JPS58150992A - デイスプレイ・システムにおけるメモリ・チエツク方式 - Google Patents
デイスプレイ・システムにおけるメモリ・チエツク方式Info
- Publication number
- JPS58150992A JPS58150992A JP57034284A JP3428482A JPS58150992A JP S58150992 A JPS58150992 A JP S58150992A JP 57034284 A JP57034284 A JP 57034284A JP 3428482 A JP3428482 A JP 3428482A JP S58150992 A JPS58150992 A JP S58150992A
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- JP
- Japan
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- data
- ram
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- screen buffer
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- Pending
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Digital Computer Display Output (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、表示制御部より画面バッファにアクセスし、
CG (キャラクタ・ゼネレータ)用のRAM (ラ
ンダム・アクセス・メモリ)をリードしてディスプレイ
表示するディスプレイ・システムにおけるメモリ・チェ
ック方式に関する。
CG (キャラクタ・ゼネレータ)用のRAM (ラ
ンダム・アクセス・メモリ)をリードしてディスプレイ
表示するディスプレイ・システムにおけるメモリ・チェ
ック方式に関する。
第1図は従来のディスプレイ装置のメモリ・チェック方
式を説明するフロー・チャートである。
式を説明するフロー・チャートである。
ディスプレイ装置において、障害メモリ素子の発見のた
めおよび装置を稼働する前の起動時等にメモリが正常で
あることを確認するため、画面バッファRAM (ラン
ダム・アクセス・メモlJ、cG用等)について診断チ
ェックを行っているカ、従来のメモリ・チェック方式に
ついて第1図のフロー・チャート図に沿って説明する。
めおよび装置を稼働する前の起動時等にメモリが正常で
あることを確認するため、画面バッファRAM (ラン
ダム・アクセス・メモlJ、cG用等)について診断チ
ェックを行っているカ、従来のメモリ・チェック方式に
ついて第1図のフロー・チャート図に沿って説明する。
■ まず、画面バッファのチェックを行う。
■ 次に、RAMについて、1バイト単位でチェック・
データをライトする。
データをライトする。
■ RAMからデータをリードする。
■ ライトしたデータとリードしたデータとを比較する
。
。
■ メモリが正常(ライト・データとリード・データと
が一致する)かどうかを判定する。No、即ち正常で々
いときは、エラーを出力し、エラー処理を行い5Yas
、即ち正常であるときは次の■の処理を行う。
が一致する)かどうかを判定する。No、即ち正常で々
いときは、エラーを出力し、エラー処理を行い5Yas
、即ち正常であるときは次の■の処理を行う。
■ 全メモリのチェックが終了したかどうか判定する。
Yes、であればチェック終了となるが、No、即ち未
終了であれば、 ■ メモリ・アドレスをアンプさせて更に■に戻って次
のメモリ1バイトについて同様に■まで手順をメモリ容
量分繰り返す。
終了であれば、 ■ メモリ・アドレスをアンプさせて更に■に戻って次
のメモリ1バイトについて同様に■まで手順をメモリ容
量分繰り返す。
以上のように、従来のメモリ・チェック方式においては
、マイクロプログラム等により装置内部にもつマイクロ
プロセッサ、或いは外部から1バイト単位でチェック・
データをライトし、そしてリードしてライト・データと
リード・データとの比較を行っていた。ディスプレイ装
置は、普通画面がせいぜい2千字で4にバイト程度であ
るが、所謂CG用(キャラクタ・ゼネレータ用)のRA
Mは96に乃至それ以上の汀数十にのものが使われる。
、マイクロプログラム等により装置内部にもつマイクロ
プロセッサ、或いは外部から1バイト単位でチェック・
データをライトし、そしてリードしてライト・データと
リード・データとの比較を行っていた。ディスプレイ装
置は、普通画面がせいぜい2千字で4にバイト程度であ
るが、所謂CG用(キャラクタ・ゼネレータ用)のRA
