JPS5814545A - Icの実装方法 - Google Patents
Icの実装方法Info
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- JPS5814545A JPS5814545A JP56112028A JP11202881A JPS5814545A JP S5814545 A JPS5814545 A JP S5814545A JP 56112028 A JP56112028 A JP 56112028A JP 11202881 A JP11202881 A JP 11202881A JP S5814545 A JPS5814545 A JP S5814545A
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
の水晶発振式電子腕時計を得るためのtCの実装方法に
関する。
関する。
従来、電子時計の回路実装に於ΦICQ外部接続は、金
線あるいはアルミニウム線乞用いた、いわゆるワイヤー
ボンディング法が行Jっれて(ゴニ。
線あるいはアルミニウム線乞用いた、いわゆるワイヤー
ボンディング法が行Jっれて(ゴニ。
しかし、ワイヤーボンディング法は各電極21ケずつ順
次接続してゆくために能率が悪(、さらに回路実装部の
厚みが太き(なってしまうという欠点があった。この欠
点を図によって説明する。
次接続してゆくために能率が悪(、さらに回路実装部の
厚みが太き(なってしまうという欠点があった。この欠
点を図によって説明する。
第1図は従来のワイヤーボンディング法による回路実装
部の断面図である。1は回路樹脂基板であり、リード端
子6が必要数配設され、IC固固着所に沈み部7が設け
られている。2はICであり、前記沈み部7に接着剤に
より固着されている。
部の断面図である。1は回路樹脂基板であり、リード端
子6が必要数配設され、IC固固着所に沈み部7が設け
られている。2はICであり、前記沈み部7に接着剤に
より固着されている。
5は接続用ワイヤーで、IC2の接続電極4と前記リー
ド端子3とを結線しており、前記接続用ワイヤー5、と
IC2の上面は封止用樹脂6で覆われている。上記構成
に於て、前記接続用ワイヤー5はループ状に張る必要が
あり、さらに封止用樹脂6は接続用ワイヤー5を完全に
被覆する必要があるため、IC実装部の厚さは前記接続
用ワイヤー5のベープ高さとその上の封止用樹脂6の厚
み分が前記゛回路樹脂基板1の厚みに加算された厚みと
なり、IC実装部の厚さが非常に大きくなってしまう欠
点が有った。さらに、封止用樹脂6と接続用ワイヤー5
との熱膨張係数のちがいによる接続用ワイヤー5の断線
なども起き易く、信頼性の上からも充分とは云えない面
があった。
ド端子3とを結線しており、前記接続用ワイヤー5、と
IC2の上面は封止用樹脂6で覆われている。上記構成
に於て、前記接続用ワイヤー5はループ状に張る必要が
あり、さらに封止用樹脂6は接続用ワイヤー5を完全に
被覆する必要があるため、IC実装部の厚さは前記接続
用ワイヤー5のベープ高さとその上の封止用樹脂6の厚
み分が前記゛回路樹脂基板1の厚みに加算された厚みと
なり、IC実装部の厚さが非常に大きくなってしまう欠
点が有った。さらに、封止用樹脂6と接続用ワイヤー5
との熱膨張係数のちがいによる接続用ワイヤー5の断線
なども起き易く、信頼性の上からも充分とは云えない面
があった。
本発明は上記ワイヤーボンディング法の欠点を解決しよ
うとするものであり、その目的とするところは、ICの
外部接続をハターン印刷で行うことにより、製造が容易
で信頼性が高く、より薄型小型化が可能な半導体装置を
提供することにある。
うとするものであり、その目的とするところは、ICの
外部接続をハターン印刷で行うことにより、製造が容易
で信頼性が高く、より薄型小型化が可能な半導体装置を
提供することにある。
以F本発明による水晶発振式電子腕時計の回路実装方法
の実施例を、第2図及びWfJ3図によって説明する。
