JPS5811720B2 - シフトレジスタ - Google Patents
シフトレジスタInfo
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- JPS5811720B2 JPS5811720B2 JP50069974A JP6997475A JPS5811720B2 JP S5811720 B2 JPS5811720 B2 JP S5811720B2 JP 50069974 A JP50069974 A JP 50069974A JP 6997475 A JP6997475 A JP 6997475A JP S5811720 B2 JPS5811720 B2 JP S5811720B2
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- inverter circuit
- fet
- connection point
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/18—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages
- G11C19/182—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes
- G11C19/184—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes with field-effect transistors, e.g. MOS-FET
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Shift Register Type Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は絶縁ゲート電解効果トランジスタ(Insu
lated Gate Field Effeet T
ran−sistor略してIGFETあるいはMOS
FETと称するが、以後FETと略記する。
lated Gate Field Effeet T
ran−sistor略してIGFETあるいはMOS
FETと称するが、以後FETと略記する。
)を用いて構成したシフトレジスタに関する。
電子式卓上計算機などの記憶回路あるいはカウンタに用
いられるシフトレジスタは、半導体チップ内で1ビット
当りの占有面積が小さくても順次カスケード接続して多
数使用するから半導体チップは大きくなり、常に歩留り
向上やコスト低減などを問題としていた。
いられるシフトレジスタは、半導体チップ内で1ビット
当りの占有面積が小さくても順次カスケード接続して多
数使用するから半導体チップは大きくなり、常に歩留り
向上やコスト低減などを問題としていた。
近年の集積回路技術の発展は、小型電子装置をますます
小型化可能としているが、上記シフトレジスタの場合に
は1ビツトのレジスタ(D型フリツプフ田ンプ)を構成
するために必要なFETの個数が従来から多いため、チ
ップ面積を縮小してコストを低減するには1機能当りの
構成素子数を少くすることが必要とされる。
小型化可能としているが、上記シフトレジスタの場合に
は1ビツトのレジスタ(D型フリツプフ田ンプ)を構成
するために必要なFETの個数が従来から多いため、チ
ップ面積を縮小してコストを低減するには1機能当りの
構成素子数を少くすることが必要とされる。
第1図は従来、相補形回路として形成されるシフトレジ
スタの1ビツトすなわちD型フリップフロップとして機
能する論理回路を示している。
スタの1ビツトすなわちD型フリップフロップとして機
能する論理回路を示している。
この論理回路について説明する前にFETに関して説明
すると、Pチャンネル形(以後P形という)FETもN
チャンネル形(以後N形という)FETも半導体の内部
あるいは表面の電流通路(チャンネル)の導電度を電流
方向と直交する電界により制御する能動3端子素子であ
り、前者が正札をキャリアとしているのに対し後者は電
子をキャリアとしてソース−ドレイン間に電流が流れる
。
すると、Pチャンネル形(以後P形という)FETもN
チャンネル形(以後N形という)FETも半導体の内部
あるいは表面の電流通路(チャンネル)の導電度を電流
方向と直交する電界により制御する能動3端子素子であ
り、前者が正札をキャリアとしているのに対し後者は電
子をキャリアとしてソース−ドレイン間に電流が流れる
。
一般にFETのソース、ドレインはバイポーラ素子(ト
ランジスタ)のコレクタ、エミッタのように電極講義上
の違いはほとんどない両方向性の素子であって、ソース
、ドレインの区別は回路動作上でのみ表かれる。
ランジスタ)のコレクタ、エミッタのように電極講義上
の違いはほとんどない両方向性の素子であって、ソース
、ドレインの区別は回路動作上でのみ表かれる。
ここではP形FETとの相補対称形回路を扱うから出力
側をドレインとし、バイアス電源側(接地側)をソース
とする。
側をドレインとし、バイアス電源側(接地側)をソース
とする。
そしてVDDを正電VSSを負電源(接地)とし、動作
説明上VDDを「1」レベルの電位、vSS茶u0vレ
ベルの電位とし、いわゆる正論理を用いることとする。
説明上VDDを「1」レベルの電位、vSS茶u0vレ
ベルの電位とし、いわゆる正論理を用いることとする。
第1回に於て、入力端子1にはP形およびN形FETを
並列接続したトランスファゲート2がが接続され、各F
ETのゲートにはクロックパルスφ。
並列接続したトランスファゲート2がが接続され、各F
ETのゲートにはクロックパルスφ。
φが供給される。
3は電源VDD、VS2間にP形およびN形FETを直
列接続して配置されたインバータであり、上記トランス
ファゲート2の出力端子とインバータ3の各FETのゲ
ートが接続され、かつこのインバータ3の入出力端子間
(A−B陣にトランスファゲート4とインバータ5の直
列回路が図に示す様に接続される。
列接続して配置されたインバータであり、上記トランス
ファゲート2の出力端子とインバータ3の各FETのゲ
ートが接続され、かつこのインバータ3の入出力端子間
(A−B陣にトランスファゲート4とインバータ5の直
列回路が図に示す様に接続される。
