JPS58169698A - 接触抵抗計測装置 - Google Patents
接触抵抗計測装置Info
- Publication number
- JPS58169698A JPS58169698A JP5415882A JP5415882A JPS58169698A JP S58169698 A JPS58169698 A JP S58169698A JP 5415882 A JP5415882 A JP 5415882A JP 5415882 A JP5415882 A JP 5415882A JP S58169698 A JPS58169698 A JP S58169698A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- section
- contact resistance
- signal
- parts
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 108091027981 Response element Proteins 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は接触抵抗計III装置に関するものでるる従来
の接触抵抗一定は、被測定部の抵抗に比例して入力さ−
れる電圧を全波整流後、平滑し直流分にして計測してい
た−この場合、直流分の電圧を絖み取っ□て抵抗値に換
算するものであるが、平滑を行うため過渡的に′変化す
る接触抵抗の値を追跡したり、被測定部が多数ある場合
に、数チャンネルのデータを高速に切シ換えながら計測
することが不可能であり九。′今第1図(a)に示すよ
うに、3りの被測定部からの入′カ信号を全波整流し良
信号波形kA−Cとす′ると、この波形を平滑すると第
1図(−に示すようになり、数チャンネルのデータtt
i!llり換えながら計測する場合には、データ取込み
間隔に最低40霞眞、必要であり高速に計測できないと
′いう問題がありえ@ 木発tIAFi上述め点Kl!みて提供したものであっ
て、複数−の計−゛を高速かうマ′ル′チ処理可能とす
ると′と%に、マルチ処理の際計測数だi必要になりて
くる入力地理回路を共通化することによ1)@整の容易
さ及び回路の簡易化を図ることを目的とした接触抵抗計
測装置を提供するものである。
の接触抵抗一定は、被測定部の抵抗に比例して入力さ−
れる電圧を全波整流後、平滑し直流分にして計測してい
た−この場合、直流分の電圧を絖み取っ□て抵抗値に換
算するものであるが、平滑を行うため過渡的に′変化す
る接触抵抗の値を追跡したり、被測定部が多数ある場合
に、数チャンネルのデータを高速に切シ換えながら計測
することが不可能であり九。′今第1図(a)に示すよ
うに、3りの被測定部からの入′カ信号を全波整流し良
信号波形kA−Cとす′ると、この波形を平滑すると第
1図(−に示すようになり、数チャンネルのデータtt
i!llり換えながら計測する場合には、データ取込み
間隔に最低40霞眞、必要であり高速に計測できないと
′いう問題がありえ@ 木発tIAFi上述め点Kl!みて提供したものであっ
て、複数−の計−゛を高速かうマ′ル′チ処理可能とす
ると′と%に、マルチ処理の際計測数だi必要になりて
くる入力地理回路を共通化することによ1)@整の容易
さ及び回路の簡易化を図ることを目的とした接触抵抗計
測装置を提供するものである。
以下本発明の実施例を図面により詳述する。−2図は異
体回路図を示し、(1)は多数の入力回路を有する高速
アナoJ)スイッチからなるスイッチ部で、多数の入力
を順次高速に93)換えるものである0スイッチ部11
)の入力回路に、は接触抵抗を測定すべ禽被測足部から
の過渡的に変化する交流信号のような電圧信号が入力さ
れるat@ltjスイッチ部(1)からの電圧信号を増
巾するオペアンプからなる電圧増中部である。(りは電
圧増中部I61からの出力信号を全波整流する全波整流
部で、2個のオペアンプ等で構成されている口(3)は
全波整流部(りからの金波整流された信号をサンプル本
−ルドナβサンプル本−ルド部で、−周期が1 m 5
ec−の信号に1o o nsc・ 毎にサンプリンタ
し、そのサンづリンクした時点の信号の電圧mt−保持
するものである。iI)はサンプルホールドg 1$1
からのホールドされ九電圧値をデジタル信号に、変換す
るA/D変換部で、その出力デジタル信号を次段の論理
演算部+41に入力せしめている◎サンプルホールド部
(3)でサンプリンタされる毎に送られてくる電圧値を
A/D変換部iI)でデジタル信号に変換し、論理演算
部(4)では−周期のサンプリンタ毎のデジタル信号を
加算して論理演算(交流電圧値の平均)することにより
