JPH0954198A - Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置 - Google Patents
Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置Info
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- JPH0954198A JPH0954198A JP20575495A JP20575495A JPH0954198A JP H0954198 A JPH0954198 A JP H0954198A JP 20575495 A JP20575495 A JP 20575495A JP 20575495 A JP20575495 A JP 20575495A JP H0954198 A JPH0954198 A JP H0954198A
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Landscapes
- Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 構造が簡単で、組み立て調整が容易で、さら
に測定対象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭
度を測定できるＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法を提
供する。 【構成】 Ｘ線を照射してＸ線像を光像に変換する変換
部材の鮮鋭度（ＭＴＦ）を測定する測定方法において、
Ｘ線源によりＸ線をスリット部材越しに前記変換部材に
照射して、前記Ｘ線−光変換部材の発光像を光ファイバ
を通してＣＣＤ撮像素子で読み取り、読み取った信号を
フーリエ変換して鮮鋭度を求めることを特徴とするＸ線
−光変換部材用鮮鋭度測定方法である。
に測定対象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭
度を測定できるＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法を提
供する。 【構成】 Ｘ線を照射してＸ線像を光像に変換する変換
部材の鮮鋭度（ＭＴＦ）を測定する測定方法において、
Ｘ線源によりＸ線をスリット部材越しに前記変換部材に
照射して、前記Ｘ線−光変換部材の発光像を光ファイバ
を通してＣＣＤ撮像素子で読み取り、読み取った信号を
フーリエ変換して鮮鋭度を求めることを特徴とするＸ線
−光変換部材用鮮鋭度測定方法である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線−光変換部材用鮮
鋭度測定方法及び該装置に係わり、さらに詳しくは、Ｘ
線−光変換部材の鮮鋭度（ＭＴＦ）を測定するＸ線−光
変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置の改良に関する。
鋭度測定方法及び該装置に係わり、さらに詳しくは、Ｘ
線−光変換部材の鮮鋭度（ＭＴＦ）を測定するＸ線−光
変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置の改良に関する。
【０００２】なお、ここでＸ線−光変換部材とは、例え
ば増感紙、イメージングプレート等輝尽性蛍光体ディテ
クタ、Ｉ．Ｉ．管等のようにＸ線を吸収してその量に応
じた光を発する物質を含有するものをいう。
ば増感紙、イメージングプレート等輝尽性蛍光体ディテ
クタ、Ｉ．Ｉ．管等のようにＸ線を吸収してその量に応
じた光を発する物質を含有するものをいう。
【０００３】
【従来の技術】従来より、Ｘ線による透視で胸部や胃部
を撮影するＸ線医療用機器、Ｘ線による透視で内部構造
物を解析するＸ線解析装置等が広く使用されている。ま
た、前記装置にＸ線を増感する増感紙を密着したＸ線フ
ィルム等が使われている。
を撮影するＸ線医療用機器、Ｘ線による透視で内部構造
物を解析するＸ線解析装置等が広く使用されている。ま
た、前記装置にＸ線を増感する増感紙を密着したＸ線フ
ィルム等が使われている。
【０００４】上記装置や増感紙等のようなＸ線−光変換
部材の鮮鋭度を測定する方法および装置として、次のよ
うなものが知られている。
部材の鮮鋭度を測定する方法および装置として、次のよ
うなものが知られている。
【０００５】１）Ｘ線によるスリット像をＸ線−光変換
部材に照射し、発光した像をＸ線フィルムに焼付け、現
像処理する。得られた像からＸ線フィルムの階調曲線に
よる変換を行って発光強度分布を求め、さらにフーリエ
変換して鮮鋭度（ＭＴＦ）を求めることがある。
部材に照射し、発光した像をＸ線フィルムに焼付け、現
