JPH1031886A - ランダムアクセスメモリ - Google Patents
ランダムアクセスメモリInfo
- Publication number
- JPH1031886A JPH1031886A JP8187535A JP18753596A JPH1031886A JP H1031886 A JPH1031886 A JP H1031886A JP 8187535 A JP8187535 A JP 8187535A JP 18753596 A JP18753596 A JP 18753596A JP H1031886 A JPH1031886 A JP H1031886A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- address
- random access
- access memory
- read
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 5
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 239000012536 storage buffer Substances 0.000 description 5
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1075—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for multiport memories each having random access ports and serial ports, e.g. video RAM
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/005—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor comprising combined but independently operative RAM-ROM, RAM-PROM, RAM-EPROM cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 リード動作とライト動作を同時に行うことが
可能なランダムアクセスメモリを提供する。 【解決手段】 時刻t1 において行アドレスストローブ
信号11の指定がバンクごとに行われると、行アドレス
指定回路23a,23bに外部アドレス信号13のデー
タを行アドレスの指定として取り込む。時刻t2 におい
て列アドレスストローブ信号12の指定がバンクごとに
行われると、列アドレス指定回路24a,24bに外部
アドレス信号13のデータを列アドレスの指定として取
り込む。時刻t3 においてバンクa側がライト動作、b
側がリード動作を行うことによって入出力ピン16aに
入力されたデータを入力バッファ回路26a、入出力バ
ス28aを通じて指定アドレスのセル21aにデータを
書き込み、指定アドレスのセル21bから読み出される
データは入出力バス28bから出力バッファ回路27b
と通じて入出力ピン16bに出力される。
可能なランダムアクセスメモリを提供する。 【解決手段】 時刻t1 において行アドレスストローブ
信号11の指定がバンクごとに行われると、行アドレス
指定回路23a,23bに外部アドレス信号13のデー
タを行アドレスの指定として取り込む。時刻t2 におい
て列アドレスストローブ信号12の指定がバンクごとに
行われると、列アドレス指定回路24a,24bに外部
アドレス信号13のデータを列アドレスの指定として取
り込む。時刻t3 においてバンクa側がライト動作、b
側がリード動作を行うことによって入出力ピン16aに
入力されたデータを入力バッファ回路26a、入出力バ
ス28aを通じて指定アドレスのセル21aにデータを
書き込み、指定アドレスのセル21bから読み出される
データは入出力バス28bから出力バッファ回路27b
と通じて入出力ピン16bに出力される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体メモリに関
し、特にランダムアクセスメモリに関する。
し、特にランダムアクセスメモリに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ランダムアクセスメモリにおける
リードとライトのコントロールは通常1サイクルごと
に、リードモード、ライトモードのどちらかに限られ、
同一期間中にリードおよびライトが行えるモードとして
はリードモディファイライトもしくはシリアルポートを
用いたデュアルポートランダムアクセスメモリが用いら
れた。
リードとライトのコントロールは通常1サイクルごと
に、リードモード、ライトモードのどちらかに限られ、
同一期間中にリードおよびライトが行えるモードとして
はリードモディファイライトもしくはシリアルポートを
用いたデュアルポートランダムアクセスメモリが用いら
れた。
【0003】図5は従来のランダムアクセスメモリのブ
ロック図、図6は図5のランダムアクセスメモリにおけ
るリードモディファイライトのタイミング図である。
ロック図、図6は図5のランダムアクセスメモリにおけ
るリードモディファイライトのタイミング図である。
【0004】ランダムアクセスメモリは、外部入力とし
て電源ピン(VDDおよびGND)、行アドレスストロ
ーブ信号ピン51(/RAS)、列アドレスストローブ
信号ピン52(/CAS)、複数本のアドレスピン5
3、ライトイネーブル信号ピン54(/WE)、アウト
イネーブル信号ピン55(/OE)、データ入力ピン5
6(DIN)、データ出力ピン57(DOUT)を有
し、これらによって動作のモードが決定されデータの入
出力を行う。内部回路は主としてメモリセルマトリクス
61、アドレス判定回路62、行アドレス指定回路6
3、列アドレス指定回路64、リード/ライトコントロ
ール回路65、入力データバッファ回路66、出力デー
タバッファ回路67から構成される。なお、「/RA
S」等における「/」はロウレベルで活性化することを
示している。
て電源ピン(VDDおよびGND)、行アドレスストロ
ーブ信号ピン51(/RAS)、列アドレスストローブ
信号ピン52(/CAS)、複数本のアドレスピン5
3、ライトイネーブル信号ピン54(/WE)、アウト
イネーブル信号ピン55(/OE)、データ入力ピン5
6(DIN)、データ出力ピン57(DOUT)を有
し、これらによって動作のモードが決定されデータの入
出力を行う。内部回路は主としてメモリセルマトリクス
61、アドレス判定回路62、行アドレス指定回路6
