JPH10319094A - Ｉｃ試験装置の制御方法及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＩＣ試験装置の制御処理を共通化し、アプリ
ケーションプログラムのサイズを減少させ、開発作業を
容易にし、かつ、複数のアプリケーションプログラムか
らの制御による誤動作を防止する。 【解決手段】 入力装置１０からの制御命令に応じて制
御要求信号Ｐ１、Ｐ２を供給すると共に、制御結果通知
信号Ｐ４、Ｐ５に基づいて制御結果を出力装置２０へ供
給する複数のアプリケーションプログラム４１、４２に
対し、信号伝達を管理する通信管理プログラム４３と、
制御要求信号に基づいてＩＣ試験装置３０の制御処理を
行う制御プログラム４４とを設ける。そして、アプリケ
ーションプログラム４１又は４２からの制御要求信号を
通信管理プログラム４３を介して制御プログラム４４へ
供給し、制御プログラム４４がＩＣ試験装置３０を制御
してその結果をアプリケーションプログラム４１又は４
２へ供給する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣ試験装置の制
御方法及びその装置に係り、特に、制御処理を実行する
専用の制御プログラムを設け、同一種類の制御における
処理を共通化したＩＣ試験装置の制御及びその装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＩＣ試験装置においては、ア
プリケーションプログラムがＩＣ試験装置の制御のため
に使用されていることは、よく知られている。

【０００３】かかる従来のアプリケーションプログラム
による制御について、その手順を図５に示す。図示のよ
うに、ＩＣ試験装置の制御が開始されると、まず、アプ
リケーションプログラムでは制御命令入力の有無を判断
することにより、入力装置からの入力を待つ（ステップ
４０１）。そして、入力装置から制御命令が入力される
と、ステップ４０２へ進んで当該制御命令の解析を行
い、次いでステップ４０３においてＩＣ試験装置の制御
を実行する。

【０００４】次に、ステップ４０４へ進み、制御結果信
号の有無を判断することにより、ＩＣ試験装置からの制
御結果（試験結果）信号を待つ。そして、ＩＣ試験装置
から制御結果信号が発せられ、これを受信すると、ステ
ップ４０５へ進んで当該制御結果の解析を行う。その
後、ステップ４０６において、解析した当該制御結果に
ついての情報を出力装置に対して出力し、出力装置に当
該制御結果を表示させる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したス
テップ４０１からステップ４０６までのような処理は、
複数のアプリケーションプログラムにて同時に行なわれ
る可能性がある。このため、従来におけるＩＣ試験装置
の制御では、起動されるアプリケーションプログラムが
複数に及んだ場合、各アプリケーションプログラムごと
にＩＣ試験装置との関連において行われる制御処理（ス
テップ４０３からステップ４０５までの処理）を個別に
行う必要がある。

【０００６】従って、起動される各アプリケーションプ
ログラム同士が、同一形態の制御を行うものである場
合、各アプリケーションプログラムに同一の制御処理を
含める必要があり、各アプリケーションプログラムのプ
ログラムサイズ拡大等の弊害があった。

【０００７】また、アプリケーションプログラムの処理
の複雑化により開発作業の困難さが増加していた。更
に、各アプリケーションプログラムによりそれぞれ別個
独立にＩＣ試験装置の制御を行うこととしていたため、
複数のアプリケーションプログラムによるＩＣ試験装置
の制御が同時に行なわれ、これにより誤動作を発生させ
る可能性があった。

【０００８】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、ＩＣ試験装置の制御処理を実行する専用の制御
プログラムを設け、各アプリケーションプログラムにて
個別に行っていたＩＣ試験装置の制御処理を共通化する
ことを可能とし、アプリケーションプログラムでの処理
を軽減してそのプログラムサイズを減少させ、開発作業
を容易にし、かつ、複数のアプリケーションプログラム
からの制御による誤動作を防止することができるＩＣ試
験装置の制御方法及びその装置を提供することを目的と
する。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
同一の制御形態によるＩＣ試験装置の制御を要求する複
数の制御要求手段に対して制御命令を供給し、前記制御
命令を受けた制御要求手段による要求を順次送出し、順
次送出された前記要求応じ、前記同一の制御形態によっ
てＩＣ試験装置を制御する単一の制御手段により、前記
ＩＣ試験装置を制御することを特徴としている。

