JPH098199A - 半導体装置用リードフレーム - Google Patents
半導体装置用リードフレームInfo
- Publication number
- JPH098199A JPH098199A JP7150244A JP15024495A JPH098199A JP H098199 A JPH098199 A JP H098199A JP 7150244 A JP7150244 A JP 7150244A JP 15024495 A JP15024495 A JP 15024495A JP H098199 A JPH098199 A JP H098199A
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- JP
- Japan
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- lead frame
- metal plate
- semiconductor device
- outer peripheral
- adhesive
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Abstract
(57)【要約】
【目的】リードフレームと放熱金属板の外周部間の絶縁
距離を大きくすることにより、リードフレームに貼り付
けた放熱用金属板の外周部とリードフレーム間で起こる
ショートを防止する。 【構成】予め接着剤2を塗布した金属板を用意し、これ
から所定形状の金属板3を打抜きながらリードフレーム
1に貼り合わせて半導体装置用リードフレームを形成す
る。リードフレーム1には、これに貼り合わされる金属
板3の外周部3aと対向する箇所に、金属板3の外周部
3aとリードフレーム1間の絶縁距離を増大するコイニ
ング部4を設ける。コイニング部4の深さは接着剤2の
厚さとほぼ等しいぐらいが適当である。コイニング部4
の幅方向のほぼ中央に金属板3の外周部3aを位置させ
るとよい。
距離を大きくすることにより、リードフレームに貼り付
けた放熱用金属板の外周部とリードフレーム間で起こる
ショートを防止する。 【構成】予め接着剤2を塗布した金属板を用意し、これ
から所定形状の金属板3を打抜きながらリードフレーム
1に貼り合わせて半導体装置用リードフレームを形成す
る。リードフレーム1には、これに貼り合わされる金属
板3の外周部3aと対向する箇所に、金属板3の外周部
3aとリードフレーム1間の絶縁距離を増大するコイニ
ング部4を設ける。コイニング部4の深さは接着剤2の
厚さとほぼ等しいぐらいが適当である。コイニング部4
の幅方向のほぼ中央に金属板3の外周部3aを位置させ
るとよい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はリードフレームに絶縁層
を介して金属板を貼り合わせた半導体装置用リードフレ
ームに係り、特に金属板とリードフレーム間のショート
事故をなくすようにしたものに関する。
を介して金属板を貼り合わせた半導体装置用リードフレ
ームに係り、特に金属板とリードフレーム間のショート
事故をなくすようにしたものに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、素子の高密度化、高速化にともな
って、放熱性を高めた半導体装置用リードフレームの開
発が盛んになっている。放熱性を高めるためにヒートス
プレッダとして機能する金属板をリードフレームの厚さ
方向に積層するが、特に最近になって、予め接着剤を塗
布した金属板を用意し、これを金型で所定の形状に打抜
きながらリードフレームに貼り合わせる方法が注目され
るようになってきた。これによれば、金属板を低コスト
でリードフレームに貼り合わせることができるという利
点がある。
って、放熱性を高めた半導体装置用リードフレームの開
発が盛んになっている。放熱性を高めるためにヒートス
プレッダとして機能する金属板をリードフレームの厚さ
方向に積層するが、特に最近になって、予め接着剤を塗
布した金属板を用意し、これを金型で所定の形状に打抜
きながらリードフレームに貼り合わせる方法が注目され
るようになってきた。これによれば、金属板を低コスト