3、列アドレス指定回路64、リード/ライトコントロ
ール回路65、入力データバッファ回路66、出力デー
タバッファ回路67から構成される。なお、「/RA
S」等における「/」はロウレベルで活性化することを
示している。
【0005】次に、図5のランダムアクセスメモリにお
けるリードモディファイライト動作を図6により説明す
る。
けるリードモディファイライト動作を図6により説明す
る。
【0006】時刻t1 において、行アドレスストローブ
信号ピン51が活性化すると、この時刻の外部アドレス
信号53のデータをアドレス判定回路62に取り込み、
行アドレス指定回路63によって行アドレスの指定を行
う。時刻t2 において、列アドレスストローブ信号ピン
52が活性化すると、行側と同様、この時刻の外部アド
レス信号53のデータをアドレス判定回路62に取り込
み、列アドレス指定回路64によって列アドレスの指定
を行う。
信号ピン51が活性化すると、この時刻の外部アドレス
信号53のデータをアドレス判定回路62に取り込み、
行アドレス指定回路63によって行アドレスの指定を行
う。時刻t2 において、列アドレスストローブ信号ピン
52が活性化すると、行側と同様、この時刻の外部アド
レス信号53のデータをアドレス判定回路62に取り込
み、列アドレス指定回路64によって列アドレスの指定
を行う。
【0007】リードモディファイライト動作の場合、こ
の時刻t2 の時点でアウトイネーブル信号/OEがイネ
ーブルになることによって行および列アドレスによって
指定されたメモリセルのデータは入出力バスを経てデー
タ出力ピン57により出力される。その後ライトイネー
ブル信号/WEをイネーブルすることにより書き込み動
作を指定することによってデータ入力ピン56のデータ
を入力バッファ回路66に取り込み、入出力バス68か
ら指定されているアドレスのメモリセルに書き込む。一
方、出力バッファ回路67はリード/ライトコントロー
ル信号65を活性化して出力データの出力を停止する。
の時刻t2 の時点でアウトイネーブル信号/OEがイネ
ーブルになることによって行および列アドレスによって
指定されたメモリセルのデータは入出力バスを経てデー
タ出力ピン57により出力される。その後ライトイネー
ブル信号/WEをイネーブルすることにより書き込み動
作を指定することによってデータ入力ピン56のデータ
を入力バッファ回路66に取り込み、入出力バス68か
ら指定されているアドレスのメモリセルに書き込む。一
方、出力バッファ回路67はリード/ライトコントロー
ル信号65を活性化して出力データの出力を停止する。
【0008】図7は従来のディアルポートランダムアク
セスメモリのブロック図、図8は図7のデュアルポート
ランダムアクセスメモリのタイミング図である。
セスメモリのブロック図、図8は図7のデュアルポート
ランダムアクセスメモリのタイミング図である。
【0009】デュアルポートランダムアクセスメモリは
図7のように一般のランダムアクセスメモリにさらに、
外部入力としてシリアルポートイネーブル信号73(/
SE)、シリアルポートクロック信号ピン72(/S
C)、シリアルポートデータ入出力ピン71(SI
O)、シリアルポートデータ格納バッファ回路75を備
える。これらによって動作のモードが決定され、データ
の入出力を行う。
図7のように一般のランダムアクセスメモリにさらに、
外部入力としてシリアルポートイネーブル信号73(/
SE)、シリアルポートクロック信号ピン72(/S
C)、シリアルポートデータ入出力ピン71(SI
O)、シリアルポートデータ格納バッファ回路75を備
える。これらによって動作のモードが決定され、データ
の入出力を行う。
【0010】次に、図7のデュアルポートランダムアク
セスメモリの動作を図8により説明する。
セスメモリの動作を図8により説明する。
【0011】時刻t1 において、ランダムアクセス部は
前述と同じく、行アドレスストローブ信号ピン51が活
性化すると、この時刻の外部アドレス信号53のデータ
をアドレス判定回路62に取り込み、行アドレス指定回
路63によって行アドレスの指定を行う。時刻t2 にお
いて、列アドレスストローブ信号ピン52が活性化する
と、行側と同様、この時刻の外部アドレス信号53のデ
ータをアドレス判定回路62に取り込み、列アドレス指
定回路64によって列アドレスの指定を行う。
前述と同じく、行アドレスストローブ信号ピン51が活
性化すると、この時刻の外部アドレス信号53のデータ
をアドレス判定回路62に取り込み、行アドレス指定回
路63によって行アドレスの指定を行う。時刻t2 にお
いて、列アドレスストローブ信号ピン52が活性化する
と、行側と同様、この時刻の外部アドレス信号53のデ
ータをアドレス判定回路62に取り込み、列アドレス指
定回路64によって列アドレスの指定を行う。
【0012】デュアルポートランダムアクセスメモリの
場合、この時刻t1 の時点で外部信号SEがイネーブル
になることによってシリアルポートがイネーブルにな
り、行および列アドレスによって指定されたメモリセル
のデータはシリアルポート入出力ピン71よりシリアル
ポートデータ格納バッファ回路75へシリアルポートク
ロック信号72の活性期間中に1ビットずつ送られある
いはシリアルリード動作の場合、行および列アドレスに
よって指定されたメモリセルのデータはデータ格納バッ
ファ回路75へ送られ、シリアルポートクロック信号7
2の活性期間中に1ビットずつシリアルデータ入出力ピ
ン71により出力される。シリアルポートデータ格納バ
ッファ回路75を設け、そこにデータを格納しておくこ
とによりランダムアクセス部とは非同期にシリアルポー
ト入出力ピン71を用いてデータの受け渡しを行うこと
で、ランダムアクセス部でリード時にシリアルポート部
でライト、あるいはランダムアクセス部でライト時にシ
リアルポート部でリードを行うことができる。
場合、この時刻t1 の時点で外部信号SEがイネーブル
になることによってシリアルポートがイネーブルにな
り、行および列アドレスによって指定されたメモリセル
のデータはシリアルポート入出力ピン71よりシリアル
ポートデータ格納バッファ回路75へシリアルポートク
ロック信号72の活性期間中に1ビットずつ送られある
いはシリアルリード動作の場合、行および列アドレスに
よって指定されたメモリセルのデータはデータ格納バッ
ファ回路75へ送られ、シリアルポートクロック信号7
2の活性期間中に1ビットずつシリアルデータ入出力ピ
ン71により出力される。シリアルポートデータ格納バ
ッファ回路75を設け、そこにデータを格納しておくこ
とによりランダムアクセス部とは非同期にシリアルポー
ト入出力ピン71を用いてデータの受け渡しを行うこと
で、ランダムアクセス部でリード時にシリアルポート部
