JPH11214998A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

Info

Publication number
JPH11214998A
JPH11214998A JP10009429A JP942998A JPH11214998A JP H11214998 A JPH11214998 A JP H11214998A JP 10009429 A JP10009429 A JP 10009429A JP 942998 A JP942998 A JP 942998A JP H11214998 A JPH11214998 A JP H11214998A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
output
type
type sensor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10009429A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Nakamura
博之 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP10009429A priority Critical patent/JPH11214998A/ja
Priority to US09/229,995 priority patent/US6150967A/en
Priority to EP99300349A priority patent/EP0932047A1/en
Publication of JPH11214998A publication Critical patent/JPH11214998A/ja
Priority to US09/662,605 priority patent/US6392582B1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/124—Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • H03M1/1245—Details of sampling arrangements or methods
    • H03M1/125—Asynchronous, i.e. free-running operation within each conversion cycle
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2506—Arrangements for conditioning or analysing measured signals, e.g. for indicating peak values ; Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
    • G01R19/2509—Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/34—Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/44—Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/34—Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/44—Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal
    • H03M1/447—Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal using current mode circuits, i.e. circuits in which the information is represented by current values rather than by voltage values

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 電流出力型センサーの出力信号をAD変換処
理する場合に、電流出力型のセンサーの出力電流を直接
電流型AD変換手段に接続することで、簡易な回路構成
とすることができ、素子数の減少、消費電力の減少を図
ることができる。 【解決手段】 電流出力型センサー1と、電流出力型セ
ンサー1の出力側に接続され、該電流出力型センサーの
出力を直接AD変換する電流型AD変換手段3と、を有
する。また、電流型AD変換手段は1ピットAD変換器
3が複数直列に接続されている。また、電流出力型セン
サー1と電流型AD変換手段3とは、同一半導体基板上
に形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路に係
わり、特に電流出力型センサーとこの電流出力型センサ
ーの出力を信号処理する手段とを有する半導体集積回路
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電流出力型センサーの出力信号を
信号処理する場合、図3に示す構成の回路が用いられ
る。図3では電流出力型センサーはフォトダイオードで
ある。
【0003】図3において、フォトダイオード1から出
力される電流は暗時から明時まで、およそ80dB以上
のダイナミックレンジが求められ、これを例えば5V単
一電源で信号処理する場合、まずオプアンプ23とダイ
オード33によって、対数圧縮を行なう。オプアンプ2
3の出力VO1は、
【0004】
【数1】 である。ここで、VCは基準電圧、IS1はフォトダイオ
ードの逆方向飽和電流、IOPはフォトダイオード出力電
流である。
【0005】出力VO1は、更に暗電流を補償する為のト
ランジスタ43によって、出力VO2となる。出力V
O2は、
【0006】
【数2】 である。ここで、IBは定電流53の値、IS2はトラン
ジスタ43の逆方向飽和電流である。
【0007】従って、出力VO2は、
【0008】
【数3】 であり、IS1とIS2を等しいとすると、
【0009】
【数4】 となる。
【0010】また、図3において、63はインピーダン
ス変更の為のバッファーであり、93は抵抗73,83
と共にAD(アナログ−デジタル)変換器への入力レン
ジへ信号を合わせる為のオプアンプで、オプアンプ93
の出力VOは、
【0011】
【数5】 である。ここで、R1は抵抗73の値、R2は抵抗83の
値である。この出力VOは、AD変換された後に、例え
ばCPU等へ通信される。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では電流出力型センサーの出力信号を処理する為
に、オプアンプ、定電流源、基準電源、AD変換器等の
複数の回路ブロックを必要とし、素子数の増大、消費電
力の増加といった問題があり、さらにはチップサイズの
増加、コストの増加といった点に結び付くことになる。
【0013】本発明の目的は、かかる点に鑑みなされた
もので、電流出力型センサーの出力をより少ない素子数
(回路構成)で構成するものである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、電流出力型センサーと、該電流出力型センサーの出
力側に接続され、該電流出力型センサーの出力を直接A
D(アナログ−デジタル)変換する電流型AD変換手段
と、を有するものである。
【0015】本発明によれば、電流のままAD変換する
