JPH11297933A - 表示体駆動用半導体装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体装置の入出力端子全数に検査用の導電
針を接触して行う検査に代えて、検査回路を備えること
によってほとんどの出力端子に対して触針することなく
検査測定が可能な検査回路を備えた表示体駆動用半導体
装置が提案されたが、検査測定が煩雑になり検査時間が
著しく増大するという課題がある。 【解決手段】 表示体駆動用半導体装置の主な回路動作
を行う機能回路と、機能回路を制御するための入力端子
と、出力端子と、出力回路と、出力回路に第１の電圧を
供給する第１の電源端子と、出力回路に第２の電圧を供
給する第２の電源端子と、検査回路と、検査回路を制御
するための検査用制御端子と、検査用の第３の電源端子
と、検査用の抵抗素子とを具備することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示パネルに代
表される表示素子の駆動に使用する表示体駆動用半導体
装置に関し、特に検査測定を簡易化するための検査用回
路を有する表示体駆動用半導体装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】表示体駆動用半導体装置を含むほとんど
の半導体装置は、入出力端子のすべてに対して外部の測
定装置に電気的に接続するための針立て（以下触針と記
載する）を行って検査測定している。

【０００３】これら半導体装置の入出力端子は、触針す
るために大きな面積のパッドを必要とし、なおかつそれ
ぞれの入出力端子に触針させる針が互いに接触しないよ
うに端子と端子の間隔を広くとる必要がある。

【０００４】上記の要因のために、数多くの入出力端子
を集積して構成する表示体駆動用半導体装置では、入出
力端子を高集積化できず半導体装置が大きくなってしま
ったり、一つの半導体装置に集積可能な入出力端子の数
が前記針立て検査上の制約から著しく制限されてしまう
といった課題がある。

【０００５】この課題を解決するために従来技術とし
て、検査回路を備えることによってほとんどの出力端子
に対して触針することなく検査測定できる図２に示す表
示体駆動用半導体装置が提案されている。

【０００６】図２は、従来例における検査回路を備えた
表示体駆動用半導体装置を示すブロック図である。 以
下に図２を用いて従来例における検査回路を備えた表示
体駆動用半導体装置の構成を説明する。

【０００７】図２で表示体駆動用半導体装置８は、表示
体駆動用半導体装置８の主な回路動作を行う機能回路２
と、機能回路２の回路動作を制御するための信号を入力
する入力端子６と、出力端子１０と、出力回路４と、出
力回路４に第１の電圧を供給する第１の電源端子２０
と、出力回路に第２の電圧を供給する第２の電源端子２
２と、検査時に出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０
ｎを強制的に短絡するための検査回路１６と、検査回路
１６を制御するための信号を入力する検査用制御端子１
８とで構成している。

【０００８】つづいて、図２を用いて従来例における検
査回路を備えた表示体駆動用半導体装置に対する検査測
定方法を説明する。

【０００９】なお、以下に説明する検査測定方法は第１
の測定手法と第２の測定手法との２つの手法で成り立っ
ており、順序は構わないが必ず両測定手法を実施する必
要がある。以下第１の測定手法と第２の測定手法に分け
て順に説明する。

【００１０】まず、第１の測定手法を説明する。

【００１１】はじめに、第１の電源端子２０と、第２の
電源端子２２と、入力端子６と、検査用制御端子１８に
触針し、さらに出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０
ｎのうち１つの端子ここでは出力端子１０ａのみに触針
する。

【００１２】つづいて第１の電源端子２０に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２の第２の電圧を供給す
る。

【００１３】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎが第１の電圧を出力するような入力信号を入力端
子６に入力して機能回路２を動作させ、出力回路４を制
御して、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎに第
１の電圧を出力させる。

【００１４】ここで出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうちただ１つ触針している出力端子１０ａの電
圧値を測定して、第１の電圧を正しく出力しているかど
うか検査確認する。

【００１５】次に、検査用制御端子１８に信号を入力し
て検査回路１６のスイッチ素子をすべてオンさせて、検
査回路１６で出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎ
を短絡する。

【００１６】このとき表示体駆動用半導体装置８が良品
であれば出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの電
圧値は同一であるため、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎを検査回路１６で短絡しても出力端子間に電
流は流れない。

