JPH1031834A - 発光部カバー及びこれを利用した光学ピックアップ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成により、低コストで、レーザ光源
である発光部の非点収差が補正されるようにした、発光
部カバー，光学ピックアップ及びこれを利用した光ディ
スク装置を提供すること。 【解決手段】 レーザ光ビームを出射するレーザ光源２
２ｃを覆うと共に、レーザ光源からのレーザ光ビームの
光路に垂直な光透過面を備えた、樹脂成形により形成さ
れた、発光部カバー２３において、上記発光部カバー
が、少なくともその光透過面にて、レーザ光源固有の非
点収差を相殺するような非点収差を有するように、成形
時の樹脂流動方向を適宜に選定することにより、樹脂成
形されるように、発光部カバー２３を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ミニディスク（Ｍ
Ｄ），光磁気ディスク（ＭＯ），コンパクトディスク
（ＣＤ），ＣＤ−ＲＯＭ等（以下、「光ディスク」とい
う）の信号を記録及び／又は再生するための光学ピック
アップ、及びこの光学ピックアップを備えた光ディスク
装置に関し、特に光学ピックアップの発光素子カバーに
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク用の光学ピックアップ
は、例えば図８に示すように構成されている。図８にお
いて、光学ピックアップ１は、レーザ光源としての半導
体レーザ素子２から出射された光ビームの光路中に順次
に配設された、非点収差補正板３，ビームスプリッタ
４，立ち上げミラー５及び対物レンズ６と、ビームスプ
リッタ４で反射された光ディスクＤからの戻り光の分離
光路中に配設された光検出器７とから構成されている。

【０００３】このような構成の光学ピックアップ１にお
いては、半導体レーザ素子２からの光ビームは、非点収
差補正板３を通過し、ビームスプリッタ４にて反射され
た後、立ち上げミラー５によって光ディスクＤの方向に
光路を折曲げられて、対物レンズ６により光ディスクＤ
の信号記録面に照射される。そして、この信号記録面で
反射された戻り光ビームは、対物レンズ６，立ち上げミ
ラー５から、ビームスプリッタ４を透過して、光検出器
７の受光面で受光され、記録信号が検出されるようにな
っている。

【０００４】そして、正確な再生信号の検出のために、
半導体レーザ素子２からの光ビームが光ディスクＤの信
号記録面の正しい位置にスポットを形成して、正確な記
録信号の再生が行われるために、上記対物レンズ６が、
所定のサーボ信号に基づいて微動されるようになってい
る。この対物レンズ６のサーボとしては、光ディスクＤ
の記録トラックに対して、光ディスクＤの径方向に沿っ
て対物レンズ６を微動させるトラッキングサーボと、光
軸に沿って光ディスクＤの信号記録面に接近，離間させ
る方向に対物レンズ６を微動させるフォーカシングサー
ボとが行われている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成の光ピックアップ１においては、半導体レーザ素子
２は、図９に示すように、加えられる電流Ｉに対して、
ＰＮ接合面に垂直な面θ１と、ＰＮ接合面に平行な面θ
２とに関して、それぞれ異なる発光点を有することによ
り、例えば約２０μｍ程度の固有の非点収差を有してい
る。このため、この非点収差をそのままにしておくと、
例えば図１０に示すように、非点収差ＡＳのために、デ
フォーカス量が変化してしまい、ジッターのボトム位置
とトラバースレベルのピーク位置がずれてしまうことに
なる。

【０００６】従って、この非点収差を補正するために、
前述した非点収差補正板３が光路上にて光軸に対して斜
めに配設されている。この非点収差補正板３は、通常板
ガラスであって、光軸に対して正確に所定角度になるよ
うに位置決めされ、固定されるようになっている。この
ため、非点収差補正板３に関して、部品コスト及び組立
コストが高くなってしまうという問題があった。