これらトランスファゲート2,4とインバータ3,5と
によって上記入力端子1に供給される入力情報INが半
ビットだけシフトされ、したがって同様にトランスファ
ゲート6.8とインバータ7.9で半ビットのシフトレ
ジスタを構成することにより、出力端子10からは1ビ
ツトシフトされた出力信号OUTが得られる。
によって上記入力端子1に供給される入力情報INが半
ビットだけシフトされ、したがって同様にトランスファ
ゲート6.8とインバータ7.9で半ビットのシフトレ
ジスタを構成することにより、出力端子10からは1ビ
ツトシフトされた出力信号OUTが得られる。
なお図中の各接続点A、B、C,DEなどにはゲート容
量あるいは拡散容量がCA。
量あるいは拡散容量がCA。
CB、co・・・・・・とじて示されており、またイン
バータ11はクロックパルスφから岡を得るためのもの
を示している。
バータ11はクロックパルスφから岡を得るためのもの
を示している。
このように従来の1ビツトシフトレジスタを構成するに
は、インバータ11に用いる2個のFETを含め合計1
8個のFETを必要としているからチップ内での占有面
積はかなり大きくなるし、また動作時の消費電力も大き
くなる。
は、インバータ11に用いる2個のFETを含め合計1
8個のFETを必要としているからチップ内での占有面
積はかなり大きくなるし、また動作時の消費電力も大き
くなる。
次にこのシフトレジスタの動作について第2図を参照し
て簡単に説明する。
て簡単に説明する。
第2図a=iはそれぞれクロックパルス1.φ、入力情
報IN、接続点A−Eでの電圧波形および出力信号OU
Tである。
報IN、接続点A−Eでの電圧波形および出力信号OU
Tである。
入力情報INが入力端子1から供給されるとクロックパ
ルスφが「1」レベルのタイミングでトランスファゲー
ト2および8が導通(オン)し、かつトランスファゲー
ト4,6が非導通(オフ)状態となるから、たとえば入
力情報INのデータD1が接続点Aの容量CBに記憶さ
れ、かつインバータ3で反転されたデータは容量CBで
記憶されるとともにさらにインバータ5で反転され接続
点Cの容量coにも記憶される。
ルスφが「1」レベルのタイミングでトランスファゲー
ト2および8が導通(オン)し、かつトランスファゲー
ト4,6が非導通(オフ)状態となるから、たとえば入
力情報INのデータD1が接続点Aの容量CBに記憶さ
れ、かつインバータ3で反転されたデータは容量CBで
記憶されるとともにさらにインバータ5で反転され接続
点Cの容量coにも記憶される。
次にφ=O(6=1)こなると、トランスファゲート2
,8はオフし4,6がオンするから、CBのデータは接
続点りの容量CDに移されるとともにインバーターで再
反転されて出力端子10に読出される。
,8はオフし4,6がオンするから、CBのデータは接
続点りの容量CDに移されるとともにインバーターで再
反転されて出力端子10に読出される。
このときDlはインバータ9で反転されて接続点Eにあ
る容量C8に記憶され、かつ上記容量C6に記憶された
データはトランスファゲート4から接続点Aの容量CA
に再書込みされる。
る容量C8に記憶され、かつ上記容量C6に記憶された
データはトランスファゲート4から接続点Aの容量CA
に再書込みされる。
つまり、出力端子10からデータD1が出力信号として
読出されている間に接続点A−B→C−Aを結ぶ安定記
憶回路が形成されDlは保持されることになる。
読出されている間に接続点A−B→C−Aを結ぶ安定記
憶回路が形成されDlは保持されることになる。
次にクロックパルスφ=L(I=0)のタイミングでは
、トランスファゲート2,8がオン、4,6がオフとな
り、接続点Aの容量CAに新しいデータD2が入力端子
1から書込まれ上述した記憶動作を行なうが、このとき
トランスファゲート8がオンしているから、接続点りに
て記憶されていた古いデータD1は接続点D→出出出力
端子OUT後続点→Dを結ぶ安定記憶回路が形成される
ことによって保持される。
、トランスファゲート2,8がオン、4,6がオフとな
り、接続点Aの容量CAに新しいデータD2が入力端子
1から書込まれ上述した記憶動作を行なうが、このとき
トランスファゲート8がオンしているから、接続点りに
て記憶されていた古いデータD1は接続点D→出出出力
端子OUT後続点→Dを結ぶ安定記憶回路が形成される
ことによって保持される。
この種のシフトレジスタはクロックパルスφが「1」レ
ベルのときデータが書込まれ、9がu1vレベルのとき
に読出されるもので、必要な段数だけカスケード接続し
て記憶回路などとして使用される。
ベルのときデータが書込まれ、9がu1vレベルのとき
に読出されるもので、必要な段数だけカスケード接続し
て記憶回路などとして使用される。
ところがこうしたシフトレジスタはクロックパルスφ、
vのインバータ11を含め18個の構成FET素子数が
必要であるから、集積回路のチップ内での占有面積は大
きく歩留り低下によって製造コストを低くすることがむ
ずかしい。
vのインバータ11を含め18個の構成FET素子数が
必要であるから、集積回路のチップ内での占有面積は大
きく歩留り低下によって製造コストを低くすることがむ
ずかしい。
また個々のFETのリーク電流は数pA=nA程度とな
っているから、シフトレジスタを構成するFET0数は
消費電力の増加に影響し、多数段を接続したものでは電
力量を無視できない程になる。
っているから、シフトレジスタを構成するFET0数は
消費電力の増加に影響し、多数段を接続したものでは電
力量を無視できない程になる。
したがって、更に少ない数のFETでシフトレジスタを
構成することが強く望まれているところであった。
構成することが強く望まれているところであった。
この発明は、上記の点に鑑みなされたもので、最少の素
子数でかつチップ内での占有面積を小さくし、集積回路
に好適し安価なるシフトレジスタを提供することを目的
としている。
子数でかつチップ内での占有面積を小さくし、集積回路
に好適し安価なるシフトレジスタを提供することを目的
としている。
以下、この発明の一実施例を第3図乃頚5図を珍魚して
説明する。
説明する。
第3図はシフトレジスタの1ビット分を示すもので、正
電源VDDが印加される電源端子21ど接地電位VSS
との間には、P形FET22とN形FET23とを直列