でリードフレームに貼り合わせることができるという利
点がある。
【0003】図2は、そのようにして貼り合された半導
体装置用リードフレーム構造の代表例であり、中央にデ
バイスホール6を有するリードフレーム1のインナリー
ド部1aに、デバイスホール6を塞ぐように接着剤2を
塗布した金属板3が貼り合わされている。なお、半導体
チップは金属板3上のデバイスホール6内で接着され
る。
体装置用リードフレーム構造の代表例であり、中央にデ
バイスホール6を有するリードフレーム1のインナリー
ド部1aに、デバイスホール6を塞ぐように接着剤2を
塗布した金属板3が貼り合わされている。なお、半導体
チップは金属板3上のデバイスホール6内で接着され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】リードフレームに放熱
用の金属板を貼り合わせた半導体装置用リードフレーム
で特に問題となるのは、金属板とリード間の電気的なシ
ョートである。図2のC部の拡大図である図3に示すよ
うに、リードフレーム1と接着剤付金属板3とが重なっ
た図中Aの部分については、介在させる接着剤2に電気
絶縁性の高い、たとえば熱可塑性ポリイミド系接着剤を
用いることで問題を解決できる。
用の金属板を貼り合わせた半導体装置用リードフレーム
で特に問題となるのは、金属板とリード間の電気的なシ
ョートである。図2のC部の拡大図である図3に示すよ
うに、リードフレーム1と接着剤付金属板3とが重なっ
た図中Aの部分については、介在させる接着剤2に電気
絶縁性の高い、たとえば熱可塑性ポリイミド系接着剤を
用いることで問題を解決できる。
【0005】しかし、金属板3の外周部3aがリードフ
レーム1に対向する図中Bの箇所では、その両者の絶縁
最短距離は必然的に接着剤2の厚みだけとなるが、接着
剤2の厚みは一般に20μm程度とかなり薄いため、次
のような問題が発生する。
レーム1に対向する図中Bの箇所では、その両者の絶縁
最短距離は必然的に接着剤2の厚みだけとなるが、接着
剤2の厚みは一般に20μm程度とかなり薄いため、次
のような問題が発生する。
【0006】(1)接着剤付金属板を打抜き加工した場
合に発生する金属の打抜きばりが離脱するなどして発生
した導電性異物が、金属板外周部とリードフレーム間に
載る等して、金属板とリードフレーム間をショートさせ
る。
合に発生する金属の打抜きばりが離脱するなどして発生
した導電性異物が、金属板外周部とリードフレーム間に
載る等して、金属板とリードフレーム間をショートさせ
る。
【0007】(2)半導体装置用リードフレームは、半
導体素子を搭載後パッケージ化されるが、パッケージの
レジンの吸湿が大きくなると、特にリードフレームと金
属板が共に銅で構成されている場合、リードフレーム側
にかかる電位の関係で、マイグレーションが発生してリ
ードフレーム側から金属板側に向かって銅の樹枝状晶
(デンドライト)が析出し、金属板とリードフレーム間
をショートさせる。
導体素子を搭載後パッケージ化されるが、パッケージの
レジンの吸湿が大きくなると、特にリードフレームと金
属板が共に銅で構成されている場合、リードフレーム側
にかかる電位の関係で、マイグレーションが発生してリ
ードフレーム側から金属板側に向かって銅の樹枝状晶
(デンドライト)が析出し、金属板とリードフレーム間
をショートさせる。
【0008】本発明の目的は、上述した従来技術の問題
点を解消して、金属板の外周部とリードフレーム間で起
こるショートを防止することが可能な半導体装置用リー
ドフレームを提供することにある。
点を解消して、金属板の外周部とリードフレーム間で起
こるショートを防止することが可能な半導体装置用リー
ドフレームを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、リードフレー
ムに絶縁層を介して金属板を貼り合わせた半導体装置用
リードフレームにおいて、貼り合わせた金属板の外周部
と対向する箇所のリードフレームに、金属板の外周部と
リードフレーム間の絶縁距離を増大するコイニング部を
設けたものである。
ムに絶縁層を介して金属板を貼り合わせた半導体装置用
