOSトラン
ジスタ64のゲートには制御入力端子56が接続されて
いる。
【0007】65はインバータ、66は2入力ナンドゲ
ート、67はインバータであり、各々低しきい値電圧の
MOSトランジスタで構成され、縦続接続されている。
インバータ65は信号入力端子54に入力側が接続さ
れ、ナンドゲート66の一方の入力側はそのインバータ
65の出力側に、他方の入力側は制御入力端子58に接
続されている。また、インバータ67はその入力側がナ
ンドゲート66の出力側に、出力側がNMOSトランジ
スタ60のゲートに接続されている。
ート、67はインバータであり、各々低しきい値電圧の
MOSトランジスタで構成され、縦続接続されている。
インバータ65は信号入力端子54に入力側が接続さ
れ、ナンドゲート66の一方の入力側はそのインバータ
65の出力側に、他方の入力側は制御入力端子58に接
続されている。また、インバータ67はその入力側がナ
ンドゲート66の出力側に、出力側がNMOSトランジ
スタ60のゲートに接続されている。
【0008】これらインバータ65、ナンドゲート6
6、インバータ67の低電位電源側は低電位電源端子5
1に共通接続され、高電位電源側は高しきい値電圧のP
MOSトランジスタ68のドレイン・ソースを介して高
電位電源端子50に共通接続されている。このPMOS
トランジスタ68のゲートには制御入力端子57が接続
されている。
6、インバータ67の低電位電源側は低電位電源端子5
1に共通接続され、高電位電源側は高しきい値電圧のP
MOSトランジスタ68のドレイン・ソースを介して高
電位電源端子50に共通接続されている。このPMOS
トランジスタ68のゲートには制御入力端子57が接続
されている。
【0009】この回路では、制御入力端子56、57の
制御信号PDが高レベル電圧、制御信号*PDが低レベ
ル電圧のとき、NMOSトランジスタ54が導通状態に
なりナンドゲート61、インバータ62、63に電源が
供給されて動作状態となり、またPMOSトランジスタ
68も導通状態になりインバータ65、ナンドゲート6
6、インバータ67に電源が供給されて動作状態とな
る。
制御信号PDが高レベル電圧、制御信号*PDが低レベ
ル電圧のとき、NMOSトランジスタ54が導通状態に
なりナンドゲート61、インバータ62、63に電源が
供給されて動作状態となり、またPMOSトランジスタ
68も導通状態になりインバータ65、ナンドゲート6
6、インバータ67に電源が供給されて動作状態とな
る。
【0010】このバッファ回路の動作は次の通りであ
る。まず、上記のように制御信号PDが高レベル電圧、
制御信号*PDが低レベル電圧で、且つ制御信号SLが
高レベル電圧のとき、選択回路を構成しするナンドゲー
ト61、66がインバータとして機能し、信号入力端子
54に入力している信号Vinの論理状態を反転した信
号が、PMOSトランジスタ59、NMOSトランジス
タ60のゲートに与えられる。
る。まず、上記のように制御信号PDが高レベル電圧、
制御信号*PDが低レベル電圧で、且つ制御信号SLが
高レベル電圧のとき、選択回路を構成しするナンドゲー
ト61、66がインバータとして機能し、信号入力端子
54に入力している信号Vinの論理状態を反転した信
号が、PMOSトランジスタ59、NMOSトランジス
タ60のゲートに与えられる。
【0011】例えば、入力信号Vinが高レベル電圧の
とき、両トランジスタ59、60のゲートには低レベル
電圧が与えられ、PMOSトランジスタ59が導通し、
NMOSトランジスタ60が遮断して、信号出力端子5
5には高レベル電圧の出力信号Voutが得られる。
とき、両トランジスタ59、60のゲートには低レベル
電圧が与えられ、PMOSトランジスタ59が導通し、
NMOSトランジスタ60が遮断して、信号出力端子5
5には高レベル電圧の出力信号Voutが得られる。
【0012】また、入力信号Vinが低レベル電圧のと
き、両トランジスタ59、60のゲートには高レベル電
圧が与えられ、PMOSランジスタ59が遮断し、NM
OSランジスタ60が導通して、信号出力端子55には
低レベル電圧の出力信号Voutが得られる。
き、両トランジスタ59、60のゲートには高レベル電
圧が与えられ、PMOSランジスタ59が遮断し、NM
OSランジスタ60が導通して、信号出力端子55には
低レベル電圧の出力信号Voutが得られる。
【0013】次に、制御信号PDが高レベル電圧、制御
信号*PDが低レベル電圧で、且つ制御信号SLが低レ
ベル電圧のとき、上記と同様に低しきい値トランジスタ
はその全てが動作状態となるが、ナンドゲート61、6
6がゲートを遮断して入力側の信号にかかわらず高レベ
ル電圧を出力するので、PMOSトランジスタ59のゲ
ートは高レベル電圧に、NMOSトランジスタ60のゲ
ートは低レベル電圧になる。
信号*PDが低レベル電圧で、且つ制御信号SLが低レ
ベル電圧のとき、上記と同様に低しきい値トランジスタ
はその全てが動作状態となるが、ナンドゲート61、6
6がゲートを遮断して入力側の信号にかかわらず高レベ
ル電圧を出力するので、PMOSトランジスタ59のゲ
ートは高レベル電圧に、NMOSトランジスタ60のゲ
ートは低レベル電圧になる。
【0014】このため、両トランジスタ59、60は遮
断状態となって、信号出力端子55は高インピーダンス
となる。正確には、この信号出力端子55は、PMOS
トランジスタ59が低しきい値電圧であることにより、
このPMOSトランジスタ59を流れるリーク電流によ
り負荷が充電完了すると最終的には高電位となるが、イ
ンピーダンス的には高インピーダンスとなる。
断状態となって、信号出力端子55は高インピーダンス
となる。正確には、この信号出力端子55は、PMOS
トランジスタ59が低しきい値電圧であることにより、
このPMOSトランジスタ59を流れるリーク電流によ
り負荷が充電完了すると最終的には高電位となるが、イ
ンピーダンス的には高インピーダンスとなる。
【0015】さらに、制御信号PDが低レベル電圧、制
御信号*PDが高レベル電圧のときは、両トランジスタ
64、68が遮断状態となって、低しきい値電圧のトラ
ンジスタは全てスリープ状態となる。このとき、低しき
い値電圧のトランジスタのリーク電流によって、インバ