【００１０】請求項２記載の発明は、請求項１記載のＩ
Ｃ試験装置の制御方法において、それぞれの制御要求手
段からの要求毎に、前記制御手段によって前記ＩＣ試験
装置を制御した結果を出力することを特徴としている。

【００１１】請求項３記載の発明は、ＩＣ試験装置を制
御する制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段へ
入力された制御命令に応じ、同一の制御形態による前記
ＩＣ試験装置の制御を要求する複数の制御要求手段と、
前記複数の制御要求手段からの要求を受け、それらを順
次送出する要求伝達手段と、前記同一の制御形態によっ
てＩＣ試験装置を制御する制御手段であって、前記要求
伝達手段から順次送出される要求応じて前記ＩＣ試験装
置を制御する制御手段とを有することを特徴としてい
る。

【００１２】請求項４記載の発明は、請求項３記載のＩ
Ｃ試験装置の制御装置において、前記ＩＣ試験装置を制
御して得られた情報を出力する出力手段を更に有し、前
記制御手段は、前記ＩＣ試験装置を制御した結果を前記
要求伝達手段へ供給し、前記要求伝達手段は、前記制御
手段から受けた結果を、前記複数の制御要求手段のうち
の当該結果を生じた制御を要求した制御要求手段へ送出
し、当該結果を受けた前記制御手段が、当該結果に基づ
く情報を前記出力手段へ供給することを特徴としてい
る。

【００１３】請求項５記載の発明は、ＩＣ試験装置を操
作する制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段へ
入力された制御命令に応じ、前記ＩＣ試験装置の制御を
要求する複数の制御要求手段とを有し、前記複数の制御
要求手段のうち、同一の制御形態によるＩＣ試験装置の
制御を要求するものにつき、請求項３又は４記載の要求
伝達手段及び制御手段をそれぞれ設けたことを特徴とし
ている。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて添付図面を参照して説明する。図１は、本発明の一
実施形態によるＩＣ試験装置の制御装置を適用した制御
形態の構成を示す図であり、入力装置１０と、出力装置
２０と、ＩＣ試験装置３０と、制御装置４０とを備えて
いる。

【００１５】この図において、入力装置１０は、操作者
がアプリケーションプログラムを使用してＩＣ試験装置
３０の操作を行う場合の制御命令を入力する装置であ
り、入力された制御命令に応じたデータ信号Ｄ１、Ｄ２
を制御装置４０へ送信する。尚、入力装置１０として
は、例えば、キーボードやマウス等がこれに当たる。

【００１６】出力装置２０は、制御装置４０から供給さ
れたデータ信号Ｄ３、Ｄ４に基づき、前記入力装置１０
から入力された制御命令や後述するアプリケーションプ
ログラムが要求した制御の制御結果を出力する装置であ
り、例えば、ＣＲＴ等がこれに当たる。

【００１７】ＩＣ試験装置３０は、試験対象とするＩＣ
について、ＤＣ特性試験やＡＣ特性試験又は機能試験等
の各種試験を行う装置である。このＩＣ試験装置３０
は、制御装置４０から供給される制御信号Ｃ１によって
制御され、その制御による試験の結果得られた情報を制
御結果信号Ｃ２として制御装置４０へ送信する。

【００１８】制御装置４０は、入力装置１０から入力さ
れた制御命令に従って、前記ＩＣ試験装置３０を制御す
る装置である。この制御装置４０は、所定の演算手段や
記憶手段等によって構成されるが、その動作及び機能説
明を分かりやすくするため、図においては、動作時に実
行される各プログラムを機能ブロックで表し、各プログ
ラム間でのデータの授受形態に基づいてそれら各機能ブ
ロックの配置及び接続関係を概念的に示す。尚、以下に
おいては、かかる各プログラムの処理実行手段たる機能
ブロックをそれぞれのプログラム名に図中の符号を付し
た形で称して説明を進めることにする。図示のように、
制御装置４０は、複数のアプリケーションプログラム４
１、４２と通信管理プログラム４３と制御プログラム４
４とを備えている。

