JPS58169698A - 接触抵抗計測装置 - Google Patents

接触抵抗計測装置

Info

Publication number
JPS58169698A
JPS58169698A JP5415882A JP5415882A JPS58169698A JP S58169698 A JPS58169698 A JP S58169698A JP 5415882 A JP5415882 A JP 5415882A JP 5415882 A JP5415882 A JP 5415882A JP S58169698 A JPS58169698 A JP S58169698A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measured
section
contact resistance
signal
parts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5415882A
Other languages
English (en)
Inventor
次郎 関
英史 田中
沖 光二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP5415882A priority Critical patent/JPS58169698A/ja
Publication of JPS58169698A publication Critical patent/JPS58169698A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は接触抵抗計III装置に関するものでるる従来
の接触抵抗一定は、被測定部の抵抗に比例して入力さ−
れる電圧を全波整流後、平滑し直流分にして計測してい
た−この場合、直流分の電圧を絖み取っ□て抵抗値に換
算するものであるが、平滑を行うため過渡的に′変化す
る接触抵抗の値を追跡したり、被測定部が多数ある場合
に、数チャンネルのデータを高速に切シ換えながら計測
することが不可能であり九。′今第1図(a)に示すよ
うに、3りの被測定部からの入′カ信号を全波整流し良
信号波形kA−Cとす′ると、この波形を平滑すると第
1図(−に示すようになり、数チャンネルのデータtt
i!llり換えながら計測する場合には、データ取込み
間隔に最低40霞眞、必要であり高速に計測できないと
′いう問題がありえ@ 木発tIAFi上述め点Kl!みて提供したものであっ
て、複数−の計−゛を高速かうマ′ル′チ処理可能とす
ると′と%に、マルチ処理の際計測数だi必要になりて
くる入力地理回路を共通化することによ1)@整の容易
さ及び回路の簡易化を図ることを目的とした接触抵抗計
測装置を提供するものである。
以下本発明の実施例を図面により詳述する。−2図は異
体回路図を示し、(1)は多数の入力回路を有する高速
アナoJ)スイッチからなるスイッチ部で、多数の入力
を順次高速に93)換えるものである0スイッチ部11
)の入力回路に、は接触抵抗を測定すべ禽被測足部から
の過渡的に変化する交流信号のような電圧信号が入力さ
れるat@ltjスイッチ部(1)からの電圧信号を増
巾するオペアンプからなる電圧増中部である。(りは電
圧増中部I61からの出力信号を全波整流する全波整流
部で、2個のオペアンプ等で構成されている口(3)は
全波整流部(りからの金波整流された信号をサンプル本
−ルドナβサンプル本−ルド部で、−周期が1 m 5
ec−の信号に1o o nsc・ 毎にサンプリンタ
し、そのサンづリンクした時点の信号の電圧mt−保持
するものである。iI)はサンプルホールドg 1$1
からのホールドされ九電圧値をデジタル信号に、変換す
るA/D変換部で、その出力デジタル信号を次段の論理
演算部+41に入力せしめている◎サンプルホールド部
(3)でサンプリンタされる毎に送られてくる電圧値を
A/D変換部iI)でデジタル信号に変換し、論理演算
部(4)では−周期のサンプリンタ毎のデジタル信号を
加算して論理演算(交流電圧値の平均)することにより
、スイッチ部11)に入力された被測定部からの信号の
一周期にてその抵抗値を換算するものである・尚、サン
プル本−ルド部(3)及びA/D変換M 11)は高速
応答性の高^素子を採用し、高速計測を可能としている
・ しかして、スイッチ!i (11の入力回路には多数の
接触抵抗を測定する被測定部が接続されている〇被醐定
11に夫々電r*iを流し、被測定部の抵抗分子+ r
*・・・Kは夫々電圧゛が生じてスイッチ@ (1)に
入力される0スイツチ5(1)では各被測定部からの入
力信号01tn冨、である−局期毎に関°隔5組1をあ
けて順次切り換えて、スイッチ部(1)からの出力を各
被測定部からの信号の一周期を出力しているOスイッチ
部(1)からの電圧信号は電圧増中部−6)で増巾され
、全波整流S(りで謳3図に示すような全波整流された
信号が出力される。各被測定部からの信号をA−Cとす
ると・これらの信号A−Cの一周期毎の間隔はスイッチ
部(1)により5m5ec、、あけられている0そして
夫々の信号A = Ck−100n g 。
毎に一周期(1000Hz=1禦xx)の闇にサンプル
ホールド5(3)によりサンプリングされ、更KA/D
変換部islでA/D変換し2、論理演算部14)によ
り抵抗値を換算、するものである。
本発明は上述のように1接触抵抗に測定する複数の被測
定部と、これら複数の被測定部からの過渡的に入力され
る電圧信号1kIN次切り換えて出力するスイッチ部と
、スイッチ部の出力信号倉全波整流する全波整流部と、
全波整流部からの各被測定部からの所定時間毎に出力さ
れた各全波整流波の一周期を所定間隔毎にサンプリング
してその時の値を保持するサンプルホールド部と、サン
プル本−ルド郵からの出力を、A/D変換するA/D 
f換、Sと、、A/DR換部からの・各−周期の所定時
間毎のサンプルホールドされ九各ダシタル信号を論理演
算処理することくより複数の被測定部の抵抗値を換算す
る論理演算部とt−真備したものであるから、過・渡的
に変化する被測定部からの入力信号でも、全波整流し良
信号を一周期の聞所定時間毎にサンプリンタし、そのサ
ンプリングし、た値t−A/D変換して電圧値の平均を
とるなどの論理演算処理することで、容JIK抵抗mに
換算できるも、ので69、またミ被欄足部から〇−同周
期入力4.信号をす1.ンプリンタすることで抵抗値の
計、、−1,ができるから、従来のように平滑して直流
分にする必肇がないために高速計測が可能と、な、す、
爽には、スイッチ部によって入力処、理回路を共通にす
る。ことにより、回路の一易化、調整の容易さを図るこ
とができる動勢を奏するコ 、4、図面の簡単な説明 纂1図(a) (b) Fi従来鈎の動作波形図、第2
図は木発191o*施鉤の異体回路よ、第3図は同上の
動作波形図である@ 11)はスイッチ部、(りは全波整流部、(3)はサラ
プル本−ルド部、(4)は論理演算部、(1)はA/D
変換部を示す0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. il)  接触抵抗を一定する複数の被測定部と、これ
    ら複数の被−足部からの過渡的に入力される電圧信号を
    順次切り換えて出力するスイッチ部と、スイッチ部O出
    力信号を金−整流する全波整流部と、全波整流部からの
    ☆被橢定゛′部から所定間隔毎に出力門れ九甚盆波II
    R鉦の一局期を−“所定時間毎にサシプリンタしてその
    時o1ts持するサンプル本−ルド部と、サンプル本−
    ルド部からの出りIA/D変換するA/D変換部と、A
    /Df換郵かもの各−周期の所定゛時聞毎のサンプル本
    “−′ルドされ大台デジタル信号を論通演算@、isす
    るととにより複数の被測定部の抵抗値を換算する論理演
    算部とを萬儂して成る接触抵抗計測装置・
JP5415882A 1982-03-31 1982-03-31 接触抵抗計測装置 Pending JPS58169698A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5415882A JPS58169698A (ja) 1982-03-31 1982-03-31 接触抵抗計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5415882A JPS58169698A (ja) 1982-03-31 1982-03-31 接触抵抗計測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58169698A true JPS58169698A (ja) 1983-10-06

