JPS5810839A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS5810839A JPS5810839A JP56111177A JP11117781A JPS5810839A JP S5810839 A JPS5810839 A JP S5810839A JP 56111177 A JP56111177 A JP 56111177A JP 11117781 A JP11117781 A JP 11117781A JP S5810839 A JPS5810839 A JP S5810839A
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- Japan
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- chip
- semiconductor device
- frame
- integrated circuit
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
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- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は集積回路素子の集積度を向上することができ
る半導体装置に関するものである。
る半導体装置に関するものである。
従来の半導体装置は1テツグ1パツケージカ主流である
。すなわち、第1r!!JK示すように、フレームα)
上にチック(2)1i−取ル付けたのち、フレーム(1
)のリード(1a)とテップ(2)の電極とをワイヤe
)により、電気的に接続する。そして、チップ(2)を
保護するため、モールド樹脂(4)により一体に成形す
るものである。
。すなわち、第1r!!JK示すように、フレームα)
上にチック(2)1i−取ル付けたのち、フレーム(1
)のリード(1a)とテップ(2)の電極とをワイヤe
)により、電気的に接続する。そして、チップ(2)を
保護するため、モールド樹脂(4)により一体に成形す
るものである。
しかしながら、従来の半導体装置は1テツプ1パツケー
ジのため、スペースファクタが悪く、シかも機能上から
も有効でないなどの欠点があった。
ジのため、スペースファクタが悪く、シかも機能上から
も有効でないなどの欠点があった。
しfcがって、この発明の目的は複数個の同一テツクあ
るいは異種チップを1パツケージに実装することによ〕
、スペースファクタがよく、シかも機能も大幅に向上す
る半導体装置を提供するものである。
るいは異種チップを1パツケージに実装することによ〕
、スペースファクタがよく、シかも機能も大幅に向上す
る半導体装置を提供するものである。
このような目的を達成するため、この発明は集積回路を
形成した第1のテクノと、この第1のチップに形成し念
集積回路とミラー反転の関係あるいは補間関係になるよ
うに集積回路を形成した第2のチップとが互に対向する
ように配置し、モールドあるいはセラミックパッケージ
で組立て、一体化構造にするものであり、以下実権例を
用いて詳細に説明する。
形成した第1のテクノと、この第1のチップに形成し念
集積回路とミラー反転の関係あるいは補間関係になるよ
うに集積回路を形成した第2のチップとが互に対向する
ように配置し、モールドあるいはセラミックパッケージ
で組立て、一体化構造にするものであり、以下実権例を
用いて詳細に説明する。
第2図はこの発明に係る半導体装置の一実總例を示す断
面図である。同図において、(5)は前記テップ(2)
K形成した集積回路とミラー反転の関係あるいは補間関
係にある集積回路を形成する第2チツク、(6)Fiこ
の112チツク(5)の電極とフレーム(1)のリード
(1m)とを電気的に継ぐワイヤである。
面図である。同図において、(5)は前記テップ(2)
K形成した集積回路とミラー反転の関係あるいは補間関
係にある集積回路を形成する第2チツク、(6)Fiこ
の112チツク(5)の電極とフレーム(1)のリード
(1m)とを電気的に継ぐワイヤである。
この構成による半導体装置においてはチップ(2)と第
2チツプ(5)とはミラー反転の関係あるいは補間関係
にあるため、フレーム(1)をはさんで、一方の面にテ
クノ(2)¥r取付け、他方の面に第2チツク(5)を
取り付けることにより、各チップ(2)および(5)上
に設けた電極のうち、相互に共通な電極は対向する。そ
して、チップ(2)および価)の電極とフレーム(1)
のリード(1a)とをワイヤ(3)および(6)Kより
容易に接続することができる。例えば第3図に示すよう
に、チップ(2)と第2チツプ(5)の共通な電極をリ
ード(1m−3) 、 (1m−4)および(1a→)
、(ta−7)に接続する。そして、チップ(2)の独
立に必要な電極は実線で示すように、ワイヤによ)リー
ド(1@−1)および(1m−5)に接続し、f”j/
プG)ノ独立に必要な電極は点線で示すように、ワイヤ
によりリード(1m−2)および(1m−6)に接続す
る。そして、モールドあるいはセラミックパッケージで
組立て、一体化構造にするものである。
2チツプ(5)とはミラー反転の関係あるいは補間関係
にあるため、フレーム(1)をはさんで、一方の面にテ
クノ(2)¥r取付け、他方の面に第2チツク(5)を
取り付けることにより、各チップ(2)および(5)上
に設けた電極のうち、相互に共通な電極は対向する。そ
して、チップ(2)および価)の電極とフレーム(1)
のリード(1a)とをワイヤ(3)および(6)Kより
容易に接続することができる。例えば第3図に示すよう
に、チップ(2)と第2チツプ(5)の共通な電極をリ
ード(1m−3) 、 (1m−4)および(1a→)
、(ta−7)に接続する。そして、チップ(2)の独
立に必要な電極は実線で示すように、ワイヤによ)リー
ド(1@−1)および(1m−5)に接続し、f”j/