【００１９】アプリケーションプログラム４１、４２
は、それぞれ、入力装置１０から受けたデータ信号Ｄ
１、Ｄ２を解析し、その解析結果に応じた制御要求を制
御要求信号Ｐ１、Ｐ２として通信管理プログラム４３へ
供給する。又、アプリケーションプログラム４１、４２
は、それぞれ、通信管理プログラム４３から制御結果通
知信号Ｐ４、Ｐ５を受け、それに基づいて制御結果をデ
ータ信号Ｄ３、Ｄ４として出力装置２０へ供給する。

【００２０】すなわち、アプリケーションプログラム自
体は、入力された制御命令に応じた制御プログラム４４
に対する制御要求を通信管理プログラム４３へ供給する
と共に、制御プログラム４４からの制御結果通知信号を
通信管理プログラム４３を介して受け、これに基づく制
御結果を出力装置２０へ送信するために使用されるプロ
グラムであり、図示のアプリケーションプログラム４
１、４２がかかるプログラムに従った処理を実行する。
尚、アプリケーションプログラム４１、４２による制御
要求は、同一形態の制御処理によってＩＣ試験装置３０
を制御することを要求するものとなっている。

【００２１】通信管理プログラム４３は、アプリケーシ
ョンプログラム４１又は４２から受けた制御要求信号Ｐ
１又はＰ２を制御プログラム４４に対して制御要求信号
Ｐ３として供給する。又、通信管理プログラム４３は、
制御プログラム４４から供給された制御結果通知信号Ｐ
６をアプリケーションプログラム４１又は４２に対して
制御結果通知信号Ｐ４又はＰ５として供給する。

【００２２】すなわち、通信管理プログラム自体は、ア
プリケーションプログラム４１、４２と制御プログラム
４４との間の信号伝達を管理し、アプリケーションプロ
グラム４１、４２からの制御要求を一旦受け、それらを
順次（１ずつ）制御プログラム４４へ供給すると共に、
制御プログラム４４からの制御結果通知を、当該制御を
要求した方のアプリケーションプログラムへ供給するた
めのプログラムであり、図示の通信管理プログラム４３
がかかるプログラムに従った処理を実行する。

【００２３】制御プログラム４４は、通信管理プログラ
ム４３から受けた制御要求信号Ｐ３を解析し、ＩＣ試験
装置３０に対する制御処理を実行する。又、制御プログ
ラム４４は、制御処理の実行後に、制御が成功したか否
かを知らせる制御結果通知信号Ｐ６を通信管理プログラ
ム４３へ供給する。

【００２４】すなわち、制御プログラム自体は、アプリ
ケーションプログラム４１、４２からの制御要求を通信
管理プログラム４３を介して受け、それに基づいてＩＣ
試験装置３０の制御を行うと共に、その制御結果を通信
管理プログラム４３を介してアプリケーションプログラ
ム４１、４２へ供給するためのプログラムであり、図示
の制御プログラム４４がかかる処理を実行する。ここ
で、制御プログラム４４による制御処理は、上記同一形
態の制御処理に相当し、制御プログラム４４のみが当該
制御処理を実行する唯一の手段となっている。

【００２５】次に、上記構成による動作について、図
２、図３及び図４を参照して説明する。ここで、図２は
アプリケーションプログラム４１、４２にて、図３は通
信管理プログラム４３にて、図４は制御プログラム４４
にて、それぞれ実行される処理の手順を示している。
尚、図１に示した構成においては、前段のプログラムか
らの信号が供給された時点で後段のプログラムによる処
理が開始されているようにすればよいが、以下において
は、便宜上各図に示す処理がすべて同時に開始されてい
るものとして説明を行うこととする。

【００２６】まず、図２のステップ１０１において、ア
プリケーションプログラム４１、４２は、それぞれ、デ
ータ信号Ｄ１、Ｄ２の到来の有無により制御命令が入力
されたか否かを判断し、これを繰り返すことにより、入
力装置１０から制御命令が入力されるまで待機する。

