JPH09510548A - 包装材の皺線位置の検出方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 移動する包装材（１）に対して横向きの皺線（２）の位置は、包装材で反射され、包装材に垂直にレーザ（３）から照射された光が包装材の移動方向に関して２方向から包装材に照射される光に関して例えば６０°の角度をなして光検出器（５）によって検出されることによって検出される。光検出器から出力される電気的計測信号は、電子的信号プロセッサにおいて、プロセッサに記憶され参照皺線を表す参照信号と比較される。皺線は計測信号と参照信号との一致度合を表す相関信号の値が最大となったときに指示される。対応した方法で、縦皺線の位置も検出可能である。

Description

【発明の詳細な説明】 包装材の皺線位置の検出方法および装置技術分野 本発明は、移動している包装材等における皺線あるいは類似の浮き出しの位置 を検出する方法に関する。本発明は、この方法を実行する装置にも関する。発明の背景 包装材の皺線は、それに沿って包装材から製造される包装が折り畳まれる折り 畳み目とみなされ得る。従って、各包装用材は、包装材上を異なった方向に向か い得る複数の皺線を具備する。 さまざまの場合に、横あるいは縦の皺線に基づくその後の処理を制御する理由 がある。１つの例は、仕上げられた包装の意図された機能を得るために、横皺線 の極く近傍の正確に定義された位置にプルストリップが置かれる場合である。他 の場合は、皺線を有するが印刷のない包装材の幅の減少（例えば、４倍の包装幅 から２倍の包装幅）が望まれる場合である。現在は、縦線が切断処理を制御する ために印刷されている。もし縦皺線を制御することが可能であれば、印刷経費お よび黒色制御線のための材料の無駄が低減され得る。 皺線の位置を評価することの困難さに起因して、皺線に関して正確に位置され るとみなされる包装材上の印刷された材料の特徴的部分から開始する初期の試み があった。しかしながら、異なった理由から、印刷は満足すべき精度でもって皺 線に関して正しい位置を与えない。従って、これは、例えば印刷に関して位置さ れるべきプルストリップが意図した皺線に関して必ずしも正しい位置を獲得しな いということを意味する。 従って、例えばプルストリップの位置に関しては、２次要素“印刷”よりもむ しろ１次要素“皺線”から開始することが望ましい。 皺線は包装材の背面上の非常に弱い浮き出しとして見える。典型的な皺線は、 １．８ｍｍの幅と、たった０．０３ｍｍの高さを有し得る。さらに、皺線はその 形状において特に明確には定義されない。さらに、皺線の高さは非常に小さいの で、包装材の不規則性は皺線の検出に困難性を発生させ得る。 包装材の皺線の位置を評価することの困難性は、むしろ多くの場合ケースであ るアルミニウムで覆われた包装材において大きく、さらにそうでないときより大 きいことさえある。 本発明を導いた研究の発端において、皺線を検出するための複数の光学的方法 が試験された。光線は移動する包装材に対して種々の方法で照射され、この光線 は検出信号を生成する光検出器の手段によって受光される。これらの方法のいく つかは継続することが完全に不可能であり、ある方法はアルミニウムで覆われた 包装材に対して機能するけれどもアルミニウムのない包装材に対しては機能しな いことは明らかであった。 皺線が非常に低い高さを有することはすでに述べたけれども、それは時には通 常の表面の不規則性の間に隠されてしまい、皺線から信号を得ることの困難とな るだけでなく、皺線の位置の信頼のできる正確な表示を得られるような方法でこ の信号を取り扱うことも困難となる。本発明 移動する包装材中の皺線の位置を検出するための上述の問題の解決策は、 包装材から反射され、反射された光に関連した角度で包装材に対して照射され た光線から発出する光が、電気信号または包装材および皺線を生成する少なくと も１つの光検出器手段によって受光され、 ２方向からの光手段によって生成された２つの電気的信号がともに、電子信号 プロセッサにおいてこのプロセッサ内に記憶され参照皺線を表す参照信号と比較 される検出信号に変換され、 検出信号と参照信号との間の一致度に関する計算値である相関信号値が最大に 到達したときに、皺線が表示される、本発明による。 