像処理する。得られた像からＸ線フィルムの階調曲線に
よる変換を行って発光強度分布を求め、さらにフーリエ
変換して鮮鋭度（ＭＴＦ）を求めることがある。
【０００６】２）また、図４の従来例のＸ線−光変換部
材用鮮鋭度測定装置を説明する構成図のように、Ｘ線源
１のＸ線を多数のスリットを平行でかつ等間隔に配列し
た疑似正弦波格子１９に照射し、測定対象物２のＸ線−
光変換部材の発光を光検知器のカメラ２０で検知し、そ
の画像のコントラストを測定することにより鮮鋭度（Ｍ
ＴＦ）を求めることがある。なお、図で６はＡ／Ｄ変換
回路、７は鮮鋭度（ＭＴＦ）の演算を含むＣＰＵであ
る。
材用鮮鋭度測定装置を説明する構成図のように、Ｘ線源
１のＸ線を多数のスリットを平行でかつ等間隔に配列し
た疑似正弦波格子１９に照射し、測定対象物２のＸ線−
光変換部材の発光を光検知器のカメラ２０で検知し、そ
の画像のコントラストを測定することにより鮮鋭度（Ｍ
ＴＦ）を求めることがある。なお、図で６はＡ／Ｄ変換
回路、７は鮮鋭度（ＭＴＦ）の演算を含むＣＰＵであ
る。
【０００７】３）さらに、図５の従来例のＸ線−光変換
部材用鮮鋭度測定装置を説明する構成図のように、ステ
ージコントローラ２４で遮蔽板２１を走査して測定対象
物２のＸ線−光変換部材にＸ線源１のＸ線を照射し、Ｘ
線−光変換部材の発光をスリット幅コントローラ２５に
より可変スリット２２を通してフォトマル２０で受光
し、検知した像を微分回路２３で微分して、フーリエ変
換回路８でフーリエ変換し、ＣＰＵ７で演算して鮮鋭度
を求めることがある（特開平６−１８４４８参照）。
部材用鮮鋭度測定装置を説明する構成図のように、ステ
ージコントローラ２４で遮蔽板２１を走査して測定対象
物２のＸ線−光変換部材にＸ線源１のＸ線を照射し、Ｘ
線−光変換部材の発光をスリット幅コントローラ２５に
より可変スリット２２を通してフォトマル２０で受光
し、検知した像を微分回路２３で微分して、フーリエ変
換回路８でフーリエ変換し、ＣＰＵ７で演算して鮮鋭度
を求めることがある（特開平６−１８４４８参照）。
【０００８】なお、前記Ｘ線−光変換部材としては例え
ば増感紙がある。増感紙はＸ線フィルムの感度を上げる
ためにＸ線フィルムに密着して用いられ、通常ＰＥＴベ
ースにＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＣａＷＯ4などの蛍光体を塗
布し、さらに保護膜を設けたもので、Ｘ線により増感紙
が蛍光を発し、Ｘ線を直接照射したときよりも、フィル
ムの感度が数十倍になる（図２（Ａ）参照）。
ば増感紙がある。増感紙はＸ線フィルムの感度を上げる
ためにＸ線フィルムに密着して用いられ、通常ＰＥＴベ
ースにＧｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、ＣａＷＯ4などの蛍光体を塗
布し、さらに保護膜を設けたもので、Ｘ線により増感紙
が蛍光を発し、Ｘ線を直接照射したときよりも、フィル
ムの感度が数十倍になる（図２（Ａ）参照）。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、１）に
ついては、Ｘ線フィルムに焼付け、現像を行い、またＸ
線フィルム濃度をＸ線フィルムの階調曲線より発光強度
に変換しなければならないので、非常に手間がかかる。
２）については、測定できる空間周波数は使用した格子
周波数のみに限られ、波長分解能には限界がある。３）
については、エッジ像から点像を求めるときに微分する
のでノイズが大きくなってしまい精度が低下し、また遮
蔽体を精度良く移動させるためには、装置が高価、複雑
になる。また、上記２）、３）でＣＣＤ撮像装置を用い
る場合、レンズ系を使用するためにピント調節を行う必
要が生じ測定が煩雑になる。さらに、通常ＣＣＤ撮像装
置はＸ線源−スリットの軸上に設置されるため、Ｘ線が
撮像素子にあたることによるノイズが懸念される。
ついては、Ｘ線フィルムに焼付け、現像を行い、またＸ
線フィルム濃度をＸ線フィルムの階調曲線より発光強度
に変換しなければならないので、非常に手間がかかる。
２）については、測定できる空間周波数は使用した格子
周波数のみに限られ、波長分解能には限界がある。３）
については、エッジ像から点像を求めるときに微分する
のでノイズが大きくなってしまい精度が低下し、また遮
蔽体を精度良く移動させるためには、装置が高価、複雑
になる。また、上記２）、３）でＣＣＤ撮像装置を用い
る場合、レンズ系を使用するためにピント調節を行う必
要が生じ測定が煩雑になる。さらに、通常ＣＣＤ撮像装
置はＸ線源−スリットの軸上に設置されるため、Ｘ線が
撮像素子にあたることによるノイズが懸念される。
【００１０】本発明は、上記の課題に鑑みなされたもの
で、ＣＣＤ撮像装置を用いてＸ線によるノイズの発生が
