JPH1041610A - プリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Landscapes
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 めっきレジスト、ソルダーレジストの膜減り
防止 【解決手段】 液状レジスト塗布後、粘着剤を介して透
光性フィルムを貼着し、ついで露光、現像処理してめっ
きレジストあるいはソルダーレジストを形成することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。
防止 【解決手段】 液状レジスト塗布後、粘着剤を介して透
光性フィルムを貼着し、ついで露光、現像処理してめっ
きレジストあるいはソルダーレジストを形成することを
特徴とするプリント配線板の製造方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、プリント配線板
の製造方法に関し、特にめっきレジスト、ソルダーレジ
ストの形成精度に優れ、また、現像処理により膜減りし
ないプリント配線板の製造方法に関する。
の製造方法に関し、特にめっきレジスト、ソルダーレジ
ストの形成精度に優れ、また、現像処理により膜減りし
ないプリント配線板の製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】アディティブ配線板は、無電解めっき用接
着剤層を形成し、これを粗化処理して表面に微細な凹凸
を形成し、ここにめっきレジストを形成し、ついで無電
解めっきを施して導体回路を形成する。レジストとして
は、「ポリマーハンドブック (フォトポリマー懇和会
1989年、6月26日発行)」によれば、ベースフ
ィルムであるPETフィルム上に感光性ドライフィルム
を貼着したものが、開示されている。さらに、ソルダー
レジストについても感光性ドライフィルムが好ましいこ
とが開示されている。しかしながら、これらの記載は、
現在プリント配線板の主流であるサブトラクィブ法にお
いて言えるものであり、アディティブ法でいえば、粗化
面やめっきレジストと導体回路により形成される段差、
あるいはバイアホールによる窪みに対する追従性を考慮
すると、ドライフィルムよりも液状レジストの方が好ま
しい。
着剤層を形成し、これを粗化処理して表面に微細な凹凸
を形成し、ここにめっきレジストを形成し、ついで無電
解めっきを施して導体回路を形成する。レジストとして
は、「ポリマーハンドブック (フォトポリマー懇和会
1989年、6月26日発行)」によれば、ベースフ
ィルムであるPETフィルム上に感光性ドライフィルム
を貼着したものが、開示されている。さらに、ソルダー
レジストについても感光性ドライフィルムが好ましいこ
とが開示されている。しかしながら、これらの記載は、
現在プリント配線板の主流であるサブトラクィブ法にお
いて言えるものであり、アディティブ法でいえば、粗化
面やめっきレジストと導体回路により形成される段差、
あるいはバイアホールによる窪みに対する追従性を考慮
すると、ドライフィルムよりも液状レジストの方が好ま
しい。
【0003】
【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、液状
レジストの場合、露光、現像処理を行うと塗布量よりも
膜の厚みが減少するという問題点があった。本願発明者
らは鋭意研究した結果、この原因は、露光時において、
液状レジストが空気中の酸素に接触して硬化阻害を起こ
し、硬化不充分であるため、現像液により溶解されてし
まうからであることを見出した。ドライフィルムの場
合、このような酸素による障害を防止するために、ベー
スフィルムであるPETフィルムをそのまま残存させた
まま露光することが可能である(前出の「ポリマーハン
ドブック」P288)が、液状レジストはこのようなベ
ースフィルムを持っておらず、また、液状レジストを塗
布した場合、その表面は完全に平坦ではなく、ここにP
ETフィルムを積載しても、空気が入り、いずれにせよ
硬化阻害を生じる。本願発明の目的は、液状レジストを
塗布してめっきレジスト、ソルダーレジストを形成する
にあたり、酸素による硬化阻害を防止することにある。
レジストの場合、露光、現像処理を行うと塗布量よりも
膜の厚みが減少するという問題点があった。本願発明者
らは鋭意研究した結果、この原因は、露光時において、
液状レジストが空気中の酸素に接触して硬化阻害を起こ
し、硬化不充分であるため、現像液により溶解されてし
まうからであることを見出した。ドライフィルムの場
合、このような酸素による障害を防止するために、ベー
スフィルムであるPETフィルムをそのまま残存させた
まま露光することが可能である(前出の「ポリマーハン
ドブック」P288)が、液状レジストはこのようなベ
ースフィルムを持っておらず、また、液状レジストを塗
布した場合、その表面は完全に平坦ではなく、ここにP
ETフィルムを積載しても、空気が入り、いずれにせよ
硬化阻害を生じる。本願発明の目的は、液状レジストを
塗布してめっきレジスト、ソルダーレジストを形成する
にあたり、酸素による硬化阻害を防止することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本願発明では、酸素によ
る硬化阻害を防止するために、粘着剤を介在して透光性
フィルムを貼着させて、酸素を遮断して硬化阻害を防止
するのである。即ち、「基板上に無電解めっき用接着剤
層を形成し、その表面を粗化して感光性の液状レジスト
を塗布し、露光、現像処理によりめっきレジストを形成
し、ついで無電解めっき処理して導体回路を形成するプ
リント配線板の製造方法において、液状レジスト塗布
後、粘着剤を介して透光性フィルムを貼着し、ついで露
光、現像処理してめっきレジストを形成することを特徴
とするプリント配線板の製造方法」、
る硬化阻害を防止するために、粘着剤を介在して透光性
フィルムを貼着させて、酸素を遮断して硬化阻害を防止
するのである。即ち、「基板上に無電解めっき用接着剤
層を形成し、その表面を粗化して感光性の液状レジスト
を塗布し、露光、現像処理によりめっきレジストを形成
し、ついで無電解めっき処理して導体回路を形成するプ
リント配線板の製造方法において、液状レジスト塗布
後、粘着剤を介して透光性フィルムを貼着し、ついで露
光、現像処理してめっきレジストを形成することを特徴
とするプリント配線板の製造方法」、
【0005】「基板上に形成された導体パッド表面に感
光性の液状レジストを塗布し、露光、現像処理により開
口部を設けて、ソルダーレジストを形成するプリント配
線板の製造方法において、液状レジスト塗布後、粘着剤
を介して透光性フィルムを貼着し、ついで露光、現像処
理してソルダーレジストを形成することを特徴とするプ
リント配線板の製造方法」、
光性の液状レジストを塗布し、露光、現像処理により開
口部を設けて、ソルダーレジストを形成するプリント配
線板の製造方法において、液状レジスト塗布後、粘着剤
を介して透光性フィルムを貼着し、ついで露光、現像処
理してソルダーレジストを形成することを特徴とするプ
リント配線板の製造方法」、
【0006】「前記導体パッドは、無電解めっき用接着
剤層を粗化処理し、ここにめっきレジストを形成し、そ
のめっきレジストの非形成部に設けるものである請求項
2に記載のプリント配線板」、
剤層を粗化処理し、ここにめっきレジストを形成し、そ
のめっきレジストの非形成部に設けるものである請求項
2に記載のプリント配線板」、
【0007】「前記透光性フィルムは、1〜20μmの
厚さである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント配
線板の製造方法」、
厚さである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント配
線板の製造方法」、
【0008】「前記透光性フィルムは、熱可塑性樹脂フ
ィルムである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント
配線板の製造方法」、
ィルムである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント
配線板の製造方法」、
【0009】「前記透光性フィルムは、ポリエチレンテ
レフタレートフィルムである請求項1〜3のいずれか一
つに記載のプリント配線板の製造方法」である。
レフタレートフィルムである請求項1〜3のいずれか一
つに記載のプリント配線板の製造方法」である。
【0010】本願発明では、液状レジストを塗布、乾燥
させ、この表面に粘着剤によって透光性フィルムが密着
するため、空気が入りこまず、その結果酸素による硬化
阻害が防止される。そのため、現像してもめっきレジス
トやソルダーレジストの厚みの減少が見られない。ま