【００１７】もし出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１
０ｎのなかに期待する電圧値になっていない出力端子が
少なくとも１つ以上ある場合には、この期待する電圧値
になっていない出力端子と他の期待する電圧値になって
いる出力端子との間に短絡電流が流れる。したがって、
もし短絡電流が流れれば表示体駆動用半導体装置８には
何らかの不良があると判定できる。

【００１８】上記短絡電流の有無は、第１の電源端子２
０に表示体駆動用半導体装置８の外部から第１の電圧を
供給する電源装置（図示せず）と第１の電源端子２０と
の間に電流計を挿入するか、または第２の電源端子２２
に表示体駆動用半導体装置８の外部から第２の電圧を供
給する電源装置（図示せず）と第２の電源端子２２との
間に電流計を挿入して測定することができる。

【００１９】前記短絡電流が流れないならば出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎは同一の電圧値を出力し
ていることがわかり、なおかつ出力端子１０ａは触針し
てその電圧値が第１の電圧であることを確認してあるの
で、結局出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎがす
べて第１の電圧を正しく出力していると確認できる。

【００２０】以上の測定では出力端子１０ａ，１０ｂ，
・・・，１０ｎのすべてに第１の電圧を出力させて測定
したが、今度は出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０
ｎのすべてに第２の電圧を出力させて同様な測定を行
う。

【００２１】さらに、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎのすべてに第１の電圧を出力させたり出力端
子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに第２の電
圧を出力させるところの機能回路２の動作のし方が入力
信号に応じて複数通りある場合は、その機能回路２の動
作のし方のすべてに対してここまでに説明した測定を繰
り返す。

【００２２】以上第１の測定手法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに同
一の電圧値を出力するような機能回路２のすべての動作
機能の良否と、出力回路４のすべてのスイッチ素子につ
いてオフ状態への制御の可否とオフ状態でのリーク不良
の有無と、さらには表示体駆動用半導体装置８内部で第
１の電圧を供給する配線と第２の電圧を供給する配線と
の間に短絡不良が無いこととを検査確認することができ
る。

【００２３】なお、上記第１の測定手法において正常で
あることを前提としている点、すなわち出力回路１６を
構成するすべてのスイッチ素子と出力回路４を構成する
すべてのスイッチ素子についてのオン状態への制御の可
否とオン状態での導通特性の良否と、その他上記第１の
測定手法で検査確認できない表示体駆動用半導体装置の
不良とは第２の測定手法によって検査確認できる。

【００２４】以下に、第２の測定手法を説明する。

【００２５】まず、第１の測定手法で触針したのと同じ
端子に触針する。本第２の測定手法では出力端子１０ａ
に触針する必要はないが、ここでは触針用治具を第１の
測定手法と共用するために出力端子１０ａにも触針す
る。

【００２６】つづいて第１の電源端子２０に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２の第２の電圧を供給す
る。

【００２７】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうち出力端子１０ａのみが第１の電圧を出力
し、他のすべての出力端子が第２の電圧を出力するよう
に入力端子６に信号を入力して機能回路２を動作させ出
力回路４を制御する。

【００２８】この状態で、検査用制御端子１８に信号を
入力して検査回路１６のすべてのスイッチ素子オンさせ
て、検査回路１６で出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎを短絡する。

【００２９】このとき表示体駆動用半導体装置８が正常
である場合には出力端子１０ａと他の全ての出力端子と
の間に短絡電流が流れる。

【００３０】上記短絡電流の有無は、第１の電源端子２
０に表示体駆動用半導体装置８の外部から第１の電圧を
供給する電源装置（図示せず）と第１の電源端子２０と
の間に電流計を挿入するか、または第２の電源端子２２
に表示体駆動用半導体装置８の外部から第２の電圧を供
給する電源装置（図示せず）と第２の電源端子２２との
間に電流計を挿入して測定することができる。

【００３１】上記測定で得られた短絡電流値が期待され
る値であれば、機能回路２は意図した通りに正常に機能
し、出力端子１０ａに接続するスイッチ素子１１ａとス
イッチ素子１５ａのオンへの動作と素子特性が正常であ
り、第１の電源端子からスイッチ素子１１ａに至る第１
の電圧の配線経路に断線不良がないと確認できる。