なく、良好な鮮鋭度の測定を可能にし、組み立て調整が
容易で、さらに測定対象物のセットが容易なＸ線−光変
換部材の鮮鋭度を測定できるＸ線−光変換部材用鮮鋭度
測定方法を提供する。また、ＣＣＤ撮像装置を用いてＸ
線によるノイズの発生がなく、良好な鮮鋭度の測定を可
能にし、構造が簡単で、組み立て調整が容易で、さらに
測定対象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭度
を測定できるＸ線−光変換部用材鮮鋭度測定装置を提供
することを目的としている。
で、ＣＣＤ撮像装置を用いてＸ線によるノイズの発生が
なく、良好な鮮鋭度の測定を可能にし、組み立て調整が
容易で、さらに測定対象物のセットが容易なＸ線−光変
換部材の鮮鋭度を測定できるＸ線−光変換部材用鮮鋭度
測定方法を提供する。また、ＣＣＤ撮像装置を用いてＸ
線によるノイズの発生がなく、良好な鮮鋭度の測定を可
能にし、構造が簡単で、組み立て調整が容易で、さらに
測定対象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭度
を測定できるＸ線−光変換部用材鮮鋭度測定装置を提供
することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的は下記のよう
な手段により達成される。即ち、 （１）本発明のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法はＸ
線を照射してＸ線像を光像に変換する変換部材の鮮鋭度
（ＭＴＦ）を測定する測定方法において、Ｘ線源により
Ｘ線をスリット部材越しに前記変換部材に照射して、前
記Ｘ線−光変換部材の発光像を光ファイバを通してＣＣ
Ｄ撮像素子で読み取り、読み取った信号をフーリエ変換
して鮮鋭度を求めることにより達成される。
な手段により達成される。即ち、 （１）本発明のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法はＸ
線を照射してＸ線像を光像に変換する変換部材の鮮鋭度
（ＭＴＦ）を測定する測定方法において、Ｘ線源により
Ｘ線をスリット部材越しに前記変換部材に照射して、前
記Ｘ線−光変換部材の発光像を光ファイバを通してＣＣ
Ｄ撮像素子で読み取り、読み取った信号をフーリエ変換
して鮮鋭度を求めることにより達成される。
【００１２】（２）本発明のＸ線−光変換部材用鮮鋭度
測定装置はＸ線を照射してＸ線−光変換部材の鮮鋭度
（ＭＴＦ）を測定するＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装
置において、スリット部材と、Ｘ線を前記スリット部材
越しにＸ線−光変換部材に照射するＸ線源と、前記Ｘ線
−光変換部材の発光像を光ファイバを通してＣＣＤ撮像
素子で読み取るＣＣＤ撮像装置と、前記ＣＣＤ撮像装置
で読み取った発光像の信号をフーリエ変換して鮮鋭度を
演算する演算手段とを備えることにより達成される。
測定装置はＸ線を照射してＸ線−光変換部材の鮮鋭度
（ＭＴＦ）を測定するＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装
置において、スリット部材と、Ｘ線を前記スリット部材
越しにＸ線−光変換部材に照射するＸ線源と、前記Ｘ線
−光変換部材の発光像を光ファイバを通してＣＣＤ撮像
素子で読み取るＣＣＤ撮像装置と、前記ＣＣＤ撮像装置
で読み取った発光像の信号をフーリエ変換して鮮鋭度を
演算する演算手段とを備えることにより達成される。
【００１３】ここでいう鮮鋭度とはＸ線−光変換部材の
変調伝達関数（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅ
ｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ；ＭＴＦ）をいう。
変調伝達関数（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ Ｔｒａｎｓｆｅ
ｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ；ＭＴＦ）をいう。
【００１４】
【作用】ここで、以上のように構成した作用について説
明する。
明する。
【００１５】請求項１によれば、Ｘ線を照射してＸ線像
を光像に変換するＸ線−光変換部材の鮮鋭度を測定する
測定方法において、Ｘ線源により前記Ｘ線をスリット状
にするスリット部材に照射し、前記スリット部材を通過
したＸ線を前記Ｘ線−光変換部材に照射する。この照射
によりＸ線−光変換部材が発光し、発光像を光ファイバ
を通してＣＣＤ撮像装置のＣＣＤ撮像素子で読み取る。
そして読み取った発光像の信号をフーリエ変換して鮮鋭
度を求める方法である。その結果として、従来のように