た、めっきレジストやソルダーレジスト形成のための液
状レジストに直接フォトマスクを載置すると、レジスト
自体の粘着性のため、すべりが悪く、フォトマスクの位
置合わせがしにくいが、本願発明では、透光性フィルム
を貼着するため、フォトマスクが滑りやすく、そのため
フォトマスクの位置合わせがしやすくなり、バイアホー
ルやパターンの形成位置にずれがない。
させ、この表面に粘着剤によって透光性フィルムが密着
するため、空気が入りこまず、その結果酸素による硬化
阻害が防止される。そのため、現像してもめっきレジス
トやソルダーレジストの厚みの減少が見られない。ま
た、めっきレジストやソルダーレジスト形成のための液
状レジストに直接フォトマスクを載置すると、レジスト
自体の粘着性のため、すべりが悪く、フォトマスクの位
置合わせがしにくいが、本願発明では、透光性フィルム
を貼着するため、フォトマスクが滑りやすく、そのため
フォトマスクの位置合わせがしやすくなり、バイアホー
ルやパターンの形成位置にずれがない。
【0011】さらに、液状レジストの場合は、表面が完
全に平坦にはならないが、透光性フィルムとレジスト面
との間に粘着剤が介在するため、レジストと透光性フィ
ルムの密着性を低下させない。透光性フィルムは、1〜
20μmの厚さが望ましい。薄いと破損しやすく、厚い
場合は液状レジストの解像度が低下するためである。望
ましくは、5〜16μm、より好ましくは8〜12μm
である。また、透光性フィルムは、温度40〜60℃、
圧力1〜10kg/cm2 にお加熱加圧して乾燥させた
液状レジストに貼付する。
全に平坦にはならないが、透光性フィルムとレジスト面
との間に粘着剤が介在するため、レジストと透光性フィ
ルムの密着性を低下させない。透光性フィルムは、1〜
20μmの厚さが望ましい。薄いと破損しやすく、厚い
場合は液状レジストの解像度が低下するためである。望
ましくは、5〜16μm、より好ましくは8〜12μm
である。また、透光性フィルムは、温度40〜60℃、
圧力1〜10kg/cm2 にお加熱加圧して乾燥させた
液状レジストに貼付する。
【0012】粘着剤は、天然ゴム系、スチレン−ブタジ
エン系、ポリイソブチレン系、イソプレン系、アクリル
系、アクリルエマルジョン系、シリコーン系、天然ゴム
ラテックス系、スチレン−ブタジエンラテックス系が挙
げられる。具体的には、「伊保内 賢、小松 公栄、北
崎 寧昭 編著、工業調査会発行粘着剤活用ノート」に
記載がなされている。天然ゴム系としては、天然ゴム1
00重量部に対して、粘着付与樹脂150〜120重量
部、亜鉛華 25〜50重量部、炭酸カルシウム35〜
60重量部、カーボンブラック15重量部、老化防止
剤、イオウからなるものが挙げられる。スチレンーブタ
ジエン(SBR)系としては、SBR100重量部、亜
鉛華5重量部、酸化チタン10重量部、黄色顔料0.3
重量部、油溶性フェノール樹脂12重量部、エステルガ
ム40重量部、パラフィンオイル25重量部、クロマン
インディン樹脂40重量部からなるものが挙げられる。
ポリイソブチレン系としては、ポリイソブチレン100
重量部、ポリブテン10重量部、ホワイトオイル20重
量部からなるものが挙げられる。ポリイソプレン系とし
ては、クラレ製のクラオウレンIR−10、日本ゴム製
のJSR2200、ニホンゼオン ニッポール2200
などが挙げられる。アクリル系としては、アクリル酸2
−エチルヘキシン78重量部、アクリル酸メチル20重
量部、無水マレイン酸2重量部、ヘキサメチレンジアミ
ン0.5重量部からなるものが挙げられる。シリコーン
系としては、シリコーンゴム100重量部、シリコーン
レジン80〜120重量部、縮合触媒0.01〜0.5
重量部、溶剤100〜150重量部アクリルエマルジョ
ン系としては、2−エチルヘキシルアクリレート70重
量部、酢酸ビニル30重量部、アクリル酸2重量部から
なるものが挙げられる。天然ゴム−ラテックス系として
は、有機過酸化物前加硫天然ゴムラテックス182重量
部、水添ロジンエステル250重量部、老化防止剤分散
液4重量部からなるのが挙げられる。スチレン−ブタジ
エン系としては、ゴムラテックス100重量部、高融点
粘着付与剤89重量部、石鹸生成樹脂酸5.6重量部、
抗酸化剤4.8重量部、アンモニア水0.7重量部、水
151重量部からなるものが挙げられる。
エン系、ポリイソブチレン系、イソプレン系、アクリル
系、アクリルエマルジョン系、シリコーン系、天然ゴム
ラテックス系、スチレン−ブタジエンラテックス系が挙
げられる。具体的には、「伊保内 賢、小松 公栄、北
崎 寧昭 編著、工業調査会発行粘着剤活用ノート」に
記載がなされている。天然ゴム系としては、天然ゴム1
00重量部に対して、粘着付与樹脂150〜120重量
部、亜鉛華 25〜50重量部、炭酸カルシウム35〜
60重量部、カーボンブラック15重量部、老化防止
剤、イオウからなるものが挙げられる。スチレンーブタ
ジエン(SBR)系としては、SBR100重量部、亜
鉛華5重量部、酸化チタン10重量部、黄色顔料0.3
重量部、油溶性フェノール樹脂12重量部、エステルガ
ム40重量部、パラフィンオイル25重量部、クロマン
インディン樹脂40重量部からなるものが挙げられる。
ポリイソブチレン系としては、ポリイソブチレン100
重量部、ポリブテン10重量部、ホワイトオイル20重
量部からなるものが挙げられる。ポリイソプレン系とし
ては、クラレ製のクラオウレンIR−10、日本ゴム製
のJSR2200、ニホンゼオン ニッポール2200
などが挙げられる。アクリル系としては、アクリル酸2
−エチルヘキシン78重量部、アクリル酸メチル20重
量部、無水マレイン酸2重量部、ヘキサメチレンジアミ
ン0.5重量部からなるものが挙げられる。シリコーン
系としては、シリコーンゴム100重量部、シリコーン
レジン80〜120重量部、縮合触媒0.01〜0.5
重量部、溶剤100〜150重量部アクリルエマルジョ
ン系としては、2−エチルヘキシルアクリレート70重
量部、酢酸ビニル30重量部、アクリル酸2重量部から
なるものが挙げられる。天然ゴム−ラテックス系として
は、有機過酸化物前加硫天然ゴムラテックス182重量
部、水添ロジンエステル250重量部、老化防止剤分散
液4重量部からなるのが挙げられる。スチレン−ブタジ
エン系としては、ゴムラテックス100重量部、高融点
粘着付与剤89重量部、石鹸生成樹脂酸5.6重量部、
抗酸化剤4.8重量部、アンモニア水0.7重量部、水
151重量部からなるものが挙げられる。
【0013】透光性フィルムとしては、熱可塑性樹脂フ
ィルムが望ましい。かとう性、加熱した場合の追従性に
優れるからである。具体的には、ポリエチレンテレフタ
レート(PET)、ポリビニルアルコール(PVA)、
ポリエチレン(PE)などがある。特にポリエチレンテ
レフタレートが望ましい。PETフィルムは耐熱性に優
れ、加熱冷却による熱膨張、収縮が少ないため、特に露
光後、加熱硬化させる場合にもフィルムが膨張、収縮す
ることが殆どない。本願発明で使用される液状レジスト
について説明する。めっきレジスト用およびソルダーレ
ジストいずれも同様である。
ィルムが望ましい。かとう性、加熱した場合の追従性に
優れるからである。具体的には、ポリエチレンテレフタ
レート(PET)、ポリビニルアルコール(PVA)、
ポリエチレン(PE)などがある。特にポリエチレンテ
レフタレートが望ましい。PETフィルムは耐熱性に優
れ、加熱冷却による熱膨張、収縮が少ないため、特に露
光後、加熱硬化させる場合にもフィルムが膨張、収縮す
ることが殆どない。本願発明で使用される液状レジスト
について説明する。めっきレジスト用およびソルダーレ
ジストいずれも同様である。
【0014】液状レジストとしては、ノボラック型エポ
キシ樹脂のアクリレートおよびイミダゾール硬化剤から
なるめっきレジスト組成物がよい。めっきレジストには
耐塩基性が必要だからである。ノボラック型エポキシ樹
脂としては、フェノールノボラック型とクレゾールノボ
ラック型が存在する。
キシ樹脂のアクリレートおよびイミダゾール硬化剤から
なるめっきレジスト組成物がよい。めっきレジストには
耐塩基性が必要だからである。ノボラック型エポキシ樹
脂としては、フェノールノボラック型とクレゾールノボ
ラック型が存在する。
【0015】本願発明では、めっきレジスト組成物中に
は、ビスフェノール型エポキシ樹脂および感光性モノマ
ーを有することが望ましい。ビスフェノール型エポキシ
樹脂は、耐塩基性、かとう性を向上させることができ、
また、感光性モノマーは解像度を向上させるビスフェノ
ール型エポキシ樹脂には、ビスフェノールA型エポキシ
樹脂とビスフェノールF型のエポキシ樹脂が存在してお
り、耐塩基性を重視する場合は前者、塗布性を重視する
場合は後者がよい。
は、ビスフェノール型エポキシ樹脂および感光性モノマ