この最大値は、皺線に対する相関値として認められるためには、あるレベルを 越えなければならない。 換言すれば、入射光線の一部が光検出器および電子的信号プロセッサ内の相関 計測技術によって収集される光学的対照方法が使用される。包装材に照射される 光線は、レーザあるいは光ダイオードによって生成されることが望ましく、スロ ットの形状で与えられ、入射光線と光検出器によって受光される光線のなす角度 は例えば６０°である。光検出器からの計測信号によっては皺線に対する正確な 位置を抽出することは困難である。信号は特に紙の構造による多くの雑音を含ん でいる。皺線はまた異なる大きさであり、ある場合には非対称でもある。紙の構 造が異なれば計測信号も異なる。 紙の構造による雑音を低減するために、１つの光検出器あるいは複数の光検出 器から出力される電子信号から異なる信号が生成される。より低い雑音レベルは 、最終計測信号がそれらの差と和の商として形成されたときに達成される。 皺信号は依然として雑音を含んでおり、きれいな、よく識別可能なトリガをか ける側面はない。しかしながら、すべての皺信号は、 正の上辺と負の下辺との間の距離が一定で、皺線の幅に関連する傾斜されたＮの 形状を有する。この状態は皺線の位置が、上述した相関方法によって良好な精度 をもって認識され得ることを意味している。 相関測定の原理は、計測信号は参照信号と比較され、これら２つの信号の間の 一致が計算されることである。相関測定のためのいくつかの異なったアルゴリズ ムが存在する。本発明に係る方法に対して選択されたアルゴリズムは結果として 、相関が見出されなければ零もしくは負であり、相関が見出されたときは正であ る相関係数を与える。 本発明に係る方法において、計測信号は原則として包装材のある送り長さで標 本化される。実際の実施例において、包装材に接続される測定車輪から出力され るパルス間の送り長さは、３５０ｍ／分を越えない包装材の速度において、包装 材上の実際の皺線の中心と、２．５６ｍｍである相関信号の頂上との距離を与え 、外部的に皺線を表す信号がその後０．３２ｍｍで与えられる８０μｍである。 従って、計測信号と参照信号との間の最良の一致を示す相関信号の頂上は、基 準の長さのためにある遅れをもって表れるであろう。頂上が出現し、皺線の表示 に対する所定の距離差に関する知識に基づいたときに、横皺線の位置検出に関す る技術は、例えば、極めて高い精度で皺線に対して正確な位置へのプルタブの配 置に対して使用され得る。その代わりに、縦皺線の位置の検出に関する技術は、 例えば、切断時の基準位置として使用され得る。 横皺線の位置検出の問題に対する実際的な解決方法は請求項２および３に与え られ、縦皺線の位置検出の問題に対する実際的な解決方法は請求項４および５に 与えられる。 本発明はまた、移動する包装材中の皺線に対する位置を検出する上述の方法を 実行する装置にも関する。 本発明に係る装置は、 本質的には包装材に垂直に光線を照射するための少なくとも１つの光源と、 皺線に対して横向きの２方向から、包装材に照射される光線に関して比較的大 きい角度、例えば６０°で包装材から反射される光を受光するための少なくとも １つの光検出器と、 電子信号プロセッサであって、その中で光検出器から発出する電子的測定信号 がその中に記憶され参照皺線を表す参照信号と比較され、その中で計測信号と参 照信号との一致に関する値であってその最大値が皺線を表す相関信号が計算され る電子信号プロセッサと、によって特徴付けられる。 光源はレーザあるいは発光ダイオードであることが望ましい。レーザおよび発 光ダイオードは箱に中に設置され得る。横皺線の位置を検出するための装置の望 ましい実施例は請求項１０−１３に記載され、縦皺線の位置を検出するための装 置の望ましい実施例は請求項１４−１７に記載される。 