JPH1046317A - 酸化チタン薄膜の製造方法 - Google Patents

酸化チタン薄膜の製造方法

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JPH1046317A
JPH1046317A JP21608296A JP21608296A JPH1046317A JP H1046317 A JPH1046317 A JP H1046317A JP 21608296 A JP21608296 A JP 21608296A JP 21608296 A JP21608296 A JP 21608296A JP H1046317 A JPH1046317 A JP H1046317A
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JP
Japan
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titanium oxide
thin film
hydrogen peroxide
substrate
film
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Application number
JP21608296A
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English (en)
Inventor
Katsuyuki Nakano
勝之 中野
Tadashi Shimoyama
正 下山
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Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 過酸化水素水溶液からのディップ法により、
膜厚が均一でかつ高精度で制御可能であるような酸化チ
タン薄膜の製造方法を提供する。 【解決手段】 基板をアモルファス酸化チタンの過酸化
水素水溶液中に浸漬させ、さらに熱処理を行なうことに
よって該基板の表面に酸化チタン薄膜を形成する方法に
おいて、前記アモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶
液の粘度を3cp以下とすることにより、基板面内で厚
さの均一な薄膜を得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、酸化チタン薄膜の
製造方法に関し、特に酸化チタンの過酸化水素水溶液か
ら結晶性の酸化チタン薄膜を製造する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】酸化チタン膜は、その強度を利用して光
学素子や一般使用のガラス等の保護コーティングとして
用いられ、また、屈折率など光学的特性を利用した光学
機能コーティングや光活性能力を利用した光触媒コーテ
ィングに用いられている。
【0003】従来、酸化チタン薄膜の形成はゾルゲル法
により行われていた(横尾俊信、神谷寛一、作花済夫、
窯業協会誌95(2)150-155(1987))が、より簡単に
透明な酸化チタン薄膜を得る方法として、チタニアの過
酸化水素水溶液からの方法が提案されている(K.MATSUM
OTO, T.TAKESHITA, K.NAKANO, J. Crystal Growth 99、
621-624(1990)、特開平7−309618号公報)。こ
の方法は、チタンアルコキシドの加水分解から得られた
アモルファスチタニアを過酸化水素水に溶解させた水溶
液を用い、この液に薄膜を形成すべき基板を浸漬させる
いわゆるディップ法により膜形成を行うものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなチタニア
の過酸化水素水溶液からのディップ法により、酸化チタ
ン薄膜の形成を簡単な装置と工程で行なうことができる
ので、コストの低下をもたらすものであるが、膜厚の面
内均一性や、膜厚を数nmレベルで精密に制御すること
が難しく、高品質の膜を提供することが困難であった。
【0005】この発明は、上記課題に鑑み、過酸化水素
水溶液からのディップ法により、膜厚が均一でかつ高精
度で制御可能であるような酸化チタン薄膜の製造方法を
提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、基板をアモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶液
中に浸漬させ、さらに熱処理を行なうことによって該基
板の表面に酸化チタン薄膜を形成する方法において、前
記アモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶液の粘度を
3cp以下とすることにより、基板面内で厚さの均一な
薄膜を得ることを特徴とする酸化チタン薄膜の製造方法
である。
【0007】アモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶
液の粘度が3cpを超えると、基板の下端側の引き上げ
が遅れる部分の付着量が多くなって、膜厚の面内均一性
が得られない。一方、3cp以下であれば、基板の表面
に保持される液膜の量が上下の位置にかかわらず一定に
なる。この膜厚の均一性は、粘度が小さい程良くなる
が、あまり粘度が小さいと付着量自体が少なくなって能
率が悪く実用的でないと考えられる。
【0008】請求項2に記載の発明は、前記基板の引き
上げ速度を制御することにより膜厚を精密に制御するこ
とを特徴とする請求項1に記載の酸化チタン薄膜の製造
方法である。発明者等の知見により、膜厚は基板の引き
上げ速度に依存することが分かった。従って、この構成
によって、膜厚の均一性を確保しつつその厚さを目標値
通りに制御することができる。
【0009】請求項3に記載の発明は、前記熱処理工程
の後に酸処理を行い、これらの熱処理温度と酸処理時間
とを調節することにより、膜厚を精密に制御することを
特徴とする請求項1に記載の酸化チタン薄膜の製造方法
である。発明者等の知見により、熱処理温度が耐酸性を
有する膜厚を決定することが分かった。従って、これを
用いれば、熱処理工程の後に酸処理を行なうことで、膜
厚の均一性を確保しつつその厚さを目標値通りに制御す
ることができる。
【0010】請求項4に記載の発明は、前記アモルファ