、スイッチ部11)に入力された被測定部からの信号の
一周期にてその抵抗値を換算するものである・尚、サン
プル本−ルド部(3)及びA/D変換M 11)は高速
応答性の高^素子を採用し、高速計測を可能としている
・ しかして、スイッチ!i (11の入力回路には多数の
接触抵抗を測定する被測定部が接続されている〇被醐定
11に夫々電r*iを流し、被測定部の抵抗分子+ r
*・・・Kは夫々電圧゛が生じてスイッチ@ (1)に
入力される0スイツチ5(1)では各被測定部からの入
力信号01tn冨、である−局期毎に関°隔5組1をあ
けて順次切り換えて、スイッチ部(1)からの出力を各
被測定部からの信号の一周期を出力しているOスイッチ
部(1)からの電圧信号は電圧増中部−6)で増巾され
、全波整流S(りで謳3図に示すような全波整流された
信号が出力される。各被測定部からの信号をA−Cとす
ると・これらの信号A−Cの一周期毎の間隔はスイッチ
部(1)により5m5ec、、あけられている0そして
夫々の信号A = Ck−100n g 。
体回路図を示し、(1)は多数の入力回路を有する高速
アナoJ)スイッチからなるスイッチ部で、多数の入力
を順次高速に93)換えるものである0スイッチ部11
)の入力回路に、は接触抵抗を測定すべ禽被測足部から
の過渡的に変化する交流信号のような電圧信号が入力さ
れるat@ltjスイッチ部(1)からの電圧信号を増
巾するオペアンプからなる電圧増中部である。(りは電
圧増中部I61からの出力信号を全波整流する全波整流
部で、2個のオペアンプ等で構成されている口(3)は
全波整流部(りからの金波整流された信号をサンプル本
−ルドナβサンプル本−ルド部で、−周期が1 m 5
ec−の信号に1o o nsc・ 毎にサンプリンタ
し、そのサンづリンクした時点の信号の電圧mt−保持
するものである。iI)はサンプルホールドg 1$1
からのホールドされ九電圧値をデジタル信号に、変換す
るA/D変換部で、その出力デジタル信号を次段の論理
演算部+41に入力せしめている◎サンプルホールド部
(3)でサンプリンタされる毎に送られてくる電圧値を
A/D変換部iI)でデジタル信号に変換し、論理演算
部(4)では−周期のサンプリンタ毎のデジタル信号を
加算して論理演算(交流電圧値の平均)することにより
、スイッチ部11)に入力された被測定部からの信号の
一周期にてその抵抗値を換算するものである・尚、サン
プル本−ルド部(3)及びA/D変換M 11)は高速
応答性の高^素子を採用し、高速計測を可能としている
・ しかして、スイッチ!i (11の入力回路には多数の
接触抵抗を測定する被測定部が接続されている〇被醐定
11に夫々電r*iを流し、被測定部の抵抗分子+ r
*・・・Kは夫々電圧゛が生じてスイッチ@ (1)に
入力される0スイツチ5(1)では各被測定部からの入
力信号01tn冨、である−局期毎に関°隔5組1をあ
けて順次切り換えて、スイッチ部(1)からの出力を各
被測定部からの信号の一周期を出力しているOスイッチ
部(1)からの電圧信号は電圧増中部−6)で増巾され
、全波整流S(りで謳3図に示すような全波整流された
信号が出力される。各被測定部からの信号をA−Cとす
ると・これらの信号A−Cの一周期毎の間隔はスイッチ
部(1)により5m5ec、、あけられている0そして
夫々の信号A = Ck−100n g 。
毎に一周期(1000Hz=1禦xx)の闇にサンプル
ホールド5(3)によりサンプリングされ、更KA/D
変換部islでA/D変換し2、論理演算部14)によ
り抵抗値を換算、するものである。
ホールド5(3)によりサンプリングされ、更KA/D
変換部islでA/D変換し2、論理演算部14)によ
り抵抗値を換算、するものである。
本発明は上述のように1接触抵抗に測定する複数の被測
定部と、これら複数の被測定部からの過渡的に入力され
る電圧信号1kIN次切り換えて出力するスイッチ部と
、スイッチ部の出力信号倉全波整流する全波整流部と、
全波整流部からの各被測定部からの所定時間毎に出力さ
れた各全波整流波の一周期を所定間隔毎にサンプリング
してその時の値を保持するサンプルホールド部と、サン
プル本−ルド郵からの出力を、A/D変換するA/D
f換、Sと、、A/DR換部からの・各−周期の所定時
間毎のサンプルホールドされ九各ダシタル信号を論理演
算処理することくより複数の被測定部の抵抗値を換算す
る論理演算部とt−真備したものであるから、過・渡的
に変化する被測定部からの入力信号でも、全波整流し良
信号を一周期の聞所定時間毎にサンプリンタし、そのサ
ンプリングし、た値t−A/D変換して電圧値の平均を
とるなどの論理演算処理することで、容JIK抵抗mに