上記理由は述語“皺線”に集中されるが、本発明に係る方法および装置は包装 材の内側あるいは外側への浮き出しに位置検出に対しても使用可能であることは 明らかである。また、本発明に係る方法および装置は皺線の位置の検出に使用さ れ得るだけでなく、皺線の出現および質の評価に対しても使用され得る。図面の簡単な説明 本発明は添付図面を参照して以下により詳細に記述されるが、 図１は、横皺線に対する位置を検出するための本発明に係る検出装置の光学的 配置図、 図２Ａ、ＢおよびＣは、本発明に係るセンサを通過する横皺線の動きにおける 光線路図、 図３および図４は、横皺線の位置を検出するための本発明に係る検出装置の光 学的配置の実際的な２つの実施例、 図５は、皺信号と相関信号を表すグラフ、 図６は、実施例として選択された信号プロセッサのブロック線図、 図７は、図１に対応した、縦皺線に対する位置を検出するための本発明に係る 検出装置の光学的配置図、 図８および図１０は、縦皺線の位置を検出するための変更された検出装置の動 作状態における光学的配置図、 図９および図１１は、それぞれ、図８および図１０に係る動作状態における検 出装置から出力される皺線を表すグラフ、 図１２は、図９および図１１に対応する２つの皺信号の差信号を表すグラフで ある。実施例の詳細な説明 ２つの基本的に相違する発明の実施例が以下に図面を参照して説明されるが、 図１−６は横皺線の位置を検出するために使用される発明を示し、図７−１２は 縦皺線の位置を検出するために使用される発明を示す。 図１において参照番号１は、図示したように回転する円筒上に配置されるある いは平坦な表面を移動する包装材である。包装材１は、高い精度でその位置が決 定されることが望まれる横方向の皺線２を有している。包装材１は、アルミニウ ム表面カバーを有していても有していなくてもよい。皺線２の代わりとして、内 側もしくは外側向きのどのような浮き出しを有していてもよいが、術語皺線は記 述全体にわたって使用される。 包装材内の皺線は折り畳み目とみなされ、包装材が転送される２つの円筒の稜 線および谷の協動によって包装材中に浮き出される。典型的な皺線は、幅１．８ ｍｍ、高さ０．０３ｍｍである。この非常に低い高さは、移動する包装材上では 、特に包装材がアルミニウムで覆われておらず、従って所定のコントラストを与 える場合には容易に発見され得ないことを意味する。 理論的考察および実際の試験は、光が表面に対して垂直に照射され、反射され た光が入射光に関して大きい角度で２方向から検出された場合に、包装材の表面 の角のある変化の光学的検出に関する対照方法によって最良の結果が得られるこ とを示している。その代わりに、反対の光路、即ち２方向から斜めに入射する光 および表面とほぼ垂直な検出を使用することも可能である。 この方法を実行する装置は、図１に示されている。レーザ３はその光−例えば 可視赤色光−を包装材１の表面に垂直に照射する。レンズ４（一般的には複数の レンズ）がレーザ３の光路内に設置され、焦点を結ぶ対象として包装材上にスロ ット形状の焦点の合わされた光束あるいは光列を有する。スロットは包装材の移 動方向に横向きの垂直軸を有し、例えば５ｍｍあるいはそれは以上の長さと０． １ｍｍの幅を有している。 包装材から反射された光は、光がレンズ６によって焦点を結ばれる２つの光検 出器あるいは光ダイオード５によって検出される。光検出器５は、包装材１の縦 方向に配置され、包装材の法線に対して例えば６０°の角度を成す。光検出器５ −例えば表面積５ｍｍ²のシリコン検出器−から出力された信号は、以下に述べ る方法で電気的に取り扱われる。 図２Ａ−Ｃは、どのようにレーザ３から出力された光３’が皺線２の通路にお いて２つの光検出器５からの反射された光５’として 跳ね返されるかを大まかに示されている。図２Ａにおいて、皺線２の第１の部分 あるいは“上り坂”がレーザ光３’によって照射される。通常の光学的反射法則 によれば、大部分の反射光５’は、上部検出器へよりも下部検出器５に反射され る。