スリット部材（従来の技術３）では遮蔽板）を移動する
必要がないので構造が簡単で、光ファイバを使用してい
るのでピントの調整等が不要で組み立て調整も容易で、
さらにＸ線−光変換部材を光ファイバの一端の側にセッ
トするだけでよいので測定対象物のセットが容易にＸ線
−光変換部材の鮮鋭度を測定できる。
を光像に変換するＸ線−光変換部材の鮮鋭度を測定する
測定方法において、Ｘ線源により前記Ｘ線をスリット状
にするスリット部材に照射し、前記スリット部材を通過
したＸ線を前記Ｘ線−光変換部材に照射する。この照射
によりＸ線−光変換部材が発光し、発光像を光ファイバ
を通してＣＣＤ撮像装置のＣＣＤ撮像素子で読み取る。
そして読み取った発光像の信号をフーリエ変換して鮮鋭
度を求める方法である。その結果として、従来のように
スリット部材（従来の技術３）では遮蔽板）を移動する
必要がないので構造が簡単で、光ファイバを使用してい
るのでピントの調整等が不要で組み立て調整も容易で、
さらにＸ線−光変換部材を光ファイバの一端の側にセッ
トするだけでよいので測定対象物のセットが容易にＸ線
−光変換部材の鮮鋭度を測定できる。
【００１６】請求項２によれば、請求項１に記載のＸ線
−光変換部材用鮮鋭度測定方法において、前記光ファイ
バは一端を前記Ｘ線−光変換部材の発光面に当接または
近傍に配置し、他端をＣＣＤ撮像素子の受光面に当接ま
たは近傍に配置する。その結果として、Ｘ線−光変換部
材を光ファイバに当接または近傍に置くだけでセットで
き、従来のように結像レンズのピント調整が必要がな
く、ピントボケ等による測定精度の低下を防ぐことがで
きる。
−光変換部材用鮮鋭度測定方法において、前記光ファイ
バは一端を前記Ｘ線−光変換部材の発光面に当接または
近傍に配置し、他端をＣＣＤ撮像素子の受光面に当接ま
たは近傍に配置する。その結果として、Ｘ線−光変換部
材を光ファイバに当接または近傍に置くだけでセットで
き、従来のように結像レンズのピント調整が必要がな
く、ピントボケ等による測定精度の低下を防ぐことがで
きる。
【００１７】請求項３によれば、請求項１に記載のＸ線
−光変換部材用鮮鋭度測定方法において、Ｘ線−光変換
部材の増感紙を測定すべくした。その結果として、増感
紙の製造工程や出荷検査等で簡単に、迅速に鮮鋭度（Ｍ
ＴＦ）の測定ができる。
−光変換部材用鮮鋭度測定方法において、Ｘ線−光変換
部材の増感紙を測定すべくした。その結果として、増感
紙の製造工程や出荷検査等で簡単に、迅速に鮮鋭度（Ｍ
ＴＦ）の測定ができる。
【００１８】請求項４によれば、Ｘ線を照射してＸ線−
光変換部材の鮮鋭度を測定する測定装置において、Ｘ線
源により前記Ｘ線をスリット状にするスリット部材に照
射し、前記スリット部材を通過したＸ線を前記Ｘ線−光
変換部材に照射する。照射によりＸ線−光変換部材が発
光し、発光像を光ファイバを通してＣＣＤ撮像装置のＣ
ＣＤ撮像素子で読み取る。そして読み取った発光像信号
をフーリエ変換して演算手段のＣＰＵで鮮鋭度を演算す
る装置である。その結果として、従来のようにスリット
部材を移動する必要がないので構造が簡単となり、光フ
ァイバを使用しているのでピントの調整等は不要で、組
み立て調整も容易となる。さらにＸ線−光変換部材を光
ファイバの一端の側にセットするだけでよいので測定対
象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭度を測定
できる。
光変換部材の鮮鋭度を測定する測定装置において、Ｘ線
源により前記Ｘ線をスリット状にするスリット部材に照
射し、前記スリット部材を通過したＸ線を前記Ｘ線−光
変換部材に照射する。照射によりＸ線−光変換部材が発
光し、発光像を光ファイバを通してＣＣＤ撮像装置のＣ
ＣＤ撮像素子で読み取る。そして読み取った発光像信号
をフーリエ変換して演算手段のＣＰＵで鮮鋭度を演算す
る装置である。その結果として、従来のようにスリット
部材を移動する必要がないので構造が簡単となり、光フ
ァイバを使用しているのでピントの調整等は不要で、組
み立て調整も容易となる。さらにＸ線−光変換部材を光
ファイバの一端の側にセットするだけでよいので測定対
象物のセットが容易なＸ線−光変換部材の鮮鋭度を測定
できる。
【００１９】請求項５によれば、請求項４記載のＸ線−
光変換部材用鮮鋭度測定装置において、光ファイバは一
端がＸ線−光変換部材に当接または近傍に配置し、他端
がＣＣＤ撮像素子に当接または近傍に配置している。そ
の結果として、Ｘ線−光変換部材を光ファイバーに当接
または近傍に置くだけでセットでき、従来のように結像
レンズのピント調整が必要がなく、ピントボケ等による
測定精度の低下を防ぐことができる。
光変換部材用鮮鋭度測定装置において、光ファイバは一
端がＸ線−光変換部材に当接または近傍に配置し、他端
