JPH1013036A - 多層配線基板 - Google Patents
多層配線基板Info
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- JPH1013036A JPH1013036A JP8163152A JP16315296A JPH1013036A JP H1013036 A JPH1013036 A JP H1013036A JP 8163152 A JP8163152 A JP 8163152A JP 16315296 A JP16315296 A JP 16315296A JP H1013036 A JPH1013036 A JP H1013036A
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- resin insulating
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Abstract
(57)【要約】
【課題】配線導体が高密度に形成することができずまた
全体の形状が大型化する。 【解決手段】上下両主面に貫通する貫通孔5を有する絶
縁基板1と、該絶縁基板1の上面から貫通孔5内壁を経
て下面に導出する導電層6と、前記貫通孔5の内部に充
填された有機樹脂充填体7と、前記絶縁基板1の少なく
とも一主面上に被着され、複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の薄膜配線導体4a、4b、4cとを
交互に多層に配設するとともに薄膜配線導体4aの一部
が前記導電層に電気的に接続されている多層配線部とか
ら成る多層配線基板であって、前記少なくとも有機樹脂
絶縁層3bに比誘電率が20以上の誘電物フィラーを含
有させ、かつ該誘電物フィラーが含有された有機樹脂絶
縁層3bをその上下両面に配設されている薄膜配線導体
4a、4bの一部で対向挟持させることによって容量素
子Aを形成するとともに該容量素子Aを薄膜配線導体4
a、4bに電気的に接続させた。
全体の形状が大型化する。 【解決手段】上下両主面に貫通する貫通孔5を有する絶
縁基板1と、該絶縁基板1の上面から貫通孔5内壁を経
て下面に導出する導電層6と、前記貫通孔5の内部に充
填された有機樹脂充填体7と、前記絶縁基板1の少なく
とも一主面上に被着され、複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の薄膜配線導体4a、4b、4cとを
交互に多層に配設するとともに薄膜配線導体4aの一部
が前記導電層に電気的に接続されている多層配線部とか
ら成る多層配線基板であって、前記少なくとも有機樹脂
絶縁層3bに比誘電率が20以上の誘電物フィラーを含
有させ、かつ該誘電物フィラーが含有された有機樹脂絶
縁層3bをその上下両面に配設されている薄膜配線導体
4a、4bの一部で対向挟持させることによって容量素
子Aを形成するとともに該容量素子Aを薄膜配線導体4
a、4bに電気的に接続させた。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、多層配線基板に関
し、より詳細には混成集積回路装置や半導体素子を収容
する半導体素子収納用パッケージ等に使用される多層配
線基板に関するものである。
し、より詳細には混成集積回路装置や半導体素子を収容
する半導体素子収納用パッケージ等に使用される多層配
線基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子等の能動部品や容量素
子、抵抗器等の受動部品を多数搭載し、所定の電子回路
を構成するようになした混成集積回路装置は、通常、絶
縁基板の内部及び表面にタングステン、モリブデン等の
高融点金属粉末から成る配線導体を形成した構造の配線
基板を準備し、次に前記配線基板の表面に半導体素子や
容量素子、抵抗器等を搭載取着するとともに該半導体素
子等の電極を前記配線導体に接続することによって混成
集積回路装置となる。
子、抵抗器等の受動部品を多数搭載し、所定の電子回路
を構成するようになした混成集積回路装置は、通常、絶
縁基板の内部及び表面にタングステン、モリブデン等の
高融点金属粉末から成る配線導体を形成した構造の配線
基板を準備し、次に前記配線基板の表面に半導体素子や
容量素子、抵抗器等を搭載取着するとともに該半導体素
子等の電極を前記配線導体に接続することによって混成
集積回路装置となる。
【0003】かかる従来の混成集積回路装置等に使用さ
れる配線基板は一般にセラミックスの積層技術及びスク
リーン印刷法等の厚膜技術を採用することによって製作
されており、具体的には以下の方法によって製作されて
いる。
れる配線基板は一般にセラミックスの積層技術及びスク
リーン印刷法等の厚膜技術を採用することによって製作
されており、具体的には以下の方法によって製作されて
いる。
【0004】即ち、 (1)先ず、アルミナ等の電気絶縁性に優れたセラミッ
ク原料粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合して複数枚のセ
ラミック生シートを得るとともに該各セラミック生シー
トの上下面にタングステン、モリブデン等の高融点金属
粉末から成る導電ペーストを従来周知のスクリーン印刷
法等の厚膜手法を採用することによって所定パターンに
印刷塗布する。
ク原料粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合して複数枚のセ
ラミック生シートを得るとともに該各セラミック生シー
トの上下面にタングステン、モリブデン等の高融点金属
粉末から成る導電ペーストを従来周知のスクリーン印刷
法等の厚膜手法を採用することによって所定パターンに
印刷塗布する。
【0005】(2)次に前記各セラミック生シートを積
層し、積層体を得るとともにこれを約1500℃の温度
で焼成し、内部及び表面にタングステン、モリブデン等
の高融点金属粉末から成る配線導体を有する絶縁基板を
得る。
層し、積層体を得るとともにこれを約1500℃の温度
で焼成し、内部及び表面にタングステン、モリブデン等
の高融点金属粉末から成る配線導体を有する絶縁基板を
得る。
【0006】(3)そして最後に、前記配線導体のう
ち、大気中に露出する表面にニッケル及び金等の耐蝕性
に優れ、良導電性で、半田等のロウ材と濡れ性(反応
性)の良い金属をめっき法により被着させ、これによっ
て製品としての配線基板が完成する。
ち、大気中に露出する表面にニッケル及び金等の耐蝕性
に優れ、良導電性で、半田等のロウ材と濡れ性(反応
性)の良い金属をめっき法により被着させ、これによっ
て製品としての配線基板が完成する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の配線基板においては、配線導体がタングステンやモ
リブデン等の高融点金属粉末から成る導電ペーストをス
クリーン印刷法等の厚膜手法を採用し所定パターンに印
刷塗布することによって形成されており、配線導体の微
細化が困難で配線導体を高密度に形成することができな