図２Ｂにおいて、皺線の頂上がレーザ光によって照射されるが、ほぼ同量の 光が両方の光検出器に反射される。図２Ｃにおいて、最終的に最後の部分あるい は“下り坂”がレーザ光で照射されるように皺線が移動し、この場合には光は下 部検出器よりも上部検出器に反射されるであろう。 図３および４は、本発明に係る装置の光学部分の２つの例の構造を明確に図示 したものである。 図３から明らかなように、図１に示した種々の手段、即ちレーザ３、レンズ４ 、光検出器５、レンズ６が１つの箱７に配置される。皺線２を有する包装材１か ら反射された光は、窓８を介して箱７に入り、鏡９によって光検出器５に投射さ れる。実際の例においては、箱７は包装材１から１２ｍｍの距離に配置される。 図４に係る実施例において、レーザ３および光検出器５は箱１０内に配置され 、ホログラフ光素子１１が光の焦点を合わせるため、および光を集めるために使 用される。この解決による利点は、非常に小型の光学素子もしくはセンサが達成 され、ほんの少しの光学素子が必要とされることである。従って、この解決は、 大量の装置の生産に好適である。 光学素子もしくはセンサにおいて、代わりにプリズム、フレネル光学素子ある いは光コンダクタを使用することも可能である。 ２つの光検出器５から出力される電気的信号によって検出された皺線から正確 な位置を決定することはさらに困難である。信号は、特に紙の構造に起因する大 量の擾乱あるいは雑音を含んでいる。大きさが異なり、ある場合には非対称であ る皺線はまた不確定でもあ る。意味のある信号は、また使用される紙の質に依存する。 ２つの光検出器５から出力される電気的信号は、電子的に処理される。この信 号処理のための電子的装置は種々の方法で製作され得ることは明らかであり、図 ６を参照しつつ１つの装置が以下で取り扱われる。 信号処理の第１段階は、紙構造による雑音を低減するために２つの光検出器５ から差信号を生成することである。雑音レベルにおけるさらなる改善は、上述し た２つの光検出器の差信号と和信号の商を形成するさらなるステップによって達 成される。 この操作の後であっても、皺信号はまだ雑音があり、トリガをかける明確な、 容易に定義され得るどのような側面もない。しかしながら、すべての皺信号はそ の発生においてある共通の性質を有していることは明らかである。即ち、皺信号 は傾斜した一般的なＮ型を有しており、正の上辺と負の下辺との距離、即ち皺線 の２つの端は皺線の幅、即ち実際には１．８ｍｍに依存する。 この事実は、非常な高精度で皺線の位置を評価することが相関法によって可能 であることを意味する。皺線の通過の際に収集されたすべての測定調整は、相関 法で使用される。この方法で雑音は低減され得る。 相関法の原理は、獲得された計測信号が電子的装置中に記憶された参照信号と 比較され、計測信号と参照信号との間の相関が計算されることである。この相関 法において異なるアルゴリズムが使用され得る。ここで選択したアルゴリズムは 、結果として、相関が見出されないときは零あるいは負であり、相関が見出され たときには正である相関係数を与える。相関曲線あるいは信号が最大値に到達し たときに、最大相関が手近になる。 この場合には、本来連続した計測信号はある間隔でサンプルされ る。サンプリングされた計測信号は、電子的装置中で記憶された参照信号を使用 して比較されもしくは相関が計算される。相関信号は、計測信号が最大限参照信 号に対応したときに最大値を有する。参照領域の長さに起因して、相関信号の頂 上が時間的に計測信号に関して配置される。最大値の位置は、サンプルの数でカ ウントされる皺線の中心に対する距離を与える。 計測信号あるいは皺信号１２とそれに関連して時間的に配置される相関信号１ ３が図５にグラフ的に示されている。実際の実施例においては、包装材１に結合 される測定車輪が測定パルスあるいはサンプルパルスを電子的装置に与える。パ ルス間の送り長さは、包装材１上の実際の皺線の中心と信号プロセッサから出力 され２．８８ｍｍの皺線を表す信号との距離を与える８０μｍ（場合によっては 変更可能であるが）に決定される。 