接続してなるインバータ回路24、P形FET25とN
形FET26とを直列接続してなるインバータ回路1ヱ
が直列1に接続されている。
電源VDDが印加される電源端子21ど接地電位VSS
との間には、P形FET22とN形FET23とを直列
接続してなるインバータ回路24、P形FET25とN
形FET26とを直列接続してなるインバータ回路1ヱ
が直列1に接続されている。
そして各インバータ回路入4゜2TはそれぞれFET2
2,23およびFET25゜26のゲート電極を共通接
続し、入力情報INが供給される入力端子28とFET
25,26のゲート電極とが接続され、さらにインバー
タ回路24゜2Tの接続点はクロックパルスφが供給さ
れるクロック端子29に接続されφ。
2,23およびFET25゜26のゲート電極を共通接
続し、入力情報INが供給される入力端子28とFET
25,26のゲート電極とが接続され、さらにインバー
タ回路24゜2Tの接続点はクロックパルスφが供給さ
れるクロック端子29に接続されφ。
上記インバータ回路24.27を構成するP形FET2
2と25はサブストレート(基板)が正電源VDD側つ
まりソースと直結されており、またN形FET23と2
6もサブストレートが接地側つまりソースと直結され、
インバータ回路24.27の出力端子すなわち各FET
22,23,25,26のドレインとサブストレートと
の聞は結線せず寄生的にダイオードD0゜〜D4を介在
させることとし、いずれのダイオードD0〜D4も電源
端子21と接地VSSとの間で逆極性をなすように構成
されている。
2と25はサブストレート(基板)が正電源VDD側つ
まりソースと直結されており、またN形FET23と2
6もサブストレートが接地側つまりソースと直結され、
インバータ回路24.27の出力端子すなわち各FET
22,23,25,26のドレインとサブストレートと
の聞は結線せず寄生的にダイオードD0゜〜D4を介在
させることとし、いずれのダイオードD0〜D4も電源
端子21と接地VSSとの間で逆極性をなすように構成
されている。
さらに、上記電源端子21と上記インバータ回路27の
出力端子との間には、P形FET3GとN形FET31
とを直列接続してなるインバータ回路11が設けられ、
このインバータ回路32の入力端子には上記インバータ
回路24の出力端子が接続されるとともにFET30と
31との接続点すなわちインバータ回路32の出力端子
を上記インバータ回路24の入力端子と接続して閉ルー
プを構成している。
出力端子との間には、P形FET3GとN形FET31
とを直列接続してなるインバータ回路11が設けられ、
このインバータ回路32の入力端子には上記インバータ
回路24の出力端子が接続されるとともにFET30と
31との接続点すなわちインバータ回路32の出力端子
を上記インバータ回路24の入力端子と接続して閉ルー
プを構成している。
このインバータ回路32においても、FET30.31
のサブストレートはソースと直結されていて、直結され
ていないサブストレート−ドレイン間に寄生的に介在す
るダイオードD、、B6は上記ダイオードD0〜D4の
場合と同様電源VDDに対して逆極性をなしている。
のサブストレートはソースと直結されていて、直結され
ていないサブストレート−ドレイン間に寄生的に介在す
るダイオードD、、B6は上記ダイオードD0〜D4の
場合と同様電源VDDに対して逆極性をなしている。
なお、ここで上記インバータ回路27とlλへの接続点
A、インバータ回路24と32との接続点をB1インバ
ータ回路32と24との接続点をCとし、また各FET
のゲート容量あるいは、ソース、ドレインの拡散容量を
図中破線にて示している。
A、インバータ回路24と32との接続点をB1インバ
ータ回路32と24との接続点をCとし、また各FET
のゲート容量あるいは、ソース、ドレインの拡散容量を
図中破線にて示している。
しかして、前記インバータ回路32の出力端子すなわち
接続点Cには、P形FET42とN形FET43とを直
列接続してなるインバータ回路44の入力端子が接続さ
れ、このインバータ回路44はP形FET45とN形F
ET46とを直列接続してなるインバータ回路4Tと直
列に接続され前記電源端子21と接地電位VSSとの間
に配置される。
接続点Cには、P形FET42とN形FET43とを直
列接続してなるインバータ回路44の入力端子が接続さ
れ、このインバータ回路44はP形FET45とN形F
ET46とを直列接続してなるインバータ回路4Tと直
列に接続され前記電源端子21と接地電位VSSとの間
に配置される。
そしてこれらインバータ回路44と47の接続点は前記
クロック端子29と接続されている。
クロック端子29と接続されている。
さらに上記インバータ回路44の出力端子と接地電位と
の間には、P形FET50とN形FET51とを直列接
続してなるインバータ回路52が設けられ、このインバ
ータ回路52の入力端子には上記インバータ回路47の
出力端子が接続されるとともにFET50と51との接
続点すなわちインバータ回路52の出力端子を出力信号
の出力端子53としかつ上記インバータ回路47の入力
端子と接続して閉ループを構成している。
の間には、P形FET50とN形FET51とを直列接
続してなるインバータ回路52が設けられ、このインバ
ータ回路52の入力端子には上記インバータ回路47の
出力端子が接続されるとともにFET50と51との接
続点すなわちインバータ回路52の出力端子を出力信号
の出力端子53としかつ上記インバータ回路47の入力
端子と接続して閉ループを構成している。
これらインバータ回路44.47.52においても、各
FETのサブストレートはソースと直結されていて、直
結されていないサブストレート−ドレイン間に寄生的に
介在するダイオードD7〜D12はそれぞれ電源VDD
−接地間で逆極性をなしている。
FETのサブストレートはソースと直結されていて、直
結されていないサブストレート−ドレイン間に寄生的に
介在するダイオードD7〜D12はそれぞれ電源VDD
−接地間で逆極性をなしている。
また上記インバータ回路44と52との接続点、4Tと
52との接続点をそれぞれり、Eとし、各FETのゲー
ト容量あるいはソース、ドレインの拡散容量は図中破線
にて示している。