ータ63の出力は高レベル電圧に、インバータ67の出
力は低レベル電圧になるため、トランジスタ59、60
は遮断状態となり、出力端子55は高インピダンスとな
る。
御信号*PDが高レベル電圧のときは、両トランジスタ
64、68が遮断状態となって、低しきい値電圧のトラ
ンジスタは全てスリープ状態となる。このとき、低しき
い値電圧のトランジスタのリーク電流によって、インバ
ータ63の出力は高レベル電圧に、インバータ67の出
力は低レベル電圧になるため、トランジスタ59、60
は遮断状態となり、出力端子55は高インピダンスとな
る。
【0016】このように、このバッファ回路は、MTC
MOS技術を用いて信号入力端子54からCMOS出力
段のPMOSトランジスタ59、NMOSトランジスタ
60までの回路を構成し、このCMOS出力段のPMO
Sトランジスタ59を低しきい値電圧のものに、NMO
Sトランジスタ60を高しきい値電圧のものに設定する
ことにより、スリープ時の低リーク電流特性による低消
費電流特性と動作時の高速動作特性との実現を図り、更
に低電源電圧も達成している。
MOS技術を用いて信号入力端子54からCMOS出力
段のPMOSトランジスタ59、NMOSトランジスタ
60までの回路を構成し、このCMOS出力段のPMO
Sトランジスタ59を低しきい値電圧のものに、NMO
Sトランジスタ60を高しきい値電圧のものに設定する
ことにより、スリープ時の低リーク電流特性による低消
費電流特性と動作時の高速動作特性との実現を図り、更
に低電源電圧も達成している。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来のバッファ回路では、ナンドゲート61、66が
用いられており、このため電源端子間のゲート段数が増
加することから、遅延時間が大きくなり、さらなる速度
の改善が難しいという欠点をもっている。
た従来のバッファ回路では、ナンドゲート61、66が
用いられており、このため電源端子間のゲート段数が増
加することから、遅延時間が大きくなり、さらなる速度
の改善が難しいという欠点をもっている。
【0018】本発明の目的は、低電圧駆動が可能で、高
速動作特性と低消費電流特性を有し、且つ出力信号の制
御方法が簡単で、動作速度の改善が容易な回路構成をも
つCMOS回路を提供することである。
速動作特性と低消費電流特性を有し、且つ出力信号の制
御方法が簡単で、動作速度の改善が容易な回路構成をも
つCMOS回路を提供することである。
【0019】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、信号入力
端子に入力する信号をそのまま又は反転して入力する低
しきい値電圧のMOSトランジスタで構成された第1、
第2のインバータと、該第1のインバータの低電位電源
側と低電位電源端子との間に接続された高しきい値電圧
の第1のNMOSトランジスタと、上記第2のインバー
タの高電位電源側と高電位電源端子との間に接続された
高しきい値電圧の第1のPMOSトランジスタと、上記
第1のインバータの出力側がゲートに接続された第2の
PMOSトランジスタと、上記第2のインバータの出力
側がゲートに接続された第2のNMOSトランジスタと
を具備し、上記第2のPMOSトランジスタと上記第2
のNMOSトランジスタのドレインを信号出力端子に共
通接続してCMOS出力段を構成するとともに、上記第
2のPMOSトランジスタと上記第2のNMOSトラン
ジスタの一方を低しきい値電圧に、他方を高しきい値電
圧に設定し、上記第1のNMOSトランジスタのゲート
を第1の制御入力端子に接続すると共に、上記第1のP
MOSトランジスタのゲートを上記第1の制御入力端子
に入力する制御信号と相補の関係にある別の制御信号が
入力する第2の制御入力端子に接続し、上記第1のイン
バータの高電位電源側を上記高電位電源端子に接続する
と共に、上記第2のインバータの低電位電源側を上記低
電位電源端子に接続し、上記第2のPMOSトランジス
タのソースを上記高電位電源端子又は別の高電位電源端
子に接続すると共に、上記第2のNMOSトランジスタ
のソースを上記低電位電源端子又は別の低電位電源端子
に接続した、ことを特徴とするCMOS回路として構成
した。
端子に入力する信号をそのまま又は反転して入力する低
しきい値電圧のMOSトランジスタで構成された第1、
第2のインバータと、該第1のインバータの低電位電源
側と低電位電源端子との間に接続された高しきい値電圧
の第1のNMOSトランジスタと、上記第2のインバー
タの高電位電源側と高電位電源端子との間に接続された
高しきい値電圧の第1のPMOSトランジスタと、上記
第1のインバータの出力側がゲートに接続された第2の
PMOSトランジスタと、上記第2のインバータの出力
側がゲートに接続された第2のNMOSトランジスタと
を具備し、上記第2のPMOSトランジスタと上記第2
のNMOSトランジスタのドレインを信号出力端子に共
通接続してCMOS出力段を構成するとともに、上記第
2のPMOSトランジスタと上記第2のNMOSトラン
ジスタの一方を低しきい値電圧に、他方を高しきい値電
圧に設定し、上記第1のNMOSトランジスタのゲート
を第1の制御入力端子に接続すると共に、上記第1のP
MOSトランジスタのゲートを上記第1の制御入力端子
に入力する制御信号と相補の関係にある別の制御信号が
入力する第2の制御入力端子に接続し、上記第1のイン
バータの高電位電源側を上記高電位電源端子に接続する
と共に、上記第2のインバータの低電位電源側を上記低
電位電源端子に接続し、上記第2のPMOSトランジス
タのソースを上記高電位電源端子又は別の高電位電源端
子に接続すると共に、上記第2のNMOSトランジスタ
のソースを上記低電位電源端子又は別の低電位電源端子
に接続した、ことを特徴とするCMOS回路として構成
した。
【0020】第2の発明は、上記第1の発明において、
上記高電位電源端子と上記第2のPMOSトランジスタ
のゲートにソースとドレインが各々接続され、ゲートが
上記第1の制御入力端子に接続された第3のPMOSト
ランジスタと、上記低電位電源端子と上記第2のNMO
Sトランジスタのゲートにソースとドレインが各々接続
され、ゲートが上記第2の制御入力端子に接続された第
