JPH11160734A - 液晶電気光学装置 - Google Patents
液晶電気光学装置Info
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- JPH11160734A JPH11160734A JP9344402A JP34440297A JPH11160734A JP H11160734 A JPH11160734 A JP H11160734A JP 9344402 A JP9344402 A JP 9344402A JP 34440297 A JP34440297 A JP 34440297A JP H11160734 A JPH11160734 A JP H11160734A
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Abstract
続工程において、接続時に生じる位置ずれと、基板の収
縮による位置ずれによって、接続不良が増大し、信頼性
が低下するという問題点を解決する手段を提供すること
を課題とする。 【解決手段】 スティック基板103全体の形状を長方
形(Lx1 ×Ly1 )とし、隣接する電極パッドをY方
向にTsずらして配置することにより、パネルアレイ基
板の引き出し配線とスティック基板の引き出し配線とを
高精度で接続でき、歩留りが高く表示特性の良い電気光
学装置を得る。
Description
用いた液晶電気光学装置に関し、特に、その構成に関す
るものである。
一般的である。しかし、CRTは装置の容積、重量、消
費電力が大きく、特に、大面積の表示装置には適してい
なかった。そこで、近年、CRTに比べ軽量化及び低消
費電力化が容易に実現できる液晶電気光学装置が注目さ
れている。
して平行方向と垂直方向で誘電率が異なることを利用
し、光の偏光や透過光量、さらには散乱量を制御するこ
とでON/OFFすなわち明暗を表示する。液晶材料と
してはTN液晶、STN液晶、強誘電液晶が一般的であ
る。
ス等の絶縁基板上にTFTを有する半導体装置、例え
ば、薄膜トランジスタ(TFT)を画素の駆動に用いる
アクティブマトリクス型の液晶電気光学装置が盛んに開
発されている。
置のパネル部分は、ガラス基板上に信号線と走査線をマ
トリクス状に組み合わせ、その交点部分近傍にTFTを
配置した構成を有したものである。この構成において、
TFTのソース電極は信号線に接続され、ゲート電極は
走査線に接続されている。また、ドレイン電極は保持容
量と画素領域の液晶に対応して配置された画素電極に接
続されている。液晶は対向電極と画素電極の間に挟まれ
て駆動される。この対向電極は、対向基板上に作り込ま
れる。
駆動するための駆動回路部分は、単結晶の半導体集積回
路で形成されており、テープ自動ボンディング(TA
B)法や、チップ・オン・グラス(COG)法によっ
て、アクティブマトリクスに接続されている。
線の数は数百にもおよぶものである。そして、従来の周
辺駆動回路は、ICパッケージや半導体チップであるた
め、これらの端子を基板上の電極配線と接続するために
は、配線を引き回さなければならず、表示画面と比較し
て、周辺駆動回路部分の面積が大きくなってしまってい
た。特に大面積の表示装置の場合、更に電極配線が多く
なるため、ICの数も多くなりコスト高になるという問
題があった。
して、パネル部分と同一基板上に駆動部分を配置する方
法が考えられている。この場合の駆動部分は、薄膜トラ
ンジスタを用いて、パネル部分と同様に形成される。し
かし、同一基板にパネル部分と駆動部分を一体形成した
場合は、熱や外部からの力が加えられると基板全体にた
わみ等が生じて、基板間隔制御物(スペーサ等)によ
り、同一基板に設けられた周辺駆動回路に影響を与えて
いた。その結果、周辺駆動回路が正常に動作せず、液晶
電気光学装置の信頼性、耐久性の低下を引き起こしてい
た。また、パネル部分と駆動部分を同時に形成するた
め、特に、大面積の表示装置の場合、歩留りが低下して
いた。
法として、駆動部分を他の支持基板上に形成し、パネル
アレイ基板(パネル部分が形成された基板)に接着する
方法や、パネルアレイ基板に他の支持基板上に形成され
た駆動部分を接着後、支持基板を除去する方法が考えら
れている。そして、この方法によって得られる構成は、
より一層の小型化、軽量化が図ることができ、さらに表
示装置の信頼性の向上を図ることができた。また、この
方法は、パネルアレイ基板とスティック基板(駆動部分