の実施例を、第2図及びWfJ3図によって説明する。
第2図は本発明に用いる回路樹脂基板に於る■C実装部
の平面図であり、第3図は第2図に示す回路樹脂基板を
用いた各実装工程を示す断面図であり、工程順を(a)
〜(e)に示す。
の平面図であり、第3図は第2図に示す回路樹脂基板を
用いた各実装工程を示す断面図であり、工程順を(a)
〜(e)に示す。
本発明に用いる回路樹脂基板10は第2図及び第3図(
a)に示すごとく、ICの固着個所に沈み部9を設け、
該沈み部9の各コーナー・暫は逃げ部9aを設けておき
、前記沈み部9の端面から一定距離をおいてリード端子
8が必要数配設されている。
a)に示すごとく、ICの固着個所に沈み部9を設け、
該沈み部9の各コーナー・暫は逃げ部9aを設けておき
、前記沈み部9の端面から一定距離をおいてリード端子
8が必要数配設されている。
第3図(b)は前記回路樹脂基板10にICを固着した
状態を示す断面図であり、前記回路樹脂基板10に設け
られた沈み部9に、半田等より成る突起電極11を有す
るIC2が、接着剤12により固着されている。上記構
成に於て、IC2はチップ分割時に全厚みをダイシング
する事により、側面が正確な垂直面に加工されており、
かつ、前記回路樹脂基板10の沈み部9は、平面方向及
び深さの寸法精度が、IC2の外形形状に合わせて高精
度に加工されている。したがって沈み部9内に一定量の
接着剤12を滴下した後、IC2を沈み部9の上方より
挿入し、治具を用いてIC2の上面が回路樹脂基板10
の上面と一致する迄押込んだ状態で加熱することにより
、正確な位置に固着する事が出来る。
状態を示す断面図であり、前記回路樹脂基板10に設け
られた沈み部9に、半田等より成る突起電極11を有す
るIC2が、接着剤12により固着されている。上記構
成に於て、IC2はチップ分割時に全厚みをダイシング
する事により、側面が正確な垂直面に加工されており、
かつ、前記回路樹脂基板10の沈み部9は、平面方向及
び深さの寸法精度が、IC2の外形形状に合わせて高精
度に加工されている。したがって沈み部9内に一定量の
接着剤12を滴下した後、IC2を沈み部9の上方より
挿入し、治具を用いてIC2の上面が回路樹脂基板10
の上面と一致する迄押込んだ状態で加熱することにより
、正確な位置に固着する事が出来る。
上記接、1着工程に於て、前記沈み部9に滴下した
。
。
接着剤1゛2の量を多少多くしてお(と、IC2の押込
み時に余分な接着剤12は、沈み部9の各コーナ一部に
設けた逃げ孔9aに吸収される事により、I C2の底
面接着に使われる接着剤12の厚みは常に一定となり、
IC2の上面と回路樹脂基板10の上面との高さズレや
接着剤12のはみ出し等の不都合を生ずることはない。
み時に余分な接着剤12は、沈み部9の各コーナ一部に
設けた逃げ孔9aに吸収される事により、I C2の底
面接着に使われる接着剤12の厚みは常に一定となり、
IC2の上面と回路樹脂基板10の上面との高さズレや
接着剤12のはみ出し等の不都合を生ずることはない。
さらに、前記接着剤12の加熱硬化時に、逃げ孔9a内
に吸収された接着剤12により、IC2の側面コーナ一
部も固着されるため、IC2の固着力は一段と強(なる
。
に吸収された接着剤12により、IC2の側面コーナ一
部も固着されるため、IC2の固着力は一段と強(なる
。
第3図(c)は保護レジストを印刷した状態2示す断面
図であり、回路樹脂基板10上のリード端子8に囲まれ
た範囲で前記突起電極11を除いた部分に、紫外線硬化
タイプの保護レジスト16をスクリーン印刷法で印刷し
、続いて紫外線照射装置にて紫外線を数秒ないし数十秒
照射することにより硬化させる。なお保護レジストには
、本実施例に示す紫外線硬化タイプ以外にもエポキシ系
樹脂等の熱硬化性樹脂を用いて印刷し、さらに100℃
〜150℃で1時間程度の加熱、なして硬化させろとい
う方法をとる事も出来る。
図であり、回路樹脂基板10上のリード端子8に囲まれ