ーを有することが望ましい。ビスフェノール型エポキシ
樹脂は、耐塩基性、かとう性を向上させることができ、
また、感光性モノマーは解像度を向上させるビスフェノ
ール型エポキシ樹脂には、ビスフェノールA型エポキシ
樹脂とビスフェノールF型のエポキシ樹脂が存在してお
り、耐塩基性を重視する場合は前者、塗布性を重視する
場合は後者がよい。
【0016】本願発明では、イミダゾール硬化剤を使用
できる。イミダゾール硬化剤により硬化させたエポキシ
樹脂は、耐熱性、耐薬品性に優れ、塩基に対する特性に
優れるからである。イミダゾール硬化剤の添加量は、1
〜10重量%が望ましい。この理由は、この範囲で均一
混合しやすいからである。ソルダーレジストとして使用
する場合は、隠蔽性確保のため、フタロシアニングリー
ンなどの色素や各種顔料を加えてもよい。
できる。イミダゾール硬化剤により硬化させたエポキシ
樹脂は、耐熱性、耐薬品性に優れ、塩基に対する特性に
優れるからである。イミダゾール硬化剤の添加量は、1
〜10重量%が望ましい。この理由は、この範囲で均一
混合しやすいからである。ソルダーレジストとして使用
する場合は、隠蔽性確保のため、フタロシアニングリー
ンなどの色素や各種顔料を加えてもよい。
【0017】ついで、本願発明のプリント配線板の製造
方法について詳細に説明する。 (1)本願発明で使用される基板は、銅張積層板をエッ
チングして銅パターンとしたものや、ガラスエポキシ基
板、ポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などに
無電解めっき用接着剤層を形成し、これに開口を設け、
これを粗化して粗化面を形成し、ここに無電解めっきを
施して銅パターン、バイアホールを形成したものとする
ことができる。コア基板には、スルーホールが形成され
てなり、表面と裏面の配線層を電気的に接続している。
方法について詳細に説明する。 (1)本願発明で使用される基板は、銅張積層板をエッ
チングして銅パターンとしたものや、ガラスエポキシ基
板、ポリイミド基板、セラミック基板、金属基板などに
無電解めっき用接着剤層を形成し、これに開口を設け、
これを粗化して粗化面を形成し、ここに無電解めっきを
施して銅パターン、バイアホールを形成したものとする
ことができる。コア基板には、スルーホールが形成され
てなり、表面と裏面の配線層を電気的に接続している。
【0018】(2)ついで、この基板の上に、無電解め
っき用接着剤層を形成する。無電解めっき用接着剤とし
ては、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂
中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性
樹脂粒子が分散されてなるものが最適である。これは、
酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を粗化して
除去することにより、表面に蛸壺状のアンカーを形成で
き、導体回路との密着性を改善できるからである。
っき用接着剤層を形成する。無電解めっき用接着剤とし
ては、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂
中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性
樹脂粒子が分散されてなるものが最適である。これは、
酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱性樹脂粒子を粗化して
除去することにより、表面に蛸壺状のアンカーを形成で
き、導体回路との密着性を改善できるからである。
【0019】酸あるいは酸化剤に難溶性の耐熱性樹脂と
しては、感光化した熱硬化性樹脂や感光化した熱硬化性
樹脂と熱可塑性樹脂の複合体が望ましい。感光化するこ
とにより、露光、現像により、バイアホールを容易に形
成できるからである。また、熱可塑性樹脂と複合化する
ことにより靱性を向上させることができ、導体回路のピ
ール強度の向上、ヒートサイクルによるバイアホール部
分のクラック発生を防止できる。
しては、感光化した熱硬化性樹脂や感光化した熱硬化性
樹脂と熱可塑性樹脂の複合体が望ましい。感光化するこ
とにより、露光、現像により、バイアホールを容易に形
成できるからである。また、熱可塑性樹脂と複合化する
ことにより靱性を向上させることができ、導体回路のピ
ール強度の向上、ヒートサイクルによるバイアホール部
分のクラック発生を防止できる。
【0020】具体的には、エポキシ樹脂をアクリル酸や
メタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレートや
エポキシアクリレートとポリエーテルスルホンとの複合
体がよい。エポキシアクリレートは、全エポキシ基の2
0〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応した
ものが望ましい。
メタクリル酸などと反応させたエポキシアクリレートや
エポキシアクリレートとポリエーテルスルホンとの複合
体がよい。エポキシアクリレートは、全エポキシ基の2
0〜80%がアクリル酸やメタクリル酸などと反応した
ものが望ましい。
【0021】さらに、前記耐熱性樹脂粒子としては、
平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径
が2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
平均粒径が10μm以下の耐熱性粉末樹脂粉末と、平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平
均粒径が2μm〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に、
平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末
のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子か
ら選ばれることが望ましい。これらは、複雑なアンカー
を形成できるからである。
平均粒径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径
が2μm以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、
平均粒径が10μm以下の耐熱性粉末樹脂粉末と、平
均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平
均粒径が2μm〜10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に、
平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末
のいずれか少なくとも1種を付着させてなる疑似粒子か
ら選ばれることが望ましい。これらは、複雑なアンカー
を形成できるからである。
【0022】また耐熱性樹脂粒子としては、エポキシ樹
脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン
樹脂)などがよい。なお、エポキシ樹脂は、そのオリゴ
マーの種類、硬化剤の種類、架橋密度を変えることによ
り任意に酸や酸化剤に対する溶解度を変えることができ
る。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂オリゴマ
ーをアミン系硬化剤で硬化処理したものは、酸化剤に溶
解しやすい。しかし、ノボラックエポキシ樹脂オリゴマ
ーをイミダゾール系硬化剤で硬化させたものは、酸化剤
に溶解しにくい。なお無電解めっき用接着剤層は、単一
層である必要はなく、例えば、下層を絶縁剤層として、
その表面をさらに無電解めっき用接着剤層とした2層構
成であってもよい。
脂、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン
樹脂)などがよい。なお、エポキシ樹脂は、そのオリゴ
マーの種類、硬化剤の種類、架橋密度を変えることによ
り任意に酸や酸化剤に対する溶解度を変えることができ
る。例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂オリゴマ
ーをアミン系硬化剤で硬化処理したものは、酸化剤に溶
解しやすい。しかし、ノボラックエポキシ樹脂オリゴマ
ーをイミダゾール系硬化剤で硬化させたものは、酸化剤
に溶解しにくい。なお無電解めっき用接着剤層は、単一
層である必要はなく、例えば、下層を絶縁剤層として、
その表面をさらに無電解めっき用接着剤層とした2層構
成であってもよい。
【0023】また、層間絶縁剤を下層を平均粒径が0.