が形成された基板)を別々に形成するため、接着前に電
気特性をテストして、良品・不良品に選別することがで
き、良品のパネルアレイ基板と良品のスティック基板を
接着することが可能であった。従って、特に、大面積の
表示装置の場合において、電気光学装置全体の歩留り及
び信頼性を大幅に向上させることができた。
駆動部を他の支持基板上に形成し、パネルアレイ基板に
接着する方法を用いた場合において、電気光学装置全体
の信頼性及び製造歩留りは、主に、 〔1〕パネルアレイ基板の作製およびパネル作製工程 〔2〕スティック基板(駆動部分が形成された支持基
板)の製造工程 〔3〕スティック基板とパネルアレイ基板との接続工程 に左右される。
よびパネル作製工程においては、パネル部分の画素TF
Tの半導体材料としてアモルファスシリコン(a−S
i)を用いることが適している。即ち、作製温度が低
く、気相法で比較的容易に作製することが可能で量産性
に富むために、最も一般的に用いられている非晶質珪素
半導体(アモルファスシリコン)をパネル部分の半導体
材料として用いることが適している。
においては、駆動部分のTFTの半導体材料として結晶
性を有する珪素半導体(ポリシリコン)を用いることが
適している。即ち、アモルファスシリコンよりも、導電
率等の物性が優れ、高速駆動の可能な、結晶性を有する
珪素半導体を駆動部分のTFTの半導体材料として用い
ることが適している。尚、結晶性を有する珪素半導体と
しては、多結晶珪素、微結晶珪素、結晶成分を含む非晶
質珪素、結晶性と非晶質性の中間の状態を有するセミア
モルファス珪素等が知られている。
を得る方法としては、非晶質の半導体膜を成膜してお
き、長時間、熱エネルギーを印加(熱アニール)するこ
とにより結晶性を有せしめるという方法が知られてい
る。しかしながら、加熱温度として600℃以上の高温
で長時間の処理をすることが必要であり、そのため、基
板が不可逆的に収縮することが問題となっている。
晶質珪素半導体で形成したパネルアレイ基板と、TFT
の半導体材料として結晶性を有する珪素半導体で形成し
たスティック基板とを接着して、電気光学装置を作製す
ると、以下のような問題が生じていた。
用いているため、基板はほとんどシュリンク(基板の収
縮)しないが、スティック基板は、結晶性を有する珪素
半導体を得るために高熱処理を施しているため、シュリ
ンクが生じていた。また、その高熱処理に耐えうる基板
を用いるため、パネルアレイ基板とは基板自体が異なっ
ていた。即ち、パネルアレイ基板とスティック基板と
で、基板の収縮幅の違いが生じていた。
ク基板の形状は、一辺が長い長方形(横(X方向)×縦
(Y方向))となるため、加熱前のアライメントが微妙
にずれ、長辺方向には顕著に影響を与えていた。
ティック基板との接続工程において、パネルアレイ基板
とスティック基板との収縮幅の違いによる配線パターン
の位置ずれによって、接続不良が増大し、信頼性が低下
するという問題点を有していた。スティック基板のX方
向端部において、スティック基板803のX方向の収縮
幅Dにより、配線パターンの位置ずれが生じている従来
例を図8に示した。そして、配線パターンの位置ずれ
は、長辺方向(X方向)の端部に向かうにつれ大きくな
り、電極パッド808と電極パッド806の重なる面積
が小さくなっていた。
ック基板との接続工程において、接続時に僅かに配線パ
ターンがずれることもあり、この配線パターンの位置ず
れによって、接続不良が増大し、信頼性が低下するとい
う問題点も有していた。
供するものである。より具体的には、特に、大面積の表
示画面を有する装置に適した製造方法、即ち、駆動部分
を他の支持基板上に形成し、パネルアレイ基板に接着す
る方法を用いて作製した電気光学装置を提供するもので
ある。
板の引き出し配線とスティック基板の引き出し配線とを
高精度で接続する手段を開示するとともに、歩留りが高
く表示特性の良い電気光学装置を提供することを目的と
する。
明の構成は、薄膜トランジスタを用いたスイッチング素
子及び前記スイッチング素子と接続された画素電極がマ
トリクス状に配置された第1の基板と、対向電極を有す
る第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板の間
に液晶とを介在せしめた液晶電気光学装置であって、液
晶を駆動させるための駆動回路及び該駆動回路と接続さ
れた複数の引き出し配線が配置された少なくとも1枚以
上の第3の基板を有し、前記第3の基板上には、前記複