3のNMOSトランジスタと、を具備することを特徴と
するCMOS回路として構成した。
上記高電位電源端子と上記第2のPMOSトランジスタ
のゲートにソースとドレインが各々接続され、ゲートが
上記第1の制御入力端子に接続された第3のPMOSト
ランジスタと、上記低電位電源端子と上記第2のNMO
Sトランジスタのゲートにソースとドレインが各々接続
され、ゲートが上記第2の制御入力端子に接続された第
3のNMOSトランジスタと、を具備することを特徴と
するCMOS回路として構成した。
【0021】第3の発明は、上記第1又は第2の発明に
おいて、PD制御信号が第1の論理状態のとき、SL制
御信号を反転させた信号を上記第1の制御入力端子に供
給すると共に、該SL制御信号と同じ論理の信号を上記
第2の制御入力端子に供給し、上記PD制御信号が上記
第1の論理状態と反対の第2の論理状態のとき、上記S
L制御信号の論理如何にかかわらず、上記第1の制御入
力端子に上記第1のNMOSトランジスタを遮断させる
制御信号を印加すると共に、上記第2の制御入力端子に
上記第1のPMOSトランジスタを遮断させる制御信号
を入力させる制御回路を具備することを特徴とするCM
OS回路として構成した。
おいて、PD制御信号が第1の論理状態のとき、SL制
御信号を反転させた信号を上記第1の制御入力端子に供
給すると共に、該SL制御信号と同じ論理の信号を上記
第2の制御入力端子に供給し、上記PD制御信号が上記
第1の論理状態と反対の第2の論理状態のとき、上記S
L制御信号の論理如何にかかわらず、上記第1の制御入
力端子に上記第1のNMOSトランジスタを遮断させる
制御信号を印加すると共に、上記第2の制御入力端子に
上記第1のPMOSトランジスタを遮断させる制御信号
を入力させる制御回路を具備することを特徴とするCM
OS回路として構成した。
【0022】
[第1の実施の形態]本発明の実施の形態について説明
する。図1はその第1の実施の形態のバッファ回路の回
路図である。1は高電位(VDD)電源端子、2は低電
位(GND)電源端子、3は別の高電位(VDD′)電
源端子、4は別の低電位(GND′)電源端子である。
高電位電源端子1と別の高電位電源端子3に印加する電
圧は、同一又は異なった電圧とすることができるが、別
の高電位電源端子3には駆動負荷容量に応じた容量の大
きな電源を接続する。なお、この高電位電源端子1と
3、低電位電源端子2、4は各々共通にすることもでき
る。5は信号入力端子、6は信号出力端子、7、8は互
いに位相が逆の相補の制御信号(CL、*CL)が入力
する第1、第2の制御入力端子である。
する。図1はその第1の実施の形態のバッファ回路の回
路図である。1は高電位(VDD)電源端子、2は低電
位(GND)電源端子、3は別の高電位(VDD′)電
源端子、4は別の低電位(GND′)電源端子である。
高電位電源端子1と別の高電位電源端子3に印加する電
圧は、同一又は異なった電圧とすることができるが、別
の高電位電源端子3には駆動負荷容量に応じた容量の大
きな電源を接続する。なお、この高電位電源端子1と
3、低電位電源端子2、4は各々共通にすることもでき
る。5は信号入力端子、6は信号出力端子、7、8は互
いに位相が逆の相補の制御信号(CL、*CL)が入力
する第1、第2の制御入力端子である。
【0023】9、10は縦続接続されたインバータ(イ
ンバータ群)であり、前段のインバータ9の入力側は信
号入力端子5に接続され、後段のインバータ10の出力
側はインバータ11(第1のインバータ)とインバータ
12(第2のインバータ)の入力側に共通接続されてい
る。そして、これらインハータ9、10は信号入力端子
5に入力する信号の波形整形やその他を行う。
ンバータ群)であり、前段のインバータ9の入力側は信
号入力端子5に接続され、後段のインバータ10の出力
側はインバータ11(第1のインバータ)とインバータ
12(第2のインバータ)の入力側に共通接続されてい
る。そして、これらインハータ9、10は信号入力端子
5に入力する信号の波形整形やその他を行う。
【0024】これらインバータ9〜11はその高電位電
源側が高電位電源端子1に接続され、低電位電源側が高
しきい値電圧のNMOSトランジスタ13(第1のNM
OSトランジスタ)のドレイン・ソースを介して低電位
電源端子2に接続されている。このNMOSトランジス
タ13のゲートには、制御入力端子7が接続されてい
る。
源側が高電位電源端子1に接続され、低電位電源側が高
しきい値電圧のNMOSトランジスタ13(第1のNM
OSトランジスタ)のドレイン・ソースを介して低電位
電源端子2に接続されている。このNMOSトランジス
タ13のゲートには、制御入力端子7が接続されてい
る。
【0025】また、インバータ12の低電位電源側は低
電位電源端子2に接続され、高電位電源側は高しきい値
電圧のPMOSトランジスタ14(第1のPMOSトラ
ンジスタ)のドレイン・ソースを介して高電位電源端子
1に接続されている。このPMOSトランジスタ14の
ゲートには制御入力端子8が接続されている。
電位電源端子2に接続され、高電位電源側は高しきい値
電圧のPMOSトランジスタ14(第1のPMOSトラ
ンジスタ)のドレイン・ソースを介して高電位電源端子
1に接続されている。このPMOSトランジスタ14の
ゲートには制御入力端子8が接続されている。
【0026】15は低しきい値電圧のPMOSトランジ
スタ(第2のPMOSトランジスタ)、16は高しきい
値電圧のNMOSトランジスタ(第2のNMOSトラン
ジスタ)であり、各々のソースはそれぞれ高電位電源端
子3、低電位電源端子4に接続され、ドレインは信号出
力端子6に共通接続されてCMOS出力段を構成してい
る。そして、PMOSトランジスタ15のゲートにはイ
ンバータ11の出力側が、NMOSトランジスタ16の
ゲートにはインバータ12の出力側が接続されている。
これら両トランジスタ15、16は大きな負荷駆動能力
をもたせるよう他のトランジスタよりも大きなサイズに
設定されている。
スタ(第2のPMOSトランジスタ)、16は高しきい
値電圧のNMOSトランジスタ(第2のNMOSトラン
ジスタ)であり、各々のソースはそれぞれ高電位電源端
子3、低電位電源端子4に接続され、ドレインは信号出