Mは96に乃至それ以上の汀数十にのものが使われる。
したがって、マイクロプロセッサのマシン・サイクル、
或いは外部CPUの処理時間が比較的長いこともあって
、このような大容量のRAMをチェックするには相当の
時間を費やし、障害素子発見までに時間がかかり、また
その間、装置が稼働状態にならないということになって
、従来のメモリ・チェック方式の大きな欠点となってい
ち〔発明の目的〕 不発明は、上記欠点を除去したディスプレイ・システム
におけるメモリ・チェツタ方式を提供するものであって
、障害素子の発見等メモリのチェック時間を短縮化して
装置の非稼働時間を短かくすること、更には、エラーの
生じたメモリのアドレス、データをレジスタ等にセット
することにより障害素子の発見を容易にすることを目的
とするものである。
或いは外部CPUの処理時間が比較的長いこともあって
、このような大容量のRAMをチェックするには相当の
時間を費やし、障害素子発見までに時間がかかり、また
その間、装置が稼働状態にならないということになって
、従来のメモリ・チェック方式の大きな欠点となってい
ち〔発明の目的〕 不発明は、上記欠点を除去したディスプレイ・システム
におけるメモリ・チェツタ方式を提供するものであって
、障害素子の発見等メモリのチェック時間を短縮化して
装置の非稼働時間を短かくすること、更には、エラーの
生じたメモリのアドレス、データをレジスタ等にセット
することにより障害素子の発見を容易にすることを目的
とするものである。
上記目的を達成するため、本発明のディスプレイ−シス
テムにおけるメモリ・チェック方式は、文字コードが格
納される画面バッファと、上記画面バッファよシ読み出
さ′!1.た読み出しデータに対応する文字パターンを
出力するキャラクタ・ゼネレータ用RAMと、上記画面
バッファおよび上記キャラクタ・ゼネレータ用RAMを
リード/ライトできるプロセッサと、上記プロセッサに
よって起動されるとともに上記画面バッファおよび上記
キャラクタ・ゼネレータ用RAMのアクセスを制御する
表示制御部と、上記キャラクタ・ゼネレータ用RAMか
らの読み出しデータを直列形式の表示ドツト・データに
変換しディスプレイに送る手段とを有するディスプレイ
・システムにおいて、上記プロセッサによって期待値デ
ータがセントされる期待値データと、上記期待値データ
・レジスタの内容と上記キャラクタ・ゼネレータ用RA
Mからの読み出しデータとの比較を行う比較回路を設け
、かつ、上記プロセッサが上記比較回路の出力を読み取
9得るように構成したことを特徴とするものである。
テムにおけるメモリ・チェック方式は、文字コードが格
納される画面バッファと、上記画面バッファよシ読み出
さ′!1.た読み出しデータに対応する文字パターンを
出力するキャラクタ・ゼネレータ用RAMと、上記画面
バッファおよび上記キャラクタ・ゼネレータ用RAMを
リード/ライトできるプロセッサと、上記プロセッサに
よって起動されるとともに上記画面バッファおよび上記
キャラクタ・ゼネレータ用RAMのアクセスを制御する
表示制御部と、上記キャラクタ・ゼネレータ用RAMか
らの読み出しデータを直列形式の表示ドツト・データに
変換しディスプレイに送る手段とを有するディスプレイ
・システムにおいて、上記プロセッサによって期待値デ
ータがセントされる期待値データと、上記期待値データ
・レジスタの内容と上記キャラクタ・ゼネレータ用RA
Mからの読み出しデータとの比較を行う比較回路を設け
、かつ、上記プロセッサが上記比較回路の出力を読み取
9得るように構成したことを特徴とするものである。
第2図は本発明によるメモリ・チェンク処理を説明する
フロー・チャート、第3図は本発明の詳細な説明するブ
ロック図である。第3図におい一?:、 lJ:MPU
(マイクロプロセッサ)、2は画面バッファ、3はR
AM (CG等に用いられる)、4は表示制御部、5,
7.9と10はレジスタ、6はシフト・レジスタ、8は
比較回路、11と12はセレクタを示す。MPUIは画
面バッファ2およびRAM3をリード/ライトしたシ、
表示制御部4を起動したり、レジスタ7にデータをライ
トしたり、比較回路8の出刃をセンスしたりする機能を
もっている。画面バッファ2のアドレス端子はセレクタ
11の出力端子に接続され、セレクタ11の一方の入力
端子はアドレス・バスに接続され、他方の入力端子は表
示制御部4に接続されている。画面バッファ2の入力デ
ータ端子はデータ・バスに接続され、その出力データ端
子はセレクタ12の一方の入力端子およびデータ・バス
に接続されている。RAM3の一部の領域はワーキング
ψエリアとして用いられ、また他の領域はキャラクタ・
ゼネレータに割り当てられている。RAM3のアドレス
端子はセレクタ12の出力端子に接続され、セレクタ1
2の入力端子はアドレス・バスに接続されている。なお