数の引き出し配線の端部に電極パッドが設けられ、隣合
う電極パッドは、引き出し配線が延在している方向にず
らして配置することを特徴とする液晶電気光学装置であ
る。
スタを用いたスイッチング素子及び前記スイッチング素
子と接続された画素電極がマトリクス状に配置された第
1の基板と、対向電極を有する第2の基板と、前記第1
の基板と前記第2の基板の間に液晶とを介在せしめた液
晶電気光学装置であって、液晶を駆動させるための駆動
回路及び該駆動回路と接続された複数の引き出し配線が
配置された少なくとも1枚以上の第3の基板を有し、前
記第3の基板上には、複数の引き出し配線の端部に電極
パッドが配置され、前記電極パッドの形状が長方形であ
り、前記長方形の向かい合う2辺の一組が前記第3の基
板の収縮幅によって規定され、他の一組が前記第1の基
板に形成された配線パターンによって規定されたことを
特徴とする液晶電気光学装置である。
幅は、第1の基板の収縮幅より大きいことを特徴として
いる。
ンの少なくとも一部が走査配線であることを特徴として
いる。
ンの少なくとも一部が信号配線であることを特徴として
いる。
記第1の基板よりも高温の熱処理が施されている。
は前記第2の基板と実質的に同一平面とされている。
ッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活性層
は、アモルファスシリコンからなり、前記第3の基板の
スイッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活性
層は、結晶性を有するシリコンからなることを特徴とし
ている。
ッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活性層
は、結晶性を有するシリコンからなり、前記第3の基板
のスイッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活
性層は、結晶性を有するシリコンからなることを特徴と
している。
3の基板は、前記第3の基板の電極パッド部分の位置合
わせが行われるよう調節する位置合わせ手段を有してい
ることを特徴としている。
3の基板と異なる収縮率を有することを特徴としてい
る。
2及び図3に示す装置の概略構成を用い、図1に示すレ
イアウトをもつことを特徴とする。図1においては、3
個ずつ電極パッドをY方向にずらした構成を例示してい
るが、特に、ずらす電極パッドの個数は限定されないこ
とは言うまでもない。
要な要素である。この基板の収縮幅は、基板の熱処理温
度及び処理時間や、基板そのものの収縮率に基づき変化
する。基板の収縮率(単位距離当たりの収縮距離)は、
主に、基板の種類とその特性(熱膨張係数、歪み点
等)、サイズ、厚さ等に左右される。
以下に示すレイアウトの寸法(スケール)を適宜設計す
ることは言うまでもない。
全体の形状は、長方形(Lx1 ×Ly1 )とした。ま
た、スティック基板103を配置する位置は、画素マト
リクス形成領域104以外の箇所であればよい。この形
状及び配置は、主に画素マトリクスの形成領域104の
大きさによって、適宜設計される。
103の外周縁の長辺方向をX方向、短辺方向をY方向
とする。具体的には、スティック基板の駆動回路部10
5から画素マトリクスの形成領域104側に向かう方
向、即ち、スティック基板に設けられた引き出し配線1
07が延在している方向がY方向である。
回路部105から画素マトリクスの形成領域104側に
向かってスティック基板側引き出し配線107(線幅
W)が並列して設けられており、隣接する互いの引き出
し配線は、一定の間隔(線間隔P)を保ち、さらに、そ
れらの配線端部には、電極パッド106(スティック側
電極パッド)が設けられている。この線間隔P及び線幅
Wは、パネル側の配線パターン等に従い、適宜設計すれ
ばよい。このスティック側電極パッド106と電気的に
接続させるために、パネルアレイ基板101にもパネル
側引き出し配線109の端部に電極パッド108(パネ
ル側電極パッド)を設けている。
るわけではなく、導電部材(バンプ、異方性導電膜、導
電性微粒子、FPC等)を介して接続されるため、でき
るだけ電極パッドが重なる面積を拡大することが望まし
い。しかし、スティック基板の収縮が大きい場合、単純
に電極面を拡大するのみでは、隣接する電極パッドの短
絡、寄生容量の発生等の問題が発生する。
06の形状は、X方向を長辺(Sdx)、Y方向を短辺