ス酸化チタンの過酸化水素水溶液は、チタンアルコキシ
ドの加水分解から得られたアモルファスチタニアを過酸
化水素水に溶解させて作成されることを特徴とする請求
項1に記載の酸化チタン薄膜の製造方法である。
【0011】
【実施例】酸化チタン過酸化水素水溶液中へのディップ
法によりチタニア薄膜を形成する全体の工程を図1のフ
ローチャートにより説明する。まず、アモルファス状チ
タニア粒子を以下のようにして作成する(ステップ
1)。すなわち、チタンテトライソプロポキシド(TI
P)とイソプロパノール(IPA)をモル比1:5で混
合し、撹拌を行った後、あらかじめ全組成比がTIP/
IPA/水=1/10/4となるように混合しておいた
溶液を加え、278゜Kに保って撹拌した。この白色懸
濁液に対して吸引濾過を行い、生成した微粒子を分離
し、372゜Kで20時間の通気乾燥を行う。
【0012】次に、この微粒子を31wt%過酸化水素
水に入れ、293゜Kの、恒温槽中で撹拌して溶解さ
せ、チタニアゲルを作成する(ステップ2)。この様に
して得られた黄色透明のゲル体に過酸化水素水を再添加
し(ステップ3)、これにより酸化チタン過酸化水素水
溶液を得た(ステップ4)。
【0013】(実施例1)次に、このようにして作成し
た酸化チタン過酸化水素水溶液中に、成膜すべき基板
(パイレックス製ライドガラス)を浸漬させてディップ
コーティングを行った(ステップ5)。ここでは、実施
例として過酸化水素水溶液の粘度を1cpとなるように
調整し、引き上げ速度を2cm/分、5cm/分、10
cm/分と変化させてそれぞれ1回のディップを行った
(ステップ6)。粘度の調整は、低粘度の溶液を作成
し、温度を5℃に保った状態で撹拌乾燥させ、水分を蒸
発させることにより行った。このようにして液膜を形成
した基板を、所定雰囲気の炉内において773゜Kで焼
成し、チタニア薄膜を形成した(ステップ7)。
【0014】この基板を、図2に示すように浸漬方向
(上下方向)に沿って1cm間隔で区画し、それぞれの
点でUV−vis(紫外可視光吸収分光)分光計によっ
て膜厚を測定した。その結果を、図3に示す。このよう
に、測定位置にかかわらず、それぞれ5〜6nm、13
〜14nm、16〜17nmの均一な膜厚を持つ酸化チ
タン薄膜を形成することができた。なお、膜厚と引き上
げ速度の間には、図5に示すような関係があり、これに
基づいて引き上げ速度を決めれば、高い精度で所望の膜
厚を得ることができることが分かる。
【0015】一方、比較例として、酸化チタンの過酸化
水素水溶液の粘度を5cpとし、引き上げ速度を同様に
変化させて、ディップ法により膜形成を行った。実施例
と同様にして膜厚を測定したが、図4に示すように、基
板の下端側の付着量が多くなって、膜厚の面内均一性が
得られなかった。
【0016】(実施例2)実施例1と同様に、粘度が1
cpである酸化チタンの過酸化水素水溶液を用いて、3
73゜Kから100度をピッチとして温度を変えて焼成
を行った。この工程を複数回繰り返して、膜厚45nm
の酸化チタン薄膜を得た。この膜を、10N硫酸に浸し
て酸処理を行いながら、膜厚を測定した。
【0017】この結果、図6に示すように、673゜K
では45時間以上の処理の後に、酸に安定な一定の厚さ
5nmの薄膜が形成された。一方、673゜K以下の温
度で焼成したものは10時間で完全に溶解し、773゜
Kで焼成したものは、酸に殆ど溶解せず、そのまま残留
した。この結果から、酸に対して耐食性を有する膜の厚
さは、焼成温度によって決まり、その限界温度は673
゜Kであることが分かった。
【0018】(実施例3)実施例2と同様な膜厚45n
mの酸化チタン薄膜を用い、5N塩酸に浸し、酸処理を
行った。この酸処理の結果、実施例2と同様な結果を得
た。これにより、酸に対して耐食性を有する膜の厚さ
は、焼成温度によって決まることが分かった。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、アモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶液の粘度
を所定の値に制御することにより、膜厚が均一であり、
かつ例えば、数nmオーダーの高精度で制御可能である
ような酸化チタン薄膜の製造方法を提供するので、装置
や工程が簡単であるディップ法の利点を生かして、低コ
ストで高品質の酸化チタン薄膜を製造することができ、
この素材の有効利用に途を開くものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】ディップ法による酸化チタン薄膜の全体の製造
工程を示すものである。
【図2】基板サンプルの膜厚測定位置を示す図である。
【図3】この発明の実施例の膜厚測定結果を示すグラフ
である。
【図4】比較例の膜厚測定結果を示すグラフである。
【図5】実施例の引き上げ速度と膜厚の関係を示すグラ
フである。
【図6】焼成温度と酸処理時の膜厚変化を示す図であ
る。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板をアモルファス酸化チタンの過酸化
    水素水溶液中に浸漬させ、さらに熱処理を行なうことに
    よって該基板の表面に酸化チタン薄膜を形成する方法に
    おいて、 前記アモルファス酸化チタンの過酸化水素水溶液の粘度
    を3cp以下とすることにより、基板面内で厚さの均一
    な薄膜を得ることを特徴とする酸化チタン薄膜の製造方
    法。
  2. 【請求項2】 前記基板の引き上げ速度を制御すること
    により膜厚を精密に制御することを特徴とする請求項1
    に記載の酸化チタン薄膜の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記熱処理工程の後に酸処理を行い、こ
    れらの熱処理温度と酸処理時間とを調節することによ
    り、膜厚を精密に制御することを特徴とする請求項1に
    記載の酸化チタン薄膜の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記アモルファス酸化チタンの過酸化水
    素水溶液は、チタンアルコキシドの加水分解から得られ
    たアモルファスチタニアを過酸化水素水に溶解させて作
    成されることを特徴とする請求項1に記載の酸化チタン
    薄膜の製造方法。
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