換算できるも、ので69、またミ被欄足部から〇−同周
期入力4.信号をす1.ンプリンタすることで抵抗値の
計、、−1,ができるから、従来のように平滑して直流
分にする必肇がないために高速計測が可能と、な、す、
爽には、スイッチ部によって入力処、理回路を共通にす
る。ことにより、回路の一易化、調整の容易さを図るこ
とができる動勢を奏するコ 、4、図面の簡単な説明 纂1図(a) (b) Fi従来鈎の動作波形図、第2
図は木発191o*施鉤の異体回路よ、第3図は同上の
動作波形図である@ 11)はスイッチ部、(りは全波整流部、(3)はサラ
プル本−ルド部、(4)は論理演算部、(1)はA/D
変換部を示す0
定部と、これら複数の被測定部からの過渡的に入力され
る電圧信号1kIN次切り換えて出力するスイッチ部と
、スイッチ部の出力信号倉全波整流する全波整流部と、
全波整流部からの各被測定部からの所定時間毎に出力さ
れた各全波整流波の一周期を所定間隔毎にサンプリング
してその時の値を保持するサンプルホールド部と、サン
プル本−ルド郵からの出力を、A/D変換するA/D
f換、Sと、、A/DR換部からの・各−周期の所定時
間毎のサンプルホールドされ九各ダシタル信号を論理演
算処理することくより複数の被測定部の抵抗値を換算す
る論理演算部とt−真備したものであるから、過・渡的
に変化する被測定部からの入力信号でも、全波整流し良
信号を一周期の聞所定時間毎にサンプリンタし、そのサ
ンプリングし、た値t−A/D変換して電圧値の平均を
とるなどの論理演算処理することで、容JIK抵抗mに
換算できるも、ので69、またミ被欄足部から〇−同周
期入力4.信号をす1.ンプリンタすることで抵抗値の
計、、−1,ができるから、従来のように平滑して直流
分にする必肇がないために高速計測が可能と、な、す、
爽には、スイッチ部によって入力処、理回路を共通にす
る。ことにより、回路の一易化、調整の容易さを図るこ
とができる動勢を奏するコ 、4、図面の簡単な説明 纂1図(a) (b) Fi従来鈎の動作波形図、第2
図は木発191o*施鉤の異体回路よ、第3図は同上の
動作波形図である@ 11)はスイッチ部、(りは全波整流部、(3)はサラ
プル本−ルド部、(4)は論理演算部、(1)はA/D
変換部を示す0
Claims (1)
- il) 接触抵抗を一定する複数の被測定部と、これ
ら複数の被−足部からの過渡的に入力される電圧信号を
順次切り換えて出力するスイッチ部と、スイッチ部O出
力信号を金−整流する全波整流部と、全波整流部からの
☆被橢定゛′部から所定間隔毎に出力門れ九甚盆波II
R鉦の一局期を−“所定時間毎にサシプリンタしてその
時o1ts持するサンプル本−ルド部と、サンプル本−
ルド部からの出りIA/D変換するA/D変換部と、A
/Df換郵かもの各−周期の所定゛時聞毎のサンプル本
“−′ルドされ大台デジタル信号を論通演算@、isす
るととにより複数の被測定部の抵抗値を換算する論理演
算部とを萬儂して成る接触抵抗計測装置・
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5415882A JPS58169698A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 接触抵抗計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5415882A JPS58169698A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 接触抵抗計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58169698A true JPS58169698A (ja) | 1983-10-06 |
Family
ID=12962733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5415882A Pending JPS58169698A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 接触抵抗計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58169698A (ja) |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP5415882A patent/JPS58169698A/ja active Pending
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