がＣＣＤ撮像素子に当接または近傍に配置している。そ
の結果として、Ｘ線−光変換部材を光ファイバーに当接
または近傍に置くだけでセットでき、従来のように結像
レンズのピント調整が必要がなく、ピントボケ等による
測定精度の低下を防ぐことができる。
【００２０】請求項６によれば、請求項４または５記載
のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置において、光ファ
イバはガラス系光学材料である。その結果として、Ｘ線
を光ファイバが吸収してＸ線による被爆を少なくしてＣ
ＣＤ撮像装置等を保護する。
のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置において、光ファ
イバはガラス系光学材料である。その結果として、Ｘ線
を光ファイバが吸収してＸ線による被爆を少なくしてＣ
ＣＤ撮像装置等を保護する。
【００２１】請求項７によれば、請求項４、５、６記載
のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置において、ＣＣＤ
撮像装置が該ＣＣＤ撮像装置を冷却する冷却器を有す
る。その結果として、暗電流によるノイズが大幅に低減
し、精度よく鮮鋭度を測定することができる。
のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置において、ＣＣＤ
撮像装置が該ＣＣＤ撮像装置を冷却する冷却器を有す
る。その結果として、暗電流によるノイズが大幅に低減
し、精度よく鮮鋭度を測定することができる。
【００２２】
【実施例】本発明に係わる実施例１、２のＸ線−光変換
部材用鮮鋭度測定方法及び装置について図面に基づいて
説明する。
部材用鮮鋭度測定方法及び装置について図面に基づいて
説明する。
【００２３】（実施例１）図１は本発明に係わる実施例
１のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置の全体構成図で
あり、図２は鮮鋭度を求める説明図である。
１のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置の全体構成図で
あり、図２は鮮鋭度を求める説明図である。
【００２４】図１でＸ線源コントローラ１５でＸ線源を
制御してＸ線源１から放射されたＸ線は、スリット幅が
約１０μｍの一本のスリットを持つスリット部材３に照
射する。なお、スリット部材３の材質としてはＰｂ，
Ｗ，Ａｕ等のＸ線の遮蔽率の高いものを使用する。スリ
ット部材３を通過したＸ線は載置台１４に載置した測定
対象物２のＸ線−光変換部材である増感紙Ｆに入射する
（図２参照）。入射すると増感紙はＸ線により発光し発
光像を形成する。この発光像をＣＣＤ撮像装置４で読み
取る。さらに詳しくは、ＣＣＤ撮像装置４の光ファイバ
４２を通し、ＣＣＤ本体４１のＣＣＤ撮像素子で読み取
る。なお、ＣＣＤ撮像装置は例えば光ファイバー窓付き
ＣＣＤカメラ（型式Ｃ５８９５浜松ホトニクス（株）
製）等が好ましく、また、低ノイズにするために冷却器
４３で予め冷却して置くことが好ましい。
制御してＸ線源１から放射されたＸ線は、スリット幅が
約１０μｍの一本のスリットを持つスリット部材３に照
射する。なお、スリット部材３の材質としてはＰｂ，
Ｗ，Ａｕ等のＸ線の遮蔽率の高いものを使用する。スリ
ット部材３を通過したＸ線は載置台１４に載置した測定
対象物２のＸ線−光変換部材である増感紙Ｆに入射する
（図２参照）。入射すると増感紙はＸ線により発光し発
光像を形成する。この発光像をＣＣＤ撮像装置４で読み
取る。さらに詳しくは、ＣＣＤ撮像装置４の光ファイバ
４２を通し、ＣＣＤ本体４１のＣＣＤ撮像素子で読み取
る。なお、ＣＣＤ撮像装置は例えば光ファイバー窓付き
ＣＣＤカメラ（型式Ｃ５８９５浜松ホトニクス（株）
製）等が好ましく、また、低ノイズにするために冷却器
４３で予め冷却して置くことが好ましい。
【００２５】ＣＣＤ撮像装置で読み取られたアナログ発
光像の信号はＡ／Ｄ変換回路６で分解能が２５６階調
（好ましくは１０２４階調）でデジタル信号化され、デ
ジタル信号はフーリエ変換回路８でフーリエ変換され、
さらに必要に応じてＭＴＦ補正回路９で測定対象物２以
外の光学系のＭＴＦを差し引かれ、演算手段のＣＰＵ７
で鮮鋭度（ＭＴＦ）を求める。
光像の信号はＡ／Ｄ変換回路６で分解能が２５６階調
（好ましくは１０２４階調）でデジタル信号化され、デ
ジタル信号はフーリエ変換回路８でフーリエ変換され、
さらに必要に応じてＭＴＦ補正回路９で測定対象物２以
外の光学系のＭＴＦを差し引かれ、演算手段のＣＰＵ７
で鮮鋭度（ＭＴＦ）を求める。
【００２６】図２は本発明に係わる実施例のＸ線−光変
換部材の鮮鋭度を求める説明図である。図２（Ａ）は光