【００２７】今、操作者が入力装置１０を操作して制御
命令を入力し、これに応じたデータ信号としてＤ１（又
はＤ２）がアプリケーションプログラム４１（又は４
２）へ送信されたとすると、上記ステップ１０１での判
断結果が“ＹＥＳ”となり、アプリケーションプログラ
ム４１（又は４２）における処理がステップ１０２へ進
む。

【００２８】ステップ１０２では、アプリケーションプ
ログラム４１（又は４２）は、受信したデータ信号の解
析を行い、次いで、その解析結果に基づいてＩＣ試験装
置３０の制御を要求する制御要求信号Ｐ１（又はＰ２）
を通信管理プログラム４３へ供給する（ステップ１０
３）。その後、アプリケーションプログラム４１（又は
４２）は、ステップ１０４の処理へと進み、制御結果通
知信号Ｐ４（又はＰ５）の到来の有無を判断することに
より、通信管理プログラム４３からの制御結果通知を待
つ。

【００２９】一方、通信管理プログラム４３は、処理開
始当初においては、制御要求信号も制御結果通知も受け
ず、図３のステップ２０１及び２０３での判断結果が
“ＮＯ”となるので、この判断を繰り返して信号が供給
されるのを待機している状態にある。このとき、上述し
たように図２のステップ１０３における制御要求信号Ｐ
１（又はＰ２）の供給がなされると、通信管理プログラ
ム４３がこれを受け、ステップ２０１での判断結果が
“ＹＥＳ”となり、ステップ２０２の処理へと進む。

【００３０】ステップ２０２では、通信管理プログラム
４３は、受けた制御要求信号Ｐ１（又はＰ２）と同内容
の制御要求信号Ｐ３を制御プログラム４４へ供給する。
その後、通信管理プログラム４３は、上記処理開始当初
同様、ステップ２０１及び２０３の処理を繰り返し、信
号が供給されるまで待機する。

【００３１】他方、制御プログラム４４は、処理開始当
初においては制御要求信号を受けず、図４のステップ３
０１での判断結果が“ＮＯ”となるので、この判断を繰
り返して信号が供給されるのを待機している状態にあ
る。このとき、上述したように図３のステップ２０２に
おける制御要求信号Ｐ３の供給がなされると、これを受
けた制御プログラム４４においては、ステップ３０１で
の判断結果が“ＹＥＳ”となり、ステップ３０２の処理
へと進む。

【００３２】ステップ３０２では、制御プログラム４４
は、受けた制御要求信号Ｐ３により制御要求内容の解析
を行う。次いで、ステップ３０３の処理へと進み、その
解析結果に基づいて要求された制御を実行するための制
御信号Ｃ１をＩＣ試験装置３０へ送信し、これにより、
ＩＣ試験装置３０の制御を行う。

【００３３】その後、制御プログラム４４は、制御結果
信号Ｃ２の到来の有無を判断するステップ３０４の処理
を繰り返すことにより、ＩＣ試験装置３０の制御動作が
終了してその制御結果を表す制御結果信号Ｃ２が送信さ
れるまで待機する。そして、ＩＣ試験装置３０から制御
結果信号Ｃ２が送信されると、制御プログラム４４がこ
れを受け、ステップ３０４での判断結果が“ＹＥＳ”と
なり、ステップ３０５の処理へと進む。

【００３４】ステップ３０５では、制御プログラム４４
は、受けた制御結果信号により制御結果の解析を行う。
続いて、その解析結果に基づき、ステップ３０６におい
て通信管理プログラム４３に対して制御結果通知信号Ｐ
６を供給し、これにより、１つの制御命令に対する制御
プログラム４４の処理は終了する。尚、これ以後、制御
プログラム４４は、次の制御命令に供えて再び上述した
ステップ３０１の処理を繰り返す待機状態となる。