いという欠点を有していた。
来の配線基板においては、配線導体がタングステンやモ
リブデン等の高融点金属粉末から成る導電ペーストをス
クリーン印刷法等の厚膜手法を採用し所定パターンに印
刷塗布することによって形成されており、配線導体の微
細化が困難で配線導体を高密度に形成することができな
いという欠点を有していた。
【0008】またこの従来の配線基板は表面に半導体素
子等の能動部品や容量素子、抵抗器等の受動部品が多数
搭載され、部品の搭載数に応じて大型化してしまうとい
う欠点も有していた。
子等の能動部品や容量素子、抵抗器等の受動部品が多数
搭載され、部品の搭載数に応じて大型化してしまうとい
う欠点も有していた。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の欠点に鑑
み案出されたもので、その目的は配線導体を薄膜形成技
術により形成される薄膜配線導体とするとともに内部に
容量素子を内蔵させることによって小型にして、且つ配
線が高密度の多層配線基板を提供することにある。
み案出されたもので、その目的は配線導体を薄膜形成技
術により形成される薄膜配線導体とするとともに内部に
容量素子を内蔵させることによって小型にして、且つ配
線が高密度の多層配線基板を提供することにある。
【0010】本発明は、上下両主面に貫通する貫通孔を
有する絶縁基板と、該絶縁基板の上面から貫通孔内壁を
経て下面に導出する導電層と、前記貫通孔の内部に充填
された有機樹脂充填体と、前記絶縁基板の少なくとも一
主面上に被着され、複数の有機樹脂絶縁層と複数の薄膜
配線導体とを交互に多層に配設するとともに薄膜配線導
体の一部が前記導電層に電気的に接続されている多層配
線部とから成る多層配線基板であって、前記有機樹脂絶
縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘電物フ
ィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが含有さ
れている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設されてい
る薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによって容
量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線導体間
に電気的接続させたことを特徴とするものである。
有する絶縁基板と、該絶縁基板の上面から貫通孔内壁を
経て下面に導出する導電層と、前記貫通孔の内部に充填
された有機樹脂充填体と、前記絶縁基板の少なくとも一
主面上に被着され、複数の有機樹脂絶縁層と複数の薄膜
配線導体とを交互に多層に配設するとともに薄膜配線導
体の一部が前記導電層に電気的に接続されている多層配
線部とから成る多層配線基板であって、前記有機樹脂絶
縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘電物フ
ィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが含有さ
れている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設されてい
る薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによって容
量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線導体間
に電気的接続させたことを特徴とするものである。
【0011】また本発明は、前記誘電物フィラーの粒径
が直径0.5μm乃至50μmのチタン酸バリウム、チ
タン酸ストロンチウムの少なくとも1種よりなっている
ことを特徴とするものである。
が直径0.5μm乃至50μmのチタン酸バリウム、チ
タン酸ストロンチウムの少なくとも1種よりなっている
ことを特徴とするものである。
【0012】本発明の多層配線基板によれば、絶縁基板
上に薄膜形成技術によって配線を形成したことから配線
の微細化が可能となり、配線を極めて高密度に形成する
ことが可能となる。
上に薄膜形成技術によって配線を形成したことから配線
の微細化が可能となり、配線を極めて高密度に形成する
ことが可能となる。
【0013】また本発明の多層配線基板によれば、有機
樹脂絶縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘
電物フィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが
含有されている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設さ
れている薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによ
って容量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線
導体間に電気的接続させたことから多層配線基板に半導
体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭載して混成集積
回路装置等となす場合、多層配線基板に別途、容量素子
を多数実装する必要はなく、その結果、多層配線基板に
実装される部品の数が減り、混成集積回路装置等を小型
となすことが可能となる。
樹脂絶縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘
電物フィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが
含有されている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設さ
れている薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによ
って容量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線
導体間に電気的接続させたことから多層配線基板に半導
体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭載して混成集積
回路装置等となす場合、多層配線基板に別途、容量素子
を多数実装する必要はなく、その結果、多層配線基板に
実装される部品の数が減り、混成集積回路装置等を小型
となすことが可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明を添付図面に基づき
詳細に説明する。図1は、本発明の多層配線基板の一実
施例を示し、1は絶縁基板、2は多層配線部である。
詳細に説明する。図1は、本発明の多層配線基板の一実
施例を示し、1は絶縁基板、2は多層配線部である。
【0015】前記絶縁基板1はその上面に3つの有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cと3つの層の薄膜配線導体4