ファイバの周辺の説明図で、図１で説明したスリット部
材からのＸ線がＸ線−光変換部材の増感紙Ｆに入射する
と、Ｘ線は増感紙ＦのペットベースＦ１を通し、さらに
蛍光体層（発光部）Ｆ２がＸ線により発光し、発光像を
形成する。なおＦ３は保護膜である。図２（Ｂ）は増感
紙Ｆの発光像の発光強度分布曲線１８を示しており、例
えば、発光像の幅は発光強度最大の１％程度の値で幅方
向で約１ｍｍ程度のものである。この発光像は増感紙Ｆ
と当接しておかれた線径５μｍの光ファイバ４２を通し
て図２（Ｃ）のピッチＰ＝約１０から１５μｍで配列さ
れ寸法Ｌが１０μｍ程度の正方形のＣＣＤ撮像素子５で
受光する。発光像の読み取りは図２（Ｄ）に示すように
ＣＣＤ撮像素子５の寸法Ｌで切り取った測光エリア５ａ
の棒グラフで表せる。その結果、図２（Ｅ）に示すよう
に各ＣＣＤ撮像素子は１つの開口の光量を光電変換し電
気信号に変えるので、開口内部の微妙な変化は平均化さ
れ、像としてはＣＣＤ撮像素子出力値５ｂを出し、この
棒グラフの面積に比例した線グラフで示される撮像素子
出力分布曲線１８ａが得られる。なお、後述するように
撮像素子出力分布曲線１８ａをもとに公知の技術でフー
リエ変換して、増感紙の鮮鋭度（ＭＴＦ）を求める。
換部材の鮮鋭度を求める説明図である。図２（Ａ）は光
ファイバの周辺の説明図で、図１で説明したスリット部
材からのＸ線がＸ線−光変換部材の増感紙Ｆに入射する
と、Ｘ線は増感紙ＦのペットベースＦ１を通し、さらに
蛍光体層（発光部）Ｆ２がＸ線により発光し、発光像を
形成する。なおＦ３は保護膜である。図２（Ｂ）は増感
紙Ｆの発光像の発光強度分布曲線１８を示しており、例
えば、発光像の幅は発光強度最大の１％程度の値で幅方
向で約１ｍｍ程度のものである。この発光像は増感紙Ｆ
と当接しておかれた線径５μｍの光ファイバ４２を通し
て図２（Ｃ）のピッチＰ＝約１０から１５μｍで配列さ
れ寸法Ｌが１０μｍ程度の正方形のＣＣＤ撮像素子５で
受光する。発光像の読み取りは図２（Ｄ）に示すように
ＣＣＤ撮像素子５の寸法Ｌで切り取った測光エリア５ａ
の棒グラフで表せる。その結果、図２（Ｅ）に示すよう
に各ＣＣＤ撮像素子は１つの開口の光量を光電変換し電
気信号に変えるので、開口内部の微妙な変化は平均化さ
れ、像としてはＣＣＤ撮像素子出力値５ｂを出し、この
棒グラフの面積に比例した線グラフで示される撮像素子
出力分布曲線１８ａが得られる。なお、後述するように
撮像素子出力分布曲線１８ａをもとに公知の技術でフー
リエ変換して、増感紙の鮮鋭度（ＭＴＦ）を求める。
【００２７】ここで、測定の操作手順を、例として増感
紙の鮮鋭度を求める例について図１、２に基づき説明す
る。
紙の鮮鋭度を求める例について図１、２に基づき説明す
る。
【００２８】１）前準備として、ＣＣＤ撮像装置４をＸ
線を照射する前に冷却器１２により温度５度Ｃから７度
Ｃ程度に冷却してノイズレベルを下げておくことが好ま
しい ２）次に、測定対象物２である増感紙ＦをＸ線−光変換
部材用鮮鋭度測定装置の載置台１４にセットする（図２
（Ａ）参照） ３）ここで、Ｘ線源１よりＸ線をスリット部材２に照射
し、スリットを通過したＸ線を増感紙Ｆに照射し発光さ
せる、この発光像の発光強度分布曲線１８を得る（図２
（Ｂ）参照） ４）この発光強度分布曲線１８をＣＣＤ撮像素子面で受
けて読み取る（図２（Ｃ，Ｄ）参照） ５）次に、読み取た信号をＡ／Ｄ変換回路６でデジタル
信号化をする（図２（Ｅ）参照） ６）このデジタル信号をフーリエ変換回路８でフーリエ
変換し鮮鋭度（ＭＴＦ）を計算する ７）さらに、必要に応じてＭＴＦ補正回路９により得ら
れた鮮鋭度（ＭＴＦ）結果から増感紙以外の光学系のＭ
ＴＦを差し引いて増感紙単独の鮮鋭度（ＭＴＦ）を求め
る。
線を照射する前に冷却器１２により温度５度Ｃから７度
Ｃ程度に冷却してノイズレベルを下げておくことが好ま
しい ２）次に、測定対象物２である増感紙ＦをＸ線−光変換
部材用鮮鋭度測定装置の載置台１４にセットする（図２
（Ａ）参照） ３）ここで、Ｘ線源１よりＸ線をスリット部材２に照射
し、スリットを通過したＸ線を増感紙Ｆに照射し発光さ
せる、この発光像の発光強度分布曲線１８を得る（図２
（Ｂ）参照） ４）この発光強度分布曲線１８をＣＣＤ撮像素子面で受
けて読み取る（図２（Ｃ，Ｄ）参照） ５）次に、読み取た信号をＡ／Ｄ変換回路６でデジタル
信号化をする（図２（Ｅ）参照） ６）このデジタル信号をフーリエ変換回路８でフーリエ
変換し鮮鋭度（ＭＴＦ）を計算する ７）さらに、必要に応じてＭＴＦ補正回路９により得ら
れた鮮鋭度（ＭＴＦ）結果から増感紙以外の光学系のＭ
ＴＦを差し引いて増感紙単独の鮮鋭度（ＭＴＦ）を求め
る。
【００２９】（実施例２）実施例２は本発明の他の実施
例でＣＣＤ撮像素子の配列をスリット部材のスリット方
向と２から４度傾けてＣＣＤの複数ライン分のデータを