、図示しないが、RAM3にはラスタ・アドレスもアド
レスとして入力されている。
フロー・チャート、第3図は本発明の詳細な説明するブ
ロック図である。第3図におい一?:、 lJ:MPU
(マイクロプロセッサ)、2は画面バッファ、3はR
AM (CG等に用いられる)、4は表示制御部、5,
7.9と10はレジスタ、6はシフト・レジスタ、8は
比較回路、11と12はセレクタを示す。MPUIは画
面バッファ2およびRAM3をリード/ライトしたシ、
表示制御部4を起動したり、レジスタ7にデータをライ
トしたり、比較回路8の出刃をセンスしたりする機能を
もっている。画面バッファ2のアドレス端子はセレクタ
11の出力端子に接続され、セレクタ11の一方の入力
端子はアドレス・バスに接続され、他方の入力端子は表
示制御部4に接続されている。画面バッファ2の入力デ
ータ端子はデータ・バスに接続され、その出力データ端
子はセレクタ12の一方の入力端子およびデータ・バス
に接続されている。RAM3の一部の領域はワーキング
ψエリアとして用いられ、また他の領域はキャラクタ・
ゼネレータに割り当てられている。RAM3のアドレス
端子はセレクタ12の出力端子に接続され、セレクタ1
2の入力端子はアドレス・バスに接続されている。なお
、図示しないが、RAM3にはラスタ・アドレスもアド
レスとして入力されている。
RAM3の入力データ端子はデータeパスに接続され、
その出力データ端子はデータ・バスおよびレジスタ5に
接続されている。レジスタ5にはRAM3から読み出さ
れるデータがセットされる。
その出力データ端子はデータ・バスおよびレジスタ5に
接続されている。レジスタ5にはRAM3から読み出さ
れるデータがセットされる。
レジスタ5の出力はシフト・レジスタ6に送られ、シフ
ト−レジスタ6vCよって直列形式の表示ドツト・デー
タに変換される。この表示ドツト・データはディスプレ
イに送られる。レジスタ7の入力側はデータ・バスに接
続され、その出力は比較回路8の一方の入力端子に供給
される。さきにも述べたように、マイクロプロセッサ1
はレジスタ7に任意の値をセットすることができる。比
較回路8の他の入力端子にはレジスタ5のデータが供給
される。比較回路8の出力はマイクロプロセッサ1によ
って読み取られる。レジスタ9にはセレクタ12の出力
データが供給され、比較回路8が不一致信号を出力した
ときセレクタ12の出方データがレジスタ9にセットさ
れる。レジスタ1oにはレジスタ5の内容が供給され、
比較回路8が不一致信号を出力したときレジスタ5の内
容がレジスタ1゜にセットされる。マイクロプロセッサ
1はレジスタ9および10の内容を読み取ることができ
る。なお、1サイクルの前半の時間帯はマイクロプロセ
ッサ1が画面バッファ2やRAM3をアクセスするため
の時間帯とされ、1サイクルの後半の時間帯は表示制御
部4が画面バッファ2やRAM3をアクセス制御する時
間帯とされている。
ト−レジスタ6vCよって直列形式の表示ドツト・デー
タに変換される。この表示ドツト・データはディスプレ
イに送られる。レジスタ7の入力側はデータ・バスに接
続され、その出力は比較回路8の一方の入力端子に供給
される。さきにも述べたように、マイクロプロセッサ1
はレジスタ7に任意の値をセットすることができる。比
較回路8の他の入力端子にはレジスタ5のデータが供給
される。比較回路8の出力はマイクロプロセッサ1によ
って読み取られる。レジスタ9にはセレクタ12の出力
データが供給され、比較回路8が不一致信号を出力した
ときセレクタ12の出方データがレジスタ9にセットさ
れる。レジスタ1oにはレジスタ5の内容が供給され、
比較回路8が不一致信号を出力したときレジスタ5の内
容がレジスタ1゜にセットされる。マイクロプロセッサ
1はレジスタ9および10の内容を読み取ることができ
る。なお、1サイクルの前半の時間帯はマイクロプロセ
ッサ1が画面バッファ2やRAM3をアクセスするため
の時間帯とされ、1サイクルの後半の時間帯は表示制御
部4が画面バッファ2やRAM3をアクセス制御する時
間帯とされている。
次に、第2図および第3図を参照しつつ本発明のディス
プレイ装置のメモリ・チェック方式について以下に説明
する。
プレイ装置のメモリ・チェック方式について以下に説明
する。
■ 画面バッファのチェックを行う。(これは従来のチ
ェック方式と特に変わるものではない。)■ MPUI
によ多画面バッファ2にコード(RAM3のアドレスと
なる)を書き込む。
ェック方式と特に変わるものではない。)■ MPUI
によ多画面バッファ2にコード(RAM3のアドレスと
なる)を書き込む。
■ MPUIによ、iRAM3にチェック・データ、例
えばXv55v或いはXvFFv等の一様のデータをラ
イトするとともにレジスタ7にも同じチェック拳データ
を格納しておく。
えばXv55v或いはXvFFv等の一様のデータをラ