リードフレームにおいて、貼り合わせた金属板の外周部
と対向する箇所のリードフレームに、金属板の外周部と
リードフレーム間の絶縁距離を増大するコイニング部を
設けたものである。
【0010】また、本発明は、接着剤を予め塗布した金
属板を所定形状に打抜きながらリードフレームに貼り合
わせた半導体装置用リードフレームにおいて、貼り合わ
せた金属板の外周部と対向する箇所のリードフレーム
に、金属板の外周部とリードフレーム間の絶縁距離を増
大するコイニング部を設けたものである。
属板を所定形状に打抜きながらリードフレームに貼り合
わせた半導体装置用リードフレームにおいて、貼り合わ
せた金属板の外周部と対向する箇所のリードフレーム
に、金属板の外周部とリードフレーム間の絶縁距離を増
大するコイニング部を設けたものである。
【0011】これらの場合、コイニング部の深さは、絶
縁層または接着剤の厚さ位からリードフレームの厚さの
半分位の範囲とすることが好ましい。あまり浅いと金属
板とリードフレーム間のショートを有効に防止できず、
深すぎるとリードフレームの強度が弱くなり過ぎるから
である。
縁層または接着剤の厚さ位からリードフレームの厚さの
半分位の範囲とすることが好ましい。あまり浅いと金属
板とリードフレーム間のショートを有効に防止できず、
深すぎるとリードフレームの強度が弱くなり過ぎるから
である。
【0012】また、金属板の外周部はコイニング部の幅
方向のほぼ中央に位置させることが好ましい。コイニン
グ部の幅は、あまり狭いと接着剤とパッケージレジンと
の界面が長く取れず、広すぎるとリードフレーム強度が
不足することになるから、望ましくは0.1〜1.0mm
の範囲がよい。
方向のほぼ中央に位置させることが好ましい。コイニン
グ部の幅は、あまり狭いと接着剤とパッケージレジンと
の界面が長く取れず、広すぎるとリードフレーム強度が
不足することになるから、望ましくは0.1〜1.0mm
の範囲がよい。
【0013】
【作用】本発明のように、金属板の外周部と対向する箇
所のリードフレームにコイニング部を設けると、コイニ
ング部を設けなかった場合に、それまで絶縁層の厚さ分
だけであった金属板外周部とリードフレーム間の最短絶
縁距離が、コイニング部の深さ分だけ増大する。したが
って、金属板とリードフレームとがショートする危険性
が低減する。また、接着剤に沿った金属板外周部からリ
ードフレームへの絶縁距離がコイニング部幅に応じた分
だけ増加し、絶縁層とパッケージレジンとの界面の距離
が大幅に増大するので、この界面で発生の予想されるマ
イグレーション/デンドライトの発生を防止できる。
所のリードフレームにコイニング部を設けると、コイニ
ング部を設けなかった場合に、それまで絶縁層の厚さ分
だけであった金属板外周部とリードフレーム間の最短絶
縁距離が、コイニング部の深さ分だけ増大する。したが
って、金属板とリードフレームとがショートする危険性
が低減する。また、接着剤に沿った金属板外周部からリ
ードフレームへの絶縁距離がコイニング部幅に応じた分
だけ増加し、絶縁層とパッケージレジンとの界面の距離
が大幅に増大するので、この界面で発生の予想されるマ
イグレーション/デンドライトの発生を防止できる。
【0014】また、本発明のように、接着剤付きの金属
板を打抜きながらリードフレームに貼り合わせる場合、
打抜き時に発生した打抜きばり等の導電性ばりが、その
まま貼り合わせ時に持ち込まれるが、金属板外周部の対
向箇所のリードフレームにコイニング部を設けてあるの
で、導電性ばりによる金属板とリードフレーム間のショ
ートを有効に回避できる。
板を打抜きながらリードフレームに貼り合わせる場合、
打抜き時に発生した打抜きばり等の導電性ばりが、その
まま貼り合わせ時に持ち込まれるが、金属板外周部の対
向箇所のリードフレームにコイニング部を設けてあるの
で、導電性ばりによる金属板とリードフレーム間のショ
ートを有効に回避できる。
【0015】ここで、コイニング部の深さは絶縁層また
は接着剤の厚さとほぼ等しくすることが好ましい。コイ
ニング部の深さがこれらの厚さよりも浅いと絶縁距離が
稼げず、深いとリードフレームの強度が保てないからで
ある。
は接着剤の厚さとほぼ等しくすることが好ましい。コイ