ことで、従来のような、電流−電圧変換(対数圧縮)、
インピーダンス変換、ゲイン調整等が全て不要になり、
回路構成をより簡単に、かつ高速化、低コスト化が達成
される。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を用いて
詳細に説明する。
【0017】図1は、本発明の半導体集積回路の一実施
例を示すブロック図である。図1において、1はフォト
ダイオード、フォトトランジスタ等の電流出力型のセン
サー(ここでは、フォトダイオード)、2は電源、3は
1bitの電流入力型AD変換器、4は基準電流を発生
する定電流源である。
【0018】さらに、図2は図1の1bit(ビット)
の電流入力型AD変換器3を示す図であり、図2におい
て、6は入力された信号電流を受けるN型カレントミラ
ー回路、7はN型カレント・ミラー回路6の出力が入力
されるP型カレントミラー回路、8は各1bit電流入
力型AD変換器3の比較基準電流を発生する為、定電流
源4に接続されるN型カレント・ミラー回路、9はP型
カレントミラー回路7の出力と比較基準電流を発生する
N型カレント・ミラー回路8の出力を比較する電流比較
器、10は電流比較器9の出力により制御されるアナロ
グスイッチである。図4は更に図2の回路の具体的な構
成を示す回路構成図である。
【0019】上記構成において、電流出力型センサー1
の出力電流I0がN型カレント・ミラー回路6に入力さ
れると、P型カレントミラー回路7はN型カレント・ミ
ラー回路6の出力電流I1によって駆動される。P型カ
レントミラー回路7によって発生する信号電流は、2×
I0に設定され、I2=2×I0、I3=2×I0となる。
I2はN型カレントミラー回路8によって発生している
基準電流Irefとともに電流比較器9に入力され、電流
比較器9は、 I2 ≧ Iref のとき“1”を I2 < Iref のとき“0”を 出力する。
【0020】電流比較器9が“1”を出力すると、アナ
ログスイッチ10がオンし、次段の1bit電流入力型
AD変換器へは信号電流I2と基準電流Irefとの差電流
ΔI、 ΔI=I2−Iref が入力される。
【0021】電流比較器9が“0”を出力すると、アナ
ログスイッチ10がオフし、次段の1bit電流入力型
AD変換器へは信号電流I3(=I2)が入力される。
【0022】nbitsのAD変換出力を得るために
は、それぞれ同一の(実質的同一を含む)基準電流に設
定されたn個の1bit電流入力型AD変換器を直列に
接続し、各1bitAD変換器に入力される電流を2倍
しながら、上記動作を次々に行なうことで可能となる。
勿論、P型カレント・ミラー回路7で入力電流を2倍す
ることなく、基準電流をMSBから1/2倍していくこ
とでも同じ結果が得られるが、集積回路としては、P型
カレント・ミラー回路7で入力電流を2倍する方が同一
セルを用いることができ有利である。
【0023】本実施例の半導体集積回路は同一半導体基
板上に形成される。図5は同一半導体基板上に1つのセ
ンサー(フォトダイオード)とnbitの電流入力型A
D変換器を形成した場合の概略的レイアウト図であり、
図6は同一半導体基板上に光エリアセンサー(フォトダ
イオードがマトリクス状に配列)、タイミング制御回
路、電流サンプル・ホールド(S/H)回路、nbit
の電流入力型AD変換器を形成した場合の概略的レイア
ウト図である。
【0024】なお、本発明に用いることができる、電流
入力型AD変換器は上記の構成のものに限定されず、た
とえば、特開平5−335956号公報に開示されてい
る電流入力型AD変換器を用いることができる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
電流出力型のセンサーの出力電流を直接電流型AD変換
手段に接続することで、簡易な回路構成とすることがで
き、素子数の減少、消費電力の減少を図ることができ
る。
【0026】また、電流出力型のセンサーに直接1bi
t電流入力型AD変換器をn個直列に接続することで、
nbitのデジタル出力を得ることができ、素子数の大
幅な削減とこれに伴なう消費電力の削減、チップサイズ
の削減とコスト削減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体集積回路の一実施例を示すブロ
ック図である。
【図2】図1の1bitの電流入力型AD変換器3を示
す図である。
【図3】電流出力型センサーの出力信号を信号処理する
回路の回路構成図である。
【図4】図2の回路の具体的な構成を示す回路構成図で
ある。
【図5】同一半導体基板上に1つのセンサーとn個の電
流入力型AD変換器を形成した場合の概略的レイアウト
図である。
【図6】同一半導体基板上に光エリアセンサー、タイミ
ング制御回路、電流サンプル・ホールド(S/H)回
路、n個の電流入力型AD変換器を形成した場合の概略
的レイアウト図である。
【符号の説明】
1 電流型のセンサー(フォトダイオード) 2 電源 3 1bitの電流入力型AD変換器 4 定電流源 5 GND 6 N型カレントミラー回路 7 P型カレントミラー回路 8 N型カレント・ミラー回路 9 電流比較器 10 アナログスイッチ 13 基準電源 23、63、93 オプアンプ 33 ダイオード 43 P型トランジスタ 53 定電流源 73、83 抵抗 103 電圧入力AD変換器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電流出力型センサーと、該電流出力型セ
    ンサーの出力側に接続され、該電流出力型センサーの出
    力を直接AD変換する電流型AD変換手段と、を有する
    半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記電流型AD変換手段は1ビットAD
    変換器が複数直列に接続されている請求項1に記載の半
    導体集積回路。
  3. 【請求項3】 前記電流出力型センサーと前記電流型A
    D変換手段とは、同一半導体基板上に形成されている請
    求項1または請求項2に記載の半導体集積回路。
JP10009429A 1998-01-21 1998-01-21 半導体集積回路 Pending JPH11214998A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10009429A JPH11214998A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 半導体集積回路
US09/229,995 US6150967A (en) 1998-01-21 1999-01-14 Semiconductor integrated circuit
EP99300349A EP0932047A1 (en) 1998-01-21 1999-01-19 Semiconductor integrated circuit with pipelined 1-bit current AD convertors
US09/662,605 US6392582B1 (en) 1998-01-21 2000-09-14 Semiconductor integrated circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10009429A JPH11214998A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11214998A true JPH11214998A (ja) 1999-08-06