a、4b、4cを交互に多層に配設して成る多層配線部
2が形成されており、該多層配線部2を支持する支持部
材として作用する。
脂絶縁層3a、3b、3cと3つの層の薄膜配線導体4
a、4b、4cを交互に多層に配設して成る多層配線部
2が形成されており、該多層配線部2を支持する支持部
材として作用する。
【0016】前記絶縁基板1は酸化アルミニウム質焼結
体やムライト質焼結体等の酸化物系セラミックス、或い
は表面に酸化物膜を有する窒化アルミニウム質焼結体、
炭化珪素質焼結体等の非酸化物系セラミックス、更には
ガラス繊維を織る込んだ布にエポキシ樹脂を含浸させた
ガラスエポキシ樹脂等の電気絶縁材料で形成されてお
り、例えば、酸化アルミニウム質焼結体で形成されてい
る場合には、アルミナ、シリカ、カルシア、マグネシア
等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合して泥
漿状となすとともにこれを従来周知のドクターブレード
法やカレンダーロール法を採用することによってセラミ
ックグリーンシート(セラミック生シート)を形成し、
しかる後、前記セラミックグリーンシートに適当な打ち
抜き加工を施し、所定形状となすとともに高温(約16
00℃)で焼成することによって、或いはアルミナ等の
原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合して原料粉
末を調整するとともに該原料粉末をプレス成形機によっ
て所定形状に成形し、最後に前記成形体を約1600℃
の温度で焼成することによって製作され、またガラスエ
ポキシ樹脂から成る場合は、例えばガラス繊維を織り込
んだ布にエポキシ樹脂の前駆体を含浸させるとともに該
エポキシ樹脂前駆体を所定の温度で熱硬化させることに
よって製作される。
体やムライト質焼結体等の酸化物系セラミックス、或い
は表面に酸化物膜を有する窒化アルミニウム質焼結体、
炭化珪素質焼結体等の非酸化物系セラミックス、更には
ガラス繊維を織る込んだ布にエポキシ樹脂を含浸させた
ガラスエポキシ樹脂等の電気絶縁材料で形成されてお
り、例えば、酸化アルミニウム質焼結体で形成されてい
る場合には、アルミナ、シリカ、カルシア、マグネシア
等の原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合して泥
漿状となすとともにこれを従来周知のドクターブレード
法やカレンダーロール法を採用することによってセラミ
ックグリーンシート(セラミック生シート)を形成し、
しかる後、前記セラミックグリーンシートに適当な打ち
抜き加工を施し、所定形状となすとともに高温(約16
00℃)で焼成することによって、或いはアルミナ等の
原料粉末に適当な有機溶剤、溶媒を添加混合して原料粉
末を調整するとともに該原料粉末をプレス成形機によっ
て所定形状に成形し、最後に前記成形体を約1600℃
の温度で焼成することによって製作され、またガラスエ
ポキシ樹脂から成る場合は、例えばガラス繊維を織り込
んだ布にエポキシ樹脂の前駆体を含浸させるとともに該
エポキシ樹脂前駆体を所定の温度で熱硬化させることに
よって製作される。
【0017】また前記絶縁基板1には上下両主面に貫通
する孔径が例えば、直径300μm〜500μmの貫通
孔5が形成されており、該貫通孔5の内壁には両端が絶
縁基板1の上下両面に導出する導電層6が被着されてい
る。
する孔径が例えば、直径300μm〜500μmの貫通
孔5が形成されており、該貫通孔5の内壁には両端が絶
縁基板1の上下両面に導出する導電層6が被着されてい
る。
【0018】前記貫通孔5は後述する絶縁基板1の上面
に形成される多層配線部2の薄膜配線導体4aと外部電
気回路とを電気的に接続する、或いは絶縁基板1の上下
両主面に多層配線部2を配設した場合には両主面の多層
配線部2の薄膜配線導体同士を電気的に接続する導電層
6を形成するための形成孔として作用し、絶縁基板1に
ドリル孔あけ加工法を施すことによって絶縁基板1の所
定位置、所定形状に形成される。
に形成される多層配線部2の薄膜配線導体4aと外部電
気回路とを電気的に接続する、或いは絶縁基板1の上下
両主面に多層配線部2を配設した場合には両主面の多層
配線部2の薄膜配線導体同士を電気的に接続する導電層
6を形成するための形成孔として作用し、絶縁基板1に
ドリル孔あけ加工法を施すことによって絶縁基板1の所
定位置、所定形状に形成される。
【0019】更に前記貫通孔5の内壁及び絶縁基板1の
上下両面に被着形成されている導電層6は例えば、銅や
ニッケル等の金属材料から成り、従来周知のめっき法及
びエッチン法を採用することによって貫通孔5の内壁に
両端を絶縁基板1の上下両面に導出させた状態で被着形
成される。
上下両面に被着形成されている導電層6は例えば、銅や
ニッケル等の金属材料から成り、従来周知のめっき法及
びエッチン法を採用することによって貫通孔5の内壁に
両端を絶縁基板1の上下両面に導出させた状態で被着形
成される。
【0020】前記導電層6は絶縁基板1の主面に配設さ
れる多層配線部2の薄膜配線導体3aを外部電気回路に
電気的に接続したり、絶縁基板1の上下両主面に配設さ
れる各々の多層配線部2の薄膜配線導体同士を電気的に
接続する作用をなす。
れる多層配線部2の薄膜配線導体3aを外部電気回路に
電気的に接続したり、絶縁基板1の上下両主面に配設さ
れる各々の多層配線部2の薄膜配線導体同士を電気的に
接続する作用をなす。
【0021】また前記絶縁基板1に形成した貫通孔5は
その内部にエポキシ樹脂から成る有機樹脂充填体7が充
填されており、該有機樹脂充填体7によって貫通孔5が
完全に埋められ、同時に有機樹脂充填体7の両端面が絶
縁基板1の上下両主面に被着させた導電層6の面と同一
平面となっている。
その内部にエポキシ樹脂から成る有機樹脂充填体7が充
填されており、該有機樹脂充填体7によって貫通孔5が
完全に埋められ、同時に有機樹脂充填体7の両端面が絶
縁基板1の上下両主面に被着させた導電層6の面と同一
平面となっている。
【0022】前記有機樹脂充填体7は絶縁基板1の上面
及び/又は下面に後述する複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の層の薄膜配線導体4a、4b、4c
とから成る多層配線部2を形成する際、多層配線部2の
各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4
a、4b、4cの平坦化を維持する作用をなす。
及び/又は下面に後述する複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の層の薄膜配線導体4a、4b、4c
とから成る多層配線部2を形成する際、多層配線部2の
各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4
a、4b、4cの平坦化を維持する作用をなす。
【0023】尚、前記有機樹脂充填体7は絶縁基板1の