(Sdy)とする長方形とした。この長辺(Sdx)
は、スティック基板のX方向の収縮幅Dおよび貼り合わ
せ時の位置ずれによって規定される。こうすることによ
って、特に問題となっていたスティック基板の長辺方向
(X方向)の変化(収縮や接着ずれ等)に対応すること
ができ、パネルアレイ基板側の引き出し配線109との
電気的接続をより確実なものとすることができる。
ずらして配置し、隣接する電極パッドの短絡をなくし
た。加えて、隣接する電極パッドをY方向にずらして配
置することで、電極パッド1個あたりのX方向のピッチ
を小さくすることができ、微細な画素ピッチに対応する
ことができる。このY方向にずれた距離(Ts)は、パ
ネル側の配線パターン等に従い、適宜設計すればよい。
また、隣接する電極パッド同士のY方向間隔(Rs)
や、電極パッドと隣接する配線とのX方向間隔(Ps)
もTsと同様に、適宜設計すればよい。
ド106に対応してパネル側電極パッド108をY方向
にTsずらして配置されている。
ド)の形状を、X方向を(Pdx)、Y方向を(Pd
y)の概略正方形状とした。このパッドの形状は電極パ
ッド106(スティック側電極パッド)よりも小さい形
状であれば、特に限定されない。以上のようにして電極
パッド108の形状および配置を最適化する。
す前と比較して長辺方向に収縮幅Dだけスティック基板
が収縮しても、スティック基板側の電極パッドと、パネ
ルアレイ基板側の電極パッドとが重なる面積は、基板全
面においてほぼ均一にすることができる。図1に示すよ
うに、収縮幅Dだけスティック基板が収縮した場合、電
極パッドの重なる面積は、概略パネルアレイ基板側のパ
ッドの面積(Pdx×Pdy)と等しい。また、長辺方
向の貼り合わせ時の位置ずれに対しても有効となる。従
って、パネルアレイ基板の引き出し配線とスティック基
板の引き出し配線とを高精度で接続することができる。
成、即ち、パネル側電極パッドを長方形とし、スティッ
ク側電極パッドをパネル側電極パッドよりも小さい正方
形状とする構成としてもよい。
施例に限定されないことは勿論である。 〔実施例1〕本実施例は、パネルの作製工程、スティッ
ク基板の作製工程、パネルアレイ基板とスティック基板
との接続工程の概略を示すものである。本実施例を図1
〜6を用いて説明する。図2は、本発明の電気光学装置
全体の簡略図である。また、図3は、図2中のA−A’
断面図およびB−B’断面図である。
ルアレイ基板400上に、作製温度が低く、気相法で比
較的容易に作製することが可能で量産性に富むために、
最も一般的に用いられている非晶質珪素半導体(アモル
ファスシリコン)を用いて画素マトリクスに用いられる
スイッチング素子を構成する。
ート材料(Al)を厚くし易いため大面積ディスプレイ
に適しているトップゲート構造のプレーナ型TFTを用
いてもよい。しかし、本実施例では、マスクが少なく量
産性に富んでいるボトムゲート型の薄膜トランジスタ
(代表的には逆スタガ型TFT)を用いた例を示す。
リコン)を用いた、代表的なボトムゲート型(チャネル
エッチ型)の薄膜トランジスタの作製工程の一例を示し
た。
ーニング7059)を用意する。パネルアレイ基板の作
製工程は、600℃以下で処理されるため、ほとんどす
べてのガラス材質で構成されるものを用いることができ
る。特に、量産性に適した基板であれば、特に限定され
ない。
膜を成膜しパターニングすることによって、ゲート電極
401を形成する。その後、ゲート絶縁膜402、非晶
質珪素膜403を積層する。そして、N型またはP型を
付与された珪素膜404を積層する。次に、珪素膜40
3及び404のパターニングを行い、図4(A)に示す
状態を得る。
ターニングすることによって、ソース電極405、ドレ
イン電極406を作製し、さらに、ITO電極407を
形成する。このITO電極407は、ソース、ドレイン
電極の成膜前に設ける構成としてもよい。
として、非晶質珪素膜403をエッチングする。最後に
保護膜(パッシベーション膜)408を成膜して、図4
(D)に示す状態を得ることができる。
ト型の薄膜トランジスタの作製方法を示したが、図5に
示すようなチャネルストップ型の構造を有する薄膜トラ
ンジスタを用いてもよい。501はゲート電極、502
はゲート電極、503は非晶質珪素膜、504はN型ま
たはP型を付与された珪素膜、505はソース電極、5
06はドレイン電極、507はITO電極、508は保
護膜、509はエッチングストッパー(チャネルストッ