1〜0.3μm以下の耐熱性樹脂粉末を有する無電解め
っき用接着剤とし、上層を平均粒径が10μm以下の耐
熱性粉末樹脂粉末と、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹
脂粉末との混合物を有する無電解めっき用接着剤として
2層構成とすることも可能である。
1〜0.3μm以下の耐熱性樹脂粉末を有する無電解め
っき用接着剤とし、上層を平均粒径が10μm以下の耐
熱性粉末樹脂粉末と、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹
脂粉末との混合物を有する無電解めっき用接着剤として
2層構成とすることも可能である。
【0024】本願発明で使用される酸は、リン酸、塩
酸、硫酸、又は蟻酸、酢酸などの有機酸があるが、特に
有機酸が望ましい。粗化処理した場合に、バイアホール
から露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
また、酸化剤は、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガ
ン酸カリウムなど)、が望ましい。特に、アミノ樹脂を
溶解除去する場合は、酸と酸化剤で交互に粗化処理する
ことが望ましい。
酸、硫酸、又は蟻酸、酢酸などの有機酸があるが、特に
有機酸が望ましい。粗化処理した場合に、バイアホール
から露出する金属導体層を腐食させにくいからである。
また、酸化剤は、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガ
ン酸カリウムなど)、が望ましい。特に、アミノ樹脂を
溶解除去する場合は、酸と酸化剤で交互に粗化処理する
ことが望ましい。
【0025】(3)無電解めっき用接着剤を乾燥後、感
光性樹脂の場合は、露光、現像し、また、熱硬化性樹脂
の場合は、熱硬化後レーザーでバイアホール用の開口部
を設ける。
光性樹脂の場合は、露光、現像し、また、熱硬化性樹脂
の場合は、熱硬化後レーザーでバイアホール用の開口部
を設ける。
【0026】(4)表面を粗化した後、触媒核を付与す
る。触媒核は、貴金属イオンやコロイドなどが望まし
く、一般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイド
を使用する。触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。触媒核はパラジウムがよい。
る。触媒核は、貴金属イオンやコロイドなどが望まし
く、一般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイド
を使用する。触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが望ましい。触媒核はパラジウムがよい。
【0027】(5)次に、めっきレジストを形成する。
めっきレジストは前述した液状レジストを塗布、乾燥し
た後、粘着剤が付着した透光性フィルムを液状レジスト
側に粘着剤の面が当接するようにして張りつける。ま
た、逆にレジスト面に粘着剤を塗布して透光性フィルム
を貼りつけてもよい。次に、温度40〜60℃、圧力1
〜10kg/cm2 にて加熱加圧して乾燥させたレジス
トに密着させる。次に紫外線を照射して露光、現像して
形成する。
めっきレジストは前述した液状レジストを塗布、乾燥し
た後、粘着剤が付着した透光性フィルムを液状レジスト
側に粘着剤の面が当接するようにして張りつける。ま
た、逆にレジスト面に粘着剤を塗布して透光性フィルム
を貼りつけてもよい。次に、温度40〜60℃、圧力1
〜10kg/cm2 にて加熱加圧して乾燥させたレジス
トに密着させる。次に紫外線を照射して露光、現像して
形成する。
【0028】(6)めっきレジスト表面、無電解めっき
用接着剤表面に一次めっきを施す。さらに、銅パターン
だけでなく、バイアホールを形成する。一次めっきとし
ては、銅、ニッケル、コバルトおよびリンから選ばれる
少なくとも2種以上の金属イオンを使用することが必要
であるが、この理由は、これらの合金は強度が高く、ピ
ール強度を向上させることができるからである。一次の
無電解めっき液では、銅、ニッケルおよびコバルトから
選ばれる少なくとも2種以上の金属イオンを使用するこ
とが必要であるが、この理由は、これらの合金は強度が
高く、ピール強度を向上させることができるからであ
る。また、ヒドロキシカルボン酸が必要であるが、これ
は錯化剤として作用して、銅、ニッケル、コバルトイオ
ンと塩基性条件下で安定した錯体を形成するからであ
る。
用接着剤表面に一次めっきを施す。さらに、銅パターン
だけでなく、バイアホールを形成する。一次めっきとし
ては、銅、ニッケル、コバルトおよびリンから選ばれる
少なくとも2種以上の金属イオンを使用することが必要
であるが、この理由は、これらの合金は強度が高く、ピ
ール強度を向上させることができるからである。一次の
無電解めっき液では、銅、ニッケルおよびコバルトから
選ばれる少なくとも2種以上の金属イオンを使用するこ
とが必要であるが、この理由は、これらの合金は強度が
高く、ピール強度を向上させることができるからであ
る。また、ヒドロキシカルボン酸が必要であるが、これ
は錯化剤として作用して、銅、ニッケル、コバルトイオ
ンと塩基性条件下で安定した錯体を形成するからであ
る。
【0029】この無電解めっき液では、還元剤が必要で
あるが、金属イオンを還元して金属元素にするためであ
る。還元剤は、次亜リン酸塩がよい。ニッケルを析出さ
せることができるからである。
あるが、金属イオンを還元して金属元素にするためであ
る。還元剤は、次亜リン酸塩がよい。ニッケルを析出さ
せることができるからである。
【0030】本願発明で使用されるpH調整剤は、水酸
化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウムから
選ばれる少なくとも1種であり、塩基性化合物である。
ヒドロキシカルボン酸は、塩基性条件下でニッケルイオ
ンなどと錯体を形成するからである。
化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウムから
選ばれる少なくとも1種であり、塩基性化合物である。
ヒドロキシカルボン酸は、塩基性条件下でニッケルイオ
ンなどと錯体を形成するからである。
【0031】また、還元剤は、アルデヒド、次亜リン酸
塩(ホスフィン酸塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩、ヒ
ドラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望ま
しい。これらの還元剤は、水溶性であり、還元力に優れ
るからである。前記ヒドロキシカルボン酸としては、ク
エン酸、リンゴ酸、酒石酸などが望ましい。これらは、
ニッケル、コバルト、銅と錯体を形成しやすいからであ
る。前記ヒドロキシカルボンの濃度が0.1〜0.8M
であることが望ましい。0.1Mより少ないと、十分な
錯体が形成できず、異常析出や液の分解が生じる。0.
8Mを越えると、析出速度が遅くなったり、水素の発生
が多くなったりするなどの不具合が発生する。
塩(ホスフィン酸塩と呼ばれる)、水素化ホウ素塩、ヒ
ドラジンから選ばれる少なくとも1種であることが望ま
しい。これらの還元剤は、水溶性であり、還元力に優れ
るからである。前記ヒドロキシカルボン酸としては、ク
エン酸、リンゴ酸、酒石酸などが望ましい。これらは、
ニッケル、コバルト、銅と錯体を形成しやすいからであ
る。前記ヒドロキシカルボンの濃度が0.1〜0.8M
であることが望ましい。0.1Mより少ないと、十分な
錯体が形成できず、異常析出や液の分解が生じる。0.