力端子6に共通接続されてCMOS出力段を構成してい
る。そして、PMOSトランジスタ15のゲートにはイ
ンバータ11の出力側が、NMOSトランジスタ16の
ゲートにはインバータ12の出力側が接続されている。
これら両トランジスタ15、16は大きな負荷駆動能力
をもたせるよう他のトランジスタよりも大きなサイズに
設定されている。
【0027】以上において、低しきい値電圧のNMOS
トランジスタ、PMOSトランジスタのしきい値は、例
えば0.2V〜0.3Vに設定され、高しきい値電圧の
NMOSトランジスタ、PMOSトランジスタのしきい
値は、例えば0.6V〜0.7Vに設定される。また、
高電位電源端子1、3の電圧は、例えば1Vに設定され
る。
トランジスタ、PMOSトランジスタのしきい値は、例
えば0.2V〜0.3Vに設定され、高しきい値電圧の
NMOSトランジスタ、PMOSトランジスタのしきい
値は、例えば0.6V〜0.7Vに設定される。また、
高電位電源端子1、3の電圧は、例えば1Vに設定され
る。
【0028】このバッファ回路の動作は次の通りであ
る。図2はこの動作を説明するための真理値を表す図
で、Hは高レベル電圧を、Lは低レベル電圧を示し、高
Zは高インピーダンスを示すものである。
る。図2はこの動作を説明するための真理値を表す図
で、Hは高レベル電圧を、Lは低レベル電圧を示し、高
Zは高インピーダンスを示すものである。
【0029】制御信号CLが高レベル電圧で、制御信号
*CLが低レベル電圧のとき、トランジスタ13、14
が導通状態となるので、インバータ9〜12はすべて動
作状態となり、信号入力端子5に入力する信号の論理を
反転した信号がトランジスタ15、16のゲートに与え
られる。
*CLが低レベル電圧のとき、トランジスタ13、14
が導通状態となるので、インバータ9〜12はすべて動
作状態となり、信号入力端子5に入力する信号の論理を
反転した信号がトランジスタ15、16のゲートに与え
られる。
【0030】例えば、信号入力端子5の入力信号Vin
が高レベル電圧のときは、トランジスタ15、16のゲ
ートには低レベル電圧が与えられ、トランジスタ15が
導通状態、トランジスタ16が遮断状態となって、信号
出力端子6の信号Voutは高レベル電圧となる。
が高レベル電圧のときは、トランジスタ15、16のゲ
ートには低レベル電圧が与えられ、トランジスタ15が
導通状態、トランジスタ16が遮断状態となって、信号
出力端子6の信号Voutは高レベル電圧となる。
【0031】また、信号入力端子5の入力信号Vinが
低レベル電圧のときは、トランジスタ15、16のゲー
トには高レベル電圧が与えられ、トランジスタ15が遮
断状態、トランジスタ16が導通状態となって、信号出
力端子6の信号Voutは低レベル電圧となる。
低レベル電圧のときは、トランジスタ15、16のゲー
トには高レベル電圧が与えられ、トランジスタ15が遮
断状態、トランジスタ16が導通状態となって、信号出
力端子6の信号Voutは低レベル電圧となる。
【0032】また、制御信号CLが低レベル電圧、制御
信号*CLが高レベル電圧のときは、トランジスタ1
3、14が遮断状態となってインバータ9〜12はスリ
ープ状態となる。このとき、低しきい値電圧のMOSト
ランジスタのリーク電流により、インバータ11は高レ
ベル電圧を出力し、インバータ12は低レベル電圧を出
力するので、PMOSトランジスタ15、NMOSトラ
ンジスタ16は遮断状態となり、出力端子6は高インピ
ーダンスとなる。正確には、この信号出力端子6は、P
MOSトランジスタ15が低しきい値電圧であることに
より、このPMOSトランジスタ15を流れるリーク電
流により負荷が充電完了すると最終的には高電位となる
が、インピーダンス的には高インピーダンスとなる。
信号*CLが高レベル電圧のときは、トランジスタ1
3、14が遮断状態となってインバータ9〜12はスリ
ープ状態となる。このとき、低しきい値電圧のMOSト
ランジスタのリーク電流により、インバータ11は高レ
ベル電圧を出力し、インバータ12は低レベル電圧を出
力するので、PMOSトランジスタ15、NMOSトラ
ンジスタ16は遮断状態となり、出力端子6は高インピ
ーダンスとなる。正確には、この信号出力端子6は、P
MOSトランジスタ15が低しきい値電圧であることに
より、このPMOSトランジスタ15を流れるリーク電
流により負荷が充電完了すると最終的には高電位となる
が、インピーダンス的には高インピーダンスとなる。
【0033】以上のようにこのバッファ回路では、電源
端子間に低しきい値電圧のMOSトランジスタと高しき
い値電圧のMOSトランジスタを直列接続した構成であ
るので、スリープ時に電源端子間を流れるリーク電流を
効果的に阻止できると同時に動作時の動作速度の高速化
も図られるようになり、また電源電圧の低電圧化も実現
でき低消費電流を達成することもができる。
端子間に低しきい値電圧のMOSトランジスタと高しき
い値電圧のMOSトランジスタを直列接続した構成であ
るので、スリープ時に電源端子間を流れるリーク電流を
効果的に阻止できると同時に動作時の動作速度の高速化
も図られるようになり、また電源電圧の低電圧化も実現
でき低消費電流を達成することもができる。
【0034】また、このバッファ回路では、相補の関係
にある1種の制御信号CL、*CLで信号出力端子6の
高インピーダンス制御とスリープ制御を同時に行うもの
である。これは、図8で説明した従来のバッファ回路
が、2種の信号(信号出力端子の高インピダンス制御を
行うための制御信号SLと、スリープ制御を行うための
制御信号PD、*PD)を使用し、これらによりバッフ
ァ回路に対してそれぞれ別の制御を行っていたのと大き
く異なる点である。
にある1種の制御信号CL、*CLで信号出力端子6の
高インピーダンス制御とスリープ制御を同時に行うもの
である。これは、図8で説明した従来のバッファ回路
が、2種の信号(信号出力端子の高インピダンス制御を
行うための制御信号SLと、スリープ制御を行うための
制御信号PD、*PD)を使用し、これらによりバッフ
ァ回路に対してそれぞれ別の制御を行っていたのと大き
く異なる点である。
【0035】すなわち、本発明のバッファ回路では、1
