JPH10104068A - 分光分析装置 - Google Patents
分光分析装置Info
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- JPH10104068A JPH10104068A JP25922696A JP25922696A JPH10104068A JP H10104068 A JPH10104068 A JP H10104068A JP 25922696 A JP25922696 A JP 25922696A JP 25922696 A JP25922696 A JP 25922696A JP H10104068 A JPH10104068 A JP H10104068A
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Abstract
り高精度に行えるようにする。 【解決手段】 回折格子7の回転機構10と、この回転
機構10から回折格子7への伝動経路中に設けられた微
量駆動手段17と、回折格子7の回転角度の検出手段1
6と、制御部18とを備え、制御部18は、回転機構1
0の駆動で回転した回折格子7の回転角度を角度検出手
段16により検出し、その検出信号に基づいて微量駆動
手段17を駆動して回折格子7を微量的に回転させ、そ
の角度を補正するようにした。
Description
分光分析装置に係り、詳しくは、回折格子を回転させる
部分の改良に関する。
場合、ICP発光分光分析装置のような分光分析装置が
使用される。ICP発光分光分析装置は、高周波誘導結
合プラズマを発光源とするものである。
ICP発光分光分析装置の概略構成を示す。
ーチからなる発光部31で試料を発光させ、この発光部
31からの試料の放射光を集光レンズ32や、入口スリ
ット33や凹面鏡34を介して回折格子35に導く。そ
して、この回折格子35で放射光を各波長のスペクトル
光に分光し、そのうち特定の波長のスペクトル光を、凹
面鏡36や出口スリット37を通じ、フォトマルチプラ
イヤのような光検出器38に導いて検出し、これによっ
て、試料に含まれる元素の定性、定量分析を行う。
るための回転機構39が設けられ、また、出口スリット
37には、これを光検出器38の手前で横方向に移動さ
せる横移動機構40が設けられている。
ーを用いたものが一般的で、その機構は、回折格子35
の回転軸に取り付けられたサインバー41のほかに、パ
ルスモータ42、このパルスモータ42に回転駆動され
るネジ軸43、ネジ軸43に螺合しネジ軸43の回転に
より軸方向にスライドするスライダ44等を備えてい
る。この機構39では、ネジ軸43の回転によりスライ
ダ44がスライドすることで、サインバー41が押動さ
れて揺動し、これとともに回折格子35が回転しその角
度が変わる。
示しないが、回折格子の回転軸にパルスモータを直結
し、パルスモータで直接的に回折格子を回転させるよう
にしたものもある。
えば、パルスモータ45とネジ軸46とを組み合わせた
もので、ネジ軸46に螺合する雌ネジ体47が出口スリ
ット37の側に取り付けられており、ネジ軸46が回転
することで、出口スリット37が横移動する。
ペクトル光を選別し検出するには、まず、回転機構39
によって回折格子35の角度を変えて、特定の波長のス
ペクトル光を光検出器38の側に導く。そして、光検出
器38の手前で、出口スリット37を横移動機構により
横方向に移動させてスペクトルピークを検出する。
分光分析装置は、回折格子35の回転角度と、出口スリ
ット37の横位置とを調整しなければならず、2つの部
分で調整を必要とするものであった。そのため、これら
の調整に手間と時間がかかり、分析を迅速に進められな
いという問題があった。また、各機構の機械的精度が重
畳的に分析精度に影響を及ぼすことになるので、高い分
解能が得られないという問題もあった。
このように回折格子の回転角度を調整するだけでなく、
出口スリットの横位置の調整を行うには、次のような事
情がある。
は、微小角度の回転が難しく、また、その回転角度を検
出するロータリーエンコーダにも、微小角度を検出しう
るものが得難く、回折格子の回転角度を細かく調整する
ことができなかったからである。そのため、回折格子よ
り後段で、出口スリットを横移動させる必要があった。
精度な回転機構や、微小角度を検出しうるロータリーエ
ンコーダが得られないわけではないが、それでは装置全
体が極めて高価となり、実現性に乏しい。
は、最近、その信号処理の技術が進歩し、比較的安価な
ロータリーエンコーダでも、その角度検出信号を較正処
理することで、微小な回転角度を検出することが可能に
なってきた。
子の回転角度を調整するだけで、高精度にスペクトルプ
ロファイルデータが得られるようにし、調整を簡単化し
て分析を迅速に行えるようにするとともに、より高精度
の分析を可能にすることを課題とする。
成するために、回折格子により分光を行う分光分析装置
において、回折格子を回転させる回転機構と、この回転
機構の駆動部と回折格子側の被駆動部との間に設けられ
た微量駆動手段と、回折格子の回転角度を検出する角度
検出手段と、制御部とを備え、前記制御部は、回転機構
の駆動で回転した回折格子の回転角度を角度検出手段に
より検出し、その検出信号に基づいて微量駆動手段を駆
動して回折格子の回転角度を微量的に補正する構成とし
た。
明する。図1は本発明の第1実施の形態に係るICP発
光分光分析装置の構成図である。このICP発光分光分
析装置は、サインバーを含む回転機構と、サインバーの
遊端と該部を押動するスライダとの間に設けられた微量