でライト、あるいはランダムアクセス部でライト時にシ
リアルポート部でリードを行うことができる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】リードモディファライ
ト動作の場合には、通常のリード動作を終え、メモリセ
ルからのデータを出力ピンから出力して後、書き込み動
作を行い、同一アドレスに対して新データを書き込む
が、アドレス決定時間以外のリード動作およびライト動
作に対する所要時間が必要な上、同一期間中にリード動
作およびライト動作の可能なアドレスは同一なものに限
られる。
ト動作の場合には、通常のリード動作を終え、メモリセ
ルからのデータを出力ピンから出力して後、書き込み動
作を行い、同一アドレスに対して新データを書き込む
が、アドレス決定時間以外のリード動作およびライト動
作に対する所要時間が必要な上、同一期間中にリード動
作およびライト動作の可能なアドレスは同一なものに限
られる。
【0014】一方、デュアルポートランダムアクセスメ
モリによる同一期間でのリード動作とライト動作を同時
に行う場合はデータ転送にてメモリセルのデータをシリ
アルポート部のシリアルポートデータ格納バッファにデ
ータを一時的に格納、あるいは格納されたデータをデー
タ転送サイクルにてメモリセルに転送するため、任意の
アドレスに同時にリード動作、ライト動作することが難
しい上に、シリアルポート部を用いてのページモードで
の同一期間中でのリード動作、ライト動作ができない。
モリによる同一期間でのリード動作とライト動作を同時
に行う場合はデータ転送にてメモリセルのデータをシリ
アルポート部のシリアルポートデータ格納バッファにデ
ータを一時的に格納、あるいは格納されたデータをデー
タ転送サイクルにてメモリセルに転送するため、任意の
アドレスに同時にリード動作、ライト動作することが難
しい上に、シリアルポート部を用いてのページモードで
の同一期間中でのリード動作、ライト動作ができない。
【0015】本発明の目的は、リード動作とライト動作
を同時に行うことが可能なランダムアクセスメモリを選
択することにある。
を同時に行うことが可能なランダムアクセスメモリを選
択することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明のランダムアクセ
スメモリは、メモリセルマトリクスが複数のバンクに分
割され、ライトイネーブル信号線、アウトイネーブル信
号線、データ入出力線、アドレス判定回路、列アドレス
指定回路、リード/ライトコントロール回路、入力デー
タバッファ回路、出力データバッファ回路をバンクごと
に有する。
スメモリは、メモリセルマトリクスが複数のバンクに分
割され、ライトイネーブル信号線、アウトイネーブル信
号線、データ入出力線、アドレス判定回路、列アドレス
指定回路、リード/ライトコントロール回路、入力デー
タバッファ回路、出力データバッファ回路をバンクごと
に有する。
【0017】各バンクごとにリード動作かライト動作か
を独立に制御することができるため、複数のアドレスに
対して同一期間中にリード動作とライト動作を行うこと
ができる。
を独立に制御することができるため、複数のアドレスに
対して同一期間中にリード動作とライト動作を行うこと
ができる。
【0018】本発明のランダムアクセスメモリは、行ア
ドレス指定回路と列アドレス指定回路をリード用、ライ
ト用に別々に有する。
ドレス指定回路と列アドレス指定回路をリード用、ライ
ト用に別々に有する。
【0019】そのため、入出力用データバスもリード動
作用、ライト動作用を有し、同一期間中に任意のリード
動作用アドレスを選択、リード動作用Yスイッチ(列ア
ドレス指定回路からメモリセルへの出力)を活性させ、
リード動作をするモードと、任意のライト動作用アドレ
スを選択、ライト動作用Yスイッチを活性させ、ライト
動作をするモードを有することができる。ランダムアク
セスメモリ部がコアとなるカスタムLSIなどではラン
ダムアクセスメモリ部の入力/出力部分が分離されるの
でこのような構成にすることができる。
作用、ライト動作用を有し、同一期間中に任意のリード
動作用アドレスを選択、リード動作用Yスイッチ(列ア
ドレス指定回路からメモリセルへの出力)を活性させ、
リード動作をするモードと、任意のライト動作用アドレ
スを選択、ライト動作用Yスイッチを活性させ、ライト
動作をするモードを有することができる。ランダムアク
セスメモリ部がコアとなるカスタムLSIなどではラン
ダムアクセスメモリ部の入力/出力部分が分離されるの
でこのような構成にすることができる。
【0020】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【0021】図1は本発明の第1の実施形態のランダム
アクセスメモリを示すブロック図である。本実施形態の
ランダムアクセスメモリはメモリセルを2つのバンク
a,bに分割したもので、図5および図7に示した従来
のランダムアクセスメモリと同様に外部入力として電源
ピン(VDDおよびGND)と、行アドレスストローブ
信号ピン11(/RAS)と、列アドレスストローブ信
号ピン12(/CAS)と、複数本のアドレスピン13
と、バンクごとのライトイネーブル信号ピン14aと1
4b(/WE)と、バンクごとのアウトイネーブル信号
ピン15aと15b(/OE)と、バンクごとにデータ
入出力を1本にしたデータ入出力ピン16aと16b
(DIO)を有し、内部回路はバンクごとのメモリセル
マトリクス21aと21bと、アドレス判定回路22
と、バンクごとの行アドレス指定回路23aと23b
と、バンクごとの列アドレス指定回路24aと24b
と、バンクごとのリード/ライトコントロール回路25
aと25bと、バンクごとの入力データバッファ回路2
6aと26bと、バンクごとの出力データバッファ回路
27aと27bから構成される。
アクセスメモリを示すブロック図である。本実施形態の
ランダムアクセスメモリはメモリセルを2つのバンク
a,bに分割したもので、図5および図7に示した従来
のランダムアクセスメモリと同様に外部入力として電源
ピン(VDDおよびGND)と、行アドレスストローブ
信号ピン11(/RAS)と、列アドレスストローブ信
号ピン12(/CAS)と、複数本のアドレスピン13
と、バンクごとのライトイネーブル信号ピン14aと1
4b(/WE)と、バンクごとのアウトイネーブル信号
ピン15aと15b(/OE)と、バンクごとにデータ
入出力を1本にしたデータ入出力ピン16aと16b
(DIO)を有し、内部回路はバンクごとのメモリセル
マトリクス21aと21bと、アドレス判定回路22
と、バンクごとの行アドレス指定回路23aと23b
と、バンクごとの列アドレス指定回路24aと24b