パー)である。
クスのスイッチング素子としてパネルアレイ基板101
を作製する。
基板102(対向電極が作り込まれた基板)に配向膜を
成膜して、加熱・硬化(ベーク)させる。その次に、配
向膜の付着した基板表面を毛足の長さ2〜3mmのバフ
布(レイヨン・ナイロン等の繊維)で一定方向に擦り、
微細な溝を作るラビング工程を行う。その後、パネルア
レイ基板、もしくは対向基板のいずれかに、ポリマー系
・ガラス系・シリカ系等の球のスペーサを散布する。ス
ペーサ球の直径は、2μm〜6μm、好ましくは3μm
〜5μm、本実施例では、直径約4μmのものを用い
た。このスペーサ球の径の大きさは特に限定されない。
向基板のいずれかに、基板の外枠に設けられるシール材
110となる樹脂を塗布する。
ネルアレイ基板を貼り合わせる。このようにして、パネ
ルアレイ基板と対向基板を貼り合わせて形成されたパネ
ルの液晶注入口より液晶材料111を注入し、その後、
エポキシ系樹脂で液晶注入口を封止する。以上のように
して、パネルが作製される。
有する珪素半導体(ポリシリコン)を用いた、代表的な
トップゲート型の薄膜トランジスタの作製工程を示し
た。
実施例では石英基板)を用意し、その基板上には、図示
しないが、下地膜として300nm厚の絶縁性珪素膜を
形成する。絶縁性珪素膜とは、酸化珪素膜(SiOx
)、窒化珪素膜(Six Ny )、酸化窒化珪素膜(S
iOx Ny )のいずれか若しくはそれらの積層膜であ
る。
基板(代表的には結晶化ガラス、ガラスセラミクス等と
呼ばれる材料)を利用することもできる。その場合には
下地膜を減圧熱CVD法で設けて基板全面を絶縁性珪素
膜で囲む様にするとガラス基板からの成分物質の流出を
抑えられて効果的である。また、基板全面を非晶質珪素
膜で覆い、それを完全に熱酸化膜に変成させる手段もと
れる。
る珪素膜からなる島状半導体領域(シリコン・アイラン
ド)を形成した。〔図6(A)〕この結晶性を有する珪
素膜603の厚さは、必要とする半導体回路の特性を大
きく左右するが、20〜100nm、好ましくは15〜
45nmとすればよい。本実施例では45nmとした。
ここでは、結晶性を有する珪素膜を得る工程により、基
板は約100〜150ppmで収縮した。この収縮率
は、工程の条件により異なる。
を用いて結晶性を有する珪素膜を形成してもよいが、で
きるだけ基板の収縮を抑え、配線パターンの位置ずれを
最小限にとどめることが望ましいため、ニッケル等を触
媒元素として添加すると結晶化温度を下げ、アニール時
間が短縮できる特開平8−78329号公報記載の技術
を用いた。
技術で結晶性を有する珪素膜を得た後、リンを用いたゲ
ッタリング手段〔500〜700℃の加熱処理〕(特願
平9−65406号)で結晶化に利用した触媒元素を低
減している。他にもハロゲン元素を含む雰囲気中で〔7
00℃〜1000℃の〕加熱処理を(特願平8−301
249号)を行って触媒元素を低減してもよい。
D法によって、ゲート絶縁層を形成した後、熱酸化工程
を行って、酸化珪素膜を得る。さらに、アルミニウムま
たはアルミニウムを主成分とする材料(本実施例では2
wt%のスカンジウムを含有したアルミニウム膜)を成
膜し、パターニングしてゲート電極601・配線を形成
した。ゲート配線は、シリコンや、タングステン、チタ
ン等の金属や、あるいはそれらの珪化物でもよい。ゲー
ト電極をどのような材料で構成するかは、必要とされる
半導体回路の特性や基板の耐熱温度等によって決定すれ
ばよい。
の技術により多孔性の陽極酸化膜及び無孔性の陽極酸化
膜609を形成する。そして、これらの陽極酸化膜およ
びゲート電極601をマスクとして、ゲート絶縁層をエ
ッチングし、ゲート絶縁膜602を形成する。その後、
多孔性の陽極酸化膜を除去する。〔図6(B)〕
ピング法等の手段によりN型またはP型の不純物をシリ
コン・アイランドに導入し、チャネル形成領域610、
低濃度不純物領域611、そしてソース領域612、ド
レイン領域613を形成した。〔図6(C)〕
を堆積した。そして、これにコンタクトホールを開孔
し、アルミニウム合金配線を形成してソース電極605
及びドレイン電極606を得た。〔図6(D)〕
ーション膜)として、厚さ10〜50nmの窒化珪素膜
等をプラズマCVD法によって堆積し、これに、出力端
子の配線に通じるコンタクトホールを開孔し、配線を形
成する構成としてもよい。
を作製した。量産性を上げるためには、一枚の基板に複
数の周辺駆動回路を一度に作製することが望ましい。