プG)ノ独立に必要な電極は点線で示すように、ワイヤ
によりリード(1m−2)および(1m−6)に接続す
る。そして、モールドあるいはセラミックパッケージで
組立て、一体化構造にするものである。
繭4図はこの発明鈍係る半導体装置の他の実論例を示す
断面側面図である。この実施例ではテクノ@)j?よび
@2テップ(5)に突起電極(7)を設け、フレーム(
1)のり−ド01)に固着することによシ、電気的な接
続とチックの固着管同時に行なう。そして、チップC)
と嬉2テッグφ)と0間に高純度樹脂−)を充填したの
ち、通常のモールド樹脂1)Kよ)パッシベーションす
る。このように構成することにより、例えば記憶素子な
どの対α線対策を必要とする場合KI!#に有効である
。そして、嬉5図に示すようk、共通電@(ムs)、(
As)−(ムs)、(4)はそれぞれ独立的に配置し、
突起電極とするが、分離を必要とする電@(ムり、(ム
茸)、(ム■)、(ム11)では素子上で電@(ム鳳)
と(ム雪)、(ム■)と(ム1雪)1*続し、テクノα
)では電@(ム1)および(ム11)に奥起電@を設け
、チックの)では電@(ム雪)および(ムts)K*l
l電@を設け、フレームα)の対応するリード(1m−
1) = (im−12)に接続する。なお、実線はテ
ッグシ)の電1とフレームa)のリードとtmぐワイヤ
を示し、点線*II2テッグ優)の電lIiトフレーム
α)のリードとを継ぐワイヤを示す。
断面側面図である。この実施例ではテクノ@)j?よび
@2テップ(5)に突起電極(7)を設け、フレーム(
1)のり−ド01)に固着することによシ、電気的な接
続とチックの固着管同時に行なう。そして、チップC)
と嬉2テッグφ)と0間に高純度樹脂−)を充填したの
ち、通常のモールド樹脂1)Kよ)パッシベーションす
る。このように構成することにより、例えば記憶素子な
どの対α線対策を必要とする場合KI!#に有効である
。そして、嬉5図に示すようk、共通電@(ムs)、(
As)−(ムs)、(4)はそれぞれ独立的に配置し、
突起電極とするが、分離を必要とする電@(ムり、(ム
茸)、(ム■)、(ム11)では素子上で電@(ム鳳)
と(ム雪)、(ム■)と(ム1雪)1*続し、テクノα
)では電@(ム1)および(ム11)に奥起電@を設け
、チックの)では電@(ム雪)および(ムts)K*l
l電@を設け、フレームα)の対応するリード(1m−
1) = (im−12)に接続する。なお、実線はテ
ッグシ)の電1とフレームa)のリードとtmぐワイヤ
を示し、点線*II2テッグ優)の電lIiトフレーム
α)のリードとを継ぐワイヤを示す。
鎮6図はこの発明に係る半導体装置の更に他の実論例を
示す断面側面図である。同図において、Φ)嬬リード(
10@−1) −(10m−12) (躯711参照
)およびこのリード(10m−1) 〜(10m−12
)にそれぞれ接続する端子(11)¥r設けたセラミツ
クツくツケージ基板、(12)は蓋である。なお、端子
(11)はそnぞれリード(10m−1)〜(10m−
12)にメタライズなどにより接続されるが、第7図に
示すように、共通電極(AI) 、 (As) 、 (
As)および(ム1)#iリード(10a”3) 〜(
10m−6)に共通に接続され、独立的に必要な電極、
例えば(As)はリード(10m−1)および(10a
−2)に接続する。
示す断面側面図である。同図において、Φ)嬬リード(
10@−1) −(10m−12) (躯711参照
)およびこのリード(10m−1) 〜(10m−12
)にそれぞれ接続する端子(11)¥r設けたセラミツ
クツくツケージ基板、(12)は蓋である。なお、端子
(11)はそnぞれリード(10m−1)〜(10m−
12)にメタライズなどにより接続されるが、第7図に
示すように、共通電極(AI) 、 (As) 、 (
As)および(ム1)#iリード(10a”3) 〜(
10m−6)に共通に接続され、独立的に必要な電極、
例えば(As)はリード(10m−1)および(10a
−2)に接続する。
この実施例ではチップ(2)と第2チツプ(5)との間
の空間に特別な充填物tm織こさずとも、対α線は十分
で、理論的には必要はな−か、他の理由例えば誘電率の
向上などのために、シリコーン系樹脂などを充填しても
よく、その場合、素子の保饅膜としての効果が期待でき
る。
の空間に特別な充填物tm織こさずとも、対α線は十分
で、理論的には必要はな−か、他の理由例えば誘電率の
向上などのために、シリコーン系樹脂などを充填しても
よく、その場合、素子の保饅膜としての効果が期待でき
る。
なお、以上の実施例では突起電極tm有する素子に替シ
、ビームリード素子、チーブアセ/ブリ素子を使用して
もよいことはもちろんである。また、突起電極は接合性
の点などを考慮して通常半田などを使用するが、接合後
の再溶融温度が高くなるように、フレームあるいはパッ
ケージの接合部のメタライズ紘選択するのが望ましく、
例えば鋼。
、ビームリード素子、チーブアセ/ブリ素子を使用して
もよいことはもちろんである。また、突起電極は接合性
の点などを考慮して通常半田などを使用するが、接合後
の再溶融温度が高くなるように、フレームあるいはパッ
ケージの接合部のメタライズ紘選択するのが望ましく、
例えば鋼。
金、亜鉛あるi社鉛すンチの半田などをメッキなどの手
段により薄く所定の量だけ賦与することが必要である。
段により薄く所定の量だけ賦与することが必要である。
以上詳細に説明したように、この発明に係る半導体装置
によればリード本数が2本程度増加するだけで、機能が
2倍になる。例えば16リードの16 K(t))RA
M カ181J −)’032 K@RムM となる。
によればリード本数が2本程度増加するだけで、機能が
2倍になる。例えば16リードの16 K(t))RA
M カ181J −)’032 K@RムM となる。
このように1実装密度を大幅に向上することができるな
どの効果がある。
どの効果がある。