種の制御信号CL、*CLで信号出力端子の高インピー
ダンス制御とスリープ制御を同時に行う回路構成とした
ので、バッファ回路内の信号入力端子と信号出力端子と
の間を接続する回路部分にナンドゲートのような選択回
路を設ける必要がない。したがって、この部分の回路構
成が簡単化されると共に制御方法も簡単となり、同時に
動作のさらなる高速化も図ることができるようになる。
種の制御信号CL、*CLで信号出力端子の高インピー
ダンス制御とスリープ制御を同時に行う回路構成とした
ので、バッファ回路内の信号入力端子と信号出力端子と
の間を接続する回路部分にナンドゲートのような選択回
路を設ける必要がない。したがって、この部分の回路構
成が簡単化されると共に制御方法も簡単となり、同時に
動作のさらなる高速化も図ることができるようになる。
【0036】[第2の実施の形態]図3は第2の実施の
形態を示すもので、図1で説明したバッファ回路のイン
バータ9、10の部分を若干変更したバッファ回路を示
す回路図である。、図1のバッファ回路では、インバー
タ9、10の高電位電源側を直接的に高電位電源端子1
に接続し、低電位電源側をNMOSトランジスタ13の
ドレイン・ソースを介して低電位電源端子2に接続して
いたが、ここでは、高電位電源側をPMOSトランジス
タ14のドレイン・ソースを介して高電位電源端子1に
接続し、低電位電源側を直接的に低電位電源端子2に接
続したインバータ9′、10′を使用した。動作や作用
効果は図1のバッファ回路と同じである。
形態を示すもので、図1で説明したバッファ回路のイン
バータ9、10の部分を若干変更したバッファ回路を示
す回路図である。、図1のバッファ回路では、インバー
タ9、10の高電位電源側を直接的に高電位電源端子1
に接続し、低電位電源側をNMOSトランジスタ13の
ドレイン・ソースを介して低電位電源端子2に接続して
いたが、ここでは、高電位電源側をPMOSトランジス
タ14のドレイン・ソースを介して高電位電源端子1に
接続し、低電位電源側を直接的に低電位電源端子2に接
続したインバータ9′、10′を使用した。動作や作用
効果は図1のバッファ回路と同じである。
【0037】[第3の実施の形態]図4は第3の実施の
形態を示すもので、図1に示したバッファ回路の改変例
を示すものである。図1のバッファ回路と異なるとこと
ろは、低しきい値電圧のPMOSトランジスタ17(第
3のPMOSトランジスタ)と低しきい値電圧のNMO
Sトランジスタ18(第3のNMOSトランジスタ)を
追加した点である。PMOSトランジスタ17はドレイ
ンをPMOSトランジスタ15のゲートに、ソースを高
電位電源端子1に、ゲートを制御入力端子7に各々接続
し、NMOSトランジスタ18はドレインをNMOSト
ランジスタ16のゲートに、ソースを低電位電源端子2
に、ゲートを制御入力端子8に各々接続している。
形態を示すもので、図1に示したバッファ回路の改変例
を示すものである。図1のバッファ回路と異なるとこと
ろは、低しきい値電圧のPMOSトランジスタ17(第
3のPMOSトランジスタ)と低しきい値電圧のNMO
Sトランジスタ18(第3のNMOSトランジスタ)を
追加した点である。PMOSトランジスタ17はドレイ
ンをPMOSトランジスタ15のゲートに、ソースを高
電位電源端子1に、ゲートを制御入力端子7に各々接続
し、NMOSトランジスタ18はドレインをNMOSト
ランジスタ16のゲートに、ソースを低電位電源端子2
に、ゲートを制御入力端子8に各々接続している。
【0038】このバッファ回路は、制御信号CLが低レ
ベル電圧に設定されてインバータ11がフローティング
状態になったとき、PMOSトランジスタ17が同時に
導通状態になるので、インバータ11を構成する低しき
い値電圧のトランジスタのリーク電流に頼ることなく、
このPMOSトランジスタ17によってPMOSトラン
ジスタ15のゲート電圧が高レベル電圧に急速に確実に
固定される。
ベル電圧に設定されてインバータ11がフローティング
状態になったとき、PMOSトランジスタ17が同時に
導通状態になるので、インバータ11を構成する低しき
い値電圧のトランジスタのリーク電流に頼ることなく、
このPMOSトランジスタ17によってPMOSトラン
ジスタ15のゲート電圧が高レベル電圧に急速に確実に
固定される。
【0039】また、制御信号*CLが高レベル電圧に設
定されてインバータ12がフローティング状態になった
とき、NMOSトランジスタ18が同時に導通状態にな
るので、インバータ12を構成する低しきい値電圧のト
ランジスタのリーク電流に頼ることなく、NMOSトラ
ンジスタ18によってNMOSトランジスタ16のゲー
ト電圧が低レベル電圧に急速に確実に固定される。
定されてインバータ12がフローティング状態になった
とき、NMOSトランジスタ18が同時に導通状態にな
るので、インバータ12を構成する低しきい値電圧のト
ランジスタのリーク電流に頼ることなく、NMOSトラ
ンジスタ18によってNMOSトランジスタ16のゲー
ト電圧が低レベル電圧に急速に確実に固定される。
【0040】以上により、制御信号CLが低レベル電
圧、制御信号*CLが高レベル電圧に制御されインバー
タ9〜12がスリープ状態になるとき、トランジスタ1
5、16が急速かつ確実に遮断状態となり、信号出力端
子6が高インピーダンス状態になる。制御信号CLが高
レベル電圧、制御信号*CLが低レベル電圧に制御され
るときは、信号入力端子5に入力する信号のレベルに応
じて、図1のバッァ回路の動作と同様に動作する。
圧、制御信号*CLが高レベル電圧に制御されインバー
タ9〜12がスリープ状態になるとき、トランジスタ1
5、16が急速かつ確実に遮断状態となり、信号出力端
子6が高インピーダンス状態になる。制御信号CLが高
レベル電圧、制御信号*CLが低レベル電圧に制御され
るときは、信号入力端子5に入力する信号のレベルに応
じて、図1のバッァ回路の動作と同様に動作する。
【0041】なお、この図4のバッファ回路において、
低しきい値のPMOSトランジスタ17や低しきい値の
NMOSトランジスタ18は、各々高しきい値のPMO
Sトランジスタ、高しきい値のNMOSトランジスタに
置換することができる。
低しきい値のPMOSトランジスタ17や低しきい値の