52との接続点をそれぞれり、Eとし、各FETのゲー
ト容量あるいはソース、ドレインの拡散容量は図中破線
にて示している。
第4図は上記実施例のシフトレジスタを具体的に5OS
(シリコンオンサファイヤ)のMO8型集積回路で構成
した場合の断面構造図である。
(シリコンオンサファイヤ)のMO8型集積回路で構成
した場合の断面構造図である。
図中56はサファイヤ基板であり、この基板上に例えば
ヘテロエピタキシャル成長させた薄いシリコン層を設け
て、不安部分のシリコンをエツチング除去することによ
り前記FET22,23・・・・・・50゜51をそれ
ぞれ分離形成している。
ヘテロエピタキシャル成長させた薄いシリコン層を設け
て、不安部分のシリコンをエツチング除去することによ
り前記FET22,23・・・・・・50゜51をそれ
ぞれ分離形成している。
なお、基板56は絶縁基板であればよいからたとえばス
ピネルなども使用され、通常のMOS IC,0MO8
とは異なり個々のトランジスタは小面積内で容易に絶縁
分離されるから回路は小型化し消費電力量も低減する。
ピネルなども使用され、通常のMOS IC,0MO8
とは異なり個々のトランジスタは小面積内で容易に絶縁
分離されるから回路は小型化し消費電力量も低減する。
図中斜線を施した部分5Tはシリコン酸化膜であり、こ
の上にゲート電極、ソース、ドレイン電極あるいは相互
配線などがたとえばアルミニウムなどの金属層によって
形成される。
の上にゲート電極、ソース、ドレイン電極あるいは相互
配線などがたとえばアルミニウムなどの金属層によって
形成される。
また図中破線で示す様に、それぞれのFETのサブスト
レートとドレインとの間にダイオードD1〜D12が介
在するのは、サブスレートとソースの領域をたとえば基
板56の面上であるいはFETの側面部で導電体を用い
て結線することによって寄生的に形成されてくるからで
ある。
レートとドレインとの間にダイオードD1〜D12が介
在するのは、サブスレートとソースの領域をたとえば基
板56の面上であるいはFETの側面部で導電体を用い
て結線することによって寄生的に形成されてくるからで
ある。
なお、この第4図では、FET、各端子類をすべて第3
図と対応させて同一符号で示しており、配線関係も同時
に模式的に示している。
図と対応させて同一符号で示しており、配線関係も同時
に模式的に示している。
第5図a、bは、上記実施例のシフトレジスタの動作説
明図であり、aは論理記号図、bは各点の動作電圧波形
図である。
明図であり、aは論理記号図、bは各点の動作電圧波形
図である。
同図aの6個のインバータ回路は前記第3図で用いた符
号すなわち2427.32,44,47,52を付け、
同図すに於てクロック端子29に供給されるクロックパ
ルスφ、入力情報IN、各接点接点Eの電圧波形、出力
信号OUTを示している。
号すなわち2427.32,44,47,52を付け、
同図すに於てクロック端子29に供給されるクロックパ
ルスφ、入力情報IN、各接点接点Eの電圧波形、出力
信号OUTを示している。
これら第5図a。bを参照してこの発明のシフトレジス
タの動作を説明する。
タの動作を説明する。
まず、入力端子28に「0」レベルの入力情報がある場
合について考える。
合について考える。
クロックパルスφが「1」レベルのタイミングでは、F
ET25がオンするとともにFET23はオフし、イン
バータ回路27の出力端子すなわち接続点Aの電位は「
1」となりかつ接続点Bは接続点Cの電位にかかわりな
くダイオードD2が順方向にバイアスされることによっ
て「1」レベルとなる。
ET25がオンするとともにFET23はオフし、イン
バータ回路27の出力端子すなわち接続点Aの電位は「
1」となりかつ接続点Bは接続点Cの電位にかかわりな
くダイオードD2が順方向にバイアスされることによっ
て「1」レベルとなる。
なお接続点Cの電位は、インバータ回路且2の第2制御
端子すなわち接続点Aがulvレベルであるからダイオ
ードD6によって「1」レベルとなる。
端子すなわち接続点Aがulvレベルであるからダイオ
ードD6によって「1」レベルとなる。
クロックパルスφが「0」レベルになると、FET23
がオンするからインバータ回路24の出力端子すなわち
接続点Bは「0」レベルに反転する。
がオンするからインバータ回路24の出力端子すなわち
接続点Bは「0」レベルに反転する。
そして同時に接続点Aの電位もダイオードD3によって
放電されるから「1」レベルから「0」レベルに反転す
る。
放電されるから「1」レベルから「0」レベルに反転す
る。
したがって、インバータ回路32はFET3Gがオンし
FET31がオフするから接続点Cの電位を「1」レベ
ルに保ち、インバータ回路λAとともに安全記憶回路を
なす。
FET31がオフするから接続点Cの電位を「1」レベ
ルに保ち、インバータ回路λAとともに安全記憶回路を
なす。
つまリークロックパルスφが「0」ならば入力情報IN
と無関係に接続点B、Cでの電位は保持される。
と無関係に接続点B、Cでの電位は保持される。
そして再びクロックパルスφがu1vレベルになった時
、各接続点A、B、Cは最初の状態つまりそれぞれが「
1」レベルの電位になるから、接続点Cは「l」レベル
に決まる。
、各接続点A、B、Cは最初の状態つまりそれぞれが「
1」レベルの電位になるから、接続点Cは「l」レベル
に決まる。
ここでインバータ回路44.47.52について考える
と、クロックパルスがφ=0のときFET43はオン、
FET42はオフしてインバータ回路44の出力端子す
なわち接続点りの電位は「0」レベルとなる。
と、クロックパルスがφ=0のときFET43はオン、
FET42はオフしてインバータ回路44の出力端子す
なわち接続点りの電位は「0」レベルとなる。
そして接続点りが「0」クロックパルスφも「0」レベ
ルであると、インバータ回路47゜52の出力端子すな
わち接続点Eと出力端子53とはそれぞれダイオードD
9tIttによって放電されつるからいずれも「0」レ
ベルとされる。
ルであると、インバータ回路47゜52の出力端子すな
わち接続点Eと出力端子53とはそれぞれダイオードD
9tIttによって放電されつるからいずれも「0」レ
ベルとされる。
クロックパルスφが「1」レベルになると、ダイオード
D8が順方向にバイアスされた状態になり接続点りは「