貫通孔5内にエポキシ樹脂の前駆体を充填し、しかる
後、これに80℃〜200℃の温度を0.5〜3時間印
加し、完全に熱硬化させることによって絶縁基体1の貫
通孔5内に充填される。
貫通孔5内にエポキシ樹脂の前駆体を充填し、しかる
後、これに80℃〜200℃の温度を0.5〜3時間印
加し、完全に熱硬化させることによって絶縁基体1の貫
通孔5内に充填される。
【0024】更に前記絶縁基板1はその上面3つの有機
樹脂絶縁層3a、3b、3cと3つの層の薄膜配線導体
4a、4b、4cとが交互に多層に配設された多層配線
部2が形成されており、且つ該薄膜配線導体4aは導電
層6と電気的に接続されている。
樹脂絶縁層3a、3b、3cと3つの層の薄膜配線導体
4a、4b、4cとが交互に多層に配設された多層配線
部2が形成されており、且つ該薄膜配線導体4aは導電
層6と電気的に接続されている。
【0025】前記多層配線部2を構成する有機樹脂絶縁
層3a、3b、3cは上下に位置する薄膜配線導体4
a、4b、4cの電気的絶縁を図る作用を為し、各薄膜
配線導体4a、4b、4cは電気信号を伝達するための
伝達路として作用する。
層3a、3b、3cは上下に位置する薄膜配線導体4
a、4b、4cの電気的絶縁を図る作用を為し、各薄膜
配線導体4a、4b、4cは電気信号を伝達するための
伝達路として作用する。
【0026】前記多層配線部2の各有機樹脂絶縁層3
a、3b、3cはエポキシ樹脂から成り、例えば、エポ
キシ樹脂から成る場合、ビスフェノールA型エポキシ樹
脂、ノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型
エポキシ樹脂等にアミン系硬化剤、イミダゾール系硬化
剤、酸無水物系硬化剤等の硬化剤を添加混合してペース
ト状のエポキシ樹脂前駆体を得るとともに該エポキシ樹
脂前駆体を絶縁基板1の上部にスピンコート法により被
着させ、しかる後、これを約80℃〜200℃の熱で
0.5乃至3時間熱処理し、熱硬化させることによって
形成される。
a、3b、3cはエポキシ樹脂から成り、例えば、エポ
キシ樹脂から成る場合、ビスフェノールA型エポキシ樹
脂、ノボラック型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型
エポキシ樹脂等にアミン系硬化剤、イミダゾール系硬化
剤、酸無水物系硬化剤等の硬化剤を添加混合してペース
ト状のエポキシ樹脂前駆体を得るとともに該エポキシ樹
脂前駆体を絶縁基板1の上部にスピンコート法により被
着させ、しかる後、これを約80℃〜200℃の熱で
0.5乃至3時間熱処理し、熱硬化させることによって
形成される。
【0027】また前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3
cはその各々の所定位置に最小径が有機樹脂絶縁層の厚
みに対して約1.5倍程度のスルーホール8が形成され
ており、該スルーホール8は後述する各有機樹脂絶縁層
3a、3b、3cを介して上下に位置する各薄膜配線導
体4a、4b、4cの各々を電気的に接続するスルーホ
ール導体9を形成するための形成孔として作用する。
cはその各々の所定位置に最小径が有機樹脂絶縁層の厚
みに対して約1.5倍程度のスルーホール8が形成され
ており、該スルーホール8は後述する各有機樹脂絶縁層
3a、3b、3cを介して上下に位置する各薄膜配線導
体4a、4b、4cの各々を電気的に接続するスルーホ
ール導体9を形成するための形成孔として作用する。
【0028】前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに
設けるスルーホール8は例えば、フォトリソグラフィー
技術、具体的には各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c上
にレジスト材を塗布するとともにこれに露光、現像を施
すことによって所定位置に所定形状の窓部を形成し、次
に前記レジスト材の窓部にエッチング液を配し、レジス
ト材の窓部に位置する有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
を除去して、有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに穴(ス
ルーホール)を形成し、最後に前記レジスト材を有機樹
脂絶縁層3a、3b、3c上より剥離させ除去すること
によって行われる。
設けるスルーホール8は例えば、フォトリソグラフィー
技術、具体的には各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c上
にレジスト材を塗布するとともにこれに露光、現像を施
すことによって所定位置に所定形状の窓部を形成し、次
に前記レジスト材の窓部にエッチング液を配し、レジス
ト材の窓部に位置する有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
を除去して、有機樹脂絶縁層3a、3b、3cに穴(ス
ルーホール)を形成し、最後に前記レジスト材を有機樹
脂絶縁層3a、3b、3c上より剥離させ除去すること
によって行われる。
【0029】更に前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3
cの各々の上面には所定パターンの薄膜配線導体4a、
4b、4cが、また各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
に設けたスルーホール8の内壁にはスルーホール導体9
が各々配設されており、スルーホール導体9によって有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cの各々を間に挟んで上下
に位置する各薄膜配線導体4a、4b、4cが電気的に
接続されるようになっている。
cの各々の上面には所定パターンの薄膜配線導体4a、
4b、4cが、また各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
に設けたスルーホール8の内壁にはスルーホール導体9
が各々配設されており、スルーホール導体9によって有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cの各々を間に挟んで上下
に位置する各薄膜配線導体4a、4b、4cが電気的に
接続されるようになっている。
【0030】前記各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cの
上面及びスルーホール8内に配設される薄膜配線導体4
a、4b、4c及びスルーホール導体9は銅、ニッケ
ル、金、アルミニウム等の金属材料を無電解めっき法や
蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術及びエッチ
ング加工技術を採用することによって形成され、例えば
銅で形成されている場合には、各有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cの上面及びスルーホール8の内表面に硫酸銅