【００３５】このとき、通信管理プログラム４３は、上
述したように、制御要求信号Ｐ３を供給した後の待機状
態（ステップ２０１、２０３）にある。従って、上記ス
テップ３０６における制御結果通知信号Ｐ６の供給がな
されると、これを受けた通信管理プログラム４３におい
ては、ステップ２０３での判断結果が“ＹＥＳ”とな
り、ステップ２０４の処理へと進む。

【００３６】ステップ２０４では、通信管理プログラム
４３は、受けた制御結果通知信号と同内容の制御結果通
知信号Ｐ４（又はＰ５）をアプリケーションプログラム
４１（又は４２）へ供給し、これにより、１つの制御命
令に対する通信管理プログラム４４の処理は終了する。
尚、これ以後、通信管理プログラム４３は、次の制御命
令に供えて再び上述したステップ２０１及び２０３の処
理を繰り返す待機状態となる。

【００３７】このとき、アプリケーションプログラム４
１（又は４２）は、上述したように、制御要求信号Ｐ１
を供給した後の待機状態（ステップ１０４）にある。従
って、上記ステップ２０４における制御結果通知信号Ｐ
４（又はＰ５）の供給がなされると、これを受けたアプ
リケーションプログラム４１（又は４２）においては、
ステップ１０４での判断結果が“ＹＥＳ”となり、ステ
ップ１０５の処理へと進む。

【００３８】ステップ１０５では、アプリケーションプ
ログラム４１（又は４２）は、出力装置２０に対して制
御結果（試験結果）をデータ信号Ｄ３（又はＤ４）とし
て供給する。これにより、出力装置２０は、受けたデー
タ信号Ｄ３（又はＤ４）に基づき、制御結果表示等の出
力を行う。尚、これ以後、アプリケーションプログラム
４１（又は４２）は、次の制御命令に供えて再び上述し
たステップ１０１の処理を繰り返す待機状態となる。

【００３９】このようにして、操作者が入力した制御命
令に対する処理が終了し、以後、操作者が制御命令を入
力する度に上記同様の処理が繰り返し実行される。

【００４０】上述したように、制御プログラム４４及び
通信管理プログラム４３を設置することにより、複数の
アプリケーションプログラム４１及び４２にて各々が行
っていたＩＣ試験装置３０の制御処理を共通化すること
ができ、これにより、アプリケーションプログラム４１
及び４２のプログラムサイズを減少させることが可能と
なる。又、複数のアプリケーションプログラム４１及び
４２で制御処理専用の制御プログラム４４を共有し、そ
れらの間の信号伝達を通信管理プログラム４３によって
順次行うこととしたので、ＩＣ試験装置の制御が同時に
行なわれることによる誤動作を回避することもできる。

【００４１】尚、上記実施形態では、同一形態の制御処
理を行うための複数のアプリケーションプログラムとし
て、アプリケーションプログラム４１と４２の２つがあ
る場合について説明したが、アプリケーションプログラ
ムが３つ以上ある場合についても同様である。

【００４２】又、異なる形態の制御処理を行うためのア
プリケーションプログラムがそれぞれ複数ある場合につ
いては、各制御処理形態のアプリケーションプログラム
毎に上記通信管理プログラム４３及び制御プログラム４
４同様の通信管理プログラム及び制御プログラムを設け
ることとすればよい。この場合、通信管理プログラムに
ついては、各制御処理形態毎に設けてもよいが、すべて
のアプリケーションプログラムと、すべての制御処理形
態の制御プログラムとの間に１つのみ設け、上記同様に
制御装置内全体の信号伝達を管理することとすれば、異
なる形態の制御処理が同時に行われないようにすること
もできる。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、同
一の制御形態によるＩＣ試験装置の制御を要求する複数
の制御要求手段に対し、その同一の制御形態によってＩ
Ｃ試験装置を制御する制御手段を設けてＩＣ試験装置を
制御することとしたので、ＩＣ試験装置の制御が制御手
段によってのみ専門的に行われることになる。これによ
り、ＩＣ試験装置の制御が共通の手段によって行われ、
複数の制御要求手段がＩＣ試験装置の制御を個別に行う
ことがなくなり、制御要求手段を構成するためのアプリ
ケーションプログラムのプログラムサイズを減少させる
ことができるという効果が得られる。尚、アプリケーシ
ョンプログラムのプログラムサイズが減少することか
ら、ＩＣ試験装置の制御における開発作業も容易とな
る。