Family

ID=12962733

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5415882A Pending JPS58169698A (ja) 1982-03-31 1982-03-31 接触抵抗計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58169698A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4959608A (en) Apparatus and method for extracting the RMS value from a signal
JPS58169698A (ja) 接触抵抗計測装置
GB1562853A (en) Corona discharge detection apparatus
US4667198A (en) Apparatus for measuring quantity of AC electricity
JPS641746B2 (ja)
JPH08181614A (ja) アナログ・ディジタル変換回路及びその補間データを求める方法
US5243276A (en) Sampling type measuring device
SU1478330A1 (ru) Аналого-цифровой преобразователь
JP3119149B2 (ja) 帰還型パルス幅変調a/d変換装置
JPH0426065B2 (ja)
JPH0338926A (ja) 多点測定装置
JPH06281678A (ja) サンプリング式測定装置
JP3314843B2 (ja) 交流測定装置
SU661378A1 (ru) Цифровой измеритель мощности
SU949806A1 (ru) Устройство аналого-цифрового преобразовани
JPS60244870A (ja) 交流信号の演算計測方法
JPH0121361Y2 (ja)
JPH06273452A (ja) デジタル・サンプリング式測定装置
JPH06273461A (ja) 電力測定装置
JPH05119078A (ja) ベクトル電圧比測定方法
JPS58169031A (ja) 電磁流量計
JPH04299269A (ja) 広帯域実効値測定装置
JPH0235949B2 (ja)
SU1406491A1 (ru) Цифровой универсальный измерительный прибор
SU756411A1 (ru) Устройство для обработки сигналов анализаторов состава1