と、バンクごとのリード/ライトコントロール回路25
aと25bと、バンクごとの入力データバッファ回路2
6aと26bと、バンクごとの出力データバッファ回路
27aと27bから構成される。
【0022】図2は図1のライト/リード同時動作メモ
リのタイミング図である。行アドレス、列アドレスの指
定は従来と同様に行われ、図2の例では入出力バス28
bにメモリセルからのデータが出力される。時刻t1 に
おいて行アドレスストローブ信号11の指定がバンクご
とに行われると、行アドレス指定回路23a,23bに
外部アドレス信号13のデータを行アドレスの指定とし
て取り込み、時刻t2において列アドレスストローブ信
号12の指定がバンクごとに行われると、列アドレス指
定回路24a,24bに外部アドレス信号13のデータ
を列アドレスの指定として取り込む。
リのタイミング図である。行アドレス、列アドレスの指
定は従来と同様に行われ、図2の例では入出力バス28
bにメモリセルからのデータが出力される。時刻t1 に
おいて行アドレスストローブ信号11の指定がバンクご
とに行われると、行アドレス指定回路23a,23bに
外部アドレス信号13のデータを行アドレスの指定とし
て取り込み、時刻t2において列アドレスストローブ信
号12の指定がバンクごとに行われると、列アドレス指
定回路24a,24bに外部アドレス信号13のデータ
を列アドレスの指定として取り込む。
【0023】時刻t3 においてバンクa側がライト動
作、b側がリード動作を行うことによって入出力ピン1
6a(DIO)に入力されたデータを入力バッファ回路
26a、入出力バス28aを通じて指定アドレス21a
にデータを書き込み、指定アドレスのセル21bから読
み出されるデータは入出力バス28bから出力バッファ
回路27bを通じて入出力ピン16b(DIO)に出力
される。
作、b側がリード動作を行うことによって入出力ピン1
6a(DIO)に入力されたデータを入力バッファ回路
26a、入出力バス28aを通じて指定アドレス21a
にデータを書き込み、指定アドレスのセル21bから読
み出されるデータは入出力バス28bから出力バッファ
回路27bを通じて入出力ピン16b(DIO)に出力
される。
【0024】図3は本発明の第2の実施形態のランダム
アクセスメモリのブロック図で示す。本実施形態の第1
の実施形態との違いは、バンク分けがなく、その代わり
に行アドレス、列アドレスからデータバッファ回路、入
出力回路までがライト用、リード用に完全に分離されて
おり、外部入力として電源ピン(VDDおよびGND)
と、行アドレスストローブ信号ピン31(/RAS)
と、列アドレスストローブ信号ピン32(/CAS)
と、複数本のアドレスピン33と、ライトイネーブル信
号ピン34(/WE)と、アウトイネーブル信号ピン3
5(/OE)と、データ入力ピン36(DIN)と、デ
ータ出力ピン37(DOUT)を有し、内部回路はメモ
リマトリクス1つにライト、リードを分割した形の例に
より、アドレス判定回路42、行アドレス指定回路ライ
ト用43aとリード用43b、列アドレス指定回路もラ
イト用44aとリード用44b、書き込み用バス48a
と読み込み用バス48b、入力バッファ回路45と出力
バッファ回路46から構成される。
アクセスメモリのブロック図で示す。本実施形態の第1
の実施形態との違いは、バンク分けがなく、その代わり
に行アドレス、列アドレスからデータバッファ回路、入
出力回路までがライト用、リード用に完全に分離されて
おり、外部入力として電源ピン(VDDおよびGND)
と、行アドレスストローブ信号ピン31(/RAS)
と、列アドレスストローブ信号ピン32(/CAS)
と、複数本のアドレスピン33と、ライトイネーブル信
号ピン34(/WE)と、アウトイネーブル信号ピン3
5(/OE)と、データ入力ピン36(DIN)と、デ
ータ出力ピン37(DOUT)を有し、内部回路はメモ
リマトリクス1つにライト、リードを分割した形の例に
より、アドレス判定回路42、行アドレス指定回路ライ
ト用43aとリード用43b、列アドレス指定回路もラ
イト用44aとリード用44b、書き込み用バス48a
と読み込み用バス48b、入力バッファ回路45と出力
バッファ回路46から構成される。
【0025】図4は図3のライト/リード同時動作メモ
リのタイミング図である。各タイミングは第1の実施形
態の図2と同じく行アドレス、列アドレスの指定は従来
と同様で、入力バス48aには入力ピン36からのデー
タが入力バッファ回路45を通じてメモリセルマトリク
ス41に送られ、出力バス48bにはメモリセルマトリ
クス41からのデータが送られ、出力バッファ回路46
を通じて出力ピン37から出力される。時刻t1 におい
て行アドレスストローブ信号31の指定がライト用、リ
ード用ごとに行われると行アドレス指定回路43a,4
3bに外部アドレス信号33のデータを行アドレスの指
定として取り込み、時刻t2 において列アドレスストロ
ーブ信号32の指定がライト用、リード用ごとに行われ
ると列アドレス指定回路44a,44bに外部アドレス
信号33のデータを列アドレスの指定として取り込む。
リのタイミング図である。各タイミングは第1の実施形
態の図2と同じく行アドレス、列アドレスの指定は従来
と同様で、入力バス48aには入力ピン36からのデー
タが入力バッファ回路45を通じてメモリセルマトリク
ス41に送られ、出力バス48bにはメモリセルマトリ
クス41からのデータが送られ、出力バッファ回路46
を通じて出力ピン37から出力される。時刻t1 におい
て行アドレスストローブ信号31の指定がライト用、リ
ード用ごとに行われると行アドレス指定回路43a,4
3bに外部アドレス信号33のデータを行アドレスの指
定として取り込み、時刻t2 において列アドレスストロ
ーブ信号32の指定がライト用、リード用ごとに行われ
ると列アドレス指定回路44a,44bに外部アドレス
信号33のデータを列アドレスの指定として取り込む。
【0026】第1の実施例形態のようにバンク分けを
し、バンクごとにライトイネーブル信号ピンとアウトイ
ネーブル信号ピンを設けること、また第2の実施形態の
ようにアドレス指定回路からデータバス、入出力バッフ
ァ、外部入出力ピンをライト用とリード用に分けること
によってライト動作とリード動作を同一期間中に可能に
するこのメモリはリードモディファイライトのように同
一アドレスに同一期間中にリードとライトを行うのでは
なく、異なるアドレスに同一期間中にライトとリードを
行うことができるメモリであるため、ライト/リード同
時動作メモリとして用いる場合にはサイクルタイムは単
独のライト、またはリード動作時のものと同一のミニマ
ムサイクルでよく、メモリのライト/リードデータ転送