の引き出し配線107および電極パッド106の配置
は、図1に示すレイアウトで構成したが、特に限定され
ない。
としてトップゲート構造を用い、その構造の例としてプ
レーナ型TFTを作製する場合を例にとったが、ボトム
型ゲート型TFT(代表的には逆スタガ型TFT)を用
いても構わない。
的に電極パッド106の上に形成した。このようにして
得られた回路を適当な大きさに分断して、スティック基
板が得られた。
続工程〕以上の工程により作製されたパネルアレイ基板
101とスティック基板103を圧力を加えて接着し
た。パネルアレイ基板とスティック基板を接続した装置
の断面図である図3を用いて説明する。本実施例では、
両基板共に厚さ1mmのものを用いたが、特に限定され
ない。
電極パッド106とパネルアレイ基板側の電極パッド1
08との位置合わせが容易に行われるように位置合わせ
マーカーを設ける構成とすることが望ましい。本実施例
においては、スティック基板及びパネルアレイ基板は透
光性を有する基板を用いることができるため、位置合わ
せが容易である。また、スティック基板のマーカーの配
置および形状は、電極パッドと同様に、特にスティック
基板の長辺方向のずれ(基板の収縮によるずれ、貼り合
わせ時のずれ等)を考慮して、適宜設計することが好ま
しい。
ド108とスティック基板側の電極パッド106は導電
部材112(導電性微粒子等)によって、電気的に接続
される。
113をスティック基板とパネルアレイ基板の隙間に注
入した。なお、接着材は、スティック基板とパネルアレ
イ基板を圧着する前に、いずれかの表面に、事前に塗布
しておいてもよい。
板101との間隔(基板の厚さを含む)Hpと、スティ
ック基板103とパネルアレイ基板101との間隔(基
板の厚さを含む)Hsを概略同一とすることが好まし
い。そのために、基板間隔を保つためのスペーサを基板
間に有する構成としてもよい。
て、15分間処理することにより、スティック基板とパ
ネルアレイ基板との電気的な接続と機械的な接着を完了
した。なお、完全な接着の前に、電気的な接続が不十分
であるか否かを、特開平7−14880に開示される方
法によってテストした後、本接着する方法を採用しても
よい。
基板上の引き出し配線107と液晶パネルを構成する基
板上の引き出し配線109とを接続する他の方法として
は、例えば、導電性微粒子を混合した紫外線硬化接着剤
を基板間に介在せしめ、圧力を加えながら紫外線を照射
して接続を行う方法、或いはFPCを用いる方法、異方
性導電ゴムを用いる方法等を用いてもよい。
との電気的な接続と機械的な接着を完了した後、スティ
ック基板を剥離する構成としてもよい。その場合は、剥
離後の周辺駆動回路上に、保護膜として、ポリイミド膜
等を形成することが好ましい。 〔実施例2〕図7に本実施例の装置全体概略図を示す。
作製方法に関しては、実施例1と同一工程を用いて作製
することができる。実施例1はスティック基板を2枚用
いる構成であったが、本実施例においては、スティック
基板を3枚用いた例を示した。また、コントロール回路
や、メモリ回路等を搭載したVLSI基板706を2枚
設けて、更なる集積化を行った。このVLSI基板は、
シリコン基板を用いる構成とした。このVLSI基板
は、1枚でも、2枚でも、それ以上の枚数を使用しても
構わない。
基板、703はスティック基板、704は、画素マトリ
クスの形成領域、705は駆動回路部、706はVLS
I基板、714はFPCを示している。
動回路の負担の軽減を行うことができる。さらに本実施
例の応用として、さらに複数のスティック基板(4枚以
上)、複数のVLSI基板を用いることが可能である。
てアクティブマトリクス型のものを用いたが、種類の異
なる他の液晶パネルを用いることも可能である。
互いに異なる熱処理工程が施され、スティック基板とパ
ネルアレイ基板とで収縮幅や、接着時のズレが生じて
も、本発明における電極パッド(収縮幅の大きい基板
側)形状とすることで、スティック基板とパネルアレイ
基板の接続不良の発生を防止することができる。また、
貼り合わせ時の目合わせずれに対しても接続不良を防止
できる。即ち、パネルアレイ基板とスティック基板との
引き出し配線同士を確実に接続することができる。
とで、主に基板の収縮により生じていたパネルアレイ基
板側の電極パッドとスティック基板側の電極パッドとが
重なる面積のバラツキを防ぐことができる。
ルの画素マトリクス領域が大型でスティック基板が長尺
