JPS5828672A - ブツシングの絶縁試験装置 - Google Patents
ブツシングの絶縁試験装置Info
- Publication number
- JPS5828672A JPS5828672A JP12678581A JP12678581A JPS5828672A JP S5828672 A JPS5828672 A JP S5828672A JP 12678581 A JP12678581 A JP 12678581A JP 12678581 A JP12678581 A JP 12678581A JP S5828672 A JPS5828672 A JP S5828672A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bushing
- test
- insulating gas
- sheath
- wall
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1245—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of line insulators or spacers, e.g. ceramic overhead line cap insulators; of insulators in HV bushings
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はブッシングの絶縁試験装置に係シ、特に中心導
体とコンデンサコア及びこれらを覆う碍管とを有し、一
方が絶縁ガスに他方が絶縁流体に浸されて使用される壁
貫通形ブッシングを試験用タンク内に設置し、この試験
用タンクに取り付ける試験用ブッシングに接続して試験
するブッシングの絶縁試験装置に関するものである。
体とコンデンサコア及びこれらを覆う碍管とを有し、一
方が絶縁ガスに他方が絶縁流体に浸されて使用される壁
貫通形ブッシングを試験用タンク内に設置し、この試験
用タンクに取り付ける試験用ブッシングに接続して試験
するブッシングの絶縁試験装置に関するものである。
第1図には壁貫通形ブッシングの絶縁試験装置の従来例
が示されている。試験用タンク3に試験用ブッシング1
を起立させた後、供試品である壁貫通形ブッシング2を
試験用タンク3へ取り付け、リード9により試験用ブッ
シング1と接続さ扛る。
が示されている。試験用タンク3に試験用ブッシング1
を起立させた後、供試品である壁貫通形ブッシング2を
試験用タンク3へ取り付け、リード9により試験用ブッ
シング1と接続さ扛る。
その後、試験用タンク3の内部に絶縁流体5aが注入さ
れ、壁貫通形ブッシング2の絶縁流体5a中で使用され
る部分は絶縁流体5aに浸される。
れ、壁貫通形ブッシング2の絶縁流体5a中で使用され
る部分は絶縁流体5aに浸される。
そして壁貫通形ブッシング2の外側すなわち絶縁ガス側
に取り付けられたシース4の内部には絶縁ガス6aが封
入され、壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス6a中で使用
される部分は絶縁ガス6aに浸される。このようにした
後に、変圧器(図示せずン側からの電圧印加線8を試験
用ブッシング1の頭部に接続した壁貫通形ブッシング2
の試験が行なわれるが、このような試験装置では、試験
用タンク3が大形となり試験場所が広範囲となる上、壁
貫通形ブッシング2の入れ替え時には絶縁流体5aを出
してから壁貫通形ブッシング2をとり出すなど絶縁流体
5aの出し入れを行なう必要がるり、絶縁処理に多くの
時間を要する欠点がある。
に取り付けられたシース4の内部には絶縁ガス6aが封
入され、壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス6a中で使用
される部分は絶縁ガス6aに浸される。このようにした
後に、変圧器(図示せずン側からの電圧印加線8を試験
用ブッシング1の頭部に接続した壁貫通形ブッシング2
の試験が行なわれるが、このような試験装置では、試験
用タンク3が大形となり試験場所が広範囲となる上、壁
貫通形ブッシング2の入れ替え時には絶縁流体5aを出
してから壁貫通形ブッシング2をとり出すなど絶縁流体
5aの出し入れを行なう必要がるり、絶縁処理に多くの
時間を要する欠点がある。
筐た絶縁的には壁貫通形ブッシング2と試験用ブッシン
グ1との接続作業が試験用夕/り3の内部となるため、
異物が残存した場合は部分放電が発生し、ひいては絶縁
破壊に至る危険性がある。
グ1との接続作業が試験用夕/り3の内部となるため、
異物が残存した場合は部分放電が発生し、ひいては絶縁
破壊に至る危険性がある。
なお、試験用変圧器の口出しブツシングト供試品を収納
する別室とを試験用壁貫通形ブッシングで係合させ、変
圧器側及び供試品側の各室に絶縁流体が封入された絶縁
試験装置が知られているが、これも上述の試験装置と同
じように試験装置が大形となり、絶縁処理時間も長くな
る欠点がある。
する別室とを試験用壁貫通形ブッシングで係合させ、変
圧器側及び供試品側の各室に絶縁流体が封入された絶縁
試験装置が知られているが、これも上述の試験装置と同
じように試験装置が大形となり、絶縁処理時間も長くな
る欠点がある。
本発明は以上の点に鑑みなされたもので1、その目的と
するところは、工数を低減したブッシングの絶縁試験装
置を提供するにある。
するところは、工数を低減したブッシングの絶縁試験装
置を提供するにある。
すなわち本発明は、壁貫通形ブッシングの□絶縁ガス側
に、その内部に絶縁ガス全封入したシースを取シ付け、
とのシース側を絶縁流体を満たした試験用タンク内に配
置して試験することを特徴とするものである。
に、その内部に絶縁ガス全封入したシースを取シ付け、
とのシース側を絶縁流体を満たした試験用タンク内に配
置して試験することを特徴とするものである。
以下、図示した実施例に基づいて本発明全説明する。第
2図には本発明の一実施例が示されている。なお従来と
同じ部品には同じ符号を付したので説明は省略する。本
実施例では壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス側にその内
部に絶縁ガス6bを封入したシース4を取り付け、この
シース4側を絶縁流体5bを満たした試験用タンク11
内に配置して試験する。すなわち供試品である壁貫通形
ブッシング2の絶縁ガス側に予め金属製のシース4を取
シ付け、この内部に絶縁ガス6b’l適当な崖力で封入
する。これをりV−ン等により吊り上げられた試験用ブ