【００３２】以上の測定を、排他的に第１の電圧を出力
させるところの出力端子を出力端子１０ａから出力端子
１０ｂ，１０ｃ，・・・，１０ｎに順次１つづつ入れ替
えて同様の測定を繰り返すことにより、１０ｂ，１０
ｃ，・・・，１０ｎそれぞれの端子に接続するスイッチ
素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎとスイッチ素子１
５ｂ，１５ｃ，・・・，１５ｎすべてについてのオンへ
の動作と素子特性と、さらに第１の電源端子からスイッ
チ素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎそれぞれに至る
第１の電圧の配線経路に断線不良がないこととを確認す
る。以上で第１の電圧を出力させる出力端子以外の出力
端子には第２の電圧を出力させるものとする。

【００３３】さらに今度は上記の測定での第１の電圧と
第２の電圧との関係を入れ換えて、排他的に特定の１つ
の出力端子のみに第２の電圧を出力させ、他の出力端子
に第１の電圧を出力させるかたちでここまで説明したす
べての測定を行うことにより、１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎそれぞれの端子に接続するスイッチ素子１３
ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎとスイッチ素子１５ａ，１
５ｂ，・・・，１５ｎすべてについてのオンへの動作と
素子特性と、さらに第２の電源端子からスイッチ素子１
３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎそれぞれに至る第２の電
圧の配線経路に断線不良がないこととを確認する。

【００３４】最後に検査制御端子に信号を入力して検査
回路１６内のすべてのスイッチ素子をオフさせた上で、
第２の測定手法のはじめで行ったのと同様に出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの１つずつに順次排他的
に第１の電圧を出力させ他のすべての出力端子に第２の
電圧を出力させてその都度出力端子間の短絡電流の有無
を測定する。この測定で前記短絡電流が流れないならば
検査回路１６内のすべてのスイッチ素子は制御通り正し
くオフに制御でき、かつオフ状態でリーク不良がないと
検査確認できる。

【００３５】以上第２の測定手法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのそれぞれに
接続する出力回路４のすべてのスイッチ素子をそれぞれ
独立に正しく制御する機能回路２の動作が正常であるこ
とと、出力回路４のすべてのスイッチ素子のオンへの制
御とオン状態での素子特性の良否と、検査回路１６を構
成するスイッチ素子が正しく制御できかつオン状態とオ
フ状態の素子特性が正常であることと、さらには出力回
路４と検査回路１６とに配線の断線不良が無いことと、
第１の電源端子と第２の電源端子それぞれから出力回路
にいたる間の配線に断線不良がないこととを検査確認す
ることができる。

【００３６】以上で説明した第１の測定手法と第２の測
定手法の両測定手法を行うことにより、図２に示す従来
例としての表示体駆動用半導体装置８に対して、ほとん
どの出力端子に対して触針することなく検査測定を行う
ことが可能である。

【００３７】

【発明が解決しようとする課題】図２に示す従来例に対
する検査測定では、一回の電流測定と測定値の良否判定
を行うために、下記のような煩雑な手順を必要とする。

【００３８】すなわち、入力端子６に入力信号を与えて
機能回路２と出力回路１０とを所望の通りに動作させ、
次に検査用制御端子１８に信号を与えて検査用回路１６
を動作させて出力端子１０のすべてを短絡し、つづいて
電流値を測定し、測定した電流値を期待する電流値と比
較して良否を判定する。

【００３９】上述のように煩雑な手順が必要なため一回
毎の電流測定は迅速には行えない。しかも、上述の電流
測定は機能回路２の動作機能のし方とその結果としての
出力回路４の動作のし方すべてに対応する回数分行う必
要があり、また出力端子が多いほど必要な電流測定の回
数は増えるために、実際には極めて多数回の電流測定が
必要である。