0.06モル/リットル、ホルマリン0.3モル/リッ
トル、水酸化ナトリウム0.35モル/リットル、エチ
レンジアミン四酢酸0.35モル/リットルからなる無
電解銅メッキ浴を用いて厚さ1μm乃至40μmの銅層
を被着させ、しかる後、前記銅層をエッチング加工法に
より所定パターンに加工することによって各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3c間及び各有機樹脂絶縁層3a、3
b、3cのスルーホール8内壁に配設される。この場
合、薄膜配線導体4a、4b、4cは薄膜形成技術によ
り形成されることから配線の微細化が可能であり、これ
によって薄膜配線導体4a、4b、4cを極めて高密度
に形成することが可能となる。
上面及びスルーホール8内に配設される薄膜配線導体4
a、4b、4c及びスルーホール導体9は銅、ニッケ
ル、金、アルミニウム等の金属材料を無電解めっき法や
蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術及びエッチ
ング加工技術を採用することによって形成され、例えば
銅で形成されている場合には、各有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cの上面及びスルーホール8の内表面に硫酸銅
0.06モル/リットル、ホルマリン0.3モル/リッ
トル、水酸化ナトリウム0.35モル/リットル、エチ
レンジアミン四酢酸0.35モル/リットルからなる無
電解銅メッキ浴を用いて厚さ1μm乃至40μmの銅層
を被着させ、しかる後、前記銅層をエッチング加工法に
より所定パターンに加工することによって各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3c間及び各有機樹脂絶縁層3a、3
b、3cのスルーホール8内壁に配設される。この場
合、薄膜配線導体4a、4b、4cは薄膜形成技術によ
り形成されることから配線の微細化が可能であり、これ
によって薄膜配線導体4a、4b、4cを極めて高密度
に形成することが可能となる。
【0031】尚、前記多層配線部2は各有機樹脂絶縁層
3a、3b、3cの厚みが100μmを越えると各有機
樹脂絶縁層3a、3b、3cにフォトリソグラフィー技
術を採用することによってスルーホール8を形成する
際、エッチングの加工時間が長くなってスルーホール8
を所望する鮮明な形状に形成するのが困難となり、また
5μm未満となると各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
の上面に上下に位置する有機樹脂絶縁層の接合強度を上
げるための粗面加工を施す際、各有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cに不要な穴が形成され上下に位置する薄膜配
線導体4a、4b、4cに不要な電気的短絡を招来して
しまう危険性がある。従って、前記有機樹脂絶縁層各有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cはその各々の厚みを5μ
m乃至100μmの範囲としておくことが好ましい。
3a、3b、3cの厚みが100μmを越えると各有機
樹脂絶縁層3a、3b、3cにフォトリソグラフィー技
術を採用することによってスルーホール8を形成する
際、エッチングの加工時間が長くなってスルーホール8
を所望する鮮明な形状に形成するのが困難となり、また
5μm未満となると各有機樹脂絶縁層3a、3b、3c
の上面に上下に位置する有機樹脂絶縁層の接合強度を上
げるための粗面加工を施す際、各有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cに不要な穴が形成され上下に位置する薄膜配
線導体4a、4b、4cに不要な電気的短絡を招来して
しまう危険性がある。従って、前記有機樹脂絶縁層各有
機樹脂絶縁層3a、3b、3cはその各々の厚みを5μ
m乃至100μmの範囲としておくことが好ましい。
【0032】また前記多層配線部2の各薄膜配線導体4
a、4b、4cはその厚みが1μm未満となると各薄膜
配線導体4a、4b、4cの電気抵抗が大きなものとな
って各薄膜配線導体4a、4b、4cに所定の電気信号
を伝達させることが困難なものとなり、また40μmを
越えると各薄膜配線導体4a、4b、4cを各有機樹脂
絶縁層3a、3b、3cに被着させる際、各薄膜配線導
体4a、4b、4c内に大きな応力が内在し、該内在応
力によって各薄膜配線導体4a、4b、4cが各有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cより剥離し易いものとなる。
従って、前記多層配線部2の各薄膜配線導体4a、4
b、4cの厚みを1μm乃至40μmの範囲としておく
ことが好ましい。
a、4b、4cはその厚みが1μm未満となると各薄膜
配線導体4a、4b、4cの電気抵抗が大きなものとな
って各薄膜配線導体4a、4b、4cに所定の電気信号
を伝達させることが困難なものとなり、また40μmを
越えると各薄膜配線導体4a、4b、4cを各有機樹脂
絶縁層3a、3b、3cに被着させる際、各薄膜配線導
体4a、4b、4c内に大きな応力が内在し、該内在応
力によって各薄膜配線導体4a、4b、4cが各有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cより剥離し易いものとなる。
従って、前記多層配線部2の各薄膜配線導体4a、4
b、4cの厚みを1μm乃至40μmの範囲としておく
ことが好ましい。
【0033】更に前記薄膜配線導体4a、4b、4cは
その表面が中心線平均粗さ(Ra)で0.05μm≦R
a≦5μm、表面の2.5mmの長さにおける凹凸の高
さ(Pc)のカウント値を0.01μm≦Pc≦0.1
μmが30000個以上、0.1μm≦Pc≦1μmが
3000個乃至10000個、1μm≦Pc≦10μm
が500個以下となるように粗しておくと各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4a、4b、4
cとはその接合面積が極めて広いものとなり、その結
果、各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導
体4a、4b、4cとの密着性が著しく向上し、有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cや薄膜配線導体4a、4b、
4cに外力が印加されても該外力によって各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4a、4b、4
cとの間に剥離が発生することはなく、両者の接合を極
めて強固となすことができる。従って、前記各薄膜配線
導体4a、4b、4cはその表面が中心線平均粗さ(R
a)で0.05μm≦Ra≦5μm、表面の2.5mm
の長さにおける凹凸の高さ(Pc)のカウント値を0.