信号処理はどのような電子的装置においても実行できることは既に述べたが、 この分野における当業者は多くの異なる解決を見出すであろう。この目的のため に有用なブロック線図の１例が図６に示されている。 ２つの光検出器５のそれぞれから出力される信号はＳ／Ｈユニット（“サンプ ルホールド”）１４、さらに共通のマルチプレクサ１５およびアナログ／ディジ タルコンバータ１６、最後にディジタル信号プロセッサ１７に供給される。包装 材の測定車輪からのパルス１８もまた、このユニット１７に供給される。ＲＡＭ １９、発振器２０およびＥＰＲＯＭ２１もまたこのユニット１７に接続される。 皺検出信号２２は、このユニット１７から供給される。 図７において、参照番号３０は、上述されていない矢印３１の方向に移動する 包装材を表す。包装材３０は、横方向に位置が正確な精度で決定されることが望 ましい縦方向の皺線３２を有する。包装 材および皺線に関する情報については上記の記載が参照される。 光ダイオード３３あるいは同等の光源はその光を−スロット形状に光線を形成 するために−レンズ３４（あるいはレンズ群）を介して矢印３６で示されるよう に例えば数ＫＨｚの高周波数で振動される鏡３５に照射し、包装材３０のある面 積が高速振動する光線によって走査される。 そして、皺線３２を有する包装材３０から反射された光は、プリズム３８およ びレンズ３９によって導かれ焦点が結ばれる２つの光検出器あるいは光ダイオー ド３７によって検出される。光検出器３７、プリズム３８およびレンズ３９によ って構成されるセンサは、包装材に対して横方向に設置される。 光検出器３７から出力される信号は図示１−６を参照して上述しとのと同様の 方法で電子的に処理される。 横方向の皺線を検出する図３および４による実施例に対応する実施例において 、プリズムが使用され得ることが理解され得る。 縦方向の皺線を検出するための代案の実施例が図８および１０に示されるが、 それらはともに２つの動作状況を示している。包装材４０は、記載されていない 方法で矢印４１の方向への移動が与えられる。包装材４０は、その横方向に位置 が高精度で決定されることが望ましい縦方向の皺線４２を有する。再び包装材と 皺線の性質に関する情報についての上記記載が参照される。 光が包装材に対して垂直に照射される先の実施例とは逆に、ここでは光は包装 材の移動方向に垂直な２方向から包装材４０に対して斜めに照射される。図８に おいて、好ましくは光ダイオードである光源（図示せず）からの光４３Ａは皺線 ４２の領域に対して左斜めから照射されるのに対して、図１０においては対応す る光源からの光４３Ｂは同領域に対して右斜めから照射される。紙に対する入射 角度は約５０°である。２方向からの光は、非常に高い周波数、多分数ＫＨｚで 切り換えられ得る。 包装材上に形成された光場４４Ａおよび４４Ｂは包装材の横方向、即ち縦皺線 ４２の横方向にスロットあるいは楕円形状を有することが望ましい。スロットの 長さは皺線の幅および外側の同等領域、即ち“走査領域”を覆う。実際にはスロ ットの長さは約３０ｍｍである。 光場４４Ａおよび４４Ｂの反射された像は、レンズ４５（実際にはレンズ群） を介して光検出器４６に交互に投影される。この光検出器は検出器マトリックス の形式であり、チップ上で直接信号処理可能であることが望ましい。通常のＣＣ Ｄアレイもまた使用され得る。 図８において左から照射された光の光検出器４６から出力される信号あるいは “像”は図９のように表れるのに対して、図１０において右から照射された光の 光検出器４６から出力される信号あるいは“像”は図１１のように表れる。前者 の信号から後者の信号を減算することによって、例えば図１２に示されるような 差信号が発生され得る。 皺線４２の位置を決定するために、横方向皺線に関して上述したのと同様の相 関法がここでも使用される。 この関連において、横皺線だけでなく縦皺線においても電子装置は後になるほ ど実際の皺線の徐々に良好な像を与えるように次々に送られてくる皺信号が原皺 信号に加算されるという意味において“自己学習的”といえる。 