スピードを上げるといった際に有用である。
し、バンクごとにライトイネーブル信号ピンとアウトイ
ネーブル信号ピンを設けること、また第2の実施形態の
ようにアドレス指定回路からデータバス、入出力バッフ
ァ、外部入出力ピンをライト用とリード用に分けること
によってライト動作とリード動作を同一期間中に可能に
するこのメモリはリードモディファイライトのように同
一アドレスに同一期間中にリードとライトを行うのでは
なく、異なるアドレスに同一期間中にライトとリードを
行うことができるメモリであるため、ライト/リード同
時動作メモリとして用いる場合にはサイクルタイムは単
独のライト、またはリード動作時のものと同一のミニマ
ムサイクルでよく、メモリのライト/リードデータ転送
スピードを上げるといった際に有用である。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、同一サ
イクル中に、異なるアドレスに単独のライト、またはリ
ード動作に要するサイクルタイムと同様の期間でデータ
のメモリセルへのライトとメモリセルからのデータのリ
ードを同時に行うことを可能にしており、ライト動作、
リード動作を並列に利用するときには総サイクルタイム
の短縮およびライトイネーブル信号、アウトイネーブル
信号のタイミングコントロールの簡素化がはかれ、メモ
リをより効率的に利用できる効果がある。
イクル中に、異なるアドレスに単独のライト、またはリ
ード動作に要するサイクルタイムと同様の期間でデータ
のメモリセルへのライトとメモリセルからのデータのリ
ードを同時に行うことを可能にしており、ライト動作、
リード動作を並列に利用するときには総サイクルタイム
の短縮およびライトイネーブル信号、アウトイネーブル
信号のタイミングコントロールの簡素化がはかれ、メモ
リをより効率的に利用できる効果がある。
【図1】本発明の第1の実施形態の半導体メモリを示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図2】図1の半導体メモリのタイミング図である。
【図3】本発明の第2の実施形態の半導体メモリを示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図4】図3の半導体メモリのタイミング図である。
【図5】従来のランダムアクセスメモリのブロック図で
ある。
ある。
【図6】図5のランダムアクセスメモリのタイミング図
である。
である。
【図7】従来のシリアルポートランダムアクセスメモリ
のブロック図である。
のブロック図である。
【図8】図7のシリアルポートランダムアクセスメモリ
のブロック図である。
のブロック図である。
11,31 外部信号(/RAS) 12,32 外部信号(/CAS) 13,33 外部信号アドレス 14a,14b,34 外部信号(/WE) 15a,15b,35 外部信号(/OE) 16a,16b 入出力ピン(DIO) 21a,21b,41 メモリセルマトリクス 22,42 アドレス判定回路 23a,23b 行アドレス指定回路 24a,24b 列アドレス指定回路 25a,25b リード/ライトコントロール回路 26a,26b,45 入力バッファ回路 27a,27b,46 出力バッファ回路 28a,28b データバス線 36 入力ピン(DIN) 37 出力ピン(DOUT) 43a,44a ライト用アドレス指定回路 43b,44b リード用アドレス指定回路 48a 書き込みデータバス線 48b 読み込みデータバス線
Claims (2)
- 【請求項1】 ランダムアクセスメモリにおいて、メモ
リセルマトリクスが複数のバンクに分割され、ライトイ
ネーブル信号線、アウトイネーブル信号線、データ入出
力線、アドレス判定回路、列アドレス指定回路、リード
/ライトコントロール回路、入力データバッファ回路、
出力データバッファ回路をバンクごとに有することを特
徴とするランダムアクセスメモリ。 - 【請求項2】 ランダムアクセスメモリにおいて、行ア
ドレス指定回路と列アドレス指定回路をリード用、ライ
ト用に別々に有することを特徴とするランダムアクセス
メモリ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8187535A JPH1031886A (ja) | 1996-07-17 | 1996-07-17 | ランダムアクセスメモリ |
| US08/893,568 US5864505A (en) | 1996-07-17 | 1997-07-11 | Random access memory with plural simultaneously operable banks |
| KR1019970033019A KR100393860B1 (ko) | 1996-07-17 | 1997-07-16 | 랜덤액세스메모리 |
| US09/046,620 US6018478A (en) | 1996-07-17 | 1998-03-24 | Random access memory with separate row and column designation circuits for reading and writing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8187535A JPH1031886A (ja) | 1996-07-17 | 1996-07-17 | ランダムアクセスメモリ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1031886A true JPH1031886A (ja) | 1998-02-03 |
Family
ID=16207797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8187535A Pending JPH1031886A (ja) | 1996-07-17 | 1996-07-17 | ランダムアクセスメモリ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US5864505A (ja) |
| JP (1) | JPH1031886A (ja) |
| KR (1) | KR100393860B1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100434112B1 (ko) * | 2002-07-11 | 2004-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀얼 뱅크 구조의 메모리 셀의 소거 방법 |