ニング部の深さがこれらの厚さよりも浅いと絶縁距離が
稼げず、深いとリードフレームの強度が保てないからで
ある。
【0016】また、金属板の外周部をコイニング部の幅
方向のほぼ真ん中に位置させることが好ましい。金属板
の外周部がコイニング部の真ん中よりずれると、デンド
ライト/マイグレーションによるショートを有効に回避
できない場合が生じるからである。
方向のほぼ真ん中に位置させることが好ましい。金属板
の外周部がコイニング部の真ん中よりずれると、デンド
ライト/マイグレーションによるショートを有効に回避
できない場合が生じるからである。
【0017】
【実施例】図1は、本発明の実施例による半導体装置用
リードフレームの金属板の貼り合わせ状況を示す断面図
である。これは、絶縁層である接着剤2を片面に予め塗
布した金属板3を用意する。接着剤2としては例えば電
気絶縁性の高い熱可塑性ポリイミド系接着剤を使用す
る。また、ヒートスプレッダとしての金属板3には熱伝
導性の高い銅を用いる。この金属板3を金型で打抜いて
所定の形状の金属板3を形成し、その打抜いて形成した
金属板3を、そのまま連続してリードフレーム1に貼り
合わせたものである。金属板3の貼り合わせ位置は、デ
バイスホール6に隣接したインナリード部1aである。
なお、リードフレーム1にも金属板3と同じ銅を用い
る。
リードフレームの金属板の貼り合わせ状況を示す断面図
である。これは、絶縁層である接着剤2を片面に予め塗
布した金属板3を用意する。接着剤2としては例えば電
気絶縁性の高い熱可塑性ポリイミド系接着剤を使用す
る。また、ヒートスプレッダとしての金属板3には熱伝
導性の高い銅を用いる。この金属板3を金型で打抜いて
所定の形状の金属板3を形成し、その打抜いて形成した
金属板3を、そのまま連続してリードフレーム1に貼り
合わせたものである。金属板3の貼り合わせ位置は、デ
バイスホール6に隣接したインナリード部1aである。
なお、リードフレーム1にも金属板3と同じ銅を用い
る。
【0018】図示するように、貼り合わされる金属板3
の外周部3aと対向する箇所のリードフレーム1に、金
属板3の外周部3aとリードフレーム1間の絶縁距離を
増大するコイニング部4をリードを横切る方向に設けて
ある。150μmのリードフレーム厚に対して、コイニ
ング部4の深さは接着剤2の厚さと等しい20μmとす
る。また、コイニング部4の幅は0.5mmとする。金属
板3の外周部3aはこの幅の中央に位置するように貼り
合わせる。
の外周部3aと対向する箇所のリードフレーム1に、金
属板3の外周部3aとリードフレーム1間の絶縁距離を
増大するコイニング部4をリードを横切る方向に設けて
ある。150μmのリードフレーム厚に対して、コイニ
ング部4の深さは接着剤2の厚さと等しい20μmとす
る。また、コイニング部4の幅は0.5mmとする。金属
板3の外周部3aはこの幅の中央に位置するように貼り
合わせる。
【0019】したがって、コイニング部4を持たない従
来のものでは、その最短絶縁距離が接着剤2の厚みに対
応した20μmであるのに対し、本実施例のものでは、
2倍の40μmと大幅に増大する。これにより、金属板
を打抜くときに通常発生する打抜きばりなどの導電性ば
りが、貼り合わせ時に、リードフレーム1と金属板3の
外周部3aとに接触してショートするのを有効に回避す
ることができる。
来のものでは、その最短絶縁距離が接着剤2の厚みに対
応した20μmであるのに対し、本実施例のものでは、
2倍の40μmと大幅に増大する。これにより、金属板
を打抜くときに通常発生する打抜きばりなどの導電性ば
りが、貼り合わせ時に、リードフレーム1と金属板3の
外周部3aとに接触してショートするのを有効に回避す
ることができる。
【0020】また、本実施例のようにリードフレーム1
と金属板3とが共に銅で構成されている場合には、特
に、パッケージレジンの吸湿に起因して接着剤2とパッ
ケージレジンの界面に沿ってマイグレーションやデンド
ライトが発生しやすくなるが、本実施例では金属板3の
外周部3aがコイニング部4の幅方向のほぼ中央に位置
しており、リードフレーム1から金属板3までの界面絶
縁距離5は、接着剤2の厚さに加えて0.25mmもある
