JPS58219742A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS58219742A JPS58219742A JP57102574A JP10257482A JPS58219742A JP S58219742 A JPS58219742 A JP S58219742A JP 57102574 A JP57102574 A JP 57102574A JP 10257482 A JP10257482 A JP 10257482A JP S58219742 A JPS58219742 A JP S58219742A
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- field oxide
- bonding pad
- layer
- substrate
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
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- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
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- H10W72/922—Bond pads being integral with underlying chip-level interconnections
- H10W72/9226—Bond pads being integral with underlying chip-level interconnections with via interconnections
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- H10W72/921—Structures or relative sizes of bond pads
- H10W72/923—Bond pads having multiple stacked layers
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- H10W72/981—Auxiliary members, e.g. spacers
- H10W72/983—Reinforcing structures, e.g. collars
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、半導体装置に関し、フィールドオキサイド
膜上にポンディングパッドを設けたことにより信頼性を
向上させたものである。
膜上にポンディングパッドを設けたことにより信頼性を
向上させたものである。
従来、MO8型集積回路装置等の半導体装置においては
、リンシリケートガラス(PSG)の持つ層間絶縁膜と
しての高信頼性や、高温での軟化金利用した素子表面の
平坦化技術とあいまって、PSGの利用が広く行なわれ
ている。その場合、フィールドオキサイド膜上に280
層を介してポンディングパッドを設け、このポンディン
グパッドにAuワイヤをボンディングすることが知られ
ている。そして、このワイヤボンディングにあたっては
、Auワイヤとポンディングパッドとの接着を良くする
ために、ワイヤ先端のポンド部に超音波振動等の機械的
振動を加えることも知られている。
、リンシリケートガラス(PSG)の持つ層間絶縁膜と
しての高信頼性や、高温での軟化金利用した素子表面の
平坦化技術とあいまって、PSGの利用が広く行なわれ
ている。その場合、フィールドオキサイド膜上に280
層を介してポンディングパッドを設け、このポンディン
グパッドにAuワイヤをボンディングすることが知られ
ている。そして、このワイヤボンディングにあたっては
、Auワイヤとポンディングパッドとの接着を良くする
ために、ワイヤ先端のポンド部に超音波振動等の機械的
振動を加えることも知られている。
ところが、このような従来技術によると、ワイヤボンデ
ィングの際に、垂直方向の加重と横方向への振動のため
に、ポンディングパッドの下の280層にクラックが入
シ、ひどい場合には280層(時にはフィールドオキサ
イド膜も)と共にAuワイヤが半導体チップからはがれ
、この結果として製造の信頼性が低下するという問題が
あった。
ィングの際に、垂直方向の加重と横方向への振動のため
に、ポンディングパッドの下の280層にクラックが入
シ、ひどい場合には280層(時にはフィールドオキサ
イド膜も)と共にAuワイヤが半導体チップからはがれ
、この結果として製造の信頼性が低下するという問題が
あった。
この発明の目的は、ボンディングワイヤと半導体チップ
との接着性を改善した信頼性の高い半導体装置を提供子
ることにある。
との接着性を改善した信頼性の高い半導体装置を提供子
ることにある。
この発明による半導体装置は、フィールドオキサイド膜
上にポンディングパッドを設け、ポンディングパッド下
にP8G等のシリケートガラス層が介在しないようにし
たことを%徴とするもので、以下、添付図面に示す実施
例について詳述する。
上にポンディングパッドを設け、ポンディングパッド下
にP8G等のシリケートガラス層が介在しないようにし
たことを%徴とするもので、以下、添付図面に示す実施
例について詳述する。
図は、この発明の一実施例によるMO8型集積回路装置
を示すもので、この装置はシリコンゲートを有するMO
8型電界効果ト′ランジスタと、改良されたポンディン
グパッド部とを含んでいる。
を示すもので、この装置はシリコンゲートを有するMO
8型電界効果ト′ランジスタと、改良されたポンディン
グパッド部とを含んでいる。
シリコンからなるP型半導体基板10の表面には、フィ
ールドオキサイド(Sin、)膜12が選択的に形成さ
れ、このオキサイド膜12のアクティブ領域配置孔内に
は81ozからなる薄いゲート絶縁膜14が形成される
。
ールドオキサイド(Sin、)膜12が選択的に形成さ
れ、このオキサイド膜12のアクティブ領域配置孔内に
は81ozからなる薄いゲート絶縁膜14が形成される
。
フィールドオキサイド膜12及びゲート絶縁膜14の上
にポリシリコンを堆積形成し、適宜パターニングするこ
とによシ、ゲート電極としてのポリシリコン層16と、
配線層としてのポリシリコン層18とが形成される。
にポリシリコンを堆積形成し、適宜パターニングするこ