となる場合でも、高精度で接続することが可能である。
即ち本発明の技術を用いれば、大容量、高密度表示パネ
ルの電極パッド接続を極めて容易、且つ、確実に行うこ
とができる。
より一層の小型化、軽量化が図れ、液晶電気光学装置の
信頼性の向上が図れる。
る。
る。
る。
る。
る。
ク基板のX方向の短辺長さ:Ly1 、Sdx:スティッ
ク基板側の電極パッドのX方向の長辺長さ、Sdy:ス
ティック基板側の電極パッドのY方向の短辺長さ、D:
スティック基板の長辺方向の収縮幅、P:線間隔、W:
線幅、Hp:(パネルアレイ基板の厚さ及び対向基板厚
さ含む)パネルの厚さ、Hs:(パネルアレイ基板の厚
さ及びスティック基板厚さ含む)パネルの厚さ、Ps:
スティック基板側の電極パッドと隣接する引き出し配線
とのX方向の間隔、Rs:隣接するスティック基板側の
電極パッド同士のY方向の間隔、Ts:隣接するスティ
ック基板側の電極パッド同士のX方向の間隔 101:パネルアレイ基板、102:対向基板、10
3:スティック基板、104:画素マトリクスの形成領
域、105:駆動回路部、106:スティック側電極パ
ッド、107:スティック側引き出し配線、108:パ
ネル側電極パッド、109:パネル側引き出し配線、1
10:シール材、111:液晶、112:導電部材、1
13:接着材、114:FPC
Claims (11)
- 【請求項1】薄膜トランジスタを用いたスイッチング素
子及び前記スイッチング素子と接続された画素電極がマ
トリクス状に配置された第1の基板と、対向電極を有す
る第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板の間
に液晶とを介在せしめた液晶電気光学装置であって、液
晶を駆動させるための駆動回路及び該駆動回路と接続さ
れた複数の引き出し配線が配置された少なくとも1枚以
上の第3の基板を有し、前記第3の基板上には、前記複
数の引き出し配線の端部に電極パッドが設けられ、隣合
う電極パッドは、引き出し配線が延在している方向にず
らして配置することを特徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項2】薄膜トランジスタを用いたスイッチング素
子及び前記スイッチング素子と接続された画素電極がマ
トリクス状に配置された第1の基板と、対向電極を有す
る第2の基板と、前記第1の基板と前記第2の基板の間
に液晶とを介在せしめた液晶電気光学装置であって、液
晶を駆動させるための駆動回路及び該駆動回路と接続さ
れた複数の引き出し配線が配置された少なくとも1枚以
上の第3の基板を有し、前記第3の基板上には、複数の
引き出し配線の端部に電極パッドが配置され、前記電極
パッドの形状が長方形であり、前記長方形の向かい合う
2辺の一組が前記第3の基板の収縮幅によって規定さ
れ、他の一組が前記第1の基板に形成された配線パター
ンによって規定されたことを特徴とする液晶電気光学装
置。 - 【請求項3】請求項2において、前記第3の基板の収縮
幅は、第1の基板の収縮幅より大きいことを特徴とする
液晶電気光学装置。 - 【請求項4】請求項2において、前記配線パターンの少
なくとも一部が走査配線であることを特徴とする液晶電
気光学装置。 - 【請求項5】請求項2において、前記配線パターンの少
なくとも一部が信号配線であることを特徴とする液晶電
気光学装置。 - 【請求項6】請求項1乃至5において、前記第3の基板
は、前記第1の基板よりも高温の熱処理が施されている
ことを特徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項7】請求項1乃至5において、前記第3の基板
の基板は前記第2の基板と実質的に同一平面とされてい
ることを特徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項8】請求項1乃至5において、前記第1の基板
のスイッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活
性層は、アモルファスシリコンからなり、前記第3の基
板のスイッチング素子として用いた薄膜トランジスタの
活性層は、結晶性を有するシリコンからなることを特徴
とする液晶電気光学装置。 - 【請求項9】請求項1乃至5において、前記第1の基板
のスイッチング素子として用いた薄膜トランジスタの活
性層は、結晶性を有するシリコンからなり、前記第3の