第1図は従来の半導体装置を示す断面側面図、11E2
図社この発明に係る半導体装置の一夷總例を示す断面側
面図、第3図HgIZ図のチップの電極とフレームのリ
ードとの関係を示す平面図、縞4図はこの発明に係る半
導体装置の他の実施例を示す断面側面図、第5図Fi第
4図のチップの電極とフレームのリードとの関係を示す
平面図、第6図#′iこの発明に係る半導体装置の更に
他の実施例を示す断面側面図、第7図は116図のチッ
プの電極とフレームのリードとの関係を示す平面図であ
る。 (1)−−−−フレーム、(1m−1) 〜(10,−
12) ”・・リード、(2)・・・・チップ、(3)
−−−−ワイヤ、(4)・・・・モールド樹脂、(5
)・・・・第2チツク、(6)・・・・ワイヤ、(7)
・・・・突起電極、(8)・・・・、高純度樹脂、(9
)・・・・セラミックパッケージ基板、(10m−1)
〜(10a−12) ・・・・リード。 なお、図中、同一符号ri同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 −(外1名) 3.6 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭 66−111177号
2、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号
名 称(601) 三菱電機株式会社代表者片山仁
八部 4、代理人 5、補正の対象 +11 明細書の特許請求の範囲の欄(21明細書の
発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (11明細書の「特許請求の範囲」を別紙のとおシ補正
する。 (2)同書第7頁第3行の「鉛すンチ」を「鉛リッチ」
と補正する。 以 上 別 紙 「(11集積回路を形成した第1のチップと、この第1
のチップに形成した集積回路とミラー反転の開俵あるい
は補間関係に表るように集積回路を形成した館2のチッ
プとを互に対向するように配置し、モールドあるい紘セ
ラ之ツクパッケージで組立てて一体化構造にすることを
特徴とする半導体装置。 (2) 第1のチップを7レームの一方の面に固着し
、第2のチップをフレームの他方の面に固着することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 (3)各チップに突起電極を形成し、この突起電極を7
レームのリードに接続固定することを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体装置。 (4)第1のチップと第2のチップとの間の空間に、α
線をしゃ断し且つ自ら発しない樹脂を充填することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体装50 (5)前記突起電極のうち、所定の突起電極を2連に形
成し、この2連の突起電極のうち、第1のチップと第2
のチップでは互に異なる位置の突起電極をリードへの接
続に用いることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載
の半導体装置。」以 上
図社この発明に係る半導体装置の一夷總例を示す断面側
面図、第3図HgIZ図のチップの電極とフレームのリ
ードとの関係を示す平面図、縞4図はこの発明に係る半
導体装置の他の実施例を示す断面側面図、第5図Fi第
4図のチップの電極とフレームのリードとの関係を示す
平面図、第6図#′iこの発明に係る半導体装置の更に
他の実施例を示す断面側面図、第7図は116図のチッ
プの電極とフレームのリードとの関係を示す平面図であ
る。 (1)−−−−フレーム、(1m−1) 〜(10,−
12) ”・・リード、(2)・・・・チップ、(3)
−−−−ワイヤ、(4)・・・・モールド樹脂、(5
)・・・・第2チツク、(6)・・・・ワイヤ、(7)
・・・・突起電極、(8)・・・・、高純度樹脂、(9
)・・・・セラミックパッケージ基板、(10m−1)
〜(10a−12) ・・・・リード。 なお、図中、同一符号ri同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 −(外1名) 3.6 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭 66−111177号
2、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号
名 称(601) 三菱電機株式会社代表者片山仁
八部 4、代理人 5、補正の対象 +11 明細書の特許請求の範囲の欄(21明細書の
発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (11明細書の「特許請求の範囲」を別紙のとおシ補正
する。 (2)同書第7頁第3行の「鉛すンチ」を「鉛リッチ」
と補正する。 以 上 別 紙 「(11集積回路を形成した第1のチップと、この第1
のチップに形成した集積回路とミラー反転の開俵あるい
は補間関係に表るように集積回路を形成した館2のチッ
プとを互に対向するように配置し、モールドあるい紘セ
ラ之ツクパッケージで組立てて一体化構造にすることを
特徴とする半導体装置。 (2) 第1のチップを7レームの一方の面に固着し
、第2のチップをフレームの他方の面に固着することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 (3)各チップに突起電極を形成し、この突起電極を7
レームのリードに接続固定することを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体装置。 (4)第1のチップと第2のチップとの間の空間に、α
線をしゃ断し且つ自ら発しない樹脂を充填することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体装50 (5)前記突起電極のうち、所定の突起電極を2連に形