8Mを越えると、析出速度が遅くなったり、水素の発生
が多くなったりするなどの不具合が発生する。
【0032】前記無電解めっき液には、ビピリジルを含
有してなることが望ましい。この理由は、ビピリジルは
めっき浴中の金属酸化物の発生を抑制してノジュールの
発生を抑制できるからである。銅イオン、ニッケルイオ
ン、コバルトイオンは、硫酸銅、硫酸ニッケル、硫酸コ
バルト、塩化銅、塩化ニッケル、塩化コバルトなどの
銅、ニッケル、コバルト化合物を溶解させることにより
供給する。
有してなることが望ましい。この理由は、ビピリジルは
めっき浴中の金属酸化物の発生を抑制してノジュールの
発生を抑制できるからである。銅イオン、ニッケルイオ
ン、コバルトイオンは、硫酸銅、硫酸ニッケル、硫酸コ
バルト、塩化銅、塩化ニッケル、塩化コバルトなどの
銅、ニッケル、コバルト化合物を溶解させることにより
供給する。
【0033】このような本願発明のめっき液により形成
された一次めっき膜は、無電解めっき用接着剤層の粗化
面に対する追従性に優れ、粗化面の形態をそのままトレ
ースする。そのため、一次めっき膜は、粗化面と同様に
アンカーを持つ。従って、この一次めっき膜上に形成さ
れる二次めっき膜は、このアンカーにより、密着が確保
されるのである。一次めっき膜はピール強度を支配する
ため、強度が高い本願発明のめっき液により析出するめ
っき膜が望ましく、二次めっき膜は電気導電性が高く、
析出速度が早いことが望ましいので、複合めっきよりも
単純な銅めっきが望ましい。
された一次めっき膜は、無電解めっき用接着剤層の粗化
面に対する追従性に優れ、粗化面の形態をそのままトレ
ースする。そのため、一次めっき膜は、粗化面と同様に
アンカーを持つ。従って、この一次めっき膜上に形成さ
れる二次めっき膜は、このアンカーにより、密着が確保
されるのである。一次めっき膜はピール強度を支配する
ため、強度が高い本願発明のめっき液により析出するめ
っき膜が望ましく、二次めっき膜は電気導電性が高く、
析出速度が早いことが望ましいので、複合めっきよりも
単純な銅めっきが望ましい。
【0034】(7)二次めっき膜は、銅めっき膜であ
る。二次めっき膜は、次の無電解めっき液に浸漬するこ
とにより形成されることが望ましい。銅イオン、トリア
ルカノールアミン、還元剤、pH調整剤からなる無電解
めっき液において、銅イオンの濃度が0.005〜0.
015mol/l、pH調整剤の濃度が、0.25〜
0.35mol/lであり、還元剤の濃度が0.01〜
0.04mol/lであることを特徴とする無電解めっ
き液。このめっき液は、浴が安定であり、ノジュールな
どの発生が少ないからである。二次無電解めっき液は、
トリアルカノールアミンの濃度が0.1〜0.8Mであ
ることが望ましい。この範囲でめっき析出反応が最も進
行しやすいからである。
る。二次めっき膜は、次の無電解めっき液に浸漬するこ
とにより形成されることが望ましい。銅イオン、トリア
ルカノールアミン、還元剤、pH調整剤からなる無電解
めっき液において、銅イオンの濃度が0.005〜0.
015mol/l、pH調整剤の濃度が、0.25〜
0.35mol/lであり、還元剤の濃度が0.01〜
0.04mol/lであることを特徴とする無電解めっ
き液。このめっき液は、浴が安定であり、ノジュールな
どの発生が少ないからである。二次無電解めっき液は、
トリアルカノールアミンの濃度が0.1〜0.8Mであ
ることが望ましい。この範囲でめっき析出反応が最も進
行しやすいからである。
【0035】前記トリアルカノールアミンは、トリエタ
ノールアミン、トリイソパノールアミン、トリメタノー
ルアミン、トリプロパノールアミンから選ばれる少なく
とも1種であることが望ましい。水溶性だからである。
二次無電解めっき液に用いられる還元剤は、アルデヒ
ド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩、ヒドラジンから選
ばれる少なくとも1種であることが望ましい。水溶性で
あり、塩基性条件下で還元力を持つからである。また、
pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水
酸化カルシウムから選ばれる少なくとも1種であること
が望ましい。このようにして、一次めっき膜と二次めっ
き膜からなる導体パターンを形成する。
ノールアミン、トリイソパノールアミン、トリメタノー
ルアミン、トリプロパノールアミンから選ばれる少なく
とも1種であることが望ましい。水溶性だからである。
二次無電解めっき液に用いられる還元剤は、アルデヒ
ド、次亜リン酸塩、水素化ホウ素塩、ヒドラジンから選
ばれる少なくとも1種であることが望ましい。水溶性で
あり、塩基性条件下で還元力を持つからである。また、
pH調整剤は、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水
酸化カルシウムから選ばれる少なくとも1種であること
が望ましい。このようにして、一次めっき膜と二次めっ
き膜からなる導体パターンを形成する。
【0036】(8)導体回路表面に黒化還元処理もしく
は、Cu−Ni−Pからなる針状めっきを施して粗化層
を形成する。
は、Cu−Ni−Pからなる針状めっきを施して粗化層
を形成する。
【0037】(9)さらに、層間絶縁材層を形成する。
層間絶縁材層は、前述した無電解めっき用接着剤を使用
でき、また、前述したように2層以上で構成してもよ
い。また、層間絶縁材層上に形成される導体回路、めっ
きレジストの形成について前述したものと同様である。
層間絶縁材層は、前述した無電解めっき用接着剤を使用
でき、また、前述したように2層以上で構成してもよ
い。また、層間絶縁材層上に形成される導体回路、めっ
きレジストの形成について前述したものと同様である。
【0038】(10)このようにして形成されたプリン
ト配線板の表面は、無電解めっき用接着剤の表面が粗化
され、その粗化面にめっきレジストが形成され、そのめ
っきレジストの非形成面に導体回路が設けられた構造に
なっている。
ト配線板の表面は、無電解めっき用接着剤の表面が粗化
され、その粗化面にめっきレジストが形成され、そのめ
っきレジストの非形成面に導体回路が設けられた構造に
なっている。
【0039】露出した導体回路はソルダーレジストで被
覆して保護する。また導体回路のうち、電子部品を搭載
する部分(いわゆるパッド)には、半田をコートする。
半田コートのためには、半田が流れて、導体回路間をシ
ョートさせないようにするために、ソルダーレジストを
設ける。ソルダーレジストは、前述した液状レジストを
ロールコーターで塗布して、乾燥した後、粘着剤が付着
した透光性フィルムを液状レジスト側に粘着剤の面が当
接するようにして張りつける。逆に粘着剤をレジスト面
に塗布して透光性フィルムを貼りつけてもよい。次に、
温度40〜60℃、圧力1〜10kg/cm2 にて加熱
加圧して乾燥させたレジストに密着させる。次に紫外線
を照射して露光、現像して開口部を持ったソルダーレジ
ストを形成する。
覆して保護する。また導体回路のうち、電子部品を搭載
する部分(いわゆるパッド)には、半田をコートする。
半田コートのためには、半田が流れて、導体回路間をシ
ョートさせないようにするために、ソルダーレジストを
設ける。ソルダーレジストは、前述した液状レジストを
ロールコーターで塗布して、乾燥した後、粘着剤が付着
した透光性フィルムを液状レジスト側に粘着剤の面が当
接するようにして張りつける。逆に粘着剤をレジスト面
に塗布して透光性フィルムを貼りつけてもよい。次に、
温度40〜60℃、圧力1〜10kg/cm2 にて加熱
加圧して乾燥させたレジストに密着させる。次に紫外線
を照射して露光、現像して開口部を持ったソルダーレジ
ストを形成する。
【0040】(11)形成された導体パターンのうち、
半田を形成する部分(パッド)には、ニッケル−金めっ
きを施す。
半田を形成する部分(パッド)には、ニッケル−金めっ
きを施す。
【0041】(12)パッド部分に半田転写法(フィル
ム上に半田パターンを形成し、この半田パターンをパッ
ドに接触させながら加熱して、半田をパッドに転写する
方法)やスクリーン印刷法などで転写する。以下、実施
例に基づいて説明する。なお、本願発明がこの実施例に
拘泥されないのは言うまでもない。
ム上に半田パターンを形成し、この半田パターンをパッ
ドに接触させながら加熱して、半田をパッドに転写する
方法)やスクリーン印刷法などで転写する。以下、実施
例に基づいて説明する。なお、本願発明がこの実施例に
拘泥されないのは言うまでもない。
【0042】
(1)厚さ1mmのガラスエポキシ又はBT(ビスマレイ
ミドトリアジン)から成る基板の両面に18μmの銅箔
がラミネートされて成る銅張積層板を出発材料とし、そ
の銅箔を常法に従いパターン状にエッチングすることに
より、基板1の両面に内層銅パターン21を形成する
(図1)。
ミドトリアジン)から成る基板の両面に18μmの銅箔
がラミネートされて成る銅張積層板を出発材料とし、そ
の銅箔を常法に従いパターン状にエッチングすることに
より、基板1の両面に内層銅パターン21を形成する
(図1)。
【0043】(2)基板を水洗いし、乾燥した後、その
基板を酸性脱脂してソフトエッチングして、塩化パラジ
ウムと有機酸からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を
付与し、活性化を行い、無電解めっき浴にてめっきを施
し、銅導電体とバイアホールパッドの表面にNi−P−
Cu合金の厚さ2.5μmの凹凸層(粗化面)を形成し
た。そして、水洗いし、その基板をホウふっ化スズーチ
オ尿素液からなる無電解スズめっき浴に50°Cで1時
間浸漬し、Ni−Cu−P合金粗化面の表面に厚さ0.