Family

ID=11720102

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10009429A Pending JPH11214998A (ja) 1998-01-21 1998-01-21 半導体集積回路

Country Status (3)

Country Link
US (2) US6150967A (ja)
EP (1) EP0932047A1 (ja)
JP (1) JPH11214998A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005039056A1 (ja) * 2003-10-21 2005-04-28 Fujitsu Limited D/a変換回路及びa/d変換回路
US7112935B2 (en) 2002-12-19 2006-09-26 Hitachi, Ltd. Current sensor using mirror MOSFET and PWM inverter incorporating the same
JP2009545215A (ja) * 2006-07-25 2009-12-17 インテレクチュアル・ベンチャーズ・ファンド・27・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 非同期電流モード循環比較を使用するアナログ/ディジタル変換

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11214998A (ja) * 1998-01-21 1999-08-06 Canon Inc 半導体集積回路
US6762706B2 (en) * 2002-06-12 2004-07-13 Freescale Semiconductor, Inc. Reduced power analog-to-digital converter and method thereof
US7126509B2 (en) * 2003-07-17 2006-10-24 Massachusetts Institute Of Technology Micropower logarithmic analog to digital conversion system and method with offset and temperature compensation
US6949968B1 (en) * 2004-02-20 2005-09-27 National Semiconductor Corporation Method for increasing the sensitivity of integrated circuit temperature sensors
JP4137922B2 (ja) 2005-06-23 2008-08-20 富士通株式会社 A/d変換回路
JP4187006B2 (ja) * 2006-04-28 2008-11-26 エプソンイメージングデバイス株式会社 電子回路、電気光学装置およびこれを備える電子機器
US7804436B2 (en) * 2006-07-26 2010-09-28 Siflare, Inc Current mode analog-to-digital converter
US20090027821A1 (en) * 2007-07-26 2009-01-29 Littelfuse, Inc. Integrated thermistor and metallic element device and method
US7659840B2 (en) * 2008-02-15 2010-02-09 Analog Devices, Inc. Sigma-delta conversion circuit suitable for photocurrent measurement applications
JPWO2018011877A1 (ja) * 2016-07-12 2019-04-25 オリンパス株式会社 Ad変換回路、撮像装置、および内視鏡システム
US10833692B1 (en) 2018-04-17 2020-11-10 Ali Tasdighi Far Small low glitch current mode analog to digital converters for artificial intelligence
US10797718B1 (en) 2018-04-17 2020-10-06 Ali Tasdighi Far Tiny low power current mode analog to digital converters for artificial intelligence
US10862495B1 (en) 2018-04-17 2020-12-08 Ali Tasdighi Far Glitch free current mode analog to digital converters for artificial intelligence
US10581448B1 (en) * 2018-05-28 2020-03-03 Ali Tasdighi Far Thermometer current mode analog to digital converter
DE102021210057A1 (de) * 2021-09-13 2023-03-16 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Vorrichtung zum Empfangen eines Eingangsstroms und Betriebsverfahren hierfür
DE102022202425B4 (de) * 2022-03-10 2025-10-16 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Vorrichtung mit einer Vergleichereinrichtung und Verwendung der Vorrichtung