基板のスイッチング素子として用いた薄膜トランジスタ
の活性層は、結晶性を有するシリコンからなることを特
徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項10】請求項1乃至5において、前記第1の基
板及び第3の基板は、前記第3の基板の電極パッド部分
の位置合わせが行われるよう調節する位置合わせ手段を
有していることを特徴とする液晶電気光学装置。 - 【請求項11】請求項1乃至5において、前記第1の基
板は、第3の基板と異なる収縮率を有することを特徴と
する液晶電気光学装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9344402A JPH11160734A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 液晶電気光学装置 |
| US09/198,073 US6362866B1 (en) | 1997-11-28 | 1998-11-23 | Liquid crystal electrooptical device |
| US10/016,923 US6900873B2 (en) | 1997-11-28 | 2001-12-13 | Liquid crystal electrooptical device |
| US11/072,455 US7471368B2 (en) | 1997-11-28 | 2005-03-07 | Liquid crystal electrooptical device |
| US11/624,055 US8570479B2 (en) | 1997-11-28 | 2007-01-17 | Liquid crystal electrooptical device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9344402A JPH11160734A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 液晶電気光学装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006319714A Division JP4476991B2 (ja) | 2006-11-28 | 2006-11-28 | 電気光学装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11160734A true JPH11160734A (ja) | 1999-06-18 |
| JPH11160734A5 JPH11160734A5 (ja) | 2005-05-19 |
Family
ID=18368983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9344402A Withdrawn JPH11160734A (ja) | 1997-11-28 | 1997-11-28 | 液晶電気光学装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (4) | US6362866B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11160734A (ja) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040709 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040709 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060622 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060718 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060913 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061031 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061127 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20061130 |