【００４４】又、複数の制御要求手段からの要求を順次
送出し、制御手段ではそれら順次送出される要求応じて
ＩＣ試験装置を制御することとしたので、ＩＣ試験装置
に対して複数の制御が同時に行なわれることがなくな
る。これにより、ＩＣ試験装置の誤動作を回避すること
ができるという効果が得られる。

【００４５】加えて、請求項２又は４記載の発明によれ
ば、それぞれの制御要求手段からの要求毎にＩＣ試験装
置を制御した結果が得られる。更に、請求項５記載の発
明によれば、複数の制御要求手段に対し、制御形態毎に
制御手段を設けることとしたので、異なる形態の制御を
行うためのアプリケーションプログラムをそれぞれ複数
利用する場合にあっても、同一形態のものについての制
御手段を共通化して上記同様の効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態によるＩＣ試験装置の制
御装置を適用した制御形態の構成を示す図である。

【図２】 アプリケーションプログラム４１、４２にて
実行される処理の手順を示す図である。

【図３】 通信管理プログラム４３にて実行される処理
の手順を示す図である。

【図４】 制御プログラム４４にて実行される処理の手
順を示す図である。

【図５】 従来のアプリケーションプログラムによる制
御手順を示す図である。

【符号の説明】

１０ 入力装置 ２０ 出力装置 ３０ ＩＣ試験装置 ４０ 制御装置 ４１、４２ アプリケーションプログラム ４３ 通信管理プログラム ４４ 制御プログラム

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 同一の制御形態によるＩＣ試験装置の制
   御を要求する複数の制御要求手段に対して制御命令を供
   給し、 前記制御命令を受けた制御要求手段による要求を順次送
   出し、 順次送出された前記要求応じ、前記同一の制御形態によ
   ってＩＣ試験装置を制御する単一の制御手段により、前
   記ＩＣ試験装置を制御することを特徴とするＩＣ試験装
   置の制御方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載のＩＣ試験装置の制御方法
   において、 それぞれの制御要求手段からの要求毎に、前記制御手段
   によって前記ＩＣ試験装置を制御した結果を出力するこ
   とを特徴とするＩＣ試験装置の制御方法。
3. 【請求項３】 ＩＣ試験装置を制御する制御命令を入力
   する入力手段と、 前記入力手段へ入力された制御命令に応じ、同一の制御
   形態による前記ＩＣ試験装置の制御を要求する複数の制
   御要求手段と、 前記複数の制御要求手段からの要求を受け、それらを順
   次送出する要求伝達手段と、 前記同一の制御形態によってＩＣ試験装置を制御する制
   御手段であって、前記要求伝達手段から順次送出される
   要求応じて前記ＩＣ試験装置を制御する制御手段とを有
   することを特徴とするＩＣ試験装置の制御装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載のＩＣ試験装置の制御装置
   において、 前記ＩＣ試験装置を制御して得られた情報を出力する出
   力手段を更に有し、 前記制御手段は、前記ＩＣ試験装置を制御した結果を前
   記要求伝達手段へ供給し、 前記要求伝達手段は、前記制御手段から受けた結果を、
   前記複数の制御要求手段のうちの当該結果を生じた制御
   を要求した制御要求手段へ送出し、 当該結果を受けた前記制御手段が、当該結果に基づく情
   報を前記出力手段へ供給することを特徴とするＩＣ試験
   装置の制御装置。
5. 【請求項５】 ＩＣ試験装置を操作する制御命令を入力
   する入力手段と、 前記入力手段へ入力された制御命令に応じ、前記ＩＣ試
   験装置の制御を要求する複数の制御要求手段とを有し、 前記複数の制御要求手段のうち、同一の制御形態による
   ＩＣ試験装置の制御を要求するものにつき、請求項３又
   は４記載の要求伝達手段及び制御手段をそれぞれ設けた
   ことを特徴とするＩＣ試験装置の制御装置。