図８および１０に示された実施例において、光は左から右から高周波数で交互 に照射される。その代わりに、一方が左から照射された光に対応した信号を発生 し、他方が右から照射された光に対応し た信号を発生する皺線にそって相互に接近する２つの装置を有することも可能で ある。この場合は光はもちろん連続光として照射される。 縦皺線を検出するために図７−１２を参照して述べた実施例は、適当な部分に おいて横皺線を検出するために図１−４を参照して述べた実施例に対する代案と して使用され得る。 装置の光検出器から反射される光の量は −吸収 −屈折の度合 −表面の凹凸 −包装材あるいは表面の光沢（即ちミクロ状態パラメータ）によって決定され る。 もし包装材が透明であれば、裏表面の光学的特性も影響を与える。 本発明に係る皺線の位置を検出する方法は、吸収、屈折度合、ミクロ状態およ び光沢の変動だけでなく皺線に沿った凹凸の変動の影響を最小にする。皺線に対 して横方向の凹凸の変化、即ち皺線の形状それ自体だけが信号に大きい影響を与 える。 包装の最終形状は包装材中に形成された折り畳み目、即ち皺線によって特徴付 けられる。もし皺模様が切断および他の処置の際の基準位置として使用されたな らば、それらの位置決めはより高精度に実行され得る。従って廃棄物は低減し、 包装の機能および外観における変動も低減する。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，Ｍ Ｃ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ， ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＫＥ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ)， ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，Ｃ Ｈ，ＣＮ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＥ ，ＨＵ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＫ， ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＮ，ＭＷ，ＮＬ，Ｎ Ｏ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＩ ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．移動する包装材（１；３０；４０）の皺線（２；３２；４２）あるいは同様 の浮き出し等の位置を検出する方法であって、 包装材（１；３０；４０）および皺線（２；３２；４２）から反射され、反射 光に対して斜めに包装材に照射される光（３’）から発出する光（５’）が、包 装材および皺線の電子的信号もしくは像を形成する少なくとも１つの光検出器（ ５；３７；４６）によって受光され、 ２方向からの光によって生成された２つの電気信号が、電子的信号プロセッサ （１７）中で該プロセッサ中に記憶され参照皺線を表す参照信号と比較される計 測信号に変換され、 前記計測信号と前記参照皺線との一致度合の計算値を構成する相関信号（１３ ）の値が最大となったときに皺線（２；３２；４２）が表示されることを特徴と する方法。 ２．横皺線（２）の位置を検出するために、包装材（１）によって反射された光 （５’）が包装材に対して本質的に垂直に照射された光線（３’）から発出し、 皺線（２）に対して横向きの２方向から光検出器（５）によって包装材に照射さ れた光に関して比較的大きい角度で受光されることを特徴とする請求項１に記載 の方法。 ３．横皺線（２）の位置を検出するために、包装材（１）によって反射された光 が皺線に対して横向きの２つの光線から発出し、本質的に皺線（２）の真上に配 置され、その光線が包装材の法線に対して比較的大きい角度を成す光検出器によ って検出されることを特徴とする請求項１に記載の方法。 ４．縦皺線（３２）の位置を検出するために、包装材（３０）によって反射され た光が本質的に包装材に垂直の照射される振動光から 発出し、皺線（３２）に対して横向きの２方向から光検出器によって包装材に照 射された光に関して比較的大きい角度で受光されることを特徴とする請求項１に 記載の方法。 ５．縦皺線（３２）の位置を検出するために、包装材（４０）によって反射され た光が皺線に対して横向きの２つの光線（４３Ａ、４３Ｂ）から発出し、本質的 に皺線（４２）真上に配置され、その光線が包装材の法線に対して比較的大きい 角度を成す光検出器（４６）によって検出されることを特徴とする請求項１に記 載の方法。 ６．包装材（２）に垂直に照射される光線（３’）がレーザ（３）によって生成 され、包装材（１）の横方向のスロット形状であり、入射光線と各光検出器（５ ）によって受光される光線との角度が３０°以上であることを特徴とする請求項 ２に記載の方法。 ７．前記計測信号（１２）が、２つの光検出器（５；３７；４０）から出力され る信号の差とそれらの和の商として形成されることを特徴とする請求項１に記載 の方法。 ８．前記計測信号（１２）が、基本的に包装材（１；３０；４０）の所定送り長 でサンプリングされることを特徴とする請求項１に記載の方法。 ９．移動する包装材（１；３０；４０）の皺線（２；３２；４２）あるいは同様 の浮き出し等の位置を検出する請求項１に記載の方法を実行するための装置であ って、 包装材（１；３０；４０）上に光線（３’；４３Ａ；４３Ｂ）を照射する少な くとも１つの光源（３；３３）と、 包装材で反射された光線（５’）を皺線に対して横向きの２方向から包装材の 照射される光線に関して比較的大きい角度、例えば６０°で受光するための少な くとも１つの光検出器（５；３７；４６）と、 電子的信号プロセッサ（１７）であって、その中で光検出器（５）から発出す る電気的計測信号（１２）を該プロセッサ中に記憶され参照皺線を表す参照信号 と比較し、計測信号と参照信号との一致度合を表しそれが最大となったときに皺 線を表示する相関信号が計算されるプロセッサと、を具備することを特徴とする 装置。 １０．横皺線（２）の位置を検出するために、光源（３）が本質的に包装材（１ ）に垂直に光線（３’）を照射し、２つの光検出器（５）が包装材からの反射光 を受光することを特徴とする請求項９に記載の装置。 １１．横皺線（２）の位置を検出するために、２つの光源が皺線（２）に横向き の２方向から包装材（１）の光線を照射し、包装材で反射された光を受光するた めに本質的に皺線の真上に少なくとも１つの光検出器が配置されることを特徴と する請求項９に記載の装置。 １２．２つの光源が、共通の光検出器で受光するために高周波数で切り換えられ る光線を交互に照射することを特徴とする請求項１１に記載の装置。 １３．２つの光源が、相互の近接して配置された２つの光検出器によって受光す るために連続光を照射することを特徴とする請求項１１に記載の装置。 １４．縦皺線（３２）を検出するために、光源（３３）が、本質的に包装材（３ ０）に垂直な皺線（３２）上を走査する光スロットを照射するために高周波数の 振動が与えられる鏡（３５）を照射することを特徴とする請求項９に記載の装置 。 １５．縦皺線（４２）を検出するために、２つの光源が皺線（４２）に横向きの ２方向から包装材（４０）に対して光線（４３Ａ；４３Ｂ）を照射し、 少なくとも１つの光検出器（４６）が包装材から反射される光を受光するため に本質的に皺線の真上に配置されることを特徴とする請求項９に記載の装置。 １６．２つの光源が、共通の光検出器で受光するために高周波数で切り換えられ る光線（４３Ａ；４３Ｂ）を交互に照射することを特徴とする請求項１５に記載 の装置。 １７．２つの光源が、相互の近接して配置された２つの光検出器によって受光す るために連続光を照射することを特徴とする請求項１５に記載の装置。 １８．光源がレーザもしくは光ダイオードであることを特徴とする請求項９に記 載の装置。