1」レベルに反転する。
D8が順方向にバイアスされた状態になり接続点りは「
1」レベルに反転する。
そして同時にインバータ回路4TのダイオードD、は逆
バイアスとなるが出力端子53に「0」レベルの信号が
あるためFET45がオンするので、インバータ回路4
7の出力端子すなわち接続点Eの電位も「0」レベルか
ら「l」レベルに反転する。
バイアスとなるが出力端子53に「0」レベルの信号が
あるためFET45がオンするので、インバータ回路4
7の出力端子すなわち接続点Eの電位も「0」レベルか
ら「l」レベルに反転する。
したがってインバータ回路52はFET50がオフしF
ET51がオンするからひきつづき出力端子53の電位
を「0」レベルに保つ。
ET51がオンするからひきつづき出力端子53の電位
を「0」レベルに保つ。
つまり、入力情報INが「0」のとき接続点Cが「1」
レベルに保たれれば、クロックパルスφの電位と関係な
く出力端子53の電位は保持される。
レベルに保たれれば、クロックパルスφの電位と関係な
く出力端子53の電位は保持される。
そして再びクロックパルスφが10」レベルになった時
、各接続点り。
、各接続点り。
Eおよび出力端子53は最初の状態つまりそれぞれが「
0」レベルの状態に戻るが、接続点Cの電位が変化して
いればこれに応じて接続点りの電位は「1」レベルの状
態を保持するし、したがって出力端子53にはデータ「
1」が出力信号として伝達されることになる(16のタ
イミング)が、ここでは14(あるいは1.)のタイミ
ングまですなわち入力情報がIN=0のときを考えてい
るから出力端子53はクロックパルスφにかかわらrO
vレベルを保つ。
0」レベルの状態に戻るが、接続点Cの電位が変化して
いればこれに応じて接続点りの電位は「1」レベルの状
態を保持するし、したがって出力端子53にはデータ「
1」が出力信号として伝達されることになる(16のタ
イミング)が、ここでは14(あるいは1.)のタイミ
ングまですなわち入力情報がIN=0のときを考えてい
るから出力端子53はクロックパルスφにかかわらrO
vレベルを保つ。
次に、入力端子28に「1」レベルの入力情報がある場
合について説明する。
合について説明する。
クロックパルスφが「1」レベルのタイミングでは、F
ET25がオフするとともにFET26がオンし、イン
バータ回路2Tの出力端子すなわち接続点Aの電位はク
ロッツクパルスφと関係なく「0」レベルにあり、かつ
接続点Bは接続点Cの電位にかかわらずダイオード込に
よって「1」レベルとなる。
ET25がオフするとともにFET26がオンし、イン
バータ回路2Tの出力端子すなわち接続点Aの電位はク
ロッツクパルスφと関係なく「0」レベルにあり、かつ
接続点Bは接続点Cの電位にかかわらずダイオード込に
よって「1」レベルとなる。
したがってインバータ回路32の出力端子には、FET
30がオフ、FET31がオンすることにより「0」レ
ベルの電位が得られる。
30がオフ、FET31がオンすることにより「0」レ
ベルの電位が得られる。
その後、クロックパルスφが「0」レベルになつた時も
、インバータ回路2Tの出力端子すなわち接続点Aの電
位は「0」レベルに維持されるから、接続点CもrOJ
レベルに保たれ、FET22がオンして接続点Bも「1
」レベルに保たれる。
、インバータ回路2Tの出力端子すなわち接続点Aの電
位は「0」レベルに維持されるから、接続点CもrOJ
レベルに保たれ、FET22がオンして接続点Bも「1
」レベルに保たれる。
そして、再びクロックパルスφがrlJレベルになると
き接続点Cは「0」レベルを保持するから、インバータ
回路24.32は閉ループにおいて安定記憶回路をなす
。
き接続点Cは「0」レベルを保持するから、インバータ
回路24.32は閉ループにおいて安定記憶回路をなす
。
接続点Cが「0」レベルを保持するとき、インバータ回
路44,47゜52について考えると、クロックパルス
がφ=0のときFET42がオン、FET43がオフし
て接続点りは「1」レベルの電位になる。
路44,47゜52について考えると、クロックパルス
がφ=0のときFET42がオン、FET43がオフし
て接続点りは「1」レベルの電位になる。
またインバータ回路47はダイオードD、が順方向にな
って、接続点Eを「0」レベルにし、その結果FET5
0をオン、FET51をオフするから出力端子53には
接続点りの「1」レベルがあられれる。
って、接続点Eを「0」レベルにし、その結果FET5
0をオン、FET51をオフするから出力端子53には
接続点りの「1」レベルがあられれる。
φ=1になると、接続点りはダイオードD8によって「
1」レベルを保持し、また出力端子53がulvだから
FET45がオフ、FET46がオンして接続点Eを「
0」のままとし、したがって出力端子53も「1」を保
持する。
1」レベルを保持し、また出力端子53がulvだから
FET45がオフ、FET46がオンして接続点Eを「
0」のままとし、したがって出力端子53も「1」を保
持する。
つまりインバータ回路47.52は安定記憶回路を形成
する。
する。
ところで、今入力情報INが「0」から「1」にかわる
タイミングt4を考えると、クロックパルスφは「1」
から「0」になるから接続点Aが「0」レベルに反転す
ると同時に接続点BもFET23がオンすることによっ
て「0」に反転する。
タイミングt4を考えると、クロックパルスφは「1」
から「0」になるから接続点Aが「0」レベルに反転す
ると同時に接続点BもFET23がオンすることによっ
て「0」に反転する。
したがってダイオードD6は逆バイアスになるがFET
3Qがオンし接続点Cは「1」に保たれる。
3Qがオンし接続点Cは「1」に保たれる。
ところが、次にクロックパルスがφ=1になるタイミン
グt、では接続点Aは「0」のままであるがダイオード
D2によって接続点Bが「1」に反転し、このため接続
点Cは「0」に反転する。
グt、では接続点Aは「0」のままであるがダイオード
D2によって接続点Bが「1」に反転し、このため接続
点Cは「0」に反転する。
したがって、インバータ回路24,27.32で構成し
たシフトレジスタは、入力情報INるクロックパルスφ
の半周期に対応する半ビット分だけ記憶し遅延した出力
信号を得るものであって、同様にインバータ回路44.