3μmのスズ置換めっき層を形成した。
基板を酸性脱脂してソフトエッチングして、塩化パラジ
ウムと有機酸からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を
付与し、活性化を行い、無電解めっき浴にてめっきを施
し、銅導電体とバイアホールパッドの表面にNi−P−
Cu合金の厚さ2.5μmの凹凸層(粗化面)を形成し
た。そして、水洗いし、その基板をホウふっ化スズーチ
オ尿素液からなる無電解スズめっき浴に50°Cで1時
間浸漬し、Ni−Cu−P合金粗化面の表面に厚さ0.
3μmのスズ置換めっき層を形成した。
【0044】(3)ここで、DMDG(ジメチルグリコ
ールジメチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラッ
ク型エポキシ樹脂(日本化薬製:分子量2500)の2
5%アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォ
ン(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製:商品名2E4MZ−CN)4重量部、感光性モノ
マーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチ
ル)イソシアヌレート(東亜合成製:商品名アロニック
スM325)10重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)5重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.5重量部、さらにこの混合
物に対してエポキシ樹脂粒子の平均粒径5.5μmを3
5重量部、平均粒径0.5μmのものを5重量部を混合
した後、さらにNMPを添加しながら混合し、ホモディ
スパー攪拌機で粘度2000cps に調整し、続いて3本
ロールで混練して感光性接着剤溶剤(層間樹脂絶縁材)
32を得る。
ールジメチルエーテル)に溶解したクレゾールノボラッ
ク型エポキシ樹脂(日本化薬製:分子量2500)の2
5%アクリル化物を70重量部、ポリエーテルスルフォ
ン(PES)30重量部、イミダゾール硬化剤(四国化
成製:商品名2E4MZ−CN)4重量部、感光性モノ
マーであるカプロラクトン変成トリス(アクロキシエチ
ル)イソシアヌレート(東亜合成製:商品名アロニック
スM325)10重量部、光開始剤としてのベンゾフェ
ノン(関東化学製)5重量部、光増感剤としてのミヒラ
ーケトン(関東化学製)0.5重量部、さらにこの混合
物に対してエポキシ樹脂粒子の平均粒径5.5μmを3
5重量部、平均粒径0.5μmのものを5重量部を混合
した後、さらにNMPを添加しながら混合し、ホモディ
スパー攪拌機で粘度2000cps に調整し、続いて3本
ロールで混練して感光性接着剤溶剤(層間樹脂絶縁材)
32を得る。
【0045】(4)絶縁材としては、クレゾールノボラ
ックエポキシ樹脂の25%アクリル化物(日本化薬製)
70重量%、ポリエーテルスルホン(三井東圧製)25
重量%、ベンゾフェノン4重量%、ミヒラーケトン0.
4重量%およびイミダゾール系硬化剤を混合した後、ノ
ルマルメチルピロリドン(NMP)を添加しながらホモ
ディスパ攪拌器で粘度30Pa・sに調整し、さらに3
本ロールで混練して絶縁材31とした。これを塗布して
乾燥させ、ついで前述の感光性接着剤を塗布して絶縁材
31、接着剤層32の2層を形成する(図2)。
ックエポキシ樹脂の25%アクリル化物(日本化薬製)
70重量%、ポリエーテルスルホン(三井東圧製)25
重量%、ベンゾフェノン4重量%、ミヒラーケトン0.
4重量%およびイミダゾール系硬化剤を混合した後、ノ
ルマルメチルピロリドン(NMP)を添加しながらホモ
ディスパ攪拌器で粘度30Pa・sに調整し、さらに3
本ロールで混練して絶縁材31とした。これを塗布して
乾燥させ、ついで前述の感光性接着剤を塗布して絶縁材
31、接着剤層32の2層を形成する(図2)。
【0046】(6)次にフォトマスクフィルムを積層
し、400mJ/cm2 の紫外線を照射して露光する。 (7)基板をDMTG溶液でスプレー現像することによ
り、接着剤層に100μmφのバイアホールとなる開口
4を形成する(図3)。さらに、当該基板を超高圧水銀
灯にて3000mJ/cm2 で露光し、100°Cで1時
間、その後150°Cで5時間加熱処理することによ
り、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた
開口(バイアホール形成用開口)を有する厚さ50μm
の樹脂層間絶縁層を形成する。なお、バイアホールとな
る開口4には、スズメッキ層を部分的に露出させる。
し、400mJ/cm2 の紫外線を照射して露光する。 (7)基板をDMTG溶液でスプレー現像することによ
り、接着剤層に100μmφのバイアホールとなる開口
4を形成する(図3)。さらに、当該基板を超高圧水銀
灯にて3000mJ/cm2 で露光し、100°Cで1時
間、その後150°Cで5時間加熱処理することによ
り、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた
開口(バイアホール形成用開口)を有する厚さ50μm
の樹脂層間絶縁層を形成する。なお、バイアホールとな
る開口4には、スズメッキ層を部分的に露出させる。
【0047】(8)開口4の形成された基板を、クロム
酸に2分間浸漬し、樹脂層間絶縁層中のエポキシ樹脂粒
子を溶解して、当該樹脂層間絶縁層の表面を粗化し、そ
の後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬した後に水洗い
する(図4)。 (9)この粗面化処理(粗化深さ20μm)を行った基
板にパラジウム触媒(アトテック製)を付与することに
より、樹脂層間絶縁層及びバイアホール用開口に触媒核
を付ける。
酸に2分間浸漬し、樹脂層間絶縁層中のエポキシ樹脂粒
子を溶解して、当該樹脂層間絶縁層の表面を粗化し、そ
の後、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬した後に水洗い
する(図4)。 (9)この粗面化処理(粗化深さ20μm)を行った基
板にパラジウム触媒(アトテック製)を付与することに
より、樹脂層間絶縁層及びバイアホール用開口に触媒核
を付ける。
【0048】(10)一方、DMDGに溶解させた40
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与
のオリゴマー(分子量4000)、メチルエチルケトン
に溶解させた20重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製 エピコート1001)、イミダゾ
ール硬化剤(四国化成製:商品名2P4MZ)、感光性
モノマーであるアクリル系イソシアネート(東亜合成
製:商品名アロニックスM215)、光開始剤としての
ベンゾフェノン(関東化学製)、光増感剤としてのミヒ
ラーケトン(関東化学製)を以下の組成でNMPを用い
て混合して、ホモディスパー攪拌機で粘度3000cps
に調整し、続いて3本ロールで混練して液状レジスト6
0を得た。樹脂組成物;感光性エポキシ/E1001/
BP/MK/イミダゾール=70/30/10/5/
0.5/5
重量%のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化
薬製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与
のオリゴマー(分子量4000)、メチルエチルケトン
に溶解させた20重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製 エピコート1001)、イミダゾ
ール硬化剤(四国化成製:商品名2P4MZ)、感光性
モノマーであるアクリル系イソシアネート(東亜合成
製:商品名アロニックスM215)、光開始剤としての
ベンゾフェノン(関東化学製)、光増感剤としてのミヒ
ラーケトン(関東化学製)を以下の組成でNMPを用い
て混合して、ホモディスパー攪拌機で粘度3000cps
に調整し、続いて3本ロールで混練して液状レジスト6
0を得た。樹脂組成物;感光性エポキシ/E1001/
BP/MK/イミダゾール=70/30/10/5/
0.5/5
【0049】(11)上記の触媒核付与の処理を終えた
基板20の両面に、上記液状レジスト60をロールコー
ターを用いて塗布し、60°Cで30分の乾燥を行い厚
さ30μmレジスト層を形成する(図5)。 (12)次に、アクリル酸2−エチルヘキシン78重量
部、アクリル酸メチル20重量部、無水マレイン酸2重
量部、ヘキサメチレンジアミン0.5重量部を混合して
して調製した粘着剤を片面に塗布して厚さ2μmの粘着
剤層が形成された厚さ12μmのPETフィルム8をは