イトするとともにレジスタ7にも同じチェック拳データ
を格納しておく。
■ 表示制御部4にスタートを指示する。
■ 表示制御部4によ多画面バッファ2からRAM3の
アドレスとなるコードが順番にリードされ、RAM3か
らの読み出しデータがレジスタ5にセットされ、このレ
ジスタ5にセットされたデータはシフト・レジスタ6に
よりシリアル・データに変換さ扛表示ドツトデータとし
て出力され、ディスプレイ画面に表示される。
アドレスとなるコードが順番にリードされ、RAM3か
らの読み出しデータがレジスタ5にセットされ、このレ
ジスタ5にセットされたデータはシフト・レジスタ6に
よりシリアル・データに変換さ扛表示ドツトデータとし
て出力され、ディスプレイ画面に表示される。
■ RAM3からリードしてレジスタ5にセットしたデ
ータは、その都度比較回路8においてレジスタ7にセッ
トされたチェック・データと比較され、両データが不一
致、即ち正常でない場合は比較回路8は不一致信号を出
力し、不一致信号がなければ正常なメモリと判定し、R
AM3からの全データのリードが終了すれば、メモリの
チェックが終了する。
ータは、その都度比較回路8においてレジスタ7にセッ
トされたチェック・データと比較され、両データが不一
致、即ち正常でない場合は比較回路8は不一致信号を出
力し、不一致信号がなければ正常なメモリと判定し、R
AM3からの全データのリードが終了すれば、メモリの
チェックが終了する。
なお、レジスタ9と10は付加的な回路であって、比較
回路8から不一致信号が出力されたとき、そのエラーの
生じたRAMのアドレスおよび読み出しデータをセット
する。これにより障害阻止の発見を容易にすることがで
きる。本発明のディスプレイ・システムにおけるメモリ
・チェック方式は、MPUIによって画面バッファ2を
定義し、RAM2にチェックのデータをライトしたもの
をディスプレイ装置の本来の機能、即ち、表示のための
メモリ嘲り一ド機能を有し、画面バッファ2に定義され
たコードに相当するRAM3のデータを1フレーム・ス
キャンの間にリードし、表示する、という機能を利用す
ることによシ、チェック・データのリードそして比較を
1フレ一ム時間の短時間に実行することができる。さら
には、エラーの生じたメモリのアドレスおよびデータを
レジスタ等に格納することにより障害素子の発見が容易
になる。本発明はまた、MPUIからだけでなく、外部
からチェック・データのライトをしても何ら差つかえな
いものでもある。
回路8から不一致信号が出力されたとき、そのエラーの
生じたRAMのアドレスおよび読み出しデータをセット
する。これにより障害阻止の発見を容易にすることがで
きる。本発明のディスプレイ・システムにおけるメモリ
・チェック方式は、MPUIによって画面バッファ2を
定義し、RAM2にチェックのデータをライトしたもの
をディスプレイ装置の本来の機能、即ち、表示のための
メモリ嘲り一ド機能を有し、画面バッファ2に定義され
たコードに相当するRAM3のデータを1フレーム・ス
キャンの間にリードし、表示する、という機能を利用す
ることによシ、チェック・データのリードそして比較を
1フレ一ム時間の短時間に実行することができる。さら
には、エラーの生じたメモリのアドレスおよびデータを
レジスタ等に格納することにより障害素子の発見が容易
になる。本発明はまた、MPUIからだけでなく、外部
からチェック・データのライトをしても何ら差つかえな
いものでもある。
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、従来
のメモリ・チェック方式の如く、1バイト単位でライト
してリードし、そして比較するというチェック方式と異
なり、MPUによってライトしたチェック−データは、
ディスプレイ装置の表示のため本来有する機能によって
バッファに定義されたコードに相当するRAMのデータ
を1フレーム−スキャンの間にリードさnるデータを比
較するので、リードと比較の段階をハード的に容易[実
現でき、マイクロプログラムの容量を減らすことができ
ることは勿論、チェックに要する時間が大幅に短縮でき
、装置の非稼働時間が短縮化による稼働状態へ早期に立
上ることができる、などの効果がある。さらには、比較
出力とRAMのデータ′とを組み合わせることによって
障害メモリが早期、かつ容易に発見することができる効
果がある。
のメモリ・チェック方式の如く、1バイト単位でライト
してリードし、そして比較するというチェック方式と異
なり、MPUによってライトしたチェック−データは、
ディスプレイ装置の表示のため本来有する機能によって
バッファに定義されたコードに相当するRAMのデータ
を1フレーム−スキャンの間にリードさnるデータを比
較するので、リードと比較の段階をハード的に容易[実
現でき、マイクロプログラムの容量を減らすことができ