積み重ね合わせることにより見かけのＣＣＤ撮像素子ピ
ッチを短くし、解像力を上げ、さらに測定結果の鮮鋭度
（ＭＴＦ）をディスプイに図で表示したものである。な
お、実施例１と機能的、構造的については同じ部分は同
一符号を付け説明を省略する。
例でＣＣＤ撮像素子の配列をスリット部材のスリット方
向と２から４度傾けてＣＣＤの複数ライン分のデータを
積み重ね合わせることにより見かけのＣＣＤ撮像素子ピ
ッチを短くし、解像力を上げ、さらに測定結果の鮮鋭度
（ＭＴＦ）をディスプイに図で表示したものである。な
お、実施例１と機能的、構造的については同じ部分は同
一符号を付け説明を省略する。
【００３０】図３は本発明に係わる実施例２のＸ線−光
変換部材用鮮鋭度測定装置の全体構成図である。図のよ
うに、Ｘ線源１から放射されたＸ線は、スリット部材３
に照射し、スリット部材３を通過したＸ線は載置台１４
に載置した図示しない測定対象物２の増感紙に入射す
る。前記増感紙はＸ線により発光し、発光強度分布曲線
１８ができる。ここでＣＣＤ撮像装置４のＣＣＤ撮像素
子５で発光強度分布曲線１８を読み取る。前記ＣＣＤ撮
像装置４では光ファイバ４２を通し、ＣＣＤ撮像素子の
配列をスリット方向と２から４度傾けたＣＣＤ撮像素子
で検出する。ＣＣＤ撮像素子が配列されたＣＣＤ撮像素
子部５ｃと、ＣＣＤ撮像素子部５ｄを傾け、ＣＣＤの複
数ライン分のデータを重ねあわせることにより解像力を
向上させて発光像を読み取り、この発光像の電気信号を
Ａ／Ｄ変換回路６で変換し、フーリエ変換回路８でフー
リエ変換され、さらに必要に応じてＭＴＦ補正回路９で
増感紙以外の光学系のＭＴＦを差し引かれ、演算手段の
ＣＰＵ７で鮮鋭度の計算をおこない、計算結果をディス
プレイ１０に鮮鋭度を表したパターン（ＭＴＦパターン
ともいう）４４として表示する。
変換部材用鮮鋭度測定装置の全体構成図である。図のよ
うに、Ｘ線源１から放射されたＸ線は、スリット部材３
に照射し、スリット部材３を通過したＸ線は載置台１４
に載置した図示しない測定対象物２の増感紙に入射す
る。前記増感紙はＸ線により発光し、発光強度分布曲線
１８ができる。ここでＣＣＤ撮像装置４のＣＣＤ撮像素
子５で発光強度分布曲線１８を読み取る。前記ＣＣＤ撮
像装置４では光ファイバ４２を通し、ＣＣＤ撮像素子の
配列をスリット方向と２から４度傾けたＣＣＤ撮像素子
で検出する。ＣＣＤ撮像素子が配列されたＣＣＤ撮像素
子部５ｃと、ＣＣＤ撮像素子部５ｄを傾け、ＣＣＤの複
数ライン分のデータを重ねあわせることにより解像力を
向上させて発光像を読み取り、この発光像の電気信号を
Ａ／Ｄ変換回路６で変換し、フーリエ変換回路８でフー
リエ変換され、さらに必要に応じてＭＴＦ補正回路９で
増感紙以外の光学系のＭＴＦを差し引かれ、演算手段の
ＣＰＵ７で鮮鋭度の計算をおこない、計算結果をディス
プレイ１０に鮮鋭度を表したパターン（ＭＴＦパターン
ともいう）４４として表示する。
【００３１】なお、実施例１、２で光ファイバーは５μ
ｍとしたが１０μｍ以下が好ましく、またスリット幅は
実施例では１０μｍとしたが２から５０μｍが好まし
く、さらに好ましくは５から２０μｍである。
ｍとしたが１０μｍ以下が好ましく、またスリット幅は
実施例では１０μｍとしたが２から５０μｍが好まし
く、さらに好ましくは５から２０μｍである。
【００３２】
【発明の効果】スリット部材が固定のため構造が簡単
で、光ファイバにより組み立て調整が容易で、さらに測
定対象物のＸ線−光変換部材のセットが光ファイバに当
接または近傍に配置するだけですみ容易で、また従来の
ようなＸ線フィルムの現像処理が不要で迅速にＸ線−光
変換部材の鮮鋭度が測定できる。
で、光ファイバにより組み立て調整が容易で、さらに測
定対象物のＸ線−光変換部材のセットが光ファイバに当
接または近傍に配置するだけですみ容易で、また従来の
ようなＸ線フィルムの現像処理が不要で迅速にＸ線−光
変換部材の鮮鋭度が測定できる。
【図１】本発明に係わる実施例１のＸ線−光変換部材用
鮮鋭度測定装置の全体構成図である。
鮮鋭度測定装置の全体構成図である。
【図２】本発明に係わる実施例のＸ線−光変換部材の鮮
鋭度を求める説明図である。
鋭度を求める説明図である。
【図３】本発明に係わる実施例２のＸ線−光変換部材用
鮮鋭度測定装置の全体構成図である。
鮮鋭度測定装置の全体構成図である。
【図４】従来例のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置を
説明する構成図である。
説明する構成図である。
【図５】他の従来例のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装
置を説明する構成図である。
置を説明する構成図である。