NMOSトランジスタ18は、各々高しきい値のPMO
Sトランジスタ、高しきい値のNMOSトランジスタに
置換することができる。
【0042】[第4の実施の形態]図5は第4の実施の
形態のバッファ回路を示す回路図である。このバッファ
回路は、図8で説明した従来のバッファ回路のように信
号出力端子の高インピーダンスを実現するための制御信
号SLとスリープのための制御信号PDの2種類が制御
信号として与えられた場合であっても、図1に示したバ
ッファ回路が使用できるようにした制御回路19を追加
したものである。
形態のバッファ回路を示す回路図である。このバッファ
回路は、図8で説明した従来のバッファ回路のように信
号出力端子の高インピーダンスを実現するための制御信
号SLとスリープのための制御信号PDの2種類が制御
信号として与えられた場合であっても、図1に示したバ
ッファ回路が使用できるようにした制御回路19を追加
したものである。
【0043】この制御回路19は、スリープ制御用の制
御信号PDが与えられる第3の制御入力端子20、信号
出力端子を高インピーダンスに制御するための制御信号
SLが与えられる第4の制御入力端子21が入力側に接
続され、高電位電源側は高電位電源端子1に、低電位電
源側は低電位電源端子2に接続され、第1の制御出力端
子22は第1の制御入力端子7に、第2の制御出力端子
23は第2の制御入力端子8に接続されている。
御信号PDが与えられる第3の制御入力端子20、信号
出力端子を高インピーダンスに制御するための制御信号
SLが与えられる第4の制御入力端子21が入力側に接
続され、高電位電源側は高電位電源端子1に、低電位電
源側は低電位電源端子2に接続され、第1の制御出力端
子22は第1の制御入力端子7に、第2の制御出力端子
23は第2の制御入力端子8に接続されている。
【0044】24、25は高しきい値電圧のMOSトラ
ンジスタで構成されたインバータ、26は低しきい値電
圧のMOSトランジスタで構成されたインバータ、27
は低しきい値電圧のNMOSトランジスタ、28は高し
きい値電圧のPMOSトランジスタである。
ンジスタで構成されたインバータ、26は低しきい値電
圧のMOSトランジスタで構成されたインバータ、27
は低しきい値電圧のNMOSトランジスタ、28は高し
きい値電圧のPMOSトランジスタである。
【0045】インバータ24は入力側が制御入力端子2
0に接続され、出力側がトランジスタ27と28のゲー
トに接続される。インバータ26は入力側が制御入力端
子21に接続され、出力側はインバータ25の入力側と
制御出力端子22に接続される。このインバータ25の
出力側は制御出力端子23に接続される。PMOSトラ
ンジスタ28は高電位電源端子1とインバータの高電位
電源側にソースとドレインが接続され、NMOSトラン
ジスタ27はインバータ26の出力側と低電位電源端子
2にドレインとソースが接続される。
0に接続され、出力側がトランジスタ27と28のゲー
トに接続される。インバータ26は入力側が制御入力端
子21に接続され、出力側はインバータ25の入力側と
制御出力端子22に接続される。このインバータ25の
出力側は制御出力端子23に接続される。PMOSトラ
ンジスタ28は高電位電源端子1とインバータの高電位
電源側にソースとドレインが接続され、NMOSトラン
ジスタ27はインバータ26の出力側と低電位電源端子
2にドレインとソースが接続される。
【0046】図6は制御回路19の真理値を示す図であ
る。このバッファ回路では、制御信号PDが高レベル電
圧のときは、インバータ24の出力信号によってトラン
ジスタ28が導通状態になり、トランジスタ27が遮断
状態となって、インバータ26が動作状態となり、その
出力がそのままインバータ25に入力する。このため、
制御信号SLがインバータ26で反転されて出力端子2
2に制御信号CLとして現れ、またインバータ25で更
に反転されて出力端子23に制御信号*CLとして現れ
る。
る。このバッファ回路では、制御信号PDが高レベル電
圧のときは、インバータ24の出力信号によってトラン
ジスタ28が導通状態になり、トランジスタ27が遮断
状態となって、インバータ26が動作状態となり、その
出力がそのままインバータ25に入力する。このため、
制御信号SLがインバータ26で反転されて出力端子2
2に制御信号CLとして現れ、またインバータ25で更
に反転されて出力端子23に制御信号*CLとして現れ
る。
【0047】逆に、制御信号PDが低レベル電圧のとき
は、インバータ22の出力信号によってトランジスタ2
8が遮断状態になり、インバータ26の出力側がリーク
電流により低レベル電圧となるが、トランジスタ27が
導通状態となるので、インバータ25の入力信号は確実
に低レベル電圧に固定される。このため、制御信号SL
の論理状態如何に拘らず、制御信号CLは低レベル電
圧、制御信号*CLは高レベル電圧となる。
は、インバータ22の出力信号によってトランジスタ2
8が遮断状態になり、インバータ26の出力側がリーク
電流により低レベル電圧となるが、トランジスタ27が
導通状態となるので、インバータ25の入力信号は確実
に低レベル電圧に固定される。このため、制御信号SL
の論理状態如何に拘らず、制御信号CLは低レベル電
圧、制御信号*CLは高レベル電圧となる。
【0048】このように、スリープ制御を行う制御入力
端子20の制御信号PDが高レベル電圧にあるときは、
制御入力端子21の信号の論理状態に応じて、バッファ
回路を本来のバッファの動作をさせたり、信号出力端子
6の高インピーダンス状態を実現させたりすることがで
きる。また、制御入力端子20の信号PDが低レベル電
圧にあるときは、制御入力端子21の信号の論理状態に
かかわらず、バッファ回路をスリープ状態にすることが
できる。このとき、信号出力端子6は高インピーダンス
となる。
端子20の制御信号PDが高レベル電圧にあるときは、
制御入力端子21の信号の論理状態に応じて、バッファ
回路を本来のバッファの動作をさせたり、信号出力端子
6の高インピーダンス状態を実現させたりすることがで
きる。また、制御入力端子20の信号PDが低レベル電
圧にあるときは、制御入力端子21の信号の論理状態に
かかわらず、バッファ回路をスリープ状態にすることが