01μm≦Pc≦0.1μmが30000個以上、0.
1μm≦Pc≦1μmが3000個乃至10000個、
1μm≦Pc≦10μmが500個以下となるように粗
しておくことが好ましい。
その表面が中心線平均粗さ(Ra)で0.05μm≦R
a≦5μm、表面の2.5mmの長さにおける凹凸の高
さ(Pc)のカウント値を0.01μm≦Pc≦0.1
μmが30000個以上、0.1μm≦Pc≦1μmが
3000個乃至10000個、1μm≦Pc≦10μm
が500個以下となるように粗しておくと各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4a、4b、4
cとはその接合面積が極めて広いものとなり、その結
果、各有機樹脂絶縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導
体4a、4b、4cとの密着性が著しく向上し、有機樹
脂絶縁層3a、3b、3cや薄膜配線導体4a、4b、
4cに外力が印加されても該外力によって各有機樹脂絶
縁層3a、3b、3cと各薄膜配線導体4a、4b、4
cとの間に剥離が発生することはなく、両者の接合を極
めて強固となすことができる。従って、前記各薄膜配線
導体4a、4b、4cはその表面が中心線平均粗さ(R
a)で0.05μm≦Ra≦5μm、表面の2.5mm
の長さにおける凹凸の高さ(Pc)のカウント値を0.
01μm≦Pc≦0.1μmが30000個以上、0.
1μm≦Pc≦1μmが3000個乃至10000個、
1μm≦Pc≦10μmが500個以下となるように粗
しておくことが好ましい。
【0034】また更に前記有機樹脂絶縁層3a、3b、
3cと各薄膜配線導体4a、4b、4cとからなる配線
導体部2は有機樹脂絶縁層3bに比誘電率が20以上の
誘電物フィラーが含有され、かつ有機樹脂絶縁層3bを
その上下両面に配設された薄膜配線導体4a、4bの一
部で対向挟持せることによって容量素子Aが形成されて
おり、該容量素子Aは薄膜配線導体4a、4bに電気的
に接続されている。
3cと各薄膜配線導体4a、4b、4cとからなる配線
導体部2は有機樹脂絶縁層3bに比誘電率が20以上の
誘電物フィラーが含有され、かつ有機樹脂絶縁層3bを
その上下両面に配設された薄膜配線導体4a、4bの一
部で対向挟持せることによって容量素子Aが形成されて
おり、該容量素子Aは薄膜配線導体4a、4bに電気的
に接続されている。
【0035】前記容量素子Aの静電容量値は比誘電率が
20以上の誘電物フィラーが含有された有機樹脂絶縁層
3bの比誘電率と、有機樹脂絶縁層3bの厚みと、薄膜
配線導体4a、4bの対向面積の大きさによって決定さ
れ、有機樹脂絶縁層3bに含有させる誘電物フィラーの
比誘電率及び薄膜配線導体4a、4bの対向面積の大き
さを可変することによって所定の静電容量値に調整され
る。
20以上の誘電物フィラーが含有された有機樹脂絶縁層
3bの比誘電率と、有機樹脂絶縁層3bの厚みと、薄膜
配線導体4a、4bの対向面積の大きさによって決定さ
れ、有機樹脂絶縁層3bに含有させる誘電物フィラーの
比誘電率及び薄膜配線導体4a、4bの対向面積の大き
さを可変することによって所定の静電容量値に調整され
る。
【0036】前記容量素子Aは絶縁基板1上に設けた多
層配線部2の内部に内蔵されており、そのためこの多層
配線基板に半導体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭
載して混成集積回路装置等となす場合、多層配線基板に
別途、容量素子を多数実装する必要はなく、その結果、
多層配線基板に実装される部品の数が減り、混成集積回
路装置等を小型となすことが可能となる。
層配線部2の内部に内蔵されており、そのためこの多層
配線基板に半導体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭
載して混成集積回路装置等となす場合、多層配線基板に
別途、容量素子を多数実装する必要はなく、その結果、
多層配線基板に実装される部品の数が減り、混成集積回
路装置等を小型となすことが可能となる。
【0037】尚、前記誘電物フィラーの有機樹脂絶縁層
3bへの含有はエポキシ樹脂等の有機樹脂前駆体を使用
して有機樹脂絶縁層3bを形成する際に予め有機樹脂前
駆体に誘電物フィラーを添加混合させておくことによっ
て有機樹脂絶縁層3bに含有される。
3bへの含有はエポキシ樹脂等の有機樹脂前駆体を使用
して有機樹脂絶縁層3bを形成する際に予め有機樹脂前
駆体に誘電物フィラーを添加混合させておくことによっ
て有機樹脂絶縁層3bに含有される。
【0038】また前記有機樹脂絶縁層3bに含有される
誘電物フィラーはその比誘電率が20(室温1MHz)
未満となると有機樹脂絶縁層3bの比誘電率が小さくな
って容量素子Aの静電容量値が実用に供しない小さな値
となってしまう。従って、前記有機樹脂絶縁層3bに含
有される誘電物フィラーはその比誘電率が20(室温1
MHz)以上のものに特定され、チタン酸バリウムやチ
タン酸ストロンチウム等の比誘電率が高い材料が好適に
使用される。
誘電物フィラーはその比誘電率が20(室温1MHz)
未満となると有機樹脂絶縁層3bの比誘電率が小さくな
って容量素子Aの静電容量値が実用に供しない小さな値
となってしまう。従って、前記有機樹脂絶縁層3bに含
有される誘電物フィラーはその比誘電率が20(室温1
MHz)以上のものに特定され、チタン酸バリウムやチ
タン酸ストロンチウム等の比誘電率が高い材料が好適に
使用される。
【0039】更に前記誘電物フィラーはその粒径が直径
0.5μm未満となると誘電物フィラーの比表面積が大
きくなってこの誘電物フィラーを添加混合した有機樹脂
前駆体の粘度を高くしてしまい、その結果、この誘電物
フィラーを添加混合した有機樹脂前駆体をスピンコート
法等を採用して有機樹脂絶縁層3bを形成する際、有機
樹脂絶縁層3bの厚みが不均一となり、有機樹脂絶縁層
3bを所定の均一厚みとすることが困難となってしま
い、また50μmを越えると誘電物フィラーによって有
機樹脂絶縁層3bの表面に凹凸が形成され、容量素子A
が形成される領域における有機樹脂絶縁層3bの比誘電
率にバラツキが発生したり、有機樹脂絶縁層3bにおけ
る誘電物フィラーの接着強度が低下し、誘電物フィラー
が有機樹脂絶縁層3bより脱落したりしてしまう危険性
がある。従って、前記誘電物フィラーはその粒径を直径
0.5μm乃至50μmの範囲としておくことが好まし
い。
0.5μm未満となると誘電物フィラーの比表面積が大
きくなってこの誘電物フィラーを添加混合した有機樹脂