た範囲で前記突起電極11を除いた部分に、紫外線硬化
タイプの保護レジスト16をスクリーン印刷法で印刷し
、続いて紫外線照射装置にて紫外線を数秒ないし数十秒
照射することにより硬化させる。なお保護レジストには
、本実施例に示す紫外線硬化タイプ以外にもエポキシ系
樹脂等の熱硬化性樹脂を用いて印刷し、さらに100℃
〜150℃で1時間程度の加熱、なして硬化させろとい
う方法をとる事も出来る。
上記保護レジストの印刷−社、回路樹脂基板10の上面
とIC2の上面とが前工程に於て正確に同一面となって
いるために、連続した全面えの印刷が極めて容易であり
、かつ突起電極11があるためにIC2の接続電極部に
前記保護レジスト13が流れ込んで被覆してしまうとい
う不都合は生じない。
とIC2の上面とが前工程に於て正確に同一面となって
いるために、連続した全面えの印刷が極めて容易であり
、かつ突起電極11があるためにIC2の接続電極部に
前記保護レジスト13が流れ込んで被覆してしまうとい
う不都合は生じない。
第3図(d)は前記保護レジストの上面に、リード端子
と突起電極とを電気的に接続するための導通パターンを
印刷した状態を示す断面図であり、前記保護レジスト1
3の上面に、IC2の突起電極11と回路樹脂基板10
のリード端子8とを接続するごと(紫外線硬化タイプの
導電性樹脂を印刷し、紫外線照射によって硬化させるこ
とにより導電パターン14が形成されている。
と突起電極とを電気的に接続するための導通パターンを
印刷した状態を示す断面図であり、前記保護レジスト1
3の上面に、IC2の突起電極11と回路樹脂基板10
のリード端子8とを接続するごと(紫外線硬化タイプの
導電性樹脂を印刷し、紫外線照射によって硬化させるこ
とにより導電パターン14が形成されている。
なお、本実施例に用いた紫外線硬化タイプの導電性樹脂
は、近年開発され実用化の段階に入った不飽和ポリエス
テルのバインダーに極微径の銀コートガラスピーズな混
入したもの2使用して、導通パターン14を印刷し、紫
外線照射装置により紫外線を数十秒照射することによっ
て硬化させたものである。又、導通パターンには、本実
施例に示す紫外線硬化タイプの導電性樹脂以外に、銀の
微粉末を混入した導電性ペーストを用いて印刷し、さら
に加熱焼付しても同様の結果が得られる。
は、近年開発され実用化の段階に入った不飽和ポリエス
テルのバインダーに極微径の銀コートガラスピーズな混
入したもの2使用して、導通パターン14を印刷し、紫
外線照射装置により紫外線を数十秒照射することによっ
て硬化させたものである。又、導通パターンには、本実
施例に示す紫外線硬化タイプの導電性樹脂以外に、銀の
微粉末を混入した導電性ペーストを用いて印刷し、さら
に加熱焼付しても同様の結果が得られる。
なお、第3図(C)に示す前工程に於て、回路樹脂基板
10の上面とIC2の上面が連続的に保護レジスト13
で覆われているため、導電パターン14の印刷が平面的
に行われると共に、IC2のエツジ部に於る電気的短絡
等の不都合が生じな%Sa 第3図(e)は導電パターン14の上に封止用樹脂を印
刷した状態を示す断面図であり、封止用樹脂15は導通
パターン14及び保護レジスト16を完全に覆う面積に
スクリーン印刷の手法を用いて形成されている。該封止
用樹脂15はエポキシ系樹脂を用いて100μmから2
00μm程度の厚みに印刷し、その後100℃から1.
50℃で数時間の加熱をすることにより硬化させ弛もの
である。
10の上面とIC2の上面が連続的に保護レジスト13
で覆われているため、導電パターン14の印刷が平面的
に行われると共に、IC2のエツジ部に於る電気的短絡
等の不都合が生じな%Sa 第3図(e)は導電パターン14の上に封止用樹脂を印
刷した状態を示す断面図であり、封止用樹脂15は導通
パターン14及び保護レジスト16を完全に覆う面積に
スクリーン印刷の手法を用いて形成されている。該封止
用樹脂15はエポキシ系樹脂を用いて100μmから2
00μm程度の厚みに印刷し、その後100℃から1.