【００４０】以上より図２に示す従来例の表示体駆動用
半導体装置は、検査測定に著しく長い時間がかかってし
まうという大きな課題がある。

【００４１】またできるだけ検査時間を短縮するには、
高速に高精度な電流測定を行う必要があり、非常に高価
な測定装置を用いなければならないという課題もある。

【００４２】本発明の目的は、上記課題を解決して、簡
易にかつ短い時間で検査測定を行うことが可能な表示体
駆動用半導体装置を提供することにある。

【００４３】

【課題を解決するための手段】表示体駆動用半導体装置
の主な回路動作を行う機能回路と、機能回路を制御する
ための入力端子と、出力端子と、出力回路と、出力回路
に第１の電圧を供給する第１の電源端子と、出力回路に
第２の電圧を供給する第２の電源端子と、検査回路と、
検査回路を制御するための検査用制御端子と、検査用の
第３の電源端子と、検査用の抵抗素子とを具備して表示
体駆動用半導体装置を構成する。

【００４４】

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づいて詳述する。図１は、本発明の実施例における表
示体駆動用半導体装置を示すブロック図である。まず、
図１を用いて本発明の実施例における表示体駆動用半導
体装置の構成を説明する。

【００４５】図１で表示体駆動用半導体装置８は、表示
体駆動用半導体装置８の主な回路動作を行う機能回路２
と、機能回路２の回路動作を制御するための信号を入力
する入力端子６と、出力端子１０と、出力回路４と、検
査測定以外のとき出力回路４に第１の電圧を供給する第
１の電源端子２０と、出力回路４に第２の電圧を供給す
る第２の電源端子２２と、検査時に出力端子１０ａ，１
０ｂ，・・・，１０ｎを強制的に短絡するための検査回
路１６と、検査回路１６を制御するための信号を入力す
る検査用制御端子１８と、検査用の抵抗素子２４と、検
査測定のときに出力回路４に第１の電圧を供給する第３
の電源端子２６とで構成する。

【００４６】つづいて、本発明の図１に示す表示体駆動
用半導体装置に対する検査測定方法を説明する。

【００４７】なお、以下に説明する検査測定方法は第１
の測定手法と第２の測定手法との２つの手法で成り立っ
ており、順序は構わないが必ず両測定手法を実施する必
要がある。以下第１の測定手法と第２の測定手法に分け
て順に説明する。

【００４８】まず、第１の測定手法を説明する。はじめ
に、第３の電源端子２６と、第２の電源端子２２と、入
力端子６と、検査用制御端子１８に触針し、さらに出力
端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのうち１つの端子
ここでは出力端子１０ａのみに触針する。

【００４９】つづいて第３の電源端子２６に第１の電圧
を供給し、第２の電源端子２２の第２の電圧を供給す
る。

【００５０】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎが第１の電圧を出力するような入力信号を入力端
子６に入力して機能回路２を動作させ、出力回路４を制
御して、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎに第
１の電圧を出力させる。

【００５１】ここで出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうちただ１つ触針している出力端子１０ａの電
圧値を測定して、第１の電圧を正しく出力しているかど
うか検査確認する。

【００５２】次に、検査用制御端子１８に信号を入力し
て検査回路１６のスイッチ素子をすべてオンさせて、検
査回路１６で出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎ
を短絡する。

【００５３】このとき表示体駆動用半導体装置８が良品
であれば出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの電
圧値は同一であるため、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎを検査回路１６で短絡しても出力端子間に電
流は流れない。

【００５４】もし出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１
０ｎのなかに期待する電圧値になっていない出力端子が
少なくとも１つ以上ある場合には、この期待する電圧値
になっていない出力端子と他の期待する電圧値になって
いる出力端子との間に短絡電流が流れる。したがって、
もし短絡電流が流れれば表示体駆動用半導体装置８には
何らかの不良があると判定できる。

【００５５】逆に前記短絡電流が流れなければ出力端子
１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎは同一の電圧値を出力
していることがわかり、なおかつ出力端子１０ａは触針
してその電圧値が第１の電圧であることを確認してある
ので、結局出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎが
すべて第１の電圧を正しく出力していると確認できる。

【００５６】上記短絡電流は、第３の電源端子２６と抵
抗素子２４と第２の電源端子２２とを通して流れるた
め、短絡電流の有無およびその値は、抵抗素子２４の抵
抗値と短絡電流値に応じて抵抗素子２４の両端に発生す
る電位差を、第１の電源端子２０と第３の電源端子２６
との端子間の電位差として測定することにより検査確認
することができる。

【００５７】以上の測定では出力端子１０ａ，１０ｂ，
・・・，１０ｎのすべてに第１の電圧を出力させて測定
したが、今度は出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０
ｎのすべてに第２の電圧を出力させて同様な測定を行
う。