前駆体の粘度を高くしてしまい、その結果、この誘電物
フィラーを添加混合した有機樹脂前駆体をスピンコート
法等を採用して有機樹脂絶縁層3bを形成する際、有機
樹脂絶縁層3bの厚みが不均一となり、有機樹脂絶縁層
3bを所定の均一厚みとすることが困難となってしま
い、また50μmを越えると誘電物フィラーによって有
機樹脂絶縁層3bの表面に凹凸が形成され、容量素子A
が形成される領域における有機樹脂絶縁層3bの比誘電
率にバラツキが発生したり、有機樹脂絶縁層3bにおけ
る誘電物フィラーの接着強度が低下し、誘電物フィラー
が有機樹脂絶縁層3bより脱落したりしてしまう危険性
がある。従って、前記誘電物フィラーはその粒径を直径
0.5μm乃至50μmの範囲としておくことが好まし
い。
【0040】また更に前記誘電物フィラーの有機樹脂絶
縁層3bへの含有量は、誘電物フィラーの量が有機樹脂
絶縁層3bの全有機樹脂量に対し20重量%未満となる
と有機樹脂絶縁層3bの比誘電率が小さく、実用に供す
ることができる容量素子Aを形成するのが困難となり、
また75重量%を越えると有機樹脂絶縁層3bにおける
誘電物フィラーの接着強度が低下し、誘電物フィラーが
有機樹脂絶縁層3bより脱落してしまう危険性がある。
従って、前記誘電物フィラーの有機樹脂絶縁層3bへの
含有量は20重量%乃至75重量%の範囲としておくこ
とが好ましい。
縁層3bへの含有量は、誘電物フィラーの量が有機樹脂
絶縁層3bの全有機樹脂量に対し20重量%未満となる
と有機樹脂絶縁層3bの比誘電率が小さく、実用に供す
ることができる容量素子Aを形成するのが困難となり、
また75重量%を越えると有機樹脂絶縁層3bにおける
誘電物フィラーの接着強度が低下し、誘電物フィラーが
有機樹脂絶縁層3bより脱落してしまう危険性がある。
従って、前記誘電物フィラーの有機樹脂絶縁層3bへの
含有量は20重量%乃至75重量%の範囲としておくこ
とが好ましい。
【0041】かくして本発明の多層配線基板によれば、
例えば、絶縁基板1の上面に被着させた多層配線部2上
に半導体素子等の能動部品や容量素子、抵抗器等の受動
部品を実装させることによって混成集積回路装置とな
り、絶縁基板1の下面に被着されている導電層6を外部
電気回路に接続すればかかる混成集積回路装置が外部電
気回路に電気的に接続されることとなる。
例えば、絶縁基板1の上面に被着させた多層配線部2上
に半導体素子等の能動部品や容量素子、抵抗器等の受動
部品を実装させることによって混成集積回路装置とな
り、絶縁基板1の下面に被着されている導電層6を外部
電気回路に接続すればかかる混成集積回路装置が外部電
気回路に電気的に接続されることとなる。
【0042】尚、本発明は上述の実施例に限定されるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種
々の変更は可能であり、例えば、上述の実施例において
は絶縁基板1の上面のみに複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の薄膜配線導体4a、4b、4cとか
ら成る多層配線部2を設けたが、該多層配線部2を絶縁
基板1の下面側のみに設けても、上下の両主面に設けて
もよい。
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば種
々の変更は可能であり、例えば、上述の実施例において
は絶縁基板1の上面のみに複数の有機樹脂絶縁層3a、
3b、3cと複数の薄膜配線導体4a、4b、4cとか
ら成る多層配線部2を設けたが、該多層配線部2を絶縁
基板1の下面側のみに設けても、上下の両主面に設けて
もよい。
【0043】
【発明の効果】本発明の多層配線基板によれば、絶縁基
板上に薄膜形成技術によって配線を形成したことから配
線の微細化が可能となり、配線を極めて高密度に形成す
ることが可能となる。
板上に薄膜形成技術によって配線を形成したことから配
線の微細化が可能となり、配線を極めて高密度に形成す
ることが可能となる。
【0044】また本発明の多層配線基板によれば、有機
樹脂絶縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘
電物フィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが
含有されている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設さ
れている薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによ
って容量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線
導体間に電気的接続させたことから多層配線基板に半導
体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭載して混成集積
回路装置等となす場合、多層配線基板に別途、容量素子
を多数実装する必要はなく、その結果、多層配線基板に
実装される部品の数が減り、混成集積回路装置等を小型
となすことが可能となる。
樹脂絶縁層の少なくとも一層に比誘電率が20以上の誘
電物フィラーを含有させるとともに該誘電物フィラーが
含有されている有機樹脂絶縁層をその上下両面に配設さ
れている薄膜配線導体の一部で対向挟持させることによ
って容量素子を形成するとともに該容量素子を薄膜配線
導体間に電気的接続させたことから多層配線基板に半導
体素子や容量素子、抵抗器等の部品を搭載して混成集積
回路装置等となす場合、多層配線基板に別途、容量素子
を多数実装する必要はなく、その結果、多層配線基板に
実装される部品の数が減り、混成集積回路装置等を小型
となすことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の多層配線基板の一実施例を示す断面図
である。
である。
1・・・絶縁基板 2・・・多層配線部 3a、3b、3c・・有機樹脂絶縁層 4a、4b、4c・・薄膜配線導体 5・・・貫通孔 6・・・導電層 7・・・有機樹脂充填体 A・・・容量素子
Claims (3)
- 【請求項1】上下両主面に貫通する貫通孔を有する絶縁
基板と、該絶縁基板の上面から貫通孔内壁を経て下面に
導出する導電層と、前記貫通孔の内部に充填された有機
樹脂充填体と、前記絶縁基板の少なくとも一主面上に被
着され、複数の有機樹脂絶縁層と複数の薄膜配線導体と
を交互に多層に配設するとともに薄膜配線導体の一部が
前記導電層に電気的に接続されている多層配線部とから