駆動手段とを備えていることに特徴を有している。以
下、その構成を詳細に説明する。
ターナ型の分光部を有するもので、図1中、符号1はプ
ラズマトーチからなる試料の発光部で、この発光部1か
らの放射光は、集光レンズ2で集光されてハウジング3
内に入射し、入口スリット4、2つの凹面鏡5、6、回
折格子7、出口スリット8を通じて、フォトマルチプラ
イヤのような光検出器9に導かれる。
機構10が設けられている。この回転機構10は、回折
格子7の回転軸(図示省略)に取り付けられたサインバ
ー11のほかに、パルスモータ12、このパルスモータ
12に回転駆動されるネジ軸13、ネジ軸13に螺合し
ネジ軸13の回転により軸方向にスライドするスライダ
14や、サインバー11をスライダ14の側に引き寄せ
るバネ15等を備えたものである。
角度を検出する手段として、ロータリーエンコーダ16
が直結されている。
部に回折格子7を微量的に回転させるための微量駆動手
段17が設けられている。この微量駆動手段17は、例
えば圧電素子から構成されて、電圧の印加により微量的
に伸縮するもので、本実施の形態では、その一端がサイ
ンバー11の遊端に接触する向きで他端がスライダ14
に取り付けられている。
ている。出口スリット8には、従来例のように、これを
入射光に対して横方向に移動させる横移動機構を付設し
てもよいが、本発明では後に説明するような理由で、出
口スリット8の横位置調整の必要性を無くすことができ
るので、横移動機構を省略して出口スリット8を固定し
ている。
動作を制御する制御部である。この制御部18は、回折
格子7の回転角度の調整については、回転機構10のパ
ルスモータ12の駆動を制御するほか、ロータリーエン
コーダ16の検出信号を入力し、その検出値に基づいて
微量駆動手段17の駆動を制御するもので、以下に説明
するように、回折格子7の回転角度を2段階的にフィー
ドバック制御するようになっている。
に分析を行うには、まず、発光部1で試料を発光させ
る。この発光部1で発生する試料の放射光は、集光レン
ズ2と凹面鏡5とを介して回折格子7に導かれる。
の第1段調整として、回転機構10により回折格子7が
回転駆動される。すなわち、回転機構10に含まれるパ
ルスモータ12が起動し、ネジ軸13が回転すること
で、スライダ14が軸方向にスライドし、このスライダ
14が微量駆動手段17を介してサインバー11の遊端
を押動することで、サインバー11が揺動し、回折格子
7の角度が変わる。
れているスペクトル光のうち、設定された特定波長のス
ペクトル光が光検出器9の側に導かれるが、この調整
は、回転機構10の機械的精度の制約もあって、粗目の
調整であり、特定波長のスペクトル光の入射方向はいま
だ光検出器9上に正確に定まっているとは限らない。
で回転した回折格子7の回転角度をロータリーエンコー
ダ16により検出する。この場合、制御部18は、ロー
タリーエンコーダ16の検出信号を較正処理すること
で、回転角度を微小角度まで高精度に検出する。そし
て、制御部18は、ロータリーエンコーダ16により検
出した検出値と、特定波長に対応する回転角度の設定値
とを比較し、設定値との差に対応する分だけ、微量駆動
手段17を駆動する。その際、ロータリーエンコーダ1
6で角度を検出して所定の角度位置まで回折格子7を正
確に回転させる。
動手段17がスライダ14とサインバー11との間で伸
長もしくは短縮することで、サインバー11とともに回
折格子7が微小な角度回転し、これによって、回折格子
7の回転角度が微量的に補正される。その結果、回折格
子7の回転角度の調整だけで、特定波長のスペクトル光
が正確に光検出器9に入射することになる。
式の回転機構10を有する分光分析装置を示したが、本
発明は、図2および図3に示すように、他の様式の回転
機構を備えた分光分析装置にも実施可能である。
態に係り、図2は、第2の実施の形態のICP分光分析
装置の回折格子部分の縦断面図、図3はその平面図であ
る。このICP分光分析装置は、回折格子の回転軸と同
軸に設けられた軸に結合されたモータにより回折格子を
直接的に回転駆動する回転機構と、回折格子の回転軸と
モータ側の軸との間に設けられた微量駆動手段と、モー
タ側の軸に設けられてモータに制動をかける制動手段と
を備えていることに特徴がある。以下、その構成を詳細
に説明する。
より回折格子7を直接的に回転駆動するタイプの回転機
構20を備えている。この回転機構20では、回折格子
7の台21の下側に内外二重の軸が設けられ、台21に
固着された内側の回転軸22にロータリーエンコーダ2
3が直結されている。外側の筒軸24は駆動軸であっ
て、上端にフランジ24aがあり、下部はロータリーエ
ンコーダ23を回避する形のフレーム24bを介してパ
ルスモータ25に直結されている。符号26はハウジン
グ3の底壁、27はロータリーエンコーダ23の支持台
である。また、符号28は微量駆動手段であって、これ
は筒軸フランジ24aと回折格子7の台21との間に設
けられて、両者を回転方向に結合している。筒軸フラン
ジ24aには、その回転を止める制動手段29が対設さ
れ、この制動手段29は、パルスモータ25が筒軸24
を回転駆動した直後に、筒軸24が惰性で回転しないよ
う、フランジ24aに制動をかけるようになっている。
実施の形態と同様な調整が制御部18によって行われる
のであって、まず、第1段の調整として、パルスモータ
25の駆動で、回折格子7の回転角度が変えられる。す
なわち、パルスモータ25の駆動で筒軸24が回転する
と、そのフランジ24aと回折格子7の台21とは微量
駆動手段28により回転方向に結合されているので、回