【０００７】本発明は、以上の点に鑑み、簡単な構成に
より、低コストで、レーザ光源である発光部の非点収差
が補正されるようにした、発光部カバー，光学ピックア
ップ及びこれを利用した光ディスク装置を提供すること
を目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、レーザ光ビームを出射するレーザ光源を覆うと共
に、レーザ光源からのレーザ光ビームの光路に垂直な光
透過面を備えた、樹脂成形により形成された、発光部カ
バーにおいて、前記発光部カバーが、少なくともその光
透過面にて、レーザ光源固有の非点収差を相殺するよう
な非点収差を有するように、成形時の樹脂流動方向を適
宜に選定することにより、樹脂成形されている、発光部
カバーにより、達成される。

【０００９】上記構成によれば、レーザ光源から出射し
たレーザ光ビームは、発光部カバーの光透過面を透過し
た後、対物レンズを介して、光ディスクの信号記録面に
結像する。ここで、発光部カバーは、レーザ光源固有の
非点収差を相殺するような非点収差を有するように、形
成されているので、レーザ光源固有の非点収差が、発光
部カバーによって、取り除かれる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図７を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００１１】図１は、本発明の実施形態に係る発光部カ
バー及び光学ピックアップを組み込んだ光ディスク装置
を示している。図１において、光ディスク装置１０は、
光ディスク１１を回転駆動する駆動手段としてのスピン
ドルモータ１２と、回転する光ディスク１１の信号記録
面に対して光ビームを照射して信号を記録し、この信号
記録面からの戻り光ビームにより記録信号を再生する光
学ピックアップ２０及びこれらを制御する制御部１３を
備えている。ここで、制御部１３は、光ディスクコント
ローラ１４，信号復調器１５，誤り訂正回路１６，イン
ターフェイス１７，ヘッドアクセス制御部１８及びサー
ボ回路１９を備えている。

【００１２】光ディスクコントローラ１４は、スピンド
ルモータ１２を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器１５は、光学ピックアップ２０からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス１７を介して外部コ
ンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク１１に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。

【００１３】ヘッドアクセス制御部１８は、光学ピック
アップ２０を例えば光ディスク１１上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
回路１９は、この移動された所定位置において、光学ピ
ックアップ２０の二軸アクチュエータに保持されている
光集束手段としての例えば対物レンズをフォーカシング
方向及びトラッキング方向に移動させる。

【００１４】図２及び図３は、上記光ディスク装置１０
に組み込まれた光学ピックアップを示している。図２及
び図３において、光学ピックアップ２０は、それぞれ光
学ベース２１上に配設された、レーザ光源としての半導
体レーザ素子及び光検出器が一体に組み込まれた受発光
装置２２（図４参照）と、光路折曲げミラーとしての反
射面２３ａを備えた発光部カバー２３と、立ち上げミラ
ーとしての平面ミラー２４及び光集束手段としての対物
レンズ２５と、対物レンズ２５を二軸方向に移動させる
ための二軸アクチュエータ２６とから構成されている。

【００１５】ここで、上記対物レンズ２５を除く各光学
素子、即ち受発光装置２２，発光部カバー２３，平面ミ
ラー２４は、図示しない手段によって、光ディスク１１
の半径方向に移動可能に支持された光学ベース２１上
に、それぞれ固定保持されている。

【００１６】ここで、上記受発光装置２２は、例えば図
４に示すように、構成されている。図４において、受発
光装置２２は、第一の半導体基板２２ａ上に光出力用の
第二の半導体基板２２ｂが載置され、この第二の半導体
基板２２ｂ上に発光素子としての半導体レーザ素子２２
ｃが搭載されている。半導体レーザ素子２２ｃの前方の
第一の半導体基板２２ａ上には、縦断面が台形形状のマ
イクロプリズム２２ｄが、その半透過面としての傾斜面
２２ｅを半導体レーザ素子２２ｃ側にして、設置されて
いる。ここで、上記マイクロプリズム２２ｄは、その傾
斜面２２ｅに、半透過膜（図示せず）が形成されてい
る。これにより、半導体レーザ素子２２ｃから第二の半
導体基板２２ｂの表面に沿って出射した光ビームは、マ
イクロプリズム２２ｄの傾斜面にて反射されて、上方に
向かって進み、前述した発光部カバー２３の反射面２３
ａ，平面ミラー２４及び対物レンズ２５を介して、光デ
ィスク１１に達することになる。また、光ディスク１１
の信号記録面からの戻り光は、対物レンズ２５，平面ミ
ラー２４及び発光部カバー２３の反射面２３を介して、
マイクロプリズム２２ｄの傾斜面２２ｅを透過して、マ
イクロプリズム２２ｄの底面に達する。このマイクロプ
リズム２２ｄの底面に達した戻り光は、一部がこの底面
を透過すると共に、一部がこの底面で反射され、マイク
ロプリズム２２ｄの上面に向かって進む。