りつけ、50℃、4kg/cm2 で加圧して密着させた
(図13)。ついでフォトマスクフィルム7を載置して
400mJ/cm2 の紫外線を照射し、露光する(図
6)。
基板20の両面に、上記液状レジスト60をロールコー
ターを用いて塗布し、60°Cで30分の乾燥を行い厚
さ30μmレジスト層を形成する(図5)。 (12)次に、アクリル酸2−エチルヘキシン78重量
部、アクリル酸メチル20重量部、無水マレイン酸2重
量部、ヘキサメチレンジアミン0.5重量部を混合して
して調製した粘着剤を片面に塗布して厚さ2μmの粘着
剤層が形成された厚さ12μmのPETフィルム8をは
りつけ、50℃、4kg/cm2 で加圧して密着させた
(図13)。ついでフォトマスクフィルム7を載置して
400mJ/cm2 の紫外線を照射し、露光する(図
6)。
【0050】(13)PETフィルムおよびフォトマス
クフィルムを取り除き、レジスト層をDMTGで溶解現
像し、基板上に導体回路パターン部の抜けたメッキ用レ
ジストを形成し、更に、超高圧水銀灯にて6000mJ
/cm2 で露光し、100°Cで1時間、その後、15
0°Cで3時間の加熱処理を行い、層間絶縁層の上に永
久レジスト61を形成する(図7)。 (14)上記永久レジスト61の形成された基板に、予
めめっき前処理(具体的には硫酸処理等及び触媒核の活
性化)を施し、その後、無電解銅めっき浴による無電解
めっきによって、レジスト非形成部に厚さ15μm程度
の無電解銅めっきを析出させて、外層銅パターン22、
バイアホール22を形成することにより、アディティブ
法による導体層を形成した(図8)。
クフィルムを取り除き、レジスト層をDMTGで溶解現
像し、基板上に導体回路パターン部の抜けたメッキ用レ
ジストを形成し、更に、超高圧水銀灯にて6000mJ
/cm2 で露光し、100°Cで1時間、その後、15
0°Cで3時間の加熱処理を行い、層間絶縁層の上に永
久レジスト61を形成する(図7)。 (14)上記永久レジスト61の形成された基板に、予
めめっき前処理(具体的には硫酸処理等及び触媒核の活
性化)を施し、その後、無電解銅めっき浴による無電解
めっきによって、レジスト非形成部に厚さ15μm程度
の無電解銅めっきを析出させて、外層銅パターン22、
バイアホール22を形成することにより、アディティブ
法による導体層を形成した(図8)。
【0051】(15)このアディティブ法により形成し
た導体層を、ベルトサンダーにて#600のベルト研磨
紙を用いて片面を研磨する。このとき、永久レジストの
表層とバイアホールの銅の最上面とが揃うまで研磨を行
う。その後、ベルトサンダーによる傷を取り除くためバ
フ研磨を行う(バフのみの研磨でもよい)。そして、他
方の面も同様に研磨して、両面のフラットなプリント基
板を形成する。そして、前述の工程を繰り返すことによ
り、アディティブ法による導体層23を更にもう一層形
成する。このように配線層をビルドアップしてゆくこと
により6層の多層プリント配線板を形成する(図9)。
た導体層を、ベルトサンダーにて#600のベルト研磨
紙を用いて片面を研磨する。このとき、永久レジストの
表層とバイアホールの銅の最上面とが揃うまで研磨を行
う。その後、ベルトサンダーによる傷を取り除くためバ
フ研磨を行う(バフのみの研磨でもよい)。そして、他
方の面も同様に研磨して、両面のフラットなプリント基
板を形成する。そして、前述の工程を繰り返すことによ
り、アディティブ法による導体層23を更にもう一層形
成する。このように配線層をビルドアップしてゆくこと
により6層の多層プリント配線板を形成する(図9)。
【0052】(16)表面の導体回路を被覆するように
液状レジスト90を塗布する。この液状レジスト90
は、(10)で調製したものにフタロシアニングリーン
を混合して着色したものである。塗布後、60°Cで3
0分の乾燥を行い厚さ30μmレジスト層90を形成す
る(図10)。次に、(12)と同一の粘着剤を片面に
塗布して厚さ2μmの粘着剤層が形成された厚さ12μ
mのPETフィルム8をはりつけ、50℃、4kg/c
m2 で加圧して密着させた。ついでフォトマスクフィル
ム7を載置して400mJ/cm2 の紫外線を照射し、
露光する(図11)。
液状レジスト90を塗布する。この液状レジスト90
は、(10)で調製したものにフタロシアニングリーン
を混合して着色したものである。塗布後、60°Cで3
0分の乾燥を行い厚さ30μmレジスト層90を形成す
る(図10)。次に、(12)と同一の粘着剤を片面に
塗布して厚さ2μmの粘着剤層が形成された厚さ12μ
mのPETフィルム8をはりつけ、50℃、4kg/c
m2 で加圧して密着させた。ついでフォトマスクフィル
ム7を載置して400mJ/cm2 の紫外線を照射し、
露光する(図11)。
【0053】PETフィルム8およびフォトマスクフィ
ルム7を取り除き、レジスト層をDMTGで溶解現像
し、基板上に導体回路パターン部の抜けたメッキ用レジ
ストを形成し、更に、超高圧水銀灯にて6000mJ/
cm2 で露光し、100°Cで1時間、その後、150
°Cで3時間の加熱処理を行い、層間絶縁層の上にソル
ダーレジスト91を形成する(図12)。 (17)常法に従い、ニッケルー金めっきを施す。
ルム7を取り除き、レジスト層をDMTGで溶解現像
し、基板上に導体回路パターン部の抜けたメッキ用レジ
ストを形成し、更に、超高圧水銀灯にて6000mJ/
cm2 で露光し、100°Cで1時間、その後、150
°Cで3時間の加熱処理を行い、層間絶縁層の上にソル
ダーレジスト91を形成する(図12)。 (17)常法に従い、ニッケルー金めっきを施す。
【0054】(比較例1)基本的に実施例と同様である
が、めっきレジストおよびソルダーレジストの形成にあ
たり、液状レジストの塗布、乾燥後、PETフィルムを
貼付しなかった。
が、めっきレジストおよびソルダーレジストの形成にあ
たり、液状レジストの塗布、乾燥後、PETフィルムを
貼付しなかった。
【0055】(比較例2)基本的に実施例と同様である
が、液状レジストではなく、PETフィルムにスキージ
などでレジスト組成物を薄く延ばして製造したいわゆる
ドライフィルム型のレジストを使用した。実施例、比較
例で製造した配線板について、めっきレジストについて
は粗化面との追従性、またソルダーレジストについて
は、表面段差、バイアホールとの追従性を調べた。ま
た、現像により膜減り、フォトマスクの位置ずれを調べ
た。
が、液状レジストではなく、PETフィルムにスキージ
などでレジスト組成物を薄く延ばして製造したいわゆる
ドライフィルム型のレジストを使用した。実施例、比較
例で製造した配線板について、めっきレジストについて
は粗化面との追従性、またソルダーレジストについて
は、表面段差、バイアホールとの追従性を調べた。ま
た、現像により膜減り、フォトマスクの位置ずれを調べ
た。
【0056】めっきレジストの追従性については、−
65〜125℃にサイクル試験を1000回行い、10
ピースのうち、粗化面との剥離が見られるピースの数を
調べた。 ソルダーレジストの追従性については、表面のバイア
ホールにソルダーレジストが埋まっているか否かを光学
顕微鏡で確認し、埋まっていないピースの数を調べた。 現像による膜減りは、現像の前後で膜の厚さの減り量
を光学顕微鏡で測定した。 フォトマスクの位置ずれは、下層の内層パッドと層間
絶縁材に形成されたバイアホールの位置のずれ量を光学
顕微鏡で観察した。
65〜125℃にサイクル試験を1000回行い、10
ピースのうち、粗化面との剥離が見られるピースの数を
調べた。 ソルダーレジストの追従性については、表面のバイア
ホールにソルダーレジストが埋まっているか否かを光学
顕微鏡で確認し、埋まっていないピースの数を調べた。 現像による膜減りは、現像の前後で膜の厚さの減り量
を光学顕微鏡で測定した。 フォトマスクの位置ずれは、下層の内層パッドと層間
絶縁材に形成されたバイアホールの位置のずれ量を光学
顕微鏡で観察した。
【0057】
【表1】
【0058】
【発明の効果】以上説明のように、本願発明では、粗化
面やバイアホールに追従する液状レジストであっても、
透光性フィルムを密着させることができ、そのため酸素
による硬化阻害に起因する膜減りやフォトマスクフィル
ムの位置ずれがない。そのため、信頼性の高い配線板を
製造できる。
面やバイアホールに追従する液状レジストであっても、
透光性フィルムを密着させることができ、そのため酸素
による硬化阻害に起因する膜減りやフォトマスクフィル
ムの位置ずれがない。そのため、信頼性の高い配線板を
製造できる。
【図1】〜
【図12】本願発明の製造工程の模式図
【図13】液状レジスト層、粘着剤層およびPETフィ
ルムの接合状態を表す模式図
ルムの接合状態を表す模式図
1 基板 21 第1層の導体回路 31 絶縁材層 32 感光性接着剤(層間樹脂絶縁材) 4 バイアホール用の孔 5 粗化面 60 液状レジスト層(めっきレジスト用) 61 めっきレジスト 7 フィトマスクフィルム 8 PETフィルム 90 液状レジスト層 91 ソルダーレジスト(めっきレジスト用) 10 粘着剤層