| KR100454144B1 (ko) * | 2001-11-23 | 2004-10-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 멀티 뱅크 구조의 플래쉬 메모리 장치 |
| US7366822B2 (en) | 2001-11-26 | 2008-04-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory device capable of reading and writing data at the same time |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7380092B2 (en) * | 2002-06-28 | 2008-05-27 | Rambus Inc. | Memory device and system having a variable depth write buffer and preload method |
| US7187572B2 (en) * | 2002-06-28 | 2007-03-06 | Rambus Inc. | Early read after write operation memory device, system and method |
| EP1019912A2 (en) * | 1997-10-10 | 2000-07-19 | Rambus Incorporated | Apparatus and method for pipelined memory operations |
| JP2000148580A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-30 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
| US6178129B1 (en) * | 1999-10-19 | 2001-01-23 | Advanced Micro Devices, Inc. | Separate output power supply to reduce output noise for a simultaneous operation |
| US6160750A (en) * | 2000-02-04 | 2000-12-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Noise reduction during simultaneous operation of a flash memory device |
| JP4095751B2 (ja) * | 2000-03-28 | 2008-06-04 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
| KR100699810B1 (ko) * | 2000-08-05 | 2007-03-27 | 삼성전자주식회사 | 버스 효율을 향상시키는 반도체 메모리장치 및 메모리시스템 |
| US6654848B1 (en) * | 2000-09-15 | 2003-11-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Simultaneous execution command modes in a flash memory device |
| KR100382739B1 (ko) * | 2001-04-13 | 2003-05-09 | 삼성전자주식회사 | 비대칭 데이터 경로를 갖는 반도체 메모리 장치 |
| US6587917B2 (en) * | 2001-05-29 | 2003-07-01 | Agilent Technologies, Inc. | Memory architecture for supporting concurrent access of different types |
| US6580660B1 (en) * | 2002-01-30 | 2003-06-17 | Agilent Technologies, Inc. | Circuit and method for synchronizing multiple digital data paths |
| US6775736B2 (en) * | 2002-01-31 | 2004-08-10 | International Business Machines Corporation | Embedded DRAM system having wide data bandwidth and data transfer data protocol |
| WO2004003700A2 (en) * | 2002-06-28 | 2004-01-08 | Rambus Inc. | An early read after write operation memory device, system and method |
| US20040004239A1 (en) * | 2002-07-08 | 2004-01-08 | Madurawe Raminda U. | Three dimensional integrated circuits |
| US7280428B2 (en) | 2004-09-30 | 2007-10-09 | Rambus Inc. | Multi-column addressing mode memory system including an integrated circuit memory device |
| US8595459B2 (en) | 2004-11-29 | 2013-11-26 | Rambus Inc. | Micro-threaded memory |
| US7660183B2 (en) * | 2005-08-01 | 2010-02-09 | Rambus Inc. | Low power memory device |
| JP2007188552A (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-26 | Sharp Corp | 半導体記憶装置 |
| US7486111B2 (en) * | 2006-03-08 | 2009-02-03 | Tier Logic, Inc. | Programmable logic devices comprising time multiplexed programmable interconnect |