ため、ショートの原因となるマイグレーションやデンド
ライトが発生しないといえる。また、万一発生したとし
ても、外周部3aから左右のリードフレーム部までの水
平距離は従来の約13.5倍、すなわち寿命が13.5
倍となることから実用上はほぼ問題のないものといえ
る。これによりリードフレーム1と金属板3とのショー
トを有効に防止することができる。
と金属板3とが共に銅で構成されている場合には、特
に、パッケージレジンの吸湿に起因して接着剤2とパッ
ケージレジンの界面に沿ってマイグレーションやデンド
ライトが発生しやすくなるが、本実施例では金属板3の
外周部3aがコイニング部4の幅方向のほぼ中央に位置
しており、リードフレーム1から金属板3までの界面絶
縁距離5は、接着剤2の厚さに加えて0.25mmもある
ため、ショートの原因となるマイグレーションやデンド
ライトが発生しないといえる。また、万一発生したとし
ても、外周部3aから左右のリードフレーム部までの水
平距離は従来の約13.5倍、すなわち寿命が13.5
倍となることから実用上はほぼ問題のないものといえ
る。これによりリードフレーム1と金属板3とのショー
トを有効に防止することができる。
【0021】ところで、上記コイニング部の加工は、リ
ードフレームを打抜きで成形する場合には、インナリー
ドの打抜き金型内で、打抜きと同時に圧印加工すること
により行えるから、コストアップとはならない。
ードフレームを打抜きで成形する場合には、インナリー
ドの打抜き金型内で、打抜きと同時に圧印加工すること
により行えるから、コストアップとはならない。
【0022】なお、上記実施例では、金属板を打抜きな
がらリードフレームに貼り合わせる半導体装置用リード
フレームについて説明したが、本発明は、金属板の打抜
きと、金属板の貼り合わせを別工程で行う方法で製造す
る半導体装置用リードフレームについても適用できる。
また、リードフレームおよび金属板を共に銅で構成した
場合について説明したが、リードフレームは42合金、
銅合金等他の金属材料であってもよく、また金属板もア
ルミニウム、鉄など他の金属材料でよい。
がらリードフレームに貼り合わせる半導体装置用リード
フレームについて説明したが、本発明は、金属板の打抜
きと、金属板の貼り合わせを別工程で行う方法で製造す
る半導体装置用リードフレームについても適用できる。
また、リードフレームおよび金属板を共に銅で構成した
場合について説明したが、リードフレームは42合金、
銅合金等他の金属材料であってもよく、また金属板もア
ルミニウム、鉄など他の金属材料でよい。
【0023】
【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、リード
フレームにコイニング部を設けて金属板の外周部とリー
ドフレーム間の絶縁距離を増大するようにしたので、金
属板とリードフレームとがショートする危険性を低減で
きる。また、コイニングを設けたことにより、接着剤と
パッケージレジンとの界面が延び、ショート原因となる
デンドライトの発生を防止できる。
フレームにコイニング部を設けて金属板の外周部とリー
ドフレーム間の絶縁距離を増大するようにしたので、金
属板とリードフレームとがショートする危険性を低減で
きる。また、コイニングを設けたことにより、接着剤と
パッケージレジンとの界面が延び、ショート原因となる
デンドライトの発生を防止できる。
【0024】請求項2に記載の発明によれば、接着剤付
金属板を打抜きながらリードフレームに貼り合わせる構
造のリードフレームに適用したので、打抜き時に発生し
て貼り合わせ時にそのまま持込まれる導電性異物による
金属板とリードフレーム間のショートを有効に回避する
ことができる。
金属板を打抜きながらリードフレームに貼り合わせる構
造のリードフレームに適用したので、打抜き時に発生し
て貼り合わせ時にそのまま持込まれる導電性異物による
金属板とリードフレーム間のショートを有効に回避する
ことができる。
【0025】請求項3に記載の発明によれば、コイニン
グ部の深さを絶縁層または接着剤の厚さ位からリードフ
レームの厚さの半分位までの範囲としたので、絶縁距離
の確保とリードフレーム強度を両立することができる。