47.52で構成したシフトレジスタでもt、〜t6の
タイミングで安定記憶回路が形成されるからAt6の時
点で上記入力情報(t4で入力した「0」→「1j)が
1ビツト遅延した出力信号として出力端子53にあられ
れる。
たシフトレジスタは、入力情報INるクロックパルスφ
の半周期に対応する半ビット分だけ記憶し遅延した出力
信号を得るものであって、同様にインバータ回路44.
47.52で構成したシフトレジスタでもt、〜t6の
タイミングで安定記憶回路が形成されるからAt6の時
点で上記入力情報(t4で入力した「0」→「1j)が
1ビツト遅延した出力信号として出力端子53にあられ
れる。
このように前段の各接続点A、B、Cではクロックパル
スφ−1のとき入力情報INを接続点Cまで伝え、φ=
0のとき安定回路形成によってデータを一定期間保持す
る。
スφ−1のとき入力情報INを接続点Cまで伝え、φ=
0のとき安定回路形成によってデータを一定期間保持す
る。
そして後段の接続点り、Eおよび出力端子53はφ=0
のとき接続点Cの保持するデータを端子53に伝え、φ
=1のとき安定回路形成によりこのデータを一定期間保
持する。
のとき接続点Cの保持するデータを端子53に伝え、φ
=1のとき安定回路形成によりこのデータを一定期間保
持する。
したがって、こうしてφ−1のときに人力情報が接続点
B−C−Hの安定記憶回路に記憶されφ=0のときに出
力端子53からデータを出力するとともに端子53→接
続点E→端子53の安定記憶回路で記憶されるから、1
ビツトのシフトレジスタ(いわゆる遅延形フリップフロ
ップ)が構成されていることがわかる。
B−C−Hの安定記憶回路に記憶されφ=0のときに出
力端子53からデータを出力するとともに端子53→接
続点E→端子53の安定記憶回路で記憶されるから、1
ビツトのシフトレジスタ(いわゆる遅延形フリップフロ
ップ)が構成されていることがわかる。
なお、上記実施例のシフトレジスタは、第4図に示した
通り、5O8−ICとして実現されたものであるが、た
とえばN形半導体基板上に選択拡散技術によって12個
のFETを構成した相補形集積回路としても実現される
ものである。
通り、5O8−ICとして実現されたものであるが、た
とえばN形半導体基板上に選択拡散技術によって12個
のFETを構成した相補形集積回路としても実現される
ものである。
ただし、すべてのFETのサブストレートを共通にした
場合こは、第6図に示すダイオードD12sD13sD
16゜D18tD19jD21は寄生的に形成されると
は限らないから、別途選択拡散によって形成してやる必
要がある。
場合こは、第6図に示すダイオードD12sD13sD
16゜D18tD19jD21は寄生的に形成されると
は限らないから、別途選択拡散によって形成してやる必
要がある。
ここで第6図は、第3図とほぼ同一の構成であるからF
ET23,25,31,43゜45.51のドレイン−
ソース間に形成したダイオード以外については同一の参
照符号を用い、説明は省略する。
ET23,25,31,43゜45.51のドレイン−
ソース間に形成したダイオード以外については同一の参
照符号を用い、説明は省略する。
以上説明したこの発明の実施例は、12個のFETとこ
れらに寄生するダイオードあるいはドレイン−ソース間
を接続する[C形式したダイオードとを組合わせること
により1ビツトのシフトレジスタとして動作するもので
あり、従来のFET2によるシフトレジスタにくらべる
と、素子数で25%の低減がはかれ、またクロックパル
スφを一本だけしか用いていないから7を得るためのイ
ンバータ回路やそのための配線が不要となり、−ビット
あたりの占有面積は大幅に縮小される。
れらに寄生するダイオードあるいはドレイン−ソース間
を接続する[C形式したダイオードとを組合わせること
により1ビツトのシフトレジスタとして動作するもので
あり、従来のFET2によるシフトレジスタにくらべる
と、素子数で25%の低減がはかれ、またクロックパル
スφを一本だけしか用いていないから7を得るためのイ
ンバータ回路やそのための配線が不要となり、−ビット
あたりの占有面積は大幅に縮小される。
したがって、素子数が減ることによって消費電力の低減
がはかれるし、面積縮小によって集積回路のコストの低
減も期待される。
がはかれるし、面積縮小によって集積回路のコストの低
減も期待される。
第T図aは第3図実施例と同様に構成したシフトレジス
タの1ビツト分を示す論理記号図である。
タの1ビツト分を示す論理記号図である。
ただし、前段の半ビットと後段の半ビットとは互いに異
なるクロックパルスφ1と<2とを供給するようにして
、前段、後段での安定記憶期間が等しくなるようにして
いる。
なるクロックパルスφ1と<2とを供給するようにして
、前段、後段での安定記憶期間が等しくなるようにして
いる。
すなわち第7図すにその動作波形を示す様に、クロック
パルスφ1とφ2とは180°の位相差をもちかつφ2
を反転させたv2を用いている。
パルスφ1とφ2とは180°の位相差をもちかつφ2
を反転させたv2を用いている。
第8図a、bは他の実施例であり、ここでは前段の半ビ
ットのシフトレジスタと後段のそれとは全く同一の構成
であるが供給されるクロックパルスはφと岡とを用いて
いる。
ットのシフトレジスタと後段のそれとは全く同一の構成
であるが供給されるクロックパルスはφと岡とを用いて
いる。
第9図a、bは第8図のものと同一の構成をなしている
が、供給されるクロックパルスを前段にφ1、後段にφ
2と互いに異なるものとしている。
が、供給されるクロックパルスを前段にφ1、後段にφ
2と互いに異なるものとしている。
第10図a、bの実施例は第3図実施例における前段と
後段の半ビツトシフトレジスタを前後入れかえた構成の
ものを接続したシフトレジスタであり、入力情報INは
第2のインバータ回路2Tに供給されまたクロックパル
スφのかわりに7を用いて動作させるようにしたもので
ある。
後段の半ビツトシフトレジスタを前後入れかえた構成の
ものを接続したシフトレジスタであり、入力情報INは
第2のインバータ回路2Tに供給されまたクロックパル
スφのかわりに7を用いて動作させるようにしたもので
ある。
第11図a、bは上記第10図のシフトレジスタと同t
に1ビツトシフトレジスタが形成されているが、前段と