できる。このとき、信号出力端子6は高インピーダンス
となる。
【0049】[第5の実施の形態]図7は第5の実施の
形態のバッファ回路を示す図である。これは、図4に示
したバッファ回路に、図5で示した制御回路19、制御
入力端子20、21を追加したものであって、上記した
図5に示したバッファ回路とその動作や作用効果は同じ
である。
形態のバッファ回路を示す図である。これは、図4に示
したバッファ回路に、図5で示した制御回路19、制御
入力端子20、21を追加したものであって、上記した
図5に示したバッファ回路とその動作や作用効果は同じ
である。
【0050】[その他の実施の形態]なお、以上の各実
施の形態において、CMOS出力段は、PMOSトラン
ジスタを高しきい値電圧のものに、NMOSトランジス
タを低しきい値のものにすることもできる。この場合、
両トランジスタが遮断したときはNMOSトランジスタ
のリーク電流によって信号出力端子6が低レベル電圧に
なった状態の高インピーダンスとなる。また、インバー
タ9、10の組や9′、10′の組のインバータ群は、
これを使用せず又は各実施の形態で説明した2個とし又
は偶数個とした場合はバッファ回路として、また1個又
は奇数個とした場合は全体が反転バッファ回路として機
能する。
施の形態において、CMOS出力段は、PMOSトラン
ジスタを高しきい値電圧のものに、NMOSトランジス
タを低しきい値のものにすることもできる。この場合、
両トランジスタが遮断したときはNMOSトランジスタ
のリーク電流によって信号出力端子6が低レベル電圧に
なった状態の高インピーダンスとなる。また、インバー
タ9、10の組や9′、10′の組のインバータ群は、
これを使用せず又は各実施の形態で説明した2個とし又
は偶数個とした場合はバッファ回路として、また1個又
は奇数個とした場合は全体が反転バッファ回路として機
能する。
【0051】
【発明の効果】以上から第1の発明によれば、低電源電
圧で大容量の負荷を高速に駆動することが可能となり、
且つスリープ時のリーク電流を抑え低消費電流を実現す
ることが可能となるという利点に加えて、制御信号が相
補の1種であり、ナンドゲートを必要としないので回路
が簡素化され、より動作速度が改善されるという利点が
ある。
圧で大容量の負荷を高速に駆動することが可能となり、
且つスリープ時のリーク電流を抑え低消費電流を実現す
ることが可能となるという利点に加えて、制御信号が相
補の1種であり、ナンドゲートを必要としないので回路
が簡素化され、より動作速度が改善されるという利点が
ある。
【0052】第2の発明によれば、更にCMOS出力段
のMOSトランジスタを急速に確実に遮断させ、信号出
力端子の高インピダンス状態を実現させることができ
る。
のMOSトランジスタを急速に確実に遮断させ、信号出
力端子の高インピダンス状態を実現させることができ
る。
【0053】第3の発明によれば、信号出力端子の高イ
ンピーダンス制御のためのSL信号やスリープ制御のた
めのPD信号を入力する場合でも、これらを1種の相補
信号に変換させるので、第1の発明のCMOS回路を正
常に動作させることができるようになる。
ンピーダンス制御のためのSL信号やスリープ制御のた
めのPD信号を入力する場合でも、これらを1種の相補
信号に変換させるので、第1の発明のCMOS回路を正
常に動作させることができるようになる。
【図1】 本発明の第1の実施の形態のバッファ回路の
回路図である。
回路図である。
【図2】 図1のバッファ回路の動作の真理値を示す図
である。
である。
【図3】 本発明の第2の実施の形態のバッファ回路の
回路図である。
回路図である。
【図4】 本発明の第3の実施の形態のバッファ回路の
回路図である。
回路図である。
【図5】 本発明の第4の実施の形態のバッファ回路の
回路図である。
回路図である。
【図6】 図5のバッファ回路の制御回路の動作の真理
値を示す図である。
値を示す図である。
【図7】 本発明の第5の実施の形態のバッファ回路の
回路図である。
回路図である。
【図8】 従来のバッファ回路の回路図である。
1:高電位電源端子、2:低電位電源端子、3:高電位
電源端子、4:低電位電源端子、5:信号入力端子、
6:信号出力端子、7:第1の制御入力端子、8:第2
の制御入力端子、9、10、9′、10′:低しきい値
電圧のMOSトランジスタて構成されたインバータ(イ
ンバータ群)、11:低しきい値電圧のMOSトランジ
スタて構成された第1のインバータ、12:低しきい値
電圧のMOSトランジスタて構成された第2のインバー
タ、13:高しきい値電圧の第1のNMOSトランジス
タ、14:高しきい値電圧の第1のPMOSトランジス
タ、15:低しきい値電圧の第2のPMOSトランジス
タ、16:高しきい値電圧の第2のNMOSトランジス
タ、17:低しきい値電圧の第3のPMOSトランジス
タ、18:低しきい値電圧の第3のNMOSトランジス
タ、19:制御回路、20:第3の制御入力端子、2
1:第4の制御入力端子、22:第1の制御出力端子、
22:第2の制御出力端子、24、25:高しきい値電
圧のMOSトランジスタで構成されたインバータ、2
6:低しきい値電圧のMOSトランジスタで構成された
インバータ、27:低しきい値電圧のNMOSトランジ
スタ、28:高しきい値電圧のPMOSトランジスタ。
電源端子、4:低電位電源端子、5:信号入力端子、
6:信号出力端子、7:第1の制御入力端子、8:第2
の制御入力端子、9、10、9′、10′:低しきい値
電圧のMOSトランジスタて構成されたインバータ(イ
ンバータ群)、11:低しきい値電圧のMOSトランジ
スタて構成された第1のインバータ、12:低しきい値
電圧のMOSトランジスタて構成された第2のインバー
タ、13:高しきい値電圧の第1のNMOSトランジス
タ、14:高しきい値電圧の第1のPMOSトランジス
タ、15:低しきい値電圧の第2のPMOSトランジス
タ、16:高しきい値電圧の第2のNMOSトランジス
タ、17:低しきい値電圧の第3のPMOSトランジス
タ、18:低しきい値電圧の第3のNMOSトランジス
タ、19:制御回路、20:第3の制御入力端子、2
1:第4の制御入力端子、22:第1の制御出力端子、
22:第2の制御出力端子、24、25:高しきい値電