とによシ、ゲート電極としてのポリシリコン層16と、
配線層としてのポリシリコン層18とが形成される。
この後、ポリシリコン層16及びゲート絶縁膜14をマ
スクとする選択拡散法又は選択的イオン注入法によt)
N 型ソース領域加及びN 型トレイン領域nが形成
される。
スクとする選択拡散法又は選択的イオン注入法によt)
N 型ソース領域加及びN 型トレイン領域nが形成
される。
次に、基板上面にはpsGからなるシリケートガラス層
列が被着される。続いてPSGの緻密化あるいは表面の
平坦化のために、900℃〜1100℃の温度の酸化性
あるいは不活性雰囲気中で熱処理を行なう。そして、シ
リケートガラス層列には、ンース領域加、ドレイン領域
n及びフィールドオキサイド膜12の一部をそれぞれ露
呈させるための孔が形成される。
列が被着される。続いてPSGの緻密化あるいは表面の
平坦化のために、900℃〜1100℃の温度の酸化性
あるいは不活性雰囲気中で熱処理を行なう。そして、シ
リケートガラス層列には、ンース領域加、ドレイン領域
n及びフィールドオキサイド膜12の一部をそれぞれ露
呈させるための孔が形成される。
次に、基板上面にM又はM合金を被着して適宜パターニ
ングすることによってソース電極層が、ドレイン電極層
別及びポンディングパッド加が形成される。なお、フィ
ールドオキサイド°膜12の一部を露呈させるための孔
の大きさは、ポンディングパッド加の大きさよシ大きく
てもよい。
ングすることによってソース電極層が、ドレイン電極層
別及びポンディングパッド加が形成される。なお、フィ
ールドオキサイド°膜12の一部を露呈させるための孔
の大きさは、ポンディングパッド加の大きさよシ大きく
てもよい。
この後は、必要に応じて、SiO,’ji堆積形成する
などしてパッシベーション膜32が形成される。
などしてパッシベーション膜32が形成される。
そして、このパッシベーション膜32には、ポンディン
グパッド30ヲ露呈させるだめの孔が設けられ、これに
よってAu等からなるボンディングワイヤあのポンディ
ングが可能になる。
グパッド30ヲ露呈させるだめの孔が設けられ、これに
よってAu等からなるボンディングワイヤあのポンディ
ングが可能になる。
上記構成の半導体装置によれば、ボンディングワイヤ3
4t−ポンディングパッド加にポンドする際にボンド部
体がシの面、下にシリケートガラス層あが存在しないの
でシリケートガラス層列にクラックが入るのを効果的に
防止でき、良好な接着性が得られる。
4t−ポンディングパッド加にポンドする際にボンド部
体がシの面、下にシリケートガラス層あが存在しないの
でシリケートガラス層列にクラックが入るのを効果的に
防止でき、良好な接着性が得られる。
なお、上記実施例において、フィールドオキサイド膜1
2は基板10f:熱酸化して得られたものに限らず、0
vD(ケミカル・ペーパー・デポジション)法等により
堆積形成したもの、あるいは熱酸化によるものと堆積形
成したものとを組合わせたもの吟であってもよい。また
、この発明は、上記したMOB形集積回路装置に限らす
、フィールド領域にシリケートガラス及びポンディング
パッドを配置するものであれば、他の半導体装置にも適
用可能である。
2は基板10f:熱酸化して得られたものに限らず、0
vD(ケミカル・ペーパー・デポジション)法等により
堆積形成したもの、あるいは熱酸化によるものと堆積形
成したものとを組合わせたもの吟であってもよい。また
、この発明は、上記したMOB形集積回路装置に限らす
、フィールド領域にシリケートガラス及びポンディング
パッドを配置するものであれば、他の半導体装置にも適
用可能である。
図は、この発明の一実施例によるMO8型集秋回路装置
を示す基板断面図である。 10・・・半導体基板、12・・・フィールドオキサイ
ド膜、冴・・・シリケートガラス層、加・・・ポンディ
ングパッド、詞・・・ボンディングワイヤ。 出願人 日本楽器製造株式会社 代理人 弁理士 伊 沢 敏 紹
を示す基板断面図である。 10・・・半導体基板、12・・・フィールドオキサイ
ド膜、冴・・・シリケートガラス層、加・・・ポンディ
ングパッド、詞・・・ボンディングワイヤ。 出願人 日本楽器製造株式会社 代理人 弁理士 伊 沢 敏 紹
Claims (1)
- 1、半導体基板の表面に形成されたフィールドオキサイ
ド膜上にシリケートガラス層を配置し、このシリケート
ガラス層には前記フィールドオキサイド膜の一部を露呈
させる孔を設け、この孔内に露呈されたフィールドオキ
サイド膜部分上にポンディングパッドを形成したことを
特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57102574A JPS58219742A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57102574A JPS58219742A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58219742A true JPS58219742A (ja) | 1983-12-21 |
Family
ID=14330992
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57102574A Pending JPS58219742A (ja) | 1982-06-15 | 1982-06-15 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58219742A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60112687A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-19 | Nichiden Mach Ltd | 単結晶製造方法及び装置 |
-
1982
- 1982-06-15 JP JP57102574A patent/JPS58219742A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60112687A (ja) * | 1983-11-21 | 1985-06-19 | Nichiden Mach Ltd | 単結晶製造方法及び装置 |
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