後段とに互いに異なるクロックパルスd1とφ2とを供
給するようにしている。
に1ビツトシフトレジスタが形成されているが、前段と
後段とに互いに異なるクロックパルスd1とφ2とを供
給するようにしている。
第12図a、bは前、後段が同一の構成をもつシフトレ
ジスタであり、前段の半ビット分にクロックパルスφを
、後段にφを供給している。
ジスタであり、前段の半ビット分にクロックパルスφを
、後段にφを供給している。
第13図a、bは第12図のものと同一の構成をなして
いるが、供給されるクロックパルスは前段半ビットに対
して、φい、後段半ビットに対してφ2と互いに異なる
ものが供給されている。
いるが、供給されるクロックパルスは前段半ビットに対
して、φい、後段半ビットに対してφ2と互いに異なる
ものが供給されている。
第14図aは上述したシフトレジスタと同様1ビツトの
シフトレジスタを構成しており、ここでは後段半ビット
のシフトレジスタとして第1〜第3のインバータ回路4
4,47.52の他に第4のインバータ回路58が使用
され構成されている。
シフトレジスタを構成しており、ここでは後段半ビット
のシフトレジスタとして第1〜第3のインバータ回路4
4,47.52の他に第4のインバータ回路58が使用
され構成されている。
この第4のインバータ回路58は第3のインバータ回路
52の出力端子と第1のインバータ回路47の入力端子
との間にあって、第3のインバータ回路52\らの出力
信号を反転するものであるJなお、この場合出力信号O
UTは出力端子53を第4のインバータ回路58と接続
して得るようにしているが、第3のインバータ回路52
の出力端子から反転したままの出力信号OUTを得るよ
うにするものであってもよい。
52の出力端子と第1のインバータ回路47の入力端子
との間にあって、第3のインバータ回路52\らの出力
信号を反転するものであるJなお、この場合出力信号O
UTは出力端子53を第4のインバータ回路58と接続
して得るようにしているが、第3のインバータ回路52
の出力端子から反転したままの出力信号OUTを得るよ
うにするものであってもよい。
第15図a、bは第14図実施例における前段と後段の
半ビツトシフトレジスタを前後入れかえて接続したシフ
トレジスタを示しており、第4のインバータ回路33の
出力信号りを後段の第2のインバータ回路44に供給す
るようにして、前後段ともにクロックパルスφで動作さ
せている。
半ビツトシフトレジスタを前後入れかえて接続したシフ
トレジスタを示しており、第4のインバータ回路33の
出力信号りを後段の第2のインバータ回路44に供給す
るようにして、前後段ともにクロックパルスφで動作さ
せている。
第16図a、bは後段の半ビツトシフトレジスタにおい
て第3、第4、第2のインバータ回路52.58.44
が閉ループを形成する様に接続されたシフトレジスタで
あり、同図すの動作波形図から上述した各実施例と同様
に入力情報INが1ビツト遅延され出力信号OUTとし
て得られることがわかる。
て第3、第4、第2のインバータ回路52.58.44
が閉ループを形成する様に接続されたシフトレジスタで
あり、同図すの動作波形図から上述した各実施例と同様
に入力情報INが1ビツト遅延され出力信号OUTとし
て得られることがわかる。
なお、上記第7図乃至第16図の各実施例は、第5図に
おいて説明した実施例から動作は容易に理解されるもの
であり、動作波形図の説明は省略する。
おいて説明した実施例から動作は容易に理解されるもの
であり、動作波形図の説明は省略する。
第17図a−hは上述した実施例の構成を一括して図示
しており、クロック端子に供給されるクロックパルスは
各回毎に二通りが可能である。
しており、クロック端子に供給されるクロックパルスは
各回毎に二通りが可能である。
もちろんこの発明の実施例はこうした組合せによる1ビ
ツトシフトレジスタに限定されるものではない。
ツトシフトレジスタに限定されるものではない。
第18図aはこの発明のシフトレジスタの変形例であり
、第3図の実施例に於てリセット端子π。
、第3図の実施例に於てリセット端子π。
Rを付加したものである。
すなわち、第3のインバータ回路32(および52)の
FET30(51)と並列接続されたP形FET30’
(51′)のゲート電極と、第3のインバータ回路32
(52)の第2制御端子と第2のインバータ回路27(
44)の出力端子との間に介在するN形FET3σ′(
51〃)のゲート電極とが、上記リセット端子π(R)
と接続され、リセット信号によって接続点C(出力端子
53)の電位を即時に反転するようにしており、第18
図すに論理記号図、同図Cにその動作波形説明図を示し
ている。
FET30(51)と並列接続されたP形FET30’
(51′)のゲート電極と、第3のインバータ回路32
(52)の第2制御端子と第2のインバータ回路27(
44)の出力端子との間に介在するN形FET3σ′(
51〃)のゲート電極とが、上記リセット端子π(R)
と接続され、リセット信号によって接続点C(出力端子
53)の電位を即時に反転するようにしており、第18
図すに論理記号図、同図Cにその動作波形説明図を示し
ている。
第19図には、第17図すのシフトレジスタをN段接続
してNビットシフトレジスタを構成したものが示されて
いる。
してNビットシフトレジスタを構成したものが示されて
いる。
もちろん、第1T図に示される各シフトレジスタのいず
れによっても構成することができ、演算装置の記憶回路
などに応用される。
れによっても構成することができ、演算装置の記憶回路
などに応用される。
第20図は同様にNビットシフトレジスタであるが、こ
こでは各段のシフトレジスタにリセット信号が供給され
るようになっていて、出力信号「O」にリセットするこ
とが可能である。
こでは各段のシフトレジスタにリセット信号が供給され
るようになっていて、出力信号「O」にリセットするこ
とが可能である。
また、図示されていないがセット信号をこのシフトレジ
スタに供給するようにもできる。
スタに供給するようにもできる。
以上詳述したようにこの発明によれば、乗少磯FET6
個によって半ビツト遅延した出力信号を得られ、消費電
力を低減化しかつ安価な集積回路としてシフトレジスタ
を提供することができる。