【００１７】ここで、マイクロプリズム２２ｄの戻り光
入射位置の下部の第一の半導体基板２２ａ上には、第一
の光検出器２２ｆが形成されている。また、上記底面で
反射された戻り光は、マイクロプリズム２２ｄの上面に
て反射されて、再びマイクロプリズム２２ｄの底面に入
射される。そして、マイクロプリズム２２ｄの上面で反
射された戻り光の入射されるマイクロプリズム２２ｄの
底面部分の下部の第一の半導体基板２２ａには、第二の
光検出器２２ｇが形成されている。上記第一の光検出器
２２ｆ，第二の光検出器２２ｇは、それぞれ複数の受光
部に分割されており、各受光部の検出信号がそれぞれ独
立して出力されるようになっている。尚、第二の半導体
基板２２ｂ上には、半導体レーザ素子２２ｃの出射側と
は反対側に、第三の光検出器２２ｈが備えられている。
この第三の光検出器２２ｈは、半導体レーザ素子２２ｃ
の発光強度をモニタするためのものである。

【００１８】上記半導体レーザ素子２２ｃは、半導体の
再結合発光を利用した発光素子であり、レーザ光源とし
て使用される。

【００１９】発光部カバー２３は、合成樹脂により図３
に示すように形成されており、この場合カバー２３は、
例えば半導体レーザ素子２２ｃから上方に向かうレーザ
光ビームが、発光部カバー２３内に入射した後、その表
面に形成された反射面２３ａによって内面反射されて、
再び発光部カバー２３内をほぼ水平方向に進んで、発光
部カバー２３から出射する、所謂内面反射式光路折曲げ
ミラーとして構成されている。ここで、発光部カバー２
３は、半導体レーザ素子２２ｃからのレーザ光ビームを
透過させ得るような透明樹脂によって成形されており、
光学ベース２１上の所定位置に載置されることにより、
反射面２３ａが所定位置に位置決めされるようになって
いる。

【００２０】平面ミラー２４は、図２に示す三角プリズ
ムミラーや、図３に示す平面ミラーを傾けて構成するこ
とができる。この平面ミラー２４は、光学ベース２１上
にて、斜め４５度に配設されたミラーであって、発光部
カバー２３からのほぼ水平方向に進む光ビームを垂直方
向上方に向かって反射させるようになっている。

【００２１】上記対物レンズ２５は、凸レンズであっ
て、平面ミラー２４からの光を、光ディスク１１の信号
記録面の所望のトラック上に結像させる。

【００２２】ここで、対物レンズ２５は、図２に示す対
物レンズの駆動手段としての二軸アクチュエータ２６に
より、二軸方向即ちフォーカシング方向及びトラッキン
グ方向に移動可能に支持されている。二軸アクチュエー
タ２６は、光学ベース２１に対してスキュー調整された
状態で取り付けられる固定部２６ａと、固定部２６ａに
対して互いに平行な左右二対の弾性支持部材２６ｂによ
り二軸方向に移動可能に支持された可動部２６ｃと、可
動部２６ｃに取り付けられたフォーカス用コイル２６ｄ
と、トラッキング用コイル２６ｅと、を備えている。

【００２３】これに対して、光学ベース２１上には、上
記フォーカス用コイル２６ｄ及びトラッキング用コイル
２６ｅを挟んで、互いに対向するように配設されたヨー
ク２６ｆと、その内側に取り付けられたマグネット２６
ｇが備えられている。