| US20070260841A1 (en) | 2006-05-02 | 2007-11-08 | Hampel Craig E | Memory module with reduced access granularity |
| KR20100111990A (ko) * | 2009-04-08 | 2010-10-18 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 데이터 랜덤화 방법 |
| US9268719B2 (en) | 2011-08-05 | 2016-02-23 | Rambus Inc. | Memory signal buffers and modules supporting variable access granularity |
| TWI463432B (zh) * | 2012-10-05 | 2014-12-01 | Genesys Logic Inc | 圖像資料處理方法 |
| US9690510B2 (en) | 2014-04-23 | 2017-06-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Two-stage read/write 3D architecture for memory devices |
| KR102534825B1 (ko) * | 2016-04-19 | 2023-05-22 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 제어장치 및 이를 포함하는 데이터 저장 장치 |
| IT202100012395A1 (it) | 2021-05-13 | 2022-11-13 | St Microelectronics Srl | Circuito controllore, sistema e procedimento corrispondenti |
| US12578863B2 (en) | 2021-08-10 | 2026-03-17 | Rambus Inc. | Low latency dynamic random access memory (DRAM) architecture with dedicated read-write data paths |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62287498A (ja) * | 1986-06-06 | 1987-12-14 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
| EP0293933B1 (en) * | 1987-06-04 | 1993-10-13 | Nec Corporation | Dynamic memory circuit with improved sensing scheme |
| US4807189A (en) * | 1987-08-05 | 1989-02-21 | Texas Instruments Incorporated | Read/write memory having a multiple column select mode |
| US4875196A (en) * | 1987-09-08 | 1989-10-17 | Sharp Microelectronic Technology, Inc. | Method of operating data buffer apparatus |
| JPH01307996A (ja) * | 1988-06-07 | 1989-12-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
| US5200925A (en) * | 1988-07-29 | 1993-04-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Serial access semiconductor memory device and operating method therefor |
| US5027326A (en) * | 1988-11-10 | 1991-06-25 | Dallas Semiconductor Corporation | Self-timed sequential access multiport memory |
| JP2993671B2 (ja) * | 1989-01-07 | 1999-12-20 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
| JP2809676B2 (ja) * | 1989-03-23 | 1998-10-15 | 株式会社東芝 | ダイナミック型半導体メモリ装置 |
| JP2880547B2 (ja) * | 1990-01-19 | 1999-04-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
| JP3179791B2 (ja) * | 1991-02-22 | 2001-06-25 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置 |
| JPH04281287A (ja) * | 1991-03-08 | 1992-10-06 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
| US5490257A (en) * | 1992-02-24 | 1996-02-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | RAM based FIFO memory half-full detection apparatus and method |
| KR950005095Y1 (ko) * | 1992-03-18 | 1995-06-22 | 문정환 | 양방향성 그로벌 비트 라인을 갖는 dram |
| JPH05290573A (ja) * | 1992-04-13 | 1993-11-05 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
| JP2938706B2 (ja) * | 1992-04-27 | 1999-08-25 | 三菱電機株式会社 | 同期型半導体記憶装置 |
| US5384745A (en) * | 1992-04-27 | 1995-01-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Synchronous semiconductor memory device |