ることは勿論、チェックに要する時間が大幅に短縮でき
、装置の非稼働時間が短縮化による稼働状態へ早期に立
上ることができる、などの効果がある。さらには、比較
出力とRAMのデータ′とを組み合わせることによって
障害メモリが早期、かつ容易に発見することができる効
果がある。
第1図は従来のディスプレイ装置のメモリ・チェック方
式を説明するフロー・チャート、第2図は本発明による
メモリ・チェック処理を説明するフロー・チャート、第
3図は本発明の一実施例を説明するブロック図である。 1・・・MPUfマイクロプロセッサ)、2・・・画面
バッファ、3・・・RAM (CG等)、4・・・表示
制御fJ、5,7.9と10・・・レジスタ、6・・・
シフト・レジスタ、8・・・比較回路、 11と12・
・・セレクタ。 グ 1 図 エラー ′−X 2 図 、89−了
式を説明するフロー・チャート、第2図は本発明による
メモリ・チェック処理を説明するフロー・チャート、第
3図は本発明の一実施例を説明するブロック図である。 1・・・MPUfマイクロプロセッサ)、2・・・画面
バッファ、3・・・RAM (CG等)、4・・・表示
制御fJ、5,7.9と10・・・レジスタ、6・・・
シフト・レジスタ、8・・・比較回路、 11と12・
・・セレクタ。 グ 1 図 エラー ′−X 2 図 、89−了
Claims (1)
- 文字コードが格納される画面バッファと、上記画面バッ
ファより読み出された読み出しデータに対応する文字パ
ターンを出力するキャラクタ・ゼネレータ用RAMと、
上記画面バッファおよび上記キャラクタ・ゼネレータ用
RAMをリード/ライトできるプロセッサと、上記プロ
セッサによって起動されるとともに上記画面バッファお
よび上記キャラクタ−ゼネレータ用RAMのアクセスを
制御する表示制御部と、上記キャラクタ・ゼネレータ用
RAMからの読み出しデータを直列形式の表示ドツト・
データに変換しディスプレイに送る手段とを有するディ
スプレイ・システムにおいて、上記プロセッサによって
期待値データがセントされる期待値データ・レジスタと
、上記期待値データ・レジスタの内容と上記キャラクタ
・ゼネレータ用RAMからの読み出しデータとの比較を
行う比較回路を設け、かつ、上記プロセッサが上記比較
回路の出力を読み取り得るように構成したことを特徴と
するディスプレイ・システムにおけるメモリ・チェック
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57034284A JPS58150992A (ja) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | デイスプレイ・システムにおけるメモリ・チエツク方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57034284A JPS58150992A (ja) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | デイスプレイ・システムにおけるメモリ・チエツク方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58150992A true JPS58150992A (ja) | 1983-09-07 |
Family
ID=12409855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57034284A Pending JPS58150992A (ja) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | デイスプレイ・システムにおけるメモリ・チエツク方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58150992A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5880748A (ja) * | 1981-11-06 | 1983-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | 表示情報処理システムの試験方法 |
-
1982
- 1982-03-04 JP JP57034284A patent/JPS58150992A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5880748A (ja) * | 1981-11-06 | 1983-05-14 | Mitsubishi Electric Corp | 表示情報処理システムの試験方法 |
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