折格子7は筒軸24と一体に回転し、その角度が変わ
る。
折格子7の角度は、ロータリーエンコーダ23により検
出され、その検出信号は制御部18に入力する。制御部
18は、第2段の調整として、ロータリーエンコーダ2
3により検出した検出値と、回転角度の設定値とを比較
し、設定値との差に対応する分だけ、微量駆動手段28
を駆動する。微量駆動手段28が筒軸フランジ24aと
回折格子7の台21との間で伸長もしくは短縮すること
で、回折格子7が微小な角度回転する。その際、ロータ
リーエンコーダ16で角度を検出して所定の角度位置ま
で回折格子7を正確に回転させる。これによって、回折
格子7の回転角度が微量的に補正され、特定波長のスペ
クトル光が正確に光検出器に入射することになる。
25が筒軸24を回転駆動する動作に関連して、制動手
段29が制動動作をするようになっているが、筒軸24
のフランジ24aもしくは他の部分に常時若干の制動力
をかけておいて、筒軸24およびこれに連動する部分の
余分の動きを止めるようにしてもよい。
な角度検出手段と微量駆動手段とにより、回折格子の回
転角度をフィードバック制御するようにしたもので、回
折格子の回転角度を微小な角度まで高精度に調整するこ
とができ、従来の装置におけるような出口スリットの横
位置の調整がほとんど不要になるので、分析を迅速に進
めることができ、構成も簡略化することが可能になる。
角度の調整と、出口スリットの横位置の調整とを行うも
のでは、これら2つの調整部分の機械的精度が重畳的に
分析精度に影響を及ぼすが、本発明では、調整部分が回
折格子の部分だけであるので、機械的精度の影響を受け
る割合が少なく、高精度で分解能の高い分析が可能にな
る。
光分析装置の構成図。
析装置の回折格子部分の縦断面図。
エンコーダ(角度検出手段)、 17 微量駆動手
段、18 制御部、
Claims (1)
- 【請求項1】 回折格子により分光を行う分光分析装置
において、 回折格子を回転させる回転機構と、この回転機構の駆動
部と回折格子側の被駆動部との間に設けられた微量駆動
手段と、回折格子の回転角度を検出する角度検出手段
と、制御部とを備え、 前記制御部は、回転機構の駆動で回転した回折格子の回
転角度を角度検出手段により検出し、その検出信号に基
づいて微量駆動手段を駆動して回折格子の回転角度を微
量的に補正するものであることを特徴とする分光分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25922696A JP3591156B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25922696A JP3591156B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10104068A true JPH10104068A (ja) | 1998-04-24 |
| JP3591156B2 JP3591156B2 (ja) | 2004-11-17 |
Family
ID=17331163
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25922696A Expired - Fee Related JP3591156B2 (ja) | 1996-09-30 | 1996-09-30 | 分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3591156B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021044704A1 (ja) * | 2019-09-02 | 2021-03-11 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用分光光度計および基準位置検出方法 |
| WO2022010438A1 (en) * | 2020-07-06 | 2022-01-13 | Orta Dogu Teknik Universitesi | Optical spectrometer based on alternating diffractive optical elements |
-
1996
- 1996-09-30 JP JP25922696A patent/JP3591156B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021044704A1 (ja) * | 2019-09-02 | 2021-03-11 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用分光光度計および基準位置検出方法 |
| JPWO2021044704A1 (ja) * | 2019-09-02 | 2021-03-11 | ||
| WO2022010438A1 (en) * | 2020-07-06 | 2022-01-13 | Orta Dogu Teknik Universitesi | Optical spectrometer based on alternating diffractive optical elements |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3591156B2 (ja) | 2004-11-17 |
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