| JP3152767B2 (ja) * | 1992-11-04 | 2001-04-03 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
| US5539696A (en) * | 1994-01-31 | 1996-07-23 | Patel; Vipul C. | Method and apparatus for writing data in a synchronous memory having column independent sections and a method and apparatus for performing write mask operations |
-
1996
- 1996-07-17 JP JP8187535A patent/JPH1031886A/ja active Pending
-
1997
- 1997-07-11 US US08/893,568 patent/US5864505A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-16 KR KR1019970033019A patent/KR100393860B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-03-24 US US09/046,620 patent/US6018478A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100454144B1 (ko) * | 2001-11-23 | 2004-10-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 멀티 뱅크 구조의 플래쉬 메모리 장치 |
| US7366822B2 (en) | 2001-11-26 | 2008-04-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory device capable of reading and writing data at the same time |
| KR100434112B1 (ko) * | 2002-07-11 | 2004-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀얼 뱅크 구조의 메모리 셀의 소거 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5864505A (en) | 1999-01-26 |
| KR100393860B1 (ko) | 2003-10-17 |
| KR980011414A (ko) | 1998-04-30 |
| US6018478A (en) | 2000-01-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH1031886A (ja) | ランダムアクセスメモリ | |
| US6167487A (en) | Multi-port RAM having functionally identical ports | |
| KR100391730B1 (ko) | 캐시의 사용이 선택될 수 있는 반도체 메모리 디바이스와, 반도체 메모리 디바이스 액세스 방법, 및 데이터 처리 시스템 | |
| JPS6238590A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP2010515197A (ja) | 不揮発性メモリ用の高速ファンアウトシステムアーキテクチャおよび入出力回路 | |
| JPH0845277A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH10233091A (ja) | 半導体記憶装置およびデータ処理装置 | |
| US5835445A (en) | Semiconductor integrated circuit device having a synchronous output function with a plurality of external clocks | |
| JP4827399B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH10208468A (ja) | 半導体記憶装置並びに同期型半導体記憶装置 | |
| US20100232238A1 (en) | Dual port memory device, memory device and method of operating the dual port memory device | |
| US5946256A (en) | Semiconductor memory having data transfer between RAM array and SAM array | |
| JP4783501B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH1145567A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH0770213B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| JP2002197864A (ja) | マルチポートメモリおよびその制御方法 | |
| JP2004206850A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH0887879A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH07307090A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH10326491A (ja) | メモリ装置、sramセル、およびデータ転送方法 | |
| JPS61162886A (ja) | メモリアクセス方式 | |
| KR100773063B1 (ko) | 듀얼 포트 메모리 장치, 메모리 장치 및 듀얼 포트 메모리장치 동작 방법 | |
| JPS5931154B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP2848105B2 (ja) | ダイナミック型半導体記憶装置 | |
| KR100773065B1 (ko) | 듀얼 포트 메모리 장치, 메모리 장치 및 듀얼 포트 메모리장치 동작 방법 |