圧のMOSトランジスタで構成されたインバータ、2
6:低しきい値電圧のMOSトランジスタで構成された
インバータ、27:低しきい値電圧のNMOSトランジ
スタ、28:高しきい値電圧のPMOSトランジスタ。
Claims (3)
- 【請求項1】信号入力端子に入力する信号をそのまま又
は反転して入力する低しきい値電圧のMOSトランジス
タで構成された第1、第2のインバータと、該第1のイ
ンバータの低電位電源側と低電位電源端子との間に接続
された高しきい値電圧の第1のNMOSトランジスタ
と、上記第2のインバータの高電位電源側と高電位電源
端子との間に接続された高しきい値電圧の第1のPMO
Sトランジスタと、上記第1のインバータの出力側がゲ
ートに接続された第2のPMOSトランジスタと、上記
第2のインバータの出力側がゲートに接続された第2の
NMOSトランジスタとを具備し、 上記第2のPMOSトランジスタと上記第2のNMOS
トランジスタのドレインを信号出力端子に共通接続して
CMOS出力段を構成するとともに、上記第2のPMO
Sトランジスタと上記第2のNMOSトランジスタの一
方を低しきい値電圧に、他方を高しきい値電圧に設定
し、 上記第1のNMOSトランジスタのゲートを第1の制御
入力端子に接続すると共に、上記第1のPMOSトラン
ジスタのゲートを上記第1の制御入力端子に入力する制
御信号と相補の関係にある別の制御信号が入力する第2
の制御入力端子に接続し、 上記第1のインバータの高電位電源側を上記高電位電源
端子に接続すると共に、上記第2のインバータの低電位
電源側を上記低電位電源端子に接続し、上記第2のPM
OSトランジスタのソースを上記高電位電源端子又は別
の高電位電源端子に接続すると共に、上記第2のNMO
Sトランジスタのソースを上記低電位電源端子又は別の
低電位電源端子に接続した、 ことを特徴とするCMOS回路。 - 【請求項2】上記高電位電源端子と上記第2のPMOS
トランジスタのゲートにソースとドレインが各々接続さ
れ、ゲートが上記第1の制御入力端子に接続された第3
のPMOSトランジスタと、 上記低電位電源端子と上記第2のNMOSトランジスタ
のゲートにソースとドレインが各々接続され、ゲートが
上記第2の制御入力端子に接続された第3のNMOSト
ランジスタと、 を具備することを特徴とする請求項1に記載のCMOS
回路。 - 【請求項3】PD制御信号が第1の論理状態のとき、S
L制御信号を反転させた信号を上記第1の制御入力端子
に供給すると共に、該SL制御信号と同じ論理の信号を
上記第2の制御入力端子に供給し、上記PD制御信号が
上記第1の論理状態と反対の第2の論理状態のとき、上
記SL制御信号の論理如何にかかわらず、上記第1の制
御入力端子に上記第1のNMOSトランジスタを遮断さ
せる制御信号を印加すると共に、上記第2の制御入力端
子に上記第1のPMOSトランジスタを遮断させる制御
信号を入力させる制御回路を具備することを特徴とする
請求項1又は2に記載のCMOS回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7209297A JPH0946212A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Cmos回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7209297A JPH0946212A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Cmos回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0946212A true JPH0946212A (ja) | 1997-02-14 |
Family
ID=16570621
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7209297A Withdrawn JPH0946212A (ja) | 1995-07-26 | 1995-07-26 | Cmos回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0946212A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6310487B1 (en) | 1998-12-10 | 2001-10-30 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and testing method thereof |
| JP2004104754A (ja) * | 2002-07-15 | 2004-04-02 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
-
1995
- 1995-07-26 JP JP7209297A patent/JPH0946212A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6310487B1 (en) | 1998-12-10 | 2001-10-30 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and testing method thereof |
| US6476633B2 (en) | 1998-12-10 | 2002-11-05 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and testing method thereof |
| US6617873B2 (en) | 1998-12-10 | 2003-09-09 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit and testing method thereof |
| JP2004104754A (ja) * | 2002-07-15 | 2004-04-02 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021001 |