ッシング1と連結させたのち、地中に埋設され、絶縁流
体5bが満たされた試験用タンク11へ取り付は固定す
る。なお壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス側および壁貫
通形ブッシング2と試験用ブッシング1との連結部分に
はコロナ発生防止用シールド10a、10b、IOC等
が夫々取り付けである。またシース4は壁貫通形ブッシ
ング2の充電部と試験用ブッシング1の下部側とに夫々
適当な絶縁距離を介して試験用タンク11の外部へ引出
された接地用リード7によって接地される。このように
して試験用ブッシング1の頭部へ電圧印加線8を接続し
て絶縁試験力;行なわれる。
2図には本発明の一実施例が示されている。なお従来と
同じ部品には同じ符号を付したので説明は省略する。本
実施例では壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス側にその内
部に絶縁ガス6bを封入したシース4を取り付け、この
シース4側を絶縁流体5bを満たした試験用タンク11
内に配置して試験する。すなわち供試品である壁貫通形
ブッシング2の絶縁ガス側に予め金属製のシース4を取
シ付け、この内部に絶縁ガス6b’l適当な崖力で封入
する。これをりV−ン等により吊り上げられた試験用ブ
ッシング1と連結させたのち、地中に埋設され、絶縁流
体5bが満たされた試験用タンク11へ取り付は固定す
る。なお壁貫通形ブッシング2の絶縁ガス側および壁貫
通形ブッシング2と試験用ブッシング1との連結部分に
はコロナ発生防止用シールド10a、10b、IOC等
が夫々取り付けである。またシース4は壁貫通形ブッシ
ング2の充電部と試験用ブッシング1の下部側とに夫々
適当な絶縁距離を介して試験用タンク11の外部へ引出
された接地用リード7によって接地される。このように
して試験用ブッシング1の頭部へ電圧印加線8を接続し
て絶縁試験力;行なわれる。
このようにすることにより次に述べるような効果をあげ
ることができる。供試品である壁貫通形ブッシング2の
出し入れが試験用ブッシング1と一緒に出し入れすれば
よいので容易であり、イ乍業工数が低減できる。シース
4′t−絶縁流体5bの甲に入れであるので従来のよう
な絶縁流体5bの抜き出しが不要であり、従って絶縁処
理作業力:不要となり、工数を低減することができる。
ることができる。供試品である壁貫通形ブッシング2の
出し入れが試験用ブッシング1と一緒に出し入れすれば
よいので容易であり、イ乍業工数が低減できる。シース
4′t−絶縁流体5bの甲に入れであるので従来のよう
な絶縁流体5bの抜き出しが不要であり、従って絶縁処
理作業力:不要となり、工数を低減することができる。
試験用フ。
ツシ/グ1と壁貫通形ブッシング2との接続作業が外部
で行なえるため、試験用タンク11内部への異物混入の
恐t″Lヲ減少させることができる。試験用タンク11
が地下埋設できるため、試験場の範囲を狭くすることが
できる。
で行なえるため、試験用タンク11内部への異物混入の
恐t″Lヲ減少させることができる。試験用タンク11
が地下埋設できるため、試験場の範囲を狭くすることが
できる。
上述のように本発明は、絶縁ガスを封入したシース側を
絶縁流体が満たしである試験用タンク内に配置して試験
するようにしたので、壁貫通形フ。
絶縁流体が満たしである試験用タンク内に配置して試験
するようにしたので、壁貫通形フ。
ツシングの取り替え時の絶縁流体の抜き出し等の絶縁作
業が不要となって、工数’k(成域した絶縁試験ができ
るようになり、工数を低減したブッシングの絶縁試験装
置を得ることができる。
業が不要となって、工数’k(成域した絶縁試験ができ
るようになり、工数を低減したブッシングの絶縁試験装
置を得ることができる。
第1図は従来のブッシングの絶縁試験装置の縦断側面図
、第2図は本発明の)゛ツシングの絶縁試験装置の一実
施例の縦断側面図である。
、第2図は本発明の)゛ツシングの絶縁試験装置の一実
施例の縦断側面図である。
Claims (1)
- 1、中心導体とコンデンサコア及びこれらを覆う碍管と
を有し、一方が絶縁ガスに他方が絶縁流体に浸されて使
用される壁貫通形ブッシングを試験用タンク内に設置し
、この試験用タンクに取り付ける試験用ブッシングに接
続して試験するものにおいて、前記壁貫通形ブッシング
の前記絶縁ガス側にその内部に絶縁ガスを封入したシー
スを取シ付け、かつ前記シース側を前記絶縁流体を満た
した前記試験用タンク内に配置して試験することを特徴
とするブッシングの絶縁試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12678581A JPS5828672A (ja) | 1981-08-14 | 1981-08-14 | ブツシングの絶縁試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12678581A JPS5828672A (ja) | 1981-08-14 | 1981-08-14 | ブツシングの絶縁試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5828672A true JPS5828672A (ja) | 1983-02-19 |
Family
ID=14943871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12678581A Pending JPS5828672A (ja) | 1981-08-14 | 1981-08-14 | ブツシングの絶縁試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5828672A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6224167A (ja) * | 1985-07-24 | 1987-02-02 | Ngk Insulators Ltd | ブツシングの電気試験方法 |
-
1981
- 1981-08-14 JP JP12678581A patent/JPS5828672A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6224167A (ja) * | 1985-07-24 | 1987-02-02 | Ngk Insulators Ltd | ブツシングの電気試験方法 |
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