個によって半ビツト遅延した出力信号を得られ、消費電
力を低減化しかつ安価な集積回路としてシフトレジスタ
を提供することができる。
なお、この発明はここで述べた実施例に限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変形して
実施されるものである。
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変形して
実施されるものである。
第1図は従来のFETによるシフトレジスタの1ビット
分を示す回路図、第2図は第1図のシフトレジスタの動
作波形説明図、第3図はこの発明のシフトレジスタの一
実施例を示す回路図第4図は同実施例回路の一構成例を
示す断面説明図、第5図a、bは同実施例回路の論理記
号図および動作波形図、第6図はこの発明の他の実施例
を示す回路図、第7図〜第16図はこの発明の他の実施
例の論理記号図および動作波形図、第17図a〜hは各
実施例の論理記号図、第18図a、b、cはこの発明の
更に他の実施例を示す回路図論理記号図、および動作波
形図、第19図、第20図はそれぞれnビットシフトレ
ジスタを示す論理記号図である。 24.47・・・・・・第1のインバータ回路、2T。 44・・・・・・第2のインバータ回路、32,52・
・・・・・第3のインバータ回路、33.58・・・・
・・第4のインバータ回路。
分を示す回路図、第2図は第1図のシフトレジスタの動
作波形説明図、第3図はこの発明のシフトレジスタの一
実施例を示す回路図第4図は同実施例回路の一構成例を
示す断面説明図、第5図a、bは同実施例回路の論理記
号図および動作波形図、第6図はこの発明の他の実施例
を示す回路図、第7図〜第16図はこの発明の他の実施
例の論理記号図および動作波形図、第17図a〜hは各
実施例の論理記号図、第18図a、b、cはこの発明の
更に他の実施例を示す回路図論理記号図、および動作波
形図、第19図、第20図はそれぞれnビットシフトレ
ジスタを示す論理記号図である。 24.47・・・・・・第1のインバータ回路、2T。 44・・・・・・第2のインバータ回路、32,52・
・・・・・第3のインバータ回路、33.58・・・・
・・第4のインバータ回路。
Claims (1)
- 1−導電型の絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以降、
FETと略記する)を反対導電型のFETと直列に接続
し、この直列回路両端に位置するそれぞれのFETのソ
ース電極をそれぞれ第1、第2制御端子とするとともに
各FETのゲート電極を共通接続して入力端子とし、各
FETの接続点を出力端子とするインバータ回路を形成
し、第1、第2のインバータ回路をFETの導電型が交
互するように直列に接続し、第3のインバータ回路の第
1制御端子は上記第1のインバータ回路の第1制御端子
と接続するとともに第2制御端子は上記第2のインバー
タ回路の出力端子と接続し、かつ第3のインバータ回路
の入力端子を上記第1のインバータ回路の出力端子と接
続し、さらに上記第1のインバータ回路と第2のインバ
ータ回路との接続点にクロックパルスを供給するととも
に上記第1あるいは第2のインバータ回路の入力端子に
入力情報を供給し、また上記第3のインバータ回路の出
力端子を上記第1あるいは第2のインバータ回路のうち
上記入力情報が供給されていないインバータ回路の入力
端子と直接にあるいは第4のインバータ回路を介し接続
して閉ループを形成するとともに、これら第1乃至第3
のインバータ回路の各出力端子と第1あるいは第2制御
端子との間に形成されるダイオードを利用して上記第3
あるいは第4のインバータ回路の出力端子から上記入力
情報を上記クロックパルスの半周期に対応する半ビット
分だけ遅延させた出力信号を得るようにしたことを特徴
とするシフトレジスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50069974A JPS5811720B2 (ja) | 1975-06-10 | 1975-06-10 | シフトレジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50069974A JPS5811720B2 (ja) | 1975-06-10 | 1975-06-10 | シフトレジスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS51145237A JPS51145237A (en) | 1976-12-14 |
| JPS5811720B2 true JPS5811720B2 (ja) | 1983-03-04 |
Family
ID=13418128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50069974A Expired JPS5811720B2 (ja) | 1975-06-10 | 1975-06-10 | シフトレジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5811720B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62203120A (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-07 | Takeda Color Fureemu:Kk | 熱可塑性樹脂製眼鏡枠及びその製造方法 |
-
1975
- 1975-06-10 JP JP50069974A patent/JPS5811720B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62203120A (ja) * | 1986-03-03 | 1987-09-07 | Takeda Color Fureemu:Kk | 熱可塑性樹脂製眼鏡枠及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS51145237A (en) | 1976-12-14 |
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