【００５８】さらに、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎのすべてに第１の電圧を出力させたり出力端
子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに第２の電
圧を出力させるところの機能回路２の動作のし方が入力
信号に応じて複数通りある場合は、その機能回路２の動
作のし方のすべてに対してここまでに説明した測定を繰
り返す。

【００５９】以上第１の測定手法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのすべてに同
一の電圧値を出力するような機能回路２のすべての動作
機能の良否と、出力回路４のすべてのスイッチ素子につ
いてオフ状態への制御の可否とオフ状態でのリーク不良
の有無と、さらには表示体駆動用半導体装置８内部で第
１の電圧を供給する配線と第２の電圧を供給する配線と
の間に短絡不良が無いこととを検査確認することができ
る。

【００６０】なお、上記第１の測定手法において正常で
あることを前提としている点、すなわち出力回路１６を
構成するすべてのスイッチ素子と出力回路４を構成する
すべてのスイッチ素子についてのオン状態への制御の可
否とオン状態での導通特性の良否と、その他上記第１の
測定手法で検査確認できない表示体駆動用半導体装置の
不良とは第２の測定手法によって検査確認できる。

【００６１】以下に、第２の測定手法を説明する。

【００６２】まず、第１の測定手法で触針したのと同じ
端子に触針する。本第２の測定手法では出力端子１０ａ
に触針する必要はないが、ここでは触針用治具を第１の
測定手法と共用するために出力端子１０ａにも触針す
る。

【００６３】次に、出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎのうち出力端子１０ａのみが第１の電圧を出力
し、他のすべての出力端子が第２の電圧を出力するよう
に入力端子６に信号を入力して機能回路２を動作させ出
力回路４を制御する。

【００６４】この状態で、検査用制御端子１８に信号を
入力して検査回路１６のすべてのスイッチ素子オンさせ
て、検査回路１６で出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，
１０ｎを短絡する。

【００６５】このとき表示体駆動用半導体装置８が正常
である場合には出力端子１０ａと他の全ての出力端子と
の間に短絡電流が流れる。

【００６６】上記短絡電流は、第３の電源端子２６と抵
抗素子２４と第２の電源端子２２とを通して流れるた
め、短絡電流の有無およびその値は、抵抗素子２４の抵
抗値と短絡電流値に応じて抵抗素子２４の両端に発生す
る電位差を第１の電源端子２０と第３の電源端子２６と
の端子間の電位差として測定することによって検査確認
することができる。

【００６７】上記測定で得られた電位差が期待される値
であれば、前記短絡電流値は正常であって、機能回路２
は意図した通りに正常に機能し、出力端子１０ａに接続
するスイッチ素子１１ａとスイッチ素子１５ａのオンへ
の動作と素子特性が正常であり、第１の電源端子からス
イッチ素子１１ａに至る第１の電圧の配線経路に断線不
良がないと確認できる。

【００６８】以上の測定を、排他的に第１の電圧を出力
させるところの出力端子を出力端子１０ａから出力端子
１０ｂ，１０ｃ，・・・，１０ｎに順次１つづつ入れ替
えて同様の測定を繰り返すことにより、１０ｂ，１０
ｃ，・・・，１０ｎそれぞれの端子に接続するスイッチ
素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎとスイッチ素子１
５ｂ，１５ｃ，・・・，１５ｎすべてについてのオンへ
の動作と素子特性と、さらに第１の電源端子からスイッ
チ素子１１ｂ，１１ｃ，・・・，１１ｎそれぞれに至る
第１の電圧の配線経路に断線不良がないこととを確認す
る。以上で第１の電圧を出力させる出力端子以外の出力
端子には第２の電圧を出力させるものとする。

【００６９】さらに今度は上記の測定での第１の電圧と
第２の電圧との関係を入れ換えて、排他的に特定の１つ
の出力端子のみに第２の電圧を出力させ、他の出力端子
に第１の電圧を出力させるかたちでここまで説明したす
べての測定を行うことにより、１０ａ，１０ｂ，・・
・，１０ｎそれぞれの端子に接続するスイッチ素子１３
ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎとスイッチ素子１５ａ，１
５ｂ，・・・，１５ｎすべてについてのオンへの動作と
素子特性と、さらに第２の電源端子からスイッチ素子１
３ａ，１３ｂ，・・・，１３ｎそれぞれに至る第２の電
圧の配線経路に断線不良がないこととを確認する。