50℃で数時間の加熱をすることにより硬化させ弛もの
である。
える事が出来、従来のワイヤーボンディング法に較べて
、IC上面の厚みに関して云うなら&f−)も3/3程
度の厚みで回路実装が可能となり、回路樹脂基板10と
IC2との結合力は従来σ)方法よりはるかに強く、か
つ耐環境性、耐光性等の信頼性において極めて良好な結
果が゛得られた。さらに、保護レジスト16と導通ノく
ターン14との両方に生産する事が可能となる。
、IC上面の厚みに関して云うなら&f−)も3/3程
度の厚みで回路実装が可能となり、回路樹脂基板10と
IC2との結合力は従来σ)方法よりはるかに強く、か
つ耐環境性、耐光性等の信頼性において極めて良好な結
果が゛得られた。さらに、保護レジスト16と導通ノく
ターン14との両方に生産する事が可能となる。
以上のどと(本発明によれば、゛従来のワイヤーができ
、かつ充分な信頼性を持ったICの実装構造が得られる
等長(の利点があり、その効果は極めて大き、い。
、かつ充分な信頼性を持ったICの実装構造が得られる
等長(の利点があり、その効果は極めて大き、い。
第1図は従来のワイヤーボンディング法による回路実装
部の断面図、第2図は本発明に用いる回路樹脂基板に於
るIC実装部の平面図、第3図の(a)からCe)は本
発明における実施例の実装方法を工程順に示した断面図
である。 1.10・・・・・・回路樹脂基板、 2・・・・・・IC。 6.8・・・・・・リード端子、 4・・・・・・接続電極、 11・・・・・・突起電極、 16・・・・・・保護レジスト、 14・・・・・・接続パターン、 15・・・・・・封止用樹脂。 第1図 第2図
部の断面図、第2図は本発明に用いる回路樹脂基板に於
るIC実装部の平面図、第3図の(a)からCe)は本
発明における実施例の実装方法を工程順に示した断面図
である。 1.10・・・・・・回路樹脂基板、 2・・・・・・IC。 6.8・・・・・・リード端子、 4・・・・・・接続電極、 11・・・・・・突起電極、 16・・・・・・保護レジスト、 14・・・・・・接続パターン、 15・・・・・・封止用樹脂。 第1図 第2図
Claims (1)
- リード端r−を有する回路樹脂基板に設けた沈み部にI
Cを固着し、前記回路樹脂基板のリード端子と前記IC
の接続電極とを導通接続して成るICの実装方法に於て
、前記iCの一少なくとも接続電極を除く部分及び前記
回路樹脂基板上の沈み部周辺とに同時に保護レジストを
印刷する工程と前記リード端子と接続電極とを接続する
ための導通パターンを印刷する工程と、前記導電パター
ンを含む領域に封土用樹脂馨印刷する工程とZ有するこ
とを特徴とするICの実装方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56112028A JPS5814545A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Icの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56112028A JPS5814545A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Icの実装方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5814545A true JPS5814545A (ja) | 1983-01-27 |
Family
ID=14576183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56112028A Pending JPS5814545A (ja) | 1981-07-17 | 1981-07-17 | Icの実装方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5814545A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171740A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Toshiba Corp | 集積回路装置の製造方法 |
| JPH01263090A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-19 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカード |
| US4999319A (en) * | 1986-03-19 | 1991-03-12 | Fujitsu Limited | Method of manufacturing semiconductor device having package structure |
| EP1116268A2 (en) * | 1998-09-21 | 2001-07-18 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Method and device for buried chips |
| JP2009105345A (ja) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 板状部品内蔵配線基板 |
| JP2014216580A (ja) * | 2013-04-27 | 2014-11-17 | 京セラSlcテクノロジー株式会社 | 配線基板およびその製造方法 |
| JP5858203B2 (ja) * | 2013-10-15 | 2016-02-10 | 株式会社村田製作所 | 部品内蔵基板の製造方法および部品内蔵基板 |
-
1981
- 1981-07-17 JP JP56112028A patent/JPS5814545A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171740A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Toshiba Corp | 集積回路装置の製造方法 |
| US4999319A (en) * | 1986-03-19 | 1991-03-12 | Fujitsu Limited | Method of manufacturing semiconductor device having package structure |
| JPH01263090A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-19 | Dainippon Printing Co Ltd | Icカード |
| EP1116268A2 (en) * | 1998-09-21 | 2001-07-18 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson | Method and device for buried chips |
| JP2009105345A (ja) * | 2007-10-25 | 2009-05-14 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 板状部品内蔵配線基板 |
| JP2014216580A (ja) * | 2013-04-27 | 2014-11-17 | 京セラSlcテクノロジー株式会社 | 配線基板およびその製造方法 |
| JP5858203B2 (ja) * | 2013-10-15 | 2016-02-10 | 株式会社村田製作所 | 部品内蔵基板の製造方法および部品内蔵基板 |
| US9730322B2 (en) | 2013-10-15 | 2017-08-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Production method of component-embedded substrate, and component-embedded substrate |
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