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4379285A (en) * 1981-05-26 1983-04-05 Dooley Daniel J Analog to digital converter
JP2637618B2 (ja) * 1989-11-22 1997-08-06 キヤノン株式会社 定電流回路及び該回路を含む半導体集積回路装置及び該装置を搭載した装置
FR2695523A1 (fr) * 1992-09-08 1994-03-11 Thomson Consumer Electronics Convertisseur analogique/numérique rapide et procédé de conversion associé.
JPH11214998A (ja) * 1998-01-21 1999-08-06 Canon Inc 半導体集積回路
US5966087A (en) * 1998-02-26 1999-10-12 Motorola, Inc. Apparatus providing a substantially equal transconductance ratio and method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7112935B2 (en) 2002-12-19 2006-09-26 Hitachi, Ltd. Current sensor using mirror MOSFET and PWM inverter incorporating the same
US7138778B2 (en) 2002-12-19 2006-11-21 Hitachi, Ltd. Current sensor using mirror MOSFET and PWM inverter incorporating the same
WO2005039056A1 (ja) * 2003-10-21 2005-04-28 Fujitsu Limited D/a変換回路及びa/d変換回路
US7397407B2 (en) 2003-10-21 2008-07-08 Fujitsu Limited D/A conversion circuit and A/D conversion circuit
US7760125B2 (en) 2003-10-21 2010-07-20 Fujitsu Microelectronics Limited A/D conversion circuit for use with low-potential and high-potential power supplies
US7876253B2 (en) 2003-10-21 2011-01-25 Fujitsu Semiconductor Limited A/D conversion circuit for use with low-potential and high-potential power supplies
JP2009545215A (ja) * 2006-07-25 2009-12-17 インテレクチュアル・ベンチャーズ・ファンド・27・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 非同期電流モード循環比較を使用するアナログ/ディジタル変換
JP4897047B2 (ja) * 2006-07-25 2012-03-14 インテレクチュアル・ベンチャーズ・ファンド・27・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 非同期電流モード循環比較を使用するアナログ/ディジタル変換

Also Published As

Publication number Publication date
US6150967A (en) 2000-11-21
EP0932047A1 (en) 1999-07-28
US6392582B1 (en) 2002-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6150967A (en) Semiconductor integrated circuit
US9648258B2 (en) Solid-state image pickup device and control method thereof
US10554849B2 (en) Photoelectric conversion device, image reading apparatus, image forming apparatus, and method of photoelectric conversion
US6509854B1 (en) DA conversion circuit
US6518910B2 (en) Signal processing apparatus having an analog/digital conversion function
US6518909B1 (en) Analog-to-digital converter with multiplexed input channels
JP4741253B2 (ja) 相関二重サンプリング回路、及び相関二重サンプリング回路を利用した信号変換方法
US6583817B1 (en) Autocalibration of the A/D converter within the CMOS type image sensor
JP2000032350A (ja) 画素毎のa/d変換器を備えるcmos撮像装置
JP4555103B2 (ja) ランプ信号発生回路
US6417503B1 (en) Optical sensor circuit with output changing means
JP3525500B2 (ja) 固体撮像装置
JPH08274642A (ja) Daコンバ−タおよびdaコンバ−タ装置
US7298403B2 (en) Image reading device
KR20040095990A (ko) 아날로그 디지탈 변환기의 테스트 회로를 구비한 이미지센서
JPH08298337A (ja) 光出力モニタ回路
JPH03131170A (ja) イメージセンサ用のa/d変換器
US20050139749A1 (en) Image sensor with improved sensitivity and method for driving the same
JPH03186018A (ja) アナログ・ディジタル変換器
KR101984618B1 (ko) 아날로그 디지털 컨버터, 이를 구비하는 이미지 센서, 및 이미지 센서를 구비하는 장치
JPH08125538A (ja) ディジタル・アナログ変換器
JPS59127418A (ja) アナログ・デジタル変換器
JPH04114562A (ja) 画像読取装置
JPH07131352A (ja) A/dコンバータ
JPH04227121A (ja) A/d変換器