【００７０】最後に検査制御端子に信号を入力して検査
回路１６内のすべてのスイッチ素子をオフさせた上で、
第２の測定手法のはじめで行ったのと同様に出力端子１
０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎの１つずつに順次排他的
に第１の電圧を出力させ他のすべての出力端子に第２の
電圧を出力させて、その都度出力端子間の短絡電流の有
無を第３の電源端子２６と第２の電源端子２２との端子
間の電位差を測定することにより判定する。この測定で
前記短絡電流が流れないと判定されれば検査回路１６内
のすべてのスイッチ素子は制御通り正しくオフに制御で
き、かつオフ状態でリーク不良がないと検査確認でき
る。

【００７１】以上第２の測定手法を行うことによって、
出力端子１０ａ，１０ｂ，・・・，１０ｎのそれぞれに
接続する出力回路４のすべてのスイッチ素子をそれぞれ
独立に正しく制御する機能回路２の動作が正常であるこ
とと、出力回路４のすべてのスイッチ素子のオンへの制
御とオン状態での素子特性の良否と、検査回路１６を構
成するスイッチ素子が正しく制御できかつオン状態とオ
フ状態の素子特性が正常であることと、さらには出力回
路４と検査回路１６とに配線の断線不良が無いことと、
第１の電源端子と第２の電源端子それぞれから出力回路
にいたる間の配線に断線不良がないこととを検査確認す
ることができる。

【００７２】以上で説明した第１の測定手法と第２の測
定手法の両測定手法を行うことにより、図１に示す本発
明における表示体駆動用半導体装置８に対して、ほとん
どの出力端子に対して触針することなく、なおかつ時間
と手間のかかる電流測定を行わずに検査測定を行うこと
が可能である。

【００７３】しかも電流測定が不要であるため、上記一
連の信号入力による機能回路２および出力回路４の制御
と、電位差の測定およびその良否判定は、すべて入力パ
ターン発生器（図示せず）の動作に同期して高速にかつ
断続することなく一続きの検査測定作業として行うこと
ができる。

【００７４】つまり、パターン発生器の動作に同期して
高速に検査測定を行うことができるファンクシナル試験
の手法と装置によって、図２に示す従来例で極めて多数
回の電流測定を行って実施したのと同等な検査測定をす
ることが可能である。

【００７５】このために、本発明の表示体駆動用半導体
装置の構成を採用することにより、従来例の表示体駆動
用半導体装置の課題である検査測定に著しく長い時間が
掛かるという問題点が解決される。

【００７６】以上本実施例で用いたスイッチ素子は全て
トランジスタ素子で構成でき、したがって表示体駆動用
半導体装置内に作り込むことができる。また、本発明で
の表示体駆動用半導体装置の構成の一つの要素である抵
抗素子は半導体素子として表示体駆動用半導体装置内に
作り込むことができる。

【００７７】

【発明の効果】表示体駆動用半導体装置の検査測定を簡
易かつ短時間の内に実施することが可能であるため、表
示体駆動用半導体装置の検査測定に要する手間と時間を
大幅に低減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の表示体駆動用半導体装置の構成を示す
ブロック図である。

【図２】従来技術による従来例として検査用回路を備え
る表示体駆動用半導体装置の構成を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

２ 機能回路 ４ 出力回路 ６ 入力端子 ８ 表示体駆動用半導体装置 １０ 出力端子 １６ 検査回路 １８ 検査用制御端子 ２０ 第１の電源端子 ２２ 第２の電源端子 ２４ 抵抗素子 ２６ 第３の電源端子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 表示体駆動用半導体装置の主な回路動作
   を行う機能回路と、機能回路を制御するための入力端子
   と、出力端子と、出力回路と、出力回路に第１の電圧を
   供給する第１の電源端子と、出力回路に第２の電圧を供
   給する第２の電源端子と、検査回路と、検査回路を制御
   するための検査用制御端子と、検査用の第３の電源端子
   と、検査用の抵抗素子とを具備することを特徴とする表
   示体駆動用半導体装置。