成し、この2連の突起電極のうち、第1のチップと第2
のチップでは互に異なる位置の突起電極をリードへの接
続に用いることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載
の半導体装置。」以 上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)集積回路を形成した第1のチップと、この第1の
テップに形成した集積回路とミラー半輪の関係あるい鉱
補関関係になるように集積回路を形成し良第20テッ1
とを互に対向するように配置し、モールドあるいはセラ
ミックパッケージで組立てて一体化構造にすることを特
徴とする半導体装置。 (2)litのチップをフレームの一方の面に固着し、
第2のテップtフレームの他方の面K11着すること管
特徴とする特許請求の範li!8第1項記載の半導体装
置、 C)各チップに突起電極を形成し、この突起電極tフレ
ームのリードに接続固定することt−特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体装置。 (4)!IIIのテッグ七第2のチップとの間の空間に
、aIiaをしゃ断し且つ自ら発しない樹脂を充填する
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体素
子。 (5)前記突起電極のうち、1所定の突起電極を2連に
形成し、この2連の突起電極のうち、Illのチップと
第2のチックでは互に異なる位置の突起電極をリードへ
の接続に用いることを特徴とする特許請求の範囲第3項
記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111177A JPS5810839A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56111177A JPS5810839A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5810839A true JPS5810839A (ja) | 1983-01-21 |
| JPS628033B2 JPS628033B2 (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=14554435
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56111177A Granted JPS5810839A (ja) | 1981-07-14 | 1981-07-14 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5810839A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6028255A (ja) * | 1983-07-26 | 1985-02-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
| JPH0287661A (ja) * | 1988-09-26 | 1990-03-28 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
| WO1991014282A1 (fr) * | 1990-03-15 | 1991-09-19 | Fujitsu Limited | Dispositif semiconducteur a puces multiples |
| JPH05129517A (ja) * | 1991-05-11 | 1993-05-25 | Goldstar Electron Co Ltd | 積層型半導体パツケージ及びその製造方法 |
| US5530292A (en) * | 1990-03-15 | 1996-06-25 | Fujitsu Limited | Semiconductor device having a plurality of chips |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA2711802C (en) | 2007-01-10 | 2016-08-16 | John C. Karamanos | Embedded heat exchanger for heating, ventilation, and air conditioning (hvac) systems and methods |
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| JPS5617050A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-18 | Nec Corp | Semiconductor device |
| JPS5624955A (en) * | 1979-08-07 | 1981-03-10 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
| JPS5662351A (en) * | 1979-10-26 | 1981-05-28 | Hitachi Ltd | Semiconductor device for memory |
-
1981
- 1981-07-14 JP JP56111177A patent/JPS5810839A/ja active Granted
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS628033B2 (ja) | 1987-02-20 |
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