Claims (6)
- 【請求項1】 基板上に無電解めっき用接着剤層を形成
し、その表面を粗化して感光性の液状レジストを塗布
し、露光、現像処理によりめっきレジストを形成し、つ
いで無電解めっき処理して導体回路を形成するプリント
配線板の製造方法において、 液状レジスト塗布後、粘着剤を介して透光性フィルムを
貼着し、ついで露光、現像処理してめっきレジストを形
成することを特徴とするプリント配線板の製造方法。 - 【請求項2】 基板上に形成された導体パッド表面に感
光性の液状レジストを塗布し、露光、現像処理により開
口部を設けて、ソルダーレジストを形成するプリント配
線板の製造方法において、 液状レジスト塗布後、粘着剤を介して透光性フィルムを
貼着し、ついで露光、現像処理してソルダーレジストを
形成することを特徴とするプリント配線板の製造方法。 - 【請求項3】 前記導体パッドは、無電解めっき用接着
剤層を粗化処理し、ここにめっきレジストを形成し、そ
のめっきレジストの非形成部に設けるものである請求項
2に記載のプリント配線板。 - 【請求項4】 前記透光性フィルムは、1〜20μmの
厚さである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント配
線板の製造方法。 - 【請求項5】 前記透光性フィルムは、熱可塑性樹脂フ
ィルムである請求項1〜3のいずれかに記載のプリント
配線板の製造方法。 - 【請求項6】 前記透光性フィルムは、ポリエチレンテ
レフタレートフィルムである請求項1〜3のいずれか一
つに記載のプリント配線板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21535296A JPH1041610A (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | プリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21535296A JPH1041610A (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | プリント配線板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1041610A true JPH1041610A (ja) | 1998-02-13 |
Family
ID=16670881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21535296A Pending JPH1041610A (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | プリント配線板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1041610A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999060831A1 (fr) * | 1998-05-19 | 1999-11-25 | Ibiden Co., Ltd. | Circuit imprime et son procede de fabrication |
| JP2008117929A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Sekisui Chem Co Ltd | ソルダレジスト保護用粘着テープ、その製造方法及びソルダレジストの表面粗さ制御方法 |
| JP2010278194A (ja) * | 2009-05-28 | 2010-12-09 | Sekisui Chem Co Ltd | ソルダレジスト保護用粘着テープ及びソルダレジストの表面平滑性制御方法 |
| JP2012042633A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | レジストパターンの作製方法 |
| US8238114B2 (en) | 2007-09-20 | 2012-08-07 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and method for manufacturing same |
-
1996
- 1996-07-25 JP JP21535296A patent/JPH1041610A/ja active Pending
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999060831A1 (fr) * | 1998-05-19 | 1999-11-25 | Ibiden Co., Ltd. | Circuit imprime et son procede de fabrication |
| US6407345B1 (en) | 1998-05-19 | 2002-06-18 | Ibiden Co., Ltd. | Printed circuit board and method of production thereof |
| KR100791281B1 (ko) * | 1998-05-19 | 2008-01-04 | 이비덴 가부시키가이샤 | 프린트배선판 및 프린트배선판의 제조방법 |
| US7332816B2 (en) | 1998-05-19 | 2008-02-19 | Ibiden Co., Ltd. | Method of fabricating crossing wiring pattern on a printed circuit board |
| US7525190B2 (en) | 1998-05-19 | 2009-04-28 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board with wiring pattern having narrow width portion |
| US8629550B2 (en) | 1998-05-19 | 2014-01-14 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board with crossing wiring pattern |
| US8018046B2 (en) | 1998-05-19 | 2011-09-13 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board with notched conductive traces |
| JP2008117929A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Sekisui Chem Co Ltd | ソルダレジスト保護用粘着テープ、その製造方法及びソルダレジストの表面粗さ制御方法 |
| US8238114B2 (en) | 2007-09-20 | 2012-08-07 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and method for manufacturing same |
| TWI396475B (zh) * | 2007-09-20 | 2013-05-11 | Ibiden Co Ltd | 印刷布線板 |
| TWI396478B (zh) * | 2007-09-20 | 2013-05-11 | Ibiden Co Ltd | 印刷布線板 |
| US8959760B2 (en) | 2007-09-20 | 2015-02-24 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and method for manufacturing same |
| US9060459B2 (en) | 2007-09-20 | 2015-06-16 | Ibiden Co., Ltd. | Printed wiring board and method for manufacturing same |
| JP2010278194A (ja) * | 2009-05-28 | 2010-12-09 | Sekisui Chem Co Ltd | ソルダレジスト保護用粘着テープ及びソルダレジストの表面平滑性制御方法 |
| JP2012042633A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | レジストパターンの作製方法 |
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