グ部の深さを絶縁層または接着剤の厚さ位からリードフ
レームの厚さの半分位までの範囲としたので、絶縁距離
の確保とリードフレーム強度を両立することができる。
【0026】請求項4に記載の発明によれば、金属板の
外周部をコイニング部の幅方向のほぼ中央に位置させる
ようにしたので、デンドライト/マイグレーションによ
るショートをより有効に回避することができる。
外周部をコイニング部の幅方向のほぼ中央に位置させる
ようにしたので、デンドライト/マイグレーションによ
るショートをより有効に回避することができる。
【図1】本発明の半導体装置用リードフレームの実施例
を説明するための接着剤付金属板の貼り合わせ状況を示
す断面図である。
を説明するための接着剤付金属板の貼り合わせ状況を示
す断面図である。
【図2】従来例の半導体装置用リードフレームの接着剤
付金属板の貼り合わせ状況を示す断面図の断面図。
付金属板の貼り合わせ状況を示す断面図の断面図。
【図3】図2のC部拡大図。
1 リードフレーム 2 接着剤(絶縁層) 3 金属板 3a 外周部 4 コイニング部 5 界面絶縁距離
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山岸 功 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内 (72)発明者 高萩 茂治 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内
Claims (4)
- 【請求項1】リードフレームに絶縁層を介して金属板を
貼り合わせた半導体装置用リードフレームにおいて、貼
り合わせた金属板の外周部と対向する箇所のリードフレ
ームに、金属板の外周部とリードフレーム間の絶縁距離
を増大するコイニング部を設けたことを特徴とする半導
体装置用リードフレーム。 - 【請求項2】接着剤を予め塗布した金属板を所定形状に
打抜きながらリードフレームに貼り合わせた半導体装置
用リードフレームにおいて、貼り合わせた金属板の外周
部と対向する箇所のリードフレームに、金属板の外周部
とリードフレーム間の絶縁距離を増大するコイニング部
を設けたことを特徴とする半導体装置用リードフレー
ム。 - 【請求項3】上記コイニング部の深さが絶縁層または接
着剤の厚さ位からリードフレームの厚さの半分位までの
範囲にある請求項1または2に記載の半導体装置用リー
ドフレーム。 - 【請求項4】上記金属板の外周部がコイニング部の幅方
向のほぼ中央に位置する請求項1ないし3のいずれかに
記載の半導体装置用リードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7150244A JPH098199A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体装置用リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7150244A JPH098199A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体装置用リードフレーム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH098199A true JPH098199A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15492720
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7150244A Pending JPH098199A (ja) | 1995-06-16 | 1995-06-16 | 半導体装置用リードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH098199A (ja) |
-
1995
- 1995-06-16 JP JP7150244A patent/JPH098199A/ja active Pending
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