【００２４】これにより、フォーカス用コイル２６ｄに
対して駆動電流が流れると、フォーカス用コイル２６ｄ
に発生する磁界と、マグネット２６ｇ及びヨーク２６ｆ
を流れる磁束との相互作用によって、可動部２６ｃがフ
ォーカス方向に駆動される。また、トラッキング用コイ
ル２６ｅに対して駆動電流が流れると、トラッキング用
コイル２６ｅに発生する磁界が、マグネット２６ｇ及び
ヨーク２６ｆを流れる磁束との相互作用によって、可動
部２６ｃがトラッキング方向に駆動される。かくして、
可動部２６ｃに保持された対物レンズ２５が二軸方向に
関して駆動制御されることになる。

【００２５】さらに、上記発光部カバー２３は、半導体
レーザ素子２２ｃ固有の非点収差を相殺するような非点
収差を有するように、構成されている。ここで、発光部
カバー２３は、上述した非点収差を有するように、例え
ば成形金型のゲート位置を適宜に選定することによっ
て、成形時の樹脂の流動方向を決めることにより、構成
される。この場合、樹脂材料としては、複屈折材料を構
成するもの，例えばゼオネックス（Ｚｅｏｎｅｘ）が使
用されるが、他の同様の特性を有する材料も使用するこ
とが可能である。これにより、発光部カバー２３は、従
来の光学ピックアップにおける非点収差補正板の機能も
併せ持つことになる。

【００２６】本実施形態による光学ピックアップ２０を
組み込んだ光ディスク装置１０は、以上のように構成さ
れており、次のように動作する。先づ、光ディスク装置
１０のスピンドルモータ１２が回転することにより、光
ディスク１１が回転駆動される。そして、光学ピックア
ップ２０が、光ディスク１１の半径方向に移動されるこ
とにより、対物レンズ２５の光軸が、光ディスク１１の
所望のトラック位置まで移動されることにより、アクセ
スが行なわれる。

【００２７】この状態にて、光学ピックアップ２０に
て、受発光装置２２の半導体レーザ素子２２ｃからの光
ビームは、発光部カバー２３内に入射し、その反射面２
３ａにて内面反射することにより、光路が折曲げられる
と共に、非点収差が補正されて、発光部カバー２３から
出射した後、平面ミラー２４で光ディスク１１に向かっ
て反射され、対物レンズ２５を介して、光ディスク１１
の信号記録面に集束される。光ディスク１１からの戻り
光は、再び対物レンズ２５，平面ミラー２４及び発光部
カバー２３を介して、受発光装置２２に入射する。そし
て、受発光装置２２の台形プリズム２２ｄ内に入射した
光ビームは、光検出器２２ｆ，２２ｇに結像する。これ
により、光検出器２２ｆ，２２ｇの検出信号に基づい
て、光ディスク１１の信号が再生される。

【００２８】その際、信号復調器１５は、光検出器２２
ｆ，２２ｇからの検出信号により、トラッキングエラー
信号及びフォーカシングエラー信号を検出する。そし
て、サーボ回路１９は、光ディスクドライブコントロー
ラ１４を介して、フォーカス用コイル２６ｄ及びトラッ
キング用コイル２６ｅへの駆動電流をサーボ制御する。
即ち、フォーカス用コイル２６ｄに発生する磁界が、マ
グネット２６ｇ及びヨーク２６ｆによる磁界と作用する
ことにより、可動部２６ｃが、フォーカシング方向に移
動調整され、フォーカシングが行なわれる。また、トラ
ッキング用コイル２６ｅに発生する磁界が、マグネット
２６ｇ及びヨーク２６ｆによる磁界と作用することによ
り、可動部２６ｃが、トラッキング方向に移動調整され
て、トラッキングが行なわれる。

【００２９】ここで、受発光装置２２の半導体レーザ素
子２２ｃからのレーザ光ビームは、その非点収差が、発
光部カバー２３内に入射して出射するまでの間に、発光
部カバー２３の非点収差によって、相殺されることにな
る。従って、発光部カバー２３から水平方向に出射する
光ビームは、発光部カバー２３によって非点収差を除去
されているので、レーザ光源固有の非点収差がゼロとな
り、図５に示すように、ジッターのボトム位置とトラバ
ースレベルのピーク位置が一致する。かくして、トラバ
ース不良が低減されることになり、光ディスク１１の信
号の再生が正しく行われると共に、面振れ等の光ディス
クの不良等があっても、光ディスク１１の再生性能が向
上することになる。