１ Ｘ線源 ２ 測定対象物 ３ スリット部材 ４ ＣＣＤ撮像装置 ５，５ｃ，５ｄ ＣＣＤ撮像素子が配列したＣＣＤ撮像
素子部 ５ａ 測光エリア ５ｂ ＣＣＤ撮像素子出力値 ６ Ａ／Ｄ変換回路 ７ ＣＰＵ ８ フーリエ変換回路 ９ ＭＴＦ補正回路 １４ 載置台 １５ Ｘ線源コントローラ １８ 発光強度分布曲線 １８ａ 撮像素子出力分布曲線 １９ 疑似正弦波格子 ２０ フォトマル ２１ 遮蔽板 ２２ 可変スリット ２３ 微分回路 ２４ ステージコントローラ ２５ スリット幅コントローラ ４１ ＣＣＤ本体 ４２ 光ファイバ ４３ 冷却器 ４４ 解像度を表したパターン（ＭＴＦパターン） Ｆ 増感紙 Ｆ１ ペットベース Ｆ２ 蛍光体層（発光部） Ｆ３ 保護膜
素子部 ５ａ 測光エリア ５ｂ ＣＣＤ撮像素子出力値 ６ Ａ／Ｄ変換回路 ７ ＣＰＵ ８ フーリエ変換回路 ９ ＭＴＦ補正回路 １４ 載置台 １５ Ｘ線源コントローラ １８ 発光強度分布曲線 １８ａ 撮像素子出力分布曲線 １９ 疑似正弦波格子 ２０ フォトマル ２１ 遮蔽板 ２２ 可変スリット ２３ 微分回路 ２４ ステージコントローラ ２５ スリット幅コントローラ ４１ ＣＣＤ本体 ４２ 光ファイバ ４３ 冷却器 ４４ 解像度を表したパターン（ＭＴＦパターン） Ｆ 増感紙 Ｆ１ ペットベース Ｆ２ 蛍光体層（発光部） Ｆ３ 保護膜
Claims (7)
- 【請求項１】 Ｘ線を照射してＸ線像を光像に変換する
変換部材の鮮鋭度（ＭＴＦ）を測定する測定方法におい
て、Ｘ線源によりＸ線をスリット部材越しに前記変換部
材に照射して、前記Ｘ線−光変換部材の発光像を光ファ
イバを通してＣＣＤ撮像素子で読み取り、読み取った信
号をフーリエ変換して鮮鋭度を求めることを特徴とする
Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法。 - 【請求項２】 前記光ファイバは一端を前記Ｘ線−光変
換部材の発光面に当接または近傍に配置し、他端をＣＣ
Ｄ撮像素子の受光面に当接または近傍に配置することを
特徴とする請求項１に記載のＸ線−光変換部材用鮮鋭度
測定方法。 - 【請求項３】 前記Ｘ線−光変換部材が増感紙であるこ
とを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＸ線−
光変換部材用鮮鋭度測定方法。 - 【請求項４】 Ｘ線を照射してＸ線−光変換部材の鮮鋭
度（ＭＴＦ）を測定するＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定
装置において、スリット部材と、Ｘ線を前記スリット部
材越しにＸ線−光変換部材に照射するＸ線源と、前記Ｘ
線−光変換部材の発光像を光ファイバを通してＣＣＤ撮
像素子で読み取るＣＣＤ撮像装置と、前記ＣＣＤ撮像装
置で読み取った発光像の信号をフーリエ変換して鮮鋭度
を演算する演算手段と、を備えたことを特徴とするＸ線
−光変換部材用鮮鋭度測定装置。 - 【請求項５】 前記光ファイバは一端を前記Ｘ線−光変
換部材の発光面に当接または近傍に配置し、他端をＣＣ
Ｄ撮像素子の受光面に当接または近傍に配置することを
特徴とする請求項４に記載のＸ線−光変換部材用鮮鋭度
測定装置。 - 【請求項６】 前記光ファイバはガラス系光学材料であ
ること特徴とする請求項４または５に記載のＸ線−光変
換部材用鮮鋭度測定装置。 - 【請求項７】 ＣＣＤ撮像装置は該ＣＣＤ撮像装置を冷
却する冷却器を有することを特徴とする請求項４、５ま
たは６に記載のＸ線−光変換部材用鮮鋭度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20575495A JPH0954198A (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20575495A JPH0954198A (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0954198A true JPH0954198A (ja) | 1997-02-25 |
Family
ID=16512114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20575495A Pending JPH0954198A (ja) | 1995-08-11 | 1995-08-11 | Ｘ線−光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0954198A (ja) |
-
1995
- 1995-08-11 JP JP20575495A patent/JPH0954198A/ja active Pending
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