成る多層配線基板であって、前記有機樹脂絶縁層の少な
くとも一層に比誘電率が20以上の誘電物フィラーを含
有させるとともに該誘電物フィラーが含有されている有
機樹脂絶縁層をその上下両面に配設されている薄膜配線
導体の一部で対向挟持させることによって容量素子を形
成するとともに該容量素子を薄膜配線導体間に電気的接
続させたことを特徴とする多層配線基板。 - 【請求項2】前記誘電物フィラーがチタン酸バリウム、
チタン酸ストロンチウムの少なくとも1種よりなること
を特徴とする請求項1に記載の多層配線基板。 - 【請求項3】前記誘電物フィラーの粒径が直径0.5μ
m乃至50μmであることを特徴とする請求項1及び請
求項2に記載の多層配線基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8163152A JPH1013036A (ja) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | 多層配線基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8163152A JPH1013036A (ja) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | 多層配線基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1013036A true JPH1013036A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=15768221
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8163152A Pending JPH1013036A (ja) | 1996-06-24 | 1996-06-24 | 多層配線基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1013036A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6214445B1 (en) | 1998-12-25 | 2001-04-10 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Printed wiring board, core substrate, and method for fabricating the core substrate |
| WO2004010751A1 (ja) * | 2002-07-18 | 2004-01-29 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | 多層配線板、およびその製造方法、ならびに半導体装置および無線電子装置 |
| KR100817344B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2008-03-26 | 히다치 가세고교 가부시끼가이샤 | 다층배선판, 및 그 제조방법, 및 반도체장치 및무선전자장치 |
| US8120173B2 (en) * | 2005-05-03 | 2012-02-21 | Lockheed Martin Corporation | Thin embedded active IC circuit integration techniques for flexible and rigid circuits |
-
1996
- 1996-06-24 JP JP8163152A patent/JPH1013036A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6214445B1 (en) | 1998-12-25 | 2001-04-10 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Printed wiring board, core substrate, and method for fabricating the core substrate |
| WO2004010751A1 (ja) * | 2002-07-18 | 2004-01-29 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | 多層配線板、およびその製造方法、ならびに半導体装置および無線電子装置 |
| US7239013B2 (en) | 2002-07-18 | 2007-07-03 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Multilayer wiring board, method for producing the same, semiconductor device and radio electronic device |
| KR100817344B1 (ko) * | 2002-07-18 | 2008-03-26 | 히다치 가세고교 가부시끼가이샤 | 다층배선판, 및 그 제조방법, 및 반도체장치 및무선전자장치 |
| CN100413383C (zh) * | 2002-07-18 | 2008-08-20 | 日立化成工业株式会社 | 多层配线板及其制造方法、以及半导体装置及无线电子装置 |
| US7592250B2 (en) | 2002-07-18 | 2009-09-22 | Hitachi Chemical Company, Ltd. | Multilayer wiring board, manufacturing method thereof, semiconductor device, and wireless electronic device |
| US8120173B2 (en) * | 2005-05-03 | 2012-02-21 | Lockheed Martin Corporation | Thin embedded active IC circuit integration techniques for flexible and rigid circuits |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040108 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040203 |