【００３０】この場合、発光部カバー２３が、非点収差
補正の作用を併せ持っていることから、部品点数が少な
くなると共に、特に非点収差補正のための部材の位置決
めが不要であることから、組立が容易に行われることに
なる。

【００３１】図６は、本発明による光学ピックアップの
第二の実施形態の要部を示している。図６において、光
学ピックアップ３０は、図２及び図３に示した光学ピッ
クアップ２０における発光部カバー２３の代わりに、表
面反射式の光路折曲げミラー３１と、光路折曲げミラー
３１内にて、受発光装置２２を覆うように配設された発
光部カバー３２とを備えている点で異なる構成であり、
その他の構成、即ち光学ベース２１，受発光装置２２，
平面ミラー２４，対物レンズ２５及び二軸アクチュエー
タ２６は、同じ構成である。

【００３２】ここで、光路折曲げミラー３１は、内側の
表面に、受発光装置２２から上方に進むレーザ光ビーム
を水平方向に反射させるために、金やアルミニウム等の
蒸着等により形成した反射面３１ａを備えている。この
場合、受発光装置２２からのレーザ光ビームは、光路折
曲げミラー３１の内部を通過しないので、レーザ光ビー
ムが、光路折曲げミラー３１内を通過する際の複屈折が
発生しない。また、光路折曲げミラー３１は、透光性材
料を使用する必要がないので、反射面３１ａを構成する
ための金等の蒸着膜の密着性が良好で、且つ高精度の成
形性を備えた材料、例えばポリエーテルイミド等を選択
することが可能となる。

【００３３】発光部カバー３２は、図７に示すように、
レーザ光源としての受発光装置２２に対して、所定距離
にて光透過面３２ａを有すると共に、光透過面３２ａを
光学ベース２１上に支持するための脚部３２ｂを備えて
いる。発光部カバー３２は、図２及び図３の実施形態に
おける発光部カバー２３と同様に、半導体レーザ素子２
２ｃ固有の非点収差を相殺するような非点収差を有する
ように、複屈折材質を使用して、例えばゼオネックス
（Ｚｅｏｎｅｘ）により成形され、光学ベース２１の上
面に対して、例えば紫外線硬化型接着剤によって、取り
付けられる。これにより、発光部カバー３２は、接着剤
の応力によって光学特性に影響を受けないように、光学
ベース２１の上面に対して封止されることになる。

【００３４】上記発光部カバー３２は、例えば図７にて
符号３２ｃまたは３２ｄにより示すように、試作成形の
際に、成形金型に対して、いくつか（図示の場合、二
つ）のゲートを用意しておき、各ゲート毎に樹脂流動方
向の異なる成形を行ない、成形された発光部カバー３２
の非点収差をテストすることより、適切な流動方向を選
定する。かくして、所望の非点収差を有する発光部カバ
ー３２が得られることになる。この場合、発光部カバー
３２は、光学ベース２１上に受発光装置２２が実装され
た後、すぐに光学ベース２１に取り付けられることによ
り、その後の工程において、受発光装置２２を保護する
ことになるので、取扱いが容易になる。

【００３５】上記実施形態による光ディスク装置１０及
び光学ピックアップ２０においては、二軸アクチュエー
タ３０として、弾性支持部材２６ｂを備えた構成のもの
が示されているが、これに限らず、軸摺回動式の二軸ア
クチュエータであってもよいことは明らかである。

【００３６】また、上記実施形態による光ディスク装置
１０及び光学ピックアップ２０においては、レーザ光源
として、半導体レーザ素子及び光検出器が一体に構成さ
れた受発光装置２２が使用されているが、これに限ら
ず、レーザ光源と光検出器が別体に構成されていてもよ
いことは明らかである。また、光分離手段にホログラム
を用いたり、光集束手段にもレンズ効果のあるホログラ
ムを用いてもよい。

【００３７】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、簡
単な構成により、低コストで、レーザ光源である発光部
の非点収差が補正されるようにした、発光部カバー，光
学ピックアップ及びこれを利用した光ディスク装置が提
供されることになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ピックアップを組み込んだ光
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。

【図２】図１の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの構成を示す斜視図である。

【図３】図１の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの要部を示す側面図である。

【図４】図２の光学ピックアップにおける受発光装置の
拡大斜視図である。

【図５】図２の光学ピックアップにおけるトラバースレ
ベル，ジッターとデフォーカス量との関係を示すグラフ
である。

【図６】本発明による光学ピックアップの第二の実施形
態の要部を示す断面図である。

【図７】図６の光学ピックアップにおける発光部カバー
を示す平面図及び断面図である。

【図８】従来の光学ピックアップの一例における光学系
を示す側面図である。

【図９】図８の光学ピックアップにおける半導体レーザ
素子の非点収差を示す概略図である。

【図１０】図９の半導体レーザ素子の非点収差によるト
ラバースレベル，ジッターとデフォーカス量との関係を
示すグラフである。

【符号の簡単な説明】

１０・・・光ディスク装置、１１・・・光ディスク、１
２・・・スピンドルモータ、１３・・・制御部、１４・
・・光ディスクトライブコントローラ、１５・・・信号
復調器、１６・・・誤り訂正回路、１７・・・インター
フェイス、１８・・・ヘッドアクセス制御部、２０・・
・光学ピックアップ、２１・・・光学ベース、２２・・
・受発光装置、２３・・・発光部カバー、２４・・・プ
リズムミラー、２５・・・対物レンズ、２６・・・二軸
アクチュエータ。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光ビームを出射するレーザ光源を
   覆うと共に、レーザ光源からのレーザ光ビームの光路に
   垂直な光透過面を備えた、樹脂成形により形成された、
   発光部カバーにおいて、 前記発光部カバーが、少なくともその光透過面にて、レ
   ーザ光源固有の非点収差を相殺するような非点収差を有
   するように、成形時の樹脂流動方向を適宜に選定するこ
   とにより、樹脂成形されていることを特徴とする発光部
   カバー。
2. 【請求項２】 レーザ光ビームを出射するレーザ光源
   と、 前記レーザ光源から出射された光ビームを光ディスクの
   信号記録面上に集束させる光集束手段と、 前記レーザ光源と光集束手段との間に配設された光分離
   手段と、 前記光分離手段で分離された光ディスクの信号記録面か
   らの戻り光ビームを受光する受光部を有する光検出器
   と、 前記レーザ光源を覆うと共に、レーザ光源からのレーザ
   光ビームの光路に垂直な光透過面を備えるように、樹脂
   成形により形成された発光部カバーと、を含んでおり、 前記発光部カバーが、少なくともその光透過面にて、レ
   ーザ光源固有の非点収差を相殺するような非点収差を有
   するように、成形時の樹脂流動方向を適宜に選定するこ
   とにより、樹脂成形されていることを特徴とする光学ピ
   ックアップ。
3. 【請求項３】 前記発光部カバーが、折曲げミラーを兼
   ねていて、レーザ光源からのレーザ光ビームが、発光部
   カバー内に入射した後、その表面に設けられた反射面に
   て内面反射した後、レーザ光ビームが発光部カバーから
   出射するように構成されていることを特徴とする請求項
   ２に記載の光学ピックアップ。
4. 【請求項４】 レーザ光源から出射した光ビームを光デ
   ィスクの信号記録面上に集束する光集束手段と、 光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する
   受光部を有する光検出手段と、 前記光集束手段を微動させる光集束手段の駆動手段と、 この光集束集束手段の駆動手段による移動を制御するサ
   ーボ手段と、 前記レーザ光源を覆うと共に、レーザ光源からのレーザ
   光ビームの光路に垂直な光透過面を備えるように、樹脂
   成形により形成された発光部カバーと、を含んでおり、 前記発光部カバーが、少なくともその光透過面にて、レ
   ーザ光源固有の非点収差を相殺するような非点収差を有
   するように、成形時の樹脂流動方向を適宜に選定するこ
   とにより、樹脂成形されていることを特徴とする光ディ
   スク装置。